JPS63311108A - レ−ザ平行光束を利用したキ−山形状識別方法 - Google Patents
レ−ザ平行光束を利用したキ−山形状識別方法Info
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- JPS63311108A JPS63311108A JP14720787A JP14720787A JPS63311108A JP S63311108 A JPS63311108 A JP S63311108A JP 14720787 A JP14720787 A JP 14720787A JP 14720787 A JP14720787 A JP 14720787A JP S63311108 A JPS63311108 A JP S63311108A
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- Japan
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- Pending
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は莫大な種類及び数のキー(鍵)を管理する必要
のある自動車工業等における、明確なキー識別方法を提
供するものである。
のある自動車工業等における、明確なキー識別方法を提
供するものである。
〈従来の技術〉
個々のキーを識別するために、従来、次のような方法が
採用されていた。
採用されていた。
■キーの山谷部の片側に投光器で光を当て、その影をレ
ンズによって拡大し受光器上に投影する。
ンズによって拡大し受光器上に投影する。
■受光器上には多数の受光素子が等間隔に配置されてい
る。
る。
■これらの受光素子が受光するか受光しないかによって
キーの山あるいは谷の高さが判別される。
キーの山あるいは谷の高さが判別される。
したがって、キーの山あるいは谷の幅を測定するもので
はなく、それらがある寸法範囲内にあるか否かを判別す
るに過ぎなかった。また、判別がキーの片側のみを対象
としているため、キー取付治具及びその送り装置等の遊
隙によってその判別精度が左右されるという不具合があ
った。
はなく、それらがある寸法範囲内にあるか否かを判別す
るに過ぎなかった。また、判別がキーの片側のみを対象
としているため、キー取付治具及びその送り装置等の遊
隙によってその判別精度が左右されるという不具合があ
った。
〈発明が解決しようとする問題点〉
そこで、キーの出あるいは谷の幅について寸法計測がで
きるようにすること、しかも、それが高精度で可能な方
法の検討が課題となっていたのである・ く問題点を解決するための手段〉 このような課題に関して種々検討した結果、レーザ投光
器(3)と受光器(4)との間に測定しようとするキー
(1)を置き、前記投光器から放射されるレーザをキー
山(10)の幅より広幅の帯状平行光束(5)としてキ
ー(1)に照射し、キー(1)又は光束(5)をキーの
長手方向に移動させてキー山の形状を識別することを特
徴とするレーザ平行光束を利用したキー山形状識別方法
を開発したのである。
きるようにすること、しかも、それが高精度で可能な方
法の検討が課題となっていたのである・ く問題点を解決するための手段〉 このような課題に関して種々検討した結果、レーザ投光
器(3)と受光器(4)との間に測定しようとするキー
(1)を置き、前記投光器から放射されるレーザをキー
山(10)の幅より広幅の帯状平行光束(5)としてキ
ー(1)に照射し、キー(1)又は光束(5)をキーの
長手方向に移動させてキー山の形状を識別することを特
徴とするレーザ平行光束を利用したキー山形状識別方法
を開発したのである。
く作用〉
この方法においては、受光器(4)に至るレーザ゛
が通常の光と異なって平行光束であるから、投光器(3
)と受光器(4)間にあるキー(1)の山あるいは谷の
幅は忠実に受光器へ投影される。したがって、キーの山
あるいは谷の幅について寸法計測ができ、しかも、それ
が高精度で可能となる。
が通常の光と異なって平行光束であるから、投光器(3
)と受光器(4)間にあるキー(1)の山あるいは谷の
幅は忠実に受光器へ投影される。したがって、キーの山
あるいは谷の幅について寸法計測ができ、しかも、それ
が高精度で可能となる。
〈実施例〉
以下図面によって本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明のキー山形状識別方法を実施可能にする
計測装置の斜視図である。
計測装置の斜視図である。
本装置はレーザ投光器(3)と受光器(4)との間に測
定しようとするキー(1)を保持する治具(2)が配置
されている。 このキー保持用治具(2)にはキーの山
谷部に投光されたレーザの平行光束(5)が通過できる
ような窓(8)が設けられている。投光器から放射され
るレーザはキー山(10)の最大幅より広幅の帯状平行
光束(5)である。キー(1)に照射後の帯状の平行光
束は受光器(4)によって受光され、キーの山(10)
あるいは谷部(9)によって遮られた影が光量変化とし
てとらえられ、キーの全幅に対する信号として取出され
る。この信号が開側装置本体(7)に送られる。キー(
1)(又は光束)は順次長手方向に送られ、すべての山
及び谷について測定が行われる。
定しようとするキー(1)を保持する治具(2)が配置
されている。 このキー保持用治具(2)にはキーの山
谷部に投光されたレーザの平行光束(5)が通過できる
ような窓(8)が設けられている。投光器から放射され
るレーザはキー山(10)の最大幅より広幅の帯状平行
光束(5)である。キー(1)に照射後の帯状の平行光
