JPS633232A - 放射温度計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 上の１　分 本発明は、測定対象から放射される放射エネルギーから
測定′ＮｇＡの温度を測定する放射温度計に関する。

米のＩ　　・−明が解　しようとする間　α従来、上述
のような放射温度計は種々知られており、特に検知器と
して焦電素子を用いたものも知られている。そして、焦
電素子を検知器として用いた場合、検知器への入力信号
を交流信号の型にしないと焦電素子から放射エネルギー
に応じた出力信号が得らｈないことも知られている。

そこで、従来から、検知器の前にチ３７パを配置して、
検知器への放射エネルギーの入射を断続的に変化させる
ｖｔ戊が用いられている。このようにも１成すると、チ
ョッパの開田動作に同期して検知器の出力信号を整流す
る必要がある。ｉ！電型検知器の出力はその入力エネル
ギーに対しておよそ９０゛位相がおくれるが、検知器や
その増幅回路やチョッパを駆動するチョッパ駆動回路な
どには動作にバラツキがあるので、装置製造時には１つ
１つについてこの位相おくれを調整する校正作業が必要
であった。そこで、従来は、この校正のために、整流回
路の出力Ｍ号をオンロスフープなどで観察しつつ、位相
のずれなく整流回路を動作させる整流同期信号を発生さ
せるため、発生回路の調整要素を調整していたが、この
調整動作は非常にめんどうであった。

そこで、本発明はこのような点に鑑みてなされたもので
あり、その目的は従来のような装置製造時の整流同期信
号の：Ａ整を不要とすることができる放射温度計を提供
することにある。

間　αを　　するための 上記目的を達成するために、本発明にかかる放射温度計
は、測定対象から放射された放射エネルギーを受け、電
気信号に変換する検知器と、検知器への放射エネルギー
の入射を断続的に遮断するチョッパと、チョッパの開閉
状態をモニタしてその開閉に応じたチョッパ同期信号を
出力するモニタ手段と、検知器の出力信号の符号が反転
するとゼロクロス同期信号を出力するゼロクロス検出手
段と、チョッパ同期信号とゼロクロス同期信号との時間
差を測定する時間差測定手段と、測定された時間差を記
憶する記憶手段と、検知器の出力信号を整流する整流手
段と、チョッパ同期信号から記憶手段に記憶された時間
差だけ遅れたパルス信号を作成し、このパルス信号によ
って整流手段を作動させて同期整流を行わせる制御手段
とを有することを特徴とする。

１皿 従って、本発明によれば、装置内において整流手段の整
流動作をチョッパｒＭ閏動作に応じて行なわせるために
必要な時間差を測定、記憶することができるので、わず
られしい調整を行う必要はなくなる。

火Ｊｌ 以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細に説明する
。

まず、第１図は本発明実施例の放射温度計の構成を示す
ブロック図である。第１図において、測定対象から放射
された放射線は、集光レンズ（２）によって集光されて
検知器（４）の受光面に入射させられるが、この集光レ
ンズ（２）から検知器（４）に至る光路上にチ３ツバ（
６）が配置されて検知器（４）への入射光を断続的に遮
断している。すなわち、チ１ツバ（６）は上記光路に進
退自在であり、上記光路上に位置して検知器（４）への
入射光を遮断する状！！！（以下、閉状態という）と上
記光路外に退避して検知器（４）への入射光を遮断しな
い状態（以下、開状態という）とを予め定められた一定
の周期によって繰り返すように構成されている。そして
、このチうツバ（６）の検知器（４）に対向する面は反
射面となっており、チョッパ（６）が閉状態のときには
チョッパ（６）によって反射された検知器（４）の周辺
からの光が検知器（４）に入射させられる。更に、この
チョッパ（６）の開閉動作は７オトリ７レクタからなる
モニタ回路（８）によってモニタされ、このチョッパ（
６）の１ｊｉ′！閑に応じたチョッパ同期信号は後述す
るマイクロコンピュータ（２４）に入力される。

（１０）は検知器（４）周辺の参照温度を測定する温度
センサであり、この温度センサ（１０）の出力は自己温
度測定回路（１２）を介して後述するＡ／Ｄ変換回ｍ（
２２）に入力されてディジタル信号に変換され、マイク
ロコンビエータ（２４）に入力される。

