JPS63251950A - Optical recording medium - Google Patents

Optical recording medium

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JPS63251950A
JPS63251950A JP62085383A JP8538387A JPS63251950A JP S63251950 A JPS63251950 A JP S63251950A JP 62085383 A JP62085383 A JP 62085383A JP 8538387 A JP8538387 A JP 8538387A JP S63251950 A JPS63251950 A JP S63251950A
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layer
polymerized film
plasma
plasma polymerized
film
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正俊 中山
Tsuneo Kuwabara
恒男 桑原
Kunihiro Ueda
国博 上田
Hideki Ishizaki
石崎 秀樹
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Abstract

PURPOSE:To obtain an optical recording medium which has excellent stability of weatherability and adhesiveness by forming a plasma-polymerized film by mixing and polymerizing of an inorg. gas having a carbonyl group or cyano group and gaseous hydrocarbon. CONSTITUTION:The plasma-polymerized film of the optical recording medium which has an underlying layer 12 consisting of the plasma-polymerized film on a substrate 11, has an intermediate layer 15 on this underlying layer 12 and has a recording layer 14 on this intermediate layer 15 is formed by mixing and polymerizing the inorg. gas having the carbonyl group or cyano group and the gaseous hydrocarbon. The underlying layer 12 consists of the polymerized film formed by bringing the discharge plasma of the gaseous raw material into contact with the substrate. Since the low-temp. plasma is utilized, there is not thermal influence at all on the substrate. The optical recording medium having the excellent weatherability and adhesiveness is thereby obtd. and the handling at the time of forming the plasma-polymerized film is facilitated.

Description

【発明の詳細な説明】 ■ 発明の背景 技術分野 本発明は、レーザー光等の熱および光を用いて情報の記
録、再生を行う光磁気記録媒体等の光記録媒体に関する
Detailed Description of the Invention (1) Background of the Invention Technical Field The present invention relates to an optical recording medium such as a magneto-optical recording medium in which information is recorded and reproduced using heat and light such as a laser beam.

先行技術とその問題点 光記録媒体の一つとして、光磁気メモリ媒体がある。Prior art and its problems One type of optical recording medium is a magneto-optical memory medium.

光磁気メモリの記録媒体としては、 MnB1%MnAjlGe、MnSb。As a recording medium for magneto-optical memory, MnB 1% MnAjlGe, MnSb.

MnCu81%GdFe、TbFe、 GdCo% PtCo、TbCo、 TbFeCo%GdFeCo、 T b F e O3、G d I G 、 G d 
T b F e、GdTbFeCoB1.CoFe2O
4等の材料が知られている。 これらは、真空蒸着法や
スパッタリング法等の方法で、プラスチックやガラス等
の透明基板上に薄膜として形成される。 これらの光磁
気記録媒体に共通している特性としては、磁化容易軸が
膜面に垂直方向にあり、さらに、カー効果やファラデー
効果が大きいという点をあげることができる。
MnCu81%GdFe, TbFe, GdCo% PtCo, TbCo, TbFeCo%GdFeCo, T b Fe O3, G d I G, G d
T b Fe, GdTbFeCoB1. CoFe2O
Class 4 materials are known. These are formed as a thin film on a transparent substrate such as plastic or glass by a method such as a vacuum evaporation method or a sputtering method. Common characteristics of these magneto-optical recording media include the fact that the axis of easy magnetization is perpendicular to the film surface, and that the Kerr effect and Faraday effect are large.

この性質を利用して、光磁気記録媒体の記録方法として
は、例えば次の方法がある。
As a recording method for a magneto-optical recording medium that takes advantage of this property, there are, for example, the following methods.

まず、最初に膜全体を“0”すなわち一様に磁化してお
く(これを消去という)。 つ ぎに、“1”を記録し
たい部分にレーザービームな照射する。 レーザービー
ムが照射されたところは温度が上昇し、キューリ一点に
近づいた時、そしてさらにキューリ一点をこえた時には
、保磁力Hcに近づく。 そして、レーザービームを消
し室温にもどせば、反磁場のエネルギーにより磁化は反
転し、さにらは、レーザービームの照射の際、外部磁場
を初期と反対の方向に与えて室温にもどすと、磁化反転
し、“1”なる信号が記録される。
First, the entire film is magnetized to "0", that is, uniformly (this is called erasing). Next, irradiate the area where you want to record a “1” with a laser beam. The temperature of the area irradiated with the laser beam increases, and when it approaches the Curie point, and furthermore, when it exceeds the Curie point, it approaches the coercive force Hc. Then, when the laser beam is turned off and the temperature is returned to room temperature, the magnetization is reversed due to the energy of the demagnetizing field. This is inverted and a signal of "1" is recorded.

また、記録は初期状態がMO”であるから、レーザービ
ームを照射しない部分に“0”のまま残る。
Further, since the initial state of recording is "MO", "0" remains in the portion not irradiated with the laser beam.

記録された光磁気メモリの読み取りは、同じようにレー
ザービームを用いて、このレーザービーム照射光の磁化
の方向による反射光の偏光面の回転、すなわち磁気光効
果を利用して行われる。
Reading of a recorded magneto-optical memory is similarly performed by using a laser beam and by rotating the plane of polarization of reflected light due to the direction of magnetization of the laser beam irradiation light, that is, by utilizing the magneto-optic effect.

このような媒体に要求されることは、第1に、キューリ
一点がioo〜200℃程度で補償点が室温付近である
こと。
First, such a medium is required to have a Curi point at a temperature of about IOO to 200° C. and a compensation point at around room temperature.

第2に、ノイズとなる結晶粒界などの欠陥が比較的少な
いこと。
Second, there are relatively few defects such as grain boundaries that cause noise.

第3に高混成膜や長時間成膜等の方法をとらずに、比較
的大面積にわたって磁気的、機械的に均一な膜が得られ
ることがあげられる。
Thirdly, a magnetically and mechanically uniform film can be obtained over a relatively large area without using methods such as highly mixed films or long-time film formation.

このような要求にこたえ、上記材料のなかで、近年、希
土類−遷移金属の非晶質垂直磁性薄膜が大きな注目を集
めている。
In response to such demands, among the above-mentioned materials, amorphous perpendicular magnetic thin films of rare earth-transition metals have recently attracted much attention.

しかし、このような希土類−遷移金属非晶質薄膜からな
る光磁気記録媒体は、大気に接したままで保存すると、
基板をとおして侵入する大気中の酸素や水により希土類
が選択的に腐食あるいは酸化されてしまい、情報の記録
、再生が不可能となる。
However, when magneto-optical recording media made of such rare earth-transition metal amorphous thin films are stored in contact with the atmosphere,
The rare earth elements are selectively corroded or oxidized by oxygen or water in the atmosphere that enters through the substrate, making it impossible to record or reproduce information.

そこで、一般には、前記磁性薄膜層と基板との間に保護
用の中間層を設けた構成を有するものが多く研究されて
いる。
Therefore, in general, many studies have been conducted on devices having a structure in which a protective intermediate layer is provided between the magnetic thin film layer and the substrate.

これらの中間層としては、例えば5iO1Si02等の
無機系の真空蒸着膜あるいは常温硬化性の樹脂の塗膜中
間層等がある。
These intermediate layers include, for example, inorganic vacuum-deposited films such as 5iO1Si02, or room-temperature curable resin coating intermediate layers.

しかしながらこれらの中間層では、部分な防湿性は得ら
れず、保存劣化等の問題がある。
However, these intermediate layers do not provide partial moisture resistance, and there are problems such as storage deterioration.

このような問題に対処するために特開昭60−1774
49号では、中間層にガラスを用いて耐候性を向上させ
る旨の提案が開示されている。
In order to deal with such problems, Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-1774
No. 49 discloses a proposal to improve weather resistance by using glass in the intermediate layer.

他方、本発明者らは基板上にプラズマ重合膜を形成し、
接着性と耐候性とを向上させる旨の提案を行っている(
特願昭60−180729号)。
On the other hand, the present inventors formed a plasma polymerized film on a substrate,
We are proposing ways to improve adhesion and weather resistance (
(Japanese Patent Application No. 180729/1983).

また、媒体の特性の向上や耐久性の向上、特に基板と磁
性薄膜層との接着力の向上をはかるために、プラズマ処
理をほどこした基板上にプラズマ重合膜を形成し、この
上に磁性薄膜層を設ける旨の提案を行っている(特願昭
60−181327号)。
In addition, in order to improve the characteristics and durability of the medium, especially the adhesion between the substrate and the magnetic thin film layer, a plasma polymerized film is formed on the plasma-treated substrate, and a magnetic thin film layer is formed on the plasma-treated substrate. A proposal has been made to provide a layer (Japanese Patent Application No. 181327-1983).

さらには、媒体の磁性薄膜層表面からの水分等による劣
化を防止する目的で、磁性薄膜層表面にプラズマ重合膜
を形成し、これを保護層として用いたりあるいはさらに
このプラズマ重合膜の上に放射線硬化型化合物を含有す
る保護層を設ける旨の提案を行っている(特願昭60−
182767号、同61−183285号)。
Furthermore, in order to prevent deterioration due to moisture etc. from the surface of the magnetic thin film layer of the medium, a plasma polymerized film is formed on the surface of the magnetic thin film layer, and this is used as a protective layer, or furthermore, this plasma polymerized film is coated with radiation. We have proposed the provision of a protective layer containing a curable compound (patent application 1986-
No. 182767, No. 61-183285).

また、媒体の特性、特に耐久性、高湿度雰囲気中におけ
る保存性を良化する目的で基板上にプラズマ重合膜下地
層を有し、このプラズマ重合膜下地層の一トに、直接あ
るいは下地層を介して、希土類−遷移金属の非晶質磁性
薄膜層を有し、この磁性薄膜層上にプラズマ重合膜保護
層を形成する旨の提案を行っている(特願昭60−18
4799号)。
In addition, for the purpose of improving the characteristics of the medium, especially durability and storage stability in high humidity atmospheres, a plasma polymerized film base layer is provided on the substrate, and one of the plasma polymerized film base layers is directly or directly coated with the base layer. proposed a method of forming an amorphous magnetic thin film layer of rare earth-transition metal and a plasma polymerized film protective layer on this magnetic thin film layer (Patent Application No.
No. 4799).

