JPS6333728B2 - - Google Patents
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- JPS6333728B2 JPS6333728B2 JP52280A JP52280A JPS6333728B2 JP S6333728 B2 JPS6333728 B2 JP S6333728B2 JP 52280 A JP52280 A JP 52280A JP 52280 A JP52280 A JP 52280A JP S6333728 B2 JPS6333728 B2 JP S6333728B2
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G1/00—Details of arrangements for controlling amplification
- H03G1/04—Modifications of control circuit to reduce distortion caused by control
Landscapes
- Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は4極MOS FETを使用した高周波増
幅回路に係り、特に自動利得制御(以下AGCと
略称する)による利得減衰時の高周波レスポンス
変化を改善した高周波増幅回路に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a high frequency amplifier circuit using a 4-pole MOS FET, and more particularly to a high frequency amplifier circuit that improves high frequency response changes when gain is attenuated by automatic gain control (hereinafter abbreviated as AGC).
近時、MOS FETを使用した高周波増幅回路
が普及しているが、AGCをかけた場合、動作電
圧、電流の変化によつて、前記MOS FETの入
出力インピーダンスが変化し、この為、高周波レ
スポンスが変化し、極端な場合には、画質に悪影
響を与えることすらある。この現象は、キヤンシ
ールドされたMOS FETよりも、モールドされ
たMOS FETの方が顕著に現れる。これは、定
性的には、モールドによる帰還成分の増加のため
と考えられる。又、元来MOS FETは、バイポ
ーラトランジスタに比べ静電破壊しやすく、回路
的に様々な対策を盛込んではいるものの、破壊事
故を皆無にできないのが現状である。 Recently, high-frequency amplification circuits using MOS FETs have become popular, but when AGC is applied, the input/output impedance of the MOS FETs changes due to changes in operating voltage and current, and for this reason, the high-frequency response In extreme cases, this can even adversely affect image quality. This phenomenon is more pronounced in molded MOS FETs than in canned shielded MOS FETs. Qualitatively, this is considered to be due to an increase in feedback components due to the mold. Additionally, MOS FETs are inherently more prone to electrostatic damage than bipolar transistors, and although various circuit countermeasures have been taken, it is not possible to completely eliminate destruction accidents.
本発明は上記の事情に鑑みてなされたもので、
MOS FETのAGCによるインピーダンス変化を、
AGC電圧によつて変化する他の電圧可変インピ
ーダンス素子を付加することによつて補正すると
同時に、静電破壊に対し強度を増した高周波増幅
回路を提供することを目的とする。 The present invention was made in view of the above circumstances, and
The impedance change due to AGC of MOS FET is
It is an object of the present invention to provide a high frequency amplifier circuit which can be corrected by adding another voltage variable impedance element that changes depending on the AGC voltage, and at the same time has increased strength against electrostatic damage.
以下図面を参照して本発明の実施例を詳細に説
明する。 Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
第1図は本発明の概略図である。Nチヤンネル
4極MOS FET1は第1ゲート2に入力端3が
接続され、第2ゲート4に高抵抗5を介して
AGC電源6が接続され、ドレイン7に出力端8
が接続されると共に電圧可変インピーダンス素子
9が接続され、更に、ソース10に抵抗11が接
続される。 FIG. 1 is a schematic diagram of the invention. The input terminal 3 of the N-channel 4-pole MOS FET 1 is connected to the first gate 2, and the input terminal 3 is connected to the second gate 4 through a high resistance 5.
AGC power supply 6 is connected, and output terminal 8 is connected to drain 7.
is connected to the voltage variable impedance element 9, and further, a resistor 11 is connected to the source 10.
すなわち、4極MOS FET1の第2ゲート4
に高抵抗5を介して印加されたAGC電圧の変化
に応じて、前記FET1のドレイン7に接続され
たインピーダンス素子9を変化させる。 In other words, the second gate 4 of the 4-pole MOS FET 1
The impedance element 9 connected to the drain 7 of the FET 1 is changed in accordance with the change in the AGC voltage applied to the FET 1 through the high resistance 5.
