JPS63208060A - Electrophotographic sensitive body - Google Patents

Electrophotographic sensitive body

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JPS63208060A
JPS63208060A JP4164487A JP4164487A JPS63208060A JP S63208060 A JPS63208060 A JP S63208060A JP 4164487 A JP4164487 A JP 4164487A JP 4164487 A JP4164487 A JP 4164487A JP S63208060 A JPS63208060 A JP S63208060A
Authority
JP
Japan
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layer
electrophotographic photoreceptor
thin
photoconductive
film
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Pending
Application number
JP4164487A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideji Yoshizawa
吉澤 秀二
Tatsuya Ikesue
龍哉 池末
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS63208060A publication Critical patent/JPS63208060A/en
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    • G03GELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08264Silicon-based comprising seven or more silicon-based layers

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  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To obtain an electrophotographic sensitive body which has a high traveling property of a carrier and has high resistance and excellent electric charge characteristic by using the superlattice structure constituted by laminating thin layers having optical band gaps different from each other on a photoconductive layer. CONSTITUTION:The photoconductive layer 3 is constituted of an electric charge generating layer 6 and an electric charge holding layer 5. The charge generating layer 6 contains at least either of amorphous silicon and fine crystal silicon. The charge holding layer 5 is constituted by alternately laminating thin amorphous silicon films contg. at least one kind of element selected from carbon, oxygen and nitrogen and thin fine crystalline silicon films. The degrees of crystallization of the thin fine crystalline silicon films are changed in each of the thin films in the layer thickness direction. These thin films vary in the optical band gaps and the respective thicknesses thereof are in a 30-200Angstrom range. The excellent traveling property of the carrier and high photoconductive characteristics are thereby obtd. and a sharper image is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、帯電特性、暗減衰特性、光感度特性及び耐環
境性等が優れた電子写真感光体に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to an electrophotographic photoreceptor having excellent charging characteristics, dark decay characteristics, photosensitivity characteristics, environmental resistance, and the like.

[従来の技術] 水素(H)’e金含有るアモルファスシリ、コン(以下
、a−8t:Hと略す)は、近年、光電変換材料として
注目されておυ、太陽電池、薄膜トランジスタ、及びイ
メージセンサ等のほか、電子写真プロセスの感光体に応
用されている。
[Prior Art] Amorphous silicon containing hydrogen (H)'e gold (hereinafter abbreviated as a-8t:H) has recently attracted attention as a photoelectric conversion material, and is used in solar cells, thin film transistors, and images. In addition to sensors, it is applied to photoreceptors in electrophotographic processes.

従来、電子写真感光体の光導電層を構成する材料として
、CdS 、 ZnO、Ss 、若しくは5e−Te等
の無機材料又はyje!J−N−ビニルカルバゾール(
pvcz )若しくはトリニトロフルオレノン(TNF
)等の有機材料が使用されていた。しかしながら、a−
81:Hはこれらの無機材料又は有機材料に比して、無
公害物質であるため回収処理の必要がないこと、可視光
領域で高い分光感度を有すること、並びに表面硬度が高
く耐磨耗性及び耐衝撃性が優れていること等の利点を有
している。このため、a−81: Hは電子写真プロセ
スの感光体制置として注目されている。
Conventionally, inorganic materials such as CdS, ZnO, Ss, or 5e-Te, or yje! J-N-vinylcarbazole (
pvcz ) or trinitrofluorenone (TNF
) and other organic materials were used. However, a-
Compared to these inorganic or organic materials, 81:H is a non-polluting substance and does not require recovery treatment, has high spectral sensitivity in the visible light region, and has a high surface hardness and wear resistance. It has advantages such as excellent impact resistance. For this reason, a-81:H is attracting attention as a photoreceptor device for electrophotographic processes.

このa−8i:Hは、カーールソン方式に基づく感光体
材料として検討が進められているが、この場合、感光体
特性として抵抗及び光感度が高いことが要求される。し
かしながら、この両特性を単一の感光体で満足させるこ
とが困難であるため、光導電層と導電性支持体との間に
障壁Wiを設け、かつ光導電層上に表面電荷保持層金膜
けた積層型の構造にすることによシ、このような要求を
満足させている。
This a-8i:H is being studied as a photoreceptor material based on the Carlson method, but in this case, high resistance and photosensitivity are required as photoreceptor characteristics. However, since it is difficult to satisfy both of these characteristics with a single photoreceptor, a barrier Wi is provided between the photoconductive layer and the conductive support, and a gold film is formed as a surface charge retention layer on the photoconductive layer. These requirements are satisfied by creating a multi-layered structure.

[発明が解決しようとする問題点] ところで、a−8i:Hは、通常、シラ/系ガス全使用
したグロー放電分解法によシ形成されるが、この際に、
a−8i:H膜中に水素が取シ込まれ、水素毫の差によ
り電気的及び光学的特性が大きく変動する。即ち、a−
8i:H膜に侵入する水素の量が多くなると、光学的バ
ンドギャップが大きくなシ、a=81:Hの抵抗が高く
なるが、それにともない、長波長光に対する光感度が低
下してし゛まうので、例えば、半導体レーザを搭載した
レーザビームプリンタに使用することが困難である。ま
た、a−8i:H膜中の水素の含有風が多くなると、成
膜条件によって、 (SiH2)n及び5iH7等の結
合指造を有するものが膜中で大部分の領域を占める場合
がある。そうすると、ディトが増加し、シリコンのダン
グリングゲンドが増加するため、光導電特性が劣化し、
電子写真感光体として使用不能になる。
[Problems to be Solved by the Invention] By the way, a-8i:H is usually formed by a glow discharge decomposition method using all silica/based gases, but at this time,
a-8i: Hydrogen is incorporated into the H film, and the electrical and optical characteristics vary greatly due to the difference in hydrogen concentration. That is, a-
As the amount of hydrogen that enters the 8i:H film increases, the optical bandgap becomes larger and the resistance of a=81:H increases, but as a result, the photosensitivity to long wavelength light decreases. For example, it is difficult to use it in a laser beam printer equipped with a semiconductor laser. In addition, when the amount of hydrogen in the a-8i:H film increases, depending on the film formation conditions, those with bonding structures such as (SiH2)n and 5iH7 may occupy most of the area in the film. . In this case, the photoconductive properties are deteriorated due to the increase in DET and the increase in silicon dangling.
It becomes unusable as an electrophotographic photoreceptor.

