JPS63300838A - Wafer replacing method for processor - Google Patents

Wafer replacing method for processor

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JPS63300838A
JPS63300838A JP62131774A JP13177487A JPS63300838A JP S63300838 A JPS63300838 A JP S63300838A JP 62131774 A JP62131774 A JP 62131774A JP 13177487 A JP13177487 A JP 13177487A JP S63300838 A JPS63300838 A JP S63300838A
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JP
Japan
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wafer
time
processed
processing
arm
Prior art date
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Application number
JP62131774A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Gamo
蒲生 寛
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TERADAIN KK
Teradyne Inc
Original Assignee
TERADAIN KK
Teradyne Inc
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To improve throughput as a whole by using one of the transfer feed arms taking out a processed wafer from a processor immediately thereafter the other transfer feed arm inserting its supporting unprocessed wafer into the processor. CONSTITUTION:After a transfer feed arm 30-1 takes out a processed wafer 10 from a processor 60, before the wafer 10 is carried to a predetermined storage part, the other transfer feed arm 30-2 inserts its supporting unprocessed wafer into the processor 60. Consequently, the processor 60 enables a process to be immediately started for this new inserted wafer 10. Accordingly, work for the next replacing operation, in which the transfer feed arm 30-1 once relocates its supporting processed wafer 10 to the storage part successively further supports the next expected unprocessed wafer, can be performed parallelly in time with the processing time by the processor 60.

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、一般に半導体集積回路の形成に必要とされる
各種の工程シーケンスにおいて、当該集積回路を構築す
る下地基板であるウェハを種々の処理装置で個別に処理
する際に要求される当該処理装置へのウェハ入替方法に
関し、特に総体的な集積回路作成時間、すなわちスルー
・プツトを短縮させるための改良に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to various process sequences generally required for forming semiconductor integrated circuits, in which a wafer, which is a base substrate on which the integrated circuit is constructed, is subjected to various treatments. The present invention relates to a method of exchanging wafers to a processing apparatus required when processing them individually in the apparatus, and particularly relates to an improvement for shortening the overall integrated circuit production time, that is, throughput.

〈従来の技術〉 一般に半導体回路作成技術においては、集積回路を構築
する出発部材ないし下地基板として、シリコン系とかガ
リウム砒素系等、その材質こそ目的により異なるものの
、周縁部の一部を除き、大体において一定半径、円形輪
郭の半導体ウェハがイ吏用される。
<Prior art> In general, in semiconductor circuit fabrication technology, materials such as silicon-based or gallium arsenide-based materials are used as the starting material or base substrate for constructing integrated circuits, although they vary depending on the purpose, except for a part of the periphery. A semiconductor wafer with a constant radius and circular contour is used in the process.

こうした半導体ウェハは、周知のように、その上に多数
のチップ分の集積回路をまとめて形成した後、個々のチ
ップに切り出されるため、そうした集積回路構築の途中
では、フォト・リソグラフィ装置やCVD装置、あるい
はまた最終工程ないしその間近においてウェハ上の各所
に形成されている抵抗部分をトリミングするトリミング
装置等、各種の処理装置に対し、処理の終わったウェハ
を取り出してはまた新たな未処理ウェハを挿入するとい
う入替操作が必要になるが、ベルト・コンベア式にウェ
ハを連続処理する場合を除き、この入替操作はウェハを
一枚づつハンドリングする操作となる。
As is well known, these semiconductor wafers are cut out into individual chips after many chips of integrated circuits are formed on them, so during the construction of such integrated circuits, photolithography equipment and CVD equipment Alternatively, at or near the final process, a trimming device that trims the resistive parts formed at various places on the wafer, etc., takes out the processed wafer and inserts a new unprocessed wafer into various processing equipment. A replacement operation of inserting the wafers is required, but unless the wafers are continuously processed using a belt conveyor method, this replacement operation involves handling the wafers one by one.

ここで概略的にではあるが、こうした従来における入替
操作の具体的な例を挙げ、説明する。
Here, a specific example of such a conventional replacement operation will be described, albeit briefly.

第61各図には、例えばウェハ上の各部の抵抗値をトリ
ミングをするレーザ・トリミング装置等の処理装置60
と、この処理装置60により一枚一枚処理されるウェハ
10を複数枚、待機のため、および処理後の一次保管の
ため、積層状に収納可能なカセット20が示されている
61. Each figure shows a processing device 60 such as a laser trimming device that trims the resistance value of each part on the wafer, for example.
A cassette 20 is shown in which a plurality of wafers 10 to be processed one by one by this processing apparatus 60 can be stored in a stacked manner for waiting and for temporary storage after processing.

カセット20の内部には、高さ方向に適宜な間隔を置い
て複数の収納段22.・・・・・・が設けられており、
実際にはこの収納段22.・・・・・・はそれぞれカセ
ット側壁に切られた溝として構成されることが多く、適
当なる材質のウェハ10.・・・・・・はその直径方向
で対向する縁部がこれら各段の溝22.・・・・内に適
当深さ入り込むことにより、カセット内に支持、保管さ
れる。
Inside the cassette 20, there are a plurality of storage stages 22. at appropriate intervals in the height direction. ...... is provided,
Actually, this storage stage 22. . . . are each often constructed as a groove cut in the side wall of the cassette, and each wafer 10 is made of a suitable material. . . . , whose diametrically opposing edges are the grooves 22 . ...It is supported and stored within the cassette by entering it to an appropriate depth.

第6図外図中にはまた、ウェハ10を一枚一枚、その先
端のウェハ支持部31で支持し、移送可能な移送アーム
30も示されている。ウェハ支持部31にてウェハを支
持したり、また釈放したりするための機構は、従来から
も一般に機械的なチャック方式と真空吸着方式があるが
、ここでは機械的なチャック方式に比し、ウェハを物理
的に傷付けるおそれが極めて低く、またウェハの把持、
釈放のために機械的に動かねばならぬ部分がない点で優
れている真空吸着方式を想定すると良い。
Also shown outside of FIG. 6 is a transfer arm 30 capable of supporting and transferring wafers 10 one by one using a wafer support portion 31 at its tip. Mechanisms for supporting and releasing wafers on the wafer support section 31 have conventionally generally been classified into mechanical chuck systems and vacuum suction systems, but here, compared to the mechanical chuck system, The risk of physically damaging the wafer is extremely low, and it is easy to grip the wafer.
It is best to consider a vacuum suction method, which is advantageous in that there are no parts that must be moved mechanically for release.

すなわちこの第6図中においては、図示していないがウ
ェハ支持部31の表面に真空吸着用の開口が開けられて
いて、この開口は、同様に図示していないがアーム主体
内を通る通路からさらには外付けのチューブを介し、適
当なるコンプレッサ等の真空吸着機の吸引部に接続され
、したがってウェハ支持部31の上にウェハlOを載持
した状態下で当該真空吸着機を稼動させると、アーム3
0に対し相対的なずれを生むことなく、安定にウェハl
Oを支持、固定することができる。
That is, in FIG. 6, although not shown, an opening for vacuum suction is formed on the surface of the wafer support portion 31, and this opening is also not shown, but is connected to a passage passing through the arm main body. Furthermore, it is connected to the suction part of a vacuum suction machine such as a suitable compressor through an external tube, and therefore, when the vacuum suction machine is operated with the wafer IO mounted on the wafer support part 31, Arm 3
The wafer l can be stably moved without causing any relative deviation from zero.
O can be supported and fixed.

さらに、移送アーム30は図示しない駆動機構により、
矢印U−Dで示される上下方向や、矢印F−Rで示され
る前後方向に駆動される。場合によっては前後F−R方
向および上下U−D方向に加え、これらに共に直交する
左右方向にも駆動可能とされる。なお便宜上、本書では
方向指示に関し、上下、前後等は上記した方向に従うも
のとする。
Furthermore, the transfer arm 30 is driven by a drive mechanism (not shown).
It is driven in the vertical direction shown by arrow UD and in the front-back direction shown by arrow FR. In some cases, it is possible to drive not only the front-rear FR direction and the up-down UD direction but also the left-right direction perpendicular to these directions. For convenience, in this book, the directions for up and down, front and back, etc. are assumed to follow the directions mentioned above.

もちろん、移送アーム30により、指定個所にまでウェ
ハlOを搬送した後、真空吸着機による吸着動作を停止
すれば、ウェハ10は単にウェハ支持部31の上に自重
で載っているだけとなるから、後述のようにカセット内
における自重による自動釈放や、適当な取り出し装置の
使用により、ウェハ支持部31上からウェハlOを簡単
に雌親させることができる。
Of course, if the suction operation by the vacuum suction machine is stopped after the wafer 10 is conveyed to the specified location by the transfer arm 30, the wafer 10 will simply rest on the wafer support part 31 under its own weight. As will be described later, the wafer 10 can be easily removed from the wafer support 31 by automatic release within the cassette due to its own weight or by using a suitable take-out device.

