JPS63255701A - 推論機能を有する制御装置 - Google Patents
推論機能を有する制御装置Info
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- JPS63255701A JPS63255701A JP62090092A JP9009287A JPS63255701A JP S63255701 A JPS63255701 A JP S63255701A JP 62090092 A JP62090092 A JP 62090092A JP 9009287 A JP9009287 A JP 9009287A JP S63255701 A JPS63255701 A JP S63255701A
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Landscapes
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Feedback Control In General (AREA)
- Safety Devices In Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は制御対象機械の不具合および該制御対象機械
によって加工された製品の不具合等の制御対象機械に関
する種々の不具合の原因および、この原因を解消するた
めの対策を推論して制御対象^械に与える推論機能を有
する制御!l装置に関する。
によって加工された製品の不具合等の制御対象機械に関
する種々の不具合の原因および、この原因を解消するた
めの対策を推論して制御対象^械に与える推論機能を有
する制御!l装置に関する。
〔従来の技術)
制御対象機械に関する不具合の原因およびこの原因を解
演するための最適な対策を推論するシステムとしては、
いわゆるエキスパートシステムを用いたものがある。エ
キスパートシステムは特定の技術に関する専門家の有し
ているノウハウ、つまり知識を知識ベースとして記憶し
ておき、専門家の判断が必要な事態が生じたときには、
この知識ベースのもとにコンピュータにより対策の推論
を行ない、専門家が不在の場合でも、あたかも専門家が
いるかのような正確な判断ができるようにしたもので、
種々の産業分野への適用が注目されている。例えば、運
転条件の設定が非常にむすかじりとされている射出成形
機へのエキスパートシステムの適用を示す論文としては
1986年3月11日から13日に開かれた会議、^r
tificialIntelligence for
the Autonotive Industry(自
動車産業の人工知能)においてPAtlL 14.HE
NIG(バウル、エム、メニング)等によるEXpQr
t 5ys−tens for Injection
Holding (射出成形nのエキスパートシステ
ム)がある。この論文のものは不具合状態、各種条件等
のデータの入力に対応して不具合に対する対策を推論す
るものであるが、この論文のものはあくまでも人間によ
るデータ入力に対して推論の結果をディスプレイ上に可
視表示するものでしかなく、射出成形機とのオンライン
による直接の接続については全く考えていず、これを示
唆する記載もない。
演するための最適な対策を推論するシステムとしては、
いわゆるエキスパートシステムを用いたものがある。エ
キスパートシステムは特定の技術に関する専門家の有し
ているノウハウ、つまり知識を知識ベースとして記憶し
ておき、専門家の判断が必要な事態が生じたときには、
この知識ベースのもとにコンピュータにより対策の推論
を行ない、専門家が不在の場合でも、あたかも専門家が
いるかのような正確な判断ができるようにしたもので、
種々の産業分野への適用が注目されている。例えば、運
転条件の設定が非常にむすかじりとされている射出成形
機へのエキスパートシステムの適用を示す論文としては
1986年3月11日から13日に開かれた会議、^r
tificialIntelligence for
the Autonotive Industry(自
動車産業の人工知能)においてPAtlL 14.HE
NIG(バウル、エム、メニング)等によるEXpQr
t 5ys−tens for Injection
Holding (射出成形nのエキスパートシステ
ム)がある。この論文のものは不具合状態、各種条件等
のデータの入力に対応して不具合に対する対策を推論す
るものであるが、この論文のものはあくまでも人間によ
るデータ入力に対して推論の結果をディスプレイ上に可
視表示するものでしかなく、射出成形機とのオンライン
による直接の接続については全く考えていず、これを示
唆する記載もない。
また、エキスパートシステムを応用した他の公知例とし
ては特開昭62−6845号に開示されたものがある。
ては特開昭62−6845号に開示されたものがある。
この公知例のものは車両用故障診断Hllfにエキスパ
ートシステムを応用したものである。
ートシステムを応用したものである。
しかし、この公知例のものも人間が順次問診することに
より故v5原因を探索するものであり、故障診断対象と
なる車両との直接の接続については全く考えていない。
より故v5原因を探索するものであり、故障診断対象と
なる車両との直接の接続については全く考えていない。
[弁明が解決しようとする問題点]
上述したように従来の装置はいずれも人間によるデータ
の入力に対応して所定の推論内容をディスプレイ上に表
示するものであり、機械との間でオンラインで直接デー
タのやりとりを行なう構成をとっていない。このため推
論に必要なデータは全て人間が入力してやらなければな
らず、このためデータ入力に誤りがあったり、データ入
力が不充分であったりすると正確な推論結果が得られな
いことがある。
の入力に対応して所定の推論内容をディスプレイ上に表
示するものであり、機械との間でオンラインで直接デー
タのやりとりを行なう構成をとっていない。このため推
論に必要なデータは全て人間が入力してやらなければな
らず、このためデータ入力に誤りがあったり、データ入
力が不充分であったりすると正確な推論結果が得られな
いことがある。
この発明は人間ができるだけ介入せずに制御対象機械に
生じた不具合に対する対策が推論でき、この推論した対
策を実行できるようにした推論機能を有する制tII装
置を提供することを目的とする。
生じた不具合に対する対策が推論でき、この推論した対
策を実行できるようにした推論機能を有する制tII装
置を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段〕
この発明の推論機能を有する制御g置では、制御対象機
械の各部の状態を検出する複数のセンサ手段と、前記制
御対象機械または該機械によって作り出された製品に不
具合が発生した場合に際してその不具合状況を入力する
入力手段と、前記制御対象機械の各種動作状況および前
記不具合に対する各種対策を複数記憶した記憶手段を有
し、約2入力手段によって入力された不具合状況、前記
センサ手段によって検出された前記制御対象機械の各部
の状態および前記記憶手段の記憶内容にもとづき発生し
た不具合の優先度付け、該不具合に対する原因の優先度
付け、該原因に対する対策の優先度付けを行ない最適な
対策を推論する推論手段と、この推論手段で推論された
対策に対応して前記制御対象機械に対する各種制御信号
を前記制御対象機械に出力する制御手段とを具えて構成
される。
械の各部の状態を検出する複数のセンサ手段と、前記制
御対象機械または該機械によって作り出された製品に不
具合が発生した場合に際してその不具合状況を入力する
入力手段と、前記制御対象機械の各種動作状況および前
記不具合に対する各種対策を複数記憶した記憶手段を有
し、約2入力手段によって入力された不具合状況、前記
センサ手段によって検出された前記制御対象機械の各部
の状態および前記記憶手段の記憶内容にもとづき発生し
た不具合の優先度付け、該不具合に対する原因の優先度
付け、該原因に対する対策の優先度付けを行ない最適な
対策を推論する推論手段と、この推論手段で推論された
対策に対応して前記制御対象機械に対する各種制御信号
を前記制御対象機械に出力する制御手段とを具えて構成
される。
この発明の推論1能を有する制御装置において制御対象
機械と推論手段との間の信号のやりとりが人間の手を介
せずして行うことが可能となる。
機械と推論手段との間の信号のやりとりが人間の手を介
せずして行うことが可能となる。
これにより推論手段に対するデータの入力が簡単になる
とともに、制御対象機械の適切な制御が人間の手を介せ
ずに実行できる。
とともに、制御対象機械の適切な制御が人間の手を介せ
ずに実行できる。
(実施例)
以下、この発明の一実施例を添付図面を参照して詳細に
説明する。
説明する。
第1図は、この発明の推論機能を有する制611装置を
射出成形^に適用した場合の一実施例を示したものであ
る。第1図において、この実施例は制御対象機械である
射出成形機100と成形条件設定支援エキスパートシス
