JPS63307334A - 比測光蛍光光度計 - Google Patents
比測光蛍光光度計Info
- Publication number
- JPS63307334A JPS63307334A JP14313087A JP14313087A JPS63307334A JP S63307334 A JPS63307334 A JP S63307334A JP 14313087 A JP14313087 A JP 14313087A JP 14313087 A JP14313087 A JP 14313087A JP S63307334 A JPS63307334 A JP S63307334A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sample
- sample cell
- cell
- specific
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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Landscapes
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は比測光蛍光光度計に係り、特に溶液中微量試料
を分析するのに好適なシクロ液体クロマトグラフ用比測
光蛍光光度計に関するものである。
を分析するのに好適なシクロ液体クロマトグラフ用比測
光蛍光光度計に関するものである。
特開昭５８−１７４８３３号公報に記載された蛍光光度
計は、数μＱ以上のセル容量を有する通常の液体クロマ
トグラフ用蛍光光度計に関しては極めて有効な方法であ
る。しかし、セル容量が１μＱ以下となると、試料中を
透過した光をモニタする方式では、セルのわずかな位置
ずれやセル壁への気泡の付着によりモニタ光量が変動し
、また、容量の異なるセルと交換したときにモニタ光量
が大幅に変化するという問題がある。
計は、数μＱ以上のセル容量を有する通常の液体クロマ
トグラフ用蛍光光度計に関しては極めて有効な方法であ
る。しかし、セル容量が１μＱ以下となると、試料中を
透過した光をモニタする方式では、セルのわずかな位置
ずれやセル壁への気泡の付着によりモニタ光量が変動し
、また、容量の異なるセルと交換したときにモニタ光量
が大幅に変化するという問題がある。
上記従来技術は、一般的な比測光方式で、試料セルの手
前でビームスプリッタにより光束を分割してモニタ側検
知手段に導くようにしているため、その分が光量ロスに
つながる。また、ビームスプリッタ自身の波長特性や温
度変化影響が問題となる。他方、特開昭５８−１７４８
３３号公報に記載された方式は、セル容量が１μＱ以下
になると、モニタ光量がわずかな光軸ずれやセル内壁へ
の気泡の付着により変動する可能性があり、また、１μ
Ω以下の異なった容量のミクロセル同志を交換した際に
モニタ光量が大幅に変動する。比測光方式において１分
母となるモニタ信号レベルが大幅に変動することは、い
ずれかのモニタ信号レベルにおいて、ノイズ増大や比測
定精度の低下を招く可能性が大きい。
前でビームスプリッタにより光束を分割してモニタ側検
知手段に導くようにしているため、その分が光量ロスに
つながる。また、ビームスプリッタ自身の波長特性や温
度変化影響が問題となる。他方、特開昭５８−１７４８
３３号公報に記載された方式は、セル容量が１μＱ以下
になると、モニタ光量がわずかな光軸ずれやセル内壁へ
の気泡の付着により変動する可能性があり、また、１μ
Ω以下の異なった容量のミクロセル同志を交換した際に
モニタ光量が大幅に変動する。比測光方式において１分
母となるモニタ信号レベルが大幅に変動することは、い
ずれかのモニタ信号レベルにおいて、ノイズ増大や比測
定精度の低下を招く可能性が大きい。
本発明の目的は、セル容量が極度に小さい場合において
もモニタ光量の変化幅が小さく、流路内の気泡や液の不
均一性の影響を受けない感度や光源補正精度が優れた透
過光モニタ方式の比測光蛍光光度計を提供することにあ
る。
もモニタ光量の変化幅が小さく、流路内の気泡や液の不
均一性の影響を受けない感度や光源補正精度が優れた透
過光モニタ方式の比測光蛍光光度計を提供することにあ
る。
上記目的は、励起光束が試料セルの周辺及びこの試料セ
ルの内部を通過した後励起光をモニタして比測光を可能
とするモニタ側検知手段で検知するように構成して達成
するようにした。そのため、試料セルをキャピラリ状に
して周辺光が直接モニタ側光学系に入射するか、肉厚の
セルとして外壁の透明部材内部を通過させることによっ
てモニタ側光学系に入射させるようにした。
ルの内部を通過した後励起光をモニタして比測光を可能
とするモニタ側検知手段で検知するように構成して達成
