JPS63300986A - Detector for light or radiation incidence position - Google Patents

Detector for light or radiation incidence position

Info

Publication number
JPS63300986A
JPS63300986A JP62136572A JP13657287A JPS63300986A JP S63300986 A JPS63300986 A JP S63300986A JP 62136572 A JP62136572 A JP 62136572A JP 13657287 A JP13657287 A JP 13657287A JP S63300986 A JPS63300986 A JP S63300986A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
outputs
comparator
detectors
detector
wires
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP62136572A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0636032B2 (en
Inventor
Mitsuo Watanabe
光男 渡辺
Keiji Shimizu
啓司 清水
Tomohide Omura
知秀 大村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Japan Science and Technology Agency
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Research Development Corp of Japan
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK, Research Development Corp of Japan filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP13657287A priority Critical patent/JPH0636032B2/en
Publication of JPS63300986A publication Critical patent/JPS63300986A/en
Publication of JPH0636032B2 publication Critical patent/JPH0636032B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Nuclear Medicine (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Abstract

PURPOSE:To speed up the detection of a radiation incidence position by arranging detectors in two dimensions and comparing the outputs of detectors mutually when they exceed a threshold value. CONSTITUTION:Signals from wire anodes 0-15 are passed through amplifies 100-115 and compared with the threshold value by comparators 300-315, and signals which are larger than the threshold value are latched by a latch circuit 40. Further, comparators 321-335 compare the outputs of adjacent detectors with each other and the circuit 40 latches them. Then exclusive ORs 501-514 compare the outputs of adjacent detectors with each other to detect a position where the comparison output changes from 0 to 1. In this case, only wires having peak change points correspond to 1 and the threshold value comparison outputs are ANDed by AND circuits 600-615 to select one of 16 wires. Then an effective output larger than the threshold value is converted by an encoder 70 into an address signal, which is outputted by a latch circuit 80 as a 4-bit X address. In a Y direction, a Y address signal is obtained similarly and the radiation incidence position is found from both address signals.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、マルチワイヤー読み出し回路による検出器、
シンチレーションカメラのように複数個の検出器を持つ
検出器等のような複数個の出力を有する位置検出器にお
いて、各検出器出力を相互比較することにより最大出力
信号をもつ検出器を識別し、高速に入射位置を検出する
ことのできる光又は放射線入射位置検出装置に関するも
のである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention provides a detector using a multi-wire readout circuit;
In a position detector having multiple outputs, such as a detector having multiple detectors such as a scintillation camera, the detector having the maximum output signal is identified by mutually comparing the outputs of each detector, The present invention relates to a light or radiation incident position detection device that can detect the incident position at high speed.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、2D−マルチワイヤーの位置検出法としては、主
として重心位置演算方式、ディレィ・ライン方式、コイ
ンシデンス・エンコード方式およびデュアル・コンパレ
ータ方式の4つが用いられている。
Conventionally, four 2D-multiwire position detection methods have been mainly used: a gravity center position calculation method, a delay line method, a coincidence encoding method, and a dual comparator method.

重心位置演算方式は第12図に示すように、X方向、X
方向のそれぞれのワイヤーを抵抗により接続し、両端か
ら得られる出力信号を加算し、この加算値で一端から得
られる信号を除算することにより入射位置を求めている
The center of gravity position calculation method is as shown in Figure 12.
The incident position is determined by connecting the wires in each direction with a resistor, adding the output signals obtained from both ends, and dividing the signal obtained from one end by this added value.

ディレィ・ライン方式は、予め各ワイヤー毎にディレィ
の重みづけをしておいてワイヤーの出力信号の到達時間
の違いにより、どのワイヤーの位置に信号が入力したが
を識別して位置を求めており、X方向、X方向とも同様
に行い、それぞれ識別されたワイヤーの交点として入射
位置を求めている。
In the delay line method, the delay is weighted for each wire in advance, and the position is determined by identifying which wire position the signal was input to based on the difference in arrival time of the output signal of the wire. , the X direction, and the X direction, and the incident position is determined as the intersection of the identified wires.