テム20を構成するコンピュータ200とをオンライン
で接続して構成される。射出成形81100は第1図に
図示するように制御部10を11シており、この制御部
10は、樹1rli温度、スクリュー位置、射出圧力、
型内圧等を検出する各種センサ11、樹脂温度、金型温
度、−次圧(Q4出圧力)、二次圧(保圧)、射出速度
、−次圧、二次圧および射出速度の切換位置等を設定す
る成形条件設定部12、温度制御信号、アクチュエータ
制御信号等を発生する信号制御部13、(ffi号制御
部13からの温度制御信号によって制御されるヒーター
14、温調機15、アクチュエータ制御信号によって制
御される油圧バルブ16、サーボモータ17および成形
条件設定支援エキスパートシステム20に対するインタ
ーフェース18から構成されている。
射出成形^に適用した場合の一実施例を示したものであ
る。第1図において、この実施例は制御対象機械である
射出成形機100と成形条件設定支援エキスパートシス
テム20を構成するコンピュータ200とをオンライン
で接続して構成される。射出成形81100は第1図に
図示するように制御部10を11シており、この制御部
10は、樹1rli温度、スクリュー位置、射出圧力、
型内圧等を検出する各種センサ11、樹脂温度、金型温
度、−次圧(Q4出圧力)、二次圧(保圧)、射出速度
、−次圧、二次圧および射出速度の切換位置等を設定す
る成形条件設定部12、温度制御信号、アクチュエータ
制御信号等を発生する信号制御部13、(ffi号制御
部13からの温度制御信号によって制御されるヒーター
14、温調機15、アクチュエータ制御信号によって制
御される油圧バルブ16、サーボモータ17および成形
条件設定支援エキスパートシステム20に対するインタ
ーフェース18から構成されている。
成形条件設定支援エキスパートシステム20は射出成形
lR100の制御部10に対するインターフェース21
を有している。
lR100の制御部10に対するインターフェース21
を有している。
この装置において、射出成形機100の樹pb温度、ス
クリュー位置、射出圧力、型圧力等は各種センサ11に
よって検出され、この検出出力はインターフェース18
、インターフェース21を介して成形条件設定支援エキ
スパートシステム20に加えられる。また各種センサ1
1の出力は信号制御部13に加えられる。信号制御部1
3は各種センサ11の出力および成形条件設定部12で
設定された樹脂温度、金型温度、−次圧、二次圧、射出
速度、各切換位置に応じてヒータ14および温調f11
5を制御するための温度制御信号および油圧バルブ16
、サーボモータ17を制御するためのアクチュエータ制
御信号を形成する。
クリュー位置、射出圧力、型圧力等は各種センサ11に
よって検出され、この検出出力はインターフェース18
、インターフェース21を介して成形条件設定支援エキ
スパートシステム20に加えられる。また各種センサ1
1の出力は信号制御部13に加えられる。信号制御部1
3は各種センサ11の出力および成形条件設定部12で
設定された樹脂温度、金型温度、−次圧、二次圧、射出
速度、各切換位置に応じてヒータ14および温調f11
5を制御するための温度制御信号および油圧バルブ16
、サーボモータ17を制御するためのアクチュエータ制
御信号を形成する。
成形条件設定部12で設定された各@設定値はインター
フェース18、インターフェース21を介して成形条件
設定支援エキスパートシステム20に加えられれる。
フェース18、インターフェース21を介して成形条件
設定支援エキスパートシステム20に加えられれる。
成形条件設定支援エキスパートシステム20は射出成形
機100における不具合の発生に際し、キーボード26
から入力される不具合状況およびインターフェース21
から入力される各種センサ11の出力および成形条件設
定部12における各種設定値にもとづき後に詳述する手
順によって不具合発生に対する最適な対策を推論し、こ
の推論にもとづき、該推論した対策を実行すべくインタ
ーフェース21、インターフェース18を介して成形条
件設定部12に対して成形条件変更のためのデータを送
出する。
機100における不具合の発生に際し、キーボード26
から入力される不具合状況およびインターフェース21
から入力される各種センサ11の出力および成形条件設
定部12における各種設定値にもとづき後に詳述する手
順によって不具合発生に対する最適な対策を推論し、こ
の推論にもとづき、該推論した対策を実行すべくインタ
ーフェース21、インターフェース18を介して成形条
件設定部12に対して成形条件変更のためのデータを送
出する。
また、ディスプレイ25には、キーボード26による入
力データの内容、各種センサ11による検出データ、成
形条件設定部12の設定データ、成形条件設定支援エキ
スパートシステム20の推論内容等が表示される。
力データの内容、各種センサ11による検出データ、成
形条件設定部12の設定データ、成形条件設定支援エキ
スパートシステム20の推論内容等が表示される。
第2図は成形条件設定支援エキスパートシステム20の
概略構成を層化ブロックで示したものである。成形条件
設定支援エキスパートシステム20は射出成形機100
に対するインターフェース21、成形条件、不具合状況
、不具合対策本、不具合解消ルール、過去の対策記録等
を記憶した知識ベース22、ディスプレイ25、キーボ
ード26に対するユーザーインターフェース24、知識
ベース22の知識にもとづき所望の推論を行ない、その
推論結果をインターフェース21、ユーザーインターフ
ェース24および知識ベース22に出力する推論エンジ
ン23から構成される。
概略構成を層化ブロックで示したものである。成形条件
設定支援エキスパートシステム20は射出成形機100
に対するインターフェース21、成形条件、不具合状況
、不具合対策本、不具合解消ルール、過去の対策記録等
を記憶した知識ベース22、ディスプレイ25、キーボ
ード26に対するユーザーインターフェース24、知識
ベース22の知識にもとづき所望の推論を行ない、その
推論結果をインターフェース21、ユーザーインターフ
ェース24および知識ベース22に出力する推論エンジ
ン23から構成される。
射出成形機100に関して不具合が生じた場合、オペレ
ータ27はこの不具合状況をディスプレイ25をみなが
らキーボード26により成形条件設定支援エキスパート
システム20に入力する。このキーボード26から入力
された不具合状況を示すデータはユーザーインターフェ
ース24を介して知識ベース22に加えられ、格納され
る。また射出成形1100からの各種データはインター
フェース21を介して知識ベース22に加えられ、格納
される。推論エンジン23は知識ベースの格納データに
もとづき発生した不具合に対する最適の対策を推論し、
この推論結果をユーザーインターフェース24を介して
ディスプレイ25に加え、これを表示する。またこの推
論結果はインターフェース21を介して射出成形橢10
0に送出され、推論した対策を実行すべく成形条件の変
更がなされる。
ータ27はこの不具合状況をディスプレイ25をみなが
らキーボード26により成形条件設定支援エキスパート
システム20に入力する。このキーボード26から入力
された不具合状況を示すデータはユーザーインターフェ
ース24を介して知識ベース22に加えられ、格納され
る。また射出成形1100からの各種データはインター
フェース21を介して知識ベース22に加えられ、格納
される。推論エンジン23は知識ベースの格納データに
もとづき発生した不具合に対する最適の対策を推論し、
この推論結果をユーザーインターフェース24を介して
ディスプレイ25に加え、これを表示する。またこの推
論結果はインターフェース21を介して射出成形橢10
0に送出され、推論した対策を実行すべく成形条件の変
更がなされる。
第3図はこの実施例の全体動作フローを示したものであ
る。
る。
まず、ステップ300において発生した不具合状況の入
力を行なう。この不具合状況の入力はオペレータにより
キーボード26により行なわれる。
力を行なう。この不具合状況の入力はオペレータにより
キーボード26により行なわれる。
具体的には、所定のフォーマットにしたがってディスプ
レイ25に表示される質問に応じて不具合名、使用材料
等を順次入力する。
レイ25に表示される質問に応じて不具合名、使用材料
等を順次入力する。
次にステップ301において、射出成形機100から自
動入力された成形条件の現存値、知識ベース22の記憶
データおよび上述したステップ300で入力された不具
合状況を示すデータにもとづき、発生した不具合に対す
る最適な対策を推論する対策の絞り込みを行なう。この
対策の絞り込みは知識ベース22に基本知識として記憶
されている不具合対策本および不具合解消ルール及びそ
の伯の記憶ないようにもとづき行なわれる。
動入力された成形条件の現存値、知識ベース22の記憶
データおよび上述したステップ300で入力された不具
合状況を示すデータにもとづき、発生した不具合に対す
る最適な対策を推論する対策の絞り込みを行なう。この
