JPS63238600A - X線検出器用コリメ−タ - Google Patents

X線検出器用コリメ−タ

Info

Publication number
JPS63238600A
JPS63238600A JP62073382A JP7338287A JPS63238600A JP S63238600 A JPS63238600 A JP S63238600A JP 62073382 A JP62073382 A JP 62073382A JP 7338287 A JP7338287 A JP 7338287A JP S63238600 A JPS63238600 A JP S63238600A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
collimator
ray detector
scintillator
iron
collimators
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62073382A
Other languages
English (en)
Inventor
赤井 好美
田之上 司
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP62073382A priority Critical patent/JPS63238600A/ja
Publication of JPS63238600A publication Critical patent/JPS63238600A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、X線CT装置等に使用されるX線検出器用コ
リメータに関する。
(従来の技術) X線検出器は、その基本的構成として、X線を光に変換
するシンチレータと、シンチレーション光を検出するフ
ォトダイオードと、このシンチレータ及びフォトダイオ
ードで構成される各チVンネル検出器間を仕切るコリメ
ータとを有している。
ここで、従来のX 線検出器用コリメータは、タングス
テン(W)、モリブデン(MO>、タンタル(Ta″)
等で形成されている。
(発明が解決しようとする問題点) 従来よりX線検出器用コリメータに使用されていた金属
は、上述したような重金属であり、これらは希少金属で
あることから極めて高価となっていた。
また、これらの重金属は芸域加工が困難であり、加工精
度が良好でなく、切削加工等に不向きであることから特
殊形状に加工することは断念せざるを得なかった。
さらに、これらの重金属はコリメータの特性に最も重要
な平坦度を得にくいという欠点があった。
800℃程度の高温度の熱処理によっていくらか改善で
きるが、これでも充分な平坦度を得られていないのが現
状である。
第2図に示すように平坦度か(7られないことによるコ
リメータ1のだわみA、及び加エネΔ度が悪いことによ
る寸法ズレBが生ずると、シンチレータ2のエツジ2A
をコリメータ1で遮蔽できなくなってしまう。この結果
、エネルギー特性のバラツキ、+jンプリングピッチの
ズレ等が生じ、これに基因して画像上にアーチファクト
が出るという問題があった。
そこで、本発明の目的とするところは、上述した従来の
問題点を解決し、安価でかつ機械加工の容易な金属を素
材としたX線検出器用コリメータを提供することにある
[発明の閏成コ (問題点を解決するための手段) 本発明では、コリメータの材質として鉄を主成分とする
金属を用いている。
(作 用) 鉄は重金属に比べて極めて安価であり、しかも切削等の
瓢械加工性が良好であることから、シンチレータのエツ
ジをコリメータで確実に遮蔽する等の場合の形状加工を
容易に行い得る。
また、300’C程度の温度下での熱処理で充分な平坦
度が1qられ、防錆処理も乾燥空気中の処理で同時に行
うことができる。
(実施例) 以下、本発明を図示の実施例に基づき具体的に説明する
第1図は、本発明に係るコリメータを用いたX線検出器
の概略斜視図である。
同図において、シンチレータ2は入射X線を光に変換す
るもので、X線入射面とは逆の面に、フォトダイオード
3を具備している。4,4はそれぞれフォトダイオード
3に接続された出カケープルである。尚、同図では4チ
ヤンネルの検出器を一方向に配列した状態を示している
1a、1bはそれぞれコリメータでおり、各チャンネル
の検出器間でチャンネルを仕切るように配置されている
。そして、このコリメータ1a′。
1bは、シンチレータ2及びフォトダイオード3の側面
に当接する部分の肉厚t1を他の部分の肉厚t2よりも
薄くして、段差面1′がフォトダイオード2のX線入射
面端部に当接する段付き形状に形成している。
ここで、本実施例では前記コリメータla。
1bの材質として、鉄を主成分とする金属を用いている
。尚、本実施例ではコリメータ2の材質としてFe63
乃至81重量%、CR13乃至25重ω%、N*6乃至
122重丸を含む合金としている。
コリメータ1a、”1bとして鉄を主成分とする金属を
用いているので、従来のような重金属を主成分にするも
のに比べて、コリメータ1a、1bを安価に製造できる
。また、鉄を主成分としていることから、芸域加工が容
易であり、寸法精度を高められると共に、第1図に示す
ような段付き形状のコリメータ1a、1bを容易に切削
加工することができる。
第1図のよう7:i一段付き形状に形成したことにより
、段差面1−によってシンチレータ2のX線入射面の両
端縁部を覆うことができ、これによってシンチレータ2
の端部にX線が入射することを確実に防止できる。この
結果シンチレータ2の幅厚バラツキ、工作バラツキを補
うことができ、エネルギー特性、サンプリングピッチ等
の特性を均一化することができる。従って画像上のアー
チファクト低減に大きく寄与することができる。
また、コリメータ1a、1bの特性として重要な平坦度
を得るためには、鉄を主成分としていることから300
 ’C強の温度で熱処理をすれば充分であり、従来のよ
うな単金属のものに比べて平坦度の特性を大幅に向上さ
せることができる。しかも、熱処理温度は従来の800
’Cに比べてより低い温度の処理で足りる。尚、鉄を主
成分としていることから、防錆処理が必要とされる場合
には、MOS2.WS2等を用いて乾燥空気中で同時に
行うこともできる。また、この処理によってX線散乱防
止処理も果すことができる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨の範囲内で種々の変形実施カ可能である。
本発明は、コリーメータの材質として鉄を主成分とする
金属を用いたことを特徴としているが、芸域加工性を考
慮すれば63徂足%以上のFeを含む合金でおることが
望ましい。また、コリメータ1a、1bの形状としては
、第1図に示す段付き形状以外のものであってもよく、
該)成加工性が良好であることから形状加工の自由度が
広がる効果が必る。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明によれば鉄を主成分とした
金属をコリメータに採用することにより、安)凸でかつ
散乱線入射を効果的に防止でき、願械加工(生、加工精
度か向上するので検出器有性の均一化に大いに寄与でき
、しかもコリメータ特1生に重要な平坦度を熱2a理に
よって容易に得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係るコリメータを用いたX線検出器の
概略斜視図、第2図は従来のコリメータのたわみ及び司
法精度の悪影響を説明する獣略説明図である。 1a、1b・・・コリメータ、1−・・・段差面、2・
・・シンチレータ、3・・・)tトダイオード。 n寸

