JPS63266729A - Cathode of dc-type plasma luminous element and its manufacture - Google Patents

Cathode of dc-type plasma luminous element and its manufacture

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JPS63266729A
JPS63266729A JP9861587A JP9861587A JPS63266729A JP S63266729 A JPS63266729 A JP S63266729A JP 9861587 A JP9861587 A JP 9861587A JP 9861587 A JP9861587 A JP 9861587A JP S63266729 A JPS63266729 A JP S63266729A
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JP
Japan
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cathode
electroless nickel
nickel alloy
light emitting
emitting device
Prior art date
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Application number
JP9861587A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideo Sawai
澤井 秀夫
Hiromi Takahashi
高橋 博実
Yoshitaka Terao
芳孝 寺尾
Masao Ikehata
池端 昌夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To make a cathode of a plasma luminous element excellent in its sputtering-resisting performance by forming a non-electrolysis nickel alloy film as at least a surface layer of said cathode. CONSTITUTION:A conductive layer 21 is formed on an insulating substrate 11, and the whole exposed part of this conductive layer 21 is coated with a non-electrolysis nickel alloy film 25. An alloy of nickel-tungsten-phosphorus, an alloy of nickel-M-phosphorus, and an alloy of nickel-M-boron (where M is molybdenum, chromium copper, iron, or the like) are used as this non- electrolysis nickel alloy. Hence, sputteringresisting performance of a cathode is much improved compared with a material obtained from paste. Even if a voltage applied across the cathode and an anode is made high, no damage occurs on the cathode so that a plasma luminous element of high brightness can be obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) この発明は、直流型プラズマ発光素子の陰極の構造と、
この陰極の製造方法とに関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) This invention relates to a structure of a cathode of a DC type plasma light emitting device,
The present invention relates to a method for manufacturing this cathode.

(従来の技m) 圧閉されたガラス管内に種々のガスを封入し、このガス
空間中に露出させた陽極及び陰極間に高電圧を印加する
ことによって上述のガスを放電させて発光させる装置が
従来から知られている。
(Conventional technique m) A device in which various gases are sealed in a pressurized glass tube and a high voltage is applied between an anode and a cathode exposed in this gas space to discharge the gases and emit light. has been known for a long time.

このような装置はプラズマ発光素子と称され、ディスプ
レイパネルや光学ヘッド等に応用する試みがなされてお
り、一部は実用化されでいる。
Such devices are called plasma light emitting devices, and attempts have been made to apply them to display panels, optical heads, etc., and some of them have been put into practical use.

プラズマディスプレイパネル(以下、PDPと略称する
こともある。)は、動作方法の違いにより交流型と直流
型とに区別される0両者共に一長一短はあるが、動作回
路の闇易ざの点では直流型のものが優れでいる。
Plasma display panels (hereinafter sometimes abbreviated as PDP) are classified into AC type and DC type depending on the operating method.Although both have advantages and disadvantages, DC type Types are better.

直流型のFDPの従来のものとしては例えば文献(沖研
究開発競[3] P、3〜P、8(昭和61年7月))
に開示されでいるものがある。
Conventional DC-type FDPs include, for example, the literature (Oki Research and Development Competition [3] P, 3-P, 8 (July 1986)).
There are some things that have been disclosed.

第7図は、従来の直流型PDPの構造を概略的に示す断
面図である。この図を参照して、従来のFDPの構造及
びPDPに備わる陰極の製造方法につき簡単に説明する
FIG. 7 is a cross-sectional view schematically showing the structure of a conventional DC type PDP. With reference to this figure, the structure of a conventional FDP and the method of manufacturing a cathode included in the PDP will be briefly explained.

第7図中、11は一方及び他方の絶縁基板をそれぞれ示
す、この絶縁基板11としては、例えば、3mm程度の
厚みのソーダライムガラスが用いられている。
In FIG. 7, reference numeral 11 indicates one insulating substrate and the other insulating substrate. As the insulating substrate 11, for example, soda lime glass having a thickness of about 3 mm is used.

一方の絶縁基板上には、13で示される陰極(カソード
電極)が設けられている。この陰極13は、通常はスト
ライブ状であって、このストライブ状のものが、この場
合であれば紙面と垂直方向に多数並置形成されている。
A cathode (cathode electrode) indicated by 13 is provided on one of the insulating substrates. This cathode 13 is usually in the form of a stripe, and in this case, a large number of stripes are formed side by side in a direction perpendicular to the plane of the paper.

又、この陰極13の形成は、厚膜印刷技術によって行な
われており、絶縁基板11上にニッケル系の導電性ペー
ストを印刷しこれを焼成することで行なっていた。
Further, the formation of the cathode 13 has been carried out by thick film printing technology, by printing a nickel-based conductive paste on the insulating substrate 11 and firing it.

又、他方の絶縁基板上には、15で示される陽極(アノ
ード電極)が設けられている。この陽極15は、ストラ
イブ方向が陰極13と直交するようなストライブ状の複
数の電極で構成されている。この陽極15には、酸化錫
と酸化イシジウムとの混合物による透明導電膜が用いら
れている。
Further, an anode (anode electrode) indicated by 15 is provided on the other insulating substrate. The anode 15 is composed of a plurality of striped electrodes whose stripe direction is orthogonal to the cathode 13. For this anode 15, a transparent conductive film made of a mixture of tin oxide and isidium oxide is used.

又、17は隔壁を示す、この隔壁は、陰極及び陽極の交
差領域に構成される発光画素を各画素毎に仕切る目的と
、陰極13及び陽極15間に適正な間隙、を作り出す目
的とで設けられてあり、通常、厚膜印刷技術によってガ
ラスペーストを一方又は他方の絶縁基板上に印刷し、印
刷されたガラスペーストを焼成することで形成される。
Further, 17 indicates a partition wall, and this partition wall is provided for the purpose of partitioning the light emitting pixels formed in the intersection area of the cathode and the anode into each pixel, and for the purpose of creating an appropriate gap between the cathode 13 and the anode 15. It is usually formed by printing glass paste on one or the other insulating substrate using thick film printing technology and firing the printed glass paste.

19はシール材を示す、このシール材は一方及び他方の
絶縁基板間の空隙にプラズマ発光に供するガスを封じ込
めるためのものであり、通常は鉛ガラス等が用いられて
いる。空隙にガスを導入した後、この鉛ガラスを溶融さ
せることでシールを行なうことが出来る。
Reference numeral 19 denotes a sealing material. This sealing material is for sealing the gas used for plasma emission in the gap between one and the other insulating substrates, and is usually made of lead glass or the like. After introducing gas into the gap, sealing can be achieved by melting the lead glass.