また、特開昭60−260628号では、テトラフルオ
ロエチレン、アクリロニトル、アクリル酸、メタクリル
酸メタル、塩化ビニル、塩化ビニリデンから選ばれる1
種または2種以上をモノマーするプラズマ重合膜で熱可
塑性樹脂成形体を被覆し、耐候性を向上させる旨の提案
が開示されている。
Furthermore, in JP-A No. 60-260628, a compound selected from tetrafluoroethylene, acrylonitrile, acrylic acid, metal methacrylate, vinyl chloride, and vinylidene chloride is disclosed.
A proposal has been disclosed to coat a thermoplastic resin molded body with a plasma polymerized film containing one or more monomers to improve weather resistance.

しかしながら、これらの提案でも、中間層や保護層との
接着性および耐候性の点で不十分で、要求特性を必ずし
も満足せず、より一層優れた特性を有する光磁気記録媒
体が要求されている。 また、プラズマ重合膜を形成す
る際の取扱いも困難であり、膜の均質性に劣り、この点
からも十分な特性が得られなかった。
However, even these proposals are insufficient in terms of adhesion with the intermediate layer and protective layer and weather resistance, and do not necessarily satisfy the required properties, and there is a need for magneto-optical recording media with even better properties. . In addition, it is difficult to handle when forming a plasma polymerized film, and the film has poor homogeneity, which also makes it difficult to obtain sufficient properties.

なお、このような問題は、いわゆる相転移タイプの記録
層を有する光記録媒体でも同様である。
Note that such a problem also occurs in optical recording media having a so-called phase transition type recording layer.

■ 発明の目的 本発明の目的は、耐候性および接着性や、これらの安定
性に優れかつ製造安易な光記録媒体を提供することにあ
る。
(1) Purpose of the Invention An object of the present invention is to provide an optical recording medium that is excellent in weather resistance, adhesiveness, and stability, and is easy to manufacture.

■ 発明の開示 このような目的は、以下の本発明によって達成される。■Disclosure of invention Such objects are achieved by the present invention as described below.

すなわち、本発明における第1の発明は、基板上にプラ
ズマ重合膜下地層を有し、このプラズマ重合膜下地層の
上に中間層を有し、この中間層の上に記録層を有する光
記録媒体であって、前記プラズマ重合膜がカルボニル基
またはシアノ基を有する無機ガスと炭化水素系のガスと
を混合して重合したものであることを特徴とする光記録
媒体である。
That is, the first aspect of the present invention is an optical recording device having a plasma polymerized film base layer on a substrate, an intermediate layer on the plasma polymerized film base layer, and a recording layer on the intermediate layer. The present invention is an optical recording medium, characterized in that the plasma polymerized film is obtained by polymerizing a mixture of an inorganic gas having a carbonyl group or a cyano group and a hydrocarbon gas.

また、第2の発明は、基板上にプラズマ重合膜下地層を
有し、このプラズマ重合膜下地層の上に中間層を有し、
この中間層の上に記録層を有し、この記録層の上に直接
または保護層を介してプラズマ重合膜保護層を形成した
光記録媒体であって、前記プラズマ重合膜がカルボニル
基またはシアノ基を有する無機ガスと炭化水素系のガス
とを混合して重合したものであることを特徴とする光記
録媒体である。
Further, the second invention has a plasma polymerized film base layer on the substrate, and has an intermediate layer on the plasma polymerized film base layer,
An optical recording medium having a recording layer on this intermediate layer, and a plasma polymerized film protective layer formed on the recording layer directly or via a protective layer, wherein the plasma polymerized film has a carbonyl group or a cyano group. An optical recording medium characterized in that it is a mixture and polymerization of an inorganic gas having the following properties and a hydrocarbon gas.

° ■ 発明の具体的構成 以下、本発明の具体的構成について、詳細に説明する。° ■ Specific structure of the invention Hereinafter, a specific configuration of the present invention will be explained in detail.

第1図および第2図は、それぞれ、本発明の光記録媒体
のうち光磁気記録媒体の一実施態様を示す断面図である
FIG. 1 and FIG. 2 are sectional views each showing an embodiment of a magneto-optical recording medium among the optical recording media of the present invention.

第1図に示す態様において、本発明の光磁気記録媒体1
は、基板ll上にプラズマ重合膜下地層12を有し、こ
のプラズマ重合膜下地層12の上に中間層15を有し、
この中間層15の上に記録層としての希土類−遷移金属
の非晶質磁性薄膜層14を有する。
In the embodiment shown in FIG. 1, the magneto-optical recording medium 1 of the present invention
has a plasma polymerized film base layer 12 on the substrate 11, and has an intermediate layer 15 on the plasma polymerized film base layer 12,
On this intermediate layer 15 is an amorphous magnetic thin film layer 14 of rare earth-transition metal as a recording layer.

そして、非晶質磁性薄膜層14上には、さらに保護層1
6および保護膜19を有する。
A protective layer 1 is further formed on the amorphous magnetic thin film layer 14.
6 and a protective film 19.

また、第2図に示す態様においては、希土類−遷移金属
の非晶質磁性薄膜層14の上に、さらに直接または保護
層16を介してプラズマ重合膜保護層17を形成したも
のである。 そして、プラズマ重合膜保護層17上には
、さらに保護+15!19を有する。
In the embodiment shown in FIG. 2, a plasma polymerized film protective layer 17 is further formed directly or via a protective layer 16 on the rare earth-transition metal amorphous magnetic thin film layer 14. Further, on the plasma polymerized film protective layer 17, there is further protection +15!19.

本発明において、プラズマ重合1漠下地層12(第1図
と第2図の態様)およびプラズマ重合膜保護層17(第
2図の態様)のプラズマ重合1摸は、カルボニル基また
はシアノ基を有する無機ガスと炭化水素系のガスとを混
合して重合したものである。
In the present invention, the plasma polymerized 1 base layer 12 (the embodiments shown in FIGS. 1 and 2) and the plasma polymerized film protective layer 17 (the embodiment shown in FIG. 2) have a carbonyl group or a cyano group. It is made by mixing and polymerizing an inorganic gas and a hydrocarbon gas.

カルボニル基またはシアノ基を有する無機ガスとしては
常温で気体のものが好ましい。 これは取扱いが容易で
、成膜後の膜の均一性にすぐれるからである。
The inorganic gas having a carbonyl group or cyano group is preferably a gas at room temperature. This is because it is easy to handle and the uniformity of the film after formation is excellent.

これらカルボニル基を有する無機ガスのうち好適なもの
としては、 二酸化炭素(CO2)、−酸化炭素(CO)、ホスゲン
(cocIl、、)、塩化フッ化カルボニル(COCu
 F) 、フッ化カルボニル(COF2)等が挙げられ
る。 また、シアン基を有する無機ガスのうち好適なも
のとしてはシアン化水素(HCN)、 シアン[(CN)21等が挙げられる。
Among these carbonyl group-containing inorganic gases, carbon dioxide (CO2), -carbon oxide (CO), phosgene (cocIl, ), carbonyl chloride fluoride (COCu
F), carbonyl fluoride (COF2), and the like. Further, among the inorganic gases having a cyan group, preferred examples include hydrogen cyanide (HCN) and cyanide [(CN)21.

また、炭化水素系のガスとしては、通常操作性の良いこ
とから、常温で気体のメタン、エタン、プロパン、ブタ
ン、ペンタン、エチレン、プロピレン、ブテン、ブタジ
ェン、アセチレン、メチルアセチレン、その他の飽和な
いし不飽和の炭化水素が挙げられる。
Hydrocarbon gases include methane, ethane, propane, butane, pentane, ethylene, propylene, butene, butadiene, acetylene, methylacetylene, and other saturated or unsaturated gases that are usually gaseous at room temperature because they are easy to operate. Examples include saturated hydrocarbons.

これらは単独で用いても2種以上を併用してもよい。These may be used alone or in combination of two or more.

本発明において、プラズマ重合膜は、6328人におけ
る屈折率nが1.3〜1.7、好まくは1.4〜1.6
とするのがよい。
In the present invention, the plasma polymerized film has a refractive index n of 1.3 to 1.7, preferably 1.4 to 1.6 in 6328 people.
It is better to

このような屈折率とするのは、nが1.3未満では、膜
の緻密性が得られず基板11などからの水分等を庶断す
ることができず接着性も十分ではないからであり、また
、1.7をこえると、重合膜の硬さが増し、重合膜に接
して設置されるスパッタ膜、蒸着膜等、例えば後述する
中間層15や保護層16等との接着が不良となるからで
ある。
The refractive index is set to such a value because if n is less than 1.3, the film will not be dense enough to absorb moisture from the substrate 11, etc., and the adhesion will not be sufficient. In addition, if it exceeds 1.7, the hardness of the polymer film will increase, and the adhesion with the sputtered film, vapor deposited film, etc. placed in contact with the polymer film, such as the intermediate layer 15 and the protective layer 16 described later, will be poor. Because it will be.

なお、本発明において中間層15や保護層16等の材質
として好ましく用いられるガラス(後記)は、その63
28人におけるnが1.5程度であり、これと類似する
値のnを有するプラズマ重合膜とすることが好ましい。
In addition, in the present invention, glass (described later) that is preferably used as a material for the intermediate layer 15, the protective layer 16, etc. is 63
n for 28 people is about 1.5, and it is preferable to use a plasma polymerized film having a value of n similar to this.

このようなnとするには、後述のように低成膜率および
低圧のプラズマ重合条件を選べばよい。
In order to obtain such n, plasma polymerization conditions such as a low film formation rate and low pressure may be selected as described later.

本発明において、プラズマ重合膜下地層12(第1図と
第2図の態様)およびプラズマ重合膜保護層17(第2
図の態様)の厚さは、それぞれ10〜1000人、好ま
しくは50〜600人とするのがよい。
In the present invention, a plasma polymerized film base layer 12 (aspects shown in FIGS. 1 and 2) and a plasma polymerized film protective layer 17 (second embodiment) are used.
The thickness of each of the embodiments shown in the figure is preferably 10 to 1000 people, preferably 50 to 600 people.

