JPS6324172A - 2チヤンネル・タイム・ドメイン・リフレクトメ−タ - Google Patents

2チヤンネル・タイム・ドメイン・リフレクトメ−タ

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JPS6324172A
JPS6324172A JP62107907A JP10790787A JPS6324172A JP S6324172 A JPS6324172 A JP S6324172A JP 62107907 A JP62107907 A JP 62107907A JP 10790787 A JP10790787 A JP 10790787A JP S6324172 A JPS6324172 A JP S6324172A
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    • G01R27/00Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/04Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant in circuits having distributed constants, e.g. having very long conductors or involving high frequencies
    • G01R27/06Measuring reflection coefficients; Measuring standing-wave ratio
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/08Locating faults in cables, transmission lines, or networks
    • G01R31/11Locating faults in cables, transmission lines, or networks using pulse reflection methods

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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は2チヤンネル入力型タイム・ドメイン・す7レ
クトメータ、(以下、TDRと称する)%に相互に関連
する2人力信号を互いに同期して解析/測定するのに好
適なTDRに関する。
[従来の技術及び発明が解決しようとする問題点]TD
Rは、ケーブル、その他比較的長い信号伝送経路である
被測定デバイスのインピーダンスJ4常(例えば、不連
続)等を測定する為に用いられる。
代表的なTDRは、I73蔵するパルス発生源を被測定
ケーブルあるいは被測定デバイスに接続したケーブルに
接続する。また、そのケーブルの別の点にサンプリング
・オシロスコープを接続する。ノ々ルス発生源は被測定
ケーブル(またはデバイス)にパルスを供給し、インピ
ーダンスの不連続点又は不u合点がオシロスコープ上で
パルスの反射となって観測される。このようなシステム
の1列は、フライ発明の米国待行第3,434,049
号明細曹に示されている。
半導体チップ技術の進歩により、入力状形に対して極め
て歪が少く、かつ極めて高速に応答する集積回路デバイ
スを測定及び解析する必要が生じた。しかし、このよう
なデバイスをテストすることは、現在の半導体テスト装
置ではデータの分解能の限界がある為困難である。例え
ば、集積回路を通過するパルスの伝路時間、更にテスト
入力の関数としてb力板形等を正確に知りたい場合がし
ばしばある。しかし、このような測定は人カノクルスの
反射波をデバイスの入力端または出力端で測定するだけ
の1チヤンネルサンプリング装置を利用し7’CIチヤ
ンネルTDRでは不可能である。2台のTDRを一緒に
用いて差動測定をしたシ、また被測定デバイスの入力端
でのテストパルスの反射及び出力端でのテストパルスを
同時に測定することは一応可能である。しかし、理調的
にそのような応用側にか可能でおるというたけで、実際
にはタイミング課差等の為に被測定デバイスの入力と出
力の両方全同時にサンプリングすることは不可能であり
、このような測定はほとんど実用的ではない、、差動2
人力パルスを同時にサンプリングし、また被測定デバイ
スの反射入力・ヂルスと出力パルスの両方を筒時にサン
プリングして解析する為には、2信号間で極めて正確な
タイミング分解能の測定をすることが必要である。更に