束は受光器(4)によって受光され、キーの山(10)
あるいは谷部(9)によって遮られた影が光量変化とし
てとらえられ、キーの全幅に対する信号として取出され
る。この信号が開側装置本体(7)に送られる。キー(
1)(又は光束)は順次長手方向に送られ、すべての山
及び谷について測定が行われる。
一般にキーにおいては、その最も重要な要素である山及
び谷が長手方向の一定距離ごとに配列されている。これ
らの山あるいは谷はキー中心に対して対称に配置され、
それぞれ異なった高さ、すなわち、異なった幅をもち、
その頂部あるいは底部には僅かな平行部が残されている
。キーはこの僅かに残された平行部の幅寸法とその長手
方向の位置の組合せによって識別される。これらの平行
部を結ぶ出あるいは谷の斜面の形状はキーの機能には関
係しない。キーがキーとしての機能を発揮するには厳し
い寸法精度が要求されるのはいうまでもない。ちなみに
、ある基準位置から山あるいは谷の僅かな平行部までの
距離に対して1/100mm、また、出あるいは谷の全
幅に対して1/100mmという精度が要求されるよう
になった。したがって、キー山形状の識別にあたっては
これらの精度を考慮に入れなければならない。
び谷が長手方向の一定距離ごとに配列されている。これ
らの山あるいは谷はキー中心に対して対称に配置され、
それぞれ異なった高さ、すなわち、異なった幅をもち、
その頂部あるいは底部には僅かな平行部が残されている
。キーはこの僅かに残された平行部の幅寸法とその長手
方向の位置の組合せによって識別される。これらの平行
部を結ぶ出あるいは谷の斜面の形状はキーの機能には関
係しない。キーがキーとしての機能を発揮するには厳し
い寸法精度が要求されるのはいうまでもない。ちなみに
、ある基準位置から山あるいは谷の僅かな平行部までの
距離に対して1/100mm、また、出あるいは谷の全
幅に対して1/100mmという精度が要求されるよう
になった。したがって、キー山形状の識別にあたっては
これらの精度を考慮に入れなければならない。
そこで、本発明では取出された信号によって次のことが
行われる。
行われる。
■計測装置本体(7)の記憶装置に記憶されているキー
のパターン、すなわち、キーの山あるいは谷部の幅とそ
の長手方向の位置の組合せとを照合することによって、
キーNαを検索する。
のパターン、すなわち、キーの山あるいは谷部の幅とそ
の長手方向の位置の組合せとを照合することによって、
キーNαを検索する。
■演算処理によってすべての出及び谷部の幅寸法を算出
する。
する。
■山及び谷部の幅寸法を前記検索されたキーNCLのも
のと比較して良否の判定をする。
のと比較して良否の判定をする。
そして、 それらの結果はすべてモニタ(6)に表示さ
れる。
れる。
〈発明の効果〉
本発明は以上のようなキー山形状識別方法であるから、
■従来の方法で困難であったキーの出あるいは谷部の幅
を高精度で計測することができ、すなわち、高精度の寸
法検査を可能としており、■測定によって得られたデー
タは他の工程、例えばキー山の切削あるいはシリンダの
組立等に効果的に利用できる。
を高精度で計測することができ、すなわち、高精度の寸
法検査を可能としており、■測定によって得られたデー
タは他の工程、例えばキー山の切削あるいはシリンダの
組立等に効果的に利用できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のキー山形状識別方法が実施可能な計測
装置の斜視図である。 (1)キー (2)治具 (3)レーザ投光器 (4)受光器(5)帯状平行
光束 (6)モニタ(7)計測装置本体 (8
)窓 (9)キーの谷部 (10)キー山以上
装置の斜視図である。 (1)キー (2)治具 (3)レーザ投光器 (4)受光器(5)帯状平行
光束 (6)モニタ(7)計測装置本体 (8
)窓 (9)キーの谷部 (10)キー山以上
Claims (1)
- 1 レーザ投光器(3)と受光器(4)との間に測定し
ようとするキー(1)を置き、前記投光器から放射され
るレーザをキー山(10)の幅より広幅の帯状平行光束
(5)としてキー(1)に照射し、キー(1)又は光束
(5)をキーの長手方向に移動させてキー山の形状を識
別することを特徴とするレーザ平行光束を利用したキー
山形状識別方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14720787A JPS63311108A (ja) | 1987-06-13 | 1987-06-13 | レ−ザ平行光束を利用したキ−山形状識別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP14720787A JPS63311108A (ja) | 1987-06-13 | 1987-06-13 | レ−ザ平行光束を利用したキ−山形状識別方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63311108A true JPS63311108A (ja) | 1988-12-19 |
Family
ID=15424986
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14720787A Pending JPS63311108A (ja) | 1987-06-13 | 1987-06-13 | レ−ザ平行光束を利用したキ−山形状識別方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63311108A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001057472A1 (en) * | 2000-02-01 | 2001-08-09 | Machine Magic Llc | Key measurement apparatus and method |
