JPS6342432A - 多チヤンネル放射温度計 - Google Patents
多チヤンネル放射温度計Info
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- JPS6342432A JPS6342432A JP18552486A JP18552486A JPS6342432A JP S6342432 A JPS6342432 A JP S6342432A JP 18552486 A JP18552486 A JP 18552486A JP 18552486 A JP18552486 A JP 18552486A JP S6342432 A JPS6342432 A JP S6342432A
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- Japan
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- lens
- light
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- Pending
Links
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- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 6
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Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
・ぐ産業上の利用分野〉
本発明は、光ファイバを用いた多ヂャンネル放射?温度
計の構造の簡素化に関する。
計の構造の簡素化に関する。
〈従来の技術〉
測定信号を光ファイバを用いて伝送する放綱温麿計は、
l!磁界や化学的雰囲気等によって信号が影胃を受ける
ことなく、更に引火爆発のJ3それもないため、゛電線
による信号伝送に比較して多くのメリットを有している
。
l!磁界や化学的雰囲気等によって信号が影胃を受ける
ことなく、更に引火爆発のJ3それもないため、゛電線
による信号伝送に比較して多くのメリットを有している
。
第5図はこの様な光ファイバ放射温a罎の一つとして従
来用いられている多チャンネル放射mWL計の構成説明
図である。
来用いられている多チャンネル放射mWL計の構成説明
図である。
第5図において、1は測定対象物であり、2a。
2bは測定対象物1に近接して配置され、複数の光ファ
イバ38〜3fの端部を所定の間隔を保って固定収納す
る容器である。光ファイバ38〜ご3fは容器の一端か
ら取出され保護管4a、4bに収納して延長され、他端
が保持板5に円状に配置された貫通孔6a〜6fに固定
されている。なお。
イバ38〜3fの端部を所定の間隔を保って固定収納す
る容器である。光ファイバ38〜ご3fは容器の一端か
ら取出され保護管4a、4bに収納して延長され、他端
が保持板5に円状に配置された貫通孔6a〜6fに固定
されている。なお。
光ファイバ38〜3fの両端には例えば屈折率分布型レ
ンズがそれぞれ設【プられている。7は所定の長さを有
する光ファイバの中央部を11字状にNいに反対方向に
折曲げた形状のスキャン用光ファイバで、一方のL字部
が第1の円盤8の中心に固定されている。この第1の円
盤8はその外周が第2の円盤9の外周に接触し、第2の
円!!89の中心はモータ10の回転軸に固定されてい
る。モータ10はコンピュータ23の指令に基づいて作
動する光フアイバ回転制御装置20により回転が制御さ
れる。モータ10が回転すると円盤9,8を介してスキ
ャン用光ファイバ7の他端A部は円状に回転し、その端
部Aは保持板5に固定された光ファイバ38〜3fの端
部上を移動して測定対象吻からの光信号をスキャンする
。スキャン用光ファイバ7を通った信号はハーフミラ−
11で2方向に分l1lIIされ、一方の光はレンズ1
5a、フィルタ16aを通ってフォトダイオード17a
で電気信舅に′a′換される。ハーフミラ−で反射した
他方の光はレンズ15b、フィルタ16b、フォトダイ
オード17bT−Ti電気信号変換される。フォトダ(
オード17bからの電気信号はスイッチ18を経てアン
プ19.AGC(自助利得ルリ御)回路21、△/D変
換器22を介してコンピュータ23に入力され、必95
<; X FJが行われ所望の形で出力される。
ンズがそれぞれ設【プられている。7は所定の長さを有
する光ファイバの中央部を11字状にNいに反対方向に
折曲げた形状のスキャン用光ファイバで、一方のL字部
が第1の円盤8の中心に固定されている。この第1の円
盤8はその外周が第2の円盤9の外周に接触し、第2の
円!!89の中心はモータ10の回転軸に固定されてい
る。モータ10はコンピュータ23の指令に基づいて作
動する光フアイバ回転制御装置20により回転が制御さ
れる。モータ10が回転すると円盤9,8を介してスキ
ャン用光ファイバ7の他端A部は円状に回転し、その端
部Aは保持板5に固定された光ファイバ38〜3fの端
部上を移動して測定対象吻からの光信号をスキャンする
。スキャン用光ファイバ7を通った信号はハーフミラ−
11で2方向に分l1lIIされ、一方の光はレンズ1
5a、フィルタ16aを通ってフォトダイオード17a
で電気信舅に′a′換される。ハーフミラ−で反射した
他方の光はレンズ15b、フィルタ16b、フォトダイ
オード17bT−Ti電気信号変換される。フォトダ(
オード17bからの電気信号はスイッチ18を経てアン
プ19.AGC(自助利得ルリ御)回路21、△/D変
換器22を介してコンピュータ23に入力され、必95
<; X FJが行われ所望の形で出力される。
〈発明が解決しようとする問題点〉
しかしながら上記従来例においては、スキャン用光ファ
イバ7を回転さ才で保持板5に固定された光ファイバの
信号をスキャンしているので、高速応答が難しく、高y
1度な位置決め技術を必要とする。このため、構造がW
!雑となる。また、測定点数を増加させるためには構造
