JPS63302312A - Length measuring system - Google Patents

Length measuring system

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JPS63302312A
JPS63302312A JP13927287A JP13927287A JPS63302312A JP S63302312 A JPS63302312 A JP S63302312A JP 13927287 A JP13927287 A JP 13927287A JP 13927287 A JP13927287 A JP 13927287A JP S63302312 A JPS63302312 A JP S63302312A
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JP
Japan
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temperature
scale
value
counter
base material
Prior art date
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Pending
Application number
JP13927287A
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Japanese (ja)
Inventor
Yoshihiko Kabaya
蒲谷 芳比古
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Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
Original Assignee
Mitutoyo Corp
Mitsutoyo Kiko Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To enable highly accurate measurement, by correcting a value of a counter based on a temperature data from a temperature sensor to automatically compensate measuring errors for temperature changes. CONSTITUTION:A CPU35 inputs a data from an A/D converter 33, that is, that pertaining to temperatures of parts of a scale base material 11 detected with temperature sensors 131-133 through a system bus 34 to determine a mean of the data. Then, a correction factor corresponding to a detection temperature is read out from a correction table having correction factors stored corresponding to respective temperatures. Then, displacement in relative movement (displacement from an absolute value mark 14) obtained by a specified processing of a value of a counter 37, namely, a signal detected with a displacement detector 9 is multiplied by the correction factor to correct measured values and the results are displayed 36 through a system bus 34. Thus, measured values are always obtained with a high accuracy and a high reliability.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、測長システム関する。詳しくは、相対移動す
る2つの部材のいずれか一方の部材に変位検出用の目盛
を有する基準スケールを設けるとともに、いずれか他方
の部材に前記基準スケールの目盛を読み取るための検出
器を設け、この両者によって2つの部材の相対移動変位
量を検出する測長システムの改良に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a length measurement system. Specifically, one of two members that move relatively is provided with a reference scale having graduations for detecting displacement, and one of the other members is provided with a detector for reading the graduations of the reference scale. The present invention relates to an improvement of a length measuring system that detects the amount of relative displacement of two members by both.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

工作機械や精密測定機などの分野では、高精度加工や高
精度測定を達成する目的から、相対移動する2つの部材
の相対移動変位量を高精度に測定するための変位検出装
置が使用されている。
In fields such as machine tools and precision measuring instruments, displacement detection devices are used to accurately measure the amount of relative displacement between two relatively moving parts in order to achieve high-precision machining and high-precision measurement. There is.

従来、かかる変位検出装置の一つとして、例えば第5図
に示す如く、相対移動する2つの部材、ここでは静止体
100とこれに対して紙面と直交する方向へ摺動する可
動体200とのうち、静止体100に取り付けられた細
長箱状の本体ケース1内に前記相対移動方向に沿って一
定ピッチ間隔で光学格子を形成する目gt3を有する基
準スケール4を設ける一方、可動体200に取り付けら
れた摺動体2にアーム2Aを介して前記目盛3に対向す
る目盛5を有するインデックススケール6および発受光
器7,8を含む変位検出器9を取り付けた構造の変位検
出装置が知られている。
Conventionally, as one such displacement detection device, for example, as shown in FIG. Among them, a reference scale 4 having eyes gt3 forming an optical grating at constant pitch intervals along the direction of relative movement is provided in the elongated box-shaped main body case 1 attached to the stationary body 100, while attached to the movable body 200. A displacement detection device is known in which a displacement detector 9 including an index scale 6 having a scale 5 facing the scale 3 and a light emitting/receiving device 7 and 8 is attached to a sliding body 2 via an arm 2A. .