しかるにまず第6図(^)を見てみると、処理装置60
には一枚のウェハlOが挿入されており、ここで抵抗値
トリミング等の処理を受けている。
However, if we first look at Figure 6 (^), we see that the processing device 60
One wafer IO is inserted into the wafer 10, and is subjected to processing such as resistance value trimming.

一方、カセット20内を見てみると、ここでは理解のた
め便宜なように、一段が空設22.どなっている以外、
他の段は全てウェハlOにより占有されている。
On the other hand, if you look inside the cassette 20, for the sake of understanding here, one row is empty 22. Other than yelling,
All other stages are occupied by wafers IO.

この空設22.は、第6図(A)中において現在処理さ
れているウェハ10が処理を終えた後、保管される段で
ある。そして、この段22.よりも上の段は、すでに処
理を終わったウェハlOが待機している段であり、それ
よりも下の段に入っているウェハlOは、これから処理
装置60により処理を受けるウェハである。
This vacant facility 22. 6(A) is the stage where the wafer 10 currently being processed is stored after the processing is completed. And this stage 22. The wafers 1O that have already been processed are waiting in the upper stages, and the wafers 1O that are in the lower stages are wafers that will be processed by the processing device 60 from now on.

したがって、仮に第6図(A)中において現在処理中の
ウェハの処理が終わった後、これが現在空設221とな
っている段に収納された後は、それの直ぐ下の段22.
−.に収納されているウェハ!0が取り出され、処理装
置に送られる予定にある。
Therefore, if the wafer currently being processed in FIG. 6(A) is stored in the currently empty stage 221 after it has been processed, the wafer that is currently being processed in FIG.
−. Wafers stored in! 0 is retrieved and scheduled to be sent to the processing unit.

第6図(A)中における処理装置60内のウェハlOに
対する所定の処理が終わると、第6図(B)に示されて
いるように、処理装置60の脇で待機していた移送アー
ム30が矢印Fで示されるように処理装置60内に突入
し、処理済みウェハlOの下に位置した後、矢印Uで示
されるように処理装置60内で若干持ち上げられ、ウェ
ハlOをウェハ支持部31の上に載せる。
When the predetermined process for the wafer lO in the processing apparatus 60 in FIG. 6(A) is completed, the transfer arm 30, which has been waiting beside the processing apparatus 60, is moved as shown in FIG. 6(B). enters the processing apparatus 60 as shown by arrow F and is positioned below the processed wafer lO, and then is slightly lifted within the processing apparatus 60 as shown by arrow U, and moves the wafer lO to the wafer support 31. Place it on top.

この状態下で図示されていない真空吸着機が稼動し、ウ
ェハlOがウェハ支持部31上に吸着、仮固定され、そ
のまま矢印Rで示されるように移送アーム30が後退し
、処理済みウェハlOを処理装置60の外部に引き出す
Under this state, a vacuum suction machine (not shown) operates, and the wafer lO is suctioned and temporarily fixed onto the wafer support 31, and then the transfer arm 30 retreats as shown by arrow R, and the processed wafer lO is removed. It is pulled out to the outside of the processing device 60.

次に移送アーム30は、カセッ・トス0内にあって現在
空設となっている収納予定段22工にこの処理済みウェ
ハ10を収納するため、矢印Uで示されるように適当高
さまで駆動され、同図仮想線の矢印Fで示されるように
、カセット内に先端を突入させる準備がなされる。
Next, the transfer arm 30 is driven to an appropriate height as shown by the arrow U in order to store the processed wafer 10 in the storage stage 22 which is currently vacant in the cassette toss 0. , as shown by the imaginary arrow F in the figure, preparations are made to insert the tip into the cassette.

この状態から、第6図(C)に示されるように、移送ア
ーム30はカセット20内の当該収納予定段に向けて支
持したウェハ10を送るよう、前進方向Fに駆動され、
ウェハの位置が丁度収納予定段22゜に収まり得る位置
となると、若干下方りに駆動されて、ウェハ10の直径
方向で対向する両縁が収納段上面に臨むようにされる。
From this state, as shown in FIG. 6(C), the transfer arm 30 is driven in the forward direction F so as to send the supported wafer 10 toward the scheduled storage stage in the cassette 20.
When the wafer reaches a position where it can be accommodated in the storage stage 22°, it is driven slightly downward so that both diametrically opposing edges of the wafer 10 face the upper surface of the storage stage.

そしてこのとき、真空吸着装置の稼動は止められ、した
がって移送アーム30のウェハ支持部31上に載ってい
たウェハlOは、対応する段22.の上面により、その
直径方向で対向する縁部が下から支えられ、自重により
その位置に落ち付いて当該段22□への収納が完了する
At this time, the operation of the vacuum suction device is stopped, and therefore the wafer lO that was placed on the wafer support part 31 of the transfer arm 30 is moved to the corresponding stage 22. Its diametrically opposed edges are supported from below by the upper surface of the container, and the container settles into that position due to its own weight, completing storage in the corresponding step 22□.

その後、移送アーム30は図中、矢印Rで示されるよう
に後退し、次に一段下の収納段22.−、に収められて
待機しているウェハ10を取り出すべく動き出す。
Thereafter, the transfer arm 30 moves backward as shown by arrow R in the figure, and then moves to the next lower storage stage 22. - starts moving to take out the wafer 10 stored in and waiting.

すなわ−ち、第6図(C)の状態から一段分と少し、下
げられた後、第6図(D)で示されるように前進方向F
に駆動されて、次の段221−tに収納されているウェ
ハ10の下に先端のウェハ支持部31が挿入され、やや
持ち上げられるように上方Uに駆動されてウェハlOを
ウェハ支持部31上に載持し、同時に真空吸着装置も働
いてこのウェハをウェハ支持部31上に仮固定する。
In other words, after being lowered a little by one step from the state shown in Fig. 6(C), the forward direction F is lowered as shown in Fig. 6(D).
The tip wafer support 31 is inserted under the wafer 10 stored in the next stage 221-t, and the wafer 10 is driven upward U so as to be slightly lifted, and the wafer lO is placed on the wafer support 31. At the same time, the vacuum suction device also works to temporarily fix the wafer on the wafer support 31.

次いで移送アーム30は第6図(D)中、矢印R方向に
後退してウェハlOを引き出した後、下方りに駆動され
、続いて面方Fに駆動されて処理装置60のウニ八挿入
口に臨む。
Next, the transfer arm 30 retreats in the direction of the arrow R in FIG. I am going to

ここから第6図(D)中の仮想線の矢印群で示されるよ
うに、移送アーム30はウェハ支持部31上に支持して
いるウェハlOを処理装置60内にまず方向Fに従って
挿入した後、やや下方りに駆動され、同時にこのとき、
真空吸着装置の稼動が停止せられて、処理装置60内の
所定の部位に自重によりウェハlOを載置する。
From here, as shown by the group of imaginary line arrows in FIG. , is driven slightly downward, and at the same time,
The operation of the vacuum suction device is stopped, and the wafer 10 is placed at a predetermined position in the processing device 60 by its own weight.

その後、後方Rに移送アーム30が引き出されれば、第
6図(A)に示されている状態に戻り、以下、上記説明
に即する同様のシーケンスが繰返されて行く。
Thereafter, when the transfer arm 30 is pulled out to the rear R, the state returns to the state shown in FIG. 6(A), and the same sequence as described above is repeated.

なお、第6図(D)中には、カセット20内から次に処
理すべき新しいウェハlOを引き出した後、処理装置6
0内に挿入する移送過程の途中に、回転角位置整合とい
う工程が併せて例示してある。
In addition, in FIG. 6(D), after pulling out a new wafer lO to be processed next from the cassette 20, the processing apparatus 6
In the middle of the transfer process of inserting into 0, a process of rotational angle position matching is also illustrated.

これは、用いる処理装置60に設定されている座標系に
処理すべきウェハlOの座標系を整合させるため、適当
角度、回転させる工程であるが、本発明にとっては必須
の関係にないため、後述する本発明の望ましい実施例中
において簡単に説明するに留め、ここでは一応、棚上げ
して置く。
This is a process of rotating the wafer 1O by an appropriate angle in order to align the coordinate system of the wafer 10 to be processed with the coordinate system set in the processing apparatus 60 used, but since it is not essential to the present invention, it will be described later. This will only be briefly described in the preferred embodiments of the present invention, and will be put aside for the time being.

〈発明が解決しようとする問題点〉 しかるに、既述した従来例における処理装置60へのウ
ェハ入替操作を時間的な関係において見てみると、それ
は第7図示のようになる。
<Problems to be Solved by the Invention> However, if we look at the wafer exchange operation to the processing apparatus 60 in the conventional example described above in terms of time, it becomes as shown in FIG.