一方、検知器（４）の出力信号はプリアンプ（１４）に
よって増幅され、チ１ツバ（６）の開閉周波数と同じ周
波数の信号のみを通過させるバンドパスフィルタ（１６
）によってチョッパの開閉周波数と同じ周波数の信号の
みが選別され、この選別された信号のみがメインアンプ
（１８）に入力されて更に増幅される。

更にメインアンプ（１８）の出力信号は、整流回路（２
０）によって整流されてＡ／Ｄ変換回路（２２）に入力
される。ここで、整流回路（２０）は前記チョッパ同期
信号を元にマイクロコンピュータ（２４）が作った同期
信号によって入力信号を同期整流する。Ａ／Ｄ変換回路
（２２）には、自己温度洞定回路（１２）から出力され
る検知器（４）周辺の温度に関するアナログ信号と、整
流回路（２０）から出力される検知器（４）の出力信号
に応じたアナログ信号とが入力される。そして、Ａ／Ｄ
変換回路（２２）はこの入力されるアナログ信号を順次
ディジタル信号に変換してマイクロコンピュータ（２４
）に向けて出力する。

マイクロコンピュータ（２４）は、Ａ／Ｄ変換回路（２
２）を介して入力される信号に応じて測定対象の温度を
演算するとともに予め格納された校正用プログラムに基
づいて装置の自己校正を行う。

（２６）は、メインアンプ（１８）の出力信号が入力さ
れるゼロクロス検出用コンパレータであり、その入力信
号の符号が正のときは”Ｈｉｇｈ”の信号を出力し、負
のときは”Ｌｏｗ”の信号を出力するものである。この
ゼロクロス検出用コンパレータ（２６）の出力信号をゼ
ロクロス同期信号とする。

（２８）は不揮発性ＲＡＭであり、マイクロフン　゛ビ
エータ（２４）が後述する校正用プログラムを実行して
得られた校正用データを記憶するとともに、この記憶さ
れた校正用データを温度測定時の装置の校正に用いるた
めにマイクロコンピュータ（２４）に出力する。（３０
）はマイクロコンピュータ（２４）によって演ｎされた
測定対象の温度に関するデータをディジタル信号として
出力するディジタル出力回路、（３２）は液晶表示装置
であり、同様にして演算された測定対象の温度に関する
表示を行う。

（３４）〜（４０）はそれぞれ手動操作可能なスイッチ
であり、各スイッチの作用については＠２図に基づいて
説明する。

第２図は本実施例の放射温度計の操作部及び表示部を示
す正面図であり、同図において、液晶表示装置（３２）
は測定された温度及び設定された放射率を表示するもの
である。（３４）はサンプル／ホールド・スイッチ、（
３６）及び（３８）は放射率設定スイッチである。この
スイッチ（３６）（３８）は、液晶表示装置ｆ！（３２
’）に表示される放射率をスイッチ（３６）を押すこと
によって増加させ、スイッチ（３８）を押すことによっ
て減少させる。

（４０）は装置全体に電力を供給するための電源スィッ
チ、（４２）はモード切り換えスイッチであり、このモ
ード切り換えスイッチ（４２）が指標”ＣＡＬ”に合わ
せられているときには装置が自己校正動作を行う校正モ
ードとなり、指標”ＭＥＡ”に合わせられているときに
は装置は測定対象の温度を測定する測定モードとなる。

（４４）は第１図のディジタル出力回路（３０）に該当
するディジタル出力用外部端子である。

以下、本実施例の動作について説明する。まず、測定対
象の温度を測定するときには、モード切り換えスイッチ
（４２）を指標”ＭＥＡ″に合わせた後に電源スィッチ
（４０）をＯＮにすると測定が繰り返され、液晶表示装
置（３２）には測定温度と設定された放射率が表示され
る。この状態でサンプル／ホールド・スイッチ（３４）
がＯＮされるとその時点の測定温度がホールドされて液
晶表示装置（３２）に表示される。ここで、スイッチ（
３６）（３８）を捏作して設定された放射率を変更する
ことができ、ホールドされた温度も変更された新しい放
射率に基づいて演算しなおされて表示される。