このものは、可動体200の移動に伴う基準スケール4
の目盛3とインデックススケール6の目盛5との位相変
化を変位検出器9によって電気信号に変換し、この電気
信号を所定処理して静止体100と可動体200との相
対移動変位量を検出するものであるから、基準スケール
4の目盛3とインデックススケール6の目盛5とは温度
変化にかかわらず常に高精度に維持しておく必要がある
This one is a standard scale 4 that accompanies the movement of the movable body 200.
The phase change between the scale 3 of the index scale 6 and the scale 5 of the index scale 6 is converted into an electrical signal by the displacement detector 9, and this electrical signal is processed in a predetermined manner to detect the amount of relative displacement between the stationary body 100 and the movable body 200. Therefore, the scale 3 of the reference scale 4 and the scale 5 of the index scale 6 must always be maintained with high precision regardless of temperature changes.

そのため、従来のものでは、基準スケール4およびイン
デックススケール6を線膨張係数の小さいガラスなどの
材料で形成し、設置環境の温度変化に対して対応してい
た。
Therefore, in the conventional system, the reference scale 4 and the index scale 6 are made of a material such as glass having a small coefficient of linear expansion to cope with temperature changes in the installation environment.

(発明が解決しようとする問題点〕 しかしながら、上述したような温度変化に対する対応は
、設置環境の温度変化が成る範囲内とみなしてその範囲
内の温度変化に伴う誤差を無視しようとするものである
から、より高精度測定が望まれる現状では必ずしも満足
できるものではない。
(Problem to be Solved by the Invention) However, the above-mentioned response to temperature changes is to assume that the temperature changes in the installation environment are within the range and ignore errors associated with temperature changes within that range. Therefore, it is not necessarily satisfactory in the current situation where higher precision measurement is desired.

特に、この種の変位測定装置は、使用環境がまちまちで
あり、その選定はユーザの任意であるから、特に工作機
械が設置される環境では温度変化が大きいことから、各
スケールの材料選定だけでは温度変化に対応できない場
合が多い。
In particular, this type of displacement measuring device is used in a variety of environments, and its selection is at the discretion of the user.In particular, in environments where machine tools are installed, temperature changes are large, so it is not enough to just select materials for each scale. It is often unable to respond to temperature changes.

また、基準スケール4およびインデックススケール6は
摺動移動する本体ケース1と摺動体2とに直接取り付け
られる構造である。それ故、本体ケース1と摺動体2と
の摺動移動、あるいは静止体100と可動体200との
摺動移動によって摺動抵抗熱が発生すると、それが各ス
ケールに伝達される結果、設置環境以上の温度変化が各
スケールにもたらされることから、測定誤差を生じさせ
ていた。
Further, the reference scale 4 and the index scale 6 are structured to be directly attached to the main body case 1 and the sliding body 2 which slide. Therefore, when sliding resistance heat is generated due to the sliding movement between the main body case 1 and the sliding body 2, or the sliding movement between the stationary body 100 and the movable body 200, it is transmitted to each scale, and as a result, the installation environment Since the above temperature changes are brought to each scale, measurement errors occur.

ここに、本発明の目的は、このような従来の問題を解消
すべくなされたもので、温度変化に対する測定誤差を自
動的に補償し、高精度測定を可能とする測長システムを
提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a length measuring system that automatically compensates for measurement errors due to temperature changes and enables highly accurate measurements. It is in.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

そのため、本発明では、変位検出用の目盛を形成した基
準スケール自体の温度を直接検出し、この温度を基に測
定値を自動的に補正するようにしたものである。
Therefore, in the present invention, the temperature of the reference scale itself on which the scale for displacement detection is formed is directly detected, and the measured value is automatically corrected based on this temperature.

具体的には、直線状のスケール基材の長手方向に沿って
変位検出用の目盛を形成した基準スケールと、この基準
スケールの目盛を読み取るだめの検出器と、この検出器
の信号から基準スケールと検出器との相対移動変位量を
求めるカウンタとを含む消長システムにおいて、前記ス
ケール基材の目盛が形成された面に、その目盛に近接し
てスケール基材の伸縮に起因するスケール基材の温度を
検出する温度センサを一体的に設けるとともに、この温
度センサからの温度データを基に前記カウンタの値を補
正する補正手段を設けた、ことを特徴とする。
Specifically, there is a reference scale with graduations for displacement detection formed along the longitudinal direction of a linear scale base, a detector for reading the graduations of this reference scale, and a reference scale based on the signal of this detector. and a counter for determining the amount of relative movement displacement between the scale base material and the detector. The present invention is characterized in that a temperature sensor for detecting temperature is integrally provided, and a correction means is provided for correcting the value of the counter based on temperature data from the temperature sensor.