逆に、 a−8l :H中に取込まれる水素の量が低下
すると、光学的バンドギャップが小さくな9、その抵抗
が小さくなるが、長波長光に対する光感度が増加する。
Conversely, as the amount of hydrogen incorporated into a-8l:H decreases, its optical bandgap becomes smaller9, its resistance decreases, but its photosensitivity to longer wavelength light increases.

しかし、水素含有量が少ないと、シリコンのダングリン
グがンドと結合してこれを減少させるべき水素が少なく
なる。このため、発生するキャリアの移動度が低下し、
寿命が短くなると共に、光導電特性が劣化してしまい、
電子写真感光体として使用し難いものとなる。
However, when the hydrogen content is low, there is less hydrogen to reduce the silicon dangling bond bonding. Therefore, the mobility of the generated carriers decreases,
As the lifespan becomes shorter, the photoconductive properties deteriorate,
This makes it difficult to use as an electrophotographic photoreceptor.

このように、電子写真感光体の光導電層を単一のa−8
1:H層のみで構成したのでは、a−81: H,1の
製造条件によって特性が大きく変化し、望ましい特性が
得られないという問題がある。
In this way, the photoconductive layer of the electrophotographic photoreceptor can be formed into a single a-8
If it is composed of only the 1:H layer, there is a problem that the characteristics change greatly depending on the manufacturing conditions of a-81:H,1, and desired characteristics cannot be obtained.

本発盟は、かかる事情に鑑みてなされたものでく、基板
との密着性が良く、耐環境性が優れた電子写真感光体を
提供することを目的とする。
The present invention was made in view of the above circumstances, and the purpose is to provide an electrophotographic photoreceptor that has good adhesion to a substrate and excellent environmental resistance.

[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明者らは、種々研究を重ねた結果、電子写真感光体
の光導電層を電荷保持JζJと電荷発生層とによシ構成
し、電荷保持層に所定の複数の半導体膜の′JfftJ
5を即ち超格子構造の領域を形成することにより、上記
目的を達成し得ることを見出し、本発明を完成するに至
った。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) As a result of various studies, the present inventors have constructed a photoconductive layer of an electrophotographic photoreceptor consisting of a charge retention JζJ and a charge generation layer. , 'JfftJ of a plurality of predetermined semiconductor films in the charge retention layer.
The present inventors have discovered that the above object can be achieved by forming a region having a superlattice structure.The present invention has thus been completed.

即ち、本発明の電子写真感光体は、導電性支持体と光導
電層とを具備する電子写真感光体であって、前記光導電
層は電荷発生層と電荷保持層とから構成され、前記電荷
発生層は、非晶質シリコンおよび微結晶シリコンのはず
れか一方を含み、前記電荷保持層は、炭素、酸素および
窒素から選ばれた少なくとも1種の元素金倉む非晶質シ
リコン薄膜と、微結晶シリコン薄膜とを交互に積層して
構成され、前記微結晶シリコン薄膜の結晶化度が、層厚
方向に薄膜ごとに変化していることを特徴とする。
That is, the electrophotographic photoreceptor of the present invention is an electrophotographic photoreceptor comprising an electrically conductive support and a photoconductive layer, the photoconductive layer comprising a charge generation layer and a charge retention layer, The generation layer includes one of amorphous silicon and microcrystalline silicon, and the charge retention layer includes an amorphous silicon thin film containing at least one element selected from carbon, oxygen, and nitrogen, and microcrystalline silicon. The microcrystalline silicon thin film is characterized in that the degree of crystallinity of the microcrystalline silicon thin film varies from film to film in the layer thickness direction.

本発明において用いる微結晶シリコン(μc−8t)は
、粒径が約数十オンゲストロムの微結晶化したシリコン
と非晶質シリコンとの混合層によシ形成されているもの
と考えられ、以下のような物性上の特徴を有している。
The microcrystalline silicon (μc-8t) used in the present invention is thought to be formed by a mixed layer of microcrystalline silicon and amorphous silicon with a grain size of about several tens of Angstroms, It has the following physical characteristics.

第一に、X線回析測定では2θが28〜28.5°付近
にある結晶回折ツクターン全話し、ハローのみが現れる
無定形のa−8tから明確に区別される。第二に、μc
−8iの暗抵抗は1(10)0Ω・m以上に調整するこ
とができ、暗抵抗が1050・画のポリクリスタリンシ
リコンからも明確に区別される。
First, in X-ray diffraction measurements, it is clearly distinguished from the amorphous a-8t in which only a halo appears, which is the entire crystal diffraction pattern where 2θ is around 28 to 28.5°. Second, μc
The dark resistance of −8i can be adjusted to 1(10)0Ω·m or more, and it is clearly distinguished from polycrystalline silicon, which has a dark resistance of 1050Ω·m.

本発明で用いる上記μc−8iの光学的バンドギャップ
(Eg’)は、例えば1.55 eVとするのが望まし
い。しかし、一定の範囲で任意に設定することができる
。望ましいEg”e得るため夫々に所要量の水素を添加
し、μc−8l:Hとして使用するのが好ましい。これ
により、シリコンのダングリングピントが補償され、暗
抵抗と明抵抗との調和がとれ、光導電特性が向上する。
The optical bandgap (Eg') of the μc-8i used in the present invention is preferably 1.55 eV, for example. However, it can be set arbitrarily within a certain range. In order to obtain the desired Eg"e, it is preferable to add the required amount of hydrogen to each and use it as μc-8l:H. This compensates for the dangling focus of silicon and balances the dark resistance and bright resistance. , photoconductive properties are improved.

なお\実際のμc−8i膜は一製造条件等の具体的な要
因によって弱いP型またはN型を帯びることが多い(特
にN型になり易い)。そこで、超格子構造全形成するた
めに必要な1型とするために、夫々逆の導電型を有する
不純物を軽くドープして前記のP型またはN型を打消す
のが望ましい。
Note that an actual μc-8i film often takes on a weak P-type or N-type (especially easily becomes an N-type) depending on specific factors such as manufacturing conditions. Therefore, in order to obtain the type 1 required for forming the entire superlattice structure, it is desirable to lightly dope impurities having opposite conductivity types to cancel out the P type or N type.

電荷保持層を構成する微結晶シリコン薄膜の結晶化度は
、好ましくは60〜90チ、より好ましくは60〜80
の範囲で変化させるのがよい。
The crystallinity of the microcrystalline silicon thin film constituting the charge retention layer is preferably 60 to 90, more preferably 60 to 80.
It is best to vary it within the range of .