このような厚さとするのは10人未満では、本発明の実
効が得られないからであり、1000人をこえても本発
明の効果に差異はなく、この値以上にする必要がないか
らである。
This thickness is chosen because the effectiveness of the present invention cannot be obtained with less than 10 people, and there is no difference in the effectiveness of the present invention even with more than 1000 people, so there is no need to increase the thickness above this value. be.

なお、膜厚の測定は、エリプソメーター等を用いればよ
い。
Note that the film thickness may be measured using an ellipsometer or the like.

このような膜厚の制御は、プラズマ重合@形成時の反応
時間、原料ガス流量等を制御すればよい。
Such film thickness can be controlled by controlling the reaction time, raw material gas flow rate, etc. during plasma polymerization@formation.

プラズマ重合膜下地層12は、前述の原料ガスの放電プ
ラズマを基板に接触させることにより重合膜を形成する
ものである。
The plasma polymerized film base layer 12 is a polymerized film formed by bringing discharge plasma of the above-mentioned raw material gas into contact with the substrate.

またプラズマ重合膜保護層17(第2図の態様)は、下
地層12と同様に磁性薄膜層14上にプラズマ重合膜を
形成するものである。
Further, the plasma polymerized film protective layer 17 (the embodiment shown in FIG. 2) is a plasma polymerized film formed on the magnetic thin film layer 14 similarly to the underlayer 12.

このような保護層17を形成することにより、防湿性が
さらに向上する。
By forming such a protective layer 17, moisture resistance is further improved.

なお、プラズマ重合膜保護層17は、磁性ft膜層14
上に後述する中間層15と同材質の保護層16を介して
設層してもよい。
Note that the plasma polymerized film protective layer 17 is similar to the magnetic FT film layer 14.
A protective layer 16 made of the same material as the intermediate layer 15 described later may be provided therebetween.

プラズマ重合の原理について概説すると、気体を低圧に
保ち電場を作用させると、気体中に少量存在する自由電
子は、常圧に比べ分子間距離が非常に大きいため、電界
加速を受け、5〜10eVの運動エネルギー(電子温度
)を獲得する。
To give an overview of the principle of plasma polymerization, when a gas is kept at a low pressure and an electric field is applied, the free electrons present in small amounts in the gas are accelerated by the electric field due to the very large intermolecular distance compared to normal pressure, and are accelerated at 5 to 10 eV. Obtain the kinetic energy (electron temperature) of

この加速電子が原子や分子に衝突すると、原子軌道や分
子軌道を分断し、これらを電子、イオン、中性ラジカル
など、通常の状態では不安定の化学種に解離させる。
When these accelerated electrons collide with atoms and molecules, they disrupt atomic and molecular orbits and dissociate them into chemical species that are unstable under normal conditions, such as electrons, ions, and neutral radicals.

解離した電子は再び電界加速を受けて、別の原子や分子
を解離させるが、この連鎖作用で気体はたちまた高度の
電離状態となる。 そしてこれは、プラズマガスと呼ば
れている。
The dissociated electrons are again accelerated by the electric field, causing them to dissociate from other atoms and molecules, and this chain reaction quickly turns the gas into a highly ionized state. And this is called plasma gas.

気体分子は電子との衝突の機会が少ないのでエネルギー
をあまり吸収せず、常温に近い温度に保たれている。
Gas molecules have fewer chances of collision with electrons, so they do not absorb much energy and are kept at a temperature close to room temperature.

このような、電子の運動エネルギー(電子温度)と、分
子の熱運動(ガス温度)が分離した系は低温プラズマと
呼ばれ、ここでは化学種か比較的原型を保ったまま重合
等の加酸的化学反応を進めつる状況を創出しており、本
発明はこの状況を利用して基板上にプラズマ重合膜を形
成しようとするものである。 なお、低温プラズマを利
用するため、基板への熱影響は全くない。
A system in which the kinetic energy of electrons (electron temperature) and the thermal motion of molecules (gas temperature) are separated is called a low-temperature plasma. The present invention aims to utilize this situation to form a plasma polymerized film on a substrate. Note that since low-temperature plasma is used, there is no thermal effect on the substrate.

基板表面にプラズマ重合膜を形成する装置例が第3図に
示しである。 第3図は、周波数可変型の電源を用いた
プラズマ重合装置である。
An example of an apparatus for forming a plasma polymerized film on a substrate surface is shown in FIG. FIG. 3 shows a plasma polymerization apparatus using a frequency variable power source.

第3図において、反応容器Rには、原料ガス源511ま
たは512から原料ガスがそれぞれマスフローコントロ
ーラ521および522を経て供給される。 ガス源5
11.512からそれぞれカルボニル基またはシアノ基
を有する無機ガスと炭化水素系のガスを供給し、混合器
53において混合して供給する。
In FIG. 3, raw material gas is supplied to the reaction vessel R from a raw material gas source 511 or 512 via mass flow controllers 521 and 522, respectively. Gas source 5
An inorganic gas and a hydrocarbon gas each having a carbonyl group or a cyano group are supplied from 11 and 512, mixed in a mixer 53, and then supplied.

原料ガスは、各々1〜250mR/分の流量範囲をとり
つる。
The raw material gases each have a flow rate range of 1 to 250 mR/min.

反応容器R内には、被処理基板111が一方の回転式電
極552に支持される。
Inside the reaction vessel R, a substrate to be processed 111 is supported by one rotary electrode 552 .

そして被処理基板111を挟むように回転式電極552
に対向する電極551が設けられている。
Rotary electrodes 552 are placed across the substrate 111 to be processed.
An electrode 551 facing the is provided.

一方の電極551は、例えば周波数可変型の電源54に
接続され、他方の回転式電極552は8にて接地されて
いる。
One electrode 551 is connected to, for example, a variable frequency power source 54, and the other rotary electrode 552 is grounded at 8.

さらに、反応容器R内には、容器内を排気するための真
空系統が配備され、そしてこれは油回転ポンプ56、液
体窒素トラップ57、油拡散ポンプ58および真空コン
トローラ59を含む。 これら真空系統は、反応容器内
を0.ITorr未満、好ましくは0.005〜0.0
8Torrの真空度の範囲に維持する。
Furthermore, a vacuum system for evacuating the inside of the reaction vessel R is provided, and this includes an oil rotary pump 56, a liquid nitrogen trap 57, an oil diffusion pump 58, and a vacuum controller 59. These vacuum systems operate within the reaction vessel at 0. Less than ITorr, preferably 0.005-0.0
Maintain a vacuum level of 8 Torr.

操作においては、反応容器R内がまず10−’Torr
以下になるまで容器内を排気し、その後処理ガスか所定
の流量において容器内に混合状態で供給させる。
In the operation, the inside of the reaction vessel R is first set at 10-'Torr.
The inside of the container is evacuated until the amount is below, and then the processing gas is supplied into the container in a mixed state at a predetermined flow rate.

そして、成膜率は50〜200λ/l1inとするのが
よい。
The film forming rate is preferably 50 to 200 λ/l1in.

このとき、反応容器内の真空は0.1Torr未満、好
ましくは0 、005〜0 、08Torrの範囲に管
理される。
At this time, the vacuum inside the reaction vessel is controlled to be less than 0.1 Torr, preferably in the range of 0.005 to 0.08 Torr.

原料ガスの流量が安定すると、電源がオンにされる。 
こうして、基板上にプラズマ上に重合膜が形成される。
When the flow rate of the source gas becomes stable, the power is turned on.
In this way, a polymeric film is formed on the plasma on the substrate.

なお、キャリアガスとして、Ar、N2、He、H2な
どを使用してもよい。
Note that Ar, N2, He, H2, etc. may be used as the carrier gas.

また、印加電流、処理時間等は通常の条件とすればよい
Further, the applied current, processing time, etc. may be set to normal conditions.

プラズマ発生源としては、高周波放電の他に、マイクロ
波放電、直流放電、交流放電等いずれでも利用できる。
As the plasma generation source, in addition to high frequency discharge, microwave discharge, direct current discharge, alternating current discharge, etc. can be used.

 本発明では、特に動作圧力が低圧にあるので、磁場を
併用するマグネトロン方式を用いるのが好ましい。
In the present invention, since the operating pressure is particularly low, it is preferable to use a magnetron system that also uses a magnetic field.

このように形成されるプラズマ重合膜のCの含有量は3
0〜90at%であることが好ましい。
The C content of the plasma polymerized film thus formed is 3
It is preferably 0 to 90 at%.

また、プラズマ重合膜中にHは、一般に5〜40aL%
程度含有される。
Additionally, H in the plasma polymerized film is generally 5 to 40aL%.
Contains to some extent.

なお、プラズマ重合膜中のC,Hおよびその他の元素の
含有量の分析は、SIMS(2次イオン質量分析)等に
従えばよい。SIMSを用いる場合、プラズマ重合膜表
面にて、C,Hおよびその他の元素をカウントして算出
さればよい。
Note that the content of C, H, and other elements in the plasma polymerized film may be analyzed by SIMS (secondary ion mass spectrometry) or the like. When SIMS is used, the amount may be calculated by counting C, H, and other elements on the surface of the plasma polymerized film.

あるいは、Ar等でイオンエツチングを行いながら、C
,Hおよびその他の元素のプロファイルを測定して算出
してもよい。
Alternatively, while performing ion etching with Ar etc.,
, H, and other elements may be measured and calculated.

SIMSの測定については、表面科学基礎講座第3巻(
1984)表面分析の基礎と応用(p70)  “SI
MSおよびLAMMA″の記載に従えばよい。
Regarding SIMS measurement, please refer to Volume 3 of Surface Science Basic Course (
1984) Fundamentals and Applications of Surface Analysis (p70) “SI
MS and LAMMA'' may be followed.

さらに、プラズマ重合膜には、通常C=o基またはCN
基が存在するが、これらは、FTIR等によって確認で
きる。
Furthermore, plasma polymerized films usually have C=o groups or CN
Although there are groups present, these can be confirmed by FTIR and the like.

