JPS63313241A - Method for starting circuit substrate testing program - Google Patents

Method for starting circuit substrate testing program

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Publication number
JPS63313241A
JPS63313241A JP62149024A JP14902487A JPS63313241A JP S63313241 A JPS63313241 A JP S63313241A JP 62149024 A JP62149024 A JP 62149024A JP 14902487 A JP14902487 A JP 14902487A JP S63313241 A JPS63313241 A JP S63313241A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
microcomputer
electronic circuit
circuit board
switch
circuit substrate
Prior art date
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Pending
Application number
JP62149024A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yuji Yoshida
勇二 吉田
Akihiro Nakamura
明裕 中村
Katsuhiro Tokida
勝啓 常田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Hitachi Information and Telecommunication Engineering Ltd
Original Assignee
Hitachi Computer Peripherals Co Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Computer Peripherals Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Computer Peripherals Co Ltd
Priority to JP62149024A priority Critical patent/JPS63313241A/en
Publication of JPS63313241A publication Critical patent/JPS63313241A/en
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Abstract

PURPOSE:To improve the efficiency of a test by mechanically and electrically operating a switch to set up a self-diagnostic mode and detecting a signal consisting of a pulse string supplied from the outside of a device by a microcomputer to start a test program. CONSTITUTION:After turning off the switch, a pulse signal generator 5 and an electronic circuit substrate tester 6 are connected to an electronic circuit substrate 100 and a pattern having a time factor which can not be easily generated by manual operation is inputted. The microcomputer 1 starts the electronic circuit substrate testing program built in it based on the inputted pattern. The tester 6 monitors the operation of the substrate 100 which can be previously predicted from the program to analyze faults in the microcomputer 1, the electronic circuit substrate testing program itself, an input side logic circuit 2, and an output side logic circuit 3.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、回路基板試験プログラム起動方法に関し、特
に電子回路基板単体の試験プログラムの起動に好適なプ
ログラム起動方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a circuit board test program starting method, and particularly to a program starting method suitable for starting a test program for a single electronic circuit board.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、マイクロコンピュータが各種装置(例えば、磁気
ディスク装置)に組み込まれ、磁気ディスク装置におい
ては、データの入出力制御やデータ転送制御を行ってい
る。このようなマイクロコンピュータを有する装置にお
いて、マイクロコンピュータを含む周辺回路基板の試験
を行うため、マイクロコンピュータに回路基板試験プロ
グラムが内蔵されている。この試験プログラムは試験器
によって起動される。
In recent years, microcomputers have been incorporated into various devices (eg, magnetic disk drives), and the magnetic disk drives control data input/output and data transfer. In an apparatus having such a microcomputer, a circuit board test program is built into the microcomputer in order to test a peripheral circuit board including the microcomputer. This test program is started by the tester.

関連する特許の例としては、特開昭60−243731
号公報が挙げられる。この装置では、上位装置の命令に
より試験プログラムを起動している。
Examples of related patents include JP-A-60-243731
Publication No. In this device, a test program is activated by a command from a host device.

〔発明が解決しようとする間層点〕[The interlayer point that the invention attempts to solve]

上記従来技術では、回路上の切替回路、判定回路、制御
回路など主要な回路部分が正常に機能している必要があ
った。また、マイクロコンピュータを有する磁気ディス
ク装置においては、実動作時に、試験プログラムを起動
した場合、試験プロダラムが装置を動作させてしまうた
め装置の障害を発生する可能性がある。
In the above-described conventional technology, main circuit parts such as a switching circuit, a determination circuit, and a control circuit must function normally. Furthermore, in a magnetic disk device having a microcomputer, if a test program is started during actual operation, the test program will cause the device to operate, which may cause a device failure.

本発明の目的は、このような従来の問題を解決し、マイ
クロコンピュータを有する装置において、マイクロコン
ピュータを含み、このマイクロコンピュータに接続され
た回路の全ての故障箇所の判定を行え、装置としての構
成、動作にとられれることなく、試験効率を向上させる
回路基板試験プログラム起動方法を提供することにある
An object of the present invention is to solve such conventional problems, and to improve the structure of a device that includes a microcomputer and is capable of determining all failure points in circuits connected to the microcomputer. An object of the present invention is to provide a method for starting a circuit board test program that improves test efficiency without being stuck in operation.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記問題点を解決するため、本発明では、人手により切
替えるスイッチを有し、該スイッチの切替えにより、マ
イクロコンピュータによる自己診断を行う電子回路基板
を有する装置において、前記スイッチを機械的または電
気的に操作して自己診断モードにすると共に、装置外か
ら供給される時間的要素を持ったパルス列の信号をマイ
クロコンピュータにて検知することにより、電子回路基
板単体の試験プログラムを起動することに特徴がある。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides an apparatus having an electronic circuit board that has a switch that is manually switched, and that performs self-diagnosis by a microcomputer by switching the switch. It is characterized by starting a test program for a single electronic circuit board by operating it to enter self-diagnosis mode and using a microcomputer to detect a pulse train signal with a time element supplied from outside the device. .