〔作用〕[Effect]

従って、温度センサによりスケール基材自体の温度を直
接検出し、この温度を基に測定値を補正するので、例え
ば検出温度とスケール基材の線膨張係数とを基に測定値
を補正、或いは検出温度に対応して補正係数を予め調べ
ておき、検出温度に対応する補正係数を測定値に乗じて
測定値を補正するので、温度変化に伴う測定誤差を補償
することができる。
Therefore, the temperature of the scale base material itself is directly detected by the temperature sensor, and the measured value is corrected based on this temperature. For example, the measured value is corrected or detected based on the detected temperature and the linear expansion coefficient of the scale base material. Since the correction coefficient is checked in advance in accordance with the temperature and the measured value is corrected by multiplying the measured value by the correction coefficient corresponding to the detected temperature, it is possible to compensate for measurement errors due to temperature changes.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の一実施例を第1図〜第4図に基づいて説
明する。
Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described based on FIGS. 1 to 4.

第1図に本実施例の外観を示す、同図において、相対移
動可能に設けられた細長箱状の本体ケース1と摺動体2
とのうち、本体ケース1内には基準スケール10が前記
相対移動方向に沿って取り付けられているとともに、摺
動体2にはアーム2Aを介して基準スケール10の目盛
12を読み取るための検出器9が取り付けられている。
Fig. 1 shows the appearance of this embodiment. In the figure, an elongated box-shaped main body case 1 and a sliding body 2 are provided so as to be movable relative to each other.
A reference scale 10 is installed inside the main body case 1 along the relative movement direction, and a detector 9 is provided on the sliding body 2 to read the scale 12 of the reference scale 10 via an arm 2A. is installed.

検出器9は、第5図で述べたものと同じで、目盛5を有
するインデックススケール6および発受光器7.8から
構成されている。
The detector 9 is the same as that described in FIG. 5, and is composed of an index scale 6 having graduations 5 and a light emitting/receiving device 7.8.

基準スケール10は、第2図に示すように、断面が矩形
の薄板直線状のガラスからなるスケール基材11の表面
に、その長手方向に沿ってスリット状の変位検出用の目
盛12を一定ピッチ(例えば、10μmピッチ)間隔で
形成するとともに、その目盛I2が形成された同一面の
長子方向所定間隔位置にその目盛12に近接してスケー
ル基材11の温度を検出する温度センサ131.132
.13、をそれぞれ一体的に設けたものである。なお、
14は目盛12を挟んで温度センサ132と対応する位
置に設けられた絶対値マークである。
As shown in FIG. 2, the reference scale 10 has slit-shaped displacement detection scales 12 arranged at a constant pitch along the longitudinal direction of a scale base material 11 made of a thin linear glass having a rectangular cross section. Temperature sensors 131 and 132 are formed at intervals of (for example, 10 μm pitch) and are located close to the scale 12 at predetermined intervals in the longitudinal direction of the same surface on which the scale I2 is formed to detect the temperature of the scale base material 11.
.. 13, are each provided integrally. In addition,
14 is an absolute value mark provided at a position corresponding to the temperature sensor 132 across the scale 12.

