JPS63255642A - Particle analyzer - Google Patents
Particle analyzerInfo
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- JPS63255642A JPS63255642A JP62090591A JP9059187A JPS63255642A JP S63255642 A JPS63255642 A JP S63255642A JP 62090591 A JP62090591 A JP 62090591A JP 9059187 A JP9059187 A JP 9059187A JP S63255642 A JPS63255642 A JP S63255642A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、異常時にレーザー光を遮光する安全手段を備
えた例えばフローサイトメータ等の粒子解析装置に関す
る。ものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a particle analysis apparatus such as a flow cytometer, which is equipped with a safety means for blocking laser light in the event of an abnormality. It is something.
［従来の技術］
フローサイトメータとは、高速で流れる細胞浮遊溶液、
即ちサンプル液に例えばレーザー光を照射し、その散乱
光・蛍光による光電信号を検出し、細胞の性質拳構造を
解明する装置であり、細胞化学、免疫学、血液学、腫瘍
学、遺伝学等の分野で使用されている。[Conventional technology] A flow cytometer is a cell suspension solution that flows at high speed.
In other words, it is a device that irradiates a sample liquid with, for example, laser light, detects the photoelectric signal from the scattered light and fluorescence, and elucidates the nature and structure of cells.It is used in cytochemistry, immunology, hematology, oncology, genetics, etc. used in the field of
このフローサイトメータに用いられる従来の粒子解析装
置では、フローセルの中央部の例えば２００ｐｍＸ２０
０ｐｍの微小な四角形断面を有する流通部内を、シース
液に包まれて通過する血球細胞などの被検粒子にレーザ
ー光を照射し、その結果として生ずる前方及び側方散乱
光により、被検粒子の形状番大きさ・屈折率等の粒子的
性質を得ることが可能である。また、蛍光剤により染色
され得る被検粒子に対しては、照射光とほぼ直角方向の
側方散乱光から被検粒子の蛍光を検出することにより、
被検粒子を解析するための重要な情報を求めることがで
きる。In the conventional particle analysis device used in this flow cytometer, for example, 200 pm
Laser light is irradiated on test particles such as blood cells wrapped in sheath fluid and passing through a flow section with a minute rectangular cross section of 0 pm, and the resulting forward and side scattered light is used to detect the test particles. It is possible to obtain particle properties such as shape number size and refractive index. In addition, for test particles that can be dyed with a fluorescent agent, by detecting the fluorescence of the test particles from side scattered light in a direction approximately perpendicular to the irradiation light,
Important information for analyzing test particles can be obtained.
このような粒子解析装置において正確な測定を行うため
には、サンプル液の流れの軸と、レーザー光の光軸が同
一平面内にある必要があり、その位置合わせをレーザー
光を照射した状態で、フローセルを移動させることによ
り行っている。しかし、このような位置合わせを行って
いる最中に、シース液が空になりフローセル内に気泡が
入ると、レーザー光が乱反射し操作者の眼を傷める危険
性がある。また、光学系の調整をするためには、光学系
を覆っている不透明カバーを外す必要があるが、その際
にもレーザー光で眼を傷伺ける虞れがある。In order to perform accurate measurements with such a particle analyzer, the flow axis of the sample liquid and the optical axis of the laser beam must be in the same plane, and their alignment must be done while the laser beam is irradiated. , by moving the flow cell. However, if the sheath liquid empties and air bubbles enter the flow cell during such positioning, the laser light may be diffusely reflected, potentially damaging the operator's eyes. In addition, in order to adjust the optical system, it is necessary to remove the opaque cover that covers the optical system, but there is also a risk of damaging your eyes from the laser light.
［発明の目的］
本発明の目的は、」−述した従来例の問題点を除去し、
異常時にレーザー光を遮光することのできる安全性のあ
る粒子解析装置を提供することにある。[Object of the invention] The object of the present invention is to eliminate the problems of the conventional example described above.
An object of the present invention is to provide a safe particle analysis device that can block laser light in the event of an abnormality.
［発明の概要］ 上述の目的を達成するための本発明の要旨は。[Summary of the invention] The gist of the present invention is to achieve the above objects.