このような高周波増幅回路においては、通常高
周波レスポンスは、AGCによつて第2図のよう
に変化する。第2図において、実線は最大利得時
(利得減衰量ゼロ)の時、点線は利得減衰量10dB
の時である。尚、第2図で、Pは映像搬送周波
数、Sは音声搬送周波数であり、チヤンネルは特
に指定しない。問題はAGCをかけることにより、
高周波レスポンスの音声搬送周波数Sが落ちるこ
とにある。更に利得を減らしてもレスポンスは大
して変化しない。このような現象が起こるのは、
AGCをかけることにより、FET1の入出力イン
ピーダンスが変化するからである。 In such a high frequency amplifier circuit, the high frequency response usually changes depending on AGC as shown in FIG. 2. In Figure 2, the solid line is at maximum gain (gain attenuation is zero), and the dotted line is at gain attenuation of 10 dB.
It's time. In FIG. 2, P is the video carrier frequency, S is the audio carrier frequency, and no particular channel is specified. The problem is that by applying AGC,
This is because the audio carrier frequency S of the high frequency response drops. Even if the gain is further reduced, the response does not change much. This phenomenon occurs because
This is because the input/output impedance of FET 1 changes by applying AGC.
本発明は、この現象を無くするためのもので、
第3図に一実施例を示す。すなわち、Nチヤンネ
ル4極極MOS FET12は、第1のゲート13
に入力回路14を介して入力端15が接続され、
第2のゲート16にバイパスコンデンサ17が接
続されると共にAGC電圧印加端18が接続され、
ドレイン19に高周波同調回路20を介して出力
端21が接続され、ソース22に+Bバイアス電
圧印加端23が接続される。前記ドレイン19と
第2のゲート16との間には電圧可変容量ダイオ
ード24がアノードを第2のゲート16側にして
接続される。前記高周波同調回路20は抵抗25
を介して+Bバイアス電圧印加端23に接続され
る。また、第1のゲート13は+Bバイアス電圧
印加端23に接続される。 The present invention aims to eliminate this phenomenon.
An example is shown in FIG. That is, the N-channel quadrupole MOS FET 12 has a first gate 13
An input terminal 15 is connected to via an input circuit 14,
A bypass capacitor 17 is connected to the second gate 16, and an AGC voltage application terminal 18 is also connected to the second gate 16.
An output end 21 is connected to the drain 19 via a high frequency tuning circuit 20, and a +B bias voltage application end 23 is connected to the source 22. A voltage variable capacitance diode 24 is connected between the drain 19 and the second gate 16 with its anode facing the second gate 16 side. The high frequency tuning circuit 20 includes a resistor 25
It is connected to the +B bias voltage application terminal 23 via. Further, the first gate 13 is connected to the +B bias voltage application terminal 23.