まずもって言えることは、こうした従来法においては、
移送アーム30が稼動しているときには処理装置60は
全く休止しており、逆に処理装置60が稼動していると
きには移送アームは全く休止しているということである
The first thing to say is that in these conventional methods,
When the transfer arm 30 is in operation, the processing device 60 is completely at rest, and conversely, when the processing device 60 is in operation, the transfer arm is completely at rest.

換言すれば、処理装置の稼動している処理時間TAは取
も直さずアーム待機時間TAであり、処理の終わつたウ
ェハを取り出して次に処理すべきウェハを処理装置60
内に再挿入するに要する入替時間Tpはそのまま処理装
置の待機時間TPとなる。
In other words, the processing time TA during which the processing device is operating is the arm standby time TA, and the wafer that has been processed is taken out and the next wafer to be processed is transferred to the processing device 60.
The replacement time Tp required for re-insertion into the memory becomes the standby time TP of the processing device.

しかも、入替時間TPは第7図中にあって当該入替操作
の時間領域を細分化して示したように、TI:処理装置
60内から処理済みウェハを取り出す時間。
Furthermore, the replacement time TP is in FIG. 7, and as shown by subdividing the time domain of the replacement operation, TI: time for taking out processed wafers from the processing apparatus 60.

T2:この取り出した処理済みウェハをカセット20の
人口脇まで移送する時間。
T2: Time for transferring the processed wafer taken out to the side of the cassette 20.

T、二カセット20内に当該処理済みウェハを収める収
納時間。
T, storage time for storing the processed wafers in the second cassette 20;

T4:収納後、次の未処理ウェハをアーム先端のウェハ
支持部31上に固定しながらカセット20内から取り出
す時間。
T4: Time to take out the next unprocessed wafer from the cassette 20 while fixing it on the wafer support part 31 at the tip of the arm after storage.

T5:取り出した未処理ウェハを処理装置の挿入口脇に
まで移送する時間。
T5: Time to transfer the unprocessed wafer taken out to the side of the insertion port of the processing device.

■8:そして処理装置内にこの未処理ウェハを挿入する
時間。
■8: And the time to insert this unprocessed wafer into the processing equipment.

の総和(Tp=T++T2+T3+T4+Ts+Ta)
となり、実際にも相当な時間を要する。
Total sum (Tp=T++T2+T3+T4+Ts+Ta)
Therefore, it actually takes a considerable amount of time.

ましてや、第6図(D)に仮想線で示されたように、カ
セット20側から処理装置60の側への移送工程におい
て途中でウニへの回転角位置整合を必須とする場合には
、当該移送時間Tも中にはこのための時間も加算される
ことになる。
Furthermore, as shown by the imaginary line in FIG. 6(D), when it is essential to adjust the rotational angle position of the sea urchin during the transfer process from the cassette 20 side to the processing device 60 side, The time for this will also be added to the transfer time T.

一方、入替操作のための機構系が休止していなければな
らない時間TAiつまり処理装置60による処理時間T
Aは、これもかなり長く掛かることが稀ではない。
On the other hand, the time TAi that the mechanical system must be inactive for the replacement operation, that is, the processing time T by the processing device 60
As for A, it is not uncommon for this to take quite a long time.

こうしたことから明らかなように、処理装置による処理
工程と移送アームを利用した入替工程とが時間的に直列
な関係に置かれている従来の入替方法においては、処理
装置60も移送アーム30も、共に相手方が稼動中であ
るがためにその問丸々停止していなければならない時間
TA、Tpがあり、しかもそれらTA、TPが一般に相
当長くなりがちなことから、生産性の向上はそもそも原
理的な観点からして難しく、せいぜい処理装置自体の処
理速度とか、移送アームの駆動速度自体の高速化等、シ
ステム原理以外の他の要因に頼るしかなく、実際上、低
い生産性でもこれを甘受しなければならない状況にあっ
た。
As is clear from the above, in the conventional replacement method in which the processing step by the processing device and the replacement step using the transfer arm are placed in a serial relationship in time, both the processing device 60 and the transfer arm 30 There are times TA and Tp during which the other party must be completely stopped because the other party is operating, and these TA and TP generally tend to be quite long, so it is difficult to improve productivity in the first place. It is difficult from this point of view, and at best we have no choice but to rely on other factors other than the system principle, such as the processing speed of the processing equipment itself or the drive speed of the transfer arm itself, and in reality, we have to accept this even if productivity is low. I was in an unavoidable situation.

本発明はこうした従来例の実情を緩和すべく成されたも
ので、処理装置待機時間と入替操作のための機構系の待
機時間(アーム待機時間)をそれぞれ短縮可能とするこ
とにより、全体としてのスルー・プツトを容易に向上さ
せ得る処理装置へのウェハ入替方法を提供せんとしたも
のである。
The present invention has been made to alleviate the actual situation of the conventional example, and by making it possible to shorten the processing device standby time and the standby time of the mechanical system for replacement operation (arm standby time), the overall improvement is achieved. The object of the present invention is to provide a method for replacing wafers in a processing apparatus that can easily improve throughput.

〈問題点を解決するための手段) 既述した従来例においては、処理時間と入替時間は共に
時間的に直列な関係にあった。そしてそれがために生産
性の向上を阻んでいた。
<Means for Solving the Problems> In the conventional example described above, both the processing time and the replacement time were in a serial relationship in terms of time. This hindered productivity improvement.

そこで本発明は、上記目的を達成するため、処理時間と
入替時間とを時間的に少なくとも一部では平行経過の関
係とすべく、次のような構成による処理装置へのウェハ
入替方法を提案する。
Therefore, in order to achieve the above object, the present invention proposes a method for exchanging wafers to a processing apparatus having the following configuration so that the processing time and the exchanging time are at least partially parallel in time. .

処理装置から処理済みウェハを取出した後、新たな未処
理ウェハを挿入するウェハ入替方法であって: それぞれ上記処理装置内に直線的に出入りすることによ
り、該処理装置に対し未処理ウェハを挿入したり、該処
理装置から処理済みウェハを取出すことのできる移送ア
ームを一対用意し:上記処理装置内で一枚のウェハの処
理が終わった後、上記一対の移送アームの一方で該処理
済みウェハを処理装置外に取出すと共に; 該一方の移送アームが処理済みウェハを支持した状態の
まま、他方の移送アームに支持してある未処理ウェハを
上記処理装置内に挿入することにより、該処理装置によ
る上記処理を該未処理ウェハに関して再び開始させるこ
と: を特徴とする処理装置へのウェハ入替方法。
A wafer exchange method for inserting a new unprocessed wafer after removing a processed wafer from a processing device, the method comprising: inserting an unprocessed wafer into the processing device by linearly moving in and out of the processing device, respectively; A pair of transfer arms are provided that can take out the processed wafer from the processing device: After one wafer has been processed in the processing device, one of the pair of transfer arms transfers the processed wafer. and taking out the processed wafer from the processing apparatus; and inserting the unprocessed wafer supported by the other transfer arm into the processing apparatus while the one transfer arm supports the processed wafer; A method for exchanging wafers to a processing apparatus, characterized by: restarting the above-mentioned processing on the unprocessed wafer.

〈作用および効果〉 本発明においては、−肘用いる移送アームの中、一方の
アームが処理装置内から処理済みウェハを取出した後は
、この処理済みウェハを例えば所定の一時保管場所に運
ぶ前に、他方のアームが支持している未処理ウェハを処
理装置内に挿入することができ、ために処理装置は、こ
の新たに挿入されてきたウェハに関し、直ちに処理を開
始することができる。
<Operations and Effects> In the present invention, after one arm of the elbow-based transfer arm takes out a processed wafer from the processing apparatus, before transporting the processed wafer to, for example, a predetermined temporary storage location; , an unprocessed wafer supported by the other arm can be inserted into the processing device, so that the processing device can immediately begin processing the newly inserted wafer.

ということは、移送機構の方にしてみれば、上記のよう
に未処理ウェハを処理装置内に直ちに挿入しさえすれば
、その前の処理工程において処理され、処理装置外に取
出されて一方の移送アームにより支持されたままになっ
ている処理済みのウェハを一時保管場所に移したり、続
いてさらに次の処理工程において処理されるべき予定の
未処理ウェハを一方の移送アームにて支持し、次の入替
操作に備えさせるための作業等は、当該処理装置による
処理時間と時間的に平行して行なえば良いようになる。
This means that from the transfer mechanism's point of view, if an unprocessed wafer is immediately inserted into the processing equipment as described above, it will be processed in the previous processing step, taken out of the processing equipment, and transferred to one side. Transferring processed wafers that are still supported by the transfer arms to a temporary storage location, and subsequently supporting unprocessed wafers that are to be processed in the next processing step on one of the transfer arms; Work to prepare for the next replacement operation can be performed in parallel with the processing time of the processing device.