〔作用〕 本発明においては、人手により切替えるスイッチを、人
手によって切替えた場合、あらかじめ設定されたマイク
ロコンピュータの電子回路基板試験プログラムを起動す
るパターンが発生しないため、マイクロコンピュータは
電子回路基板試験プログラム以外のプログラムを実行す
る。
[Operation] In the present invention, when a switch to be changed over manually is changed over manually, a preset pattern for activating the electronic circuit board test program of the microcomputer is not generated. Run the program.

次に、電子回路基板単体のとき、前記設定されたパター
ンを発生させるパターン発生器により、設定されたパタ
ーンを発生し、マイクロコンピュータの電子回路基板試
験プログラムを起動する。
Next, when the electronic circuit board is a single unit, the pattern generator that generates the set pattern generates the set pattern, and the electronic circuit board test program of the microcomputer is activated.

このとき、マイクロコンピュータは基板に外付けされた
回路部品が無いため、自由に周辺回路素子を動作させる
プログラムを実行することができるので、周辺回路素子
の障害を、容易に解析することができる。
At this time, since the microcomputer does not have any circuit parts attached externally to the board, it can freely execute a program that operates the peripheral circuit elements, so that failures in the peripheral circuit elements can be easily analyzed.

(実施例〕 以下、本発明の一実施例を、図面により詳細に説明する
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は1本発明の一実施例を示す回路基板試験プログ
ラム起動方法を説明するための図である。
FIG. 1 is a diagram for explaining a method for starting a circuit board test program according to an embodiment of the present invention.

これは、マイクロコンピュータを含む電子回路基板10
0の周辺回路および試験器の回路構成を示している。ま
た、第2図に発生されるパターンの例を示す。
This is an electronic circuit board 10 containing a microcomputer.
0 peripheral circuit and the circuit configuration of the tester. Further, FIG. 2 shows an example of the generated pattern.

図中、磁気ディスク装置の電子回路基板100に含まれ
るマイクロコンピュータ1には、その入力側に入力側論
理回路2が、また、その出力側に出力側論理回路3が接
続されている。スイッチ4はマイクロコンピュータ1に
接続されており、その切替えにより、上位装置からの制
御(プログラム)に従った動作と、基板100の自己診
断を行う自己診断プログラムによる動作に切替わる。
In the figure, a microcomputer 1 included in an electronic circuit board 100 of a magnetic disk device has an input side logic circuit 2 connected to its input side, and an output side logic circuit 3 connected to its output side. The switch 4 is connected to the microcomputer 1, and by switching the switch 4, the operation is switched between an operation according to control (program) from a host device and an operation according to a self-diagnosis program that performs a self-diagnosis of the board 100.

ここで、基板100の診断を行なう場合、装動を誤動作
させないように電子回路基板を装置より取り外す。次に
電子回路基板100に、パルス信号発生器5と、電子回
路基板試験器6を接続し、パルス信号発生器5より、人
手にて容易に発生することのできない時間要素を持った
パターン(第2図参照)を入力する。このとき、スイッ
チ4はオフしていることが必要であり、これにより第2
図パターンの信号が、マイクロコンピュータ1へ入力さ
れる。
Here, when diagnosing the board 100, the electronic circuit board is removed from the device to prevent the installation from malfunctioning. Next, a pulse signal generator 5 and an electronic circuit board tester 6 are connected to the electronic circuit board 100, and the pulse signal generator 5 generates a pattern (a pattern with a time element that cannot be easily generated manually). (see Figure 2). At this time, it is necessary that the switch 4 is off, so that the second
The signal of the figure pattern is input to the microcomputer 1.