スリット状の目盛12は、スケール基材11の表面長手
方向に沿ってクロム被膜を帯状に蒸着し、これをエツチ
ング手法によってスリット状に形成したものである。ま
た、各温度センサ131.13z、133は、前記スケ
ール基材11の表面の所定位置に温度変化により抵抗値
が変化する白金抵抗体を矩形状に蒸着し、これを前記目
盛12の形成と同時に第3図の形状に刻線したものであ
る。
The slit-shaped scale 12 is formed by depositing a chromium film in a band shape along the longitudinal direction of the surface of the scale base material 11 and forming it into a slit shape by an etching method. In addition, each temperature sensor 131.13z, 133 is formed by vapor-depositing a rectangular platinum resistor whose resistance value changes with temperature changes at a predetermined position on the surface of the scale base material 11, and depositing this at the same time as the scale 12 is formed. The shape is marked with lines in the shape of Fig. 3.

各温度センサ13.、13t、 13,1は、第3図に
示す如く、細幅でかつ一定ピッチ毎にスケール法材11
の長手方向に対して直角方向へ蛇行する感温部21と、
この感温部21の両端にそれぞれ矩形状に形成された端
子部22A、22Bとを有する形状に形成されている。
Each temperature sensor 13. , 13t, 13,1, as shown in FIG.
a temperature-sensing section 21 meandering in a direction perpendicular to the longitudinal direction of the
The temperature sensing portion 21 is formed in a shape having rectangular terminal portions 22A and 22B at both ends thereof, respectively.

感温部21は、抵抗値が予め設定された値となるような
寸法に形成されている。ここでは、厚みtが約1μm1
幅Wが約50μm、全長ff1(1本に伸ばしたときの
長さ)が約4.7cmで、抵抗値が約100Ωである。
The temperature sensing portion 21 is formed in such a size that the resistance value becomes a preset value. Here, the thickness t is approximately 1 μm1
The width W is about 50 μm, the total length ff1 (length when stretched into one length) is about 4.7 cm, and the resistance value is about 100Ω.

第4図に本測長システムの処理回路を示す、同回路は、
前記各温度センサ131.13.、13.の抵抗値をそ
れぞれ検出する3つのブリッジ回路31+、31g、3
1s と、これらのブリッジ回路31、.31..31
3に接続されたマルチプレクサ32と、このマルチプレ
クサ32からの信号をデジタル信号に変換するA/D変
換器33と、このA/D変換器33にシステムバス34
を介して接続された補正手段としてのCPU35とを含
む。
Figure 4 shows the processing circuit of this length measurement system.
Each of the temperature sensors 131.13. , 13. Three bridge circuits 31+, 31g, and 3 detect the resistance values of
1s and these bridge circuits 31, . 31. .. 31
3, an A/D converter 33 that converts the signal from the multiplexer 32 into a digital signal, and a system bus 34 connected to the A/D converter 33.
and a CPU 35 as a correction means connected via.

CPU35は、A/D変換器33からのデータつまり各
温度センサ13+、 13z、 133で検出されたス
ケール基材11の各部の温度に関するデータをシステム
バス34を通じて取り込み、このデータの平均値を求め
る。そして、各温度に対応して補正係数を記憶した補正
テーブル(図示省略)の中から検出温度に対応する補正
係数を読み出し、この補正係数をカウンタ37の値つま
り前記変位検出器9で検出された信号を所定処理して得
られた相対移動変位Wk(絶対値マーク14からの変位
量)に乗じて測定値を補正し、その結果をシステムバス
34を通じて表示器36に表示させる。
The CPU 35 takes in data from the A/D converter 33, that is, data regarding the temperature of each part of the scale base material 11 detected by each temperature sensor 13+, 13z, 133, through the system bus 34, and calculates the average value of this data. Then, a correction coefficient corresponding to the detected temperature is read out from a correction table (not shown) storing correction coefficients corresponding to each temperature, and this correction coefficient is calculated from the value of the counter 37, that is, the value detected by the displacement detector 9. The measured value is corrected by multiplying the relative movement displacement Wk (displacement amount from the absolute value mark 14) obtained by predetermined processing of the signal, and the result is displayed on the display 36 via the system bus 34.