なお、プラズマ重合膜中には、C,HならびにOおよび
/またはNの他、Si、F、CIL、B、P、S等が3
0at%以下含有されていてもよい。
In addition, in addition to C, H, O and/or N, the plasma polymerized film contains Si, F, CIL, B, P, S, etc.
It may be contained in an amount of 0 at% or less.

これらを含有させるには、ソースとして公知の各種ケイ
素化合物、フッ素化合物等、上記の元素を含む化合物、
例えばSiH4、 SiF、、CF4.03F、、C,F4、C4F 8 
、 CHF3  、 CCf1  F3  、 B  
F3  、NF3 、B2 Ha 、SFs 、PH3
等を用いればよい。
In order to contain these, compounds containing the above elements such as various silicon compounds and fluorine compounds known as sources,
For example, SiH4, SiF, CF4.03F, C, F4, C4F 8
, CHF3, CCf1 F3, B
F3, NF3, B2 Ha, SFs, PH3
etc. may be used.

本発明の光記録媒体に用いられる基板11は、樹脂によ
りて形成される。
The substrate 11 used in the optical recording medium of the present invention is made of resin.

好ましい樹脂としては、アクリル樹脂、ポリカーボネー
ト樹脂、エポキシ樹脂、ポリメチルペンテン樹脂等があ
げられる。
Preferred resins include acrylic resin, polycarbonate resin, epoxy resin, polymethylpentene resin, and the like.

これらの樹脂のうち、耐久性、特にソリなどに対する耐
性等の点でポリカーボネート樹脂が好ましい。
Among these resins, polycarbonate resins are preferred in terms of durability, particularly resistance to warping and the like.

この場合のポリカーボネート樹脂としては、脂肪族ポリ
カーボネート、芳香族−脂肪族ポリカーボネート、芳香
族ポリカーボネートのいずれであってもよいが、特に芳
香族ポリカーボネート樹脂であることが好ましい。 こ
れらのうちでは融点、結晶性、とり扱い等の点でビスフ
ェノールからのポリカーボネート樹脂が好ましい。 な
かでもビスフェノールAタイプのポリカーボネート樹脂
は最も好ましく用いられる。 また、ポリカーボネート
樹脂の数平均分子量は、10,000〜15,000程
度であることが好ましい。
The polycarbonate resin in this case may be any of aliphatic polycarbonate, aromatic-aliphatic polycarbonate, and aromatic polycarbonate, but aromatic polycarbonate resin is particularly preferred. Among these, polycarbonate resins made from bisphenol are preferred in terms of melting point, crystallinity, handling, etc. Among them, bisphenol A type polycarbonate resin is most preferably used. Further, the number average molecular weight of the polycarbonate resin is preferably about 10,000 to 15,000.

このような基板11の830nmの屈折率は通常1.5
5〜1.59程度である。
The refractive index of such a substrate 11 at 830 nm is usually 1.5.
It is about 5 to 1.59.

なお、記録は基板11をとおして行うので、書き込み光
ないし読み出し光に対する透過率は86%以上とする。
Note that since recording is performed through the substrate 11, the transmittance for writing light or reading light is set to 86% or more.

なお、記録は基板11をとおして行うので、書き込み光
ないし読み出し光に対する透過率は86%以上とする。
Note that since recording is performed through the substrate 11, the transmittance for writing light or reading light is set to 86% or more.

また、基板11は、通常ディスク状とし、1.2〜1.
5mm程度の厚さとする。
Further, the substrate 11 is usually disk-shaped, and has 1.2 to 1.
The thickness should be approximately 5 mm.

このようなディスク状基板の磁性薄膜層形成面には、ト
ラッキング用の溝が形成されてもよい。
Tracking grooves may be formed on the magnetic thin film layer forming surface of such a disk-shaped substrate.

溝の深さは、λ/ 8 n程度、特にλ/ 6 n〜λ
/ 12 n (ここに、nは基板の屈折率である)と
される。 また、溝のlJは、トラック[11程度とさ
れる。
The depth of the groove is about λ/8n, especially λ/6n~λ
/ 12 n (where n is the refractive index of the substrate). Further, lJ of the groove is about track [11].

そして、通常、この溝の凹部に位置する磁性薄膜層を記
録トラック部として、書き込み光および読み出し光を基
板裏面側から照射することが好ましい。
Generally, it is preferable to irradiate the write light and the read light from the back side of the substrate, using the magnetic thin film layer located in the recessed part of the groove as a recording track part.

このように構成することにより、書き込み感度と読み出
しのC/N比が向上し、しかもトラッキングの制御信号
は大きくなる。
With this configuration, the writing sensitivity and the reading C/N ratio are improved, and the tracking control signal is also increased.

また、その他の基板の形状として、テープ、ドラム等と
してもよい。
In addition, other shapes of the substrate may be used, such as a tape or a drum.

本発明において、プラズマ重合膜下地層12は、プラズ
マ処理した基板11上に形成してもよい。
In the present invention, the plasma polymerized film base layer 12 may be formed on the plasma-treated substrate 11.

基板11表面をプラズマ処理することによって、基板1
1どの接着力が向上し、ひいてはこの基板とプラズマ重
合膜下地層12との接着力が向上する。
By plasma-treating the surface of the substrate 11, the substrate 1
1, the adhesive force between the substrate and the plasma polymerized film base layer 12 is improved.

基板11表面のプラズマ処理法の原理、方法および形成
条件等は前述したプラズマ重合法のそれと基本的にはほ
ぼ同一である。
The principle, method, formation conditions, etc. of the plasma treatment method for the surface of the substrate 11 are basically almost the same as those of the plasma polymerization method described above.

ただし、プラズマ処理は原則として、無機ガスを処理ガ
スとして用い、他方、前述したプラズマ重合法によるプ
ラズマ重合膜下地層12の形成には原則として、有機ガ
ス(場合によっては無機ガスを混入させてもよい)を原
料ガスとしてとして用いる。
However, in principle, plasma processing uses an inorganic gas as a processing gas, and on the other hand, in the formation of the plasma polymerized film base layer 12 by the plasma polymerization method described above, in principle, an organic gas (in some cases, an inorganic gas may also be mixed) is used. ) is used as the raw material gas.

本発明のプラズマ処理ガスとしては、特に制限はない。There are no particular limitations on the plasma processing gas of the present invention.

すなわち、N2、Ar、He、02、N2、空気、NH
z 、03、N20やN01N20、NO2などのNO
x等の中から適宜選定し、これらの単独ないし混合した
ものいずれであってもよい。
That is, N2, Ar, He, 02, N2, air, NH
NO such as z, 03, N20, N01N20, NO2
x, etc., and may be used alone or in combination.

さらにプラズマ処理電源の周波数については、特に制限
はなく、直流、交流、マイクロ波等いずれであってもよ
い。
Further, the frequency of the plasma processing power source is not particularly limited, and may be any of direct current, alternating current, microwave, etc.

なお、基板11の裏面(記録層としての磁性薄膜層14
を設層しない側)にもさらにプラズマ重合膜を設層して
もよい。
Note that the back surface of the substrate 11 (the magnetic thin film layer 14 as a recording layer)
A plasma polymerized film may also be provided on the side (on which no layer is provided).

本発明における中間層15は、酸素、 炭素、窒素、硫黄等を含む化合物、例えば、5i02 
 、 SiO、A  11  N  、  A  fl
  z  O3、S i 3 N4 、 Zn5% B
N、TiO2、TiN等ないしこれを含む混合物などの
各種誘導体物質;ガラス、例えばホウケイ酸ガラス、バ
リウムホウケイ酸ガラス、アルミニウムホウケイ酸ガラ
ス等あるいはこのものにSi3N4等を含むものなどの
材質を用いればよい。 なかでも、5in240〜80
wし%のホウケイ酸ガラス、バリウムホウケイ酸ガラス
、アルミニウムホウケイ酸ガラスや、これらのSiO2
の一部をSi3N4等で置換したものが好ましい。
The intermediate layer 15 in the present invention is made of a compound containing oxygen, carbon, nitrogen, sulfur, etc., such as 5i02
, SiO, A 11 N , A fl
z O3, S i 3 N4, Zn5% B
Various derivative materials such as N, TiO2, TiN, etc. or mixtures containing these; glass, such as borosilicate glass, barium borosilicate glass, aluminum borosilicate glass, etc., or materials containing Si3N4 etc. may be used. . Among them, 5in240~80
w% borosilicate glass, barium borosilicate glass, aluminum borosilicate glass, and these SiO2
It is preferable to substitute a part of with Si3N4 or the like.

これらのうちで特に好ましいものとしては、下記のもの
が挙げられる。
Among these, the following are particularly preferred.

(1)酸化ケイ素40〜60wt%と、Bad、Cab
、SrO,MgO,ZnO。
(1) 40 to 60 wt% silicon oxide, Bad, Cab
, SrO, MgO, ZnO.

pbo等の2価金属酸化物50wt%以下および/また
はアルカリ金属酸化物10wt%以下と、酸化ホウ素お
よび/または酸化アルミニウムとを含有するもの。
Contains 50 wt% or less of a divalent metal oxide such as pbo and/or 10 wt% or less of an alkali metal oxide, and boron oxide and/or aluminum oxide.

(2)S iと他の金属または半金属元素としてBa、
Ca、Sr、Mg、Zn、Pb等の1種以上、AIL、
Bの1種以上およびアルカリ金属元素の1種以上のうち
の少なくとも1つとを含み、全金属ないし半金属中のS
i原子比が0.3〜0.9であり、ざらに0およびNを
含み、O/(0+N)が0.4〜0.8であるもの。
(2) Ba as Si and other metal or metalloid elements,
One or more of Ca, Sr, Mg, Zn, Pb, etc., AIL,
B and at least one of one or more alkali metal elements, S in all metals or metalloids
The i atomic ratio is 0.3 to 0.9, roughly contains 0 and N, and O/(0+N) is 0.4 to 0.8.

このような中間層15は、500〜3000人、好まし
くは800〜2500人の厚さとするのがよい。
The thickness of such an intermediate layer 15 is preferably 500 to 3000, preferably 800 to 2500.

500人未満となると、耐候性が十分でないからであり
、1500人をこえると、厚すぎて媒体とした場合感度
が低下してしまうからである。
If the number of people used is less than 500, the weather resistance will not be sufficient, and if the number of people used is more than 1,500, it will be too thick and the sensitivity will decrease when used as a medium.