このように、本発明によれば、上記要旨構成中に記載さ
れているように、一対の移送アームを使用し、一方のア
ームが処理装置から処理済みウェハを取出したら直ちに
他方の移送アームが支持している未処理ウェハを処理装
置内に挿入させる手順を踏むため5当該処理に掛かる時
間TAやウェハの入替に要する時間TPが仮に既述の従
来例におけると全く同じであっても、そうした処理作業
と入替作業の少なくとも一部の準備工程は、共に時間的
に平行して実行されるため、先に述べたように、待機す
る方の側から見たアーム待機時間TAとか処理装置待機
時間丁、は共に短くなる。
Thus, in accordance with the present invention, as described in the summary above, a pair of transfer arms is used, and as soon as one arm removes a processed wafer from the processing apparatus, the other transfer arm supports the transfer arm. 5 Even if the time TA required for the processing and the time TP required for wafer replacement are exactly the same as in the conventional example described above, such processing At least part of the preparation process for the work and the replacement work is executed in parallel in time, so as mentioned earlier, the arm standby time TA and the processing equipment standby time D from the side of the standby side are , are both shorter.

仮に処理時間と入替準備時間が同じであれば、アーム待
機時間TAは零となり、処理装置待機時間TPは一対の
アームによフて処理済みウェハが取出され、未処理ウェ
ハが挿入されるまでだけの極めて短い時間だけとなる。
If the processing time and the replacement preparation time are the same, the arm standby time TA will be zero, and the processing equipment standby time TP will be only until the processed wafer is taken out by the pair of arms and the unprocessed wafer is inserted. It will only last for an extremely short period of time.

なお、上記入替準備時間とは、一方のアームによって処
理装置内から処理済みウェハが取出され、他方のアーム
によって未処理ウェハが挿入されるまでの時間を除いた
アーム機構稼動時間であり、これは例えば、処理装置か
ら取出した処理済みウェハをカセット内等、所定の一時
保管場所に挿入した後、当該カセット内から新たな未処
理ウェハを取出してくる時間と考えて良い。
The above exchange preparation time is the arm mechanism operating time excluding the time from when one arm takes out a processed wafer from the processing equipment to when the other arm inserts an unprocessed wafer. For example, it can be considered as the time to take out a new unprocessed wafer from the cassette after a processed wafer taken out of the processing apparatus is inserted into a predetermined temporary storage location such as a cassette.

また、処理時間に対しアームによる入替準備時間の方が
短ければ、その短い分だけ、アームは待機すれば良く、
このときにも、処理装置に関する待機時間Tpは上記の
ように当該処理装置に対する新旧ウェハの入替時間だけ
であるし、逆に処理時間の方がアーム機構側における入
替準備時間より短ければ、当該処理装置の待機時間は上
記新旧ウェハ入替時間にこの短い分だけの時間が加算さ
れただけであって、アームの方には何等待機時間を生じ
させないで済む。
Also, if the replacement preparation time by the arm is shorter than the processing time, the arm only needs to wait for that short amount of time.
At this time as well, the waiting time Tp for the processing equipment is only the time for exchanging old and new wafers for the processing equipment as described above, and conversely, if the processing time is shorter than the replacement preparation time on the arm mechanism side, the waiting time Tp for the processing equipment is The waiting time of the apparatus is simply the short time added to the above-mentioned time for exchanging old and new wafers, and there is no waiting time for the arm.

このようにして、本発明によれば、ウェハを一枚ごとに
処理装置に対し入替処理するこの種の半導体集積回路作
成技術において、その生産性を飛躍的に高めることがで
きる。
In this manner, according to the present invention, productivity can be dramatically increased in this type of semiconductor integrated circuit fabrication technology in which wafers are transferred to a processing apparatus one by one.

く実 施 例〉 第1図には本発明の入替方法に従う望ましい一実施例が
示されている。
Embodiment FIG. 1 shows a preferred embodiment according to the replacement method of the present invention.

本発明は一枚一枚、処理済みウェハを取出しては新たな
未処理ウェハを挿入するシーケンスを取る処理装置60
であれば、適用対象としてその種類を問わないが、例え
ばウェハ上の各所に形成されている抵抗を所定の値にト
リミングするレーザ・トリミング装置等を挙げることが
できる。
The present invention uses a processing device 60 that takes out a processed wafer one by one and inserts a new unprocessed wafer.
If so, it can be applied to any type of device, including, for example, a laser trimming device that trims resistors formed at various locations on a wafer to a predetermined value.

同様に、処理済みウェハ、未処理ウェハを一時的に保管
して置くような装置自体も限定しないが、図示実施例で
は複数枚のウェハを積層状に収納可能なカセット20を
想定している。こうしたカセット20は、既に従来例に
関し述べたと同様のものであって良い。
Similarly, although the device itself for temporarily storing processed and unprocessed wafers is not limited, the illustrated embodiment assumes a cassette 20 capable of storing a plurality of wafers in a stacked manner. Such a cassette 20 may be similar to that already described in connection with the prior art.

本発明においては、処理装置60に対し、ウェハ!0を
一枚づづ支持しながら取出したり挿入できる移送アーム
を一対用いており、これら両移送アーム:]L、、3L
、の具体的な個別構成自体や、ウェハのアームへの選択
的な固定支持手段、アームからの釈放手段等も限定する
ものではないが、少なくともいわゆるリニア・スケ−テ
ィング・メカニズムを取っている必要があり、処理装置
60に対し、直線的に出入り可能なことが要請される。
In the present invention, wafer! A pair of transfer arms are used that can take out and insert 0 one by one while supporting them, and these two transfer arms are: ]L, , 3L.
, the specific individual structure of the wafer, the means for selectively fixing and supporting the wafer to the arm, the means for releasing the wafer from the arm, etc. are not limited, but it is necessary to have at least a so-called linear skating mechanism. Therefore, it is required to be able to enter and exit the processing device 60 in a straight line.

これは慣性の問題からであり、実際上、支持したウェハ
を所定の位置に送り込むに際し、相当程度の高速動作を
許容可能なメカニズムとして、現在の所、他に適当なも
のはない。リニア・スケ−ティング・メカニズムはこの
点、最適で、特にすニア・モータを採用したものが最も
望ましい。
This is due to the problem of inertia, and in reality, there is currently no other suitable mechanism that can allow fairly high-speed movement when feeding a supported wafer into a predetermined position. A linear skating mechanism is optimal in this respect, and one employing a linear motor is particularly desirable.

また、ウェハの選択的な支持、釈放機構は、本発明にお
いてこれも限定するものではないが、既に述べたように
、機械的なチャック方式よりは真空吸着方式を採用した
ものが望ましい。
Further, as for the mechanism for selectively supporting and releasing the wafer, it is preferable to use a vacuum suction system rather than a mechanical chuck system, although the present invention is not limited to this.

この実施例を通じ、本発明の説明を行なうと、今、第1
図(^)に示されるように、処理装置60にて一枚のウ
ェハ10.が処理されているとき、一対の移送アーム3
0−、 、3(L2の中、一方のアーム、例えば移送ア
ーム30−2は、この処理中のウェハ10゜の処理が終
わったらこれを取出すために待機しており、他方の移送
アーム30−Iのウェハ支持部31上には、次に処理さ
れる予定の未処理ウェハ10.−。
The present invention will now be explained through this example.
As shown in the figure (^), one wafer 10. is being processed, the pair of transfer arms 3
0-, , 3 (In L2, one arm, for example, the transfer arm 30-2, is on standby to take out the wafer 10° that is currently being processed after it has been processed, and the other transfer arm 30- On the wafer support part 31 of I, an unprocessed wafer 10.- is scheduled to be processed next.

がすでに支持された状態で待機している。is already supported and waiting.

したがって従来例と異なり、このとき、一時保管装置と
してのカセット20内には、少なくとも二枚のウェハI
01.10+−+用の少なくとも二段の空設22、.2
2.、、がある。理解のため、他の段には全てウェハl
Oを収納した状態で示してあり、当該空設22、よりも
上の段に入っているウェハは処理済みエバは未処理ウェ
ハとして置く。
Therefore, unlike the conventional example, at this time, at least two wafers I are stored in the cassette 20 as a temporary storage device.
01.10+-+ at least two empty spaces 22, . 2
2. ,, there is. For understanding, all other stages have wafers l.
The wafers placed above the vacant space 22 are treated and placed as unprocessed wafers.