、テストパルスをサンプリング回路と確実に隔離(アイ
ソレート)させて、テストパルスの内部反射によって入
力波形が劣化又は歪むことがないようVCする必要もお
る。
第2図は従来のTDRのブロック図である。電流パルス
発生器(1)を、伝送線(3)を介してサンプリング・
ダート(2)に接続している。更に、サンプリングゲー
ト(2)は仮測定デバイス(DUT ) (4)に接続
されている。
この従来列では、ノ々ルス発生器(1)からサンプリン
グゲート(2)に至る伝送線(3)の途中で、テスト/
’Pルスの多重反射が起こシ、サンプリングゲート(2
)でサンプリングされる入カパルス反形を著しく劣化さ
せてしまう。更に、このような構成の装置を21固並列
便用しても内部伝送線を通過するパルスのタイミングが
一致しないので、画信号を十分なタイミングの分解能で
解析する2チヤンネル・サンプリング装置を利用したT
DRを実現するのは困難である。
従って、本発明の主な目的は、極めて高いタイミングの
分解能及び測定精度を有する2チヤンネルTDRを提供
することである。
本発明の別の目的は各チャンネルが進行波型サンプリン
グゲート及び基準フラツト/4ルス発生器と入力線を接
続する共通指α点(ノード)を有する入力従続構成を採
用することによシ、テスト信号とデータ信号の両方の歪
を減少した2チヤンネルTDRを提供することである。
本発明の史に別の目的は、各チャンネルが同時にサンプ
リングできるようにストローブパルスを供給する導仮結
合器を有する2チヤンネルTDRを提供することである
不発明の他の目的は、両チャンネルが1′eIj時にサ
ンプリングするように、4波結合器にサンプリング制@
パルスを供絽する為に立上りの高速な犬掘輻パルスを発
生するダイオードを駆動する駆動回路を提供することで
ある。
[問題点を解決するための手段及び作用]本発明に二る
2チヤンネルTDRは1対の入力チャンネルを有し、各
入力チャンネルは内部入力線を含んでいる。テス) ノ
4ルスを発生する基準フラットハルス発生器ハ、各チャ
ンネルでのテストパルスの反射波をサンプリングする進
行波サンプリングゲートと共に各チャンネルに接続して
いる。
各入力線は各・母ルス発生器及びサンプリングr〜トと
共に同じノードに接続しているので、テストパルスの発
生点はテストパルスの反射波がサンプリングされる位置
と同じになる。この結果、従来テストノ!ルス発生器と
サンプリングゲートを接続するのに用いられた伝送線に
起因する多重内部反射波の発生を還けることができる。
テストパルスの反射波(又は、被測定デバイスを伝播す
るテスト・クルス)のサンプリングを両チャンネルにつ
き正確に制御する:→に、平僑ストローブパルス発生器
を両方のサンプリングゲートに同時に作用する様に各サ
ンプリングゲートに接αする。この同時駆動の為に、駆
動回路からのパルスに応答して、作用ノ々ルスを伝達す
る導波結合器(ウェーブガイドカップラ)がある。この
導波結合器は、互いに直交した2つのスロットを有する
接地した平面状導体を含んでいる。1つのスロットの中
に導体と同一平面となるように信号伝播導体を設け、共
面(コプレーナ)導波器を構成している。この信号伝播
導体は駆動回路に接続されていて、各スロットは各チャ
ンネルのサンプリンクゲートに接続されている。スロッ
トは共面導波器の誘導性の空洞として機能する。駆動回
路により/4ルスが発生すると、パルスは終端抵抗に向
かって、共面導波器を伝播していく。このパルスは1対
のサンプリング制御パルスを誘導し、この1対のパルス
は、共面導波器の直交している各スロットの中で互いに
逆位相であるか等振輻でおる。これら平衡/IPルス対
は各チャンネルの両サンプリングゲートに同時に到達し
、両チャンネルのデータを同時にサンプリングする。
上述した導波結合器を使用するには、立上りの極めて速
い大振@パルスを発生させる必兼がある。
これは駆動回路にステップ・リカ・ぐり(SR)ダイオ
ードを用いることで連数でさる。SRダイオードは、共
面導波器の接地平面と信号伝播導体の間を接続している
。また、SRダイオードのカソードは電子スイッチ対を
内蔵する駆動回路とインダクタを介して結線されている
。この電子スイッチ対の1つは、他のスイッチが極めて
高速に切シ換わるように予めバイアスされている。この
駆動回路はストローブ/4’ルス発生器からの短い低振
幅のトリガフ9ルスに応答し、極めて高速で、平衡した
サンプリング制御ノ9ルスを発生するのに十分な大振幅
のパルスを発生して、信号伝播導体へと送る。
導波結合器があるので、2つのチャ“ン坏ルは2チヤン
坏ルTDRの前面ツヤネル上で互いにtab合っている