セル内の被検粒子にレーザー光源から発生するレーザー
光を照射し被検粒子による散乱光を検出する粒子解析装
置において、装置の異常状態を検出する検出手段と、該
異常状態検出手段の信号により前記レーザー光源の出射
口から前記セルの間においてレーザー光を遮光する遮光
手段とを設けたことを特徴とする粒子解析装置である。In a particle analysis device that irradiates test particles in a cell with laser light generated from a laser light source and detects scattered light by the test particles, there is provided a detection means for detecting an abnormal state of the device, and a signal from the abnormal state detection means. The particle analysis apparatus is characterized in that a light shielding means for shielding laser light is provided between the emission port of the laser light source and the cell.
［発明の実施例］ 本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。[Embodiments of the invention] The present invention will be explained in detail based on illustrated embodiments.
レーザー光源ｌから出射されるレーザー光束Ｂの光軸に
沿って、シャシタ２．結像レンズ３、フローセル４、集
光レンズ５、光電検出器６が配置されている。また、フ
ローセル４の下方にはスロート７が設けられ、スロート
７の中央部にはチューブ８が設けられ、チューブ８はサ
ンプル液Ｓを入れたサンプル容器９に接続され、サンプ
ル容器９＃こは加圧チューブ１０が接続されている。Along the optical axis of the laser beam B emitted from the laser light source l, the chassis 2. An imaging lens 3, a flow cell 4, a condensing lens 5, and a photoelectric detector 6 are arranged. Further, a throat 7 is provided below the flow cell 4, a tube 8 is provided at the center of the throat 7, the tube 8 is connected to a sample container 9 containing a sample liquid S, and the sample container 9# is A pressure tube 10 is connected.
スロート７の周辺部はチューブ１１を介してシース液Ｔ
を入れたシース′容器１２に接続されており、シース容
器１２には加圧チューブ１３が接続されている。また、
シース容器１２内にはシース液Ｔの残量を検出する残量
センサ１４が取り付けられており、その出力は駆動回路
１５に入力されている。駆動回路１５には、光学系を覆
う不透明カバー１６の離脱を検知するためのカバー用セ
ンサ１７の出力も接続されており、駆動回路１５の出力
はソレノイド１８を介してレーザー光Ｂをレーザー光源
１の出射口で遮光するシャッタ２に接続されている。The periphery of the throat 7 is supplied with sheath liquid T via a tube 11.
A pressurizing tube 13 is connected to the sheath container 12. Also,
A remaining amount sensor 14 for detecting the remaining amount of sheath liquid T is installed inside the sheath container 12, and its output is input to a drive circuit 15. The drive circuit 15 is also connected to the output of a cover sensor 17 for detecting detachment of the opaque cover 16 covering the optical system, and the output of the drive circuit 15 sends laser light B to the laser light source 1 via a solenoid 18. It is connected to a shutter 2 that blocks light at the exit port of the light source.
なお、サンプル容器９のサンプル液Ｓを加圧チューブ１
０を介して加圧することにより、サンプル液Ｓはチュー
ブ８を通ってスロート７の中央部に注入される。同様に
、シース容器１２のシース液Ｔを加圧チューブ１３を介
して加圧することになり、シース液Ｔはチューブ１１を
通ってスロート７の周辺部に注入される。Note that the sample liquid S in the sample container 9 is transferred to the pressurized tube 1.
By applying pressure through the tube 8 , the sample liquid S is injected into the center of the throat 7 through the tube 8 . Similarly, the sheath liquid T in the sheath container 12 is pressurized via the pressure tube 13, and the sheath liquid T is injected into the periphery of the throat 7 through the tube 11.