なお、これら中間層15としては、上記のガラス層を下
地中間層として300〜1000人程度に設層し、この
上に5i02,5iO1Si3N4、AILN、Al2
O2,ZnS等、あるいはこれらを含む混合物、例えば
Siおよび/またはA2とOおよびNとを含んだり、S
iおよびLa等の希土類金属と0およびNとを含んだり
するものなどの誘電体物質を誘電体層として500〜1
500人程度に設層したものが好ましい。
In addition, as these intermediate layers 15, about 300 to 1000 layers are formed using the above-mentioned glass layer as a base intermediate layer, and on this, 5i02, 5iO1Si3N4, AILN, Al2
O2, ZnS, etc., or mixtures containing these, such as Si and/or A2 and O and N, S
500 to 1 as a dielectric layer using a dielectric material containing rare earth metals such as i and La and 0 and N.
It is preferable to set up a number of layers for about 500 people.

この場合、誘電体層は800nmにおける屈折率1.8
〜3.0のものが好ましく、Siと希土類金属および/
またはAR,とを含み、0およびNを含むものが好適で
ある。
In this case, the dielectric layer has a refractive index of 1.8 at 800 nm.
~3.0 is preferable, and Si and rare earth metals and/or
or AR, and preferably contains 0 and N.

本発明において記録層としての磁性薄膜層14は、変調
された熱ビームあるいは変調された磁界により、情報が
磁気的に記録されるものであり、記録情報は磁気−光変
換して再生するものである。
In the present invention, information is magnetically recorded in the magnetic thin film layer 14 as a recording layer using a modulated heat beam or a modulated magnetic field, and the recorded information is reproduced by magneto-optical conversion. be.

このような磁性薄膜層14の材質としては、Gd、Tb
等の希土類金属とFe、Co等の遷移金属の合金をスパ
ッタ、蒸着法等により、非晶質膜として形成したもので
あり、しかもFeとCoを必須含有成分とするものであ
る。
The material of such a magnetic thin film layer 14 includes Gd, Tb
It is an amorphous film formed by sputtering, vapor deposition, etc. of an alloy of rare earth metals such as , and transition metals such as Fe, Co, etc., and contains Fe and Co as essential components.

この場合、FeとCoの総合有量は、65〜85at%
であることが好ましい。
In this case, the total amount of Fe and Co is 65 to 85 at%
It is preferable that

そして、残部は実質的に希土類金属、特にGdおよび/
またはTbである。
The remainder is substantially rare earth metals, especially Gd and/or
Or Tb.

そして、その好適例としては、TbFeCo%GdFe
Co、GdTbFeCo等がある。
And, as a suitable example, TbFeCo%GdFe
Co, GdTbFeCo, etc.

なお、これら磁性薄膜層中には10at%以下の範囲で
Cr、AIl、Ti、Pt、Si、Mo、Mn、V、N
i、Cu、Zn1Ge。
Note that these magnetic thin film layers contain Cr, Al, Ti, Pt, Si, Mo, Mn, V, and N within a range of 10 at% or less.
i, Cu, Zn1Ge.

Au等が含有されてもよい。Au etc. may be contained.

また、希土類元素として10at%以下の範囲でSc、
Y、La、Ce、Pr、Nd、Pm、3m%Eu、Dy
%Ho、Er、Tm%Yb、Lu等を含有してもよい。
In addition, as a rare earth element, Sc in a range of 10 at% or less,
Y, La, Ce, Pr, Nd, Pm, 3m%Eu, Dy
%Ho, Er, Tm% Yb, Lu, etc. may be contained.

このような磁性薄膜層の膜厚は、0.01〜1−が好ま
しい。
The thickness of such a magnetic thin film layer is preferably 0.01 to 1-.

この他記録層の材質としては、いわゆる相転移タイプの
ものとして、例えば、 Te−5e、Te−5e−Sn。
Other materials for the recording layer include so-called phase change type materials, such as Te-5e and Te-5e-Sn.

Te−Ge、Te−1n%Te−5n。Te-Ge, Te-1n%Te-5n.

Te−Ge−3b−3゜ Te−Ge−As−3i、  Te−3i  、Te−
Ge−3i−3b 、 Te−Ge−B1  、 Te−Ge  −I  n−Ga 、 Te−3i−Bi  −Tlt。
Te-Ge-3b-3゜Te-Ge-As-3i, Te-3i, Te-
Ge-3i-3b, Te-Ge-B1, Te-Ge-In-Ga, Te-3i-Bi-Tlt.

Te−Ge−B1−In−3、 Te−As−Ge−5b 、 Te−Ge−5e−3゜ Te−Ge−3e。Te-Ge-B1-In-3, Te-As-Ge-5b, Te-Ge-5e-3゜ Te-Ge-3e.

Te  −A 5−Ge−Ga。Te-A 5-Ge-Ga.

Te−Ge−5−1n。Te-Ge-5-1n.

5e−Ge−Tl 、 5e−Te−As 、5e−G
e−Tit−3b。
5e-Ge-Tl, 5e-Te-As, 5e-G
e-Tit-3b.

5e−Ge−Bi、5e−3(以上、特公昭54−41
902号、特許第1004835号など) TeOX (特開昭58−54338号、特許第974
257号記載のTe酸化物中に分散されたTe)。
5e-Ge-Bi, 5e-3 (all of the above, Special Publication 1974-41)
No. 902, Patent No. 1004835, etc.)
Te dispersed in Te oxide described in No. 257).

Te0X+vOX、l (特許第974258号)、 Te0X+vOX (特許第974257号)、その他
、Te−Tit、 Te−Tit −Si、  5e−
Zn−Sb、Te−5e−Ga、TeN)1等のTe、
Seを主体とするカルコゲン系 Ge−5n、5i−5n等の非晶質−結晶質転移を生じ
る合金 Ag−Zn%Ag−ALL−Cu、Cu−AIL等の結
晶構造変化によって色変化を生じる合金、In−5b等
の結晶粒径の変化を生じる合金などがある。
Te0X+vOX, l (Patent No. 974258), Te0X+vOX (Patent No. 974257), others, Te-Tit, Te-Tit -Si, 5e-
Te such as Zn-Sb, Te-5e-Ga, TeN) 1,
Alloys that cause an amorphous-crystalline transition such as chalcogen-based Ge-5n and 5i-5n, which are mainly composed of Se. Alloys that cause color changes due to crystal structure changes such as Ag-Zn%Ag-ALL-Cu and Cu-AIL. , In-5b, and other alloys that cause changes in crystal grain size.

このような磁性薄膜層14上には、保護層16を設層す
ることが好ましい。
Preferably, a protective layer 16 is provided on such a magnetic thin film layer 14.

保護層16の材質としては、中間層15同様ガラスおよ
び各種酸化物、窒化物等の誘電体物質が好ましいが特に
前記したガラスが好適である。
As for the material of the protective layer 16, like the intermediate layer 15, glass and dielectric materials such as various oxides and nitrides are preferable, and the above-mentioned glass is particularly preferable.

保護層16の厚さは一般に300〜1500λ程度であ
る。
The thickness of the protective layer 16 is generally about 300 to 1500λ.

なお、保護層16の形成は真空蒸着、スパッタ等によれ
ばよい。
Note that the protective layer 16 may be formed by vacuum deposition, sputtering, or the like.

本発明の光記録媒体において、保護@19の材質として
は、通常、公知の種々の有機系の物質を用いればよい。
In the optical recording medium of the present invention, various known organic substances may be used as the material for the protection@19.

より好ましくは、放射線硬化型化合物を電子線、紫外線
等の放射線で硬化させたものを用いるのがよい。
More preferably, a radiation-curable compound cured with radiation such as an electron beam or ultraviolet rays is used.

用いる放射線硬化型化合物としては、イオン化エネルギ
ーに感応し、ラジカル重合性を示す不飽和二重結合を有
するアクリル酸、メタクリル酸、あるいはそれらのエス
テル化合物のようなアクリル系二重結合、ジアリルフタ
レートのようなアリル系二重結合、マレイン酸、マレイ
ン酸誘導体等の不飽和二重結合等の放射線照射による架
橋あるいは重合する基を分子中に含有または導入した千
ツマ−、オリゴマーおよびポリマー等を挙げることがで
きる。
The radiation-curable compounds to be used include acrylic acid, methacrylic acid, or their ester compounds, which have unsaturated double bonds that are sensitive to ionization energy and exhibit radical polymerizability, and acrylic double bonds such as diallyl phthalate. Examples include mercury, oligomers, and polymers containing or introducing into the molecule groups that can be crosslinked or polymerized by radiation irradiation, such as allylic double bonds, unsaturated double bonds such as maleic acid, and maleic acid derivatives. can.

放射線硬化型子ツマ−としては、分子量2000未満の
化合物が、オリゴマーとしては分子1i12000〜1
0000のものが用いられる。
As a radiation-curable compound, a compound with a molecular weight of less than 2,000 is used, and as an oligomer, a compound with a molecular weight of 1i12,000 to 1
0000 is used.