(作用) 本発明の電子写真感光体では、光導電層に前記超格子構
造が設けられているため、この領域では発生したキャリ
アの寿命が長く、移動度も大きくなる。その理論につい
ては未だ充分に確立しているとは言えないが、超格子構
造に特徴的な周期的井戸型ポテンシャルによる量子効果
であることは疑いがなく、これは特に超格子効果といわ
れる。
(Function) In the electrophotographic photoreceptor of the present invention, since the photoconductive layer is provided with the superlattice structure, carriers generated in this region have a long life and a high mobility. Although the theory has not yet been fully established, there is no doubt that this is a quantum effect due to the periodic well potential characteristic of the superlattice structure, and this is particularly referred to as the superlattice effect.

こうして光導電層でのキャリアの移動度が大きくなり、
またキャリアの寿命が長くなることによって電子写真感
光体の感度は著しく向上することになる。
In this way, carrier mobility in the photoconductive layer increases,
Furthermore, the sensitivity of the electrophotographic photoreceptor is significantly improved due to the longer life of the carrier.

(実施例) 第1図は、本発明の一実施例に係る電子写真感光体の断
面構造を示す図である。同図において、導電性支持体1
の上に障壁層2が形成され、その上に電荷保持層5およ
び電荷発生層6からなる光導電層3が形成されている。
(Example) FIG. 1 is a diagram showing a cross-sectional structure of an electrophotographic photoreceptor according to an example of the present invention. In the figure, conductive support 1
A barrier layer 2 is formed thereon, and a photoconductive layer 3 consisting of a charge retention layer 5 and a charge generation layer 6 is formed thereon.

また、電荷発生jり6の上に表面Nl!4が形成されて
いる。なお、電荷保持層5および電荷発生層6はいずれ
も超格子構造を有している。
Moreover, the surface Nl! 4 is formed. Note that both the charge retention layer 5 and the charge generation layer 6 have a superlattice structure.

以下、第1図に示す電子写真感光体の構成について、よ
り詳細に説明する。
Hereinafter, the structure of the electrophotographic photoreceptor shown in FIG. 1 will be explained in more detail.

導電性支持体1は、通常はアルミニウム製のドラムで構
成される。
The conductive support 1 usually consists of a drum made of aluminum.

障壁層2はμc−8iやa−81:H金柑いて形成して
もよく、またa−BN : H(窒素および水素を添加
したアモルファス硼素)全使用してもよい、更に、絶縁
性の膜を用いてもよい。例えば、μc−8i:H及びa
−8t : Hに炭素C1窒累N及び酸素0から選択さ
れた元素の一種以上全含有させることにより、高抵抗の
絶縁性障壁層を形成することができる。
The barrier layer 2 may be formed of μc-8i or a-81:H kumquat, or may be formed entirely of a-BN:H (amorphous boron to which nitrogen and hydrogen are added), or may be formed of an insulating film. may also be used. For example, μc-8i:H and a
-8t: A high-resistance insulating barrier layer can be formed by completely containing at least one element selected from carbon, Cl, nitride, N, and 0 oxygen.

障壁層2の膜厚は100又〜10μmが好ましい。The thickness of the barrier layer 2 is preferably 100 μm to 10 μm.

上記障壁層2は、導電性支持体1と電荷発生層5との間
の電荷の流れを抑制することによシ感光体表面の電荷保
持機能を高め、感光体の帯電能を高めるために形成され
るものである。従って、半導体層を障壁I−に用いてカ
ールソン方式の感光体を構成する場合には、表面に帯電
させた電荷の保持能力を低下させないために、障壁層2
をP型またはN型とする。即ち、感光体表面を正帯電さ
せる場合には障壁J@ 2 ’i P型とし、表面電荷
を中和する電子が電荷発生層に注入されるのを防止する
The barrier layer 2 is formed to enhance the charge retention function of the surface of the photoreceptor by suppressing the flow of charges between the conductive support 1 and the charge generation layer 5, thereby increasing the charging ability of the photoreceptor. It is something that will be done. Therefore, when a Carlson type photoreceptor is constructed using a semiconductor layer as a barrier I-, the barrier layer 2 is
is P type or N type. That is, when the surface of the photoreceptor is positively charged, the barrier J@2'i P type is used to prevent electrons that neutralize the surface charge from being injected into the charge generation layer.

逆に表面に負帯電させる場合には障壁層2をN型とし、
表面電荷を中和するホールが電荷発生層へ注入されるの
を防止する。障壁J@2から注入されるキャリアは光の
入射で電荷発生層6内に発生するキャリアに対してノイ
ズとなるから、上記のようにしてキャリアの注入を防止
することは感度の向上をもたらす、なお、 、4a−8
1: Hやa−81:H’iP型にする九めには、周期
律表の第■族に属する元素、例えば硼素B、アルミニウ
ムAt 、ガリウムGIL ?インジウムIn、 及び
タリウムTt等全ドーピングすることが好ましい。また
、μc−8l:Hやa−81:HをN型にするためには
周期律表の第V族に属する元素、例えば窒素、燐P1硼
素As 、アンチモンSbs及びビスマスBi等をドー
ピングすることが好ましい。
Conversely, when the surface is negatively charged, the barrier layer 2 is made of N type,
This prevents holes that neutralize surface charges from being injected into the charge generation layer. Since the carriers injected from the barrier J@2 become noise to the carriers generated in the charge generation layer 6 by the incidence of light, preventing carrier injection as described above improves the sensitivity. In addition, , 4a-8
1:H or a-81:H'iP type elements belong to Group Ⅰ of the periodic table, such as boron B, aluminum At, gallium GIL? It is preferable to perform total doping such as indium (In) and thallium (Tt). In addition, in order to make μc-8l:H or a-81:H N-type, it is necessary to dope it with elements belonging to Group V of the periodic table, such as nitrogen, phosphorus P1 boron As, antimony Sbs, and bismuth Bi. is preferred.

電荷発生層6は、光の入射によりキャリアを発生し、こ
のキャリアは、一方の極性のものが感光体表面の帯電電
荷と中和し、他方のものが電荷保持、鳴5内を走行して
導電性支持体1に到着する。
The charge generation layer 6 generates carriers when light is incident thereon, and carriers of one polarity neutralize the charges on the surface of the photoreceptor, while the other carriers retain the charges and travel within the ring 5. The conductive support 1 is reached.

