JPS63202978A - 磁気抵抗デバイス - Google Patents
磁気抵抗デバイスInfo
- Publication number
- JPS63202978A JPS63202978A JP62034991A JP3499187A JPS63202978A JP S63202978 A JPS63202978 A JP S63202978A JP 62034991 A JP62034991 A JP 62034991A JP 3499187 A JP3499187 A JP 3499187A JP S63202978 A JPS63202978 A JP S63202978A
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- JP
- Japan
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- temperature
- bridge
- resistance element
- magnetoresistive
- same chip
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- Pending
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- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
し概要コ
本発明は磁気抵抗素子と同一チップ上に感温抵抗素子を
設け、該素子を温度センシング抵抗の一部として接続し
、デバイスの温度特性を改善するようにした磁気抵抗デ
バイスである。
設け、該素子を温度センシング抵抗の一部として接続し
、デバイスの温度特性を改善するようにした磁気抵抗デ
バイスである。
[産業上の利用分野]
本発明はブリッジ接続した磁気抵抗素子と演算増幅素子
を具備し温度特性を改善した磁気抵抗デバイスに関する
。
を具備し温度特性を改善した磁気抵抗デバイスに関する
。
従来、磁気抵抗素子の温度補償を行うとき、ダイオード
などによる個別素子を接続しているため、小型化するこ
とが困難であり、温度補償されたより小型の磁気抵抗デ
バイスを得ることが要望されている。
などによる個別素子を接続しているため、小型化するこ
とが困難であり、温度補償されたより小型の磁気抵抗デ
バイスを得ることが要望されている。
[従来の技術]
第3図は従来の温度補償された磁気抵抗デバイス回路を
示す図である。第3図において、1−1〜1−4は強磁
性金属薄膜(例えばニッケル・鉄合金N i −F e
)による磁気抵抗素子で、これを2と示すブリッジ回路
に接続する。3は演算増幅器で定電圧回路4から駆動さ
れ、定電流をブリッジ回路2に流す。例えば磁気センサ
を磁束の中に置いたとき、ブリッジ回路2の一つの対角
頂点2−1 、2−2間から磁束の変化を抵抗の変化と
して検出し、ブリッジの他の対角頂点2−3 、2−4
間より、電圧変化として取り出すことができる。磁束変
化が位置変化を換算している場合には、変位検出もでき
る。
示す図である。第3図において、1−1〜1−4は強磁
性金属薄膜(例えばニッケル・鉄合金N i −F e
)による磁気抵抗素子で、これを2と示すブリッジ回路
に接続する。3は演算増幅器で定電圧回路4から駆動さ
れ、定電流をブリッジ回路2に流す。例えば磁気センサ
を磁束の中に置いたとき、ブリッジ回路2の一つの対角
頂点2−1 、2−2間から磁束の変化を抵抗の変化と
して検出し、ブリッジの他の対角頂点2−3 、2−4
間より、電圧変化として取り出すことができる。磁束変
化が位置変化を換算している場合には、変位検出もでき
る。
第3図において、5はダイオード素子を示す。ダイオー
ド素子5は磁気抵抗素子1−1〜1−4の温度特性を補
償するため挿入接続され、且つ磁気抵抗素子と熱的に結
合している。磁気抵抗素子1−1〜1−4によるブリッ
ジ回路2は、その磁気抵抗変化率に温度特性を有し、前
記材料の素子を使用するとき磁界の強さの同一変化に対
し、磁気感度の変化率が温度上昇と共に低下する傾向に
ある。磁気感度変化は −30℃〜25℃において約−0,06%/℃25°C
〜80℃において約−0,11%/℃程度である。その
ため温度上昇と共にブリッジ回路2に流す定電流値を増
大させるように、図示するダイオード素子5を挿入接続
する。ダイオードの両端の電圧値に対する温度特性は一
2m V / ”C程度であるから、温度上昇の時に演
算増幅器3に対し大電圧を印加する。またブリッジ回路
2に流れる電流値はセンシング抵抗8で検出し、演算増
幅器3の他方の端子に印加しているので演算増幅器3の
出力即ち、定電流源の出力電流値を増加させている。な
お、このダイオード素子の代わりにサーミスタ素子を使
用する構成も検討されている。
ド素子5は磁気抵抗素子1−1〜1−4の温度特性を補
償するため挿入接続され、且つ磁気抵抗素子と熱的に結
合している。磁気抵抗素子1−1〜1−4によるブリッ
ジ回路2は、その磁気抵抗変化率に温度特性を有し、前
記材料の素子を使用するとき磁界の強さの同一変化に対
し、磁気感度の変化率が温度上昇と共に低下する傾向に
ある。磁気感度変化は −30℃〜25℃において約−0,06%/℃25°C
〜80℃において約−0,11%/℃程度である。その
ため温度上昇と共にブリッジ回路2に流す定電流値を増
