JPS63208182A - Pattern recognizing device - Google Patents

Pattern recognizing device

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Publication number
JPS63208182A
JPS63208182A JP62041659A JP4165987A JPS63208182A JP S63208182 A JPS63208182 A JP S63208182A JP 62041659 A JP62041659 A JP 62041659A JP 4165987 A JP4165987 A JP 4165987A JP S63208182 A JPS63208182 A JP S63208182A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
similar
unknown
category
patterns
Prior art date
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Pending
Application number
JP62041659A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazumi Matsuura
松浦 一巳
Yoji Maeda
前田 陽二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP62041659A priority Critical patent/JPS63208182A/en
Publication of JPS63208182A publication Critical patent/JPS63208182A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To improve the recognition precision of an unknown pattern of low quality by measuring a pattern in a resembling area to check the degree of variance of the unknown pattern and changing the unknown pattern based on the degree of variance. CONSTITUTION:If there are a set of resembling categories as the decision result of a deciding means 2, a collating means 10 checks a table 14 stored in a storage means 3 and measures the degree of variance of the unknown pattern in a resembling area 14c from some standard pattern in the same resembling area 14c. A changing means 11 changes the line thickness of the whole of the unknown pattern based on the degree of variance measured by the collating means 10, and such correction is performed in the resembling are that the unknown pattern and the standard pattern coincide with each other. A determining means 4 compares the unknown patterns after change with standard patterns to determine a category name corresponding to the unknown pattern.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、パターン認識装置に関し、特に印刷漢字認
識等におけるパターン認識装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a pattern recognition device, and particularly to a pattern recognition device for recognition of printed kanji characters and the like.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

この分野の先行技術としては特公昭59−49630号
公報(以下文献という)がある。第3図はこの文献に開
示された装置のうち、この発明に関連する部分の概要構
成を示すブロック図であって、図において(1)は選択
手段、(2)は判定手段、(3)は記憶手段、(41は
決定手段である。
As a prior art in this field, there is Japanese Patent Publication No. 59-49630 (hereinafter referred to as the document). FIG. 3 is a block diagram showing a schematic configuration of parts related to the present invention of the apparatus disclosed in this document, in which (1) is a selection means, (2) is a determination means, and (3) is a selection means. is a storage means, and (41 is a determination means.

・2ターン認識装置では認識の対象となるすべての種類
のイメーソノソターンに対する標準パターンを認識用標
準・セターン記憶装置(第3図には示してない)に記憶
しておいて、入力される未知のイメーソノンターンが記
憶されている標準/々ターンのうちのどの標準・セター
ンに相当するものであるかを決定する。上記文献は印刷
漢字認識に関するものであり、印刷文字であるため、印
字圧又は印字用リボンの状態による太さの違いや、文字
読取装置における量子化誤差などによる相違を除くと、
未知の文字・セターンは同一文字の標準パターンと一致
する筈である。したがって、文献に示すパターン認識装
置では、入力される未知パターンと標準パターンとの同
一位置の各ビットの論理を対比して、論理が一致するビ
ットの数が最大となる標準・セターンの文字が未知パタ
ーンのカテゴリ(字種)であると決定する。たとえば、
一つの文字が荀×40ピットのビットパターンによって
表わされるとすると、未知パターンと標準パターンのビ
ット論理が一致するビット数が1 、600ビツトであ
れば、未知パターンと標準パターンとが完全に一致した
ことになる。
- In the 2-turn recognition device, standard patterns for all types of image sono-turns to be recognized are stored in a recognition standard/setan storage device (not shown in Figure 3) and input. Determine which standard/setan among the stored standard/sequence turns the unknown image nonturn corresponds to. The above documents are related to printed kanji recognition, and since they are printed characters, excluding differences in thickness due to printing pressure or the condition of the printing ribbon, quantization errors in character reading devices, etc.
An unknown character/setan should match a standard pattern of the same character. Therefore, the pattern recognition device shown in the literature compares the logic of each bit at the same position in the input unknown pattern and the standard pattern, and finds the standard/setan character that has the maximum number of bits with matching logic. Determine that it is a pattern category (character type). for example,
Assuming that one character is represented by a bit pattern of x40 pits, if the number of bits in which the bit logics of the unknown pattern and the standard pattern match is 1,600 bits, then the unknown pattern and the standard pattern are completely matched. It turns out.

したことになる。That's what I did.