対策の絞り込みは知識ベース22に基本知識として記憶
されている不具合対策本および不具合解消ルール及びそ
の伯の記憶ないようにもとづき行なわれる。
第4図はこの不具合対策本の1例を示したものである。
この不具合対策本は不具合を表わす事象x1.X2・・
・ に対して、その原因を表わす事朶Y 、Y 、
・・・ が対応して示されており、1 2 Y3 この原因を表わす事象Y1.Y2.Y3に対して、この
原因に対する対策を表わす事象Z 、zつ。
・ に対して、その原因を表わす事朶Y 、Y 、
・・・ が対応して示されており、1 2 Y3 この原因を表わす事象Y1.Y2.Y3に対して、この
原因に対する対策を表わす事象Z 、zつ。
23.24.25・・・ が対応して示されている。
例えば、事象×1で表わされる不具合については、事象
Y 、Y2で表わされる原因が考えられ、↓象Y1で表
わされる原因については、事象Z1゜Z2で表わされる
対策が考えられ、また事象Y2で表わされる原因につい
ては、事象Z 、Z で表わされる対策が考えられるこ
とを示している。
Y 、Y2で表わされる原因が考えられ、↓象Y1で表
わされる原因については、事象Z1゜Z2で表わされる
対策が考えられ、また事象Y2で表わされる原因につい
ては、事象Z 、Z で表わされる対策が考えられるこ
とを示している。
ステップ301では、この知識ベース22の記憶内容に
もとづき、最適な対策を推論する。この推論は、不具合
の優先度付け(ステップ310)。
もとづき、最適な対策を推論する。この推論は、不具合
の優先度付け(ステップ310)。
原因の優先度付け(ステップ320)、対策の優先度付
け(ステップ340)によって行なわれる。
け(ステップ340)によって行なわれる。
具体的には、第5図に示すように、まず、入力された不
具合(xl、×2.×3)について対策すべき順に優先
度を付け、そ の優先同順に不具合リスl−(X11. X、2. X
13)を作成する(ステップ310)。続いて最優先の
不具合×11に対して不具合状況より原因を推定して推
定した原因に関して優先同順に原因りスト(Yil、”
i2’ ” i3.・・・ )を作成する(ステップ
320)。更に最優先の原因Yi1について考えられる
対策を推定し、この改定した対策に対して優先同順に対
策リスト(22,2,・・・ )i1’ +2° 1
3・ を作成する(ステップ340)。これにより対策リスト
の最優先の対策Z11を入力された不具合に対する最適
な対策として絞り込む。これにより、インターフェース
21、インターフェース18を介して、上記対策Zi1
を実行すべく射出成形機100の成形条件が自動セット
される。
具合(xl、×2.×3)について対策すべき順に優先
度を付け、そ の優先同順に不具合リスl−(X11. X、2. X
13)を作成する(ステップ310)。続いて最優先の
不具合×11に対して不具合状況より原因を推定して推
定した原因に関して優先同順に原因りスト(Yil、”
i2’ ” i3.・・・ )を作成する(ステップ
320)。更に最優先の原因Yi1について考えられる
対策を推定し、この改定した対策に対して優先同順に対
策リスト(22,2,・・・ )i1’ +2° 1
3・ を作成する(ステップ340)。これにより対策リスト
の最優先の対策Z11を入力された不具合に対する最適
な対策として絞り込む。これにより、インターフェース
21、インターフェース18を介して、上記対策Zi1
を実行すべく射出成形機100の成形条件が自動セット
される。
ステップ301における不具合の優先度付はステップ3
10.原因の優先度付はステップ320、対策の優先度
付はステップ340の詳細例を示すと第6図、第7図、
第8図のようになる。
10.原因の優先度付はステップ320、対策の優先度
付はステップ340の詳細例を示すと第6図、第7図、
第8図のようになる。
すなわち、不具合の優先度付はステップ310は、第6
図に示すようにまず、ステップ311において入力され
た不具合の特定を行ない、次にステップ312において
この特定された不具合×1゜×2.X3を知識ベース2
2に記憶された[不具合−優先度対応表」 (図示せず
)を用いて優先度付けする。続いて、ステップ313に
おいて、優先度付けされた不具合を優先同順に並べ換え
、不具合リスト(X11. X、2. X、、 ・)
ヲ作ル。
図に示すようにまず、ステップ311において入力され
た不具合の特定を行ない、次にステップ312において
この特定された不具合×1゜×2.X3を知識ベース2
2に記憶された[不具合−優先度対応表」 (図示せず
)を用いて優先度付けする。続いて、ステップ313に
おいて、優先度付けされた不具合を優先同順に並べ換え
、不具合リスト(X11. X、2. X、、 ・)
ヲ作ル。
この場合、不具合−優先度対応表から求めた優先度が同
位である場合は入力の早い方の不具合を優先する。
位である場合は入力の早い方の不具合を優先する。
死生不具合が“ひけ”の場合における原因の優先度付は
ステップの1例が第7図に示される。第7図において、
原因の優先度付けをすべき不具合が“ひけ”である場合
は、まず、ステップ321からステップ322に移行し
、“′ひげ”の発生場所がゲート遠方だけか否かの判断
がなされる。ここで、゛ひけ″の発生場所がゲート遠方
だけでなく全体に生じているとすると、ステップ323
に移行し材料の計量が適性であるか否かのチェックを行
なう。このチェックにおいて材料の計量に問題があると
するとステップ324に移行して不具合の原因の最優先
順位として「樹脂量不足」であると推論する。
ステップの1例が第7図に示される。第7図において、
原因の優先度付けをすべき不具合が“ひけ”である場合
は、まず、ステップ321からステップ322に移行し
、“′ひげ”の発生場所がゲート遠方だけか否かの判断
がなされる。ここで、゛ひけ″の発生場所がゲート遠方
だけでなく全体に生じているとすると、ステップ323
に移行し材料の計量が適性であるか否かのチェックを行
なう。このチェックにおいて材料の計量に問題があると
するとステップ324に移行して不具合の原因の最優先
順位として「樹脂量不足」であると推論する。
また、ステップ323において、材料のit fMが適
性であると判断されると、ステップ325に分岐し、次
に保圧が適性であるか否かのチェックを行なう。ここで
保圧に問題があると判断されると、ステップ326に移
行し、不具合の原因が「保圧不足」であるとnt論する
。
性であると判断されると、ステップ325に分岐し、次
に保圧が適性であるか否かのチェックを行なう。ここで
保圧に問題があると判断されると、ステップ326に移
行し、不具合の原因が「保圧不足」であるとnt論する
。
ステップ325において保圧が適性であるとするとステ
ップ327に分岐し、次にゲート部に“ひけ”が生じて
いるか否かの判断を行なう。ここでゲート部に“ひけ”
が生じていると判断されるとステップ328に移行して
不具合の原因として「ゲートシールが早い」と推論する
。また、ステップ325において、ゲート部に“ひけ”
が生じていないと判断されると、ステップ329に移行
し、“ひけ”の発生箇所は厚肉部か否かの判断がなされ
る。ここで“ひけ”の発生箇所か厚肉部ではないと判断
されるとステップ328に移行して不具合の原因が「ゲ
ートシーるが早い」と推論し、厚肉部であると判断され
るとステップ330に移行し、不具合の原因が「成形収
縮大」であると推論する。
ップ327に分岐し、次にゲート部に“ひけ”が生じて
いるか否かの判断を行なう。ここでゲート部に“ひけ”
が生じていると判断されるとステップ328に移行して
不具合の原因として「ゲートシールが早い」と推論する
。また、ステップ325において、ゲート部に“ひけ”
が生じていないと判断されると、ステップ329に移行
し、“ひけ”の発生箇所は厚肉部か否かの判断がなされ
る。ここで“ひけ”の発生箇所か厚肉部ではないと判断
されるとステップ328に移行して不具合の原因が「ゲ
ートシーるが早い」と推論し、厚肉部であると判断され
るとステップ330に移行し、不具合の原因が「成形収
縮大」であると推論する。
また、ステップ322において“ひけ”の発生場所がゲ
ート遠方だけであると判断されると、ステップ331に
分岐し、使用材料は結晶性であるか否かの判断がなされ
る。ここで使用材料が結晶性であると判断された場合は
ステップ330に移行し、不具合の原因が「成形収縮大
」であると推論する。また、ステップ331において使
用材料が結晶性ではないと判断された場合はステップ3
32に移行し、゛・途中に薄肉部があるが印かの判断が
なされる。ここで途中に薄肉部があると判断されるとス
テップ333に移行し、不具合の原因は「圧力伝播不足
」であると推論する。また、途中に薄肉部がないと判断
されるとステップ330に移行し、不具合の原因は「成
形収縮大」であると推論する。
ート遠方だけであると判断されると、ステップ331に
分岐し、使用材料は結晶性であるか否かの判断がなされ
る。ここで使用材料が結晶性であると判断された場合は