コインシデンス・エンコード方式は、第13図に示すよ
うにワイヤーを接続し、信号が入った時、接続されたワ
イヤーの出力ライン間のコインシデンスがとれた所(図
ではX方向しか示していないが、X方向も同様)が入射
位置として求められる。
In the coincidence encoding method, wires are connected as shown in Figure 13, and when a signal is input, there is a coincidence between the output lines of the connected wires (although only the X direction is shown in the figure, direction) is determined as the incident position.

デュアル・コンパレータ方式は、第14図に示すように
、本出願人が先に提案した方式であり、各ワイヤーへの
電子の拡がり分布に対して2つのスレッシュホールドV
 + 、V zを設定し、それぞれこのレベルを越えた
時、出力を1として得られる2つの信号ビットパターン
をROM15.16の変換テーブルにより入射位置アド
レス情報に変換し、さらにROM17の変換テーブルで
Y方向の位置情報により歪補正して精度のよいXアドレ
ス信号を得ている。Y方向に対しても同様である。
As shown in FIG. 14, the dual comparator method is a method previously proposed by the applicant, in which two thresholds V are set for the spread distribution of electrons to each wire.
+, Vz are set, and when each exceeds this level, the two signal bit patterns obtained by setting the output to 1 are converted into incident position address information using the conversion table in ROM15 and 16, and then Y A highly accurate X address signal is obtained by correcting distortion based on directional position information. The same applies to the Y direction.

〔発明が解決すべき問題点〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、重心位置演算方式は位置分解能を高稜度
にすることができるが、位置演算を必要とするため応答
速度の点で問題がある。又、A/D変換器を用いてディ
ジタル演算を行うにしても、高速なA/D変換器を使う
必要があり、経済性の点で問題がある。
However, although the center-of-gravity position calculation method can provide a high degree of position resolution, it requires position calculation, which poses a problem in terms of response speed. Furthermore, even if digital calculations are performed using an A/D converter, it is necessary to use a high-speed A/D converter, which poses an economical problem.

ディレィ・ライン方式はディレィをもうけて位置を弁別
しているため、原理的に応答速度を上げることはできな
い。
Since the delay line method uses a delay to discriminate the position, in principle it is not possible to increase the response speed.

コインシデンス・エンコード方式は多数本のワイヤーで
の位置検出には有利であるが、PMT内部での電子拡が
りが大きい場合には、信号弁別のレベルの設定によって
は多数本のコインシデンスがとれてしまう可能性がある
The coincidence encoding method is advantageous for position detection using many wires, but if the electron spread inside the PMT is large, the coincidence of many wires may be lost depending on the signal discrimination level setting. There is.

デュアル・コンパレータ方式は応答速度がROMにより
制限されてしまう。
In the dual comparator method, the response speed is limited by the ROM.

本発明はかかる事情に鑑みてなされたもので、高速で入
射位置を検出でき、しがも回路構成は簡単で経済性の点
でも優れた光又は放射線入射位置検出装置を提供するこ
とを目的とする。
The present invention was made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a light or radiation incident position detection device that can detect the incident position at high speed, has a simple circuit configuration, and is excellent in economical efficiency. do.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

そのために本発明の光又は放射線入射位置検出装置は、
2次元配列された複数個の検出器と、各検出器同士の出
力を相互比較する第1のコンパレータ群と、各検出器か
らの検出信号、及びスレッシュホールドレベル信号が入
力される第2のコンパレータ群とを備え、検出器出力が
スレッシュホールドレベル以上のときの第1のコンパレ
ータ群出力から入射位置を求めることを特徴とする。
For this purpose, the light or radiation incident position detection device of the present invention has the following features:
A plurality of two-dimensionally arranged detectors, a first comparator group that mutually compares the outputs of each detector, and a second comparator to which a detection signal from each detector and a threshold level signal are input. group, and the incident position is determined from the output of the first comparator group when the detector output is equal to or higher than a threshold level.