電荷保持層5は、2種類の薄層を交互に積層して構成さ
れている。これら薄層は光学的バンドギャップが相違し
、それぞれ厚みが30〜200Xの範囲にある。このよ
うに、光学的バンドギャップが相互に異なる薄層を積層
することによって、光学的バンドギャップの大きさ自体
に拘シなく、光学的バンドギャップが小さい層を基準に
して光学的バンドギャップが大きな層がバリアとなる周
期的なポテンシャルバリアを有する超格子構造が形成さ
れる。この超格子構造においては、バリア薄層が極めて
薄いので、薄層におけるキャリアのトンネル効果により
、キャリアはバリアを通過して超格子構造中を走行する
。また、このような超格子構造においては、光の入射に
より発生するキャリアの数が多い。従って、光感度が高
い。なお、超格子構造の薄層のバンドギャップと層厚を
変更することにより、ペテロ接合超格子構造を有する層
のみかけのバンドギャップを自由に調整することができ
る。
The charge retention layer 5 is constructed by alternately laminating two types of thin layers. These thin layers have different optical bandgaps and each have a thickness in the range of 30-200X. In this way, by stacking thin layers with mutually different optical bandgaps, the optical bandgap can be made larger based on the layer with the smaller optical bandgap, regardless of the size of the optical bandgap itself. A superlattice structure with periodic potential barriers is formed in which the layers act as barriers. In this superlattice structure, since the thin barrier layer is extremely thin, carriers pass through the barrier and travel through the superlattice structure due to the carrier tunneling effect in the thin layer. Furthermore, in such a superlattice structure, a large number of carriers are generated by incident light. Therefore, it has high photosensitivity. Note that by changing the bandgap and layer thickness of the thin layer having the superlattice structure, the apparent bandgap of the layer having the Peter junction superlattice structure can be freely adjusted.

電荷保持層5および電荷発生層6を構成するa−8i:
Hおよびμc−81:Hにおける水素の含有量は、0.
(10)〜30原子チが好ましく、1〜25原子チがよ
り好捷しい。このような水素の含有量によシ、シリコン
のダングリングプントが補償され、暗抵抗と明抵抗とが
調和のとれたものとなり、光導電特性が向上する。
a-8i constituting the charge retention layer 5 and charge generation layer 6:
The hydrogen content in H and μc-81:H is 0.
(10) to 30 atoms are preferred, and 1 to 25 atoms are more preferred. Such a hydrogen content compensates for silicon dangling, brings the dark resistance and bright resistance into balance, and improves the photoconductive properties.

a−8t:H層eグロー放電分解法により成膜するには
、原料として5IH4及びS1□H5等のシラン類ガス
を反応室に導入し、高周波によりグロー放電することに
よシ薄層中にHi添加することができる。
a-8t: H layer e To form a film by the glow discharge decomposition method, silane gases such as 5IH4 and S1□H5 are introduced into the reaction chamber as raw materials, and glow discharge is performed using high frequency to form a thin layer. Hi can be added.

必要に応じて、シラン類のキャリアゴスとして水素又は
ヘリウム全ガス全使用することができる。
If necessary, hydrogen or helium gas can be used as a carrier gas for silanes.

一方%  5IF4ガス及び5icz4ガス等のハロゲ
ン化ケイ累を原料ガスとして使用することができる。ま
た、シラン加ガスとハロダン化ケイ素ガスとの混合ガス
で反応させても、同様にHi金含有るa−8l:Hを成
膜することができる。なお、グロー放電分解法によらず
、例えば、スパッタリング等の物理的な方法によっても
これ等の薄層全形成することができる。
On the other hand, silica halides such as %5IF4 gas and 5icz4 gas can be used as the source gas. Furthermore, a-8l:H containing Hi gold can be similarly formed by reacting with a mixed gas of silane gas and silicon halide gas. Note that, instead of using the glow discharge decomposition method, the entire thin layer can also be formed by a physical method such as sputtering.

μc−8i層も、a−8i:Hと同様に、高周波グロー
放電分解法により、シランガスを原料として、成膜する
ことができる。この場合に、支持体の温度f a−8l
 : Hを形成する場合よシも高く設定し、高周波電力
もa−8t:Hの場合よりも高く設定すると、μc−8
t:Hを形成しやすくなる。また、支持体温度及び高周
波電力を高くすることによシ、シランガスなどの原料ガ
スの流量全増大させることができ、その結果、成膜速度
を早くすることができる。また、原料ガスのSiH4及
び512H6等の高次のシランがスを水素で希釈したガ
ス全使用することにより、μe−st : Hi−71
4高効率で形成することができる。
Similarly to a-8i:H, the μc-8i layer can also be formed using silane gas as a raw material by the high-frequency glow discharge decomposition method. In this case, the temperature of the support f a-8l
: When forming H, if the shi is set higher and the high frequency power is also set higher than in the case of a-8t:H, then μc-8
t:H becomes easier to form. Furthermore, by increasing the support temperature and high-frequency power, the total flow rate of raw material gas such as silane gas can be increased, and as a result, the film formation rate can be increased. In addition, by using all gases prepared by diluting high-order silanes such as SiH4 and 512H6 with hydrogen, μe-st: Hi-71
4. Can be formed with high efficiency.

μc−81: H及びa−8t : Hf P型にする
ためには、周期律表の第■族に属する元素、例えば、ホ
ウ素B、アルミニウムAt、ガリウムGa 、インジウ
ムIn、及びタリウムTt @ ’fドーピングするこ
とが好ましく、μc−8l : H及びa−8l : 
Hf n型にするためには、周期律表の第V族に属する
元素、例えi! 、窒’7− N tリンP、ヒ素Al
l 、アンチモンSb。
μc-81: H and a-8t: Hf To make the P type, elements belonging to Group Ⅰ of the periodic table, such as boron B, aluminum At, gallium Ga, indium In, and thallium Tt @ 'f Preferably doped, μc-8l: H and a-8l:
To make Hf n-type, an element belonging to Group V of the periodic table, for example i! , Ni'7-Nt Phosphorus P, Arsenic Al
l, antimony Sb.

及びビスマスB1等をドーピングすることが好ましい。It is preferable to dope with bismuth B1 or the like.

このp型不純物又はn型不純物のドーピングにより、支
持体側から光導電層へ電荷が移1訪することが防止され
る。一方、μc−8i : H及びa−8i:Hに、炭
素C2窒素N及び酸素Oから選択された少々くとも1種
の元素を含有させることによシ、高抵抗とし、表面電荷
保持能力を増大させることができる。これら元素の含有
1は5〜40原子チ、好ましくは10〜30原子チであ
る。
This doping with p-type impurities or n-type impurities prevents charge from transferring from the support side to the photoconductive layer. On the other hand, by incorporating at least one element selected from carbon C2 nitrogen N and oxygen O into μc-8i:H and a-8i:H, high resistance can be achieved and the surface charge retention ability can be improved. can be increased. The content of these elements is 5 to 40 atoms, preferably 10 to 30 atoms.