ステップ330に移行し、不具合の原因が「成形収縮大
」であると推論する。また、ステップ331において使
用材料が結晶性ではないと判断された場合はステップ3
32に移行し、゛・途中に薄肉部があるが印かの判断が
なされる。ここで途中に薄肉部があると判断されるとス
テップ333に移行し、不具合の原因は「圧力伝播不足
」であると推論する。また、途中に薄肉部がないと判断
されるとステップ330に移行し、不具合の原因は「成
形収縮大」であると推論する。
なお、上記各判断はインターフェース21を介して射出
成形1100から直接取込まれたデータまたはオペレー
タによりキーボード26から入力されたデータにもとづ
き行なわれる。
成形1100から直接取込まれたデータまたはオペレー
タによりキーボード26から入力されたデータにもとづ
き行なわれる。
また、第7図には不具合が“ひけ”の場合における原因
の推論について示したが、他の不具合についても同様に
原因を推論し、この推論結果にもとづき原因の優先度付
けを行ない、原因リスト(Yil” i2” i3 、
・・・ )を作成する。
の推論について示したが、他の不具合についても同様に
原因を推論し、この推論結果にもとづき原因の優先度付
けを行ない、原因リスト(Yil” i2” i3 、
・・・ )を作成する。
第8図は、不具合が“ひけ”で原因が「圧力伝播不足」
の場合における対策の優先度付けのフローの1例を示し
たものである。
の場合における対策の優先度付けのフローの1例を示し
たものである。
まず、ステップ341において知識ベース22の不具合
対策水から原因「圧力伝播不足」に対する対策リスト(
Zl、Z2.Z3.・・・ )を求める。ここで対策/
は「射出圧力をΔP1上げる」、対策Z は「保圧を
ΔP11上げる」、対策Z3は「保圧時間をΔ”I+延
ばす」であるとする。なお、ΔP 、ΔP 、ΔTHは
予め適宜設定されI H た鎮である。
対策水から原因「圧力伝播不足」に対する対策リスト(
Zl、Z2.Z3.・・・ )を求める。ここで対策/
は「射出圧力をΔP1上げる」、対策Z は「保圧を
ΔP11上げる」、対策Z3は「保圧時間をΔ”I+延
ばす」であるとする。なお、ΔP 、ΔP 、ΔTHは
予め適宜設定されI H た鎮である。
次に、ステップ342において、使用材料の収縮性は樹
脂温度で変化するか否かの判断がなされる。ここで使用
材料の収縮性が樹脂温度で変化するものであるとステッ
プ343に分岐し、対策Z1の優先度を下げる処理を行
なう。
脂温度で変化するか否かの判断がなされる。ここで使用
材料の収縮性が樹脂温度で変化するものであるとステッ
プ343に分岐し、対策Z1の優先度を下げる処理を行
なう。
次にステップ344において使用材料の流動性は良いか
否かの判断がなされる。ここで使用材料の流動性が良く
ないものであるとすると、ステップ345に分岐し、対
策Z1の優先度を上げる処理を行なう。
否かの判断がなされる。ここで使用材料の流動性が良く
ないものであるとすると、ステップ345に分岐し、対
策Z1の優先度を上げる処理を行なう。
更に、次の“ひけ”の発生位置はゲートから遠いか否か
の判断がなされる。ここで“ひけ”のR1位置がゲート
から遠いとするとステップ347に分岐し対策Z 、z
の優先度を上げる処理を行なう。このようにして、各
判断および各処理を実行した後、ステップ348に移行
し、対策Z1゜Z 、z を優先度類に並べ換え、対策
リスト(Z Z、 Z、)を作成する処理を実行
する。
の判断がなされる。ここで“ひけ”のR1位置がゲート
から遠いとするとステップ347に分岐し対策Z 、z
の優先度を上げる処理を行なう。このようにして、各
判断および各処理を実行した後、ステップ348に移行
し、対策Z1゜Z 、z を優先度類に並べ換え、対策
リスト(Z Z、 Z、)を作成する処理を実行
する。
11・ +21+3
なお、第8図においては不具合が“ひけ”で原因が「圧
力伝播不足」の場合についての対策優先度付はフローの
1例を示したが、他の不具合、他の原因についても同様
のフローが用意されており、それぞれのフローにおいて
対策の優先度付けが実行される。ここにおいても上記各
判断はインターフェース21を介して射出成形1110
0から直接取込まれたデータまたはオペレータによりキ
ーボード26から入力されたデータにもとづき行なわれ
る。
力伝播不足」の場合についての対策優先度付はフローの
1例を示したが、他の不具合、他の原因についても同様
のフローが用意されており、それぞれのフローにおいて
対策の優先度付けが実行される。ここにおいても上記各
判断はインターフェース21を介して射出成形1110
0から直接取込まれたデータまたはオペレータによりキ
ーボード26から入力されたデータにもとづき行なわれ
る。
ステップ301(第3図)において発生した不具合に対
する最適な対策の絞り込みがなされ、インターフェース
21、インターフェース18を介して上記対策711を
実行すべく射出成形機100の成形条件が自動セットさ
れると、ステップ302に移行し、この対策Zi1が実
行された状態で射出成形機100の試射が行なわれる。
する最適な対策の絞り込みがなされ、インターフェース
21、インターフェース18を介して上記対策711を
実行すべく射出成形機100の成形条件が自動セットさ
れると、ステップ302に移行し、この対策Zi1が実
行された状態で射出成形機100の試射が行なわれる。
その後ステップ400に移行し、上記試射に対する後処
理が実行される。ステップ400の後処理の詳細例を第
9図に示す。
理が実行される。ステップ400の後処理の詳細例を第
9図に示す。
まず、ステップ401において、対策Zi1を施した上
記試射に関して他に不具合が発生したか否かの判断がな
される。この判断において他に不具合が発生しないと判
断されるとステップ402に移行し、対策しようとする
不具合が良い方向に向ったか否かの判断がなされる。こ
こで良い方向に向ったと判断されるとステップ403に
移行し、対策しようとした対策不具合は消滅したか否か
の判断がなされ、消滅していなければステップ404に
移行して現対策を続行し、消滅したと判断されると対策
していない次の不具合に対する対策処理へ移行する。
記試射に関して他に不具合が発生したか否かの判断がな
される。この判断において他に不具合が発生しないと判
断されるとステップ402に移行し、対策しようとする
不具合が良い方向に向ったか否かの判断がなされる。こ
こで良い方向に向ったと判断されるとステップ403に
移行し、対策しようとした対策不具合は消滅したか否か
の判断がなされ、消滅していなければステップ404に
移行して現対策を続行し、消滅したと判断されると対策
していない次の不具合に対する対策処理へ移行する。
ステップ401において、対策Zi1を施した上記試射
に関して他に不具合が発生したと判断されると、ステッ
プ405に分岐し、新たに発生した不具合が対策しよう
とした不具合より優先度が大か否かの判断がなされる。
に関して他に不具合が発生したと判断されると、ステッ
プ405に分岐し、新たに発生した不具合が対策しよう
とした不具合より優先度が大か否かの判断がなされる。
この判断において優先度が小であると判断されるとステ
ップ402に移行し、前述したと同様の処理が実行され
る。またステップ405において新たに発生した不具合
が対策しようとした不具合より優先度が人であると判断
された場合にステップ406に分岐し、ステップ301
(第3図)で推論した対策リストの中にまだ採用してい
ない対策があるか否かの判断がなされる。ここでまだ採
用していない対策があるとするとステップ407に移行
し、採用していない対策の中のR優先の対策を選択し、
この対策に変更する処理を実行する。例えば上述の対策
リスト(Z Z・ Z、 ・・・ )のうちの対策
711i1’ +2’ +3’ を実行していてステップ407に至った場合には対策リ
ス1−の中からZilを除去し、残りの対策リスl−(
Z 、、 Z 、3.・・・ )の中から対策Zi2を
選択して、対策Z11からこの対策Zi2に変更する処
理が実行される。
ップ402に移行し、前述したと同様の処理が実行され
る。またステップ405において新たに発生した不具合
が対策しようとした不具合より優先度が人であると判断
された場合にステップ406に分岐し、ステップ301
(第3図)で推論した対策リストの中にまだ採用してい
ない対策があるか否かの判断がなされる。ここでまだ採
用していない対策があるとするとステップ407に移行
し、採用していない対策の中のR優先の対策を選択し、
この対策に変更する処理を実行する。例えば上述の対策
リスト(Z Z・ Z、 ・・・ )のうちの対策
711i1’ +2’ +3’ を実行していてステップ407に至った場合には対策リ
ス1−の中からZilを除去し、残りの対策リスl−(
Z 、、 Z 、3.・・・ )の中から対策Zi2を
選択して、対策Z11からこの対策Zi2に変更する処
理が実行される。
ステップ406において、まだ採用していない対策がな
いと判断されると、ステップ408に移行し、次にまだ