本実施例では種々の校正モードを有しており、以下その
各校正モードにおける動作について詳細に説明する。

まず、モード切り換えスイッチ（４２）を指標″ＣＡＬ
″′に合わせた状態で１！源スイツチ（４ｏ）をＯＮに
すると、校正モードＩの動作が開始される。

この校正モードＩについて説明する。本実施例において
、検知器（４）は、チョッパ（６）が開状態にあるとき
には測定対象から放射される放射エネルギーを受けると
ともにチ９ツバ（６）が閉状態にあるときにはチョッパ
（６）の反射面によって検知器周辺からの放射エネルギ
ーを受け、この開状態が交互に繰り返される。従って、
検知器（４）の出力は交流となり、この交流出力は測定
′Ｎ象と検知器周辺との放射エネルギーの差になる。よ
って、測定対象の温度を得るためには検知器（４）周辺
の参照温度を知る必要がある。

本実施例の放射温度計においては、温度センサ（１０）
によってこの参照温度を測定しているけれども、この温
度センサ（１０）は温度に応じて抵抗値が変化する感温
抵抗を用いており、感温抵抗やその他の回路素子には製
造時の個体差があるので、製造されたＶＣＣ１０１つに
ついてこの個体差が測定精度に影響を及ぼすことがない
ように校正する必要がある。この校正を行うために校正
モードＩがある。

本実施例において、温度センサ（１０）に用いられる感
温抵抗の０°Ｃにおける抵抗値をＲ８とじ、この校正の
ために用いられる２つの固定抵抗Ｒ１゜、Ｒ４０の抵抗
値のＡ／Ｄ変換回路（２２）によるＡ／Ｄ変換値をそれ
ぞれＲ４、Ｒ２とする。そして、感温抵抗のＡ／Ｄ変換
値をＲａとするとき、この値Ｒａと温度Ｔとの関係を次
のように定義する。

Ｔ＝ａ−Ｒａ＋ｂ　　　　　　　　−−（１）ここで、
ａ、ｂは定数であり、個体差がある。そして、感温抵抗
の温度係数（９７°Ｃ）をαとし、Ｔ１゜Ｃにおける感
温抵抗の抵抗値をＲＩＧとし、Ｔ４゜°Ｃにおける感温
抵抗の抵抗値をＲ４゜とすると、次の関係が成立する。

Ｒ，０＝　Ｒ、十α・Ｔ、。　　　　　・・・・・・（
２）Ｒ，、＝Ｒ，＋α　・Ｔ、。　　　　　　・・・・
・・（３）更に、（１）式からＴ、。とＴ、。とはそれ
ぞれ次のように表現される。

Ｔ　、ｏ：１　＊　Ｒ＋ｏ　＋ｂ　　　　　　　＝・・
＝（４）Ｔ　＊ｏ＝ａ−Ｒｔｏ＋ｂ　　　　　　　−−
（５）ここで、（２）〜（５）式からＴ、。とＴ、。と
を消去すれば、各感温抵抗に固有の自己温度定数ａ、ｂ
を求めることができる。この自己温度定数ａ、ｂを求め
るのが校正モードＩの動作である。

次に、この校正モードＩにおけるマイクロコンピュータ
（２４）の動作を第３図の７０−チャートに基づいて説
明する。第３図において、前述のようにして校正モード
■が開始されると、まず、ステップ＃１で温度センサ（
１０）のＯ″Ｃでの抵抗値Ｒ，初期値を液晶表示装置（
３２）に表示する。

次にステップ＃２、＃３ではスイッチ（３６）もしくは
（３８）がＯＮされているか否かが判定され、スイッチ
（３６）がＯＮされていればステップ＃４にすすんで液
晶表示装！（３２）の表示値を”０．１％”だけ増加さ
せ、スイッチ（３８）がＯＮされていればステップ＃５
にすすんで表示値が”０．１％”だけ減少させられる。

そして、ステップ＃６ではサンプル／ホールド・スイッ
チ（３４）がＯＮされているか否かが判定され、このス
イッチ（３４）がＯＮされればステップ＃７にすすんで
液晶表示装置（３２）に表示された表示値をＲｏとして
セーブする。ここで、サンプル／ホールド・スイッチ（
３４）がＯＮされるまではスイッチ（３６）及び（３８
）によって表示値を自由に変更することができる。

次に操作者は上述した固定抵抗Ｒ１゜を温度センサ（１
０）の感温抵抗に代えて結線する。−方、マイクロコン
ピュータ（２４）ｌ土ステップ＃８″Ｃサンプル／ホー
ルド・スイッチ（３４）がＯＮ％れるのを待っている。