このように構成された粒子解析装置において、正常動作
時はシャッタ２がレーザー光束Ｂの光軸上にはなく、レ
ーザー光ｓｌから出射されるレーザー光束Ｂは、結像レ
ンズ３を介してフローセル４に入射する。サンプル液Ｓ
による散乱光は、集光レンズ５を介して光電検出器６に
入射し電気信号に変換される。この際に、フローセル４
にはサンプル容器９からチューブ８、スロート７を介し
てサンプル液Ｓが、シース容器１２からチューブ１１、
スロート７を介してシース液Ｔが供給される。シース容
器１２に蓄えられているシース液Ｔの星は、残量センサ
１４によって検出され、予め設定された量以下になると
駆動回路１５はソレノイド１８を介して、シャッタ２を
レーザー光束Ｂの光軸上に移動させてレーザー光束Ｂを
遮光する。In the particle analyzer configured in this way, during normal operation, the shutter 2 is not on the optical axis of the laser beam B, and the laser beam B emitted from the laser beam sl is directed to the flow cell 4 via the imaging lens 3. incident on . Sample liquid S
The scattered light is incident on the photoelectric detector 6 via the condensing lens 5 and converted into an electric signal. At this time, flow cell 4
The sample liquid S is passed from the sample container 9 to the tube 8 and the throat 7, and from the sheath container 12 to the tube 11,
Sheath liquid T is supplied through the throat 7. The star of the sheath liquid T stored in the sheath container 12 is detected by the remaining amount sensor 14, and when the remaining amount falls below a preset amount, the drive circuit 15 moves the shutter 2 to the optical axis of the laser beam B via the solenoid 18. Move it upward to block the laser beam B.
また、不透明カバー１６を取り外すと、力へ−用センサ
１７が検知して駆動回路１５、ソレノイド１８を介して
シャッタ２をレーザー光束Ｂの光軸上に移動させてレー
ザー光束Ｂを遮光する。Furthermore, when the opaque cover 16 is removed, the force sensor 17 detects this and moves the shutter 2 onto the optical axis of the laser beam B via the drive circuit 15 and the solenoid 18 to block the laser beam B.
従って、シース液Ｔが少なくなりフローセル４に気泡が
混入することによって生ずるレーザー光束Ｂの乱反射を
防止したり、不透明カバー１６を離脱した際のレーザー
光束Ｂによる事故を防止することができる。Therefore, it is possible to prevent diffused reflection of the laser beam B caused by air bubbles entering the flow cell 4 due to a decrease in the sheath liquid T, and to prevent accidents caused by the laser beam B when the opaque cover 16 is removed.
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置は、異常
状態を検出しレーザー光を遮光することにより、セル位
置の調整中にシース液が空になり、セル内に気泡が流入
した場合のレーザー光の乱反射や、不用意に不透明カバ
ーを取り外した場合のレーザー光の照射を、レーザー光
を遮光することによりその危険性を回避することができ
る。[Effects of the Invention] As explained above, the particle analysis device according to the present invention detects an abnormal state and blocks the laser beam, thereby preventing the sheath liquid from being emptied during cell position adjustment and air bubbles from forming inside the cell. By blocking the laser light, it is possible to avoid the dangers of diffuse reflection of the laser light when it flows in or irradiation of the laser light when the opaque cover is carelessly removed.
図面第１図は本発明に係る粒子解析装置の一実施例の構
成図である。
符号１はレーザー光源、２はシャッタ、３は結像レンズ
、４はフローセル、５は集光レンズ、６は光電検出器、
７はスロート、８．１１はチューブ、９はサンプル容器
、１０．１３は加圧チューブ、１２はシース容器、１４
は残量センサ、１５は駆動回路、１６は不透明カバー、
１７はカバー用センサ、１８はソレノイドである。
特許出願人 キャノン株式会社
手続補正書（自発）
昭和６０年６月４日
特許庁長官 黒 １）明 雄 殿
２、発明の名称
粒子解析装置
３、補正をする者
事件との関係 特許出願人
住所 東京都大田区下丸子三丁目３０番２号名称（１０
０）キャノン株式会社
代表者 賀来龍三部
４、代理人
〒１２１東京都足立区梅島二丁目１７番３号梅島ハイタ
ウンＣ−１０４
６、補止の内容
明細書第１頁、第２頁の特許請求の範囲を次の文章に補
正する。
［１，セル内の被検粒子にレーザー光源から発生するレ
ーザー光を照射し被検粒子による散乱光を検出する粒子
解析装置において、装置の異常状態を検出する検出手段
と、該異常状態検出手段の信号により前記レーザー光源
の出射口から前記セルの間においてレーザー光を遮光す
る遮光手段とを設けたことを特徴とする粒子解析装置。
２、前記検出手段はシース液の残量不足を検出するもの
とした特許請求の範囲第１項に記載の粒子解析装置。
３、前記検出手段は光学系を覆う不透明カバーの離脱を
検出するものとした特許請求の範囲第１項に記載の粒子
解析装置。FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of a particle analysis apparatus according to the present invention. 1 is a laser light source, 2 is a shutter, 3 is an imaging lens, 4 is a flow cell, 5 is a condensing lens, 6 is a photoelectric detector,
7 is a throat, 8.11 is a tube, 9 is a sample container, 10.13 is a pressurizing tube, 12 is a sheath container, 14
is a remaining amount sensor, 15 is a drive circuit, 16 is an opaque cover,
17 is a cover sensor, and 18 is a solenoid. Patent applicant Canon Co., Ltd. Procedural amendment (voluntary) June 4, 1985 Commissioner of the Patent Office Kuro 1) Akio Yu Tono 2. Name of the invention Particle analysis device 3. Person making the amendment Relationship to the case Patent applicant address 3-30-2 Shimomaruko, Ota-ku, Tokyo Name (10