採用していない原因があるが否がの判断がなされる。こ
こでまだ採用していない原因があるとすると、ステップ
409に移行し、この採用していない原因のうちの最優
先の原因を選択し、この原因にもとづり5I!lL理に
変更する処理を実行する。例えば上述の対策リスト(z
Z11゛12・ Zi3.・・・ )を全て採用してしまった場合は原因
りスト(Yll、Yi2.Yi3.・・・ )から既に
採用した原因Y11を除去し、残りの原因リスト(Y
、2゜Yi3.・・・ )の中から最優先の原因Yi2
を選択しこの原因Y12を原因Yi1に代えて採用する
処理を実行する。なお、ステップ408において採用し
ていない原因がなくなったと判断されると1失敗」とし
て、これにもとづく所定の処理がなされる。
いと判断されると、ステップ408に移行し、次にまだ
採用していない原因があるが否がの判断がなされる。こ
こでまだ採用していない原因があるとすると、ステップ
409に移行し、この採用していない原因のうちの最優
先の原因を選択し、この原因にもとづり5I!lL理に
変更する処理を実行する。例えば上述の対策リスト(z
Z11゛12・ Zi3.・・・ )を全て採用してしまった場合は原因
りスト(Yll、Yi2.Yi3.・・・ )から既に
採用した原因Y11を除去し、残りの原因リスト(Y
、2゜Yi3.・・・ )の中から最優先の原因Yi2
を選択しこの原因Y12を原因Yi1に代えて採用する
処理を実行する。なお、ステップ408において採用し
ていない原因がなくなったと判断されると1失敗」とし
て、これにもとづく所定の処理がなされる。
また、ステップ402において良い方向に向っていない
と判断されるとステップ406に分岐し、ステップ40
6以下上述と同様の処理がなされる。
と判断されるとステップ406に分岐し、ステップ40
6以下上述と同様の処理がなされる。
なお、第9図のフローにおける各判断はキーボード26
からオペレータにより入力されたデータ、インターフェ
ース21を介して射出成形11’OOから直接入力され
たデータ、知識ベース22の記憶データにもとづき行な
われる。
からオペレータにより入力されたデータ、インターフェ
ース21を介して射出成形11’OOから直接入力され
たデータ、知識ベース22の記憶データにもとづき行な
われる。
このようにして1つの不具合が解除すると現在発生して
いる残りの不具合に対して原因の優先度付け、対策の優
先度付け、試射、後処理が行なわれ、この動作が不具合
リストが空になるまで繰り返えされる。
いる残りの不具合に対して原因の優先度付け、対策の優
先度付け、試射、後処理が行なわれ、この動作が不具合
リストが空になるまで繰り返えされる。
結局、オペレータはアイスプレイ25を介する質問に対
して必要があればキーボード26を用いてデータを入力
または選択するだけで射出成形は100に対して最適な
成形条件を自動的に設定できることになる。
して必要があればキーボード26を用いてデータを入力
または選択するだけで射出成形は100に対して最適な
成形条件を自動的に設定できることになる。
第10図は、この発明の他の実施例を全体動作フローで
示したものである。この実施例は基本的には第3図に示
した動作フローのものと同様であるが、この実施例の動
作フローにおいてはステップ400で示される後処理に
おいて収集された対策記録303にらとずき実施した対
策による不具合の発生の可能性を推論し、この推論にも
とすき実施する対策の選択に対する知識を供給するステ
ップ304を新たに加えている。このステップ3O4の
追加により、第9図に示したフローは第11図に示すよ
うに変更される。すなわち、第11図においては、ステ
ップ402において対策Z1の実施により良い方向に向
かった場合にはその記録を対策記録へとして収集するス
テップ411、良い方向に向かわなかった場合はその記
録を対策記OBとして収集するステップ41o1ステツ
プ401で対策z1の実施により他の不具合が発生した
場合はその記録を収集する対策記録Cとしてステ、ツブ
412が追加されている。
示したものである。この実施例は基本的には第3図に示
した動作フローのものと同様であるが、この実施例の動
作フローにおいてはステップ400で示される後処理に
おいて収集された対策記録303にらとずき実施した対
策による不具合の発生の可能性を推論し、この推論にも
とすき実施する対策の選択に対する知識を供給するステ
ップ304を新たに加えている。このステップ3O4の
追加により、第9図に示したフローは第11図に示すよ
うに変更される。すなわち、第11図においては、ステ
ップ402において対策Z1の実施により良い方向に向
かった場合にはその記録を対策記録へとして収集するス
テップ411、良い方向に向かわなかった場合はその記
録を対策記OBとして収集するステップ41o1ステツ
プ401で対策z1の実施により他の不具合が発生した
場合はその記録を収集する対策記録Cとしてステ、ツブ
412が追加されている。
ステップ304では第11図のステップ410、ステッ
プ411、ステップ412において収集された対策記録
A1対策記録81対策記録Cにもとづき対策71の実施
による不具合の発生の可能性を推論する。
プ411、ステップ412において収集された対策記録
A1対策記録81対策記録Cにもとづき対策71の実施
による不具合の発生の可能性を推論する。
第12図は上記不具合の発生の可能性を推論するフロー
を示したものである。
を示したものである。
まず、ステップ500において、対策記録Aにもとづき
、対策Z1の実施の結果不具合が良くなる方向に向った
記録があるか否かの判断を行なう。
、対策Z1の実施の結果不具合が良くなる方向に向った
記録があるか否かの判断を行なう。
ここて良くなる方向に向った記録があるとするとステッ
プ501に分岐してその可能性の計算を行なう。この可
能性の計算の結果はステップ502において「小」か否
かの判断がなされる。ここで「小」でないと判定される
とステップ503に移行して不具合の発生の可能性は「
大」と推論される。
プ501に分岐してその可能性の計算を行なう。この可
能性の計算の結果はステップ502において「小」か否
かの判断がなされる。ここで「小」でないと判定される
とステップ503に移行して不具合の発生の可能性は「
大」と推論される。
ステップ500で対策記録Aには良くなった記録がない
と判断された場合およびステップ502において可能性
「小」と判定された場合はステップ504に移行し、対
策記録Bにもとづき対策Z、の実施によって対策しよう
とする不具合が悪ζ 化した記録があるか否かの判断を行う。ここで悪化した
記録があると判断されるとステップ505に分岐し、そ
の可能性の計口を行う。この計算の結果はステップ50
6において「小」か否かの判定がなされる。ここで1小
」でないと判定されるとステップ507(移行して不具
合の発生の可能性は1大」と推論される。
と判断された場合およびステップ502において可能性
「小」と判定された場合はステップ504に移行し、対
策記録Bにもとづき対策Z、の実施によって対策しよう
とする不具合が悪ζ 化した記録があるか否かの判断を行う。ここで悪化した
記録があると判断されるとステップ505に分岐し、そ
の可能性の計口を行う。この計算の結果はステップ50
6において「小」か否かの判定がなされる。ここで1小
」でないと判定されるとステップ507(移行して不具
合の発生の可能性は1大」と推論される。
ステップ504で対策記録Bには悪化した記録がないと
判断された場合およびステップ506で可能性が「小」
と判定された場合はステップ508に移行し、対策2
の実施によってその不具合が発生する可能性があるか否
かの判断を行う。ここで不具合の発生の可能性なしと判
断されると次の不具合に対する可能性推論処理に移行す
る。
判断された場合およびステップ506で可能性が「小」
と判定された場合はステップ508に移行し、対策2
の実施によってその不具合が発生する可能性があるか否
かの判断を行う。ここで不具合の発生の可能性なしと判
断されると次の不具合に対する可能性推論処理に移行す
る。
ステップ508において不具合が発生する可能性がある
と判断されると、次のステップ509において対策記録
A、対策記録B、対策記録Cにもとづき過去に不具合が
発生しているか否かの判断を行なう。ここで過去に不具
合が発生していないと判断されるとステップ510に分
岐し次にその発生した不具合は対策Z・と反対の対策Z
、をもつか否かの判断がなされる。ここで対策Z、を有
■ しないと判断されるとステップ511に移行し不具合発
生の可能性は「小」と推論する。
と判断されると、次のステップ509において対策記録
A、対策記録B、対策記録Cにもとづき過去に不具合が
発生しているか否かの判断を行なう。ここで過去に不具
合が発生していないと判断されるとステップ510に分
岐し次にその発生した不具合は対策Z・と反対の対策Z
、をもつか否かの判断がなされる。ここで対策Z、を有
■ しないと判断されるとステップ511に移行し不具合発