〔作用〕[Effect]

本発明は、2次元配列された検出器出力の隣同士の出力
を相互比較することにより、出力信号のピークを有する
検出器を検出することにより光又は放射線入射位置を安
価な構成で、超高速で検出することができる。
The present invention detects the detector having the peak of the output signal by mutually comparing the outputs of adjacent detectors arranged in a two-dimensional array, and thereby detects the light or radiation incident position with an inexpensive configuration and at an ultra-high speed. It can be detected by

〔実施例〕〔Example〕

以下、2D−マルチワイヤーPMTを用いた場合の実施
例を図面を参照して説明する。
Hereinafter, an embodiment using a 2D-multiwire PMT will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明による光又は放射線入射位置検出装置の
検出原理を示す図、第2図は入射位置とコンパレータ出
力の関係を示す図で、Aは電子の分布拡がり分布曲線、
#1〜#9はワイヤーアノード、21〜28はコンパレ
ータである。
Fig. 1 is a diagram showing the detection principle of the light or radiation incident position detection device according to the present invention, and Fig. 2 is a diagram showing the relationship between the incident position and the comparator output, where A is the electron distribution spread distribution curve;
#1 to #9 are wire anodes, and 21 to 28 are comparators.

図において、図示しないPMTに入射した光はその位置
で光電変換され、増幅され、例えば曲線Aのような電子
拡がりをもってワイヤーに入力する。隣り合ったワイヤ
ーのコンパレータのリファレンス入力を、第2図に示す
ように一方向に決めて比較を行うと、コンパレータ出力
は、図示するように入力信号の電子の拡がりのピークを
もつワイヤー5の前後で変化することが分かる。このよ
うにコンパレータ出力の変化したワイヤー5のところが
、信号入力位置となる。なお、全てのワイヤーについて
同時に比較しているため、信号入力から離れたワイヤー
のコンパレータ出力はバラつくが、これはスレッシュホ
ールド■、により無効とすればよい。つまり、有効なコ
ンパレータ出力の変化点を求めることにより入射位置を
検出することができる。
In the figure, light incident on a PMT (not shown) is photoelectrically converted and amplified at that position, and enters the wire with an electron spread as shown by curve A, for example. When comparing the reference inputs of the comparators of adjacent wires in one direction as shown in Figure 2, the comparator outputs are located before and after wire 5 where the electron spread peak of the input signal is located as shown in the figure. You can see that it changes. The position of the wire 5 where the comparator output has changed in this way becomes the signal input position. Note that since all wires are compared at the same time, the comparator outputs of wires far from the signal input vary, but this can be nullified by the threshold (2). In other words, the incident position can be detected by finding the change point of the effective comparator output.

第3図は16X16ワイヤーの2D−マルチワイヤーP
MTを使った場合の本発明による光又は放射線入射位置
検出装置の実施例の回路構成を示す図、第4図は第3図
の場合の信号検出のロジックを説明するための図である
。図中、#0〜#15はワイヤーアノード、100〜1
15は増幅器、300〜315はスレッシュホールド信
号との比較用コンパレータ、321〜335は隣り同士
の検出器出力の比較用コンパレータ、40はラッチ回路
、501〜515はエクスクル−シブOR回路、600
〜615はAND回路、70はエンコーダ、80はラン
チ回路である。
Figure 3 shows 2D-multi wire P of 16x16 wires.
FIG. 4 is a diagram showing the circuit configuration of an embodiment of the light or radiation incident position detection device according to the present invention when using MT, and FIG. 4 is a diagram for explaining the logic of signal detection in the case of FIG. 3. In the figure, #0 to #15 are wire anodes, 100 to 1
15 is an amplifier, 300 to 315 are comparators for comparison with threshold signals, 321 to 335 are comparators for comparison of outputs of adjacent detectors, 40 is a latch circuit, 501 to 515 are exclusive OR circuits, 600
615 is an AND circuit, 70 is an encoder, and 80 is a launch circuit.

図において、ワイヤーアノード#1〜#15から得られ
る信号は、増幅器100〜115で増幅した後、コンパ
レータ300〜315で所定レベル以上の場合のみ信号
出力が得られ、ランチ回路40でラッチされる。また、
コンパレータ321〜335で隣り同士の検出器出力信
号を、図のように一方向に決めて比較し、その出力を同
様にラッチする。
In the figure, the signals obtained from wire anodes #1 to #15 are amplified by amplifiers 100 to 115, and then outputted by comparators 300 to 315 only when the signal is at a predetermined level or higher, and latched by a launch circuit 40. Also,
The comparators 321 to 335 compare the output signals of adjacent detectors in one direction as shown in the figure, and the outputs are similarly latched.