漢字では文字種が2000字種から4000字種と多い
ため、それだけの種類の標準パターンを記憶している必
要があり、この記憶している標準パターンの一つ一つに
対して未知・セターンを対比していったのでは長い処理
時間が必要となるので、この処理時間を短縮するための
方法が実行されているが、この部分は本願発明には直接
は関係がないので省略し、このような方法を用いて選択
手段(1)が未知パターンに対して候補となる標準パタ
ーンのカテゴリ名を選択した段階以後の動作について説
明する。
Since there are many character types in kanji, ranging from 2,000 to 4,000, it is necessary to memorize that many types of standard patterns, and it is necessary to compare unknown/setans for each of these memorized standard patterns. Since this would require a long processing time, methods have been implemented to shorten this processing time, but this part is not directly related to the present invention and will therefore be omitted. The operation after the stage where the selection means (1) selects the category name of the standard pattern as a candidate for the unknown pattern using the method will be explained.

第4図は第3図の装置における動作を説明するための動
作説明図で、hって、図において(5)は未知パターン
、(6)は未知パターン(5)に対して、選択手段(1
)により選択された標準パターンのカテ了り「間j 、
17+は記憶手段(3)によ峠記憶されたテーブルを示
しく図にはテーブル中の一行以外は省略しである) (
7a)、(7b)はそれぞれカテゴリ「間」。
FIG. 4 is an operation explanatory diagram for explaining the operation of the apparatus shown in FIG. 3. In the figure, (5) is an unknown pattern, and (6) is a selection means ( 1
) of the standard pattern selected by
17+ indicates a table stored in the storage means (3); all but one row in the table is omitted in the figure) (
7a) and (7b) are each in the category “between”.

「間」を示し、テーブル(7)のうちのこの行は類似カ
テゴリ組の一組(すなわち互に類似した標準パターンを
有する「間」と「間」のカテゴリの組である)に関する
データを記憶し、(7C)は類似カテゴリ組(「間」、
「間」)に対する相違領域を記憶する相違領域マスクパ
ターンである。
This row of table (7) stores data regarding a set of similar category sets (i.e., the set of categories "between" and "between" that have mutually similar standard patterns). (7C) is a similar category set (``ma'',
This is a difference area mask pattern that stores a difference area for the difference area (between).

カテゴ’) (7a)、(7b)の標準パターンは先に
説明したように認識用標準・9ターン記憶装置内に記憶
されておりテーブル(7)の(7α) 、 (76)の
らX7にはカテゴリ名を表すコードが記憶されており、
このコードをアドレスとして上記認識用標準パターン記
憶装置からそれぞれの標準パターンを読出して用いるの
であるが、第4図では図面をわかりやすくするために(
7α)、(7b)のらんに標準・セターンそのものを示
しである。また、上記文献の記述によれば(7C)に示
す相違領域マスク・5ターンは他の類似カテゴリ組(た
とえば閉、開、聞、関等)に共通に使用できるので、テ
ーブル(7)の(7C)のらんには相違領域マスクパタ
ーン番号を記憶し、相違領域マスクパターンは別に設け
たマスクツ9ターン記憶装置に記憶し、テーブル(71
の(7C)らんに記憶する番号をアドレスとしてマスク
パターン記憶装置から抗出すのであるが、これも図面を
わかり易くするため[(7C)のらんに仮にマスクパタ
ーンそのものを表しである。以下の図面においても混同
のおそれのない部分ではこのような表示を用いる。
As explained earlier, the standard patterns of (7a) and (7b) are stored in the recognition standard/9-turn storage device, and are stored in (7α) and (76) of table (7) in X7. The code representing the category name is stored,
Using this code as an address, each standard pattern is read out from the recognition standard pattern storage device and used.
7α) and (7b) show the standard/setan itself. Furthermore, according to the description in the above literature, the difference region mask/5 turns shown in (7C) can be used in common for other similar category sets (for example, closed, open, open, closed, etc.), so the (7) in table (7) 7C) The difference area mask pattern number is stored in the noran, the difference area mask pattern is stored in a separately provided mask 9 turn storage device, and the difference area mask pattern number is stored in the table (71
The number stored in the (7C) column is used as an address to output from the mask pattern storage device, but in order to make the drawing easier to understand, the mask pattern itself is temporarily shown in the (7C) column. In the following drawings, such representations will be used where there is no risk of confusion.

第4図の(8)はマスク後の各パターンを示し、(8α
)は未知パターンをマスクした結果、(8b)はカテゴ
リ(7a)に対する標準・!ターンをマスクした結果、
(8C)はカテゴリ(7b)をマスクした結果を示す。
(8) in FIG. 4 shows each pattern after masking, and (8α
) is the result of masking unknown patterns, and (8b) is the standard ! for category (7a). As a result of masking the turn,
(8C) shows the result of masking category (7b).