。各入力チャンネルは信号線を含み、信号線は接地導体
で囲まれ、接地導体と信号線は分離して(へる。導波結
合器のスロットの互いに反対の一端に各々ノードがあ)
、そこに谷チャンイ・ルのサンプリングゲートがある。
これらのノードでは、信号線の回シの同軸グランドが切
り取られていて、サンプリンクゲート回路から信号線と
結線している。各チャンネルの入力信号線を挾んだ反対
側にフラット(ステップ)ノ臂ルス発生器を設け、これ
らも各ノードに結線している。従って、テストノfルス
は各チャンネルで発生し、電気的及び物理的に同じ位置
で各々サンプリングされる。このようにして、両チャン
ネルで同時にサンプリングを確実に行い、接続ケーブル
内での多重内部反射に起因する信号の内部劣化のない高
精度のタイミング分解能を得ている。
[災流側] 第1図は本発明による2チヤンネルTDR([)のブロ
ック図でろって、第1チヤンネル入力端子(6)と第2
チャンネル入力端子αli−含んでいる。内部入力線q
す及びoI!iはノードに)及び勾に夫々接続されてい
る。終端抵抗Z。は伝送線(第1図には示さず)を介し
て各ノードに)とに)に接続されている。ノード(4)
及び(イ)は、1対の進行波サンプリングデート(ハ)
及び0ジに夫々接続されている。これらサンプリンクゲ
ート(ハ)とに)は、平衡ストローブ・やルス発生器(
ハ)によシ駆動される。更に、ノード翰及び弼には、1
対の基準フラットパルス発生器−及びc3カが夫々接続
されている。
第1図に示した2チヤンネルTDRI:lClのブロッ
ク図の各素子のケース内側における物理的配置を第3図
に示している。各チャンネル入力端子0■とq4は、夫
々1対の入力ジャック(ハ)とGQ′(I−含み、ケー
スパネル(ハ)の外側に配置されている。ケースパネル
競内側の内部人力腕αQとa→は夫々ジャック曽と(ト
)に接続されている。内部入力線αQ及び(11は、信
号伝播導体呻と、これを囲む同軸シールドい0を含む伝
送線である。内部入力線(IQとα→は共に信号伝送導
体(6)から同軸シールド09を取り除いた部分(4美
と鵠を夫々含んでいる。これは信号伝播導体岩の一部か
らシールドを除いて、夫々ノード(4)及び(ハ)(破
線で囲んで示した点)において、各進行波サンプリング
ゲートいv1四及び各チャンネル用の基準フラットノヤ
ルス発生器刀、Q?/金接枕するためである。内部入力
線aQのノード(1)において、基準フラットパルス発
生器(至)及び進行波サンプリングゲート(ハ)が接続
されている。内部入カ線舖のノードに)において、基準
フラット・Pルス発生器0り及び進行波サンプリングゲ
ート(ハ)が接続されている。このようにして、両ノー
ド四及び(ハ)をフロントパネル上で互いに隣シ合って
いる入力ジャック(ロ)と(至)の直後に夫々配食して
いる。このような物理的配置により、内部入力!(14
9とC1→での信号サンプリングを正確に同期させ、ま
た漂遊容量の影響によるケースパネル(至)の内部での
信号劣化を減少させることができる。ノード四及び(イ
)には夫々2つの接続が示されている。1つは、進行波
サンプリングゲートい9と(イ)との各接続であり、今
1つは基準フラットパルス発生器−と0りとの各接続で
ある。このように接続する理由は、これらの接続点でダ
イオードブリッジを使用する為である。こ′cl実施し
uは、本出願人による米国特許出耘第845,900号
明細書「サンプリング装置」に開示されている。同様に
本発明中に使用されている基準フラットパルス発生器の
好適実施列は、本出願人による米国特許出願第845,
289号明細誉「ノ9ルス発生器」に開示されている。
入力iαQI!:CI→の信号を確実に同期してサンプ
ルする為には、導波結合器(9)によυストローブパル
ス発生器が出力するトリガパルスを進行反サンプリング
ゲート(ハ)及び(ロ)へ夫々同時に送る。導波結合器
(ハ)はひし形の接地平面導体内を含み、接地平面導体
I!5つは互いに直交するスロツ)M及び関を含んでい
る。尚、この接地平面導体6つの特定形状は本発明に必
須の要件ではなく、他の適当な形状を採用することも考
えられる。スロッl)は、SRダイオード員から終端抵
抗R0までの長さの信号伝播導体□□□を含んでいる。
SRダイオード曽のカソード側は信号伝播導体間に接続
され、アノード側は接地平面導体Qに接続されている。
駆動回w6QもSRダイオード国のカソード側にインダ
クタL、を介して接続されている。ストローブトリガパ
ルスを運行波サンプリングr−)(ハ)及びに)に印7
111するタイミングは、平衡ストローブパルス発生器