生の可能性は「小」と推論する。
またステップ509において不具合が過去に発生じてい
ると判定されると次にステップ513においての不具合
は対策Z、と反対の対策Z、をもつか否かの判断がなさ
れる。ここで対策71を有しないと判断されるとステッ
プ514に移行し不具合の発生の可能性は「大」と推論
する。
ると判定されると次にステップ513においての不具合
は対策Z、と反対の対策Z、をもつか否かの判断がなさ
れる。ここで対策71を有しないと判断されるとステッ
プ514に移行し不具合の発生の可能性は「大」と推論
する。
なお、ステップ510において対策Ziを有すると判断
された場合およびステップ513において対策Z を有
すると判断された場合および、ステップ513において
対策Z・を有すると判断さ■ れた場合はそれぞれステップ512およびステップ51
5に移行する。この場合は不具合の発生の可能性は「不
定」と判定される。
された場合およびステップ513において対策Z を有
すると判断された場合および、ステップ513において
対策Z・を有すると判断さ■ れた場合はそれぞれステップ512およびステップ51
5に移行する。この場合は不具合の発生の可能性は「不
定」と判定される。
第12図に示すフローにもとづき不具合発生の可能性が
「大」か「小」かの推論がなされると、この推論結果に
もとづき、第13図に示す処理が実行される。
「大」か「小」かの推論がなされると、この推論結果に
もとづき、第13図に示す処理が実行される。
第13図において、まず、ステップ600において不具
合発生の可能性が「大」であるか否かの判断がなされる
。ここで不具合発生の可能性が「大」でないと判断され
るとステップ601に移行し、現対策を続行する処理が
実行される。
合発生の可能性が「大」であるか否かの判断がなされる
。ここで不具合発生の可能性が「大」でないと判断され
るとステップ601に移行し、現対策を続行する処理が
実行される。
またステップ600において不具合発生の可能性が「大
」であると判断されると、次のステップ602において
この発生する不具合は重大な不具合か否かの判断がなさ
れる。ここで重大な不具合でないと判断されると上述し
たステップ601に移行し、現対策を続行する処理が実
行される。しかし、ステップ602において重大な不具
合であると判断されるとステップ603に分岐し、次に
対策7.の変更幅は微小か否かの判断がなされる。
」であると判断されると、次のステップ602において
この発生する不具合は重大な不具合か否かの判断がなさ
れる。ここで重大な不具合でないと判断されると上述し
たステップ601に移行し、現対策を続行する処理が実
行される。しかし、ステップ602において重大な不具
合であると判断されるとステップ603に分岐し、次に
対策7.の変更幅は微小か否かの判断がなされる。
ここで微小でないと判断されるとステップ604に移行
して変更幅を半分に減少させる。またステップ603で
微小であると判断された場合はステップ605に移行し
て他の対策に変更する処理を実行する(すなわち、この
対策の優先度を下げる)。
して変更幅を半分に減少させる。またステップ603で
微小であると判断された場合はステップ605に移行し
て他の対策に変更する処理を実行する(すなわち、この
対策の優先度を下げる)。
このようにこの実施例によれば、過去の対策記録にもと
づき、推論された対策の実行により発生する不具合を大
小の可能性で予測し、重大な不具合の発生する可能性が
あると変更幅を小さくJるかその対策の優先度を下げる
は能が付加されているので、失敗の生じない最適な対策
に素早く到達することができる。
づき、推論された対策の実行により発生する不具合を大
小の可能性で予測し、重大な不具合の発生する可能性が
あると変更幅を小さくJるかその対策の優先度を下げる
は能が付加されているので、失敗の生じない最適な対策
に素早く到達することができる。
第14図はこの発明の更に他の実施例を全体動作フロー
で示したものである。この実施例では第3図に示した実
施例にステップ315で示される共通対策の選tB%理
を追加して構成される。
で示したものである。この実施例では第3図に示した実
施例にステップ315で示される共通対策の選tB%理
を追加して構成される。
追加したステップ315においては、入力された複数の
不具合に対して共通な対策を選出する処理を実行する。
不具合に対して共通な対策を選出する処理を実行する。
第15図はこのステップ315で示される」し通対策の
選択処理の1例を示したものである。第15図において
、まず、ステップ700で最優先不具合X11に対する
対策候補のリスト(C1,C2゜C3,・・・ )を求
める。この対策候補のリストは知識ベース22の不具合
対策水を用いて作成される。
選択処理の1例を示したものである。第15図において
、まず、ステップ700で最優先不具合X11に対する
対策候補のリスト(C1,C2゜C3,・・・ )を求
める。この対策候補のリストは知識ベース22の不具合
対策水を用いて作成される。
次にステップ701において、各対策候補C1゜C,C
3,・・・ について、他の不具合、xll。
3,・・・ について、他の不具合、xll。
X12.・・・ に対する有効性を上記不具合対策水か
ら推論し、共通に対策できる他の不具合のリストCXを
作成する。この不具合のりストCXの作成スジ は他の不具合Xi2. X i3.・・・ に対して各
対策候補c、c、c3.・・・ が有効であるかをI(
i’i次判断することによって行なわれる。すなわち、
まず、ステップ710において対策候補Ck (k−1
,2,3,・・・ )が不具合Xij<j=2.3゜・
・・ )に対して有効であるか否かの判断を行なう。
ら推論し、共通に対策できる他の不具合のリストCXを
作成する。この不具合のりストCXの作成スジ は他の不具合Xi2. X i3.・・・ に対して各
対策候補c、c、c3.・・・ が有効であるかをI(
i’i次判断することによって行なわれる。すなわち、
まず、ステップ710において対策候補Ck (k−1
,2,3,・・・ )が不具合Xij<j=2.3゜・
・・ )に対して有効であるか否かの判断を行なう。
ここで対策候補Ckが不具合Xijに対して有効である
と判断されるとステップ720に移行し、対策候補Cで
対策可能な不具合のりストCXk(k=1.2.3.・
・・ )に不具合x、を加える。
と判断されるとステップ720に移行し、対策候補Cで
対策可能な不具合のりストCXk(k=1.2.3.・
・・ )に不具合x、を加える。
上記処理を全ての対策候補および入力された不具合に対
して実行することにより各対策候補C1゜C2,C3,
・・・ によって対策可能な複数の不具合リストCxk
を作成する。
して実行することにより各対策候補C1゜C2,C3,
・・・ によって対策可能な複数の不具合リストCxk
を作成する。
続いて、ステップ702に移行し、ステップ701で作
成した複数の不具合リストCXkを用い最も多くの不具
合に対して共通に有効な対策候補のリスト(Z、Z、Z
、・・・ )を作成する。
成した複数の不具合リストCXkを用い最も多くの不具
合に対して共通に有効な対策候補のリスト(Z、Z、Z
、・・・ )を作成する。
ステップ315において共通対策の選出、すなわち、最
も多くの不具合に対して共通に有効な対策候補のリスト
(Zl 、 Z2 、 Z3 、・・・ )を作成する
と、次のステップ320に移行して原因の優先度付は処
理を実行し、続いてステップ340に移行して対策の優
先度付は処理を実行する。ステップ320、ステップ3
40における処理内容は第3図または第10図に示した
ものとほぼ同様であり、これらの処理G、t 1本的に
は知識ベース22に記憶されている前述した不具合解消
ルールにもとづき行なわれる。ただし、この実施例にお
いてはステップ315において作成された最も多くの不
具合に対して共通に有効な対策候補のリスト<2 .2
.2 、・・・ )にもとづき上記原因および対策
の優先度付は処理がなされる。
も多くの不具合に対して共通に有効な対策候補のリスト
(Zl 、 Z2 、 Z3 、・・・ )を作成する
と、次のステップ320に移行して原因の優先度付は処
理を実行し、続いてステップ340に移行して対策の優
先度付は処理を実行する。ステップ320、ステップ3
40における処理内容は第3図または第10図に示した
ものとほぼ同様であり、これらの処理G、t 1本的に
は知識ベース22に記憶されている前述した不具合解消
ルールにもとづき行なわれる。ただし、この実施例にお
いてはステップ315において作成された最も多くの不
具合に対して共通に有効な対策候補のリスト<2 .2
.2 、・・・ )にもとづき上記原因および対策
の優先度付は処理がなされる。
このように、この実施例においては、不具合が複数同時
に発生している場合において、これら不具合に共通な対
策を絞り込むn能が付加されているので短時間に最適な
対策処理を行うことが可能となる。
に発生している場合において、これら不具合に共通な対
策を絞り込むn能が付加されているので短時間に最適な