マイクロコンピュータ1は、入力されたパターンにより
、内蔵された電子回路基板試験プログラムを起動し、電
子回路試験器6は、電子回路基板試験プログラムからあ
らかじめ予測される電子回路基板の動作を監視すること
により、マイクロコンピュータ1.電子回路基板試験プ
ログラム自身および、入力側論理回路2.出力側論理回
路3の障害を容易に解析することができる。
The microcomputer 1 starts a built-in electronic circuit board test program according to the input pattern, and the electronic circuit tester 6 monitors the operation of the electronic circuit board predicted in advance from the electronic circuit board test program. , microcomputer 1. Electronic circuit board test program itself and input side logic circuit2. Failures in the output side logic circuit 3 can be easily analyzed.

例えば、本実施例を磁気ディスク装置に適用した場合、
機械的あるいは電気的にスイッチ4を操作すると共に、
意識して、人手にて容易に発生しえないパターンを入力
しなければ、マイクロコンピュータのプリント配線基板
テストプログラムを起動することができないため、実動
作中に、誤ってスイッチ4を切り替えてプリント配線゛
基板テストプログラムを実行しようとしても実行せず、
磁気ディスク装置に障害を発生することがない。
For example, when this embodiment is applied to a magnetic disk device,
While operating the switch 4 mechanically or electrically,
The microcomputer's printed wiring board test program cannot be started without consciously inputting a pattern that cannot be easily generated manually.゛When I try to run the board test program, it does not run,
No failure will occur in the magnetic disk device.

このように1本実施例においては、スイッチの切り替え
と共に、電子回路基板にあらかじめ定められた信号を入
力しなければ、電子回路基板試験プログラムを起動する
ことができないため、電子回路基板試験プログラムを実
装置に基板に実装した状態で起動して、装置を破損する
ことを防止できる。
As described above, in this embodiment, the electronic circuit board test program cannot be started unless the switch is switched and a predetermined signal is input to the electronic circuit board. It is possible to prevent damage to the device caused by starting the device while it is mounted on the board.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように1本発明によれば、マイクロコンピ
ュータを有する装置において、マイクロコンピュータを
含み、このマイクロコンピュータに接続された回路の全
ての故障箇所の判定を行うことができ、装置としての構
成、動作にとられれることなく、試験効率を向上させる
ことができる。
As explained above, according to one aspect of the present invention, in a device having a microcomputer, it is possible to determine all failure points in a circuit including the microcomputer and connected to the microcomputer, and the configuration as the device, Testing efficiency can be improved without being distracted by the operation.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す回路基板試験プログラ
ム起動方法を説明するための図、第2図はマイクロコン
ピュータに入力されるパターンの例を示す図である。 1;マイクロコンピュータ、2:入力側論理回路、3:
出力側論理回路、4:スイッチ、5:パルス信号発生器
、6:電子回路基板試験器、100:電子回路基板。
FIG. 1 is a diagram for explaining a method of starting a circuit board test program according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram showing an example of a pattern input to a microcomputer. 1; Microcomputer, 2: Input side logic circuit, 3:
Output side logic circuit, 4: switch, 5: pulse signal generator, 6: electronic circuit board tester, 100: electronic circuit board.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1、人手により切替えるスイッチを有し、該スイッチの
切替えにより、マイクロコンピュータによる自己診断を
行う電子回路基板を有する装置において、前記スイッチ
を機械的または電気的に操作して自己診断モードにする
と共に、装置外から供給される時間的要素を持ったパル
ス列の信号をマイクロコンピュータにて検知することに
より、電子回路基板単体の試験プログラムを起動するこ
とを特徴とする回路基板試験プログラム起動方法。
1. In a device having an electronic circuit board that has a switch that can be switched manually and that performs self-diagnosis by a microcomputer by switching the switch, the switch is mechanically or electrically operated to put the switch into a self-diagnosis mode; A method for starting a circuit board test program, characterized in that a test program for a single electronic circuit board is started by detecting a pulse train signal having a time element supplied from outside the device using a microcomputer.
JP62149024A 1987-06-17 1987-06-17 Method for starting circuit substrate testing program Pending JPS63313241A (en)

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JPS63313241A true JPS63313241A (en) 1988-12-21

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JP (1) JPS63313241A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02190940A (en) * 1989-01-20 1990-07-26 Hitachi Ltd Self-diagnostic system and constitution method for information processor

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH02190940A (en) * 1989-01-20 1990-07-26 Hitachi Ltd Self-diagnostic system and constitution method for information processor

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