一方、電子写真記録方式の光学ヘッドとして用いられる
プラズマ光学へ・ンドは、これが有する多数の発光画素
を選択的に発光させ、発生した光をセルフォックレンズ
等の光伝達部で集光させ、この光を光学ヘッドと対向す
る感光体上に照射しで、この感光体上に静電潜像を形成
させるものである。このようなプラズマ光学ヘッドとし
ては、例えば特開昭60−34876号公報に開示され
ているものがあるが、後述するような問題点があり、寅
用には至っていない。
On the other hand, plasma optics used as optical heads for electrophotographic recording systems selectively emit light from a large number of light-emitting pixels, and the generated light is focused by a light transmitting part such as a SELFOC lens. Light is irradiated onto a photoreceptor facing an optical head to form an electrostatic latent image on the photoreceptor. Such a plasma optical head is disclosed, for example, in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-34876, but it has problems as described below and has not been put to practical use.

プラズマ発光素子は、鮮明な表示が得られることで知ら
れており、これの長所を生かした装冨が提供されること
を望む声も多い。しかし、プラズマ光学ヘッドの実用化
を図るため、又、より高画質なPDP!得るためには、
プラズマ発光素子の画素密度を高めること、発光輝度を
高めることが重要な課題になる。
Plasma light-emitting devices are known for their ability to provide clear displays, and there are many requests for a device that takes advantage of this advantage. However, in order to put the plasma optical head into practical use, we also developed a PDP with higher image quality! In order to get
Increasing the pixel density and luminance of plasma light emitting devices are important issues.

(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、従来のプラズマ発光素子の陰極は、厚膜
印刷技術によってニッケルペーストを絶縁基板上に印刷
することで形成されているため、陰極の配wjA密度が
圧膜印刷の精度によって支配されてしまうという問題点
があった。
(Problem to be Solved by the Invention) However, the cathode of a conventional plasma light emitting device is formed by printing nickel paste on an insulating substrate using thick film printing technology, so the distribution wjA density of the cathode is There was a problem in that it was dominated by the accuracy of membrane printing.

具体的に説明すれば、厚膜印刷によって陰極の形成を行
なう場合、陰極の電極幅を所望の幅に安定に形成し得る
電極の配線密度の限界は3〜4本/ m mであり、陰
極をこれ以上高密度に形成することは不可能であった。
Specifically, when forming a cathode by thick film printing, the limit of the wiring density of the electrode that can stably form the cathode electrode width to a desired width is 3 to 4 wires/mm. It was impossible to form them at a higher density.

又、プラズマ発光素子においては、これの陰極は、プラ
ズマ発光中はイオンによってスパッタされる。プラズマ
光学ヘッドの場合PDPよりもざらに高い発光輝度が必
要であり、このように高い発光輝度を得るためには、陰
極及び陽極間に印加する電圧をざらに高めること等を行
なうが、この時には陰極をスパッタするエネルギーはざ
らに大きなものとなる。ところが、従来のプラズマ発光
素゛子においては、これの陰極がペーストから得られた
ニッケル膜で構成されているため、この陰極はスパッタ
リングによって損傷を受は易く、これがため、高輝度の
発光の実現の妨げになっていたという問題点があった。
Further, in a plasma light emitting device, its cathode is sputtered by ions during plasma light emission. Plasma optical heads require much higher luminance than PDPs, and in order to obtain such high luminance, the voltage applied between the cathode and anode must be roughly increased. The energy for sputtering the cathode becomes considerably large. However, in conventional plasma light emitting devices, the cathode is composed of a nickel film obtained from paste, so this cathode is easily damaged by sputtering, which makes it difficult to achieve high brightness light emission. The problem was that it was getting in the way.

ニッケルペーストで構成された陰極が損傷を受は易い理
由は、次のように考えられる。絶縁基板上に印刷された
ニッケルペーストは、その後焼成される訳であるが、こ
の焼成温度は絶縁基板として用いられるソーダライムガ
ラスを変形させることがないような温度で行なう必要が
あり、その温度は通常600″C以下の温度である。し
かし、このような温度はニッケルペーストの焼成温度と
しては低く、従って、ニッケルの焼結体は脆いものにな
っていると考えられる。絶縁基板を耐熱性の高いものと
し、ニッケルペーストの焼成温度を高めて良質なニッケ
ル焼結体を得るようにすることも考えられるが、焼成温
度を高めることは装Mを大がかすなものとすること、昇
温、冷却時間が長くなること等の工業的なデメリットが
増えることになり、好ましいことではない。
The reason why a cathode made of nickel paste is easily damaged is considered to be as follows. The nickel paste printed on the insulating substrate is then fired, but the firing temperature must be set at a temperature that does not deform the soda lime glass used as the insulating substrate. The temperature is usually below 600"C. However, such a temperature is low as a firing temperature for nickel paste, and therefore the nickel sintered body is considered to be brittle. It is conceivable to raise the firing temperature of the nickel paste to obtain a high-quality nickel sintered body, but raising the firing temperature greatly increases the This is not preferable because it increases industrial disadvantages such as a longer cooling time.

又、特開昭60−34876号公報に開示されでいるプ
ラズマ光学ヘッドでは、プラズマ発光素子の発光輝度が
小ざいことを補うために、プラズマ発光素子を感光体の
回転方向(こ数列並べた構成をとっている。そして、こ
れら複数の発光素子を用い感光体の同一の部分に複数回
の光照射を行ない、合計した光量によって感光体上に静
電潜像を形成しようとしでいる。しかし、発光素子を複
数設けることにより光学ヘッドは大型になり、ざらに、
駆動系も複雑なものになるから、こ゛のような方法は有
利な方法とは云い難い。
In addition, in the plasma optical head disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-34876, in order to compensate for the low luminance of the plasma light emitting elements, the plasma light emitting elements are arranged in the rotational direction of the photoreceptor (in a configuration in which the plasma light emitting elements are arranged in parallel rows). Using these plurality of light emitting elements, the same part of the photoreceptor is irradiated with light multiple times, and an electrostatic latent image is formed on the photoreceptor using the total amount of light.However, By providing multiple light emitting elements, the optical head becomes larger, and the
Since the drive system becomes complicated, it is hard to say that such a method is an advantageous method.

この出願は上述したような点に鑑みなされたものであり
、従って、この出願の第一発明の目的はプラズマ発光素
子に備わる陰極をスパッタリング耐性に優れたものにす
ることにある。
This application was filed in view of the above-mentioned points, and therefore, the first object of this application is to provide a cathode provided in a plasma light emitting device with excellent sputtering resistance.

又、この出願の第二〜第四発明の目的はスパッタリング
耐性に優れた陰極であって然も高密度に形成することが
可能な陰極を製造する方法を提供することにある。
Further, the second to fourth objects of the present invention are to provide a method for manufacturing a cathode that has excellent sputtering resistance and can be formed at high density.

(問題点を解決するための手段) この目的の達成を図るため、この出願の第一発明によれ
ば、プラズマ発光素子の陰極の少なくとも表面層が無電
解ニッケル合金皮膜で構成されたことを特徴とする。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve this object, according to the first invention of this application, at least the surface layer of the cathode of the plasma light emitting device is comprised of an electroless nickel alloy film. shall be.

又、この第一発明の実施に当たり、前述の無電解二・ン
ケル合金をニッケル−タングステン−リン合金とするの
が好適である。
Further, in carrying out the first invention, it is preferable to use a nickel-tungsten-phosphorus alloy as the electroless two-layer alloy.