なお、補正テーブルについては、スケール基材11の温
度を変化させたときの測定値(カウンタ37から得られ
る値)と真の変位量との誤差を求め、この誤差を打ち消
す補正係数を求め、この補正係数を各温度毎に求めて記
憶させておく。
Regarding the correction table, calculate the error between the measured value (value obtained from the counter 37) and the true displacement amount when the temperature of the scale base material 11 is changed, calculate the correction coefficient to cancel this error, and calculate the correction coefficient. A correction coefficient is determined and stored for each temperature.

よって、カウンタ37で更新される値、つまり相対移動
によって逐次変化する相対移動変位量は、その各時点に
おけるスケール基材11の実際の温度を基に補正されて
いるから、測定青白らが演算を行うことなく、常に高精
度でかつ信頼性の高い測定値が得られる。
Therefore, the value updated by the counter 37, that is, the amount of relative movement displacement that changes successively due to relative movement, is corrected based on the actual temperature of the scale base material 11 at each point in time, so the measurement Highly accurate and reliable measurement values can always be obtained without the need for

従って、本実施例によれば、スケール基材11自体の温
度を直接検出し、この温度を基に測定値を自動的に補正
するようにしたので、相対移動によって逐次変化する相
対移動変位量はその各時点におけるスケール基材11の
実際の温度を基に自動的に補正されているから、測定青
白らが演算を行うことなく、高精度でかつ信頼性の高い
測定値が容易に得られる。よって、温度変化が大きな設
置環境であっても、また、2つの部材の相対移動に伴う
摺動抵抗熱によってスケール基材11が大きく温度変化
する場合であっても、常に高精度な測定を達成すること
ができる。
Therefore, according to this embodiment, since the temperature of the scale base material 11 itself is directly detected and the measured value is automatically corrected based on this temperature, the amount of relative movement displacement that changes sequentially due to relative movement is Since the temperature is automatically corrected based on the actual temperature of the scale base material 11 at each point in time, highly accurate and reliable measured values can be easily obtained without performing any calculations. Therefore, even if the installation environment has large temperature changes, or even if the scale base material 11 undergoes large temperature changes due to sliding resistance heat due to relative movement of two members, highly accurate measurements can always be achieved. can do.

しかも、測定値の補正に当たっては、各温度センサ13
+、 13t、 13sで検出されたスケール基材11
の各部の温度に関するデータの平均値を求め、各温度に
対応して補正係数を記憶した補正テーブルの中から検出
温度に対応する補正係数を読み出し、この補正係数を測
定値に乗じるたけでよいので、簡易な演算ですむ。
Moreover, when correcting the measured value, each temperature sensor 13
+, scale base material 11 detected at 13t, 13s
All you have to do is find the average value of the data regarding the temperature of each part, read out the correction coefficient corresponding to the detected temperature from the correction table that stores correction coefficients corresponding to each temperature, and multiply the measured value by this correction coefficient. , a simple calculation is enough.

また、スケール基材11の長手方向の所定間隔位置に温
度センサ131,13□、133をそれぞれ設けたので
、本体ケース1と摺動体2との摺動案内面や静止体10
0と可動体200との摺動案内面の仕上げが良好でなく
、一部に摺動抵抗が大きい箇所が生じている場合にも、
それに最も近い温度センサのみが他の温度センサより温
度が高くなるので、これらの温度センサ131,13□
、13゜の温度分布から摺動案内面の良否を判定できる
利点がある。
In addition, since temperature sensors 131, 13□, and 133 are provided at predetermined intervals in the longitudinal direction of the scale base material 11, the sliding guide surfaces between the main body case 1 and the sliding body 2 and the stationary body 10
Even if the sliding guide surface between 0 and the movable body 200 is not well finished and there are some areas where the sliding resistance is large,
Only the temperature sensor closest to it will have a higher temperature than the other temperature sensors, so these temperature sensors 131, 13□
It has the advantage of being able to determine the quality of the sliding guide surface from the temperature distribution of , 13 degrees.