対策処理を行うことが可能となる。
なお、上記実施例ではこの発明を射出成形機の成形条件
設定に適用した場合に示したが、同様にレーザ切[!f
in、プラズマ切断別、各種プレス等の運転条件の設定
に対しても適用できるのは勿論である。
設定に適用した場合に示したが、同様にレーザ切[!f
in、プラズマ切断別、各種プレス等の運転条件の設定
に対しても適用できるのは勿論である。
また、上記実施例では射出成形機の運転条件の設定にこ
の発明の適用した場合を示したが、これはあくまでもこ
の発明の一実施例であってこの発明の装置によって制御
対g!機械の各部を直接制御するようにしてもよい。す
なわち、この発明はこの発明の推論手段を制御対象機械
にオンラインで接続したことに特徴がありこれにより制
御対象機械の稼動を特別の知識、技能を必要なくして最
適な状態で行うことができるとともに人間の判り部分を
出来るだけ少なくしたもので、これにもとづく種々の変
型例が考えられる。
の発明の適用した場合を示したが、これはあくまでもこ
の発明の一実施例であってこの発明の装置によって制御
対g!機械の各部を直接制御するようにしてもよい。す
なわち、この発明はこの発明の推論手段を制御対象機械
にオンラインで接続したことに特徴がありこれにより制
御対象機械の稼動を特別の知識、技能を必要なくして最
適な状態で行うことができるとともに人間の判り部分を
出来るだけ少なくしたもので、これにもとづく種々の変
型例が考えられる。
実行することができ、また操作においては特別な技能が
必要でなく高度な専門家がいなくても判断対象n械を最
適な状態で有効に稼動させることができる。例えば、こ
の発明をq・1出成形機の運転条件の設定に適用した場
合には特に知識、技能を有することなく運転条件を類時
間で最適な状態に設定することが可能であり、更に新た
に経験が装置内に順次蓄積されていく構成をとっている
ので技術の継承、蓄積も可能となる。
必要でなく高度な専門家がいなくても判断対象n械を最
適な状態で有効に稼動させることができる。例えば、こ
の発明をq・1出成形機の運転条件の設定に適用した場
合には特に知識、技能を有することなく運転条件を類時
間で最適な状態に設定することが可能であり、更に新た
に経験が装置内に順次蓄積されていく構成をとっている
ので技術の継承、蓄積も可能となる。
第1図はこの発明の一実施例の全体構成を示す構成図、
第2図は同実施例の一部に注目した構成図、第3図は同
実施例の全体動作を示すフローチp −I−1第4図は
不具合−原因一対策の関係を示す図、第5図は優先度付
は動作を説明する説明図、第6図、第7図、第8図、第
9図は第3図に示したフローチャートの各部詳細フロー
チセート、第10図は他の実施例の全体動作を示すフロ
ーチャート、第11図、第12図、第13図は第10図
に示したフローチャー1・の各部詳細フローチセ−1・
、第14図は更に他の実施例の全体動作を示すフローチ
ャート、第15図は第14図に示したフローチャートの
一部詳細フローチャートである。 10・・・制御部、20・・・成形条件設定支援エキス
パートシステム、100・・・射■成形門。 第3図 不具合−原因−nwLの開割 第4図 第5図 不異合のイ辱兜皮付 第6図 一二二二−92二二−二二−二不具令γひi工て片口が
斤刀イム糧不足の場合)第8図 第10図 発生■る不具合の可能在の利足 第12図 判定イ乏の泗理 第14図 第15図 手続ネ甫正書く自発) 1、事件の表示 昭和62年特許願第90092号 2、発明の名称 推論機能を有する制御装置 3、補正をする者 裏付との関係 特許出願人 (123)株式会社小松製作所 4、代理人 (〒104)東京都中央区銀座2丁目11番2号銀座大
作ビル6階 電話03−545−3508 (代表)明
IIl書の発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 (1)本願の明細書第28ページ第13行、第28ペー
ジ第19行の「反対の対策Z、Jをそれぞれ「反対の対
策Z、」に訂正する。 (2)同、第28ページ第14行、第28ページ第20
行、第29ページ第3行、第29ページ第5行、第29
ページ第6行の[対策Ziをそれぞれ[対策Z、Jに訂
正する。 自
第2図は同実施例の一部に注目した構成図、第3図は同
実施例の全体動作を示すフローチp −I−1第4図は
不具合−原因一対策の関係を示す図、第5図は優先度付
は動作を説明する説明図、第6図、第7図、第8図、第
9図は第3図に示したフローチャートの各部詳細フロー
チセート、第10図は他の実施例の全体動作を示すフロ
ーチャート、第11図、第12図、第13図は第10図
に示したフローチャー1・の各部詳細フローチセ−1・
、第14図は更に他の実施例の全体動作を示すフローチ
ャート、第15図は第14図に示したフローチャートの
一部詳細フローチャートである。 10・・・制御部、20・・・成形条件設定支援エキス
パートシステム、100・・・射■成形門。 第3図 不具合−原因−nwLの開割 第4図 第5図 不異合のイ辱兜皮付 第6図 一二二二−92二二−二二−二不具令γひi工て片口が
斤刀イム糧不足の場合)第8図 第10図 発生■る不具合の可能在の利足 第12図 判定イ乏の泗理 第14図 第15図 手続ネ甫正書く自発) 1、事件の表示 昭和62年特許願第90092号 2、発明の名称 推論機能を有する制御装置 3、補正をする者 裏付との関係 特許出願人 (123)株式会社小松製作所 4、代理人 (〒104)東京都中央区銀座2丁目11番2号銀座大
作ビル6階 電話03−545−3508 (代表)明
IIl書の発明の詳細な説明の欄 6、補正の内容 (1)本願の明細書第28ページ第13行、第28ペー
ジ第19行の「反対の対策Z、Jをそれぞれ「反対の対
策Z、」に訂正する。 (2)同、第28ページ第14行、第28ページ第20
行、第29ページ第3行、第29ページ第5行、第29
ページ第6行の[対策Ziをそれぞれ[対策Z、Jに訂
正する。 自
Claims (8)
- (1)制御対象機械の各部の状態を検出する複数のセン
サ手段と、 前記制御対象機械または該機械によつて作り出された製
品に不具合が発生した場合に際してその不具合状況を入
力する入力手段と、 前記制御対象機械の各種動作状況および前記不具合に対
する各種対策を複数記憶した記憶手段を有し、前記入力
手段によって入力された不具合状況、前記センサ手段に
よつて検出された前記制御対象機械の各部の状態および
前記記憶手段の記憶内容にもとづき発生した不具合の優
先度付け、該不具合に対する原因の優先度付け、該原因
に対する対策の優先度付けを行ない最適な対策を推論す
る推論手段と、 この推論手段で推論された対策に対応して前記制御対象
機械に対する各種制御信号を前記制御対象機械に出力す
る制御手段と を具えた推論機能を有する制御装置。 - (2)推論手段は、推論した対策およびその対策結果に
対応して記憶手段の記憶内容を更新する手段を有する特
許請求の範囲第(1)項記載の推論機能を有する制御装
置。 - (3)推論手段は、推論した対策に対して別の不具合が
生じないかを記憶手段の記憶内容を参照して推論し、別
の不具合が発生する可能性が高い場合には該対策に代え
て他の対策を推論する手段を有する特許請求の範囲第(
1)項または第(2)項に記載の推論機能を有する制御
装置。 - (4)推論手段は、不具合が同時に複数発生している場
合、それら不具合に共通な対策を推論し、該推論した対
策のなかから最適な対策を推論する手段を有する特許請
求の範囲第(1)項または第(2)項または第(3)項
記載の推論機能を有する制御装置。 - (5)制御対象機械の各部の状態を検出する複数のセン
サ手段と、 前記制御対象機械の運転条件を設定する設定手段と、 前記制御対象機械または該機械によって作り出された製
品に不具合が発生した場合に際してその不具合状況を入
力する入力手段と、 前記制御対象機械の各種動作状況および前記不具合に対
する各種対策を複数記憶した記憶手段を有し、前記入力
手段によって入力された不具合状況、前記センサ手段に
よつて検出された前記制御対象機械の各部の状態および
前記記憶手段の記憶内容にもとづき発生した不具合の優
先度付け、該不具合に対する原因の優先度付け、該原因
に対する対策の優先度付けを行ない最適な対策を推論す
る推論手段と、 この推論手段で推論された対策に対応して前記設定手段
で設定された前記制御対象機械の運転条件を変更する手
段と を具えた推論機能を有する制御装置。 - (6)推論手段は、推論した対策およびその対策結果に
対応して記憶手段の記憶内容を更新する手段を有する特
許請求の範囲第(5)項記載の推論機能を有する制御装
置。 - (7)推論手段は、推論した対策に対して別の不具合が
生じないかを記憶手段の記憶内容を参照して推論し、別
の不具合が発生する可能性が高い場合には該対策に代え
て他の対策を推論する手段を有する特許請求の範囲第(
5)項または第(6)項に記載の推論機能を有する制御
装置。 - (8)推論手段は、不具合が同時に複数発生している場