(9)は(8(Z) 、(8b)、 (8C)  の比
較により決定手段(4)で決定したカテゴリ名を示す。
(9) indicates the category name determined by the determining means (4) by comparing (8(Z), (8b), and (8C)).

次て動作について説明する。印刷文字を読取って文字パ
ターンに変換する文字読取装置(図示せず)によっては
読取ったままの文字パターンの寸法が標準パターンの寸
法とは異なる場合がある。
Next, the operation will be explained. Depending on the character reading device (not shown) that reads printed characters and converts them into character patterns, the dimensions of the character pattern as read may differ from the dimensions of the standard pattern.

異なる寸法でのビットパターンの比較は困難であるから
、未知パターン(5)の全体の寸法が標準ノセターンの
寸法と異なる場合は未知パターン(5)の寸法を標準パ
ターンの寸法と一致するように正規化しなければならぬ
。以下の説明では、未知パターン5)は正規比隣である
とする。
Since it is difficult to compare bit patterns with different dimensions, if the overall dimensions of the unknown pattern (5) are different from the dimensions of the standard nosetan, the dimensions of the unknown pattern (5) are normalized to match the dimensions of the standard pattern. must be transformed into In the following explanation, it is assumed that unknown pattern 5) is next to the normal ratio.

選択手段(1)では未知パターン(5)に最もよく一致
するビットパターンを有する標準ノぐターンを選択し、
カテゴリ澗J +61を得たとする。
The selection means (1) selects the standard nog turn having the bit pattern that most closely matches the unknown pattern (5);
Suppose we get category 澗J +61.

次に、判定手段では、カテゴリ「間」(6)を含む類似
カテゴリ組が存在するか否かを記憶手段(3)に属する
テーブル(7)の調査により判定する。
Next, the determining means determines whether or not a similar category set including the category "ma" (6) exists by examining the table (7) belonging to the storage means (3).

第3図に示す装置では、標準パターンが互に類似してい
る複数のカテゴリ名を集めて類似カテコ゛す組を作り、
この類似カテゴリ組をあらかじめテーブル(7)に格納
しである。テーブル(7)を調べるとカテゴリ「間」(
6)に対しては(7α)、(7b)、(7C)  のよ
うに類似カテゴリ組が存在すると判定することができる
In the device shown in FIG. 3, a plurality of category names whose standard patterns are similar to each other are collected to form a similar category group.
This similar category set is stored in table (7) in advance. If you look at table (7), you will find that the category "ma" (
For 6), it can be determined that there are similar category sets such as (7α), (7b), and (7C).

決定手段(4)はテーブル(7)から相違領域マスク・
そターン(7C)を抽出し、このマスクツぞターン(7
C)を用いて未知パターン(5)及びカテゴリ「間」(
7α)。
The determining means (4) selects the difference area mask from the table (7).
Extract that turn (7C), and extract this masktu turn (7C).
C) to find the unknown pattern (5) and the category “between” (
7α).

「間j (76)に対する標準パターンをマスクする(
マスクノソターン(7C)の黒い部分のビットは論理「
1」、白い部分のビットは論理「0」であるとし未知パ
ターン及び標準パターンの同一位置のビットの論理積全
出力する)とその結果(8(L) 、 (8b )。
"Mask the standard pattern for interval j (76) (
The bits in the black part of the mask noso turn (7C) are logic “
1'', the bits in the white part are logical ``0'', and outputs the entire logical product of the bits at the same position in the unknown pattern and the standard pattern) and the result (8(L), (8b)).

(8C)のビットパターンを得る。ビットパターン(8
α)を(8b)及び(8C)と比較するとビットパター
ン(8α)と(8b)の方が(8α)と(8C)よりも
よりよく一致するので、未知パターン(5)は(7b)
に対応する標準・にターンよりも(7α)に対応する標
準ノリーンにより多く一致し、したがって未知パターン
(5)に対応するカテゴリ名は「間」(6)ではなくて
「間」(9)であると決定される。
Obtain the bit pattern (8C). Bit pattern (8
Comparing α) with (8b) and (8C), the bit patterns (8α) and (8b) match better than (8α) and (8C), so the unknown pattern (5) becomes (7b).
The category name corresponding to the unknown pattern (5) is "between" (9) instead of "between" (6). It is determined that there is.