なお、実施に当たって、検出温度を基に測定値を補正す
る方法に関しては、上記実施例で述べた方法に限られる
ものではない0例えば、各温度センサ13+、 131
.133 によって得られたスケール基材11の検出温
度とスケール基材11の線膨張係数とを基に演算によっ
て測定値を補正するようにしてもよい。
In addition, in implementation, the method of correcting the measured value based on the detected temperature is not limited to the method described in the above embodiment.For example, each temperature sensor 13+, 131
.. The measured value may be corrected by calculation based on the detected temperature of the scale base material 11 and the linear expansion coefficient of the scale base material 11 obtained by 133.

また、これらの補正に当たって、3つの温度センサ13
+、 11.13.でそれぞれ得られた温度の平均値を
もって検出温度するのではなく、相対移動する2つの部
材の相対位置、つまり本体ケース1に対する摺動体2の
位置に応じて摺動体2に最も近いいずれかの温度センサ
t3+、iaz、i3、からの温度データを検出温度と
して測定値を補正すれば、より高精度な測定が可能であ
る0例えば、スケール基材11が長寸で、かつ静止体1
に対して可動体2が摺動可能範囲の一部だけで常時往復
摺動することによって長手方向の温度が異なる場合でも
、摺動体2の移動位置に応じて温度センサ13..13
□、133を選択すれば、常に高精度な測定を行える。
In addition, for these corrections, three temperature sensors 13
+, 11.13. Rather than using the average value of the temperatures obtained in each case as the detected temperature, the detected temperature is determined by the temperature of the one closest to the sliding body 2 depending on the relative position of the two relatively moving members, that is, the position of the sliding body 2 with respect to the main body case 1. If the measured value is corrected using the temperature data from the sensors t3+, iaz, and i3 as the detected temperature, more accurate measurement is possible.
Even if the temperature in the longitudinal direction differs because the movable body 2 constantly slides back and forth only in a part of the slidable range, the temperature sensor 13. .. 13
If you select □, 133, you can always perform highly accurate measurements.

また、上記実施例では、スケール基材11の長手方向に
3つの温度センサ131.13t、 13sを設けたが
、温度センサの数は少なくとも1以上であればよい。さ
らに、温度センサの構造についても、上記実施例で述べ
た白金抵抗体に限らず、温度変化を検出できるものであ
ればいずれでもよい。
Further, in the above embodiment, three temperature sensors 131.13t and 13s were provided in the longitudinal direction of the scale base material 11, but the number of temperature sensors may be at least one or more. Further, the structure of the temperature sensor is not limited to the platinum resistor described in the above embodiments, but may be any structure as long as it can detect temperature changes.

例えば、サーミスタなどでもよい。For example, a thermistor or the like may be used.

