JPS63210800A - 濃縮廃液移送配管の洗浄方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 （産業上の利用分野） 本発明は、原子カプラントにおける濃縮廃液移送配管の
洗浄方法に係り、とりわけ効果的に洗浄することができ
る濃縮廃液移送配管の洗浄方法に関する。

（従来の技術） 配管内に濃縮廃液を滞留させたままで長時間放置するこ
とが配管の腐食発生の原因となり得ることはよく知られ
ている。従って間欠的に濃縮廃液が流れる様な濃縮廃液
移送配管においては、濃縮廃液を流した後に配管の洗浄
を行うことが腐食発生を抑制する上で効果的である。従
来、原子カプラントの濃縮廃液移送配管で（ま、濃縮廃
液を移送後直ちに復水を連続的に通水することにより配
管を洗浄する濃縮廃液移送配管の洗浄方法が行なわれて
いる。

一般に、濃縮廃液移送配管の材質はステンレス鋼管であ
り、廃液濃度とステンレス鋼管の腐食発生傾向の関係に
ついては、種々の因子が複雑に関係しているため一概に
決定することはできないが、濃縮廃液中で腐食に対して
、最も有害な成分は、塩素イオンであると考えられてい
る。

これまでの浸漬試験によれば、腐食発生を抑制するとい
われる硫酸イオンを含まない場合でも、沸点において塩
素イ１ン濃度を２０００　ｐｐｍ以下にすれば腐食発生
は著しく抑制されるとの結果が得られている。しかしま
た、活性炭により加速した浸漬試験では、塩素イオン濃
度５００　ｐｐｍにおいても３０日後に腐食が発生した
という報告もある。

これより許容塩素イオン濃度は他の加速因子および時間
との関係によって変動すると考えられるが、上記の浸漬
試験結果を考慮するならば配管内中の塩素イオン濃度は
１００ｐｐ−以下にすることが望ましいと考えられる。

（発明が解決しようとする問題点） 上述のように配管内の塩素イオン濃度を１１００ｐｐ以
下とすることが配管の腐食対策上望ましいが、従来の連
続通水による濃縮廃液移送配管の洗浄方法では、この洗
浄方法で十分な洗浄効果が得られるかは明確ではなかっ
た。

本発明はこのような点を考慮してなされたものであり、
簡単に洗浄することにより十分な洗浄効果を得ることが
できる濃縮廃液移送配管の洗浄方法を提供することを目
的としている。

〔発明の構成〕

（問題点を解決するための手段） 本発明は、洗浄水を配管中に所定時間連続的に通水し、
その後洗浄水を配管中に所定時間満水放置し、その後再
び洗浄水を配管中に所定時間連続的に通水することから
なる濃縮廃液移送配管の洗浄方法である。

（作　用） 本発明によれば、簡単かつ効果的に濃縮廃液移送配管の
洗浄を行うことができる。

（実施例） 以下図面を参照して本発明の実施例について説明する。

第１図乃至第３図は本発明による濃縮廃液移送配管の洗
浄方法の一実施例を示す図である。本実施例において、
効果的な洗浄方法を提供するため、模擬廃液として１０
％硫酸ナトリウムを用いて洗浄試験を行った。

第１図に濃縮廃液試験ループフローシートを示す。本ル
ープは１ｍ３の濃縮廃液タンク１と５ＯＡ配管とからな
り、ポンプ３により模擬廃液を循環させることにより種
々の試験を行うものである。第１図中、点線で示す箇所
が洗浄試験用配管４である。

洗浄試験を以下の要領で行った。

初めに洗浄試験用配管４に約１０％硫酸ナトリウム溶液
を満たした。次に洗浄水タンク２よりポンプ３を用いて
洗浄水を流しながら導電率計により、洗浄水の導電率の
変化を連続的に測定し、レコーダーに記録した。洗浄水
としては、導電率１μｓ／ｃＩｎ以下のイオン交換水を
用い、また測定結果は硫酸ナトリウム濃度に換算して表
示した。

また導電率の応答時間は、約０．７秒／フル・スケール
である。

洗浄水量は、配管内容積のＸ倍の量を流しく以後ｘＨ洗
浄と呼ぶ）、洗浄排水の導電率の変化を測定し、効果的
な洗浄水量の最小値（以後「必要最小洗浄水ＲＪ　−Ｍ
ｉｎｉｍｕｍ　Ｎｅｃｅｓｓａｒｙ　Ｗａｔｅｒ　−ｒ
ＭＮＲＪと呼ぶ）を求めた。