これらはスチレン、エチルアクリレート、エチレングリ
コールジアクリレート、エチレングリコールジメタクリ
レート、ジエチレングリコールジアクリレート、ジエチ
レングリコールメタクリレート、1.6−ヘキサングリ
コールジアクリレート、1.6−ヘキサングリコールジ
アクリレート等も挙げられるが、特に好ましいものとし
ては、ペンタエリスリトールテトラアクリレート(メタ
クリレート)、ペンタエリスリトールアクリレート(メ
タクリレート)、トリメチロールプロパントリアクリレ
ート(メタクリレート)、トリメチロールプロパンジア
クリレート(メタクリレート)、多官能オリゴエステル
アクリレート(アロニックスM−7100、M−540
0、M−5500%M−5700、M−6250、M−
6500、M−8030、M−8060、M−8100
等、東亜合成)、ウレタンエラストマー(ニラポラン4
040)のアクリル変性体、あるいはこれらのものにC
0OH等の官能基が導入されたもの、フェノールエチレ
ンオキシド付加物のアクリレート(メタクリレート)、
下記一般式で示されるペンタエリスリトール縮合環にア
クリル基(メタクリル基)またはε−カプロラクトン−
アクリル基のついた化合物、 1)   (CH2=CHCOOCH2)3−CCH2
0H(特殊アクリレートA) 2)   (CH2=CHCOOCH2)3−CCH2
0H3(特殊アクリレートB) 3)   (CH2”CHCO(oc3 Ha )n 
−0CH2)3−CC82CH3(特殊アクリレートC
) (特殊アクリレートD) (特殊アクリレートE) (特殊アクリレートF) 式中、m=1、m=2、b=4の化合物(以下、特殊ペ
ンタエリスリトール縮金物Aという)、 m=1.m=3、b=3の化合物(以下、特殊ペンタエ
リスリトール縮合物Bという)、m=1、m=6、b=
oの化合物(以下、特殊ペンタエリスリトール縮合物C
という)、m=2、m=6、b=oの化合物(以下、特
殊ペンタエリスリトール縮合物りという)、および下記
式一般式で示される特殊アクリレート類等が挙げられる
These include styrene, ethyl acrylate, ethylene glycol diacrylate, ethylene glycol dimethacrylate, diethylene glycol diacrylate, diethylene glycol methacrylate, 1,6-hexane glycol diacrylate, 1,6-hexane glycol diacrylate, etc., but particularly preferred ones are Examples include pentaerythritol tetraacrylate (methacrylate), pentaerythritol acrylate (methacrylate), trimethylolpropane triacrylate (methacrylate), trimethylolpropane diacrylate (methacrylate), polyfunctional oligoester acrylate (Aronix M-7100, M-540).
0, M-5500% M-5700, M-6250, M-
6500, M-8030, M-8060, M-8100
etc., Toagosei), urethane elastomer (Niraporan 4
040) or acrylic modified products of C
Those with functional groups such as 0OH introduced, acrylates (methacrylates) of phenol ethylene oxide adducts,
Acrylic group (methacrylic group) or ε-caprolactone-
Compound with acrylic group, 1) (CH2=CHCOOCH2)3-CCH2
0H (special acrylate A) 2) (CH2=CHCOOCH2)3-CCH2
0H3 (Special Acrylate B) 3) (CH2”CHCO(oc3 Ha)n
-0CH2)3-CC82CH3 (special acrylate C
) (Special acrylate D) (Special acrylate E) (Special acrylate F) A compound where m=1, m=2, b=4 (hereinafter referred to as special pentaerythritol metal complex A), m=1. Compound where m=3, b=3 (hereinafter referred to as special pentaerythritol condensate B), m=1, m=6, b=
o compound (hereinafter referred to as special pentaerythritol condensate C
), m=2, m=6, b=o compounds (hereinafter referred to as special pentaerythritol condensates), and special acrylates represented by the general formula below.

(m=16)       (特殊アクリレートG)8
)  CH2=CHCOO−(CH2CH20)4−C
OCH=CH2(特殊アクリレートH) (特殊アクリレートI) (特殊アクリレートJ) Aニアクリル酸、   X:多価アルコールY:S塩基
酸    (特殊アクリレートに)12)   A+M
−N−)−−M−AAニアクリル酸、  M:2価アル
コールN:2塩基酸    (特殊アクリレートし)ま
た、放射線硬化型オリゴマーとしては、下記一般式で示
される多官能オリゴエステルアクリレートやウレタンエ
ラストマーのアクリル変性体、あるいはこれらのものに
C0OH等の官能基が導入されたもの等が挙げられる。
(m=16) (Special acrylate G)8
) CH2=CHCOO-(CH2CH20)4-C
OCH=CH2 (Special acrylate H) (Special acrylate I) (Special acrylate J) A Niacrylic acid, X: Polyhydric alcohol Y: S Basic acid (Special acrylate) 12) A+M
-N-)--M-AA Niacrylic acid, M: dihydric alcohol N: dibasic acid (special acrylate) In addition, radiation-curable oligomers include polyfunctional oligoester acrylates and urethane elastomers represented by the general formula below. Examples include acrylic modified products of , or those into which functional groups such as COOH are introduced.

また、熱可塑性樹脂を放射線感応変性することによって
得られる放射線硬化型化合物を用いてもよい。
Alternatively, a radiation-curable compound obtained by radiation-sensitive modification of a thermoplastic resin may be used.

このような放射線硬化性樹脂の具体例としては、ラジカ
ル重合性を有する不飽和二重結合を示すアクリル酸、メ
タクリル酸、あるいはそれらのエステル化合物のような
アクリル系二重結合、ジアリルフタレートのようなアリ
ル系二重結合、マレイン酸、マレイン酸誘導体等の不飽
和結合等の、放射線照射による架橋あるいは重合する基
を熱可塑性樹脂の分子中に含有、または導入した樹脂で
ある。
Specific examples of such radiation-curable resins include acrylic acid, methacrylic acid, or acrylic double bonds such as ester compounds thereof, and diallylphthalate, which exhibits an unsaturated double bond that has radical polymerizability. It is a thermoplastic resin in which groups that can be crosslinked or polymerized by radiation irradiation, such as allylic double bonds and unsaturated bonds such as maleic acid and maleic acid derivatives, are contained or introduced into the molecule of the thermoplastic resin.

放射線硬化性樹脂に変性できる熱可塑性樹脂の例として
は、塩化ビニル系共重合体、飽和ポリニスルチル樹脂、
ポリビニルアルコール系樹脂、エポキシ系樹脂、フェノ
キシ系樹脂、繊維素誘導体等を挙げることができる。
Examples of thermoplastic resins that can be modified into radiation-curable resins include vinyl chloride copolymers, saturated polyvinyl sulfate resins,
Examples include polyvinyl alcohol resins, epoxy resins, phenoxy resins, cellulose derivatives, and the like.

その他、放射線感応変性に用いることのできる樹脂とし
ては、多官能ポリエステル樹脂、ポリエーテルエステル
樹脂、ポリビニルピロリドン樹脂および誘導体(pvp
オレフィン共重合体)、ポリアミド樹脂、ポリイミド樹
脂、フェノール樹脂、スピロアセタール樹脂、水酸基を
含有するアクリルエステルおよびメタクリルエステルを
重合成分として少くとも一種含むアクリル系樹脂等も有
効である。
Other resins that can be used for radiation sensitivity modification include polyfunctional polyester resins, polyether ester resins, polyvinylpyrrolidone resins, and derivatives (pvp
Also effective are acrylic resins containing at least one of olefin copolymers), polyamide resins, polyimide resins, phenol resins, spiroacetal resins, hydroxyl group-containing acrylic esters, and methacrylic esters as polymerization components.

このような放射線硬化型化合物の保護膜6の膜厚は0.
1〜30μm、より好ましくは1〜10μlである。
The thickness of the protective film 6 made of such a radiation-curable compound is 0.
It is 1 to 30 μm, more preferably 1 to 10 μl.

この膜厚が0.1μm未満になると、一様な膜を形成で
きず、湿度が高い雰囲気中での防湿効果が十分でなく、
磁性薄膜層4の耐久性が向上しない。 また、30μm
をこえると、樹脂膜の硬化の際に伴う収縮により記録媒
体の反りや保護膜中のクラックが生じ、実用に耐えない
If the film thickness is less than 0.1 μm, it will not be possible to form a uniform film, and the moisture-proofing effect will not be sufficient in a humid atmosphere.
The durability of the magnetic thin film layer 4 is not improved. Also, 30 μm
If it exceeds this value, the recording medium will warp and the protective film will crack due to shrinkage during curing of the resin film, making it impractical for practical use.

このような塗膜は、通常、スピンナーコート、グラビア
塗布、スプレーコート、ディッピング等、種々の公知の
方法を組み合わせて設層すればよい。 この時の塗膜の
設層条件は、塗膜組成の混合物の粘度、目的とする塗膜
厚さ等を考慮して適宜決定すればよい。
Such a coating film may usually be formed by combining various known methods such as spinner coating, gravure coating, spray coating, and dipping. The conditions for forming the coating film at this time may be appropriately determined in consideration of the viscosity of the mixture of coating film composition, the intended coating thickness, etc.

このような塗膜を硬化させて保護層とするには、電子線
、紫外線等の放射線を塗膜に照射すればよい。
In order to cure such a coating film to form a protective layer, the coating film may be irradiated with radiation such as electron beams or ultraviolet rays.

電子線を用いる場合、放射線特性としては、加速電圧1
00〜750にV1好ましくは150〜300KVの放
射線加速器を用い、吸収線量を0.5〜20メガラツド
になるように照射するのが好都合である。
When using an electron beam, the radiation characteristics include acceleration voltage 1
It is convenient to use a radiation accelerator with a V1 voltage of 0.00 to 750 KV, preferably 150 to 300 KV, and to irradiate at an absorbed dose of 0.5 to 20 Megarad.

一方、紫外線を用いる場合には、前述したような放射線
硬化型化合物の中には、通常、光重合増感剤が加えられ
る。
On the other hand, when ultraviolet rays are used, a photopolymerizable sensitizer is usually added to the radiation-curable compound as described above.

この光重合増感剤としては、従来公知のものでよく、例
えばベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエー
テル、α−メチルベンゾイン、α−クロルデオキシベン
ゾイン等のベンゾイン系、ベンゾフェノン、アセトフェ
ノン、ビスジアルキルアミノベンゾフェノン等のケトン
類、アセドラキノン、フエナントラキノン等のキノン類
、ベンジルジスルフィド、テトラメチルチウラムモノス
ルフィド等のスルフィド類等を挙げることができる。 
光重合増感剤は樹脂固形分に対し、0.1〜10重量%
の範囲が望ましい。
The photopolymerization sensitizer may be a conventionally known one, such as benzoin type sensitizers such as benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, α-methylbenzoin, α-chlordeoxybenzoin, benzophenone, acetophenone, bisdialkylaminobenzophenone, etc. Examples include ketones, quinones such as acedraquinone and phenanthraquinone, and sulfides such as benzyl disulfide and tetramethylthiuram monosulfide.
The photopolymerization sensitizer is 0.1 to 10% by weight based on the resin solid content.
A range of is desirable.

