JPS63229168A - Coating apparatus - Google Patents

Coating apparatus

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Publication number
JPS63229168A
JPS63229168A JP6104187A JP6104187A JPS63229168A JP S63229168 A JPS63229168 A JP S63229168A JP 6104187 A JP6104187 A JP 6104187A JP 6104187 A JP6104187 A JP 6104187A JP S63229168 A JPS63229168 A JP S63229168A
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JP
Japan
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wafer
coating
coated
processing container
resist
Prior art date
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Application number
JP6104187A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Isao Miyazaki
功 宮崎
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication of JPS63229168A publication Critical patent/JPS63229168A/en
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Abstract

PURPOSE:To certainly prevent the re-adhesion of a splash to an object to be coated, by providing a resist coating apparatus for a wafer, with a splash preventing part having an embossed surface to the inner peripheral surface of a treatment container. CONSTITUTION:A curved surface part 22 whose inside becomes concave is formed to the part opposed to a wafer 6 of a treatment container 1 in an annular shape and an embossed surface consisting of numberless protruding parts 23 and recessed parts 24 is provided to the curved surface part 22 by carving. These protruding and recessed parts 24 are relatively fine and formed by knurling processing so that the chips thereof become sharp. In coating, when a resist solution 17 is dripped and diffused in a radial direction by centrifugal force, splashes 19 are radially scattered in the outward direction from the outer peripheral edge of the wafer 6 but prevented from turning back so as to return to the wafer 6 by the embossed surface of the splash preventing part 21 and, therefore, the re-adhesion of the splashes 19 to the wafer 6 is prevented.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、塗布技術、特に、被塗布物を処理容器内に収
容した状態で塗布材を塗布する技術に関し、例えば、電
子装置の製造において、ウェハ上にレジストを塗布する
のに利用してを効な技術に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a coating technology, particularly a technology for applying a coating material while an object to be coated is accommodated in a processing container, and is useful, for example, in the manufacture of electronic devices. , relates to a technique effective for applying resist onto a wafer.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

電子装置の製造において、ウェハ上にレジストを塗布す
る塗布装置として、処理容器の内部に設けた回転可能な
スピンヘッド上にウェハを載せて保持せしめ、ウェハを
回転させながらレジスト液をウェハの表面上に供給して
レジストを塗布するように構成されているものがある(
特公昭53−37189号公報参照)。
In the manufacturing of electronic devices, a coating device that coats resist onto a wafer is used to place and hold the wafer on a rotatable spin head installed inside a processing container, and sprays resist liquid onto the surface of the wafer while rotating the wafer. Some are configured to apply resist by supplying
(See Japanese Patent Publication No. 53-37189).

このレジスト塗布装置においては、高速回転時にレジス
ト液がウェハの周方に飛散した後、処理容器の内周面に
衝突して、はね返ることによりウェハに再付着する危険
がある。
In this resist coating apparatus, there is a risk that the resist liquid scatters around the wafer during high-speed rotation, collides with the inner circumferential surface of the processing container, rebounds, and re-adheres to the wafer.

そこで、ウェハの内周面を下向きに傾斜させるとともに
、ウェハの周辺空間に下向きの排気流を形成せしめるこ
とにより、はね返った飛沫がウェハに再付着しないよう
に排出させる技術が、考えられる。
Therefore, a technique has been considered in which the inner circumferential surface of the wafer is tilted downward and a downward exhaust flow is formed in the space around the wafer, thereby discharging the bounced droplets so that they do not attach to the wafer again.

なお、スピンナ塗布技術を述べである例としては、株式
会社工業調査会発行「電子材料1986年11月号別冊
」昭和61年11月18日発行P97〜P100、があ
る。
An example of a spinner coating technique that describes the spinner coating technique is "Electronic Materials November 1986 Special Issue" published by Kogyo Research Association Co., Ltd., November 18, 1986, pages 97 to 100.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

このようなレジスト塗布装置においては、処理容易の傾
斜面ではね返った飛沫がウェハに再付着する場合があり
、また、それを防止するために排気速度を上げると、塗
布膜厚分布にばらつきが発生するという問題点があるこ
とが、本発明者によって明らかにされた。
In such resist coating equipment, droplets that bounce off the sloped surface that is easy to process may re-adhere to the wafer, and if the exhaust speed is increased to prevent this, variations in the coating thickness distribution may occur. The inventor of the present invention has discovered that there is a problem in that.