各アーム3L、、3L2は、それぞれ直線的な動作が可
能なように誘導路35上に駆動機構34を介して支持さ
れており、例えばこのリニア・スケ−ティング・メカニ
ズムが特に望ましくはリニア・モータ機構による場合、
誘導路35内に埋め込まれた制御磁界発生手段と、駆動
機構34内に設けられた磁界発生手段とが互いに作用し
合い、前進、後退、速度制御、停止等が可能となってい
る。ただしこうした機構系は、後に例示のような本出願
人が用いている機構例に限らず、当業者であれば極めて
容易に組むことができる。
Each arm 3L, 3L2 is supported on a guideway 35 via a drive mechanism 34 so as to be capable of linear movement. For example, this linear skating mechanism is particularly preferably a linear motor. In case of mechanism,
The control magnetic field generating means embedded in the guide path 35 and the magnetic field generating means provided in the drive mechanism 34 interact with each other, allowing forward movement, backward movement, speed control, stopping, etc. However, such a mechanism system is not limited to the mechanism example used by the present applicant as illustrated later, and can be assembled extremely easily by a person skilled in the art.

処理装置60内においてウェハ10.の処理が終わると
、ウェハを支持していない第二移送アーム30−2が第
1図(B)に示されているように前進方向Fに駆動され
、処理装置60内に侵入した後、若干上方Uに持ち上げ
られて処理済みウェハ10.をウェハ支持部31上に載
せ、同時にこのとき、図示しない真空吸着機構を稼動さ
せて、当該ウェハ支持部31上に処理済みウェハlθ五
を仮固定する。
In the processing apparatus 60, the wafer 10. When the processing is completed, the second transfer arm 30-2, which does not support the wafer, is driven in the forward direction F as shown in FIG. The processed wafer 10 is lifted upwardly U. is placed on the wafer support part 31, and at the same time, a vacuum suction mechanism (not shown) is operated to temporarily fix the processed wafer lθ5 on the wafer support part 31.

なおこの実施例では、これも後述の参考機構例に示され
ているように、第一、第二移送アーム30−、 、 :
]O−2は、共に一体的に動くように構成されている。
In addition, in this embodiment, as also shown in the reference mechanism example described later, the first and second transfer arms 30-, , :
]O-2 are configured to move together integrally.

ただし原理的にはそのときどきで本発明の各工程上、必
要な動きをすることができれば、これら一対のアーム3
(L、 、 30−2はそれぞれ個別に動くようにされ
ていても良い。
However, in principle, if the necessary movements can be made in each process of the present invention at that time, these pair of arms 3
(L, 30-2 may be made to move individually.

処理装置60内に侵入して処理済みウェハ10.を取り
上げた第二移送アーム30−2は、次いで後方Rに駆動
され、当該処理済みウェハ10.を処理装置60内から
取出す。この状態は第1図(C)に示されている。
The processed wafer 10 enters the processing apparatus 60. The second transfer arm 30-2 that has picked up the processed wafer 10. is taken out from inside the processing device 60. This state is shown in FIG. 1(C).

しかるに本発明においては、この処理済みウェハを処理
装置60から取出した後、可及的速やかに、すでに待機
させてあった未処理ウェハ10.−。
However, in the present invention, after the processed wafer is taken out from the processing apparatus 60, the unprocessed wafer 10. −.

を処理装置60内に挿入すべく図る。is intended to be inserted into the processing device 60.

そのため、一対の移送アーム3(L、 、 30−2は
第1図(D)に示されているように、若干下方りに駆動
され、第一アーム30−1に載っている未処理ウェハ1
0、−、を処理装置60内に挿入するに適当な高さにさ
れた後、第一アーム30−1のみが前方Fに駆動されて
、当該未処理ウェハ10..を処理装置60内の所定被
処理、加工位置に送り込む。
Therefore, the pair of transfer arms 3 (L, 30-2) are driven slightly downward, as shown in FIG.
After the unprocessed wafer 10 . .. is sent to a predetermined processing position in the processing device 60.

このとき、一応、未処理ウェハ10.−、は所定の設置
位置のやや上方に位置するように挿入されるので、第1
図(E)に示されているように、こうした+1f方挿入
後、第一アーム30−1はやや下方りに駆動され、未処
理ウェハ10=、を設置位置に載せながら、同時に図示
しない真空吸着機構の動作を停止することにより、未処
理ウェハIO=、をその白石で当該処理装置内所定設置
位置に載置する。
At this time, the unprocessed wafer 10. -, are inserted slightly above the predetermined installation position, so the first
As shown in FIG. By stopping the operation of the mechanism, the unprocessed wafer IO= is placed with its white stone at a predetermined installation position in the processing apparatus.

その後、第一移送アーム30−3が後方Rに引き戻され
ると、この時点以降、処理装置60では直ぐにでも新た
に挿入された未処理ウェハ10.−、の処理が可能とな
る。
Thereafter, when the first transfer arm 30-3 is pulled back to the rear R, from this point on, the processing apparatus 60 immediately receives the newly inserted unprocessed wafer 10. −, processing becomes possible.

一方で、第二移送アーム30−2の方にこの時点では載
せられたままになっている前回処理による処理済みウェ
ハ10.は、この処理装置60による処理時間を利用し
、カセット20内の所定の段、この場台上の空設22.
に収納することができる。
On the other hand, the previously processed wafer 10. which is still placed on the second transfer arm 30-2 at this point. By using the processing time by the processing device 60, the empty space 22. on the predetermined stage in the cassette 20, on this platform.
can be stored in.

すなわち、一対の移送アーム機構は、処理装置60によ
る処理が開始しても待機することなく、独立に上方Uに
動くことができ、第二移送アームをカセット20に対す
る所定高さに位置付けた後、第1図(F)に示されるよ
うに、前方Fに駆動することにより、処理済みウェハ1
0.を空設22.に向けて送ることができる。
That is, the pair of transfer arm mechanisms can independently move upward U without waiting even after the processing by the processing device 60 starts, and after positioning the second transfer arm at a predetermined height with respect to the cassette 20, As shown in FIG. 1(F), by driving forward F, the processed wafer 1
0. Blank 22. can be sent to.

そこで、これまでの移送アームからのウェハ釈放機構と
同様の手順により、第1図(G)に示されているように
、やや下方りに第二移送アーム30−2を駆動しながら
真空吸着機構の動作を停止し、自重によフて当該処理済
みウェハ10.の直径方向で対向する両縁が対応する収
納段22.の上面にて支えられるべくすれば、後は第二
移送アーム30−2を後方Rに引き出すことにより、目
的の処理済みウェハ10.の収納操作を終えることがで
き、引き続いて、現在は空となっている第一移送アーム
のウェハ支持部31上に、さらに次回処理予定の未処理
ウェハ10.−2を仮固定する作業に移ることができる
Therefore, using the same procedure as the conventional mechanism for releasing the wafer from the transfer arm, as shown in FIG. 1(G), while driving the second transfer arm 30-2 slightly downward, the vacuum suction mechanism The operation of the processed wafer 10. is stopped and the processed wafer 10. The diametrically opposed edges of the corresponding storage stage 22. After that, by pulling out the second transfer arm 30-2 backward R, the target processed wafer 10. The unprocessed wafers 10. to be processed next time are then placed on the wafer support section 31 of the first transfer arm, which is now empty. -2 can now be temporarily fixed.

すなわち、第1図(H)に示されているように、第一移
送アーム30−7をカセット20に対して適当なる高さ
に位置付けた後、前方Fに駆動してそのウェハ支持部3
1を目的の未処理ウェハ10.2の下にまで挿入し、若
干持ち上げて当該未処理ウェハ10、−2をウェハ支持
部3I上に載せながら図示しない真空吸着機構を稼動さ
せ、ウェハ支持部上にこの未処理ウェハIOト、を仮固
定した状態で第一移送アーム30−1を後方Rに引き戻
せば良い。
That is, as shown in FIG. 1(H), after positioning the first transfer arm 30-7 at an appropriate height relative to the cassette 20, the first transfer arm 30-7 is driven forward F to transfer its wafer support 3.
1 to below the target unprocessed wafer 10.2, lift it up slightly, and while placing the unprocessed wafer 10,-2 on the wafer support 3I, operate a vacuum suction mechanism (not shown), and place the unprocessed wafer 10.2 on the wafer support 3I. The first transfer arm 30-1 may be pulled back to the rear R while the unprocessed wafer IO is temporarily fixed.

その後、第1図(11)中に仮想線で示されているよう
に、必要に応じ、引き出した未処理ウェハ1O1−2の
回転角位置を整合させる等してから一対のアーム機構を
下方りに駆動し、現在はウェハ支持部が空いている第二
移送アーム3o−2が現在処理装置60内にて処理され
ているウェハ10.−、を処理後に取出すのに適当な高
さ位置に付ければ、これは第1図(A)の状態と全く同
じ状態となり、もフて以降、第1図(G)までの上記手
順を繰返すことにより、カセット20内に保管されてい
る未処理ウェハを順に処理させた後、収納し直す作業が
効率良く行なえる。
Thereafter, as shown by the imaginary line in FIG. 1 (11), if necessary, the rotational angle position of the unprocessed wafer 1O1-2 that has been pulled out is aligned, and then the pair of arm mechanisms are moved downward. The second transfer arm 3o-2, whose wafer support portion is currently vacant, transfers the wafer 10. which is currently being processed in the processing apparatus 60. -, placed at an appropriate height for removal after processing, it will be in exactly the same state as in Figure 1 (A), and after that, repeat the above steps up to Figure 1 (G). This makes it possible to efficiently process the unprocessed wafers stored in the cassette 20 and then re-storage them.