判定手段(2)における判定で、類似カテゴリ組が存在
しないと判定された場合の処理は本願発明には関係がな
いのでその説明を省略する。
The process performed when the determination means (2) determines that a similar category set does not exist is not related to the present invention, and therefore its description will be omitted.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来のパターン認識装置は以上のように構成され以上の
ように動作するのであるが、同一の印字装置で印字され
た同一のカテゴリ名の文字でも、たとえば印字圧や印字
用リボンの状態によって文字の線が標準パターンのもの
に比し太くなったり細くなったりする場合がある8この
ように低品質な印字がなされた文字のビットノターンが
未知パターンとして入力されると、その未知パターンと
未知パターンに対応する標準パターンとの間のビット・
セターンの一致度k。が低下するために、その標準パタ
ーンに類似する類似標準パターンと未知バタ、−ンとの
間のビットパターンの一致度に1の方がko  より太
きくなり、その未知パターンが上記類似標準パターンと
同一カテゴリ名であると誤認識することがある。
Conventional pattern recognition devices are configured as described above and operate as described above, but even characters with the same category name printed by the same printing device may differ depending on the printing pressure or the condition of the printing ribbon. The lines may be thicker or thinner than those of the standard pattern. 8 If a bit no turn of a character printed with such low quality is input as an unknown pattern, the unknown pattern and the unknown pattern The bits between the standard pattern corresponding to
Setan concordance k. Because of this, the bit pattern matching degree between the similar standard pattern similar to the standard pattern and the unknown pattern becomes thicker than ko, and the unknown pattern is different from the above similar standard pattern. It may be mistakenly recognized as having the same category name.

例えば、第4図において未知パターン(5)の線の太さ
が標準パターンの線の太さより大きい場合、(8a)と
(8C)との間の方が、(8α)と(8b)との間より
ビットパターンの一致度が大きくなり、決定手段(4)
は未知パターン(5)をカテゴリ[間J(7b)に誤認
識し記憶手段(3)や決定手段(4)ヲ設けた効果がな
いという問題点があった。
For example, in Fig. 4, if the line thickness of the unknown pattern (5) is larger than the line thickness of the standard pattern, the line thickness between (8a) and (8C) is larger than that between (8α) and (8b). The degree of matching of the bit patterns is greater than that between the two, and the determining means (4)
The problem is that the unknown pattern (5) is erroneously recognized in the category [J (7b)], and the provision of the storage means (3) and determination means (4) has no effect.

この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、低品質な未知ノソターンが入力された場合に
も、正しいカテゴリ名を認識することのできる認識精度
の高い/eターン認識装置を得ることを目的としている
This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and is an e-turn recognition device with high recognition accuracy that can recognize the correct category name even when a low-quality unknown turn is input. The purpose is to obtain.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明の装−では、類似カテゴリ組毎に相違領域の外
に類似領域を記憶する記憶手段を設け、類似領域におい
て未知・母ターンが標準パターンからどれだけ変動して
いるかを測定し、この測定結果にもとづいて未知ノにタ
ーンにおける上記変rJJを変更手段により修正して、
こうした修正した未知パターンの相違領域を類似カテゴ
リ机内のすべての標準パターンの相違領域と対比するこ
とによって未知パターンのカテゴリ名を決定した。
In the system of the present invention, a storage means is provided for storing a similar area outside the different area for each similar category set, and the amount of variation of the unknown/mother turn from the standard pattern in the similar area is measured. Based on the result, modify the above variation rJJ in the unknown turn by a modification means,
The category name of the unknown pattern was determined by comparing the difference area of the revised unknown pattern with the difference area of all standard patterns in the similar category table.

〔作用〕[Effect]

類似カテゴリ机内の類似領域のビットパターンと未知・
(ターンの類似領域のビットパターンとは未知ノセター
ンの品質が良好であれば一致すべき筈であり、両ノター
ンの間に相違があるのは印字圧や印字用リボンの状態等
の影響によって未知パターンの品質が低下している為で
ある。従って類似領域における両パター/の変動を測定
して、この変動から未知パターンの線の太さを変更すべ
き度合を決定して、この決定した度合に従って未知パタ
ーン全体の線の太さを変更すれば、未知)にターンの相
違領域内のビット・ンター/が修正されるので、類似カ
テゴリ机内のどの標準パターンの相違領域内ビットパタ
ーンに対応するものであるかが正しく決定できる。
Similar categories Bit patterns of similar areas in the desk and unknown/
(If the quality of the unknown nosetan is good, it should match the bit pattern in the similar area of the turn. The difference between the two nosetans is due to the influence of printing pressure, the condition of the printing ribbon, etc. This is because the quality of the pattern has deteriorated. Therefore, the variation of both putters in similar areas is measured, and from this variation the degree to which the line thickness of the unknown pattern should be changed is determined, and the thickness of the line of the unknown pattern is determined according to this determined degree. If you change the line thickness of the entire unknown pattern, the bit pattern in the difference area of the turn (unknown) will be corrected, so you can find out which standard pattern in the similar category corresponds to the bit pattern in the difference area. It can be determined correctly whether