本発明の目的は、塗布材のはね返りによる再付着を確実
に防止することができる塗布技術を提供することにある
An object of the present invention is to provide a coating technique that can reliably prevent re-adhesion due to splashing of the coating material.

本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、次の通りである。
An overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.

すなわち、被塗布物を収容して塗布材を塗布する処理容
器の内周面に凹凸面を有するはね返り防止部を被塗布物
外周に対向するように配設したものである。
That is, a repelling prevention portion having an uneven surface is disposed on the inner peripheral surface of a processing container that accommodates an object to be coated and applies a coating material so as to face the outer periphery of the object to be coated.

〔作用〕[Effect]

前記した手段によれば、処理容器の内周面に凹凸面を有
するはね返り防止部が設けられているため、飛散して来
た飛沫は凹凸面に衝突することにより、凸部で微粒子化
され、または凹部内に吸収されることになり、元の方向
へはね返ることはない、したがって、飛沫が被塗布物へ
再付着することは確実に防止されることになる。
According to the above-mentioned means, since the splash prevention part having the uneven surface is provided on the inner circumferential surface of the processing container, the flying droplets collide with the uneven surface and are atomized by the protrusions. Alternatively, the droplets will be absorbed into the recesses and will not bounce back to the original direction, thus reliably preventing the droplets from re-adhering to the object to be coated.

(実施例) 第1図は本発明の一実施例であるレジスト塗布装置をを
示す縦断面図、第2図はその作用を説明するための拡大
部分断面図である。
(Embodiment) FIG. 1 is a longitudinal cross-sectional view showing a resist coating apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an enlarged partial cross-sectional view for explaining its operation.

本実施例において、このレジスト塗布装置は処理容It
を備えており、この容器1は上下面がそれぞれ開口され
た略円筒形状に形成されている。
In this embodiment, this resist coating apparatus has a processing capacity It
The container 1 is formed into a substantially cylindrical shape with open upper and lower surfaces.

処理容!ilの下面開口には、上面が閉塞された略円筒
形状の底板2が同心円に配設されており、底板2にはサ
ーボモータ等のような適当な駆動装置4によって回転さ
れる回転軸3が、中心線上に配されて挿入されている。
Processing capacity! A substantially cylindrical bottom plate 2 with a closed top surface is concentrically disposed in the bottom opening of the il, and a rotating shaft 3 rotated by a suitable drive device 4 such as a servo motor is mounted on the bottom plate 2. , are placed on the center line and inserted.

処理容器l内における回転軸3の上端にはスピンヘッド
5が水平回転し得るように配されて固着されており、ス
ピンヘッド5は被塗布物としてのウェハ6を真空吸着に
よって保持し得るように構成されている。底板20回転
軸3周りには給気ロアが複数、スピンヘッド5の裏面に
向けて気流を供給し得るように開設されており、底板2
の円筒形状部外周と、処理容器l内周との間には円形環
帯中空形状の排気口8が実質的に構成されている。
A spin head 5 is arranged and fixed to the upper end of the rotating shaft 3 in the processing container l so as to be able to rotate horizontally, and the spin head 5 is capable of holding a wafer 6 as an object to be coated by vacuum suction. It is configured. A plurality of air supply lowers are provided around the rotation shaft 3 of the bottom plate 20 so as to supply airflow toward the back surface of the spin head 5.
A circular annular hollow exhaust port 8 is substantially formed between the outer periphery of the cylindrical portion and the inner periphery of the processing container l.