0) Canon Co., Ltd. Representative: Ryu Kaku 4, Agent Address: C-104 6, Umejima High Town, 2-17-3 Umejima, Adachi-ku, Tokyo 121 6, Patents on pages 1 and 2 of the supplementary statement of contents The scope of claims is amended to the following sentence. [1. In a particle analysis device that irradiates test particles in a cell with laser light generated from a laser light source and detects scattered light by the test particles, a detection means for detecting an abnormal state of the device, and the abnormal state detection means and a light shielding means for shielding laser light between the emission port of the laser light source and the cell according to the signal. 2. The particle analysis device according to claim 1, wherein the detection means detects an insufficient amount of remaining sheath liquid. 3. The particle analysis device according to claim 1, wherein the detection means detects detachment of an opaque cover covering the optical system.
Claims (1)
ザー光を照射し被検粒子による散乱光を検出する粒子解
析装置において、装置の異常状態を検出する検出手段と
、該異常状態検出手段の信号により前記レーザー光源の
出射口から前記セルの間においてレーザー光を遮光する
遮光手段とを設けたことを特徴とする粒子解析装置。 ２、前記検出手段はシース液の残量不足を検出するもの
とした特許請求の範囲第１項に記載の粒子解析装置。 ３、前記検出手段は光学系を覆う不透明カバーの離脱を
検出するものとした特許請求の範囲第１項に記載の粒子
解析装置。 行うようにした特許請求の範囲第１項に記載の粒子解析
装置。 ４、前記遮光手段はシャッタとした特許請求の範囲第１
項に記載の粒子解析装置。[Scope of Claims] 1. In a particle analysis device that irradiates test particles in a cell with laser light generated from a laser light source and detects scattered light by the test particles, a detection means for detecting an abnormal state of the device; A particle analysis apparatus comprising: a light shielding means for shielding laser light between the emission port of the laser light source and the cell according to a signal from the abnormal state detection means. 2. The particle analysis device according to claim 1, wherein the detection means detects an insufficient amount of remaining sheath liquid. 3. The particle analysis device according to claim 1, wherein the detection means detects detachment of an opaque cover covering the optical system. A particle analysis device according to claim 1, wherein the particle analysis device performs the following steps. 4. Claim 1, wherein the light shielding means is a shutter.
The particle analysis device described in Section 1.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62090591A JPS63255642A (en) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | Particle analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62090591A JPS63255642A (en) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | Particle analyzer |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63255642A true JPS63255642A (en) | 1988-10-21 |
Family
ID=14002699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62090591A Pending JPS63255642A (en) | 1987-04-13 | 1987-04-13 | Particle analyzer |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63255642A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019521326A (en) * | 2016-05-20 | 2019-07-25 | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | Automatic power control liquid particle counter with flow and bubble detection system |
-
1987
- 1987-04-13 JP JP62090591A patent/JPS63255642A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2019521326A (en) * | 2016-05-20 | 2019-07-25 | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | Automatic power control liquid particle counter with flow and bubble detection system |
| JP2022017403A (en) * | 2016-05-20 | 2022-01-25 | パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド | Automatic power control liquid particle counter with flow and bubble detection systems |
| KR20220027302A (en) * | 2016-05-20 | 2022-03-07 | 파티클 머슈어링 시스템즈, 인크. | Automatic power control liquid particle counter with flow and bubble detection systems |
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