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)鉄を主成分とする金属で形成したことを特徴とす
    るX線検出器用コリメータ。
  2. (2)シンチレータ及びフォトダイオードの側面に当接
    する部分の肉厚を他の部分よりも薄くして段付き形状に
    形成した特許請求の範囲第1項記載のX線検出器用コリ
    メータ。
  3. (3)防錆処理としてMoS_2、WS_2等で表面処
    理を施した特許請求の範囲第1項又は第2項記載のX線
    検出器用コリメータ。
JP62073382A 1987-03-27 1987-03-27 X線検出器用コリメ−タ Pending JPS63238600A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62073382A JPS63238600A (ja) 1987-03-27 1987-03-27 X線検出器用コリメ−タ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62073382A JPS63238600A (ja) 1987-03-27 1987-03-27 X線検出器用コリメ−タ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63238600A true JPS63238600A (ja) 1988-10-04

Family

ID=13516583

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62073382A Pending JPS63238600A (ja) 1987-03-27 1987-03-27 X線検出器用コリメ−タ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63238600A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010249847A (ja) * 2010-08-09 2010-11-04 Hamamatsu Photonics Kk Pet装置
JP2014503061A (ja) * 2010-10-07 2014-02-06 プランゼー エスエー X線、ガンマ線又は粒子線のためのコリメータ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010249847A (ja) * 2010-08-09 2010-11-04 Hamamatsu Photonics Kk Pet装置
JP2014503061A (ja) * 2010-10-07 2014-02-06 プランゼー エスエー X線、ガンマ線又は粒子線のためのコリメータ
US9721693B2 (en) 2010-10-07 2017-08-01 Plansee Se Collimator for x-ray, gamma, or particle radiation

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR910005917B1 (ko) 양전자 방출 단층 촬영 카메라
JPS62173103A (ja) 切削工具
US9068927B2 (en) Laboratory diffraction-based phase contrast imaging technique
DE8707038U1 (de) Computertomograph
JPS63238600A (ja) X線検出器用コリメ−タ
JPH05256950A (ja) X線コンピュータトモグラフィ装置用固体検出器
Houska et al. Atom arrangements in some iron-aluminum solid solutions
JPH0675570B2 (ja) X線ct装置
JP2654733B2 (ja) X線ct装置用コリメータ
EP0400125A1 (en) Structure for influencing the effect of x-ray or gamma radiation on a target sensitive to the radiation
Hallgren et al. 2.3. 2 Analysis of Impact Craters from the S-149 Skylab Experiment
Wehde et al. Primary mediastinal large B cell lymphoma: Frontline treatment with an alternating chemotherapy regimen based on high dose methotrexate-A single institution experience
CN115488350B (zh) 一种Spect系统的准直器及其加工方法
Springer The loss of X-ray intensity due to backscattering of electrons in microanalyser targets
JPH04116491A (ja) シンチレータ用コリメータ
JPH0698883A (ja) X線ct装置
Chartas et al. Optimizing the ACIS effective area and energy resolution
DE19949793A1 (de) Messeinheit eines Röntgendiagnostikgerätes, insbesondere eines Computertomographen
Nikitina et al. Use of Kumakhov optics for medical imaging
Howell et al. Techniques for the observation of grain boundaries in an austenitic stainless steel
Ren et al. On the Treatment of Special gamma-Family Events
JPS6089785A (ja) ガンマカメラ及びエミツシヨンctにおける散乱線除去画像の製造法
SU114831A1 (ru) Способ определени износа режущего инструмента
Juleff Measurement of Flexure in Silicon Wafers by the Lang X-ray Diffraction Technique
JPH01292283A (ja) 放射線検出器