ざらに、この第一発明の実施に当たり、前述の無電界ニ
ッケル合金をニッケル−M−リン合金或はニッケル−M
−ホウ素合金(但し、Mはモリブデン、クロム、銅、鉄
、亜鉛、シリコンの中から選ばれた一つの余圧、)とす
るのが好適である。
In general, in carrying out the first invention, the above-mentioned electroless nickel alloy is replaced with a nickel-M-phosphorus alloy or a nickel-M
- A boron alloy (where M is one residual pressure selected from molybdenum, chromium, copper, iron, zinc, and silicon) is preferable.

又、この出願の第二〜第四発明の直流型プラズマ発光素
゛子の陰極の製造方法は、表面層が無電解ニッケル合金
皮膜で構成されるように陰極を形成するために次のよう
なことを行なう。
Further, the method for manufacturing a cathode of a DC plasma light emitting device according to the second to fourth inventions of this application includes the following steps to form the cathode so that the surface layer is composed of an electroless nickel alloy film. do something

第二発明の製造方法は、絶縁基板上に導体層を形成する
工程と、フォトエツチングによってこの導体層をパター
ニングする工程と、残存する導体層上に無電解ニッケル
合金を無電解めっきする工程とを含むことを特徴とする
The manufacturing method of the second invention includes the steps of forming a conductor layer on an insulating substrate, patterning this conductor layer by photoetching, and electrolessly plating an electroless nickel alloy on the remaining conductor layer. It is characterized by containing.

第三発明の製造方法は、絶縁基板上に導体層を形成する
工程と、この導体層上に無電解ニッケル合金を無電解め
っきする工程と、フォトエツチングによってこの無電解
ニッケル合金及び前記導体層を共にパターニングする工
程とを含むことを特徴とする。
The manufacturing method of the third invention includes a step of forming a conductor layer on an insulating substrate, a step of electroless plating an electroless nickel alloy on the conductor layer, and a step of removing the electroless nickel alloy and the conductor layer by photoetching. The method is characterized in that it includes a step of patterning at the same time.

さらに、第四発明の製造方法は、絶縁基板上に所定形状
の無電解ニッケル合金層lF!、直接形成することを特
徴とする。
Furthermore, the manufacturing method of the fourth invention provides an electroless nickel alloy layer IF of a predetermined shape on an insulating substrate! , characterized by direct formation.

尚、この第四発明の実施に当たり、前述の所定形状の無
電解ニッケル層の形成は、絶縁基板上に無電解ニッケル
合金を無電解めっきした後この無電解ニッケル合金をフ
ォトエツチングによってパターニングするか、又は、絶
縁基板上にフォトエツチングによってレジストパターン
を形成した後前述の結締基板の露出部分に無電解ニッケ
ル合金を無電解めっきすることによって行なうのが好適
である。
In implementing the fourth invention, the formation of the electroless nickel layer in the predetermined shape described above may be performed by electroless plating of an electroless nickel alloy on an insulating substrate and then patterning this electroless nickel alloy by photoetching, or by patterning the electroless nickel alloy by photoetching. Alternatively, it is preferable to form a resist pattern on the insulating substrate by photoetching and then electrolessly plate the exposed portion of the above-mentioned fastening substrate with an electroless nickel alloy.

(作用) この出願の第一発明の直流型プラズマ発光素子の陰極に
よれば、プラズマ放電用のガス空間に露出される陰極の
表面層が、無電解ニッケル合金で構成される。無電解二
・ンケル合金膜は析出したときに微細な結晶粒子を有す
る金属膜になるものと思われる。このような膜は、陽極
及び陰極間に従来より高い電圧を印加しこれに伴ないス
パッタエネルギーが増加しでも、このエネルギーに対し
充分に耐性を示すものになる。
(Function) According to the cathode of the DC type plasma light emitting device of the first invention of this application, the surface layer of the cathode exposed to the gas space for plasma discharge is made of an electroless nickel alloy. It is thought that the electroless Ni-Nkel alloy film becomes a metal film having fine crystal grains when deposited. Such a film exhibits sufficient resistance to sputtering energy even if a voltage higher than that in the past is applied between the anode and cathode and the sputtering energy increases accordingly.

例えば、陰極を構成する無電解ニッケル合金をニッケル
−クンゲステン−リンの合金を以って構成した場合、後
述するように耐スパツタ性の向上が認められた。このよ
うな合金を用いることで耐スパツタ性が向上する理由は
、定かではないが、リンはニッケルの結晶粒子を微細化
させる働きがあり、タングステンはニッケルの結晶粒子
が加熱によって粗大化することを防止する働きがあると
思われる。微細な結晶粒子は多くの格子欠陥を有し、こ
れは耐スパツタ性の向上に寄与すると考えられ、これが
ため、この合金皮膜の耐スパツタ性が向上すると思われ
る。ざらに、タングステン自身は、ニッケルに比して耐
スパツタ性が優れているから、ニッケル中にタングステ
ンを含むことだけでも単一のニッケル膜よりも耐スパツ
タ性が向上すると思われる。
For example, when the electroless nickel alloy constituting the cathode was composed of a nickel-Kungesten-phosphorus alloy, an improvement in spatter resistance was observed, as will be described later. The reason why spatter resistance is improved by using such an alloy is not clear, but phosphorus has the effect of making the nickel crystal grains finer, and tungsten has the effect of making the nickel crystal grains coarser when heated. It seems to have a preventive effect. The fine crystal grains have many lattice defects, which are thought to contribute to improved spatter resistance, which is thought to improve the spatter resistance of this alloy film. In general, since tungsten itself has superior spatter resistance than nickel, it is thought that simply including tungsten in nickel improves the spatter resistance compared to a single nickel film.

又、この出願の製造方法によれば、陰極のパターニング
をフォトエ・νチングによって行なっている。これがた
め、従来の厚膜印刷で陰極を形成する方法に比しで、こ
の発明の方法は陰極を高精度に然も高茫度に形成するこ
とが可能になる。
Further, according to the manufacturing method of this application, the cathode is patterned by photo etching. Therefore, compared to the conventional method of forming a cathode by thick film printing, the method of the present invention enables the formation of a cathode with high accuracy and high degree of sharpness.

(実施例) 以下、図面を参照しで、この発明のプラズマ発光素子の
陰極及びその製造方法の実施例につき説明する。尚、説
明に用いる各図において、同一の構成成分(こついては
同一の符号を付しで示しである。又、以下に説明する実
施例を、この発明の好ましい特定の材料、数値例、配雪
開係及びその他の条件で説明するが、この発明がこれら
材料、数値例その他の条件にのみ限定されるものでない
ことは理解されたい。
(Example) Hereinafter, examples of the cathode of the plasma light emitting device of the present invention and the manufacturing method thereof will be described with reference to the drawings. In each figure used in the explanation, the same constituent components (the same components are indicated by the same reference numerals). Although the description will be made based on opening conditions and other conditions, it should be understood that the present invention is not limited to these materials, numerical examples, and other conditions.