すなわち、AGCをかけることにより、FET1
2の入出力インピーダンスが変化するが、入力イ
ンピーダンスの変化については、入力回路14の
帯域幅が、段間回路である高周波同調回路20の
帯域幅に比べて充分広いので、ここでは一応無視
して出力インピーダンスのみに着目すれば、周波
数の比較的高いところ(200MHz)では、AGCに
よるFET12の出力容量の増加が利き、周波数
の比較的低いところ(100MHz)では、出力抵抗
の減少が利いている。即ち、テレビジヨンチユー
ナでいえば、ハイチヤンネルでは、AGCがかか
ると高周波同調回路20の1次側の同調容量が減
少するように、そしてローチヤンネルでは、負荷
Qを高くすることが補償の方法である。次に、第
3図の回路動作を述べると、FET12の第2の
ゲート16は、高周波的にはバイパスコンデンサ
17で接地されており、直流的にはAGC電圧
(例えば、最大利得時8V、最大減衰量時0V、こ
れをVAGCとするとVAGC=8〜0V)が印加されて
おり、一方、前記FET12のドレイン19には、
抵抗25を介して+Bバイアス電圧(例えば
16V)が供給されており、ドレイン電流Idが流れ
ている。前記ドレイン19の電位VDは、+Bバイ
アス電圧から抵抗25とドレイン電流Idの積を差
引いた値になつている。AGC電圧が減少すると
ドレイン電流Idも減少するので、ドレイン電位VD
の値は増加する。而して、FET12の第2のゲ
ート16とドレイン19の間に接続された電圧可
変容量ダイオード24は、カソード側電位が常に
高いので導通することはない。即ち、ダイオード
24はドレイン電圧VDとAGC電圧VAGCとの差の
電圧VRで逆バイアスされている。これらの電圧
VD、VAGC、VRの値を第4図に示す。この逆バイ
アス電圧VRに対するダイオード24の接合容量
Cjと負荷Qの関係は、第5図のような特性を示し
ている。今、FET12が最大利得状態で動作し
ているとすると、ドレイン電流Idは最大(リバー
スAGC方式とする)となり、抵抗25による電
圧降下は最大となるため、ドレイン電位VDは最
小となる。一方、この時AGC電圧VAGCは最大で
あるので、電圧VR(VR=VD−VAGC>0)は最小
となり、従つて接合容量Cjは最大、負荷Qは最小
となる。AGCがかかり、AGC電圧VAGCが減少す
ると、ドレイン電流Idも減少し、ドレイン電位VD
は逆に高くなるので、電圧VRは次第に増加し、
最大減衰時には電圧VRは最大となり、従つて容
量Cjは最小、負荷Qは最大となる。以上のことを
第2図のレポンスで説明すると、AGCがかかつ
た時の点線の波形は、同調容量が減少すると同時
に負荷Qが高くなるので、音声搬送周波数S側が
もち上げられ、実線(最大利得時)の波形に近づ
く訳である。 In other words, by applying AGC, FET1
The input/output impedance of the input/output circuit 2 changes, but since the bandwidth of the input circuit 14 is sufficiently wide compared to the bandwidth of the high frequency tuning circuit 20, which is an interstage circuit, we will ignore the change in input impedance here. Focusing only on the output impedance, at a relatively high frequency (200MHz), increasing the output capacitance of the FET 12 by AGC is effective, and at a relatively low frequency (100MHz), decreasing the output resistance is effective. In other words, in the case of television channels, the compensation method is to reduce the primary side tuning capacity of the high frequency tuning circuit 20 when AGC is applied in the high channel channel, and to increase the load Q in the low channel channel. It is. Next, to describe the circuit operation of FIG. 0V at the time of attenuation (V AGC = 8~0V) is applied to the drain 19 of the FET 12.
+B bias voltage (e.g.
16V) is supplied, and a drain current I d is flowing. The potential V D of the drain 19 has a value obtained by subtracting the product of the resistor 25 and the drain current I d from the +B bias voltage. When the AGC voltage decreases, the drain current I d also decreases, so the drain potential V D
The value of increases. Thus, the voltage variable capacitance diode 24 connected between the second gate 16 and the drain 19 of the FET 12 is never conductive because the cathode side potential is always high. That is, the diode 24 is reverse biased with a voltage VR that is the difference between the drain voltage V D and the AGC voltage V AGC . These voltages
Figure 4 shows the values of V D , V AGC , and VR . Junction capacitance of diode 24 for this reverse bias voltage V R
The relationship between C j and load Q shows characteristics as shown in FIG. Assuming that the FET 12 is now operating in the maximum gain state, the drain current I d will be the maximum (reverse AGC method is used), the voltage drop across the resistor 25 will be the maximum, and the drain potential V D will be the minimum. On the other hand, since the AGC voltage V AGC is the maximum at this time, the voltage V R (V R =V D -V AGC >0) is the minimum, so the junction capacitance C j is the maximum and the load Q is the minimum. When AGC is applied and the AGC voltage V AGC decreases, the drain current I d also decreases, and the drain potential V D
conversely increases, so the voltage V R gradually increases,
At maximum attenuation, the voltage V R is at its maximum, so the capacitance C j is at its minimum and the load Q is at its maximum. To explain the above using the response in Figure 2, when AGC is applied, the dotted line waveform shows that the tuning capacity decreases and at the same time the load Q increases, so the audio carrier frequency S side is raised, and the solid line (maximum This means that the waveform approaches that of the gain mode.