大させるように、図示するダイオード素子5を挿入接続
する。ダイオードの両端の電圧値に対する温度特性は一
2m V / ”C程度であるから、温度上昇の時に演
算増幅器3に対し大電圧を印加する。またブリッジ回路
2に流れる電流値はセンシング抵抗8で検出し、演算増
幅器3の他方の端子に印加しているので演算増幅器3の
出力即ち、定電流源の出力電流値を増加させている。な
お、このダイオード素子の代わりにサーミスタ素子を使
用する構成も検討されている。
[発明が解決しようとする問題点]
磁気抵抗素子を使用する磁気抵抗デバイスにおいて、温
度補償用に単体素子を挿入接続すると、チップ以外に外
付は抵抗を必要とするからデバイスとして大型化するこ
ととなる。また磁気抵抗素子とその温度補償用素子とを
同じ温度条件下に置くことが難しかった。したがって有
効で小型なデバイスを得ることか困難となっている。
度補償用に単体素子を挿入接続すると、チップ以外に外
付は抵抗を必要とするからデバイスとして大型化するこ
ととなる。また磁気抵抗素子とその温度補償用素子とを
同じ温度条件下に置くことが難しかった。したがって有
効で小型なデバイスを得ることか困難となっている。
本発明の目的は前述の欠点を改善し、磁気抵抗素子のチ
ップと同一チップ上に感温抵抗素子を形成し、できるだ
け小型化して且つ正確に温度補償のできる磁気抵抗デバ
イスを提供することにある。
ップと同一チップ上に感温抵抗素子を形成し、できるだ
け小型化して且つ正確に温度補償のできる磁気抵抗デバ
イスを提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
第1図は本発明の原理構成を示す図である。第1図にお
いて、1−1〜1−4は強磁性金属薄膜による磁気抵抗
素子、2はブリッジ回路、6はチップ、7は感温抵抗素
子、8は温度センシング抵抗の一つ、9は定電流回路を
示す。
いて、1−1〜1−4は強磁性金属薄膜による磁気抵抗
素子、2はブリッジ回路、6はチップ、7は感温抵抗素
子、8は温度センシング抵抗の一つ、9は定電流回路を
示す。
磁気抵抗素子1−1〜L4をブリッジ2接続し、該ブリ
ッジ2の或る対角頂点2−1 、2−2間に定電流を流
し、他の対角頂点2−3.2−4間より出力を取り出す
ようにした磁気抵抗デバイスにおいて、本発明は下記の
構成としている。即ち、 前記磁気抵抗素子1−1〜1−4を設けたチップ6と同
一チップ上に感温抵抗素子7を形成し、該感温抵抗素子
7を定電流回路9の入力端子及びブリッジ回路2の接地
側に接続したことである。
ッジ2の或る対角頂点2−1 、2−2間に定電流を流
し、他の対角頂点2−3.2−4間より出力を取り出す
ようにした磁気抵抗デバイスにおいて、本発明は下記の
構成としている。即ち、 前記磁気抵抗素子1−1〜1−4を設けたチップ6と同
一チップ上に感温抵抗素子7を形成し、該感温抵抗素子
7を定電流回路9の入力端子及びブリッジ回路2の接地
側に接続したことである。
[作用]
感温抵抗素子7が、磁気抵抗素子1−1〜1−4と同一
チップ上に形成されているため、両者の温度は同じと言
えるので、感温抵抗素子7の温度特性が前記ダイオード
素子の特性と同様に負性であれば、温度変化に対応した
電流変化を同様にブリッジ回路に与えることができる。
チップ上に形成されているため、両者の温度は同じと言
えるので、感温抵抗素子7の温度特性が前記ダイオード
素子の特性と同様に負性であれば、温度変化に対応した
電流変化を同様にブリッジ回路に与えることができる。
即ち高温になるとき感温抵抗素子の抵抗値が減少し、定
電流回路9に対しブリッジ回路に流れる電流値を若干増
加させる。
電流回路9に対しブリッジ回路に流れる電流値を若干増
加させる。
また低温に変化したときの動作は逆になる。そのため有
効な温度補償ができる。また該感温抵抗素子7の温度特
性が正性であっても、該定電流回路9のフィードバック
の極性を変えることにより、有効な温度補償が出来る。
効な温度補償ができる。また該感温抵抗素子7の温度特
性が正性であっても、該定電流回路9のフィードバック
の極性を変えることにより、有効な温度補償が出来る。
このとき、抵抗素子8は素子7の感度を調整し、且つ定
電流回路9に対する制御電圧を得るために使用するから
、感温抵抗素子7のみで良好に動作すれば素子7を直接
接地する。
電流回路9に対する制御電圧を得るために使用するから
、感温抵抗素子7のみで良好に動作すれば素子7を直接
接地する。
[実施例]
第2図は本発明の実施例を示す図である。第2図におい
て、11.12は磁気抵抗素子を2組隣接して同一チッ
プ上に形成したものである。実際にはブリッジ状に並ぶ
抵抗素子を1つのウェハ上で多数製作したものについて
、その2個を切り出し、一方の素子群11についてはブ
リッジ状に、他方の素子群12については磁界の影響を
除くため2つ或いは4つをポンディング接続し、ブリッ
ジ接続した磁気抵抗素子と温度センシング抵抗とを形成
させる。即ち他方の抵抗素子群12ではその2つ或いは
4つの抵抗素子が、ブリッジ接続された抵抗素子群11
と接続される。抵抗素子8は感温抵抗素子7の動作特性
が大きい場合の調整用に接続するから、必要に応じて使
用することで良い。この場合若し磁気抵抗素子製造用マ
スクを工夫してブリッジ接続した抵抗素子群の或る一つ
と隣接して感温抵抗素子となるNi−Fe材のみを形成
するときは、基板の所要面積が更に小さくなる。