他方、処理容器lの上面開口には略円形リング形状に形
成されたカバー10が同心的に配されて、相対的に上下
移動し得るように設備されており、このカバーlOの外
周と処理容器lの内周との間には円形環帯中空形状の給
気口9が実質的に構成されており、カバー10の下端部
は断面略逆三角形の円形リング形状部11が形成されて
いる。カバー10には略円盤形状の中空体に形成されて
いるフィルタユニット12が嵌入されており、このユニ
ット12における中空部はバッファ部13を実質的に形
成するようになっている。すなわち、ユニット12の上
壁には給気口14が複数個、上方空間とバッファ部13
とを連通させるように開設されており、ユニット12の
下壁には吹出口15が複数個、バッファ部13と下方空
間とを連通させるように開設されている。フィルタユニ
ット12には、塗布材としてのレジスト液17を滴下す
るための滴下管16が同心的に配されて、垂直下向きに
挿入されている。
On the other hand, a cover 10 formed in a substantially circular ring shape is concentrically disposed at the upper opening of the processing container l and is installed so as to be able to move up and down relatively. An air supply port 9 having a circular annular hollow shape is substantially formed between the cover 10 and the inner periphery of the cover 10, and a circular ring-shaped portion 11 having a substantially inverted triangular cross section is formed at the lower end of the cover 10. A filter unit 12 formed into a substantially disk-shaped hollow body is fitted into the cover 10, and the hollow portion of this unit 12 substantially forms a buffer portion 13. That is, a plurality of air supply ports 14 are provided on the upper wall of the unit 12, and an upper space and a buffer section 13 are provided.
A plurality of air outlets 15 are provided on the lower wall of the unit 12 so as to communicate the buffer section 13 with the lower space. In the filter unit 12, a dropping tube 16 for dropping a resist liquid 17 as a coating material is arranged concentrically and inserted vertically downward.

処理容器1にははね返り防止部21がスピンヘッド5に
保持されたウェハ6の外周方に対向するように配設され
ており、このはね返り防止部21は後述するようにウェ
ハ6からのレジスト液飛沫がウェハ6に再付着するのを
防止し得るように構成されている。すなわち、処理容器
1のウェハ6に対向する部分には、内側が凹状となる弯
曲面部22が環帯形状に形成されており、この弯曲面部
22には無数の凸部23と凹部24とからなる凹凸面が
刻設されている。これら凸部23および凹部24は比較
的細く、かつ先が尖鋭になるように形成されており、ロ
ーレット加工やエツチング加工、または無数の針の植え
込み加工等により作成することができる。
A splash prevention part 21 is disposed in the processing container 1 so as to face the outer circumference of the wafer 6 held by the spin head 5, and this splash prevention part 21 protects the resist liquid from splashing from the wafer 6, as will be described later. The structure is such that it can prevent the particles from adhering to the wafer 6 again. That is, in a portion of the processing container 1 facing the wafer 6, a curved surface portion 22 having a concave inner side is formed in an annular shape. An uneven surface is engraved. These convex portions 23 and concave portions 24 are formed to be relatively thin and have sharp tips, and can be created by knurling, etching, or by implanting numerous needles.

次に作用を説明する。Next, the effect will be explained.

被塗布物としてのウェハ6はスピンヘッド5上に載せら
れて真空吸着等のような適当な手段により保持された後
、駆動装置4により回転軸3を介して回転される。この
回転が安定したところで、滴下管16からレジス)−?
&17がウェハ6の中心上に滴下されると、レジスト液
17は遠心力によって放射方向に拡散するため、ウェハ
6の表面には塗布1!1118が形成されることになる
A wafer 6 as an object to be coated is placed on a spin head 5 and held by suitable means such as vacuum suction, and then rotated via a rotation shaft 3 by a drive device 4. When this rotation becomes stable, the dripping tube 16 is passed from the dripping tube 16 to the register) -?
When &17 is dropped onto the center of the wafer 6, the resist liquid 17 is diffused in the radial direction due to centrifugal force, so that a coating 1!1118 is formed on the surface of the wafer 6.

このとき、第1図に実線矢印で示されているように、ウ
ェハlの周方においては給気口9から排気口8の方向に
垂直下向きに流れる気流AIが、ウェハ6の裏面におい
ては給気ロアから排気口8の方向にウェハ裏面に沿って
径方向外向きに流れる気流A11が、また、ウェハ6の
表面においてはフィルタユニット12の吹出口15群か
ら排気口8の方向にウェハ表面に緩やかに吹きつけられ
た後、径方向外向きに流れる気流A3がそれぞれ形成さ
れている。
At this time, as shown by the solid line arrow in FIG. The airflow A11 flows radially outward along the back surface of the wafer from the air lower toward the exhaust port 8, and on the surface of the wafer 6, the airflow flows from the outlet 15 group of the filter unit 12 toward the exhaust port 8 toward the wafer surface. After being blown gently, an airflow A3 is formed which flows outward in the radial direction.