(ホ)(第1図)によシ制御さnlこのストローブパル
ス発生器は、コンピュータか他のマイクロプロセッサシ
ステム(図示せず)によって制御される。各進行波サン
プリングゲート(ハ)及びに)は1対の比較的大振幅で
高連立上9の指数関数パルスを受けた時のみ作動する。
2チャンネ、ルTDR(1($を適切に機能させる為に
重要なことは、内部入力線α0及び(1椴の信号のサン
プリングを正硫に同時に行うことである。
駆動回路6秒、結合インダクタし、及びSRダイオード
(至)の目的は、高速立上シ、(即ち70〜100ピコ
秒)且つ大振幅のシングルエンドパルスを発生すること
である。導波結合器(9)はこのシングルエンドパルス
を1対のサンプリング制御パルスに変換して、進行波サ
ンプリングゲート(ハ)と(ハ)に夫々送る。導波結合
器@→は幾何学的に対称であるので、これらのパルスは
正確に同時に各サンプリングゲート(ハ)とに)へ送ら
れる。
信号伝播導体競はスロットMの中に心って、接地平面導
体Qに囲まれておシ、共面尋仮器として氷能する。スロ
ット〜はこの俗成の中では、2つの分路を有するスロッ
ト導V=とじて機能する。
1つの分路はサンプリングゲート(ハ)で終端し、もう
1つの分路はサンプリングff−)に)で終端している
。SRダイオード輪によシ駆動パルスが信号伝播導体−
に生じると、スロット(財)の各分路に1対のi4ルス
が誘導される。スロット導波器の特性により発生したパ
ルスは、スロット−の内振り刀、競。
岐及び(財)の付近を進行する。接地平面導体内の内壁
an 、 w 、 輪及び旬から少し離れて、内壁付近
に発生した右上F) (positive−going
 ) /eルスと対称な右下り(negative−g
oing )パルスが発生している。これらのパルスは
、信号伝播導体鞠を進行する駆動1?ルスの誘導によ)
発生する。従って、信号伝播導体競とスロット輪との変
光点は非常に高効率の変改器と同様に機能し、シングル
エンド駆動ノfルスを複数対の逆相で時間的にコヒーレ
ント(正確に一致した)なノ4ルスに変換する。これら
のパルスは進行及サンプリングゲート(ハ)及び(社)
へ送られ、これらのダートを同期して駆動する。
進行波サンプリングゲート(ハ)及びに)がオフのとき
、入力ジャック−及び(ト)に接続された被測定デバイ
ス(−示せず)にテストパルスを伝送してもよい。この
テストパルスは、フラットパルス発生器■及び02によ
り発生する。フラット・千ルス発生器(ト)及び02は
ノード四及びに)に同軸ケーブルやコネクタなどを介在
しないで直接接続しているので、パルスの改形劣化は最
小に抑えられている。更に、フラットパルス発生器(7
)及び0つは夫々内部人力線αQ及びα樽を挾んで進行
波サンプリングゲート(ハ)及び(ハ)の反対側に配置
されている。このように配置することにより、各内部入
力線OQ及びα榎とパルス発生器■及び04が直交しな
い場合に持ちうる容量を最小にしている。
前述した米国特許出願第845,900号明細書の中で
開示しているように、進行波サンプリングゲートの利点
を利用するには、極めて高速立上シの大振幅電圧パルス
を発生する必要がめる。こうしたパルスは、駆動回路輪
、インダクタL1. SRダイオード…を富んだ第4図
に例示する回路で発生される。
ストローブパルス発生器(図示せず)は駆動回路Qに結
合コンデンサC4を介してストローブトリガパルスを入
力している。トランジスタQ、及ヒQ2から成る電子ス
イッチはサイリスタのように機能し、トランジスタQ1
は、抵抗器R4及びR2よシなる分圧器により常にオン
状態にバイアスされている。電圧ECが抵抗器R3を介
してコンデンサC2を充電する。
抵抗器R6,R4及びインダクタL、により負電源−■
と接続し、SRダイオード■を順バイアスしている。
トランジスタQは、抵抗器R4とR2の分圧器によつて
常にオン状態にされているので、トランジスタQ2のペ
ースを予備バイアスしている。トランジスタQ、がコン
デンサC4を介して負ノ臂ルスを受けると、トランジス
タQ2のペース電圧を上昇させてトランジスタQ2をオ
ンにする。トランジスタQ2は予備バイアスされている
ので、スイッチ動作は極めて高速である。トランジスタ
Q2がオンすると、トランジスタQ1のペース電流が増
加し、トランジスタQ2のペース電圧が増加する。トラ
ンジスタQ、とQ2はカスケード接続されているので、
トランジスタQ1+Q2は急速に飽和し、コンデンサC
2に蓄積していた電荷(電圧Ec)はインダクタL1に
流れ込む。好適実施90に於てインダクタL、は、駆動
回路QとSRダイオード団との間t−接続している。ト