次に、第6図は本発明の他の実施例を示す。こ
の場合は、電圧可変容量ダイオード26をFET
12のドレイン19とソース22間にアノードを
ソース22側にして接続したものである。すなわ
ち、ダイオード26のカソード側の電位は第3図
と同じことになるので省略してダイオード26の
アノード電位だけについて説明すると、AGC電
圧VAGCが最大の時、ドレイン電流Idは最大なの
で、FET12のソース22に接続された抵抗2
7による電圧降下は最大となる。一方、FET1
2のソース22は抵抗28を介して+Bバイアス
電圧が供給されており、この抵抗28に流れる電
流は最小となる。しかし、結果的にはFET12
のソース電位は最大となる。逆に最大減衰時には
FET12のソース電位は最小となる。即ち、
FET12のソース電位は第2のゲート16の電
位と全く同方向に動く。そして、電圧可変容量ダ
イオード26のアノードは、高周波的にはバイパ
スコンデンサ29で接地されているので、第3図
の回路とほぼ同様の動作をする。この回路の他の
利点は、特に負のパルスがFET12の正電位の
ドレイン19に侵入するのをダイオード26のバ
イパス効果によつて防ぐことができる。 Next, FIG. 6 shows another embodiment of the present invention. In this case, the voltage variable capacitance diode 26 is replaced by an FET.
The anode is connected between the drain 19 and source 22 of No. 12 with the anode facing the source 22 side. In other words, the potential on the cathode side of the diode 26 is the same as that shown in FIG. 3, so I will omit it and explain only the anode potential of the diode 26. When AGC voltage V resistor 2 connected to source 22 of
The voltage drop due to 7 is maximum. On the other hand, FET1
The source 22 of No. 2 is supplied with the +B bias voltage via the resistor 28, and the current flowing through this resistor 28 is minimized. However, as a result, FET12
The source potential of is maximum. Conversely, at maximum attenuation
The source potential of FET 12 is at its minimum. That is,
The source potential of the FET 12 moves in exactly the same direction as the potential of the second gate 16. Since the anode of the voltage variable capacitance diode 26 is grounded by the bypass capacitor 29 in terms of high frequency, it operates almost the same as the circuit shown in FIG. 3. Another advantage of this circuit is that, in particular, negative pulses can be prevented from entering the positive potential drain 19 of FET 12 by the bypass effect of diode 26.
以上述べたように本発明によれば、簡単な構成
により、AGC特性の優れた、しかも静電破壊に
強い4極MOS FETを使用した高周波増幅回路
を提供することができる。したがつて、特にテレ
ビジヨンチユーナに用いて好適するものである。 As described above, according to the present invention, it is possible to provide a high frequency amplifier circuit using a 4-pole MOS FET that has excellent AGC characteristics and is resistant to electrostatic damage with a simple configuration. Therefore, it is particularly suitable for use in television channels.
第1図は本発明を説明するための概略的構成説
明図、第2図は一般の高周波増幅回路の高周波レ
スポンス特性を示す図、第3図は本発明の一実施
例を示す回路図、第4図は第3図の回路の各部の
電圧に対する利得減衰量特性の一例を示す図、第
5図は第3図の回路の接合容量Cj、負荷Q特性の
一例を示す図、第6図は本発明の他の実施例を示
す回路図である。
1……4極MOS FET、3……入力端、6…
…AGC電源、8……出力端、9……電圧可変イ
ンピーダンス素子、14……入力回路、20……
高周波同調回路、24……電圧可変容量ダイオー
ド。
FIG. 1 is a schematic configuration explanatory diagram for explaining the present invention, FIG. 2 is a diagram showing high frequency response characteristics of a general high frequency amplifier circuit, FIG. 3 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention, and FIG. Figure 4 is a diagram showing an example of the gain attenuation characteristics with respect to the voltage of each part of the circuit in Figure 3, Figure 5 is a diagram showing an example of the junction capacitance C j and load Q characteristics of the circuit in Figure 3, and Figure 6 FIG. 2 is a circuit diagram showing another embodiment of the present invention. 1...4-pole MOS FET, 3...input end, 6...