て、11.12は磁気抵抗素子を2組隣接して同一チッ
プ上に形成したものである。実際にはブリッジ状に並ぶ
抵抗素子を1つのウェハ上で多数製作したものについて
、その2個を切り出し、一方の素子群11についてはブ
リッジ状に、他方の素子群12については磁界の影響を
除くため2つ或いは4つをポンディング接続し、ブリッ
ジ接続した磁気抵抗素子と温度センシング抵抗とを形成
させる。即ち他方の抵抗素子群12ではその2つ或いは
4つの抵抗素子が、ブリッジ接続された抵抗素子群11
と接続される。抵抗素子8は感温抵抗素子7の動作特性
が大きい場合の調整用に接続するから、必要に応じて使
用することで良い。この場合若し磁気抵抗素子製造用マ
スクを工夫してブリッジ接続した抵抗素子群の或る一つ
と隣接して感温抵抗素子となるNi−Fe材のみを形成
するときは、基板の所要面積が更に小さくなる。
次に強磁性金属薄膜を設けたチップをシリコン基板で得
て、同一基板上にドープして得た感温抵抗素子(サーミ
スタなど)を形成しても良い。この場合通常の製造法で
作った強磁性金属薄膜の磁気抵抗素子とボンディング接
続などを行う。このときは感温抵抗素子の温度特性とし
て負性のものが得られるため、温度補償に有効と思われ
る。
て、同一基板上にドープして得た感温抵抗素子(サーミ
スタなど)を形成しても良い。この場合通常の製造法で
作った強磁性金属薄膜の磁気抵抗素子とボンディング接
続などを行う。このときは感温抵抗素子の温度特性とし
て負性のものが得られるため、温度補償に有効と思われ
る。
[発明の効果]
このようにして本発明によると、磁気抵抗素子の設けら
れているチップと同一チップ上に感温抵抗素子を形成し
ているから、抵抗体の導電接続により、温度補償回路を
容易に構成することができる。このときデバイスに外付
けの部品を特に設ける必要がない。また特性の調整素子
を要するとしても小型で高精度の磁気抵抗デバイスを得
ることができる。
れているチップと同一チップ上に感温抵抗素子を形成し
ているから、抵抗体の導電接続により、温度補償回路を
容易に構成することができる。このときデバイスに外付
けの部品を特に設ける必要がない。また特性の調整素子
を要するとしても小型で高精度の磁気抵抗デバイスを得
ることができる。
第1図は本発明の原理構成を示す図、
第2図は本発明の実施例の構成を示す図、第3図は従来
のデバイスを示す図である。 ■−1〜1−4磁気抵抗素子 2−ブリッジ回路 2−1〜2−4−ブリッジ対角頂点 6−チツブ 7−感温抵抗素子 9一定電流回路
のデバイスを示す図である。 ■−1〜1−4磁気抵抗素子 2−ブリッジ回路 2−1〜2−4−ブリッジ対角頂点 6−チツブ 7−感温抵抗素子 9一定電流回路
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 磁気抵抗素子(1−1)〜(1−4)をブリッジ(2
)接続し、該ブリッジ(2)の或る対角頂点(2−1)
、(2−2)間に定電流を流し、他の対角頂点(2−3
)、(2−4)間より出力を取り出すようにした磁気抵
抗デバイスにおいて、 前記磁気抵抗素子(1−1)〜(1−4)を設けたチッ
プ(6)と同一チップ上に感温抵抗素子(7)を設け、
該感温抵抗素子(7)を定電流回路(9)の入力側端子
及びブリッジ回路(2)の接地側に接続したこと を特徴とする磁気抵抗デバイス。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62034991A JPS63202978A (ja) | 1987-02-18 | 1987-02-18 | 磁気抵抗デバイス |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62034991A JPS63202978A (ja) | 1987-02-18 | 1987-02-18 | 磁気抵抗デバイス |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63202978A true JPS63202978A (ja) | 1988-08-22 |
Family
ID=12429609
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62034991A Pending JPS63202978A (ja) | 1987-02-18 | 1987-02-18 | 磁気抵抗デバイス |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63202978A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022209720A1 (ja) * | 2021-03-31 | 2022-10-06 | 株式会社村田製作所 | センサー出力補償回路 |
-
1987
- 1987-02-18 JP JP62034991A patent/JPS63202978A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022209720A1 (ja) * | 2021-03-31 | 2022-10-06 | 株式会社村田製作所 | センサー出力補償回路 |
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