すなわち、操作者はサンプル／ホールド・スイッチ（３
４）を押す前に固定抵抗Ｒ１゜を感温抵抗に代えて結線
し、この結線が完了すればサンプル／ホールド・スイッ
チ（３４）を押圧する。すると、プログラムはステップ
＃９にすすんで固定抵抗Ｒ１゜のＡ／Ｄ変換回路（２２
）によるＡ／Ｄ変換値Ｒ５がマイクロコンビよ−タ（２
４）に入力される。

同様にして、今度は操作者が感温抵抗に代えて固定抵抗
Ｒ１゜を結線し、この結線が完了してからスイッチ（３
６）を押圧する。すると、スイッチ（３６）の抑圧によ
ってプログラムはステップ＃１０からステップ＃１１に
すすみ、固定抵抗Ｒ１゜のＡ／Ｄ変換回路（２２）によ
るＡ／Ｄ変換値Ｒ２がマイクロコンピュータ（２４）に
よって求められる。

次にマイクロフンピユータ（２４）のプログラムはステ
ップ＃１２にすすみ、２つの固定抵抗Ｒ１１１％Ｒ４゜
結線時のＡ／Ｄ変換値Ｒ，、Ｒ２とステップ＃７におい
て設定された温度データとから、温度センサ（１０）に
用いられる感温抵抗の自己温度を演算するための校正定
数ａ＋ｂを求め、ステップ＃１３′ｃこの自己温度定数
ａ、ｂを不揮発性ＲＡＭ（２８）にセーブする。これに
よって、個体差のある感温抵抗固有の定数ａ、ｂが不揮
発性ＲＡＭ（２８）に記憶される。そして、プログラム
は校正モード■にすすむ。

この校正モードＨについて説明する。本実施例において
、ｉ１図図示のように検知器（４）からのエネルギー信
号はマイクロコンピュータ（２４）からの整流同期信号
に応じて整流回路（２０）によって整流される。ここで
、この整流同期信号はモニタ回路（８）からのチョッパ
同期信号をマイクロコンピュータ（２４）内で遅延させ
て作られるように構成されている。そして、各装置ごと
にこのチヨ・７パ同期信号と整流同期信号との遅延時間
にばらつきがあるので、これを校正する必要がある。こ
の校正を行うのが、校正モード■である。〜いま、第４
図に、検知器（４）からのエネルギー信号をＡ、マイク
ロフンピユータ（２４）からの整流同期信号をＢ、整流
回路（２０）の出力信号をＣ、モニタ回路（８）からの
チョッパ同期信号をり、ゼロクロス検出用コンパレータ
（２６）からのゼロクロス同期信号をＥとして、各信号
の時間的変化を示す。第４図において、チョッパ同期信
号りと整流同期信号Ｂと間には信号遅れ時間、しが、あ
り、この時間に個体差がある。そこで、この個体差を校
正するのが校正モード■の動作である。本実施例におい
ては、整流回路（２０）に入力されるメインアンプ（１
８）の出力信号はゼロクロス検出用フンパレータ（２６
）にも入力されており、このゼロクロス検出用コンパレ
ータ（２６）はメイン７ンブ（１８）の出力信号がＱ　
、＋ｆ、を横切るたびに出力を反転させる。

従って、マイクロコンピュータ（２４）からの整流同期
信号Ｂとゼロクロス同期信号Ｅとは常に一致している。

校正モード■におけるマイクロコンピュータ（２４）の
動作を第５図のフローチャートに示す。

この校正モードＨにおいて校正に必要なデータは、測定
レンジの高温域（本実施例では２５０°Ｃ付近）の黒体
炉の温度、黒体炉から放射されるエネルギーを受ける検
知器（４）の出力のＡ／Ｄ変換値、及びそのときの参照
温度である。

ステップ＃２１では液晶表示装置（３２）に黒体炉の温
度の初期設定値として’２ＳＯ′Ｃ”を表示する。そし
て、ステップ＃２２、＃２３ではスイッチ（３６）（３
８）が操作されたが否かを判別し、スイッチ（３６）が
操作されればステップ＃２４にすすんで表示される魚体
炉温度を ”０．１”Ｃ”だけ増加させ、逆にスイッチ（３８）が
操作されればステップ＃２５にすすんで表示される黒体
炉温度を０．１°Ｃ″だけ減少させる。