今、第4図に示すような人力があったとすると、コンパ
レータ321〜335からは図のような出力が得られ、
この隣り合う出力同士をエクスクル−シブ0R501〜
514で比較し、エクスクル−シブOR出力が「1」と
なる所、即ち、コンパレータ出力がrOJ−rlJとな
る箇所を検出する。この場合、ピークの変化点にあるワ
イヤーだけ「1」となり、スレッシュホールド比較出力
とのANDをとってやれば、16本のワイヤーの1本を
選択することができる。そして、スレッシュホールドレ
ベル以上の有効な出力であれば、エンコーダ70でアド
レス信号に変換し、ランチ回路80で4ビツトのXアド
レス信号として出力する。
Now, assuming that there is human power as shown in Fig. 4, the comparators 321 to 335 will output as shown in the figure.
Exclusively connect these adjacent outputs to 0R501~
514, and a location where the exclusive OR output is "1", that is, a location where the comparator output is rOJ-rlJ, is detected. In this case, only the wire at the peak change point becomes "1", and if this is ANDed with the threshold comparison output, one of the 16 wires can be selected. If the output is valid, exceeding the threshold level, the encoder 70 converts it into an address signal, and the launch circuit 80 outputs it as a 4-bit X address signal.

なお、上記説明ではX方向のみの検出回路を示している
が、X方向も同様であり、本実施例は電子法がりがワイ
ヤー間を比較していった場合ピークを1つしかもたない
時有効である。
Note that although the above explanation shows a detection circuit only for the X direction, the same applies to the X direction, and this embodiment is effective when the electronic method has only one peak when comparing wires. It is.

第50は種々な電子法がり分布波形を示す図である。No. 50 is a diagram showing various electronic law distribution waveforms.

第5図(イ)は、ワイヤーの左端での出力が最も大きい
場合で、第3図に示すような相互比較では、コンパレー
タ出力は全て「1」となり、第5図(ロ)の場合は、ワ
イヤーの右端での出力が最も大きい場合で、コンパレー
タの出力は全て「0」となる。このように、ワイヤーの
端が最も大きい場合には、前述したようなピークの変化
点はあられれないが、全てがrlJであるか、全てが「
0」であるかにより左端、または右端を入射位置として
検出する。この場合、第5図(ロ)の場合は、「0」を
反転して「1」として利用すればよい。
Figure 5 (A) shows the case where the output at the left end of the wire is the largest, and in the mutual comparison shown in Figure 3, all comparator outputs are "1", and in the case of Figure 5 (B), When the output at the right end of the wire is the largest, all comparator outputs are "0". In this way, if the end of the wire is the largest, there will be no peak change points as mentioned above, but all of them are rlJ, or all of them are
0'', the left end or right end is detected as the incident position. In this case, in the case of FIG. 5(b), "0" may be inverted and used as "1".

第5図(ハ)は電子法がりにゆらぎをもつ場合であり、
第5図(ニ)は真のダブルイベントの場合であり、何れ
もエンコーダ70で除外されてしまうことになる。
Figure 5 (c) shows the case where there is a fluctuation in the electron beam,
FIG. 5(d) shows the case of a true double event, both of which will be excluded by the encoder 70.

次に、第5図(ハ)の場合の検出方法について、第6図
〜第7図により説明する。
Next, the detection method in the case of FIG. 5(c) will be explained with reference to FIGS. 6 and 7.

第6図は電子法がりにゆらぎをもつ場合の検出方法を示
す原理図である。
FIG. 6 is a principle diagram showing a detection method when there is fluctuation in the electronic method.

ゆらぎの条件として、1つおきのワイヤーを比較してい
ったとき、図の曲線B、Cが得られるが、これらのピー
クがそれぞれ1つである場合、これらのピークの1つを
検出することにより入射位置の検出が可能である。なお
、これ以上のゆらぎも、2つ以上毎のワイヤーを比較す
ることにより検出可能である。
As a fluctuation condition, when comparing every other wire, curves B and C in the figure are obtained, but if there is one peak each, it is difficult to detect one of these peaks. The incident position can be detected by Incidentally, fluctuations greater than this can also be detected by comparing every two or more wires.