ブー °マ ′   ス 先ず、直流型プラズマ発光素子の陰極として好適なこの
発明の陰極につき説明する。この発明の陰極は、プラズ
マ放電中に陰極がスパッタされにくくするように、少な
くともその表面層が無電解ニッケル合金の皮膜で構成さ
れでいることを特徴としでいる。第1図(A)〜(C)
は、この発明の陰極の実施例を示す断面図であり、絶縁
基板上に多数形成されたこの発明の陰極を、これらのう
ちの二つの陰極に着目しこの発明の説明に必要と思われ
る部分についてのみ概略的に示したものである。尚、こ
れら図は第7図に示した直流型プラズマ発光素子を同図
にPで示す方向から見た図に対応するものになる。
First, the cathode of the present invention, which is suitable as a cathode for a DC type plasma light emitting device, will be explained. The cathode of the present invention is characterized in that at least its surface layer is composed of an electroless nickel alloy film so as to prevent the cathode from being sputtered during plasma discharge. Figure 1 (A)-(C)
1 is a cross-sectional view showing an embodiment of the cathode of the present invention, in which a large number of cathodes of the present invention are formed on an insulating substrate, and the portions considered necessary for explaining the present invention are shown by focusing on two of these cathodes. This is only a schematic representation. Note that these figures correspond to the view of the DC type plasma light emitting device shown in FIG. 7 as viewed from the direction indicated by P in the same figure.

く第−実施例〉 第1図(A)はこの発明の陰極の第−実施例を示す図で
ある。この場合の陰極31は、絶縁基板11上に導体層
21が設けてあり、ざらにこの導体層21の全ての露出
部分を表面層としての無電解ニッケル合金皮膜25で被
覆したものである。
Embodiment 1 FIG. 1A is a diagram showing a cathode according to Embodiment 1 of the present invention. The cathode 31 in this case has a conductor layer 21 provided on an insulating substrate 11, and roughly all exposed parts of the conductor layer 21 are coated with an electroless nickel alloy film 25 as a surface layer.

〈第二実施例〉 第1図(B)はこの発明の陰極の第三実施例を示す図で
ある。こδ場合の陰極31は、絶縁基板11上に導体層
21が設けてあり、ざらにこの導体層21の主露出面、
即ち基板11に接する面とは反対側の面を表面層として
の無電解ニッケル合金皮膜25で被覆したものである。
<Second Embodiment> FIG. 1(B) is a diagram showing a third embodiment of the cathode of the present invention. The cathode 31 in this case δ has a conductor layer 21 provided on the insulating substrate 11, and roughly the main exposed surface of the conductor layer 21,
That is, the surface opposite to the surface in contact with the substrate 11 is coated with an electroless nickel alloy film 25 as a surface layer.

く第三実施例〉 第1図(C)はこの発明の陰極の第三実施例を示す図で
ある。この場合の陰極31は、絶縁基板11上に陰極の
形状に応じた形状の無電解ニッケル合金皮膜25から成
る陰極を具えているものである。
Third Embodiment FIG. 1(C) is a diagram showing a third embodiment of the cathode of the present invention. The cathode 31 in this case includes an electroless nickel alloy film 25 formed on an insulating substrate 11 and having a shape corresponding to the shape of the cathode.

この場合は、陰極31全体が無電解ニッケル合金膜s2
5で構成されることになり、従って、陰極そのものが表
面層に該当する。
In this case, the entire cathode 31 is covered with the electroless nickel alloy film s2.
Therefore, the cathode itself corresponds to the surface layer.

上述した各実施例で用いる絶縁基板11としでは従来公
知の好適なもの、例えばソーダライムガラス等を用いる
ことが出来る。
As the insulating substrate 11 used in each of the embodiments described above, a conventionally known suitable material such as soda lime glass can be used.

又、上述した第−及び第二実施例で述べた導体層として
は、絶縁基板上に密着性良く形成することが出来るもの
であって、然も、無電解ニッケル合金膜の下地となり得
るものであればどのようなものでも用いることが出来る
。このような導体層としでは、IT○膜、クロム膜、ニ
ッケル膜、アルミニウム膜等を挙げることが出来るが、
クロム膜、アルミニウム膜の場合には、無電解めっきを
容易に行なうことが出来るようにするため、これら膜の
上にざらにニッケルや銅の薄膜を被着させておくと良い
Furthermore, the conductor layer described in the above-mentioned first and second embodiments can be formed on an insulating substrate with good adhesion, and can also serve as a base for an electroless nickel alloy film. You can use anything you have. Examples of such a conductive layer include an IT○ film, a chromium film, a nickel film, an aluminum film, etc.
In the case of a chromium film or an aluminum film, in order to facilitate electroless plating, it is preferable to roughly coat a thin film of nickel or copper on these films.

又、上述の各実施例の表面層を構成する無電解ニッケル
合金を、ニッケル−リン、ニッケル−ホウ素、ニッケル
−タングステン−リン、ニッケル−モリブデン−リン、
二・ンケルークロムーリン、ニッケル−コバルト−リン
、ニッケル−銅−リン、ニッケル−鉄−リン、ニッケル
−亜鉛−リン、ニッケル−シリコン−リン、ニッケル−
タングステン−ホウ素、ニッケル−モリブデン−ホウ素
、ニッケル−クロム−ホウ素、ニッケル−コバルト−ホ
ウ素、ニッケル−銅−ホウ素、ニッケル−鉄−ホウ素、
ニッケル−亜鉛−ホウ素、ニッケル−シリコン−ホウ素
等の種々のものを以って構成することが出来る。
Further, the electroless nickel alloy constituting the surface layer of each of the above-mentioned examples may be nickel-phosphorus, nickel-boron, nickel-tungsten-phosphorus, nickel-molybdenum-phosphorus,
Nickel-cobalt-phosphorus, nickel-copper-phosphorus, nickel-iron-phosphorus, nickel-zinc-phosphorous, nickel-silicon-phosphorus, nickel-
Tungsten-boron, nickel-molybdenum-boron, nickel-chromium-boron, nickel-cobalt-boron, nickel-copper-boron, nickel-iron-boron,
It can be constructed using various materials such as nickel-zinc-boron, nickel-silicon-boron, etc.

2jのりゝ告 法 置口 次に、直流型プラズマ発光素子用の陰極であって少なく
とも表面層が無電解ニッケル合金皮膜で構成された上述
したような陰極を形成する方法につき説明する。
2j Glue Reporting Method Next, a method for forming the above-mentioned cathode for a DC type plasma light emitting device, in which at least the surface layer is composed of an electroless nickel alloy film, will be described.

く第二発明の製造方法の説明〉 先ず、この出願の第二発明の製造方法につき説明する。Description of the manufacturing method of the second invention First, the manufacturing method of the second invention of this application will be explained.

この製造方法は、上述した第−実施例の陰極を得るため
に好適なものである。第2図(A)〜(D)はこの製造
方法を説明するための製造工程図であり、製造進度に応
じ主な工程における陰極の構造を第1図に対応する断面
図で示したものである。
This manufacturing method is suitable for obtaining the cathode of the above-mentioned first embodiment. Figures 2 (A) to (D) are manufacturing process diagrams for explaining this manufacturing method, and the structure of the cathode in the main steps according to the manufacturing progress is shown in cross-sectional views corresponding to Figure 1. be.