するようにした。そのため、試料セルをキャピラリ状に
して周辺光が直接モニタ側光学系に入射するか、肉厚の
セルとして外壁の透明部材内部を通過させることによっ
てモニタ側光学系に入射させるようにした。
セル位置を中心として励起光学系と逆方向に配置したモ
ニタ光学系は、ビームスプリッタを用いずに励起光をモ
ニタする作用を有し、キャピラリ状のセルまたはセルの
肉厚の透明部材は、励起光束の周辺光を直接モニタ側光
学系に入射させ、モニタ光量レベルの変化量を小さくす
る作用を有するので、これによりセルの状態や容量にか
かわらず低ノイズで高精度の比測光が可能となる。
ニタ光学系は、ビームスプリッタを用いずに励起光をモ
ニタする作用を有し、キャピラリ状のセルまたはセルの
肉厚の透明部材は、励起光束の周辺光を直接モニタ側光
学系に入射させ、モニタ光量レベルの変化量を小さくす
る作用を有するので、これによりセルの状態や容量にか
かわらず低ノイズで高精度の比測光が可能となる。
以下本発明を第１図〜第３図に示した実施例を用いて詳
細に説明する。
細に説明する。
第１図は本発明の比測光蛍光光度計の一実施例を示す構
成図で、第１図において、光源１より出た光は、レンズ
２により集光されて分光器３に入る。分光器３で単色光
となった光は、レンズ４で集光されてパイプ状石英セル
５を照射し、中心光は流路６内の試料を励起する。周辺
光はパイプ状石英セル５の外側を通過し、レンズ１ｏで
集光され、減光板１１を通ってモニタ用検知器１２に入
る。流路６内を通過した光も同時にモニタ用検知器１２
に入る。モニタ用検知器１２は、光源ｌの変動をモニタ
し、図示してない変動補正回路に信号を送る。流路６内
の試料の発する蛍光は、レンズ７にて集光され、蛍光側
分光器８で分光された後、測定用検知器９に入る０本実
施例においては、と−ムスプリツタ等を用いず、光をモ
ニタするため、励起光が試料に至る前に光量を減じる必
要がなく、また、従来の透過光モニタ方式に比べると、
微小流路の内部の気泡や内壁に付着した種々の物質によ
りモニタ光量が変動する程度が小さく押えられる。
成図で、第１図において、光源１より出た光は、レンズ
２により集光されて分光器３に入る。分光器３で単色光
となった光は、レンズ４で集光されてパイプ状石英セル
５を照射し、中心光は流路６内の試料を励起する。周辺
光はパイプ状石英セル５の外側を通過し、レンズ１ｏで
集光され、減光板１１を通ってモニタ用検知器１２に入
る。流路６内を通過した光も同時にモニタ用検知器１２
に入る。モニタ用検知器１２は、光源ｌの変動をモニタ
し、図示してない変動補正回路に信号を送る。流路６内
の試料の発する蛍光は、レンズ７にて集光され、蛍光側
分光器８で分光された後、測定用検知器９に入る０本実
施例においては、と−ムスプリツタ等を用いず、光をモ
ニタするため、励起光が試料に至る前に光量を減じる必
要がなく、また、従来の透過光モニタ方式に比べると、
微小流路の内部の気泡や内壁に付着した種々の物質によ
りモニタ光量が変動する程度が小さく押えられる。
第２図は本発明の他の実施例を示す第１図に相当する構
成図で、第１図と同一部分は同じ符号で示してある。第
２図においては、第１図のパイプ状石英セル５の代りに
ブロック形石英セル１３を採用している。第３図は第２
図のブロック形石英セル１３の一実施例を示す斜視図で
、流路６の径が微小であるにもかかわらず、石英部の肉
厚が阿く、励起光の周辺光はすべて透明部材である石英
部を通過するようにしてある。この場合、流路６内を通
過する光量は相対的に小さいため、第１図に示す実施例
と同様に流路６内の状態によりモニ夕信号が変動する程
度が小さい。
成図で、第１図と同一部分は同じ符号で示してある。第
２図においては、第１図のパイプ状石英セル５の代りに
ブロック形石英セル１３を採用している。第３図は第２
図のブロック形石英セル１３の一実施例を示す斜視図で
、流路６の径が微小であるにもかかわらず、石英部の肉
厚が阿く、励起光の周辺光はすべて透明部材である石英
部を通過するようにしてある。この場合、流路６内を通
過する光量は相対的に小さいため、第１図に示す実施例
と同様に流路６内の状態によりモニ夕信号が変動する程
度が小さい。
以上説明した本発明によれば、ミクロ液体クロマトグラ
フ、超高速液体クロマトグラフにおける必要性により流
路径が極度に小さくなっても、流路内の気泡や種々の理
由による液体の不均一性の影響を受けることなく、感度
や光源補正精度の点で優れた透過光モニタ方式として採
用することができるという効果がある。
フ、超高速液体クロマトグラフにおける必要性により流
路径が極度に小さくなっても、流路内の気泡や種々の理
由による液体の不均一性の影響を受けることなく、感度
や光源補正精度の点で優れた透過光モニタ方式として採