〔実施例〕〔Example〕

以下この発明の実施例を図面について説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図で、第1
図において第3図と同一符号は同−又は相当部分を示し
、(10)は照合手段、(11)は変更手段である。ま
た(30)は第3図の(31に対応する記憶手段であっ
て、すべての類似カテゴリ組の情報を記憶するテーブル
を備えている。このテーブルは後で説明する第2図(1
4)に示すように構成され、第4図のテーブル(7)は
カテゴリ名(7n) 、 Cab)と相違領域マスクパ
ターン(7C)から構成されるのに対し第2図のテーブ
ル(14)はカテゴリ名(14a)、(14b) 、相
違領域マスク/4’ターフ (14d)の他に類似値域
マスクパターン(14c)から構成される。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.
In the figure, the same reference numerals as in FIG. 3 indicate the same or equivalent parts, (10) is a collating means, and (11) is a changing means. Further, (30) is a storage means corresponding to (31 in FIG. 3), and is provided with a table for storing information on all similar category sets.
Table (7) in Figure 4 is composed of category names (7n), Cab) and difference area mask patterns (7C), whereas table (14) in Figure 2 is configured as shown in Figure 4). It consists of category names (14a), (14b), difference region mask/4' turf (14d), and similar range mask pattern (14c).

照合手段(10)は判定手段(2)による判定の結果類
似カテゴリ組が存在する場合、記憶手段(3)に格納さ
れているテーブル(14)を調べ、類似領域(146)
内の未知パターンと同じ類似領域(14c)内のいずれ
かの標準ノソターン(類似領域内ではテーブル(14)
の同一行内のすべての標準パターンのビットパターンは
一致する)との変動度合を測定する。   ゛ 変更手段(11)は照合手段(10)によって測定され
た変動度合にもとづいて全体の未知パターンの線の太さ
を変更し類似領域内では未知パターンと標準パターンが
一致するような修正を行う。其他第1図において第3図
と同一符号の部分は同様に動作するので重複した説明は
省略する。
If a similar category set exists as a result of the determination by the determination means (2), the collation means (10) checks the table (14) stored in the storage means (3) and identifies similar areas (146).
Any standard nosoturn in the similar region (14c) that is the same as the unknown pattern in the table (14c)
The bit patterns of all standard patterns in the same row of the standard pattern match).゛The changing means (11) changes the line thickness of the entire unknown pattern based on the degree of variation measured by the matching means (10), and makes corrections so that the unknown pattern and the standard pattern match within the similar area. . Other parts in FIG. 1 having the same reference numerals as those in FIG. 3 operate in the same manner, so a duplicate explanation will be omitted.

第2図は第1図の装置における動作を説明するための動
作説明図であって、図において(12)は未知パターン
、(13)は未知ノソターン(12)に対し選択手段(
1)により選択された標準パターンのカテゴリ「ば」で
ある。テーブル(14) Kついては第1図の記憶手段
(30)に関連して説明済である。
FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining the operation of the apparatus shown in FIG.
This is the standard pattern category "Ba" selected by 1). Table (14) K has already been explained in connection with storage means (30) in FIG.

(15)は類似領域マスクパターン(14i1j)によ
りマスクした後のピッ)パターンを示し、(15α)は
未知パターン(12)をマスクした結果、(15b)は
カテゴリ名(14α)(又は(14b) )に対応する
標準パターン金マスクした結果を示す。(16)はパタ
ーン(15α)と(15b)との相対的な変化度合を測
定し、その測定結果にもとづいて未知パターン(12)
の線の太さを標準パターンの線の太さと等しくするよう
に変更した変更後の未知パターン、(17)は相違領域
マスク・(ターン(14d)によりマスクした後のビッ
ト・セターンを示し、(17a)は・母ターン(16)
をマスクした結果、(17b)、 (17C)はそれぞ
れ標準パターン(14a)、(14b)をマスクした結
果を示す。
(15) shows the pattern after masking with the similar area mask pattern (14i1j), (15α) shows the result of masking the unknown pattern (12), and (15b) shows the category name (14α) (or (14b) ) shows the results of standard pattern gold masking. (16) measures the relative degree of change between patterns (15α) and (15b), and based on the measurement results unknown pattern (12)
(17) shows the bit setturn after being masked by the difference region mask (turn (14d)); 17a) Mother turn (16)
(17b) and (17C) show the results of masking standard patterns (14a) and (14b), respectively.