先ず、絶縁基板11上全面に例えば蒸着法、或はスパッ
タ法等の好適な方法を用いて導体層21ヲ形成する(第
2図(A)9照)、この導体層21は既に説明したよう
な材料を用いることが出来る。
First, a conductor layer 21 is formed on the entire surface of the insulating substrate 11 using a suitable method such as vapor deposition or sputtering (see 9 in FIG. 2(A)). material can be used.

又、この導体層21の層厚は、薄い方が後工程で行なわ
れるフォトエツチングで高い精度を得ることが出来る。
Furthermore, the thinner the conductor layer 21 is, the higher the accuracy can be obtained in photoetching performed in a subsequent process.

この層厚みを、例えば1000〜3000A程度の厚さ
とすれば、プラズマ発光素子に求められている陰極の寸
法精度を得ることが出来る。
If this layer thickness is set to, for example, about 1000 to 3000 A, the dimensional accuracy of the cathode required for a plasma light emitting device can be obtained.

次に、この導電層上全面にフォトレジストf!塗布し、
次に、このレジストに対しフォトマスクを介して選択的
な露光を行ない、その後、現像を行なって、導電層上に
陰極の形状に関連するレジストパターン23を形成する
(第2図(B)’)。
Next, photoresist f! is applied all over this conductive layer. Apply,
Next, this resist is selectively exposed to light through a photomask, and then developed to form a resist pattern 23 related to the shape of the cathode on the conductive layer (FIG. 2(B)' ).

次に、導電層21のレジストパターン23から露出した
部分を好適なエツチング方法によって除去した後、レジ
ストパターン23を除去する(第2図(C)参照)、第
2図(8)及び(C) IF!、用いて説明した工程の
処理が終了すると、導電層21はパターニングされる。
Next, after removing the exposed portion of the conductive layer 21 from the resist pattern 23 by a suitable etching method, the resist pattern 23 is removed (see FIG. 2(C)), and FIGS. 2(8) and (C). IF! , the conductive layer 21 is patterned.

又、このような方法を用いて陰極を形成することによっ
て、陰極を精度良く形成することが出来るから、陰極を
高密度実装することも可能になる。
Further, by forming the cathode using such a method, the cathode can be formed with high precision, so that the cathode can be mounted in high density.

ところで、導電層21として用いることが出来、然も蒸
着法等で形成したクロム膜、或は二・シケル膜は、ニッ
ケルペーストから得た膜よりは数段耐スパツタ性は優れ
ている。しかしながら、このままでは耐スパツタ性に優
れた陰極を提供したことにはならない、つまり、クロム
膜やニッケル膜等を絶縁基板上に蒸着法等で形成すると
、形成され−た膜は応力か強く、従って、この方法では
膜厚を厚いものとすることが出来ない。耐スパツタ性が
優れていてもその膜が薄い膜では、FDP等に組み込ん
でも、結果的には長時間の使用が出来ない。
By the way, a chromium film or a di-Sikel film, which can be used as the conductive layer 21 and is formed by vapor deposition or the like, has spatter resistance that is several orders of magnitude better than a film obtained from a nickel paste. However, this does not mean that a cathode with excellent spatter resistance has been provided.In other words, if a chromium film, nickel film, etc. is formed on an insulating substrate by vapor deposition, the formed film will be highly stressed and therefore However, with this method, it is not possible to increase the film thickness. Even if the film has excellent spatter resistance, if the film is thin, it cannot be used for a long time even if it is incorporated into an FDP or the like.

この出願に係る発明者は、この点を考慮し、耐スパツタ
性に優れる膜であって、然も、その膜の応力が小さいl
!i!を検討した結果、このような膜としては無電解ニ
ッケル合金皮膜が好適であることを見出した。
Taking this point into consideration, the inventor of this application has developed a film that has excellent spatter resistance and that has low stress.
! i! As a result of our investigation, we found that an electroless nickel alloy film is suitable for such a film.

このようなことから、この出願の第二発明の陰極の製造
方法では、第2図(C)に示したパターニングされた導
電層21の表面にさらに無電解ニッケル合金25@被覆
して陰極を形成した(第2図CD)”)。
For this reason, in the cathode manufacturing method of the second invention of this application, the surface of the patterned conductive layer 21 shown in FIG. 2(C) is further coated with electroless nickel alloy 25 to form a cathode. (Fig. 2 CD)").

尚、パターニングされた導電層21上へ無電解ニッケル
合金を無電解めっきすることは、従来公知の方法で行な
い得るが、この際、導体層21ヲ具える結縛基板11を
塩化第一錫を含む液に浸漬し、ざらに塩化パラジウムを
含む液に浸漬するという前処理を行なうのが好適である
。又、この実施例の場合、先ず、ニッケル−リン、ニッ
ケル−ホウ素の合金を形成し得るめっき浴をそれぞれ用
い対応する無電解二・yケル合金を形成した。ニッケル
−リン、ニッケル−ホウ素どちらの合金皮膜も、ニッケ
ルペーストから得た従来の膜に比して、プラズマ発光中
の耐スパツタ性に優れていることが分った。又、無電解
ニッケル合金の中で特に耐スパツタ性に優れているもの
を検討したところ、三元系の合金であるニッケル−タン
グステン−リン無電解めっき皮膜が優れた耐スパツタ性
を示すことが明らかになった。この実施例の場合のニッ
ケル−タングステン−リンの皮膜は、第1表に示すよう
な組成のめっき液を用いて形成した。又、このめっき液
のpHは9.0であり、めっき実施の際のめっき液温度
は90℃とした。
Incidentally, electroless plating of the electroless nickel alloy onto the patterned conductive layer 21 can be performed by a conventionally known method. Preferably, the pretreatment is performed by immersing the substrate in a solution containing palladium chloride, and then immersing it in a solution containing palladium chloride. In the case of this example, first, corresponding electroless 2.y-Kel alloys were formed using plating baths capable of forming nickel-phosphorus and nickel-boron alloys, respectively. Both nickel-phosphorus and nickel-boron alloy films were found to have superior spatter resistance during plasma emission compared to conventional films made from nickel paste. In addition, when we examined electroless nickel alloys that had particularly excellent spatter resistance, it became clear that the ternary alloy nickel-tungsten-phosphorus electroless plating film exhibited excellent spatter resistance. Became. The nickel-tungsten-phosphorus film in this example was formed using a plating solution having the composition shown in Table 1. Further, the pH of this plating solution was 9.0, and the plating solution temperature during plating was 90°C.

第1表 第1表に示しためっき液を用いて導電層21上に析出さ
せたニッケル−タングステン−リン合金皮膜は、タング
ステンを3〜15重量%、リンを3〜10重量%含んだ
ものになっていることが分った。
Table 1 The nickel-tungsten-phosphorus alloy film deposited on the conductive layer 21 using the plating solution shown in Table 1 contains 3 to 15% by weight of tungsten and 3 to 10% by weight of phosphorus. I found out that it is.