そして、このような光重合増感剤と放射線硬化型化合物
を含有する塗膜を紫外線によって硬化させるには、公知
の種々の方法に従えばよい。
In order to cure a coating film containing such a photopolymerizable sensitizer and a radiation-curable compound using ultraviolet rays, various known methods may be used.

たとえば、キセノン放電管、水素放電管などの紫外線電
球等を用いればよい。
For example, an ultraviolet light bulb such as a xenon discharge tube or a hydrogen discharge tube may be used.

このような保護膜19の上には、通常接着剤層を介して
保護板が設けられる。
A protective plate is usually provided on the protective film 19 with an adhesive layer interposed therebetween.

すなわち、前記の基板11の裏面(磁性薄膜層14を設
けていない側の面)側からのみ記録・再生を行う、いわ
ゆる片面記録の場合にのみ、この保護板を用いる。
That is, this protection plate is used only in the case of so-called single-sided recording, in which recording and reproduction are performed only from the back side (the side on which the magnetic thin film layer 14 is not provided) of the substrate 11.

このような保護板の樹脂材質は特別に透明性等を要求さ
れることはなく、種々の樹脂、例えば、ポリエチレン、
ポリ塩化ビニル、ポリスチレン、ポリプロピレン、ポリ
ビニルアルコール、メタクリル樹脂、ポリアミド、ポリ
塩化ビニリデン、ポリカーボネート、ポリアセタール、
ふフ素樹脂等の各種熱可塑性樹脂、フェノール樹脂、ユ
リア樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ポリウレタン、ア
ルキド樹脂、メラミン樹脂、エポキシ樹脂、ケイ素樹脂
等の各種熱可塑性樹脂等が使用可能である。
The resin material of such a protective plate is not required to be particularly transparent, and various resins such as polyethylene,
Polyvinyl chloride, polystyrene, polypropylene, polyvinyl alcohol, methacrylic resin, polyamide, polyvinylidene chloride, polycarbonate, polyacetal,
Various thermoplastic resins such as fluororesins, phenolic resins, urea resins, unsaturated polyester resins, polyurethanes, alkyd resins, melamine resins, epoxy resins, silicone resins, etc. can be used.

なお、ガラス、セラミック等の各種無機材質を保護板と
して用いてもよい。
Note that various inorganic materials such as glass and ceramics may be used as the protective plate.

このものの形状、寸法等は上記の基板11のそれとほぼ
同様とされる。
The shape, dimensions, etc. of this material are substantially the same as those of the substrate 11 described above.

このような保護板は、前述したように接着剤層を介して
接着される。 接着剤層は、通常、ホットメルト樹脂等
の接着剤であって、この膜厚は1〜100μm程度とさ
れる。
Such a protection plate is bonded via an adhesive layer as described above. The adhesive layer is usually an adhesive such as hot melt resin, and has a thickness of about 1 to 100 μm.

他方、上記の保護板を用いる代りに、上記の磁性薄膜層
14、保護層16.保護115i19等を有する基板を
さらに1セツト用いて、内磁性薄膜層を内側にして対向
させて、接着剤層を用いて貼り合せて、両基板の裏面側
から書き込みを行なう、いわゆる両面記録タイプとして
もよい。
On the other hand, instead of using the above protective plate, the above magnetic thin film layer 14, protective layer 16 . This is a so-called double-sided recording type in which one additional set of substrates with protection 115i19, etc. is used, and the internal magnetic thin film layer is placed on the inside, facing each other, and bonded together using an adhesive layer, and writing is performed from the back side of both substrates. Good too.

さらに、これらの基板11や保護板の裏面(Mi性性膜
膜層14設けていない側の面)には各種保護膜としての
ハードコート層を設けることが好ましい。
Furthermore, it is preferable to provide a hard coat layer as a various protective film on the back surface (the surface on which the Mi-based film layer 14 is not provided) of the substrate 11 and the protective plate.

ハードコート層の材質としては、前述した保護膜19の
材質と同様なものとしてもよい。
The material of the hard coat layer may be the same as that of the protective film 19 described above.

■ 発明の具体的作用効果 本発明によれば、基板上にプラズマ重合膜下地層を有し
、このプラズマ重合膜下地層の上に中間層を有し、この
中間層の上に記録層を有する構成であるか、またはさら
に記録層の上に直接または保護層を介してプラズマ重合
膜保護層を有する構成であって、これらのプラズマ重合
膜がカルボニル基またはシアノ基を有する無機ガスと炭
化水素系のガスとを混合して重合したものであり、かつ
好ましくはこのプラズマ重合膜の6328人における屈
折率を1.3〜1.7としているため、耐候性および接
着性に優れた光記録媒体が得られる。
■Specific effects of the invention According to the present invention, a plasma polymerized film base layer is provided on a substrate, an intermediate layer is provided on the plasma polymerized film base layer, and a recording layer is provided on this intermediate layer. or further has a plasma polymerized film protective layer on the recording layer directly or via a protective layer, and these plasma polymerized films contain inorganic gases and hydrocarbons having carbonyl groups or cyano groups. The plasma-polymerized film preferably has a refractive index of 1.3 to 1.7 in 6328 people, so it is an optical recording medium with excellent weather resistance and adhesive properties. can get.

特に、これに接してガラス等の材質の中間層、・保護層
等を設層する場合接着が強固となる。
In particular, when an intermediate layer, protective layer, etc. of a material such as glass is provided in contact with this, the adhesion becomes strong.

また、プラズマ重合膜を形成する際の取扱いが容易であ
る。
Further, it is easy to handle when forming a plasma polymerized film.

本発明者らは、先に、上記プラズマ重合膜を、カルボニ
ル基を有する有機化合物の千ツマ−を重合したもの(特
願昭61−313721号)、あるいはニトリル基を有
する有機化合物のモノマーを重合したもの(特願昭61
−309896号)にする旨の提案を行っている。
The present inventors previously developed the above plasma polymerized film by polymerizing organic compound monomers having carbonyl groups (Japanese Patent Application No. 313721/1982) or by polymerizing monomers of organic compounds having nitrile groups. (Special application 1986)
-309896).

本発明は、これらのものに比較してもガスを用いてプラ
ズマ重合膜を形成しているため、処理操作が容易であり
、重合膜の均質性に優れ、特性のバラツキが少ない等の
利点がある。
Compared to these methods, the present invention has advantages such as easy processing operations, superior homogeneity of the polymerized film, and less variation in properties because it forms a plasma polymerized film using gas. be.

■ 発明の具体的実施例 以下、本発明の具体的実施例を示し、本発明をさらに詳
細に説明する。
(2) Specific Examples of the Invention Hereinafter, specific examples of the present invention will be shown and the present invention will be explained in more detail.

実施例1 直径13cm、厚さ1.2mmのビスフェノールA系の
ポリカーボネート樹脂(分子量15000)からなる基
板11を真空チャンバ中に入れ、一旦10 ”’Tor
rの真空に引いた後、処理ガスとしてArを用い、流量
:50uQ/分にてガス圧Q、1TOrrに保ちながら
13.56MHzの高周波電圧をかけてプラズマを発生
させ、基板11表面をプラズマ処理した。
Example 1 A substrate 11 made of bisphenol A polycarbonate resin (molecular weight 15,000) with a diameter of 13 cm and a thickness of 1.2 mm was placed in a vacuum chamber, and was once heated to 10"' Torr.
After drawing a vacuum of r, using Ar as a processing gas, applying a high frequency voltage of 13.56 MHz while maintaining the gas pressure Q and 1 TOrr at a flow rate of 50 uQ/min to generate plasma, and plasma-process the surface of the substrate 11. did.

その後、さらに下記の条件にてプラズマ重合膜下地層1
2を基板11上に形成した。
After that, under the following conditions, the plasma polymerized film base layer 1
2 was formed on the substrate 11.

なお、表中の略号は次のものを示す。In addition, the abbreviations in the table indicate the following.

MMA・・・メチルメタアクリレート、A N−・・ア
クリロニトリル、 TFE・・・テトラフルオロエチレン、VC・・・塩化
ビニル、 VDC・・・塩化ビニリデン これらのプラズマ重合膜の屈折率nは、6328人にて
測定した。
MMA...methyl methacrylate, A N-...acrylonitrile, TFE...tetrafluoroethylene, VC...vinyl chloride, VDC...vinylidene chloride The refractive index n of these plasma polymerized films is 6328 people. It was measured using

またこれらのプラズマ重合膜の元素分析SIMSで測定
し、また膜厚はエリプソメーターによって測定した。
Further, elemental analysis of these plasma polymerized films was measured by SIMS, and film thickness was measured by an ellipsometer.

さらに、プラズマ重合膜中にC=0基またはCN基が存
在することは、FTIRの測定により確認した。 この
ように形成されたプラズマ重合膜下地層12にガラス(
SiO248wt%、ALL20. 15wt%、B2
O314wL%、Na2O3wt%、に202wt%。
Furthermore, the presence of C=0 groups or CN groups in the plasma polymerized film was confirmed by FTIR measurement. Glass (
SiO248wt%, ALL20. 15wt%, B2
14 wL% of O3, 202 wt% of Na2O3 wt%.

Ba0  5wL%、CaO9wt%、  MgO4w
t%)の中間層15を高周波マグネトロンスパッタによ
って膜厚900人に設層した。
Ba0 5wL%, CaO9wt%, MgO4w
t%) was deposited to a film thickness of 900 mm by high frequency magnetron sputtering.

この中間層15の上に21at%Tb、68at%Fe
、7at%Co、4at%Cr合金薄膜をスパッタリン
グによって、厚さ800人に設層し、磁性薄膜層14と
した。
On this intermediate layer 15, 21at%Tb, 68at%Fe
, 7 at % Co, and 4 at % Cr alloy thin films were deposited to a thickness of 800 mm by sputtering to form the magnetic thin film layer 14 .

なお、ターゲットは、FeターゲットにTb、Co、C
rチップをのせたものを用いた。
In addition, the target is Fe target with Tb, Co, and C.
The one with the r chip on it was used.