また、(18)は(17α)、(176)、(17c)
の比較によね決定手段14)で決定したカテゴリ名を示
す。
Also, (18) is (17α), (176), (17c)
The category name determined by the determination means 14) is shown for comparison.

次に、動作について説明する。Next, the operation will be explained.

選択手段(1)と判定手段(2)までの動作は第3図に
ついて説明した場合と同様である。第2図の未知ノぐタ
ーン(12)に対しカテゴリ名[ばJ(13)が選択さ
れ、かつ、カテゴリ名[ばJ(13)に対しては類似カ
テゴリ組が存在すると判定されたとする。その類似カテ
ゴリ組に対する情報はテーブル(14)内の一行のデー
タとして(14α)、(14b)、(14C)。
The operations up to the selection means (1) and the determination means (2) are similar to those described with reference to FIG. Assume that the category name J (13) is selected for the unknown turn (12) in FIG. 2, and it is determined that a similar category set exists for the category name J (13). Information regarding the similar category set is represented as one row of data in table (14) (14α), (14b), and (14C).

(14d)が記憶されている。(14d) is stored.

次に照合手段(10)では未知パターン(12)とカテ
ゴリ名(14α)に対応する標準パターンとに対し類似
領域マスクパターン(14C)によるマスクを施してビ
ットパターン(15α) 、 (15b)を得、このビ
ット・々ターン(15α)と(15b)との変動を測定
する。
Next, the matching means (10) masks the unknown pattern (12) and the standard pattern corresponding to the category name (14α) using a similar region mask pattern (14C) to obtain bit patterns (15α) and (15b). , the variation between each bit turn (15α) and (15b) is measured.

最も単純な変動測定としては、たとえばビット・セター
ン(15a)中の論理「1」(仮に論理「1」が黒画素
に対応するとする)のビット数B!とビットパターン(
15b)中の論理「1」のビット数Bsとを計算しBI
/BS  を求めるとB□/Bsの値は未知・9ターン
(12)と標準ノンターン(14α)との線の太さの比
を表すことになる。
The simplest variation measurement is, for example, the number of bits B! of logic "1" (assuming that logic "1" corresponds to a black pixel) in the bit set turn (15a). and bit pattern (
15b) Calculate the number of logic “1” bits Bs in BI
When /BS is calculated, the value of B□/Bs represents the ratio of the line thickness between unknown 9 turns (12) and standard non-turns (14α).

従って、変更手段(11)では未知パターン(12)の
線の太さにBs/B! の値を乗じて未知パターン(1
2)の線の太さを標準パターンの線の太さとほぼ同じ太
さになるまで変更する。この変更では、たとえばBt 
/Bs > 1の場合、未知パターン(12)の論理「
0」に隣接した論理「1」のビットを(1−Bs /B
l)  の割合で論理「0」に変更してゆけばよい。こ
のような変更によってたとえばパターン(16)を得る
Therefore, the changing means (11) changes the line thickness of the unknown pattern (12) to Bs/B! The unknown pattern (1
Change the line thickness in 2) until it is almost the same as the line thickness of the standard pattern. With this change, for example, Bt
/Bs > 1, the logic of unknown pattern (12) “
The logic “1” bit adjacent to “0” is (1-Bs /B
l) It is sufficient to change the logic to "0" at a ratio of . For example, pattern (16) is obtained by such a change.

決定手段(4)における動作は第4図について説明した
とおりであり、(17)、(17α)、(17b)、(
17c)は+81.(8α) 、 (86) 、 (8
C)  に対応するが、(17α)は・々ターン(16
)をマスクした結果の・リーンである。
The operation in the determining means (4) is as explained in FIG. 4, and (17), (17α), (17b), (
17c) is +81. (8α) , (86) , (8
C), but (17α) is a turn (16
) is the result of masking.

パターン(16)は線の太さが標準・9ターンの線の太
さと同一になるように変更されているので決定手段(4
1において誤認識することなく、パターン(17α)は
パターン(17C)と同じ・母ターンであると判定され
て未知・母ターン(12)はカテがす名「ば」(14b
)のパターンであると決定される。相違領域マスクパタ
ーン(17)では互に類似するパターンの部分は除去さ
れているので、パターン(17b)と(176)の相違
が強調されており、パターン(17α)が(17b)、
(17c)のいずれに相当するかの判定が容易である。
Pattern (16) has been changed so that the line thickness is the same as the standard 9th turn line thickness, so the determining means (4)
1, the pattern (17α) is the same as the pattern (17C). It is determined that it is the mother turn and it is unknown. The mother turn (12) is identified by the name "ba" (14b).
) is determined to be the pattern. In the difference area mask pattern (17), the similar pattern parts are removed, so the difference between the patterns (17b) and (176) is emphasized, and the pattern (17α) is changed from (17b) to
It is easy to determine which of (17c) this corresponds to.