く実験結果〉 上述の陰極の形成方法を含む製造方法を用い第2表に示
したような陰極を含む構造のプラズマ光学ヘッドを作製
したところ、この光学ヘッドは電子写真記録方式に適用
可能であった。然も、この光学ヘッドは、1画素(ドツ
ト)の発光時間を100usとした場合であっても感光
体上に静電潜像を形成し得る実用的なものであった。
Experimental Results> When a plasma optical head having a structure including a cathode as shown in Table 2 was manufactured using a manufacturing method including the above-mentioned cathode formation method, this optical head was found to be applicable to electrophotographic recording methods. Ta. However, this optical head was a practical one capable of forming an electrostatic latent image on the photoreceptor even when the light emitting time of one pixel (dot) was 100 us.

第2表 〈第三発明の製造方法の説明〉 次に、第3図(A)〜(D)に示す製造工程図を参照し
て、この出願の第三発明の製造方法につき説明する。尚
、この製造方法は、上述した第二実施例の陰極を得るた
めに好適なものである。
Table 2 <Description of the manufacturing method of the third invention> Next, the manufacturing method of the third invention of this application will be explained with reference to the manufacturing process diagrams shown in FIGS. 3(A) to (D). Note that this manufacturing method is suitable for obtaining the cathode of the second embodiment described above.

この製造方法の場合、先ず、絶縁基板11上全面に例え
ば蒸着法、或はスパッタ法等の好適な方法を用いて導体
層21を形成する(第3図(A)9照)0次に、この導
体層21上全面に、第二発明の製造方法と同様にして表
面層としての無電解ニッケル合金25を無電解めっきす
る(第3図(B)9照)。
In this manufacturing method, first, the conductor layer 21 is formed on the entire surface of the insulating substrate 11 using a suitable method such as vapor deposition or sputtering (see 9 in FIG. 3(A)). Electroless nickel alloy 25 as a surface layer is electrolessly plated on the entire surface of this conductor layer 21 in the same manner as in the manufacturing method of the second invention (see 9 in FIG. 3(B)).

次に、この無電解ニッケル合金25上全面にフォトレジ
ストti布し、次に、このレジストに対しフォトマスク
を介して選択的な露光を行ない、その後、現像を行なっ
て、合金25上に陰極形状に関連するレジストパターン
23を形成する(第3図(C))。
Next, a photoresist Ti is applied over the entire surface of the electroless nickel alloy 25, and then this resist is selectively exposed to light through a photomask, and then developed to form a cathode shape on the alloy 25. A resist pattern 23 related to this is formed (FIG. 3(C)).

次に、無電解二・ンケル合金膜25のレジストパターン
23から露出した部分及びこの合金部分下層の導電層2
1の部分を好適な工・ンチング方法によって共に除去し
た後、レジストパターン23ヲ除去して、この発明に係
る陰極31を得る(第3図(D)参照)。
Next, the portion of the electroless Ni-Nkel alloy film 25 exposed from the resist pattern 23 and the conductive layer 2 below this alloy portion are
After the resist pattern 23 is removed by a suitable etching method, a cathode 31 according to the present invention is obtained (see FIG. 3(D)).

く第四発明の製造方法の説明〉 次に、第4図(A)〜(C)及び第5図(A)〜(C)
を参照して、この出願の第四発明につき説明する。尚、
この製造方法は、上述した第三実施例の陰極を得るため
に好適なものである。
Description of the manufacturing method of the fourth invention> Next, FIGS. 4(A) to (C) and FIGS. 5(A) to (C)
The fourth invention of this application will be explained with reference to. still,
This manufacturing method is suitable for obtaining the cathode of the third embodiment described above.

先ず、絶縁基板11上全面に無電解ニッケル合金25を
無電解めっきする(第4図(A)9照)。
First, an electroless nickel alloy 25 is electrolessly plated on the entire surface of the insulating substrate 11 (see 9 in FIG. 4(A)).

次に、この無電解ニッケル合金?5上全面にフォトレジ
ストヲ塗布し、次に、このレジストに対しフォトマスク
を介して選択的な露光を行ない、その後、現像を行なっ
て、合金25上に陰極形状に関連するレジストパターン
23を形成する(第4図(C))。
Next, this electroless nickel alloy? A photoresist is applied to the entire surface of the alloy 25, and then this resist is selectively exposed to light through a photomask, and then developed to form a resist pattern 23 related to the cathode shape on the alloy 25. (Figure 4 (C)).

次に、無電解ニッケル合金膜25のレジストパターン2
3から露出した部分を好適なエツチング方法によって除
去した後、レジストパターン23ヲ除去して、この発明
に係る陰極を得る(第4図(C)参照)。
Next, the resist pattern 2 of the electroless nickel alloy film 25 is
After removing the exposed portion of resist pattern 3 by a suitable etching method, the resist pattern 23 is removed to obtain a cathode according to the present invention (see FIG. 4(C)).

或は、先ず、絶縁基板11上全面にレジストを塗布し、
次に、このレジストに対しフォトマスクを介して選択的
な露光を行ない、その後、現像を行なって、絶縁基板1
1の陰極形成予定領域を露出するレジストパターン23
a %形成する(第5図(A))、次に、絶縁基板11
のレジストパターン23aから露出する部分領域に表面
層としての無電解ニッケル合金25ヲ第二発明と同様に
して無電解めっきする(第5図(B)9照)。
Alternatively, first, a resist is applied to the entire surface of the insulating substrate 11,
Next, this resist is selectively exposed to light through a photomask, and then developed to form an insulating substrate.
Resist pattern 23 that exposes the area where cathode 1 is to be formed
a% is formed (FIG. 5(A)), and then the insulating substrate 11 is formed.
An electroless nickel alloy 25 as a surface layer is electrolessly plated on a partial region exposed from the resist pattern 23a in the same manner as in the second invention (see Figure 5(B) 9).

次に、レジストパターン23aを好適な方法によって除
去して、この発明に係る陰極31ヲ得る(第5図(C)
参照))。
Next, the resist pattern 23a is removed by a suitable method to obtain a cathode 31 according to the present invention (FIG. 5(C)).
reference)).

尚、この第三及び第四発明の製造方法を用い第2表に示
すような陰極を含むプラズマ光学ヘッドをそれぞれ作製
したところ、各光学ヘッド共、第二発明の方法で得た光
学ヘッドと同様な特性を示すものであった。
Incidentally, when plasma optical heads including cathodes as shown in Table 2 were manufactured using the manufacturing methods of the third and fourth inventions, each optical head was the same as the optical head obtained by the method of the second invention. It showed unique characteristics.