すなわち、繰作者は予め知られている黒体炉の温度をス
イッチ（３６）（３８）を操作して液晶表示装ｒａ（３
２）に設定するのである。そして、この設定が完了すれ
ば、繰作者はサンプル／ホールド・スイッチ（３４）を
押圧する。このサンプル／ホールド・スイッチ（３４）
が押圧されるまではスイッチ（３６）もしくは（３８）
の操作によって表示値を変更することが可能である。こ
のようにして、予め知られている黒体炉の温度が液晶表
示装置（３２）に設定されてサンプル／ホールド・スイ
ッチ（３４）が押圧されると、プログラムはステップ＃
２６からステップ井２７にすすんで、液晶表示装置（３
２）に表示された黒体炉の温度を不揮発性ＲＡＭ（２８
）にセーブする。

次に、ステップ＃２８ではモニタ回路（８）からのチョ
ッパ同期信号（第４図のＤ）がＨｉｇｈ″か否かを判別
し、”Ｈｉｇｈ″になればステップ＃２９にすすんで信
号遅れ時間ｔのカウントを開始し、ステップ＃３０でゼ
ロクロス検出用コンパレータ（２６）のゼロクロス同期
信号（′ＰＪ４図のＥ）が”Ｈｉｇｈ”になったことが
判別されるとこのカフントを終了する。これによって、
チョッパ同期信号りが”Ｈｉｇｈ″になってからゼロク
ロス同期信号Ｅが”Ｈｉｇｈ″になるまでの信号遅れ時
間ｔがｆｆ１ｌ定される。そして、ステップ＃３１では
このカウントされた信号遅れ時間ｔを不揮発性ＲＡＭ（
２８）にセーブする。

更に、ステップ＃３２では、温度センサ（１０）の出力
信号をＡ／Ｄ変換回路（２２）によってディジタル信号
に変換し、校正モードＩにおいて演算された自己温度定
数ａ、ｂを用いて検知器（４）の自己温度を計算する。

次にステップ＃３３では、黒体炉測定時の検知器（４）
の出力に応じた整流回路（２０）の出力信号をＡ／Ｄ変
換回路（２２）によりてディジタル信号に変換し、ステ
ップ＃３４で検知器（４）の自己温度とこの黒体炉の放
射エネルギーのＡ／Ｄ変換値とが不揮発性ＲＡＭ（２８
）にセーブされる。そして、プログラムは校正モード■
にすすむ。

この校正モード■は、測定対象からの放射エネルギーの
Ａ／Ｄ変換値と参照温度とから測定対象の温度を計算す
るための校正定数を求めるためのものである。

ここで、測定対象の温度をＴＬ、その放射率をＥｔ、そ
の分光放射エネルギーをＥｔ、参照温度をＴｄ、その分
光放射エネルギーをＥ（Ｔｄ、入）、検知器（４つ）の
分光感度をＳ（λ）とすると、チョッパ（６）の開状態
における検知器（４）に入射するエネルギーＥ、は、 Ｅ、＝　　＋Ａ・εＬ−Ｅ（Ｔｔ、＾）十Ｂ　−Ｅ（Ｔ
ｄ、λ））・Ｓ（λ）・ｄＡ　　　　　　・・・・・・
（６）となり、−方、チョッパ（６）の開状態における
検知器（４）に入射するエネルギーＥｃは、Ｅｃ＝　　
　Ｃ−Ｅ（Ｔｄ、λ）・Ｓ（入）−ｄＡ　　　・　（７
）となる、ここで、Ａ、Ｂ、Ｃはそれぞれ定数である。