このとき、フィルタユニット12における吹出口15群
からの吹出流は、吹出口15群にバッファ部13を通し
て気流が供給されているため、吹出口15群全体におい
て流速、流圧および流量が全体的に均等化されるととも
に、きわめて緩やかに吹き出されることになる。その結
果、塗布されたレジスト液の乾燥等が全体にわたって均
等化ささるため、ウェハ6上に形成される塗布l1j1
18の膜厚分布は全体にわたって均一化されることにな
る。
At this time, since the airflow from the group of outlet ports 15 in the filter unit 12 is supplied to the group of outlet ports 15 through the buffer section 13, the flow velocity, pressure, and flow rate are uniform throughout the group of outlet ports 15. It will be equalized and will be blown out very gently. As a result, the applied resist liquid is dried uniformly over the entire surface, so that the applied resist liquid l1j1 formed on the wafer 6 is
The film thickness distribution of No. 18 is made uniform throughout.

レジスト液17が滴下されて遠心力によって放射方向に
拡散されると、飛沫19がウェハ6の外周縁から外方向
に放射状に飛散する。
When the resist liquid 17 is dropped and dispersed in the radial direction by centrifugal force, droplets 19 are scattered radially outward from the outer peripheral edge of the wafer 6 .

ところで、処理容器の内周面が平坦面に形成されていた
場合、レジスト液の飛沫はその平坦面ではね返って、そ
の平坦面に対する入射角および気流の方向によっては飛
んで来た元の方向へ戻るため、ウェハ上に再付着するこ
とになる。このようにして飛沫がウェハに再付着すると
、レジスト塗布面が実質的に損傷されることになるため
、リソグラフィー処理が不適正になる。
By the way, if the inner peripheral surface of the processing container is formed as a flat surface, the resist liquid droplets will bounce off the flat surface and, depending on the angle of incidence with respect to the flat surface and the direction of the airflow, may return to the original direction in which they came. It will return and re-deposit onto the wafer. If the droplets re-deposit on the wafer in this manner, the resist coated surface may be substantially damaged, resulting in improper lithography processing.

しかし、本実施例においては、処理容器lの内周面には
はね返り防止部21が形成されていることによりウェハ
6から飛んで来た飛沫19がウェハ6に戻るようにはね
返ることは防止されるため、飛沫19のウェハ6への再
付着は未然に回避されることになる。
However, in this embodiment, the splash prevention part 21 is formed on the inner peripheral surface of the processing container l, so that the droplets 19 flying from the wafer 6 are prevented from bouncing back to the wafer 6. Therefore, the droplets 19 are prevented from re-adhering to the wafer 6.

すなわち、第2図に示されているようにレジスト液の飛
沫19が凸部23の尖端に衝突すると、飛沫19は破砕
されて運動エネルギを殆ど消失するため、飛んで来た元
の方向へ戻ることはない。
That is, as shown in FIG. 2, when resist liquid droplets 19 collide with the tip of the convex portion 23, the droplets 19 are crushed and lose most of their kinetic energy, so they return to the direction from which they came. Never.

また、飛沫19が破砕されると、微粒子化されるため、
給気口9と排気口8とによってはね返り部21付近に形
成されている垂直下向きの気流A1にきわめて乗り易く
なり、排気口8側へ確実に排出されて行(、万一、ウェ
ハ6方向に向かっても径方向外向きの気流At、/’s
によって容易に押し戻されることになる。これらは排気
速度を抑制しても充分な効果を得ることができる。
In addition, when the droplets 19 are crushed, they become fine particles, so
The air supply port 9 and the exhaust port 8 make it extremely easy to ride the vertical downward airflow A1 formed near the rebound portion 21, and the air is reliably discharged to the exhaust port 8 side (in the unlikely event that the air flows in the direction of the wafer 6) radially outward airflow At,/'s
will be easily pushed back. These can obtain sufficient effects even if the pumping speed is suppressed.