第7図は1つおきのワイヤーを比較する場合の本発明の
実施例を示す図、第8図は第7図の場合におけるロジッ
クを示す図で、第3図と同一符合は同一内容を示してい
る。なお、341〜354はコンパレータ、401〜4
15はインバータ、421〜434はアンド回路である
Fig. 7 is a diagram showing an embodiment of the present invention when every other wire is compared, and Fig. 8 is a diagram showing the logic in the case of Fig. 7. The same reference numerals as in Fig. 3 indicate the same content. ing. In addition, 341 to 354 are comparators, 401 to 4
15 is an inverter, and 421 to 434 are AND circuits.

第3図の場合の回路構成との違いは、1つおきのワイヤ
ーにもコンパレータ341〜354を入れて電子法がり
のゆらぎをほぼ吸収している点である。即ち、第8図(
イ)に示すような電子法がりである場合、隣同士のワイ
ヤー出力を比較するコンパレータ321〜325は、図
示するように(0,0,1,0,1,1,1,1)とな
り、1つおき、即ち偶数番目毎、及び奇数番目毎のコン
パレータ341〜354の出力は、それぞれ(0゜0.
1.1)、(0,O,0,1,1)となる。
The difference from the circuit configuration in the case of FIG. 3 is that comparators 341 to 354 are also included in every other wire to absorb most of the fluctuations of the electronic method. That is, Fig. 8 (
In the case of the electronic method as shown in b), the comparators 321 to 325 that compare the outputs of adjacent wires are (0, 0, 1, 0, 1, 1, 1, 1) as shown in the figure. The outputs of every other comparator 341 to 354, that is, every even number and every odd number, are (0°0.
1.1), (0, O, 0, 1, 1).

したがって、隣同士のコンパレータ出力をインバータ4
01〜414により反転し、反転した出力と、隣のコン
パレータ出力とのANDをとることにより、AND回路
421〜434の出力は第8図(ロ)に示すようになる
。また、1つおきのコンパレータ出力のroj−rlJ
に変化する位置をエクスクル−シブORで検出し、これ
とAND回路421〜434の出力とのANDを、AN
D回路602〜613でとることにより出力rlJとな
るワイヤーを検出することができる。
Therefore, the outputs of adjacent comparators are connected to the inverter 4.
01 to 414, and by ANDing the inverted output with the output of the adjacent comparator, the outputs of the AND circuits 421 to 434 become as shown in FIG. 8(b). Also, the rj-rlJ of every other comparator output
The position that changes to
By using the D circuits 602 to 613, it is possible to detect the wire that becomes the output rlJ.

このように、第3図の回路構成で行ったようなエクスク
ル−シブORを使っていたのでは、コンパレータの変化
点が沢山比るので、インバータとANDで0→1の変化
点のみ1となるように構成し、1つおきではピークは1
つであるという条件により、エクスクル−シブORを使
用して1つのピークだけ選択する。そして第3図の場合
と同様にスレッシュホールドの処理とエンコードを行い
、入射位置アドレス情報を得ることができる。
In this way, if we were to use exclusive OR as in the circuit configuration shown in Figure 3, the comparator would compare many changing points, so only the changing point from 0 to 1 would become 1 when we AND the inverter. For every other peak, the peak is 1.
Exclusive OR is used to select only one peak. Then, threshold processing and encoding are performed in the same manner as in the case of FIG. 3, and incident position address information can be obtained.

第9図、第10図は本発明による光又は放射線入射0位
置検出装置の具体的応用例を示す図である。
FIGS. 9 and 10 are diagrams showing specific application examples of the zero-incidence position detection device for light or radiation according to the present invention.

第9図はモザイクシンチレータと2D−マルチワイヤー
PMTとのを組み合わせの構成を示す図、第10図はモ
ザイクシンチレータとワイヤーが1:1に対応している
ことを示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing a configuration of a combination of a mosaic scintillator and a 2D-multiwire PMT, and FIG. 10 is a diagram showing a 1:1 correspondence between the mosaic scintillator and the wire.