一ロ秦I″ン 又、第二、第三及び第四発明の製造方法を適用しで製造
した陰極を含むPDP!それぞれ作製した。第6図は、
このFDPの陰極と、この陰極を有する側の基板とをそ
の一部につき主に示す斜視図である。第6図中において
、11は厚さが3mmのソーダライムガラスを示し、3
1はこの発明の陰極製造方法で形成した陰極を示し、1
7はガラスペーストで構成した隔壁を示す、この場合、
陰極の形成密度を3本/ m mとしているが、この発
明の製造方法によれば、ニッケルペーストを印刷して形
成した従来の陰極に比し、電極幅、電極ピッチ共に精度
良く形成することが出来た。
In addition, PDPs containing cathodes manufactured by applying the manufacturing methods of the second, third, and fourth inventions were each manufactured. FIG.
FIG. 2 is a perspective view mainly showing a part of the cathode of this FDP and the substrate on the side having the cathode. In Figure 6, 11 indicates soda lime glass with a thickness of 3 mm;
1 indicates a cathode formed by the cathode manufacturing method of the present invention, and 1
7 indicates a partition made of glass paste; in this case,
The formation density of the cathode is 3 lines/mm, but according to the manufacturing method of the present invention, both the electrode width and the electrode pitch can be formed with higher accuracy than the conventional cathode formed by printing nickel paste. done.

具体的な数値を上げて説明すると次の通りであった。電
極幅150umの陰極を厚膜印刷で形成しようとすると
120〜180umの範囲でばらついてしまうが、同じ
幅の陰極をこの発明の製造方法で形成すると145〜1
55μmの範囲で形成することが可能であった。
The following is an explanation with specific numerical values. If you try to form a cathode with an electrode width of 150 um by thick film printing, the width will vary in the range of 120 to 180 um, but if you form a cathode with the same width using the manufacturing method of this invention, the width will vary between 145 and 180 um.
It was possible to form the film in a range of 55 μm.

!形量 尚、上述の実施例では、無電解ニッケル合金をニッケル
−タングステン−リン合金とし、この合金を第1表に示
したようなめつき浴で形成している。しかしながら、陰
極の少なくとも表面層を既に説明したような他の三元系
の無電解ニッケル合金を以って構成した場合であっても
、実施例と同様な耐スパツタ性の向上が期待できる。
! In the above embodiments, the electroless nickel alloy is a nickel-tungsten-phosphorus alloy, and this alloy is formed in a plating bath as shown in Table 1. However, even if at least the surface layer of the cathode is made of another ternary electroless nickel alloy as described above, the same improvement in spatter resistance as in the example can be expected.

陰極を他の種々の無電解ニッケル合金で構成する場合の
これら合金を得るためのめっき浴槽としては、例えば以
下のようなものが挙げられる。
When the cathode is composed of various other electroless nickel alloys, examples of plating baths for obtaining these alloys include the following.

■・・・無電解ニッケル−モリブデシーリン合金用のめ
っき浴の例を第3表に示す。
(2) Examples of plating baths for electroless nickel-molybde sealin alloys are shown in Table 3.

第3表 ■・・・無電解ニッケル−モリブデン−ホウ素合金用の
めっき浴の例を第4表に示す。
Table 3 - Table 4 shows examples of plating baths for electroless nickel-molybdenum-boron alloys.

第4表 ■・・・無電解ニッケル−銅−リン合金用のめつき浴の
例を第5表に示す。
Table 4 - Table 5 shows examples of plating baths for electroless nickel-copper-phosphorus alloys.

第5表 p)−1は10.浴温度80℃。Table 5 p)-1 is 10. Bath temperature 80℃.

■・・・無電解ニッケル−コバルト−リン合金用のめっ
き浴の例を第6表に示す。
(2) Examples of plating baths for electroless nickel-cobalt-phosphorus alloys are shown in Table 6.

第6表 ■・・・無電解ニッケル−鉄−ホウ素合金用のめつ第7
表 (発明の効果) 上述した説明からも明らかなように、この出願の第一発
明の直流型プラズマ発光素子の陰極によれば、当該陰極
の少なくとも表面層が無電解ニッケル合金皮膜で構成さ
れているので、陰極の耐スパツタ性がペーストから得た
従来の膜のものに比し著しく向上する。これがため、例
えば陰極及び陽極間に印加する電圧を従来より高電圧に
しても陰極損傷の心配は低減するから、従来より高輝度
なプラズマ発光素子を得ることが出来る。
Table 6■...Top 7 for electroless nickel-iron-boron alloy
Table (Effects of the Invention) As is clear from the above explanation, according to the cathode of the DC plasma light emitting device of the first invention of this application, at least the surface layer of the cathode is composed of an electroless nickel alloy film. As a result, the spatter resistance of the cathode is significantly improved compared to that of conventional films obtained from pastes. Therefore, even if the voltage applied between the cathode and the anode is made higher than before, the risk of damage to the cathode is reduced, and a plasma light emitting device with higher brightness than before can be obtained.

又、この出願の第二〜第四発明の直流型プラズマ発光素
子の製造方法によれば、陰極の幅やピッチ寸法を厚膜印
刷で形成した従来のものよりも高精度なものにすること
が出来る。これがため、プラズマ発光素子の画素密度を
従来よりも高いものにすることが出来る。然も、陰極の
少なくとも表面層を無電解ニッケル合金膜に容易にする
ことが出来るから、従来より画素密度が高く、かつ、高
輝度なプラズマ発光素子を得ることが出来る。
Further, according to the method for manufacturing a DC plasma light emitting device according to the second to fourth inventions of this application, the width and pitch dimensions of the cathode can be made more precise than those of the conventional method in which the width and pitch dimensions of the cathode are formed by thick film printing. I can do it. Therefore, the pixel density of the plasma light emitting device can be made higher than that of the conventional device. Moreover, since at least the surface layer of the cathode can be easily made of an electroless nickel alloy film, it is possible to obtain a plasma light emitting device with higher pixel density and higher brightness than before.