また、上記実施例は、光透過式変位検出形式の場合であ
るが、変位検出形式についてはいずれでもよい。例えば
、反射型1個のメインスケールに2個のインデックスス
ケールを用いた型などでもよい。同様に、目盛12は、
光学格子を構成するスリットとしているが、静電容量式
、電磁式のスリットの場合にも本発明は適用できる。
In addition, although the above embodiment is a case of a light transmission type displacement detection type, any displacement detection type may be used. For example, a reflective type using one main scale and two index scales may be used. Similarly, the scale 12 is
Although the slits constitute an optical grating, the present invention can also be applied to capacitive or electromagnetic slits.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の通り、本発明によれば、温度変化に伴う測定誤差
を自動的に補償し、高精度測定を可能とする測長システ
ムを提供することができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide a length measurement system that automatically compensates for measurement errors due to temperature changes and enables highly accurate measurement.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す斜視図、第2図は基準
スケールを示す斜視図、第3図は基準スケールに設けら
れた温度センサを示す拡大正面図、第4図は処理回路を
示すブロック図、第5図は従来の変位検出装置を示す断
面図である。 9・・・検出器、10・・・基準スケール、11・・・
スケール基材、12・・・目盛、131.13z、 1
3s ・・・温度センサ、31+、31g、3 Is 
・・・ブリッジ回路、32・・・マルチプレクサ、33
・・・A/D変換器、35・・・CPU、37・・・カ
ウンタ。
Fig. 1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a perspective view showing a reference scale, Fig. 3 is an enlarged front view showing a temperature sensor provided on the reference scale, and Fig. 4 is a processing circuit. FIG. 5 is a cross-sectional view showing a conventional displacement detection device. 9...Detector, 10...Reference scale, 11...
Scale base material, 12...scale, 131.13z, 1
3s...Temperature sensor, 31+, 31g, 3 Is
... Bridge circuit, 32 ... Multiplexer, 33
...A/D converter, 35...CPU, 37...Counter.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)直線状のスケール基材の長手方向に沿って変位検
出用の目盛を形成した基準スケールと、この基準スケー
ルの目盛を読み取るための検出器と、この検出器の信号
から基準スケールと検出器との相対移動変位量を求める
カウンタと、を含む測長システムにおいて、前記スケー
ル基材の目盛が形成された面に、その目盛に近接してス
ケール基材の伸縮に起因するスケール基材の温度を検出
する温度センサを一体的に設けるとともに、この温度セ
ンサからの温度データを基に前記カウンタの値を補正す
る補正手段を設けた、ことを特徴とする測長システム。
(1) A reference scale with graduations for displacement detection formed along the longitudinal direction of a linear scale base, a detector for reading the graduations of this reference scale, and a reference scale detected from the signal of this detector. In a length measurement system that includes a counter that measures the amount of displacement relative to the scale base material, the surface of the scale base material on which the scale is formed is located close to the scale scale base material due to expansion and contraction of the scale base material. 1. A length measurement system, characterized in that a temperature sensor for detecting temperature is integrally provided, and a correction means for correcting the value of the counter based on temperature data from the temperature sensor.
(2)特許請求の範囲第1項において、前記温度センサ
は、前記スケール基材の長手方向所定間隔位置に複数設
けられていることを特徴とする測長システム。
(2) The length measuring system according to claim 1, wherein a plurality of the temperature sensors are provided at predetermined intervals in the longitudinal direction of the scale base.
(3)特許請求の範囲第第2項において、前記補正手段
は、前記各温度センサを含んで構成された複数のブリッ
ジ回路と、この各ブリッジ回路からの信号を転送するマ
ルチプレクサと、このマルチプレクサからの信号をデジ
タル信号に変換するA/D変換器と、このA/D変換器
からのデータを基に前記カウンタの値を補正する演算手
段とから構成されていることを特徴とする測長システム
(3) In claim 2, the correction means includes a plurality of bridge circuits including each of the temperature sensors, a multiplexer for transferring signals from each of the bridge circuits, and a plurality of bridge circuits configured to include each of the temperature sensors; A length measurement system comprising: an A/D converter that converts the signal into a digital signal; and a calculation means that corrects the value of the counter based on the data from the A/D converter. .
(4)特許請求の範囲第3項において、前記演算手段は
、各温度に対応して補正係数を記憶したテーブルを備え
、このテーブルの中から前記温度センサで得られた温度
に対応する補正係数を読み出し、この補正係数を前記カ
ウンタの値に乗じてカウンタの値を補正するよう構成さ
れていることを特徴とする測長システム。
(4) In claim 3, the calculation means includes a table storing correction coefficients corresponding to each temperature, and from this table a correction coefficient corresponding to the temperature obtained by the temperature sensor. A length measurement system characterized in that the length measurement system is configured to read out the value of the counter and multiply the value of the counter by the correction coefficient to correct the value of the counter.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009236500A (en) * 2008-03-25 2009-10-15 Keyence Corp Contact displacement meter
JP2017513011A (en) * 2014-08-25 2017-05-25 ヌクテック カンパニー リミテッド Fiber Bragg grating demodulator and temperature control method thereof

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