図において、xy各ワイヤーの交差点上にそのモザイク
シンチレータアレイを1:1に対応するように置く。2
D−マルチワイヤーPMT内部でのワイヤーへの電子拡
がりは多少のゆらぎあるが、ワイヤー間を比較していっ
た場合信号の入った近傍のワイヤーでは、ピークは1つ
しかもたないことが仮定でき、第3図に示したような回
路構成により入射位置を検出することができる。もし、
電子拡がりの信号ゆらぎが大きく、この仮定が保証され
ない場合は、前述したように隣同士のワイヤーのコンパ
レータに加え、1つおきのワイヤー間にもコンパレータ
を入れることにより、このゆらぎはほぼ吸収できる。こ
れ以上のゆらぎに対しては、さらにワイヤー間のコンパ
レータを増やしていけば吸収できるが、実用上は1つお
きのコンパレータを入れることにより問題なく、ダブル
イベントとして除去できる。
In the figure, the mosaic scintillator array is placed on the intersection of each xy wire in a 1:1 correspondence. 2
There is some fluctuation in the electron spread to the wires inside the D-multiwire PMT, but when comparing the wires, it can be assumed that there is only one peak in the wires near the signal. The incident position can be detected by the circuit configuration shown in FIG. if,
If the signal fluctuation of the electron spread is large and this assumption cannot be guaranteed, this fluctuation can be almost absorbed by inserting a comparator between every other wire in addition to the comparators between adjacent wires as described above. Fluctuations larger than this can be absorbed by further increasing the number of comparators between the wires, but in practice, by inserting every other comparator, it can be removed as a double event without any problem.

第11図は、アノードワイヤピッチが4flの位置検出
型PMTに4nピツチのBGOシンチレータアレイを結
合した検出器(T線検出器)に本発明の回路構成第3図
を適用して得られた位置弁別結果例を示す図で、γ線入
射位置と位置精度の関係を示している。(但し、X方向
の8ワイヤーのみを使用。) 図において、BG○シンチレータは4酊ピツチで配置さ
れているが、同図から分かるように各シンチレータでの
検出の分離が極めて良好になされていることがわかる。
FIG. 11 shows the position obtained by applying the circuit configuration of the present invention in FIG. 3 to a detector (T-ray detector) in which a 4n-pitch BGO scintillator array is coupled to a position-detecting PMT with an anode wire pitch of 4 fl. This is a diagram showing an example of a discrimination result, and shows the relationship between the γ-ray incident position and positional accuracy. (However, only 8 wires in the X direction are used.) In the figure, the BG○ scintillators are arranged in 4 pitches, but as you can see from the figure, the detection by each scintillator is very well separated. I understand that.

〔発明の効果] 以上のように本発明によれば、マルチワイヤーの読み出
し回路による検出器、シンチレーションカメラのような
複数個の検出器をもつ検出器等のような複数個の出力を
有する位置検出器において、コンパレータと単純なゲー
トロジックからなる簡単な構成で各ワイヤー(検出器)
への入力信号積分後、超高速(100nsec以内)で
位置検出することができる。なお、空間分解能はワイヤ
ー(検出器)のピッチと本数に依存する。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, position detection having multiple outputs such as a detector using a multi-wire readout circuit, a detector having multiple detectors such as a scintillation camera, etc. In the detector, each wire (detector) is connected with a simple configuration consisting of a comparator and simple gate logic.
After integrating the input signal, the position can be detected at extremely high speed (within 100 nsec). Note that the spatial resolution depends on the pitch and number of wires (detectors).