を大きく変更し’+にければならない等全体として高価
になるという問題があった。
イバ7を回転さ才で保持板5に固定された光ファイバの
信号をスキャンしているので、高速応答が難しく、高y
1度な位置決め技術を必要とする。このため、構造がW
!雑となる。また、測定点数を増加させるためには構造
を大きく変更し’+にければならない等全体として高価
になるという問題があった。
本発明は上記従来技術に檻みて成されたもので構造がn
1ttで、高速走査が可能なh41射)品唯計を実現す
ることを目的とする。
1ttで、高速走査が可能なh41射)品唯計を実現す
ることを目的とする。
く問題点を解決するための手段゛・
前記問題点を解決するための本発明の構成は。
複数点からの温度信号を伝送する複数の光ファイバと、
前記光ファイバの出射端にそれぞれ接続された第1のコ
リメート用レンズと、前記第1のコリメート用レンズに
対向して配置された対物レンズと、l1fl記対物レン
ズの焦点の前方または接方近傍に配置された第2のコリ
メート用レンズと、#I記対物レンズと第2のコリメー
ト用レンズの間に配置された絞りと、前記第2のコリメ
ートレンズの(受方に配置された2次元受光素子と前記
2次元受光素子によって光電変換された電気信号を電気
的に走査する手段を喝えたことを特徴とするものである
。
前記光ファイバの出射端にそれぞれ接続された第1のコ
リメート用レンズと、前記第1のコリメート用レンズに
対向して配置された対物レンズと、l1fl記対物レン
ズの焦点の前方または接方近傍に配置された第2のコリ
メート用レンズと、#I記対物レンズと第2のコリメー
ト用レンズの間に配置された絞りと、前記第2のコリメ
ートレンズの(受方に配置された2次元受光素子と前記
2次元受光素子によって光電変換された電気信号を電気
的に走査する手段を喝えたことを特徴とするものである
。
〈実施例〉
第1図は本発明の一実施例を示す構成説明図である。第
1図において複数の光ファイバ30の先端は第5図に示
す従来例と同様に測定対象からの放射熱を吸収するよ)
に構成され、複数の第1のコリメータ用レンズが保持板
5に保持されているものとする。32は第1のコリメー
タ用レンズに対向して配置された対物レンズで、第1の
コリメータレンズf’s tらの各出射光を絞り33a
、33b。
1図において複数の光ファイバ30の先端は第5図に示
す従来例と同様に測定対象からの放射熱を吸収するよ)
に構成され、複数の第1のコリメータ用レンズが保持板
5に保持されているものとする。32は第1のコリメー
タ用レンズに対向して配置された対物レンズで、第1の
コリメータレンズf’s tらの各出射光を絞り33a
、33b。
33cを介してその焦点に収束させる。34は第2のコ
リメート用レンズで、IFJ記焦点焦点近傍軸上(図で
は焦点の1殻方)に配置され、前記第1のコリメータ3
1からの出射光を測定点毎に分離した平行光にする。こ
の平行光は光学フィルタ35を経て所定の波長で2次元
受光素子を照射する。
リメート用レンズで、IFJ記焦点焦点近傍軸上(図で
は焦点の1殻方)に配置され、前記第1のコリメータ3
1からの出射光を測定点毎に分離した平行光にする。こ
の平行光は光学フィルタ35を経て所定の波長で2次元
受光素子を照射する。
この2次元受光素子には第2のコリメート用レンズから
の出射光の敗と位置に合わせて複数の受光素子(例えば
LED)が配置されており、それぞれの光強度に対応し
て電気信号を出力する。38は光信号走査装置で、2次
元受光素子36により光電変換された電気信号を電気的
に走査する。この信号走査手段としては例えば第2図に
示すようなアナログスイッチを用いた公知の電気回路を
用いることが出来る。なお、第1.第2のコリメート用
レンズとしては屈折率分布型レンズやボールレンズなど
を用いることが出来る。また、第2のコリメート用レン
ズとしては例えば第3図に示すような分布屈折率平型マ
イクロレンズを用いることが出来る。この分布屈折率平
型マイクロレンズは基板としてガラス、石英、プラスチ
ック等を用い、フォトリングラフィとエツチングの技術
により所望のマスクを形成し、拡散重合、イオン交換拡
散法などの技術を用いて形成されているのでレンズの小
形化が可能であり、放射温度計全体の小形化をはかるこ
とが出来る。第4図は本発明を2色濃度計に応用した他
の実施例を示す要部構成図である。図において、第1図
と同一要素には同一符号を付して説明する。本実施例に
おいてはfA2のコリメート用レンズと2次元受光素子
の間にモータ40によって駆動される回転板41を配置
し。
の出射光の敗と位置に合わせて複数の受光素子(例えば
LED)が配置されており、それぞれの光強度に対応し
て電気信号を出力する。38は光信号走査装置で、2次
元受光素子36により光電変換された電気信号を電気的
に走査する。この信号走査手段としては例えば第2図に
示すようなアナログスイッチを用いた公知の電気回路を
用いることが出来る。なお、第1.第2のコリメート用
レンズとしては屈折率分布型レンズやボールレンズなど
を用いることが出来る。また、第2のコリメート用レン
ズとしては例えば第3図に示すような分布屈折率平型マ
イクロレンズを用いることが出来る。この分布屈折率平
型マイクロレンズは基板としてガラス、石英、プラスチ
ック等を用い、フォトリングラフィとエツチングの技術
により所望のマスクを形成し、拡散重合、イオン交換拡
散法などの技術を用いて形成されているのでレンズの小
形化が可能であり、放射温度計全体の小形化をはかるこ
とが出来る。第4図は本発明を2色濃度計に応用した他
の実施例を示す要部構成図である。図において、第1図
と同一要素には同一符号を付して説明する。本実施例に
おいてはfA2のコリメート用レンズと2次元受光素子
の間にモータ40によって駆動される回転板41を配置
し。
この回転板に波長の異なる2つの光学バンドパスフィル
タを設け、第2のコリメータ34で平行光とされた光の
所望の波長を通過させる。この様な構成により2色濃度
計として用いることが出来る。
タを設け、第2のコリメータ34で平行光とされた光の