従って、この開状態における入射エネルギー差ΔＥは、 ΔＥ＝Ｅ、−Ｅｃ ＝Ａ・Ｅｔ　　Ｅ（Ｔｔ、λ）・Ｓ（λ）・ｄλ〇 −Ｄ−Ｅ（Ｔｃｌ、λ）・Ｓ（λ）・ｄ人・・・・・・
（８） となる、但し、Ｄ＝Ｂ−Ｃである。（８）式より測定対
象の放射エネルギーＥｔは、 Ｅｔ＝　　ε　ｔ　　　Ｅ（Ｔｔ、λ　）・　Ｓ（λ　
）・　ｄλ＝ｃ・ΔＥ十ｄ　　Ｅ（Ｔｄ、＾）−３（＾
）・ｄλ・・・・・・（９） となる。但し、ここで、ｃ、ｄは定数であり、ｅ＝１／
Ａ、ｄ＝Ｄ／Ａである。ここで、（９）式をＥｔ＝εｔ
　−ｆ（Ｔ　ｔ）　　　　　　　　　　　　・・・・・
・（１０）とあられせぼ、測定対象の温度Ｔｔは、Ｔｔ
＝ｆ　’（Ｅｔ／εｔ）　　　　　　　・・・・・・（
１１）となる。

本実施例においては、この定数ｃ、ｄを校正モード■に
おいて求める。すなわち、まず、校正モード■で測定さ
れた高温域（２５０°Ｃ付近）状態における黒体炉の温
度、参照及び放射エネルギーのＡ／Ｄ変換値とは別に、
校正モード■において低温（３０°Ｃ付近域）状態のこ
れらの数値を測定する。以下、この校正モード■におけ
るマイクロコンピュータ（２４）の動作を第６図の７０
−チャートに示し、それについて説明する。

ステップ＃４２から又テップ＃４８までにおいて、第５
図のステップ゛＃２１からステンブ＃２７までと同様に
、黒体炉の温度を不揮発性ＲＡＭ（２８）にセーブする
。但し、ここで、ステップ＃４２においでは黒体炉の温
度は３０．０″と初期設定される。

更（こ、ステ７ブ井４９で（土、温度センサく１０）の
出力信号をＡ／Ｄ変換回路（２２）によってＡ／Ｄ変換
し、校正モードＩにおいて求められた定数ａ、ｂを用い
て検知器（４）の参照温度を計算する。

次に、ステップ＃５０で黒体炉からの放射エネルギーを
受けている検知器（４）の出力信号をＡ　／　Ｄ変換回
路（２２）によってＡ／Ｄ変換する。続いて、ステップ
＃５１で校正モード■で求められ不揮発性ＲＡＭ（２８
）にセーブされている黒体炉の放射率及び温度、参照温
度、及び黒体炉からの放射エネルギーを受けている検知
器（４）の出力信号のＡ／Ｄ変換値を、それぞれ、不揮
発性ＲＡＭ（２８）からマイクロコンピュータ（２４）
にロードする。

そして、ステップ＃５２では、これらのステップ＃４１
、＃４８及び＃４９から＃５１までにおいて入力された
データに基づいて、検知器（４）の出力信号からそれに
対応する温度に変換する際に必要な校正定数ｃ、ｄを計
算する。この計算された温度校正定数Ｃ９ｄはステップ
＃５３において不揮発性ＲＡＭ（２８）にセーブされ、
校正モード■の動作が完了する。

更に、本実施例の放射温度計は、校正モード■に続いて
別に２つの校正モードを有する。まず、校正モード■は
、液晶表示装置（３２）に表示される温度を摂氏単位系
（”Ｃ）′ｃ表示するか華氏単位系（°Ｆ）で表示する
かを切り換えることができるように設けられている。更
に、校正モード■は、メインアンプ（１８）のゲインを
＠調整するために設けられている。

はじめに、校正モード■の動作について、第７図の７０
−チャートを用いて説明する。まず、この校正モード■
のプログラムが開始させられると、ステップ＃５４で液
晶表示装置（３２）に摂氏表示を示す温度単位″Ｃ″が
初期表示される。そして、ステップ井５５、＃５６でス
イッチ（３Ｇ）（３８）がＯＮされているか否かを判定
し、スイッチ（３６）がＯＮされればステップ＃５７に
すすんでそのまま温度単位”Ｃ”が液晶表示装！（３２
）に表示され、スイッチ（３８）がＯＮされればステッ
プ＃５８にすすんで華氏表示を示す温度単位″Ｆ”が表
示される。この温度単位系の切り換えは、サンプル／ホ
ールド・スイッチ（３４）がＯＮされるまで可能であり
、ステップ井５９でこのサンプルホールド・スイッチ（
３４）のＯＮが判別されるとステップ＃６０にすすんで
、そのときに表示されている温度単位系を不揮発性ＲＡ
Ｍ（２８）にセーブする．そして、校正モード■にすす
む。