なお、上記実施例では、変更手段(11)において未知
ノ9ターン(12)を変更する際に、論理「0」のビッ
トに隣接する論理「1」のビットを論理「0」K変更し
たが、未知・セターン(12)を光電変換装置により電
気信号に変換し各画素に対応する電気信号を多値のディ
ジタル信号に変換し、この多値のディジタル信号から論
理[JrOjの2値信号に変換するのであるが、この2
値信号に変換する前の多値のディジタル信号を別に記憶
しておきB工/BS  の値にもとづいて、この多値の
ディジタル信号を2値信号化する場合の閾値を変更して
もよい。
In the above embodiment, when changing the unknown number 9 turn (12) in the changing means (11), the bit of logic "1" adjacent to the bit of logic "0" is changed to logic "0" K. , unknown setan (12) is converted into an electric signal by a photoelectric conversion device, the electric signal corresponding to each pixel is converted into a multi-value digital signal, and this multi-value digital signal is converted into a binary signal of logic [JrOj However, these two
The multi-value digital signal before being converted into a value signal may be stored separately, and the threshold value for converting this multi-value digital signal into a binary signal may be changed based on the value of B/BS.

又、上記実施例では、照合手段(10) において変動
の度合を論理「1」のビット数の比Bl/B、によって
表わしたが、パターンの線幅を求め、線幅の比によって
表わしてもよい。
Further, in the above embodiment, the degree of variation in the matching means (10) is expressed by the ratio of the number of logic "1" bits Bl/B, but it can also be expressed by finding the line width of the pattern and expressing it by the ratio of the line widths. good.

又、上記実施例では、選択手段(1)において1個のカ
テゴリを選択する場合について説明したが、選択手段(
11において類似度の高い順に複数個のカテゴリを選択
し、判定手段(2)においてこれら複数個のカテゴリが
類似カテゴリ組と一致するか否かを判定するようにして
もよい。
Further, in the above embodiment, the case where one category is selected by the selection means (1) has been explained, but the selection means (1)
11, a plurality of categories may be selected in descending order of similarity, and the determining means (2) may determine whether or not these multiple categories match a similar category set.

又、上記実施例では、記憶手段(30)に類似領域マス
クパターン及び相違領域マスクパターンを記憶したが、
互に類似する標準パターンを重ね合わせることによって
類似領域、相違領域を抽出することもできる。
Further, in the above embodiment, the similar area mask pattern and the different area mask pattern are stored in the storage means (30).
Similar regions and different regions can also be extracted by overlapping standard patterns that are similar to each other.

又、上記実施例では変更手段(11)において未知・母
ターンを変更したが、これは類似カテゴリ机内のすべて
の標準・々ターンを変更してもよい。
Further, in the above embodiment, the unknown/mother turn is changed in the changing means (11), but this may change all the standard/second turns in the similar category table.

又、上記実施例では選択手段(1)及び決定手段(4)
においてはピッ) A?パターンビット論理の一致によ
り類似度を求めたが、パターンから抽出した各種特徴を
用いて類似度を決定して本よい。
Further, in the above embodiment, the selection means (1) and the determination means (4)
(beep) A? Although the degree of similarity was determined by matching the pattern bit logic, it would be better to determine the degree of similarity using various features extracted from the pattern.