従って、この発明の直流型プラズマ発光素子の陰極及び
その製造方法によれば、例えば従来寅用化が難しかった
プラズマ発光素子の光学ヘッドの英現も可能になる。
Therefore, according to the cathode for a DC type plasma light emitting device and the method for manufacturing the same of the present invention, it becomes possible to develop an optical head for a plasma light emitting device, for example, which has been difficult to use in the past.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(A)〜(C)は、この出願の第一発明の直流型
プラズマ発光素子の陰極の実施例の構造を概略的に示す
断面図、 第2図(A)〜(D)は、この出願の第二発明の陰極製
造方法の説明に供する製造工程図、第3図(A)〜(D
)は、この出願の第三発明の陰極製造方法の説明に供す
る製造工程図、第4図(A)〜(C)及び第5図(A)
〜(C)は、この出願の第四発明の陰極製造方法の実施
例をそれぞれ示す製造工程図、 第6図は、この発明の各製造方法の説明に供するため、
PDPの陰極を主に示す斜視図、第7図は、従来及びこ
の発明の説明に供する図であり、直流型プラズマ発光素
子の構造を概略的に示す断面図である。 11・・・絶縁基板、    31・・・陰極21・・
・導電層 23.23a・・・レジストパターン 25・・・無電解ニッケル合金皮膜(表面層)。 特許出願人    沖電気工業株式会社+ 1 ・・・
絶縁基板     31−・・陰極21 ・・・導電層 25・・・無電解ニッケル合金皮膜(表面層)この発明
の陰極を示す断面図 第1図 23・・・レジストパターン 第二発明の製造方法を示す図 第三発明の製造方法を示す図 第四発明の製造方法を示す図 第4図 23a・・・レジストパターン 第四発明の製造方法の他の例を示す図 第5図
FIGS. 1(A) to (C) are cross-sectional views schematically showing the structure of an embodiment of the cathode of the DC type plasma light emitting device of the first invention of this application, and FIGS. 2(A) to (D) are , manufacturing process diagrams for explaining the cathode manufacturing method of the second invention of this application, FIGS. 3(A) to (D
) are manufacturing process diagrams for explaining the cathode manufacturing method of the third invention of this application, FIGS. 4(A) to (C) and FIG. 5(A)
~(C) are manufacturing process diagrams showing examples of the cathode manufacturing method of the fourth invention of this application, and FIG. 6 is for explaining each manufacturing method of this invention,
FIG. 7, which is a perspective view mainly showing the cathode of the PDP, is a diagram used to explain the conventional art and the present invention, and is a cross-sectional view schematically showing the structure of a DC type plasma light emitting device. 11... Insulating substrate, 31... Cathode 21...
- Conductive layer 23.23a...Resist pattern 25...Electroless nickel alloy film (surface layer). Patent applicant Oki Electric Industry Co., Ltd. + 1...
Insulating substrate 31 - Cathode 21 Conductive layer 25 Electroless nickel alloy film (surface layer) Cross-sectional view showing the cathode of this invention 23a...Resist pattern Figure 5 shows another example of the manufacturing method of the fourth invention Resist pattern Figure 5 shows the manufacturing method of the fourth invention

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)直流型プラズマ発光素子の陰極において、少なく
とも表面層が無電解ニッケル合金皮膜で構成されている
ことを特徴とする直流型プラズマ発光素子の陰極。
(1) A cathode for a direct current plasma light emitting device, characterized in that at least a surface layer of the cathode of the direct current plasma light emitting device is composed of an electroless nickel alloy film.
(2)前記無電解ニッケル合金がニッケル−タングステ
ン−リン合金であることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の直流型プラズマ発光素子の陰極。
(2) The cathode of a DC plasma light emitting device according to claim 1, wherein the electroless nickel alloy is a nickel-tungsten-phosphorus alloy.
(3)前記無電界ニッケル合金がニッケル−M−リン合
金或はニッケル−M−ホウ素合金(但し、Mはモリブデ
ン、クロム、銅、鉄、亜鉛、シリコンの中から選ばれた
一つの金属。)であることを特徴とする特許請求の範囲
第1項記載の直流型プラズマ発光素子の陰極。
(3) The electroless nickel alloy is a nickel-M-phosphorus alloy or a nickel-M-boron alloy (where M is one metal selected from molybdenum, chromium, copper, iron, zinc, and silicon.) A cathode of a DC type plasma light emitting device according to claim 1, characterized in that:
(4)直流型プラズマ発光素子用の陰極であって少なく
とも表面層が無電解ニッケル合金皮膜で構成された当該
陰極を形成するに当たり、 絶縁基板上に導体層を形成する工程と、 フォトエッチングによって該導体層をパターニングする
工程と、 残存する導体層上に無電解ニッケル合金を無電解めっき
する工程と を含むことを特徴とする直流型プラズマ発光素子の陰極
の製造方法。
(4) In forming a cathode for a DC plasma light-emitting device, in which at least the surface layer is composed of an electroless nickel alloy film, there are the following steps: forming a conductor layer on an insulating substrate, and photo-etching the cathode. A method for producing a cathode for a DC plasma light emitting device, comprising the steps of patterning a conductor layer and electrolessly plating an electroless nickel alloy on the remaining conductor layer.
(5)直流型プラズマ発光素子用の陰極であって少なく
とも表面層が無電解ニッケル合金皮膜で構成された当該
陰極を形成するに当たり、 絶縁基板上に導体層を形成する工程と、 該導体層上に無電解ニッケル合金を無電解めっきする工
程と フォトエッチングによって該無電解ニッケル合金及び前
記導体層を共にパターニングする工程と を含むことを特徴とする直流型プラズマ発光素子の陰極
の製造方法。
(5) In forming a cathode for a DC plasma light emitting device, in which at least the surface layer is composed of an electroless nickel alloy film, a step of forming a conductor layer on an insulating substrate; and a step on the conductor layer. A method for producing a cathode for a DC plasma light emitting device, comprising the steps of electroless plating an electroless nickel alloy and patterning both the electroless nickel alloy and the conductor layer by photoetching.
(6)直流型プラズマ発光素子用の陰極であって少なく
とも表面層が無電解ニッケル合金皮膜で構成された当該
陰極を形成するに当たり、 絶縁基板上に所定形状の無電解ニッケル合金層を直接形
成することを特徴とする直流型プラズマ発光素子の陰極
の製造方法。
(6) When forming a cathode for a DC plasma light emitting device, in which at least the surface layer is composed of an electroless nickel alloy film, an electroless nickel alloy layer of a predetermined shape is directly formed on an insulating substrate. A method for manufacturing a cathode for a DC plasma light emitting device, characterized in that:
(7)前記所定形状の無電解ニッケル合金層の形成は、
絶縁基板上に無電解ニッケル合金を無電解めっきした後
該無電解ニッケル合金をフォトエッチングによってパタ
ーニングして行なうことを特徴とする特許請求の範囲第
6項記載の直流型プラズマ発光素子の陰極の製造方法。
(7) Formation of the electroless nickel alloy layer in the predetermined shape includes:
Manufacture of a cathode for a DC plasma light emitting device according to claim 6, which is carried out by electrolessly plating an electroless nickel alloy on an insulating substrate and then patterning the electroless nickel alloy by photo-etching. Method.
(8)前記所定形状の無電解ニッケル合金層の形成は、
絶縁基板上にフォトエッチングによってレジストパター
ンを形成した後前記絶縁基板の露出部分に無電解ニッケ
ル合金を無電解めっきして行なうことを特徴とする特許
請求の範囲第6項記載の直流型プラズマ発光素子の陰極
の製造方法。
(8) Formation of the electroless nickel alloy layer in the predetermined shape includes:
The direct current type plasma light emitting device according to claim 6, characterized in that a resist pattern is formed on an insulating substrate by photo-etching, and then electroless nickel alloy is electrolessly plated on the exposed portion of the insulating substrate. A method of manufacturing a cathode.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE4116860A1 (en) * 1990-05-25 1991-11-28 Samsung Electronic Devices Plasma display device with matrix array of electrodes - includes composite cathodes which have highly conductive underlayer sepd. by sealant from space contg. discharge gas
JP2007173075A (en) * 2005-12-22 2007-07-05 Sekisui Chem Co Ltd Conductive particulate and anisotropic conductive material
US7250723B1 (en) 2004-12-21 2007-07-31 The United States Of America As Represented By The Administrator Of Nasa Cathode luminescence light source for broadband applications in the visible spectrum

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