校正モード■におけるマイクロコンピュータ（２４）の
動作を第８図に示し、これについて説明する．まず、ス
テップ＃６１では測定対象の温度を測定して表示し、ス
テップ＃６２でサンプル／ホールド・スイッチ（３４）
がＯＮされるのを待つ。

そして、ステップ＃６２でサンプル／ホールド・スイッ
チ（３４）のＯＮが判別されると、ステップ＃６３にす
すんで液晶表示装置（３２）に表示されている温度をホ
ールドするとともに、メインアンプ（１８）のデインと
して’１，０００″を表示する。

このゲインはスイッチ（３６）（３８）の操作によって
変更可能であり、ステップ＃６４でスイッチ（３６）の
ＯＮが判別されればステップ＃６６にすすんでこのゲイ
ンが０．００１″だけ増加させられ、逆にステップ＃６
５でスイッチ（３８）のＯＮが判別されればステップ＃
６７にすすんでこのゲインが０．００１″だけ減少させ
られる。このメインアンプ（１８）のゲイン設定は、サ
ンプル／ホールド・スイッチ（３４）がＯＮされるまで
可能であり、ステップ＃６８でこのサンプル／ホールド
・スイッチ（３４）のＯＮが判別されるとステップ＃６
９にすすんで液晶表示装ｆｉ！（３２）に表示されてい
る設定されたゲインを不揮発性ＲＡＭ（２８）にセーブ
する。

発Ｊ！暮１胆 以上詳述したように、本発明にかかる放射温度計は、測
定対象から放射された放射エネルギーを受け、電気信号
に変換する検知器と、検知器への放射エネルギーの入射
を断続的に遮断するチッッパと、チョッパの開閉状態を
モニタしてその開閉に応じたチョッパ同期信号を出力す
るモニタ手段と、検知器の出力信号の符号が反転すると
ゼロクロス同期信号を出力するゼロクロス検出手段と、
チョッパ同期信号とゼロクロス同期信号との時間差を測
定する時間差測定手段と、測定された時間差を記憶する
記憶手段と、検知器の出力信号を整流する整流手段と、
チョッパ同期信号から記憶手段に記憶された時間差だけ
遅れたパルス信号を作成し、このパルス信号によって整
流手段を作動させて同期整流を行わせる制御手段とを有
することを特徴とするものであり、このように構成する
ことによって、放射温度計自身がチョッパの開閉動作に
同期して整流手段の整流動作を行なわせるために必要な
時間差を自動的に測定・記憶するので、装置組み立て時
のこの同期のための調整を行う必要をなくすることがで
きる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明実施例にかかる放射温度計の構成を示す
ブロック図、第２図はその表示部及び操作部を示す正面
図、第３図、第５図、第６図、第７図、第８図はそれぞ
れ本実施例のＣＰＵの校正モードにおける動作を示す７
０−チャート、第４図は本実施例の各回路の出力信号の
変化を示すタイムチャート、第９図は本実施例の測定モ
ードにおける動作を示す７０−チャートである。 （４）；検知器、 （６）；チョッパ、 （８）；モニタ手段、 （２０）；整流手段、 （２４）；時間差測定手段、制御手段、（２６）；ゼロ
クロス検出手段、 （２８）；記憶手段。 以上 出願人　ミノルタカメラ株式会社 第Ｓ図 第６図 第７図 第８図 第９図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、測定対象から放射された放射エネルギーを受け、電
   気信号に変換する検知器と、 検知器への放射エネルギーの入射を断続的に遮断するチ
   ョッパと、 チョッパの開閉状態をモニタしてその開閉に応じたチョ
   ッパ同期信号を出力するモニタ手段と、検知器の出力信
   号の符号が反転するとゼロクロス同期信号を出力するゼ
   ロクロス検出手段と、チョッパ同期信号とゼロクロス同
   期信号との時間差を測定する時間差測定手段と、 測定された時間差を記憶する記憶手段と、 検知器の出力信号を整流する整流手段と、 チョッパ同期信号から記憶手段に記憶された時間差だけ
   遅れたパルス信号を作成し、このパルス信号によって整
   流手段を作動させて同期整流を行わせる制御手段と、 を有することを特徴とする放射温度計。