第２図にｘＨ洗浄（配管内容積のＸ　倍の総ｎ　　　　
　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　ｎ流量を
流した洗浄）を行った時の洗浄曲線を示す。

濃縮廃液中の塩素イオン濃度の上限値は５０００　ｐｐ
ｍであるのに対し洗浄の目標値は塩素イオン１００　ｐ
ｐｍである。このため洗浄により１１５０に希釈するこ
とが求められている。

塩素イオンと硫酸ナトリウムは、両者とも溶解性成分で
あるので、洗浄によって同じ比率で希釈されると仮定す
ると、今回の試験では１０′％硫酸ナトリウムを用いて
いるので洗浄後の目標値は０．２％となる。第２図より
硫酸ナトリウムが０．２％となる時の洗浄水量はｘｔＨ
となる。しかし、塩素イオン濃度はできるだけ低くする
ことが望ましく、また第２図よりＸ２Ｈまで洗浄水量と
共に硫酸ナトリウム濃度が急速に低下することからこの
系におけるＭＮＲをＸ２Ｈとした。

次に満水放置の影響についての試験を行った。

すなわち、ＭＮＲで洗浄を行った（Ｘ２Ｈ洗浄）後に配
管に洗浄水を満たし、一定時間、例えばα時間放置した
。この操作を以後「満水放置」と呼び、満水放置中配管
内の液を以後「放置水」と呼ぶ。満水放置後、再び洗浄
水を流し、ｘＨ洗浄を行って洗浄排水の導電率を測定す
ることにより放置水の水質変化を推定するとともに満水
放置の洗浄効果に及ぼす影響を調べた。

第３図に満水放置を間に挟みなからｘＨ洗浄を行った場
合（本発明）と、単純なｘＨ洗浄を行った場合（従来例
）についての結果を示す。

初めのＸ２Ｈ洗浄の洗浄曲線は良く一致しているがその
後の曲線は異なった挙動を示す。満水放置をしない場合
は、ひき続きゆるやかに濃度が低下するが、満水放置を
行った場合は満水放置後洗浄水量がｘ３Ｈまで濃度一定
であり、洗浄水量がｘａＨの近傍より急激な濃度上昇が
現れる。

放置水の濃度は２度目の洗浄の際、ｘａＨまでに現れる
平らな部分と考えられ、満水放置を行わない場合（点線
で示した）と比較すると、満水放置中の配管内の濃度は
満水放置を行わない場合よりわずかに高いことがわかる
。この高い原因としては次のことが考えられる。すなわ
ち連続的に通水した場合は配管内壁近傍には洗浄困難な
領域が存在する。満水放置することにより内壁近傍から
の拡散が起り配管内濃度が平均化して見かけ上濃度が上
昇し、その後の洗浄効果が大きくなると考えられる。

満水放置を行った場合、再洗浄後洗浄水量ｘａＨの近傍
で急激な濃度上昇が現われるが、この原因は定かでない
が急激な濃度上昇の出現流量（即ち時間）からみて、満
水放置中における配管付着物中の可溶成分の放置水中へ
の溶は出し、および再び洗浄水を流す過程における配管
内付着物の剥離と配管等の構成部品（ポンプ、バルブ、
フランジ等）中の滞留液の溶は出しが考えられる。

洗浄水量ｘ　ａ　Ｈ以降については、第３図に示すよう
に満水放置した場合は濃度の低下が起こり、満水放置し
ない場合に比較して洗浄効果が増すことがわかる。

このように本実施例によれば、配管内をＸ２Ｈ洗浄し、
その後満水放置し再度ｘＨ洗浄を行うことにより、満水
放置しない場合に比較して洗浄効果を増加させることが
できる。

〔発明の効果〕

以」二説明したように本発明によれば、簡単かつ効果的
に濃縮廃液移送配管の洗浄を行うことができ、このため
配管の腐食が防止でき、原子カプラントの安全性および
耐久性を高めることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は濃度廃液腐食試験のループフローシートを示す
図、第２図はｘＨ洗浄による洗浄効果を示す図、第３図
は本発明と従来例の洗浄効果の比較を示す図である。 １・・・濃縮廃液タンク、２・・・洗浄水タンク、３・
・・ポンプ、４・・・洗浄試験用配管。 出願人代理人　　佐　　藤　　−雄 ら　２　図 ６１　圓

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 洗浄水を配管中に所定時間連続的に通水し、その後洗浄
   水を配管中に所定時間満水放置し、その後再び洗浄水を
   配管中に所定時間連続的に通水することからなる濃縮廃
   液移送配管の洗浄方法。