特に本発明の場合、第1図(C)にて処理済みウェハ1
0.を取出した後、第1図(G)で示されるようにさら
に次回の処理予定ウェハを準備して置くまでの入替準備
作業は、処理装置60による処理作業と平行して行なう
ことができる。こうしたことから、処理装置側とアーム
機構側の動作に関し両者の時間関係を、従来例に即して
先に挙げた第7図と対比的に示すと第5図示のようにな
る。
In particular, in the case of the present invention, the processed wafer 1 shown in FIG.
0. After the wafer is taken out, the replacement preparation work until wafers to be processed next time are prepared as shown in FIG. 1(G) can be performed in parallel with the processing work by the processing device 60. For this reason, the time relationship between the operations of the processing device side and the arm mechanism side is shown in FIG. 5 in contrast to FIG. 7 mentioned earlier in accordance with the conventional example.

処理装置60によりウェハ一枚分の処理が終わると、本
発明の適用されている場合、この処理済みウェハが一方
の移送アームによフて取出された後、可及的速やかに、
他方の移送アームに支持されて待機していた未処理ウェ
ハが処理装置60内に挿入され、したがって要すればそ
の後、直ちに処理装置60はこの新たに挿入されたウェ
ハの処理動作に入ることができる。
When one wafer has been processed by the processing device 60, when the present invention is applied, the processed wafer is taken out by one of the transfer arms, and then as soon as possible,
The unprocessed wafer that has been waiting supported by the other transfer arm is inserted into the processing device 60, so that the processing device 60 can immediately thereafter, if desired, enter into processing operation for this newly inserted wafer. .

一方、一旦、このようにして新たなウェハを処理装置6
0内に挿入してしまえば、処理装置60がこのウェハの
処理を行なっているのと平行して、処理装置60内から
取出した処理済みウェハをカセット20にまで移送し、
収納させた後、さらに次回の処理のための未処理ウェハ
を当該カセット20内の所定の段から取出し、再度これ
を移送してきて処理装置の外側で待機させて置くことが
できる。
On the other hand, once a new wafer is placed in the processing device 6 in this way,
Once inserted into the cassette 20, while the processing device 60 is processing the wafer, the processed wafer taken out from the processing device 60 is transferred to the cassette 20.
After being stored, unprocessed wafers for next processing can be taken out from a predetermined stage within the cassette 20, transferred again, and placed on standby outside the processing apparatus.

したがって、処理装置60が稼動しないで待機しなけれ
ばならない時間TPは、処理したウェハが取出される時
間T1と、新たなりエバが挿入される時間T6との僅か
な和時間であり、一方、アーム機構が待機しなければな
らない時間T^も、処理時間に対して既述の入替準備に
掛かる時間が短かった場合、その差だけとなる。
Therefore, the time TP during which the processing device 60 has to stand by without operating is a small sum of the time T1 for taking out the processed wafer and the time T6 for inserting a new evaporator. The time T^ that the mechanism must stand by will also be the same as the processing time if the time required for the above-mentioned replacement preparation is shorter.

逆に処理装置から取出したウェハをカセット等の所定保
管装置に収めてから新たな次回処理用未処理ウェハを処
理装置脇にまで持7てくる入替準備時間(T2+ ’r
3+ 7.+ Ts)の方が処理時間よりも長く掛かる
場合、アームの方の待機時間TAは実質的に牢になり(
常に何等かの動きを連続的になしている)、処理装置の
方の待機時間T、が準備時間との差の分だけ、さらに長
くなるが、いずれにしても明らかなように、上記平行動
作が行なわれている結果、従来例における直列シーケン
スに限定されている場合に比し、処理装置60も移送ア
ーム機構も、共に待機時間は大幅に短縮され、結局、本
発明によった場合の生産性ないしスルー・プツトは著し
く向上する。
On the other hand, the replacement preparation time (T2 + 'r
3+ 7. + Ts) takes longer than the processing time, the arm's waiting time TA becomes practically a prison (
(always some sort of continuous movement), the waiting time T of the processing device becomes longer by the difference from the preparation time, but in any case, as is clear, the above parallel movement As a result, the standby time of both the processing device 60 and the transfer arm mechanism is significantly reduced compared to the case where the conventional example is limited to a serial sequence. Performance or throughput is significantly improved.

以上、本発明に関し説明したが、本発明の要旨構成を外
さない限り、本発明は各種の半導体回路製造方法ないし
装置に適用することができ、上記実施例中の移送経路途
中には、さらに各種の処理工程が付加されていて差支え
ない。
Although the present invention has been described above, the present invention can be applied to various semiconductor circuit manufacturing methods and devices as long as the gist of the present invention is not departed from. There is no problem if additional processing steps are added.

そうしたものにおいても、少なくとも本発明における合
理的なウェハ入替操作が取られていれば、処理装置と移
送用アーム機構を同時に、ただしそれぞれ別途な目的に
従っての動作を許し得るので、それらの平行動作の時間
が重なり合う分は確実に、従来の直列シーケンスに比し
、時間を節約することができる。
Even in such a case, at least if the rational wafer exchange operation according to the present invention is taken, it is possible to allow the processing device and the transfer arm mechanism to operate simultaneously, but each according to a separate purpose. The time overlap certainly provides time savings compared to conventional serial sequences.

なお、すでに何度か述べたように、例えば上記実施例中
におけるカセット20等はもとより、本発明の工程に従
う動きが許される機構であれば、任意のアーム機構を採
用して差支えない。また、図面中において仮想線で示さ
れ、若干の説明を施したウェハの回転角位置整合装置等
も任意のものを必要に応じ選択することができる。
As already mentioned several times, in addition to the cassette 20 in the above embodiments, any arm mechanism may be used as long as it allows movement according to the process of the present invention. Further, the wafer rotational angle position matching device shown by imaginary lines in the drawings and slightly explained can be selected as required.

しかし本発明の理解の幇助のため、本出願人が本発明を
適用して構成したレーザによる抵抗トリミング装置に用
いられているカセット周りの構成例やアーム周りの構成
例、さらにウニ八回転角位置整合装置の構成例を概略的
にではあるが見易い形にして第2〜4図に例示して置く
However, in order to assist in understanding the present invention, the present applicant has provided an example of the configuration around the cassette and the configuration around the arm used in a laser resistance trimming device configured by applying the present invention, as well as an example of the rotation angle position of the sea urchin. Examples of the configuration of the alignment device are illustrated in FIGS. 2 to 4 in a schematic but easy-to-see form.

まずカセット20に関して第2図に即し、簡単に説明す
ると、カセット20は一対の側壁21 、21を有し、
上端相互は必要に応じ天板24で連結されると共に、側
壁21 、21の向かい合う内面にはそれぞれ高さ方向
に複数条の溝22.・・・・・・が切られ、全体は樹脂
射出成形品となっている。
First, the cassette 20 will be briefly described with reference to FIG. 2. The cassette 20 has a pair of side walls 21, 21,
The upper ends are connected to each other by a top plate 24 as necessary, and the opposing inner surfaces of the side walls 21, 21 are each provided with a plurality of grooves 22. ...... are cut out, and the whole is a resin injection molded product.

カセット20は適当なる支持面23上に着脱可能に載せ
られ、また、互いには高さ方向に適宜な間隔を置いて設
けられている側壁21 、21の溝22.・・・・は、
それぞれが既述した各段のウェハ収納棚を構成し、した
がって適当なる材質のウェハ10は、その直径方向で対
向する縁部がこの溝内に適当深さ入り込むことにより、
カセット内に保管される。
The cassette 20 is removably placed on a suitable support surface 23, and grooves 22. ····teeth,
Each of them constitutes the wafer storage shelf of each stage described above, and therefore, the wafers 10 made of a suitable material are inserted into this groove to a suitable depth with their diametrically opposing edges.
stored in a cassette.

カセット20はまた、ウェハ存否検出装置50により、
その内部の各段ごとにウェハを収納しているか否かが監
視される。このウェハ存否検出装置50は、全体として
の各種機構や部品類を支持する支持台とかハウジング5
1を有し、このハウジングの中には反射型のフォト・イ
ンタラプタ52(仮想線)が収められている。
The cassette 20 is also detected by a wafer presence/absence detection device 50.
It is monitored whether wafers are stored in each internal stage. This wafer presence/absence detection device 50 is constructed using a support stand or a housing 5 that supports various mechanisms and parts as a whole.
1, and a reflective photo-interrupter 52 (indicated by a phantom line) is housed in this housing.