電荷発生層6の上に表面層4が設けられている。A surface layer 4 is provided on the charge generation layer 6.

電荷発生Jツ6のa−81:H等は、その屈折率が3乃
至3.4と比較的大きいため、表面での光反射が起きや
すい。このような光反射が生じると、光導電層又は電荷
発生ノ゛−に吸収される光量の割合いが低下し、光損失
が大きくなる。このため、表面/li 4を設けて反射
を防止することが好ましい。ま念、表面層4を設けるこ
とにより、電荷発生/#6が損傷から保護される。さら
に、表面層を形成することによシ、帯電能が向上し、表
面に電荷がよくのるようになる。表面/fjw形成する
材料としては、a’−8IN : H,a”−810:
H、及びa−8iC: H等の無機化合物並びにポリ塩
化ビニル及びポリアミド等の有機材料がある。
Since the refractive index of a-81:H of the charge generating J-piece 6 is relatively large at 3 to 3.4, light reflection easily occurs on the surface. When such light reflection occurs, the proportion of the amount of light absorbed by the photoconductive layer or the charge generating layer decreases, increasing light loss. For this reason, it is preferable to provide a surface /li 4 to prevent reflections. Note that by providing the surface layer 4, charge generation/#6 is protected from damage. Furthermore, by forming the surface layer, the charging ability is improved, and the charge can be easily deposited on the surface. The materials for forming the surface/fjw are a'-8IN: H, a''-810:
H, and a-8iC: There are inorganic compounds such as H and organic materials such as polyvinyl chloride and polyamide.

このように構成される電子写真感光体の表面を、コロナ
放電により約500Vの正電圧で帯電させると、ポテン
シャルバリアが形成される。この感光体に光(hν)が
入射すると、電荷発生層6で電子と正孔のキャリアが発
生する。この伝導帯の電子は、感光体中の電界により、
表面層41iIIIに向けて加速され、正孔は導電性支
持体1側に向けて加速される。この場合に、電荷保持層
5を構成する超格子構造のポテンシャル井戸層において
は、量子効果のために、超格子構造でない単一層の場合
に比して、キャリアの寿命が5乃至10倍と長い。
When the surface of the electrophotographic photoreceptor constructed in this manner is charged with a positive voltage of about 500 V by corona discharge, a potential barrier is formed. When light (hv) is incident on this photoreceptor, carriers of electrons and holes are generated in the charge generation layer 6. Electrons in this conduction band are moved by the electric field in the photoreceptor,
The holes are accelerated toward the surface layer 41iIII, and the holes are accelerated toward the conductive support 1 side. In this case, in the potential well layer with a superlattice structure constituting the charge retention layer 5, due to quantum effects, the lifetime of carriers is 5 to 10 times longer than in the case of a single layer without a superlattice structure. .

また、超格子構造においては、バンドギャップの不連続
性によp1周期的なバリア層が形成されるが、キャリア
はトンネル効果で容易にバイアス層を通り抜けるので、
キャリアの実効移動度はバルクにおける移動度と同等で
あシ、キャリアの走行性が優れている。以上のごとく、
光学的バンドヤヤップが相違する薄層を積層し之超格子
構造によれば、高光導電特性を得ることができ、従来の
感光体よりも鮮明な画像を得ることができる。
In addition, in the superlattice structure, a p1 periodic barrier layer is formed due to bandgap discontinuity, but carriers easily pass through the bias layer due to the tunnel effect.
The effective mobility of the carrier is equivalent to that in the bulk, and the carrier has excellent mobility. As mentioned above,
A superlattice structure in which thin layers with different optical band widths are laminated makes it possible to obtain high photoconductivity and to obtain clearer images than conventional photoreceptors.

以下に第2図を参照し、上記実施例の電子写真感光体を
グロー放電法により製造する装置、並びに製造方法全説
明する。同図において、ガスボンベ21 t 22 *
 23 s 24には、例えば夫々5IH4゜B2H6
# B2 t CH4等の原料ガスが収容されている。
Below, with reference to FIG. 2, an apparatus and a manufacturing method for manufacturing the electrophotographic photoreceptor of the above embodiment by a glow discharge method will be fully explained. In the same figure, gas cylinder 21 t 22 *
23 s 24, for example, 5IH4°B2H6
# B2 t Contains raw material gas such as CH4.

これらがス?ンベ内のガスは、流量調整用のパルプ26
及び配管27全介して混合器28に供給されるようにな
っている。各ボンベには圧力計25が設置されておシ、
該圧力計25全監視しつつパルプ26f調整することに
よシ混合器28に供給する各原料ガスの流量及び混合比
を調節できる。
Are these Su? The gas in the chamber is passed through pulp 26 for flow rate adjustment.
and is supplied to the mixer 28 through all of the piping 27. Each cylinder is equipped with a pressure gauge 25.
By adjusting the pulp 26f while monitoring the pressure gauge 25, the flow rate and mixing ratio of each raw material gas supplied to the mixer 28 can be adjusted.

混合器28にて混合されたガスは反応容器29に供給さ
れる。反応容器29の底部31には、回転Il′lll
30が鉛直方向の回りに回転可能に取付けられている。
The gases mixed in the mixer 28 are supplied to a reaction vessel 29. At the bottom 31 of the reaction vessel 29, there is a rotating Il'llll
30 is mounted rotatably around the vertical direction.

該回転軸30の上端に、円板状の支持台32がその面を
回転軸30に垂直にして固定されている。反応容器29
内には、円筒状の電極33がその軸中心を回転軸30の
軸中心と一致させて底部31上に設置されている。感光
体のドラム基体34が支持台32上にその軸中心を回転
軸3゜の軸中心と一致させて載置されており、このドラ
ム基体34の内側にはドラム基体加熱用のヒータ35が
配設されている。電極33とドラム基本34との間には
高周波電源36が接続されておシ、電極33およびドラ
ム基体34間に高周波電流が供給されるようになってい
る。回転軸3oはモータ38により回転、駆動される。
A disk-shaped support 32 is fixed to the upper end of the rotating shaft 30 with its surface perpendicular to the rotating shaft 30. Reaction container 29
Inside, a cylindrical electrode 33 is installed on the bottom 31 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 30. A drum base 34 of the photoreceptor is placed on a support base 32 with its axial center aligned with the axial center of the rotating shaft 3°, and a heater 35 for heating the drum base is arranged inside the drum base 34. It is set up. A high frequency power source 36 is connected between the electrode 33 and the drum base 34 so that a high frequency current is supplied between the electrode 33 and the drum base 34. The rotating shaft 3o is rotated and driven by a motor 38.