合、それら不具合に共通な対策を推論し、該推論した対
策のなかから最適な対策を推論する手段を有する特許請
求の範囲第(5)項または第(6)項または第(7)項
記載の推論機能を有する制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62090092A JP2601270B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 推論機能を有する制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62090092A JP2601270B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 推論機能を有する制御装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63255701A true JPS63255701A (ja) | 1988-10-24 |
JP2601270B2 JP2601270B2 (ja) | 1997-04-16 |
Family
ID=13988872
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62090092A Expired - Lifetime JP2601270B2 (ja) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | 推論機能を有する制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2601270B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0296201A (ja) * | 1988-09-30 | 1990-04-09 | Mazda Motor Corp | シーケンス制御方式機械装置の異常復旧装置 |
JPH02128824A (ja) * | 1988-11-09 | 1990-05-17 | Toshiba Mach Co Ltd | 射出成形機の最適成形条件設定システム |
US5166934A (en) * | 1990-09-21 | 1992-11-24 | Mita Industrial Co., Ltd. | Self-diagnois and repair system for image forming apparatus |
US5239547A (en) * | 1990-09-21 | 1993-08-24 | Mita Industrial Co., Ltd. | Self-diagnosis and self-repair system for image forming apparatus |
US5467355A (en) * | 1992-04-13 | 1995-11-14 | Mita Industrial Co., Ltd. | Image forming apparatus provided with self-diagnosis system |
WO1998032108A1 (fr) * | 1997-01-20 | 1998-07-23 | Komatsu Ltd. | Machine pour l'intelligence artificielle et systeme concernant une machine pour l'intelligence artificielle |
JP2006289874A (ja) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Mitsubishi Heavy Industries Plastic Technology Co Ltd | 射出成形支援装置、射出成形システム、射出成形支援制御方法 |
WO2008012903A1 (fr) * | 2006-07-27 | 2008-01-31 | Fujitsu Limited | Programme de gestion de système, dispositif de gestion de gestion de système, et procédé de gestion de système |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58115599A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-09 | 三菱電機株式会社 | プラント診断装置 |
JPS6159502A (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-27 | Hitachi Ltd | プラント運転制御装置 |
-
1987
- 1987-04-13 JP JP62090092A patent/JP2601270B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58115599A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-09 | 三菱電機株式会社 | プラント診断装置 |
JPS6159502A (ja) * | 1984-08-31 | 1986-03-27 | Hitachi Ltd | プラント運転制御装置 |
Cited By (11)
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JPH02128824A (ja) * | 1988-11-09 | 1990-05-17 | Toshiba Mach Co Ltd | 射出成形機の最適成形条件設定システム |
JPH0720651B2 (ja) * | 1988-11-09 | 1995-03-08 | 東芝機械株式会社 | 射出成形機の最適成形条件設定システム |
US5166934A (en) * | 1990-09-21 | 1992-11-24 | Mita Industrial Co., Ltd. | Self-diagnois and repair system for image forming apparatus |
US5239547A (en) * | 1990-09-21 | 1993-08-24 | Mita Industrial Co., Ltd. | Self-diagnosis and self-repair system for image forming apparatus |
US5467355A (en) * | 1992-04-13 | 1995-11-14 | Mita Industrial Co., Ltd. | Image forming apparatus provided with self-diagnosis system |
WO1998032108A1 (fr) * | 1997-01-20 | 1998-07-23 | Komatsu Ltd. | Machine pour l'intelligence artificielle et systeme concernant une machine pour l'intelligence artificielle |
JP2006289874A (ja) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Mitsubishi Heavy Industries Plastic Technology Co Ltd | 射出成形支援装置、射出成形システム、射出成形支援制御方法 |
WO2008012903A1 (fr) * | 2006-07-27 | 2008-01-31 | Fujitsu Limited | Programme de gestion de système, dispositif de gestion de gestion de système, et procédé de gestion de système |
GB2453090A (en) * | 2006-07-27 | 2009-03-25 | Fujitsu Ltd | System managing program, system managing device and system managing method |
GB2453090B (en) * | 2006-07-27 | 2011-05-11 | Fujitsu Ltd | Computer program product, apparatus, and method for system management |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2601270B2 (ja) | 1997-04-16 |
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