フォト・インタラプタ52は、周知のように、光学的な
非接触物体検出装置として各種のモジュールが市販され
ている外、ディスクリートに構成される等しても極めて
良く用いられており、原理的には投光器から輻射したレ
ーザ光等の光ビームの光路中に物体lOが存在すると、
この物体への入射点に関する所定の入射角に対し、同じ
反射角の経路に沿って反射された反射光が受光器に入る
ことにより、当該物体の存在を非接触検出するものであ
る。
As is well known, the photo-interrupter 52 is widely used as an optical non-contact object detection device in various modules on the market, and also in a discrete configuration. When an object exists in the optical path of a light beam such as a laser beam emitted from a projector,
With respect to a predetermined angle of incidence regarding the point of incidence on this object, reflected light that is reflected along a path with the same reflection angle enters a light receiver, thereby detecting the presence of the object in a non-contact manner.

もちろん逆に物体10が存在しなければ、上記反射メカ
ニズムは生起せず、受光器の出力に変換電気出力は生じ
ないから、このことをして物体の非存在を検出すること
ができる。
Of course, conversely, if the object 10 is not present, the reflection mechanism described above will not occur and no converted electrical output will occur at the output of the receiver, so this can be used to detect the absence of an object.

ここでは当然、上記物体lOはウェハであり、当該ウェ
ハに対する図示しない投光器、受光器の幾何的な相対位
置は、ある程度の許容誤差を除き、かなり正確に初期設
定される。
Of course, the object IO is a wafer here, and the geometrical relative positions of a light projector and a light receiver (not shown) with respect to the wafer are initialized fairly accurately, except for certain tolerances.

またここに例示されている機構系においては、移送アー
ム機構共々、このウェハ存否検出装置50は先に述べた
矢印U−Dで示される上下方向に走査可能となっている
In the mechanical system illustrated here, the wafer presence/absence detecting device 50 as well as the transfer arm mechanism can scan in the vertical direction indicated by the arrow UD mentioned above.

こうした走査の結果、図示されているウェハ1゜が検出
された場合、このウェハ10をカセット外に取り出して
次の工程のための所定個所にまで移送するには、図示さ
れていない駆動機構系により、アーム30の高さが矢印
U−D方向に沿ってまず調整された後、すでに本発明説
明のために既述したメカニズムにより、アーム30がカ
セット内に侵入してウェハを捕え、逆にウェハを所定段
に収めるときには、当該段が空いているか否かがまず検
出された後、既述の収納動作が生起する。
As a result of such scanning, when the illustrated wafer 1° is detected, a drive mechanism system (not illustrated) is used to remove the wafer 10 from the cassette and transport it to a predetermined location for the next process. , after the height of the arm 30 is first adjusted along the direction of the arrow U-D, the arm 30 enters into the cassette to capture the wafer, and vice versa, according to the mechanism already described for the explanation of the present invention. When storing the item in a predetermined stage, it is first detected whether or not the relevant stage is empty, and then the above-mentioned storing operation occurs.

第2図中においては、本発明で一対用いられる移送アー
ム3L、、30−2の中、−木しか示していないが、こ
れは一対のアームは共に同じ構成で良いため、一本で代
表させ、図面の煩雑化を避けたためである。したがって
サフィックス“−8,−2”は省略し、移送アーム30
として示してある。
In FIG. 2, only a tree is shown among the transfer arms 3L, 30-2 used in the pair of the present invention, but this is because the pair of arms may have the same configuration, so one piece is used as a representative. This is to avoid complicating the drawings. Therefore, the suffix "-8, -2" is omitted, and the transfer arm 30
It is shown as.

このアーム30は、先端で切開かれて馬蹄形となってい
るウェハ支持部31を有し、その上にウェハlOを載持
可能となっている一方、当該ウェハ支持部31の表面に
は、適当な位置(図示の場合、棒状にな)て後方に伸び
ているアーム主体部分32に対する馬蹄形支持部31の
付は根近く)に真空吸着用の開口33が開けられている
This arm 30 has a wafer support part 31 which is cut out at the tip and has a horseshoe shape, on which a wafer lO can be placed. An opening 33 for vacuum suction is provided at a position (near the base of the horseshoe-shaped support portion 31 relative to the arm main body portion 32 extending rearward in a rod-like shape in the illustrated case).

このアーム部分をのみ取出し、本発明に従う一対構成で
示すと、第3図に示すようになっている。
When only this arm portion is taken out and shown as a pair according to the present invention, it is as shown in FIG. 3.

すなわち、上記の真空吸着用の開口33は、アーム主体
32内を通る通路(図示せず)からさらには外付けのチ
ューブ36 、36を介し、適当なるコンプレッサ等の
真空吸着機(図示せず)の吸引部に接続され、したがっ
て、ウェハ支持部31の上にウェハ10を載持した状態
下で当該真空吸着機を稼動させると、ア・−ム30に対
し相対的なずれを生むことなく、安定にウェハ10を支
持、固定することができ、その状態でまた、図示しない
駆動機構により、当該アーム30をネジ軸37に沿って
上下方向に駆動することがてきる。
That is, the above-mentioned vacuum suction opening 33 is connected to a vacuum suction machine (not shown) such as a suitable compressor through a passage (not shown) passing through the arm main body 32 and further via external tubes 36, 36. Therefore, when the vacuum suction machine is operated with the wafer 10 mounted on the wafer support part 31, there is no relative displacement with respect to the arm 30. The wafer 10 can be stably supported and fixed, and in this state, the arm 30 can be driven vertically along the screw shaft 37 by a drive mechanism (not shown).

このネジ軸37には手動ハンドル38も付いているが、
これはもちろん、手動により高さ方向にアーム機構を動
かすためのものである。
This screw shaft 37 also has a manual handle 38,
This is, of course, for manually moving the arm mechanism in the height direction.

第一、第二移送アーム:]O−,、30−2は、図示さ
れているようにかなり高さ方向に接近して配置されてい
るが、それぞれに第1図中にあって模式的に示した誘導
路35 、35を有し、これとの間でリニア・スケ−テ
ィング動作をする駆動部34 、34も個々に有してい
て、これにより、すでに述べた本発明方法の実現に必要
な個別的前後方向動が可能となっている。
The first and second transfer arms:] O-, 30-2 are arranged quite close to each other in the height direction as shown in the figure, and are shown schematically in FIG. It has the illustrated guideways 35, 35 and also has individual drives 34, 34 for linear skating movement therebetween, which are necessary for realizing the method of the invention already described. Individual forward and backward movements are possible.

このような一対の移送アーム機構に対し、第2図示のウ
ェハ存否検出装置50は動的に一体的に動くべく、当該
アーム機構の適当なる部分に固定となっている。
The wafer presence/absence detecting device 50 shown in the second figure is fixed to a suitable part of the pair of transfer arm mechanisms so as to dynamically move together with the pair of transfer arm mechanisms.

ところで、第2図に特に良く示したように、通常、用い
られるウェハlOの外径輪郭は、全周にわたって円形の
ままではなく、その周縁の一部が直線状に切り落とされ
たり、ノツチ状の刻みが入れられたりして、非円形輪郭
部分11となっている。
By the way, as shown particularly well in FIG. 2, the outer diameter contour of the wafer 10 normally used does not remain circular over the entire circumference, but a portion of the periphery is cut off in a straight line or has a notched shape. Notches are added to form a non-circular contour portion 11.

こうした直線状の切り落としとかノツチは、各処理装置
内にウェハを特に自動装置で挿入するに際し、その処理
装置に設定されている処理のための座標系に対し、ウェ
ハ上の被処理対象部分を正しく合致させるための回転角
位置表示用である。
These linear cuts or notches are necessary to ensure that the portion to be processed on the wafer is correctly positioned relative to the processing coordinate system set in the processing equipment when the wafer is inserted into each processing equipment, especially using automated equipment. This is for displaying the rotational angle position for matching.

というのも、もしこうした回転角位置表示用の非円形輪
郭部分11がなく、ウェハがその全周にわたりほぼ一定
の径の円形輪郭を保フていると、どの向きに処理装置内
に挿入したときに正しい方向となるのか、例えば移送ア
ーム等の自動挿入装置はこれを知る術がないからである
This is because, if there is no such non-circular contour portion 11 for indicating the rotation angle position and the wafer maintains a circular contour with a substantially constant diameter over its entire circumference, it will be difficult to determine which direction the wafer is inserted into the processing equipment. This is because an automatic insertion device such as a transfer arm has no way of knowing whether the direction is correct or not.