...AGC power supply, 8... Output end, 9... Voltage variable impedance element, 14... Input circuit, 20...
High frequency tuning circuit, 24...voltage variable capacitance diode.
Claims (1)
を有するMOSFETと、 上記第1のゲートに入力信号を印加するととも
に、第2ゲートにAGC電圧を印加する手段と、 前記ソースと基準電位点間の直流結合を構成す
る第1の抵抗と、 前記ドレインを、信号出力回路を形成する同調
回路に接続する手段と、 一端を前記ドレインに接続し、他端を前記
AGC電圧もしくはこのAGC電圧に比例した電圧
を発生する点に接続して逆バイアスし、前記
AGC電圧の変化に応じて容量値が変化するよう
にした電圧可変容量素子とを具備してなる高周波
増幅回路。 2 前記電圧可変容量素子は電圧可変容量ダイオ
ードであつて、そのアノードを前記第2のゲート
に接続し、カソードを前記ドレインに接続したこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の高
周波増幅回路。 3 前記電圧可変容量素子は電圧可変容量ダイオ
ードであつて、そのアノードを前記ソースと第1
の抵抗との接続点に接続し、カソードを前記ドレ
インに接続したことを特徴とする特許請求の範囲
第1項に記載の高周波増幅回路。[Claims] 1. A MOSFET having a source, a drain, and first and second gates; means for applying an input signal to the first gate and applying an AGC voltage to the second gate; and the source. and means for connecting the drain to a tuning circuit forming a signal output circuit; one end connected to the drain and the other end connected to the
Connect to a point that generates the AGC voltage or a voltage proportional to this AGC voltage and reverse bias it.
A high-frequency amplifier circuit comprising a voltage variable capacitance element whose capacitance value changes according to changes in AGC voltage. 2. The high frequency device according to claim 1, wherein the voltage variable capacitance element is a voltage variable capacitance diode, an anode of which is connected to the second gate, and a cathode of which is connected to the drain. Amplification circuit. 3. The voltage variable capacitance element is a voltage variable capacitance diode, and its anode is connected to the source and the first
2. The high frequency amplifier circuit according to claim 1, wherein the high frequency amplifier circuit is connected to a connection point with a resistor, and a cathode is connected to the drain.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52280A JPS5698010A (en) | 1980-01-09 | 1980-01-09 | High frequency amplifying circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52280A JPS5698010A (en) | 1980-01-09 | 1980-01-09 | High frequency amplifying circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5698010A JPS5698010A (en) | 1981-08-07 |
JPS6333728B2 true JPS6333728B2 (en) | 1988-07-06 |
Family
ID=11476094
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52280A Granted JPS5698010A (en) | 1980-01-09 | 1980-01-09 | High frequency amplifying circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5698010A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2505779Y2 (en) * | 1989-09-06 | 1996-07-31 | ヤンマー農機株式会社 | Seedling alarm device in seedling feeding device |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3626575C1 (en) * | 1986-08-06 | 1987-10-15 | Telefunken Electronic Gmbh | Switchable tuner preamplifier |
-
1980
- 1980-01-09 JP JP52280A patent/JPS5698010A/en active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2505779Y2 (en) * | 1989-09-06 | 1996-07-31 | ヤンマー農機株式会社 | Seedling alarm device in seedling feeding device |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5698010A (en) | 1981-08-07 |
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