ランジスタQ1及びQ2の極めて高速なスイッチ動作に
よυ、大振幅電圧EcをSRダイオード…へ送り、大振
幅(15v以上)で、極めて高速の立上り(Loops
以下)の・2ルスを発生する。
以上のように本発明の2チヤンネルTDRは、波形歪の
少い高速立上シのフラットテストパルスを発生して被測
定デバイスに供給し、入力端及び出力端の両方で同期し
てサンプリングすることができる。これを可能にしたの
は、TDRの前面から内部の幾何学的接続構成及び、被
測定デバイスからの信号をサンプリングする時刻を正確
に制御できるように導波結合器に組込んだ平衡ストロー
ブパルス発生器によるものである。各チャンネルの内部
入力線は、TDRのフロントパネル近傍で互いにすぐ隣
に位置しているので、信号の影誓及び内部反射や各食性
リアクタンスに起因する鼓形の劣化と歪を最小にしてい
る。
以上の説明で使用した用語及び表現は、V1的なもので
あって、本発明の内容を何ら制限するものではない。本
発明は、以上に示した図及び記述内容またはその一部の
内容と同等なものを全て含むものである。
[発明の効果コ 本発明による2チヤンネルTDRは、共面4波結合器を
介して″+衡ストローブy4ルスを両チャンネルのサン
プリングゲートに同時に印加するようにしたので、両チ
ャンネルのサンプリングを極めて正確に同期させて行う
ことができる。従って、両チャンネルに入力する仮測定
信号をサンプリングして相互に関連する2信号間の時間
的関係を極めて高柑匿に測定することができるので、従
来不可能でおった測定、即ち仮測定デバイスの大力端及
び出力端でテストパルス及びその反射波を惺めて正確に
同期してサンプリングすることが可能となる。また、両
チャンネルを接近させてテストパルス党生器も含めて互
いに対称に構成したことによシ、多重円部反射が各食性
リアクタンスを低酸し、抜測定及形の劣化を最小にでき
るので、被測定デバイスのパルス応答特性が正確に測定
できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の2チヤンネルTDRの要部を示すブロ
ック図、第2図は従来の1チヤンネルTDRを示すブロ
ック図、第3図は本発明の対称的構造を示すための詳細
な図、第4図は第1図の平衡スト・ローフハルス発生器
の一部でろるステップ・リカバリ・ダイオードとその駆
動回路の回路図である。 図に於て、(6)、α◆は1対の信号チャンネル、いや
。 に)は1対のサンプリングゲート、翰は平衡ストローフ
ハルス発生手段、■、C3うは基準フラットパルス発生
器である。 FIG、 1

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、互いに平行に配置した1対の信号チャンネルと、該
    1対の信号チャンネルの夫々に接続した1対のサンプリ
    ングゲートと、該1対のサンプリングゲートの夫々に平
    衡ストローブパルスを供給する平衡ストローブパルス発
    生手段とを具えることを特徴とする2チャンネル・タイ
    ム・ドメイン・リフレクトメータ。 2、上記平衡ストローブパルス発生手段は、ステップ・
    リカバリ・ダイオード及び共面導波結合器を用いて平衡
    ストローブパルスを発生することを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の2チャンネル・タイム・ドメイン・
    リフレクトメータ。
JP62107907A 1986-04-30 1987-04-30 2チャンネル・タイム・ドメイン・リフレクトメ−タ Expired - Lifetime JP2582258B2 (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/858,611 US4755742A (en) 1986-04-30 1986-04-30 Dual channel time domain reflectometer
US858611 1986-04-30

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JPS6324172A true JPS6324172A (ja) 1988-02-01
JP2582258B2 JP2582258B2 (ja) 1997-02-19

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US (1) US4755742A (ja)
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