反応容器29内の圧力は圧力計37によυ監視され、反
応容器29はダートバルブ38を介して真空ポンプ等の
適宜の排気手段に連結されている。
The pressure inside the reaction vessel 29 is monitored by a pressure gauge 37, and the reaction vessel 29 is connected via a dart valve 38 to a suitable evacuation means such as a vacuum pump.

上記製造装置により感光体を製造する場合には、反応容
器29内にドラム基体34を設置した後、ダートバルブ
39を開にして反応容器29内を約0、 I Torr
の圧力以下に排気する。次いで、ぜンペ21.22.2
3924から所要の反応がスを所定の混合比で混合して
反応容器29内に導入する。
When manufacturing a photoreceptor using the above-mentioned manufacturing apparatus, after installing the drum base 34 in the reaction container 29, the dart valve 39 is opened and the inside of the reaction container 29 is heated to about 0.1 Torr.
Evacuate to below pressure. Next, Zenpe 21.22.2
3924 and the necessary reaction mixtures are mixed at a predetermined mixing ratio and introduced into the reaction vessel 29.

この場合に、反応容器29内に導入するガス流゛Iは反
応容器29内の圧力が0.1乃至1. OTorrにな
るように設定する。次いで、モータ38を作動させてド
ラム基体34を回転させ、ヒータ35によりドラム基体
34を一定温度に加熱すると共に、高周波電源36によ
り電極33とドラム基体34との間に高周波電流を供給
して、両者間にグロー放電を形成する。これによシ、ド
ラム基体34上にa−8t : Hが堆積する。なお、
原料がス中にN20゜NH3,No□lN2.CH4,
C2H4,0□がス等を使用することにより、炭素−1
,酸素、窒累をa−81:H中に含有させることができ
る。
In this case, the gas flow I introduced into the reaction vessel 29 has a pressure within the reaction vessel 29 of 0.1 to 1. Set it to OTorr. Next, the motor 38 is operated to rotate the drum base 34, the heater 35 heats the drum base 34 to a constant temperature, and the high frequency power supply 36 supplies high frequency current between the electrode 33 and the drum base 34. A glow discharge is formed between the two. As a result, a-8t:H is deposited on the drum base 34. In addition,
The raw material is in a bath with N20°NH3, No□lN2. CH4,
By using C2H4,0□, etc., carbon-1
, oxygen, and nitrogen can be contained in a-81:H.

このように、本発明に係る電子写真感光体は、クローズ
ドシステムの製造装置で製造するこトカできるため、人
体に対して安全である。
As described above, the electrophotographic photoreceptor according to the present invention can be manufactured using a closed system manufacturing apparatus, and therefore is safe for the human body.

次に、本発明に係る電子写真感光体を成膜し、電子写真
特性を試験した結果について説明する。
Next, the results of testing the electrophotographic properties of an electrophotographic photoreceptor according to the present invention formed into a film will be described.

試験例1 必要に応じて、干渉防止の念めに、酸処理、アルカリ処
理及びサンドブラスト処理を施し念直径が80閣、幅が
350Mのアルミニウム製ドラム基体を反応容器内に装
着し、反応容器を約10−5トルの真空度に排気した。
Test Example 1 If necessary, in order to prevent interference, an aluminum drum base with a diameter of 80 mm and a width of 350 m, which has been subjected to acid treatment, alkali treatment, and sandblasting, is installed in the reaction vessel. The vacuum was evacuated to approximately 10-5 Torr.

ドラム基体を250℃に加熱し、10 rpmで自転さ
せつつ、SiH4ガスを500 SCCM 1B2T(
6ガスをS iH4ガスに対する流量比で10 という
流量で反応容器内に導入し、反応容器内の圧力f I 
Torr K調節した。そして、13、56 MHzの
高周波電力を印加してプラズマを生起させ、ドラム基体
上にp型のa−8iC: H障壁層を形成した。
The drum base was heated to 250°C and rotated at 10 rpm, while SiH4 gas was heated at 500 SCCM 1B2T (
6 gas was introduced into the reaction vessel at a flow rate ratio of 10 to SiH4 gas, and the pressure in the reaction vessel f I
Torr K adjusted. Then, high frequency power of 13.56 MHz was applied to generate plasma to form a p-type a-8iC:H barrier layer on the drum substrate.

次に、S iH4ガスを500 SCCM 、 )12
ガスを250 SCCM、 CH4ガスを30 SCC
Mという流量で導入し、反応容器内f I Torrと
し、400Wの高周波電力を印加し、120Xのa−8
IC: H薄層を形成した。次いで、5IH4ガス16
0800M% H2ガス’t 600 SCCMという
流量で導入し、反応容器内の圧力を1.2 Torrと
し、1.2 kWの高周波電力を印加して、120Xの
μc−8t : HFIJ層を形成した。このような操
作を繰返して、12μmの超格子構造の電荷保持層を形
成した。なお、μc−81:H薄層の形成に際しては、
各薄層の形成ごとにS!H4ガスの流fを減少し、最終
的に308CCMとし、結晶化度を60%から80慢へ
と変化させた。
Next, SiH4 gas was added to 500 SCCM, )12
250 SCCM of gas, 30 SCC of CH4 gas
The flow rate of 120X was introduced at a flow rate of M, the temperature was set to f I Torr in the reaction vessel, and a high frequency power of 400W was applied.
IC: A thin H layer was formed. Then, 5IH4 gas 16
0800M% H2 gas was introduced at a flow rate of 600 SCCM, the pressure inside the reaction vessel was set to 1.2 Torr, and a high frequency power of 1.2 kW was applied to form a 120X μc-8t:HFIJ layer. Such operations were repeated to form a charge retention layer having a superlattice structure of 12 μm. In addition, when forming the μc-81:H thin layer,
S for each thin layer formed! The H4 gas flow f was reduced to a final value of 308 CCM and the crystallinity was changed from 60% to 80%.