この磁性薄膜層14上にガラス(中間層の場合と同じ)
の保護層16を膜厚1000人にスパッタリングで設層
し、この保護層16の上に下記の放射線硬化型化合物を
含む塗布組成物を保護膜19としてスピンナーコートで
設層した。
Glass (same as in the case of the intermediate layer) is placed on this magnetic thin film layer 14.
A protective layer 16 with a thickness of 1000 mm was formed by sputtering, and a coating composition containing the following radiation-curable compound was formed as a protective film 19 on this protective layer 16 by spinner coating.

(塗布組成物) 多官能オリゴエステルアクリレート 100重量部 光増感剤           5重量部このような塗
布組成物を設層後、紫外線を15sec照射し架橋硬化
させ、硬化膜とした。
(Coating Composition) 100 parts by weight of polyfunctional oligoester acrylate 5 parts by weight of photosensitizer After the coating composition was formed, it was crosslinked and cured by irradiation with ultraviolet rays for 15 seconds to obtain a cured film.

この時の膜厚は5−であった。The film thickness at this time was 5-.

なお、これと同様な処理を上記の基板11裏面上にも行
った。 さらに保護層膜19上に直径13cmのポリカ
ーボネート樹脂製の保護板を接着剤を用いて接着した。
Note that a similar process was also performed on the back surface of the substrate 11 described above. Furthermore, a protective plate made of polycarbonate resin and having a diameter of 13 cm was adhered onto the protective layer film 19 using an adhesive.

このようにして表1に示される各種光磁気ディスクを作
製し、これらのサンプルについて、以下に示すような特
性値を測定した。
In this way, various magneto-optical disks shown in Table 1 were produced, and the following characteristic values were measured for these samples.

(1)C/N比(保存劣化) 初期のC/N比と、60℃、90%RHにて1000時
間保存後のC/N比の変化(劣化)量を下記の条件で測
定した。
(1) C/N ratio (deterioration on storage) The initial C/N ratio and the amount of change (deterioration) in the C/N ratio after storage for 1000 hours at 60° C. and 90% RH were measured under the following conditions.

回転スピード        4 m / s e c
搬送周波数        500にHz分解能   
        30KHz記録パワー(830nm)
   3〜4mW再生パワー(830nm)     
 1mW(2)ピットエラーレート 初期と、60℃、90%RHにて1000時間保存゛後
のEFM信号のピットエラーレートを測定した。
Rotation speed 4 m/sec
Carrier frequency 500Hz resolution
30KHz recording power (830nm)
3-4mW reproduction power (830nm)
1 mW (2) Pit error rate The pit error rate of the EFM signal was measured at the initial stage and after storage for 1000 hours at 60° C. and 90% RH.

(3)接着強度 作製した光磁気ディスクの保護膜19の表面に接着テー
プを一定の圧力で接着させ、この接着テープを180°
の角度方向に一定の速度で引き離し、基板とスパッタ積
層体(中間層、磁性薄膜層、保護層、保護膜)との剥離
に要した力を測定した。
(3) Adhesive strength Adhesive tape is adhered to the surface of the protective film 19 of the prepared magneto-optical disk with a constant pressure.
The force required to separate the substrate from the sputtered laminate (intermediate layer, magnetic thin film layer, protective layer, protective film) was measured by separating the substrate at a constant speed in the angular direction.

そして、サンプルNo、11(ブランク)の接着強度の
値W0に対する、各サンプルの接着強度の値Wを以下に
示す向上率(%)として表わした。これを初期の向上率
とする。
The adhesive strength value W of each sample was expressed as the improvement rate (%) shown below with respect to the adhesive strength value W0 of Sample No. 11 (blank). This is the initial improvement rate.

なお、60℃、90%RHにて1000時間保存後の向
上率(%)も同様にして求めた。
The improvement rate (%) after storage for 1000 hours at 60° C. and 90% RH was also determined in the same manner.

また、それぞれのサンプル50個について初期における
接着強度の向上率(%)を求め、この向上率(%)の平
均値をマ、標準偏差をσとし、C、V 、  (Coe
fficient of Variation )σ =:X100の値を求めた。
In addition, the improvement rate (%) of initial adhesion strength was determined for each of the 50 samples, and the average value of this improvement rate (%) was taken as Ma, and the standard deviation was σ, and C, V, (Coe
The value of σ =:X100 was determined.

実施例2 実施例1のサンプル1において、保護層16上にさらに
プラズマ重合膜保護層17を設層し、その上に保護WA
19を設けて、サンプル1と同様に光磁気ディスクを作
成した。 この場合保護層17として用いた重合膜は下
地層12と同様にプラズマ重合膜1である。 これをサ
ンプルAとする。
Example 2 In Sample 1 of Example 1, a plasma polymerized film protective layer 17 was further formed on the protective layer 16, and a protective WA
A magneto-optical disk was prepared in the same manner as Sample 1. In this case, the polymer film used as the protective layer 17 is the plasma polymer film 1 similarly to the base layer 12. This is called sample A.

このサンプルAについて、実施例1と同様にC/N比と
ピットエラーレイトを測定した。
Regarding this sample A, the C/N ratio and pit error rate were measured in the same manner as in Example 1.

ただし、保存時間は2000時間とした。 この結果を
以下に示す。
However, the storage time was 2000 hours. The results are shown below.

初期   55.7 C/N比(d B) 保存後  −0,1 変化量 初期    7.4 ビットエラーレイト (xto−6)   保存後   7.8なお、このよ
うな効果は、相転移型のTe−Ge、TeaX、Te−
5e等の記録層でも同様に実現した。
Initial 55.7 C/N ratio (d B) After storage -0,1 Initial change amount 7.4 Bit error rate (xto-6) After storage 7.8 Note that such an effect is caused by the phase transition type Te -Ge, TeaX, Te-
A similar realization was achieved with a recording layer such as 5e.

以上の実施例より本発明の効果は明らかである。The effects of the present invention are clear from the above examples.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図および第2図は、それぞれ、本発明の1例を示す
光磁気記録媒体の1実施態様を示す断面図である。 第3図は、プラズマ重合装置の概略図であ・る。 符号の説明 l・・・光磁気記録媒体、 11−・・基板、 12・・・プラズマ重合膜下地層、 14・・・磁性薄膜層、 15・・・中間層、 i s −・・保護層、 17−・・プラズマ重合膜保護層、 19・−保護膜、 53−・・混合器、 54・・・直流、交流および周波数可変型電源、56・
・・油回転ポンプ、 57−・・液体窒素トラップ、 58・・・油拡故ポンプ、 59・・・真空コントローラ、 111−・・被処理基板、 511.512・・・原料ガス源、 521.522・・・マスフローコントローラ、551
.552−・・電極
FIG. 1 and FIG. 2 are sectional views each showing an embodiment of a magneto-optical recording medium showing an example of the present invention. FIG. 3 is a schematic diagram of a plasma polymerization apparatus. Explanation of symbols l...Magneto-optical recording medium, 11--Substrate, 12--Plasma polymerized film base layer, 14--Magnetic thin film layer, 15--Intermediate layer, is---Protective layer , 17--Plasma polymerized film protective layer, 19--Protective film, 53--Mixer, 54--DC, AC and frequency variable power source, 56--
...Oil rotary pump, 57--Liquid nitrogen trap, 58--Oil expansion pump, 59--Vacuum controller, 111--Substrate to be processed, 511.512--Source gas source, 521. 522...Mass flow controller, 551
.. 552--electrode

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)基板上にプラズマ重合膜下地層を有し、このプラ
ズマ重合膜下地層の上に中間層を有し、この中間層の上
に記録層を有する光記録媒体であって、前記プラズマ重
合膜がカルボニル基またはシアノ基を有する無機ガスと
炭化水素系のガスとを混合して重合したものであること
を特徴とする光記録媒体。
(1) An optical recording medium having a plasma polymerized film base layer on a substrate, an intermediate layer on the plasma polymerized film base layer, and a recording layer on the intermediate layer, An optical recording medium characterized in that the film is a mixture and polymerization of an inorganic gas having a carbonyl group or a cyano group and a hydrocarbon gas.
(2)プラズマ重合膜の6328Åにおける屈折率が1
.3〜1.7である特許請求の範囲第1項に記載の光記
録媒体。
(2) The refractive index at 6328 Å of the plasma polymerized film is 1
.. 3 to 1.7. The optical recording medium according to claim 1.
(3)プラズマ重合膜下地層の厚さが10〜1000Å
である特許請求の範囲第1項または第2項に記載の光記
録媒体。
(3) The thickness of the plasma polymerized film base layer is 10 to 1000 Å
An optical recording medium according to claim 1 or 2.
(4)基板上にプラズマ重合膜下地層を有し、このプラ
ズマ重合膜下地層の上に中間層を有し、この中間層の上
に記録層を有し、この記録層の上に直接または保護層を
介してプラズマ重合膜保護層を形成した光記録媒体であ
って、前記プラズマ重合膜がカルボニル基またはシアノ
基を有する無機ガスと炭化水素系のガスとを混合して重
合したものであることを特徴とする光記録媒体。
(4) Having a plasma polymerized film base layer on the substrate, having an intermediate layer on this plasma polymerized film base layer, having a recording layer on this intermediate layer, and directly or directly on this recording layer. An optical recording medium in which a plasma polymerized film protective layer is formed via a protective layer, wherein the plasma polymerized film is obtained by polymerizing a mixture of an inorganic gas having a carbonyl group or a cyano group and a hydrocarbon gas. An optical recording medium characterized by:
(5)プラズマ重合膜の6328Åにおける屈折率が1
.3〜1.7であることを特徴とする特許請求の範囲第
4項に記載の光記録媒体。
(5) The refractive index at 6328 Å of the plasma polymerized film is 1
.. 5. The optical recording medium according to claim 4, wherein the optical recording medium has a particle diameter of 3 to 1.7.
(6)プラズマ重合膜下地層およびプラズマ重合膜保護
層の厚さがそれぞれ10〜1000Åである特許請求の
範囲第4項または第5項に記載の光記録媒体。
(6) The optical recording medium according to claim 4 or 5, wherein the plasma polymerized film base layer and the plasma polymerized film protective layer each have a thickness of 10 to 1000 Å.
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