換言すれば、この非円形輪郭部分11は座標系整合ない
し方向付けのための目印であり、一般にフラット・ファ
インダーとかノツチ・ファインダー等と呼ばれる自動回
転角整合装置において当該非円形輪郭部分11を検出す
ることにより、これが所定の回転角位置にまで来るよう
ウェハを回転して所定の座標系整合をなし、その後にこ
こで述べている移送アーム機構等の自動挿入装置でこの
座標整合されたウェハを処理装置内に挿入するべく使わ
れる。
In other words, this non-circular contour portion 11 is a mark for coordinate system alignment or orientation, and the non-circular contour portion 11 is detected by an automatic rotation angle alignment device generally called a flat finder or notch finder. Then, the wafer is rotated so that it reaches a predetermined rotational angle position to achieve a predetermined coordinate system alignment, and then the coordinate-aligned wafer is processed by an automatic insertion device such as the transfer arm mechanism described here. Used to be inserted into a device.

例えばフラット・ファインダーの場合、第4図示のよう
な構成が採用される。
For example, in the case of a flat finder, a configuration as shown in FIG. 4 is adopted.

上面に対象とするウェハlOの周縁を載せる支持縁部4
!があり、中心には上端でウェハを真空吸着できる回転
軸42が設けられている。
A support edge 4 on which the periphery of the target wafer 10 is placed on the upper surface
! A rotary shaft 42 is provided at the center, and the upper end can vacuum-adsorb the wafer.

ウェハ10を支持したアーム、例えば図示の場合、第一
移送アーム30−1が図中の矢印り方向に駆動された後
、F方向に駆動されて図示のフラット・ファインダー4
0の上記支持縁部41上にウェハを位置付け、すでに説
明したようにして真空吸着を解き、ウェハを釈放した後
、後退すると、代わりにウェハを真空吸着した回転軸4
2が回転し、同時に投光器と受光器とからなる透過型の
フォト・インタラプタ43が稼動する。
The arm supporting the wafer 10, for example, the first transfer arm 30-1 in the illustrated case, is driven in the direction of the arrow in the figure, and then driven in the F direction to move the illustrated flat finder 4.
After positioning the wafer on the support edge 41 of 0, releasing the vacuum suction as described above, and releasing the wafer, when the wafer is moved back, the rotating shaft 4 that vacuum suctioned the wafer replaces the wafer.
2 rotates, and at the same time, a transmission type photo-interrupter 43 consisting of a light projector and a light receiver is activated.

このフォト・インタラプタ43は、支持縁部41の一部
を切欠き、この切欠き部分に投光器側から受光器側へ光
ビームを通すようになっており、したがワて支持縁部4
1上に載っているウェハが回転されると、このフォト・
インタラプタの下を非円形輪郭部分11が通過している
ときだけ、受光器側にて光ビームを捕えることができ、
これにより、ウェハの回転角位置を知ることができる。
This photo-interrupter 43 has a part of the support edge 41 cut out, and a light beam is passed through this cutout from the emitter side to the receiver side.
When the wafer placed on 1 is rotated, this photo-
Only when the non-circular contour portion 11 passes under the interrupter, the light beam can be captured on the receiver side,
This makes it possible to know the rotational angular position of the wafer.

一般にこの光ビームは、周波数が既知のパルス・ビーム
とされ、したがってウェハの一回転あたりに受光器によ
り検出されるパルス数を勘定することにより、ウェハの
回転角位置を相当な精度で検出することができる。
Generally, this light beam is a pulsed beam with a known frequency, and therefore the rotational angular position of the wafer can be detected with considerable accuracy by counting the number of pulses detected by the receiver per revolution of the wafer. Can be done.

したがって、仮に第2図に示されるようなカセット20
内にその当初、人手により複数枚のウェハを収納したと
き、収納されたウェハが適当な回転角方向を向いていて
も、このフラット・ファインダー40を通すことにより
、処理装置60に挿入するn「には全て、所定の回転角
方向に一致させることができる。
Therefore, if the cassette 20 shown in FIG.
Initially, when a plurality of wafers are manually stored in the wafer, even if the wafers are oriented at an appropriate rotation angle, they can be inserted into the processing device 60 by passing through the flat finder 40. can all be made to coincide with a predetermined rotation angle direction.

以上、本出願人が本発明を通用した装置に用いた各構成
要素についても簡単ではあるが説明を施し、本発明理解
の助けとした。もっとも、本願とは別途出願するように
、ウェハ存否検出装置50における誤検出要因の除去の
ための改良や、フラット・ファインダー40に対する位
置付けのときの改良等も図っているが、本発明には直接
の関係がなく、こうした改良された製造システムはもと
より、上記周辺機構には従来用いられていたものをその
まま援用する半導体回路製造系にも、本発明は全く同様
、有効に適用可能である。
Above, each component used by the present applicant in the device to which the present invention has been applied has been explained, albeit briefly, to aid in understanding the present invention. However, as filed separately from the present application, improvements have been made to eliminate the causes of false detection in the wafer presence/absence detection device 50, improvements in positioning with respect to the flat finder 40, etc., but they are not directly related to the present invention. The present invention is equally and effectively applicable not only to such an improved manufacturing system but also to a semiconductor circuit manufacturing system in which conventionally used peripheral mechanisms are used as they are.

なあ、移送アームに関するリニア・スケ−ティングとは
、デジタル的な動作のリニア・ステッピングを含む概念
である。
Note that the linear skating regarding the transfer arm is a concept that includes linear stepping of digital operation.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による処理装置へのウェハ入替方法の望
ましい一実施例の工程図、第2図は本発明方法を通用可
能な装置系に用いられるウェハ保管装置としてのカセッ
トの一例の概略構成図、第3図は本発明方法の実現のた
めに用いる一対の移送アーム機構の一例の概略構成図、
第4図はウェハ移送過程中において用いられることある
回転角位置整合装置としてのフラット・ファインダー構
成例の概略構成図、第5図は本発明を適用した場合の処
理装置と移送アーム機構の動作関係を時間て追った説明
図、第6図は従来におけるウェハ入替方法の説明図、第
7図は当該従来例おいて処理装置と移送アーム機構とが
時間的に直列な関係でしか動作しないことを示す説明図
、である。 図中、10 、10+ 、to、−、、101−2はウ
ェハ、20は保管装置としてのカセット、22 、22
+ 、 22+−+はウェハ収納段、30 、30−+
 、 30−2は直線的に動くことのできる移送アーム
、31はウェハ支持部、60は処理装置である。 一 ! 第4図 1−0クエハ フワッ7/、・ファインタ゛− 煕幻球狭置
FIG. 1 is a process diagram of a preferred embodiment of the method for exchanging wafers to processing equipment according to the present invention, and FIG. 2 is a schematic configuration of an example of a cassette as a wafer storage device used in an equipment system to which the method of the present invention can be applied. 3 are schematic configuration diagrams of an example of a pair of transfer arm mechanisms used to realize the method of the present invention,
FIG. 4 is a schematic configuration diagram of a flat finder configuration example as a rotation angle position alignment device that may be used during the wafer transfer process, and FIG. 5 is the operational relationship between the processing device and transfer arm mechanism when the present invention is applied. FIG. 6 is an explanatory diagram of a conventional wafer exchange method, and FIG. 7 shows that in the conventional example, the processing device and the transfer arm mechanism operate only in a temporally serial relationship. FIG. In the figure, 10, 10+, to, -, 101-2 are wafers, 20 is a cassette as a storage device, 22, 22
+, 22+-+ are wafer storage stages, 30, 30-+
, 30-2 is a transfer arm that can move linearly, 31 is a wafer support, and 60 is a processing device. one! Figure 4 1-0 Kuehawafu 7/・Fine type Higenkyu Narrow

Claims (1)

【特許請求の範囲】 処理装置から処理済みウェハを取出した後、新たな未処
理ウェハを挿入するウェハ入替方法であって; それぞれ上記処理装置内に直線的に出入りすることによ
り、該処理装置に対し未処理ウェハを挿入したり、該処
理装置から処理済みウェハを取出すことのできる移送ア
ームを一対用意し; 上記処理装置内で一枚のウェハの処理が終わつた後、上
記一対の移送アームの一方で該処理済みウェハを処理装
置外に取出すと共に; 該一方の移送アームが処理済みウェハを支持した状態の
まま、他方の移送アームに支持してある未処理ウェハを
上記処理装置内に挿入することにより、該処理装置によ
る上記処理を該未処理ウェハに関して再び開始させるこ
と; を特徴とする処理装置へのウェハ入替方法。
[Scope of Claim] A wafer exchange method that inserts a new unprocessed wafer after taking out a processed wafer from a processing device; A pair of transfer arms are prepared into which unprocessed wafers can be inserted and processed wafers can be taken out from the processing equipment; On the other hand, the processed wafer is taken out of the processing apparatus, and while the processed wafer is supported by the one transfer arm, the unprocessed wafer supported by the other transfer arm is inserted into the processing apparatus. A method for exchanging wafers to a processing apparatus, comprising: causing the processing apparatus to restart the above-mentioned processing on the unprocessed wafer.
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