US6406227B1 (en) * | 1997-07-31 | 2002-06-18 | Machine Magic Llc | Key measurement apparatus and method |
US7891919B2 (en) | 2006-01-23 | 2011-02-22 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US8128322B2 (en) | 2006-01-23 | 2012-03-06 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US9101990B2 (en) | 2006-01-23 | 2015-08-11 | Hy-Ko Products | Key duplication machine |
US9308590B2 (en) | 2006-01-23 | 2016-04-12 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US9514385B2 (en) | 2009-05-01 | 2016-12-06 | Hy-Ko Products Company | Key blank identification system with groove scanning |
-
1987
- 1987-06-13 JP JP14720787A patent/JPS63311108A/ja active Pending
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6406227B1 (en) * | 1997-07-31 | 2002-06-18 | Machine Magic Llc | Key measurement apparatus and method |
WO2001057472A1 (en) * | 2000-02-01 | 2001-08-09 | Machine Magic Llc | Key measurement apparatus and method |
US9656332B2 (en) | 2006-01-23 | 2017-05-23 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US9682432B2 (en) | 2006-01-23 | 2017-06-20 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US8985918B2 (en) | 2006-01-23 | 2015-03-24 | Hy-Ko Products | Key duplication machine |
US9101990B2 (en) | 2006-01-23 | 2015-08-11 | Hy-Ko Products | Key duplication machine |
US9308590B2 (en) | 2006-01-23 | 2016-04-12 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US10421133B2 (en) | 2006-01-23 | 2019-09-24 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US7891919B2 (en) | 2006-01-23 | 2011-02-22 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US8128322B2 (en) | 2006-01-23 | 2012-03-06 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US9687920B2 (en) | 2006-01-23 | 2017-06-27 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US9815126B2 (en) | 2006-01-23 | 2017-11-14 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US9925601B2 (en) | 2006-01-23 | 2018-03-27 | Hy-Ko Products Company | Key duplication machine |
US9934448B2 (en) | 2009-05-01 | 2018-04-03 | Hy-Ko Products Company | Key blank identification system with groove scanning |
US9514385B2 (en) | 2009-05-01 | 2016-12-06 | Hy-Ko Products Company | Key blank identification system with groove scanning |
US11227181B2 (en) | 2009-05-01 | 2022-01-18 | Hy-Ko Products Company Llc | Key blank identification system with groove scanning |
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