次いで、SiH4がスを500800M% H2ガスを
250 SCCM、  B2H6ガスf:5iIf4ガ
スに対する流量比で10 という流量で導入し、反応容
器内の圧力f I Torrとし%400Wの高周波電
力を印加して151krnのμe−8i : H薄層か
らなる電荷発生/!fを形成し念。
Next, 500800M% of SiH4 gas was introduced at a flow rate of 250 SCCM with a flow rate ratio of 10 to B2H6 gas f:5iIf4 gas, the pressure in the reaction vessel was set to f I Torr, and high frequency power of %400 W was applied to 151 krn. μe-8i: Charge generation consisting of H thin layer/! Please form f.

最後に、0.1七のa−8IC: H薄71からなる表
面層を形成した。
Finally, a surface layer consisting of 0.17 a-8 IC: H thin 71 was formed.

このようにして形成した感光体表面を約500Vで正帯
電し、白色光”t−i光すると、この光は電荷発生層で
吸収され、電子正孔対のキャリアが発生する。この試験
例においては、多数のキャリアが発生し、キャリアの寿
命が高く、窩い走行性が得られた。これにより、鮮明で
高品質の画像が得られた。また、この試験例で製造され
た感光体を、繰返し帯電させたととる、転写画像の再現
性及び安定性は極めて良好であり、更に、耐コロナ性。
When the surface of the photoreceptor thus formed is positively charged at about 500V and exposed to white light, the light is absorbed by the charge generation layer and carriers of electron-hole pairs are generated.In this test example, In this test, a large number of carriers were generated, the carrier had a long life, and good running performance was obtained.As a result, clear and high-quality images were obtained.In addition, the photoreceptor manufactured in this test example When repeatedly charged, the reproducibility and stability of the transferred image are extremely good, and furthermore, it has corona resistance.

耐湿性、及び耐磨耗性等の耐久性が優れていることが実
証された。
It has been demonstrated that it has excellent durability such as moisture resistance and abrasion resistance.

このようにして製造された感光体は、半導体レーザの発
振波長である780乃至790 nmの長波長光に対し
ても高い感度を有する。この感光体を半導体レーザプリ
ンタに搭載してカールソンプロセスにより画像を形成し
たところ、感光体表面の露光量が25 ergcrn”
である場合でも、鮮明で高解像度の画像を得ることがで
き念。
The photoreceptor manufactured in this manner has high sensitivity even to long wavelength light of 780 to 790 nm, which is the oscillation wavelength of a semiconductor laser. When this photoconductor was installed in a semiconductor laser printer and an image was formed using the Carlson process, the exposure amount on the photoconductor surface was 25 ergcrn.
Make sure you can't get clear, high-resolution images even if you are.

試験例2 電荷発生層をμc−Sl:)(により構成したことを除
き、試験例1と同様の方法で電子写真感光体を製造した
Test Example 2 An electrophotographic photoreceptor was manufactured in the same manner as Test Example 1, except that the charge generation layer was composed of μc-Sl:).

電荷発生層は、5IH4ガスを30 SCCM、 H2
ガスk 600 SCCMという流量で導入し、反応容
器内の圧力を1.2 Torrとし、1.2 kWO高
周波電力を印加することにより得られた。
The charge generation layer is made of 5IH4 gas at 30 SCCM, H2
This was obtained by introducing gas at a flow rate of k 600 SCCM, setting the pressure inside the reaction vessel to 1.2 Torr, and applying 1.2 kWO high frequency power.

この感光体?用いて、試験例1と同様にして画像を形成
したところ、鮮明で高品質の画像が得られた。
This photoreceptor? When an image was formed using the same method as in Test Example 1, a clear and high quality image was obtained.

試験例3 電荷保持層全構成する一方の薄膜であるa−8iC:H
薄層の代わシにa−8IN : H薄層全形成したこと
を除き、試験例1と同様にして電子写真感光体を製造し
た。
Test Example 3 A-8iC:H, one of the thin films constituting the entire charge retention layer
An electrophotographic photoreceptor was produced in the same manner as in Test Example 1, except that a thin layer of a-8IN:H was entirely formed instead of the thin layer.

a−8IN : H薄層は、5IH4ガス’Th 50
0 SCCM。
a-8IN: H thin layer is 5IH4 gas'Th 50
0 SCCM.

N2がスを120 SCCM、 H2ガスを250 S
CCMという流量で導入し、反応容器内の圧力を1.2
 Torrとし、400Wの高周波電力を印加すること
により得られた。
N2 gas at 120 SCCM, H2 gas at 250 S
It was introduced at a flow rate of CCM, and the pressure inside the reaction vessel was set to 1.2.
Torr, and was obtained by applying 400 W of high frequency power.

この感光体を用いて、試験例1と同様にして画像を形成
したところ、鮮明で高品質の画像が得られた。
When an image was formed using this photoreceptor in the same manner as in Test Example 1, a clear and high quality image was obtained.

試験例4 電荷保持/?iを構成するμe−81: H薄層の結晶
化度を第3図に示すように変化させたことを除き、試験
例1と同様の方法で電子写真感光体を製造した。
Test example 4 Charge retention/? An electrophotographic photoreceptor was manufactured in the same manner as in Test Example 1, except that the crystallinity of the μe-81:H thin layer constituting i was changed as shown in FIG.

これら感光体を用いて、試験例1と同様にして画像を形
成したところ、鮮明で高品質の画像が得られた。
When images were formed using these photoreceptors in the same manner as in Test Example 1, clear and high quality images were obtained.

試験例5 電荷保持層を構成するμc−8i : H薄層の結晶化
度を第3図に示すように変化させたことを除き、試験例
2と同様の方法で電子写真感光体を製造した。
Test Example 5 An electrophotographic photoreceptor was manufactured in the same manner as Test Example 2, except that the crystallinity of the μc-8i:H thin layer constituting the charge retention layer was changed as shown in FIG. .

これら感光体を用いて、試験例1と同様にして画像全形
成したところ、鮮明で高品質の画像が得られた。
When the entire image was formed using these photoreceptors in the same manner as in Test Example 1, a clear and high quality image was obtained.

なお、電荷保持層および電荷発生/&に構成する薄層の
種類は、上記試験例のように2種類に限らず、3種類以
上の薄層を積層しても良く、要するに、光学的バンドギ
ャップが相違する薄層の境界全形成すれば良い。
Note that the types of thin layers constituting the charge retention layer and charge generation/& are not limited to two types as in the above test example, but three or more types of thin layers may be laminated. It is sufficient to form all the boundaries between thin layers with different values.