所望の波長を通過させる。この様な構成により2色濃度
計として用いることが出来る。
・〈発明の効果〉
以−E実施例とともに具体的に説明したように。
本発明によれば、光ファイバを介して伝送された信号を
回転する光ファイバでスキャンする必要がないので、従
来例に比較して精度的に有利であり。
回転する光ファイバでスキャンする必要がないので、従
来例に比較して精度的に有利であり。
構成も簡単となる。
また9位置合せに精度を要しないの・でチャンネル数の
増減も簡単となる。
増減も簡単となる。
第1図は本発明の一実施例を示す構成説明図。
第2図は電気信号走査手段を示す公知の回路、第3図は
分布屈折率平型マイクロレンズの構成を示す図、第4図
は他の実mPAを示す要部構成図、第5図は従来例を示
す構成説明図である。 30・・・複数の光ファイバ、31・・・第1のコリメ
ート用レンズ、32・・・対物レンズ、33a〜33C
・・・絞り、34・・・第2のコリメータ用レンズ、3
5・・・フィルタ、36・・・2次元受光素子、38・
・・電気信号走査手段。
分布屈折率平型マイクロレンズの構成を示す図、第4図
は他の実mPAを示す要部構成図、第5図は従来例を示
す構成説明図である。 30・・・複数の光ファイバ、31・・・第1のコリメ
ート用レンズ、32・・・対物レンズ、33a〜33C
・・・絞り、34・・・第2のコリメータ用レンズ、3
5・・・フィルタ、36・・・2次元受光素子、38・
・・電気信号走査手段。
Claims (1)
- 複数点からの温度信号を伝送する複数の光ファイバと、
前記光ファイバの出射端のそれぞれに接続された第1の
コリメート用レンズと、前記第1のコリメート用レンズ
に対向して配置された対物レンズと、前記対物レンズの
焦点の前方または後方近傍に配置された第2のコリメー
ト用レンズと、前記対物レンズと第2のコリメート用レ
ンズの間に配置された絞りと、前記第2のコリメートレ
ンズの後方に配置された2次元受光素子と、前記2次元
受光素子によつて光電変換された電気信号を電気的に走
査する手段を備えたことを特徴とする多チャンネル放射
温度計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18552486A JPS6342432A (ja) | 1986-08-07 | 1986-08-07 | 多チヤンネル放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18552486A JPS6342432A (ja) | 1986-08-07 | 1986-08-07 | 多チヤンネル放射温度計 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6342432A true JPS6342432A (ja) | 1988-02-23 |
Family
ID=16172304
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18552486A Pending JPS6342432A (ja) | 1986-08-07 | 1986-08-07 | 多チヤンネル放射温度計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6342432A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0785077A2 (en) | 1996-01-22 | 1997-07-23 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Image recording apparatus with an array light source |
US6483529B1 (en) | 1999-11-26 | 2002-11-19 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Multibeam scanner |
US6513972B1 (en) * | 2000-08-31 | 2003-02-04 | Siemens Westinghouse Power Corporation | Optical temperature probe, monitoring system, and related methods |
-
1986
- 1986-08-07 JP JP18552486A patent/JPS6342432A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0785077A2 (en) | 1996-01-22 | 1997-07-23 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Image recording apparatus with an array light source |
US6483529B1 (en) | 1999-11-26 | 2002-11-19 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Multibeam scanner |
US6513972B1 (en) * | 2000-08-31 | 2003-02-04 | Siemens Westinghouse Power Corporation | Optical temperature probe, monitoring system, and related methods |
US6527440B1 (en) * | 2000-08-31 | 2003-03-04 | Siemens Westinghouse Power Corporation | Optical power generator system condition status indicator and methods of indicating same |
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