更に、上記実施例ではA?パターン線の太さが変動する
場合について説明したが、この発明の装置dAパターン
欠け、つぶれ、ノイズ等による変動の場合にも応用する
ことができる。
Furthermore, in the above example, A? Although the case where the thickness of the pattern line fluctuates has been described, the apparatus of the present invention can also be applied to the case where the thickness of the dA pattern fluctuates due to chipping, collapse, noise, etc.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のようにこの発明によれば、類似領域におけるパタ
ーンの測定から未知ノ9ターンの変動の度合を調べ、こ
の変動の度合にもとづいて未知・臂ターンを変更し、変
更後の未知パターンについて相違領域における標準パタ
ーンとの比較から未知・々ターンに対するカテゴリ名を
決定したので、類似カテゴリが存在し、変動の大きい低
品質の未知パターンを誤認識することなく正確に認識す
ることができる。
As described above, according to the present invention, the degree of variation in the unknown 9 turns is determined by measuring patterns in similar regions, the unknown arm turn is changed based on the degree of variation, and the unknown pattern after the change is determined to be different. Since the category name for the unknown turn is determined by comparison with the standard pattern in the region, it is possible to accurately recognize a low-quality unknown pattern with similar categories and large fluctuations without misrecognizing it.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図、第2図
は第1図の装置の動作を説明する動作説明図、第3図は
従来の装置を示すブロック図、第4図は第3図の装置の
動作を説明する動作説明図。 (1)は選択手段、に)は判定手段、(30)は記憶手
段、(10)は照合手段、(11)は変更手段、(4)
は決定手段、(12)は未知パターン、(13)は未知
パターン(12)に対し選択手段が選択したカテゴリ名
、(14)は記憶手段(30)内に設けられ、類似カテ
ゴリ組の情報を格納するテーブル、(14a)。 (14b)はそれぞれカテゴリ名、(14c)は類似領
域マスク・!ターン、  (14d)は相違領域マスク
・そターン。 尚、各図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an operation explanatory diagram explaining the operation of the device shown in FIG. 1, FIG. 3 is a block diagram showing a conventional device, and FIG. 4 is a block diagram showing the conventional device. FIG. 4 is an operation explanatory diagram illustrating the operation of the apparatus shown in FIG. 3; (1) is a selection means, 2) is a judgment means, (30) is a storage means, (10) is a collation means, (11) is a change means, (4)
is the determining means, (12) is the unknown pattern, (13) is the category name selected by the selecting means for the unknown pattern (12), and (14) is provided in the storage means (30) and stores information on similar category sets. A table for storing (14a). (14b) are category names, and (14c) are similar area masks! (14d) is the difference area mask/turn. Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)認識の対象となるすべての種類のイメージパター
ンに対する標準パターンを予め記憶しておき、入力され
た未知のイメージパターンに対応する標準パターンを決
定するパターン認識装置において、上記未知パターンに
対して候補となる標準パターンのカテゴリ名を選択する
選択手段、 標準パターンが互に類似している複数のカテゴリ名を集
めて類似カテゴリ組を作り、各類似カテゴリ組毎にパタ
ーンの互に類似する類似領域と、パターンの互に相違す
る相違領域とを記憶する記憶手段、 上記選択手段により選択したカテゴリ名に対し当該カテ
ゴリ名を含む類似カテゴリ組が存在するか否かを判定す
る判定手段、 この判定手段による判定により類似カテゴリ組が存在す
ると判定した場合、上記記憶手段から当該類似カテゴリ
組に対応する類似領域を抽出し、この類似領域において
上記未知パターンと上記標準パターンとの相対的な変動
の度合を測定する照合手段、 この照合手段によって測定した変動の度合にもとづき、
上記未知パターン又は上記標準パターンを変更して上記
変動の度合を減少させる変更手段、上記記憶手段から当
該類似カテゴリ組に対応する相違領域を抽出し、この相
違領域において上記変更手段により変更済みの上記未知
パターンと当該類似カテゴリ組内のすべての標準パター
ンとを比較して、この比較結果から上記未知パターンの
カテゴリ名を決定する決定手段、 を備えたことを特徴とするパターン認識装置。
(1) In a pattern recognition device that stores standard patterns for all types of image patterns to be recognized in advance and determines standard patterns corresponding to inputted unknown image patterns, Selection means for selecting category names of standard patterns as candidates, collecting a plurality of category names whose standard patterns are similar to each other to create similar category sets, and selecting similar areas where patterns are similar to each other for each similar category set. and a different region where the patterns are different from each other; a determining means for determining whether or not a similar category set including the category name exists for the category name selected by the selecting means; If it is determined that a similar category set exists, a similar region corresponding to the similar category set is extracted from the storage means, and the degree of relative variation between the unknown pattern and the standard pattern is calculated in this similar region. Based on the verification means to be measured and the degree of variation measured by this verification means,
A changing means for changing the unknown pattern or the standard pattern to reduce the degree of variation, extracting a difference region corresponding to the similar category set from the storage means, and extracting the difference region corresponding to the similar category group from the storage means, and extracting the difference region corresponding to the similar category set from the storage means, A pattern recognition device comprising: determining means for comparing an unknown pattern with all standard patterns in the similar category set and determining a category name for the unknown pattern from the comparison result.
(2)各類似カテゴリ組毎にパターンの互に類似する類
似領域とパターンの互に相違する相違領域とを記憶する
記憶手段は、類似領域マスクパターン及び相違領域マス
クパターンの形で記憶することを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のパターン認識装置。
(2) The storage means for storing similar regions where patterns are similar to each other and different regions where patterns are different from each other for each similar category group stores them in the form of a similar region mask pattern and a different region mask pattern. A pattern recognition device according to claim 1, characterized in that:
JP62041659A 1987-02-25 1987-02-25 Pattern recognizing device Pending JPS63208182A (en)

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