一方、レジスト液17の飛沫19が凹部24の内壁面(
凸部23の外壁面に相当する。)間に侵入すると、第2
図に示されているように、壁面間で反射を繰り返して運
動エネルギを消失しなから凹部24の底部に導かれて吸
収される。
On the other hand, the splashes 19 of the resist liquid 17 are on the inner wall surface of the recess 24 (
This corresponds to the outer wall surface of the convex portion 23. ), the second
As shown in the figure, the light is repeatedly reflected between the walls and loses its kinetic energy, and then is guided to the bottom of the recess 24 and absorbed.

ウェハ6に対するレジスト液の塗布作業が終了すると、
カバー10が処理容器lに対して相対的に上昇され、処
理容器1の上面開口から塗布膜形成済みのウェハ6が取
り出される。
When the application of the resist liquid to the wafer 6 is completed,
The cover 10 is raised relative to the processing container 1, and the wafer 6 on which the coating film has been formed is taken out from the upper opening of the processing container 1.

前記実施例によれば次の効果が得られる。According to the embodiment described above, the following effects can be obtained.

(11処理容器の内周面に凹凸面を有するはね返り防止
部を設けることにより、被塗布物から飛来した塗布液の
飛沫が被塗布物の方向へはね返ることを防止することが
できるため、飛沫が被塗布物に再付着するのを防止する
ことができる。
(11 By providing a splash prevention part having an uneven surface on the inner peripheral surface of the processing container, it is possible to prevent droplets of the coating liquid that have come from the object to be coated from rebounding toward the object to be coated. Re-adhesion to the object to be coated can be prevented.

(2)飛沫が被塗布物に再付着するのを防止することに
より、塗布膜の品質を高めることができるため、塗布作
業の信頼性を高めることができる。
(2) By preventing the droplets from re-adhering to the object to be coated, the quality of the coating film can be improved, so the reliability of the coating operation can be improved.

(3)塗布膜の品質および作業の信頼性を高めることに
より、塗布膜がレジスト液膜である場合、リソグラフィ
ー処理の品質および信頼性を高めることができるため、
製品の製造歩留りを高めることができる。
(3) By improving the quality of the coating film and the reliability of the work, if the coating film is a resist liquid film, the quality and reliability of the lithography process can be improved.
Product manufacturing yield can be increased.

(4)  はね返り防止部に隣接する空間に排出用気流
を形成することにより、はね返り防止部で破砕された塗
布材の微粒子を気流に乗せて他所へ排出させることがで
きるため、被塗布物への再付着を確実に防止することが
できる。
(4) By forming a discharge airflow in the space adjacent to the splash prevention part, the fine particles of the coating material crushed in the splash prevention part can be carried by the airflow and discharged elsewhere, so they can be discharged to other places. Redeposition can be reliably prevented.

(5)  塗布材の処理容器内周面に対する衝突に伴う
はね返り自体を防止することにより、はね返り飛沫の再
付着を防止するための押し戻し用気流の排気速度を抑制
させることができるため、排気速度増加による塗布膜の
膜厚分布不均一化を未然に回避することができる。
(5) By preventing the splash itself caused by the collision of the coating material against the inner peripheral surface of the processing container, the exhaust speed of the push-back airflow to prevent the re-deposition of the splashed droplets can be suppressed, thereby increasing the exhaust speed. This makes it possible to avoid unevenness in the film thickness distribution of the coating film.

以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可使
であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically explained based on Examples above, the present invention is not limited to the Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Not even.

例えば、はね返り防止部の凹凸面はローレット加工、エ
ツチング加工、針の植え込み加工により形成するに限ら
ず、第3図に示されているように、lI径の線材からな
る網25を処理容器1の内周面に敷設する手段等によっ
て、形成してもよい。
For example, the uneven surface of the rebound prevention part can be formed not only by knurling, etching, or needle implantation, but also by forming a net 25 made of a wire with a diameter of lI in the processing container 1, as shown in FIG. It may also be formed by means of laying it on the inner circumferential surface.

以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるウェハ上にレジスト
を塗布する装置に通用した場合について説明したが、そ
れに限定されるものではなく、マスクにレジストを塗布
する場合等にも通用することができる。
In the above explanation, the invention made by the present inventor was mainly applied to an apparatus for coating a resist on a wafer, which is the background field of application of the invention, but the invention is not limited to this. It can also be used when applying.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次の通りである。
A brief explanation of the effects obtained by typical inventions disclosed in this application is as follows.