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による光又は放射線入射位置検出装置の
検出原理を示す図、第2図は入射位置とコンパレータ出
力の関係を示す図、第3図は16X16ワイヤーの2D
−マルチワイヤーPMTを使った場合の本発明の一実施
例の回路構成を示す図、第4図は第1図の場合の信号検
出のロジックを説明するための図、第5図は種々な電子
拡がり分布波形を示す図、第6図は電子拡がりにゆらぎ
をもつ場合の検出方法を示す原理図、第7図は1つおき
のワイヤー比較を行う場合の本発明の他の実施例の回路
構成を示す図、第8図は第7図の場合におけるロジック
を示す図、第9図、第10図は本発明による光又は放射
線入射位置検出装置の具体的応用例を示す図、第11図
は位置検出型PMTに4NピンチのBGOシンチレータ
アレイを結合した検出器に本発明の回路を適用して得ら
れた位置弁別結果例を示す図、第12図は重心位置演算
方式による従来の入射位置検出装置を示す図、第13図
はコインシデンス・エンコード方式による従来の入射位
置検出装置を示す図、第14閏はデュアルコンパレータ
方式により従来の入射位置検出装置を示す図である。 A・・・電子の分布拡がり分布曲線、#1〜#9・・・
ワイヤーアノード、21〜28・・・コンパレータ、#
1〜#15・・・ワイヤーアノード、100〜115・
・・増幅器、300〜315・・・スレッシュホールド
信号との比較用コンパレータ、321〜335・・・隣
り同士の比較用コンパレータ、40・・・ラッチ回路、
501〜515・・・エクスクル−シブOR回路、60
0〜615・・・AND回路、70・・・エンコーダ、
80・・・ラッチ回路。 出  瀬  人  浜松ホトニクス株式会社(外/名>
代  理  人  弁理士 蛭 川 晶 信第1図 第2図 第4  図          第5 図、イジ第5図
(ロ)   第5図(ハ9 ψψψψψIψψψψψlψψψp 第11図 第12図     第13図 第14図
Fig. 1 is a diagram showing the detection principle of the light or radiation incident position detection device according to the present invention, Fig. 2 is a diagram showing the relationship between the incident position and the comparator output, and Fig. 3 is a 2D diagram of 16 x 16 wire.
- A diagram showing the circuit configuration of an embodiment of the present invention when using a multi-wire PMT, FIG. 4 is a diagram for explaining the logic of signal detection in the case of FIG. 1, and FIG. A diagram showing a spread distribution waveform, FIG. 6 is a principle diagram showing a detection method when there is fluctuation in electron spread, and FIG. 7 is a circuit configuration of another embodiment of the present invention when comparing every other wire. FIG. 8 is a diagram showing the logic in the case of FIG. 7, FIGS. 9 and 10 are diagrams showing specific application examples of the light or radiation incident position detection device according to the present invention, and FIG. 11 is a diagram showing the logic in the case of FIG. A diagram showing an example of position discrimination results obtained by applying the circuit of the present invention to a detector in which a 4N-pinch BGO scintillator array is combined with a position detection type PMT. Figure 12 shows a conventional incident position detection using the center of gravity position calculation method. FIG. 13 is a diagram showing a conventional incident position detecting device using a coincidence encoding method, and the fourteenth leap is a diagram showing a conventional incident position detecting device using a dual comparator method. A... Electron distribution spread distribution curve, #1 to #9...
Wire anode, 21-28... comparator, #
1~#15...Wire anode, 100~115.
... Amplifier, 300-315... Comparator for comparison with threshold signal, 321-335... Comparator for comparison between adjacent ones, 40... Latch circuit,
501-515... Exclusive OR circuit, 60
0 to 615...AND circuit, 70...encoder,
80...Latch circuit. Mr. Ise Hamamatsu Photonics Co., Ltd.
Agent Patent Attorney Akira Hiru Kawa Akira Nobuo Figure 1 Figure 2 Figure 4 Figure 5, Figure 5 (B) Figure 5 (Ha9 ψψψψψIψψψψψlψψψp Figure 11 Figure 12 Figure 13 Figure 14

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)2次元配列された複数個の検出器と、各検出器同
士の出力を相互比較する第1のコンパレータ群と、各検
出器からの検出信号、及びスレッシュホールドレベル信
号が入力される第2のコンパレータ群とを備え、検出器
出力がスレッシュホールドレベル以上のときの第1のコ
ンパレータ群出力から入射位置を求めることを特徴とす
る光又は放射線入射位置検出装置。
(1) A plurality of detectors arranged in a two-dimensional array, a first comparator group that mutually compares the outputs of each detector, and a first comparator group that receives the detection signal from each detector and a threshold level signal. 1. A light or radiation incident position detection device comprising: two comparator groups, the incident position being determined from the output of the first comparator group when the detector output is equal to or higher than a threshold level.
(2)前記第1コンパレータ群は、隣同士の検出器出力
を比較するコンパレータ群からなる特許請求の範囲第1
項記載の光又は放射線入射位置検出装置。
(2) The first comparator group is a group of comparators that compare the outputs of adjacent detectors.
The light or radiation incident position detection device described in 2.
(3)前記第1のコンパレータ群は、隣同士の検出器出
力を比較する第3のコンパレータ群と、1つ以上おきの
検出器同士の出力を比較する第4のコンパレータ群とか
らなる特許請求の範囲第1項記載の光又は放射線入射位
置検出装置。
(3) A patent claim in which the first comparator group includes a third comparator group that compares the outputs of adjacent detectors, and a fourth comparator group that compares the outputs of every other or more detectors. The light or radiation incident position detection device according to item 1.
JP13657287A 1987-05-30 1987-05-30 Light or radiation incident position detection device Expired - Fee Related JPH0636032B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13657287A JPH0636032B2 (en) 1987-05-30 1987-05-30 Light or radiation incident position detection device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13657287A JPH0636032B2 (en) 1987-05-30 1987-05-30 Light or radiation incident position detection device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63300986A true JPS63300986A (en) 1988-12-08
JPH0636032B2 JPH0636032B2 (en) 1994-05-11