[発明の効果] この発明によれば、電荷保持層に、光学的バンドギャッ
プが相互に異なる薄層を積層して構成される超格子構造
ヲ使用するから、キャリアの走行性が高いと共に、高抵
抗で帯電特性が優れた電子写真感光体を得ることができ
る。特に、この発明においては、薄層を形成する材料を
適宜組み合わせることにより、任意の波長帯の光に対し
て最適の光導電特性を有する感光体を得ることができる
という利点がある。
[Effects of the Invention] According to the present invention, since a superlattice structure formed by laminating thin layers with mutually different optical band gaps is used in the charge retention layer, carrier mobility is high and high efficiency is achieved. An electrophotographic photoreceptor with excellent resistance and charging characteristics can be obtained. In particular, the present invention has the advantage that by appropriately combining materials forming the thin layer, it is possible to obtain a photoreceptor having optimal photoconductive properties for light in any wavelength band.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の実施例に係る電子写真感光体を示す断
面図、第2図は本発明の実施例に係る電子写真感光体の
製造装置を示す図、第3図は、微結晶シリコン薄膜の結
晶化度の変化を示す図である。 1・・・導電性支持体、2・・・障壁層、3・・・光導
電層、4・・・表面層、5・・・電荷保持層、6・・・
電荷発生層。 (a) (C) (e) 纂 4厚 (b) 層1 (d) 層厚 (f) 3 図
FIG. 1 is a sectional view showing an electrophotographic photoreceptor according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing an apparatus for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to an embodiment of the invention, and FIG. FIG. 3 is a diagram showing changes in the crystallinity of a thin film. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Conductive support, 2... Barrier layer, 3... Photoconductive layer, 4... Surface layer, 5... Charge retention layer, 6...
Charge generation layer. (a) (C) (e) Layer 4 thickness (b) Layer 1 (d) Layer thickness (f) 3 Figure

Claims (11)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)導電性支持体と光導電層とを有する電子写真感光
体において、前記光導電層は電荷発生層と電荷保持層と
から構成され、前記電荷発生層は、非晶質シリコンおよ
び微結晶シリコンのいずれか一方を含み、前記電荷保持
層は、炭素、酸素および窒素から選ばれた少なくとも1
種の元素を含む非晶質シリコン薄膜と、微結晶シリコン
薄膜とを交互に積層して構成され、前記微結晶シリコン
薄膜の結晶化度が、層厚方向に薄膜ごとに変化している
ことを特徴とする電子写真感光体。
(1) In an electrophotographic photoreceptor having a conductive support and a photoconductive layer, the photoconductive layer is composed of a charge generation layer and a charge retention layer, and the charge generation layer is composed of amorphous silicon and microcrystalline silicon. The charge retention layer contains at least one selected from carbon, oxygen, and nitrogen.
It is constructed by alternately laminating amorphous silicon thin films containing seed elements and microcrystalline silicon thin films, and the crystallinity of the microcrystalline silicon thin films changes from film to film in the layer thickness direction. Characteristic electrophotographic photoreceptor.
(2)前記薄膜の膜厚は、30〜200Åであることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体
(2) The electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein the thin film has a thickness of 30 to 200 Å.
(3)前記光導電層は、周期律表第III族および第V族
に属する元素から選ばれた少なくとも一種の元素を含む
ことを特徴とする特許請求の範囲第1又は2項記載の電
子写真感光体。
(3) The electrophotographic image according to claim 1 or 2, wherein the photoconductive layer contains at least one element selected from elements belonging to Group III and Group V of the periodic table. Photoreceptor.
(4)前記電荷発生層は、炭素、酸素および窒素から選
ばれた少なくとも一種の元素を含むことを特徴とする特
許請求の範囲第1〜3項のうちのいずれか1項記載の電
子写真感光体。
(4) The electrophotographic photosensitive material according to any one of claims 1 to 3, wherein the charge generation layer contains at least one element selected from carbon, oxygen, and nitrogen. body.
(5)前記電荷発生層の結晶度が層厚方向に変化してい
ることを特徴とする特許請求の範囲第1〜4項のうちの
いずれか1項記載の電子写真感光体。
(5) The electrophotographic photoreceptor according to any one of claims 1 to 4, wherein the crystallinity of the charge generation layer changes in the layer thickness direction.
(6)前記電荷保持層を構成する微結晶シリコン薄膜は
、炭素、酸素および窒素から選ばれた少なくとも1種を
含むことを特徴とする特許請求の範囲第1〜5項のうち
のいずれか1項記載の電子写真感光体。
(6) Any one of claims 1 to 5, wherein the microcrystalline silicon thin film constituting the charge retention layer contains at least one selected from carbon, oxygen, and nitrogen. The electrophotographic photoreceptor described in .
(7)前記電荷保持層を構成する非晶質シリコン薄膜に
含まれる元素の濃度が層厚方向に薄膜ごとに変化してい
ることを特徴とする特許請求の範囲第1〜6項のうちの
いずれか1項記載の電子写真感光体。
(7) The concentration of the element contained in the amorphous silicon thin film constituting the charge retention layer varies from film to film in the layer thickness direction. The electrophotographic photoreceptor according to any one of the items.
(8)前記導電性支持体と前記光導電層との間に、非晶
質材料又はその少なくとも一部が微結晶化した半導体材
料からなる障壁層が形成されていることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の電子写真感光体。
(8) A patent claim characterized in that a barrier layer made of an amorphous material or a semiconductor material in which at least a portion thereof is microcrystalline is formed between the conductive support and the photoconductive layer. The electrophotographic photoreceptor according to item 1.
(9)前記障壁層は、周期律表第III族および第V族に
属する元素から選ばれた少なくとも1種の元素を含むこ
とを特徴とする特許請求の範囲第8項記載の電子写真感
光体。
(9) The electrophotographic photoreceptor according to claim 8, wherein the barrier layer contains at least one element selected from elements belonging to Group III and Group V of the periodic table. .
(10)前記障壁層は、炭素、酸素および窒素のうちの
少なくとも1種の元素を含むことを特徴とする特許請求
の範囲第8又は9項記載の電子写真感光体。
(10) The electrophotographic photoreceptor according to claim 8 or 9, wherein the barrier layer contains at least one element selected from carbon, oxygen, and nitrogen.
(11)前記光導電層の上に表面層が形成されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子写真感
光体。
(11) The electrophotographic photoreceptor according to claim 1, wherein a surface layer is formed on the photoconductive layer.
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