処理容器の内周面に凹凸面を有するはね返り防止部を設
けることにより、被塗布物から飛来した塗布材の飛沫が
処理容器内周面に衝突しても、被塗布物の方向へはね返
ることを防止することができるため、飛沫が被塗布物に
再付着するのを確実に防止することができる。
By providing a splash prevention part with an uneven surface on the inner circumferential surface of the processing container, even if droplets of coating material flying from the object to be coated collide with the inner circumferential surface of the processing container, they will not bounce back toward the object to be coated. Therefore, it is possible to reliably prevent droplets from re-adhering to the object to be coated.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例であるレジスト塗布装置を示
す縦断面図、 第2図はその作用を説明するための拡大部分断面図であ
る。 第3図は本発明の他の実施例を示す拡大部分断面図であ
る。 l・・・処理容器、2・・・底板、3・・・回転軸、4
・・・駆動装置、5・・・スピンヘッド、6・・・ウェ
ハ(被塗布物)、7.9.14・・・給気口、8・・・
排気口、10・・・カバー、12・・・フィルタユニッ
ト、13・・・バッフ1室、15・・・吹出口、1G・
・・滴下管、17・・・レジスト液(塗布液)、18・
・・塗布膜、19・:・飛沫、21・・・はね返り防止
部、22・・・弯曲面、23・・・凸部、24・・・凹
部、25・・・網(凹凸面)。 第  1  図
FIG. 1 is a longitudinal cross-sectional view showing a resist coating apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an enlarged partial cross-sectional view for explaining its operation. FIG. 3 is an enlarged partial sectional view showing another embodiment of the present invention. l...processing container, 2...bottom plate, 3...rotating shaft, 4
... Drive device, 5... Spin head, 6... Wafer (object to be coated), 7.9.14... Air supply port, 8...
Exhaust port, 10... Cover, 12... Filter unit, 13... 1 buffer chamber, 15... Air outlet, 1G.
...Dripping tube, 17...Resist liquid (coating liquid), 18.
...Coating film, 19.: Splash, 21.. Splash prevention portion, 22.. Curved surface, 23.. Convex portion, 24.. Concave portion, 25.. Net (uneven surface). Figure 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、被塗布物を収容して塗布材を塗布する処理容器の内
周面に凹凸面を有するはね返り防止部が被塗布物外周に
対向するように配設されていることを特徴とする塗布装
置。 2、はね返り防止部が、先が尖った凸部および凹部群に
より構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の塗布装置。 3、はね返り防止部が、網により構成されていることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の塗布装置。 4、はね返り防止部付近が、排気用気流を形成されてい
ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の塗布装
置。
[Scope of Claims] 1. A rebound prevention portion having an uneven surface is disposed on the inner peripheral surface of a processing container that accommodates an object to be coated and applies a coating material so as to face the outer periphery of the object to be coated. A coating device featuring: 2. The coating device according to claim 1, wherein the anti-repellent portion is constituted by a group of pointed convex portions and concave portions. 3. The coating device according to claim 1, wherein the splash prevention part is constituted by a net. 4. The coating device according to claim 1, wherein an exhaust airflow is formed in the vicinity of the splash prevention portion.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013111561A (en) * 2011-11-30 2013-06-10 Sokudo Co Ltd Cup and substrate processing apparatus
CN105280524A (en) * 2014-05-29 2016-01-27 细美事有限公司 Apparatus for treating substrate

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013111561A (en) * 2011-11-30 2013-06-10 Sokudo Co Ltd Cup and substrate processing apparatus
TWI581868B (en) * 2011-11-30 2017-05-11 斯克林半導體科技有限公司 Cup and substrate processing apparatus
US10160012B2 (en) 2011-11-30 2018-12-25 Screen Semiconductor Solutions Co., Ltd. Cup and substrate processing apparatus
CN105280524A (en) * 2014-05-29 2016-01-27 细美事有限公司 Apparatus for treating substrate
US10232415B2 (en) 2014-05-29 2019-03-19 Semes Co., Ltd. Apparatus for treating substrate

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