用することができるという効果がある。
第１図は本発明の北側光蛍光光度計の一実施例を示す構
成図、第２図は本発明の他の実施例を示す第１図に相当
する構成図、第３図は第２図におけるブロック形石英セ
ルの一実施例を示す斜視図である。 １・・・光源、３・・・励起側分光器、５・・・パイプ
状石英セル、６・・・流路、８・・・蛍光側分光器、９
・・・測光用検知器、１２・・・モニタ用検知器、１３
・・・ブロックネ ）囚 ８ ・ 鵠（オーイー１ろ卜ｔ、ｉ ９・ｊすＩＪｊ７！椎倹知器 １２・−モニタ用オ←％４艮 隼 ２ 図 第３ 日
成図、第２図は本発明の他の実施例を示す第１図に相当
する構成図、第３図は第２図におけるブロック形石英セ
ルの一実施例を示す斜視図である。 １・・・光源、３・・・励起側分光器、５・・・パイプ
状石英セル、６・・・流路、８・・・蛍光側分光器、９
・・・測光用検知器、１２・・・モニタ用検知器、１３
・・・ブロックネ ）囚 ８ ・ 鵠（オーイー１ろ卜ｔ、ｉ ９・ｊすＩＪｊ７！椎倹知器 １２・−モニタ用オ←％４艮 隼 ２ 図 第３ 日
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、特定波長の励起光を試料に照射する励起側光学系と
、試料セルと、該試料セル内の試料から発する蛍光を検
知する蛍光側光学系と、前記励起光をモニタして比測光
を可能とするモニタ側検知手段とを有する比測光蛍光光
度計において、励起光束が前記試料セルの周辺及び該試
料セルの内部を通過した後前記モニタ側検知手段で検知
されるように構成してあることを特徴とする比測光蛍光
光度計。 ２、前記試料セルは着脱可能の構成としてあり、前記試
料セルを交換してもモニタ光量がほぼ同一となるように
してある特許請求の範囲第１項記載の比測光蛍光光度計
。 ３、特定波長の励起光を試料に照射する励起側光学系と
、試料セルと、該試料セル内の試料から発する蛍光を検
知する蛍光側光学系と、前記励起光をモニタして比測光
を可能とするモニタ側検知手段とを有する比測光蛍光光
度計において、前記試料セルが厚い透明部材より形成し
てあって、励起光束が前記試料セルを形成する前記透明
部材及び該試料セルの内部を通過した後前記モニタ側検
知手段で検知されるように構成してあることを特徴とす
る比測光蛍光光度計。 ４、前記厚い透明部材より形成してある試料セルは着脱
可能の構成としてあり、前記試料セルを交換してもモニ
タ光量がほぼ同一となるようにしてある特許請求の範囲
第３項記載の比測光蛍光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14313087A JPS63307334A (ja) | 1987-06-10 | 1987-06-10 | 比測光蛍光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14313087A JPS63307334A (ja) | 1987-06-10 | 1987-06-10 | 比測光蛍光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63307334A true JPS63307334A (ja) | 1988-12-15 |
Family
ID=15331611
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14313087A Pending JPS63307334A (ja) | 1987-06-10 | 1987-06-10 | 比測光蛍光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63307334A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7351349B2 (en) * | 2001-09-25 | 2008-04-01 | Eci Technology, Inc. | Method and apparatus for real-time dynamic chemical analysis |
-
1987
- 1987-06-10 JP JP14313087A patent/JPS63307334A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7351349B2 (en) * | 2001-09-25 | 2008-04-01 | Eci Technology, Inc. | Method and apparatus for real-time dynamic chemical analysis |
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