Family

ID=15178396

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP13657287A Expired - Fee Related JPH0636032B2 (en) 1987-05-30 1987-05-30 Light or radiation incident position detection device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0636032B2 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0315706A (en) * 1989-03-01 1991-01-24 Hamamatsu Photonics Kk Two-dimensional incident position detecting device
US5111051A (en) * 1989-09-14 1992-05-05 Hamamatsu Photonics K. K. Multi-anode array photomultiplier tube
FR2755815A1 (en) * 1996-11-08 1998-05-15 Commissariat Energie Atomique DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING THE PRESENT POSITION OF AN EVENT IN RELATION TO A SET OF PHOTODETECTORS, AND APPLICATION TO GAMMA-CAMERAS
JP2004264078A (en) * 2003-02-28 2004-09-24 Natl Inst Of Radiological Sciences Method and apparatus for detecting incident location

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0315706A (en) * 1989-03-01 1991-01-24 Hamamatsu Photonics Kk Two-dimensional incident position detecting device
JPH0749925B2 (en) * 1989-03-01 1995-05-31 浜松ホトニクス株式会社 Two-dimensional incident position detector
US5111051A (en) * 1989-09-14 1992-05-05 Hamamatsu Photonics K. K. Multi-anode array photomultiplier tube
FR2755815A1 (en) * 1996-11-08 1998-05-15 Commissariat Energie Atomique DEVICE AND METHOD FOR DETERMINING THE PRESENT POSITION OF AN EVENT IN RELATION TO A SET OF PHOTODETECTORS, AND APPLICATION TO GAMMA-CAMERAS
WO1998021607A1 (en) * 1996-11-08 1998-05-22 Commissariat A L'energie Atomique Device and method for determining the assumed position of a phenomenon relative to a set of photodetectors, and application to gamma-cameras
JP2004264078A (en) * 2003-02-28 2004-09-24 Natl Inst Of Radiological Sciences Method and apparatus for detecting incident location

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0636032B2 (en) 1994-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3532942B2 (en) Radiation position detector
US8269183B2 (en) Radiation detector
JPH0315706A (en) Two-dimensional incident position detecting device
US6326624B1 (en) Device and method for determining the assumed position of a phenomenon relative to a set of photodetectors, and application to gamma-cameras
US6774370B1 (en) Positron imaging device
US5187357A (en) Position detector using two dimensional multi-anode photomultiplier tube and a plurality of comparators
JPS63300986A (en) Detector for light or radiation incidence position
US5111051A (en) Multi-anode array photomultiplier tube
KR101330117B1 (en) Positron emission tomography scanner with multi-channel photo-sensor and gamma-ray energy
JP3323323B2 (en) Scintillation camera
JPH07104072A (en) Ect device
JPH07151860A (en) Apparatus for detecting radioactive surface contamination
JPS62135787A (en) Detector of positron ct device
JPS63148186A (en) Light or radiation incidence position detector
KR101363615B1 (en) Radiation diagnosis apparatus
JP2682380B2 (en) Positron CT system
JPS639881A (en) Radiation detector
JPS5892973A (en) Radiation detector for emission ct apparatus
JPH0587793B2 (en)
JPS63148185A (en) Detecting circuit for radiation incidence position
KR20240050618A (en) Multiplexing circuit for multi-channel radiation detectors
JPH01141389A (en) Scintillation detector
JP2004264078A (en) Method and apparatus for detecting incident location
JP2021131327A (en) Detection system and learning method
JPH0447795B2 (en)

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees