JPS63200041A - Wiring defect detector in ink jet type hybrid ic pattern forming apparatus - Google Patents
Wiring defect detector in ink jet type hybrid ic pattern forming apparatusInfo
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- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims description 34
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 35
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 28
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 abstract description 18
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 12
- 230000003936 working memory Effects 0.000 description 6
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 2-iodoquinoline Chemical compound C1=CC=CC2=NC(I)=CC=C21 FRWYFWZENXDZMU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N alpha-terpineol Chemical compound CC1=CCC(C(C)(C)O)CC1 WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N beryllium oxide Inorganic materials O=[Be] LTPBRCUWZOMYOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N delta-terpineol Natural products CC(C)(O)C1CCC(=C)CC1 SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical group [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229940116411 terpineol Drugs 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
発明の目的
(産業上の利用分野)
この発明はインクジェット式ハイブリッドICパターン
形成装置における配線不良検出装置に関するものである
。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Object of the Invention (Field of Industrial Application) The present invention relates to a wiring defect detection device in an inkjet type hybrid IC pattern forming apparatus.
(従来の技術)
従来、ハイブリッドICパターン形成装置においては、
その回路パターンの描画が完了すると、検査員が顕微鏡
を使用して断線等の配線不良の有無を検査していた。(Prior Art) Conventionally, in a hybrid IC pattern forming apparatus,
Once the circuit pattern was drawn, an inspector used a microscope to check for wiring defects such as disconnections.
(発明が解決しようとする問題点)
この配線不良の検査は検査員による目視にて行なわれて
いたので、同検査は極めて煩雑なものとなるとともに完
全なる検査を行なう上で自ずと限界があった。(Problems to be Solved by the Invention) Inspections for wiring defects were performed visually by inspectors, which made the inspections extremely complicated and naturally had limitations in conducting complete inspections. .
この発明の目的は上記問題点を解消し、回路パターンの
配線不良を正確に検出し、ハイブリッドICの信頼性を
向上させることができるインクジェット式ハイブリッド
ICパターン形成装置にJ3ける配線不良検出装置を提
供することにある。An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and provide a wiring defect detection device for J3 in an inkjet hybrid IC pattern forming apparatus that can accurately detect wiring defects in circuit patterns and improve the reliability of hybrid ICs. It's about doing.
発明の構成
(問題点を解決するための手段)
この発明は上記目的を達成すべく、ハイブリッドIC基
板と回路要素形成物を含むインク溶液の液滴を発射する
液滴吐出器とを相対移動させ、その相対移動中に液滴吐
出装置を発射動作させて前記基板上に所望の回路パター
ンを描画するようにしたインクジェット式ハイブリッド
ICパターン形成装置において、前記相対移動に追従し
て前記液滴吐出器にて発射したインク溶液の液滴を検出
りる液滴検出手段と、前記液滴検出手段の検出γ−夕に
基づいて各液滴の連続状態を判断する配線不良判断手段
とを備えたインクジェット式ハイブリッドICパターン
形成装置における配線不良検出装置をその要旨とするも
のである。Structure of the Invention (Means for Solving Problems) In order to achieve the above object, the present invention relatively moves a hybrid IC substrate and a droplet ejector that ejects droplets of an ink solution containing a circuit element formation. , an inkjet hybrid IC pattern forming apparatus in which a droplet discharge device is ejected during the relative movement to draw a desired circuit pattern on the substrate, the droplet discharge device following the relative movement; An inkjet comprising: a droplet detecting means for detecting droplets of ink solution ejected by the droplet detecting means; and a wiring defect determining means for determining the continuous state of each droplet based on the detection γ-time of the droplet detecting means. The gist of this paper is a wiring defect detection device in a type hybrid IC pattern forming apparatus.
〈作用)
上記手段により、液滴検出手段はハイブリッドIC基板
と液滴吐出器との相対移動に追従して液)^吐出器にて
発射される回路要素形成物を含むインク溶液の液滴が基
板に発射され基板十に付着されたか否か検知できる。そ
の結果、配線不良判断手段はこの液滴検出手段の検出デ
ータに基づいて各液層の連続状態を判断、即ち配線不良
の有無を検出する。(Function) With the above means, the droplet detection means follows the relative movement between the hybrid IC substrate and the droplet ejector, and detects the droplet of the ink solution containing the circuit element formation ejected from the ejector. It is possible to detect whether it has been emitted onto a substrate and attached to the substrate. As a result, the wiring defect determining means determines the continuous state of each liquid layer based on the detection data of the droplet detecting means, that is, detects the presence or absence of a wiring defect.
(実施例)
以下、この発明を具体化した一実施例を図面に従って説
明する。(Example) An example embodying the present invention will be described below with reference to the drawings.
第1図はインクジェット式ハイブリッドIcパターン形
成装置1における配線不良検出装置の概略を示し、同装
置1のテーブル2に設rIされた基台3上には左右方向
くX軸方向)に移動可能なX方向移動台4が配設されて
いる。X方向移動台4は前記基台3の左側面に取着され
たX方向駆動用ステッピングモータMXの駆動軸に駆動
連結されたボールねじが噛み合っている。そして、X方
向駆動用ステッピングモータM×が正逆回転することに
よって、X方向移動台4は左右方向、即ち、X軸方向に
移動されることになる。FIG. 1 schematically shows a wiring defect detection device in an inkjet hybrid IC pattern forming device 1, and a base 3 installed on a table 2 of the device 1 is movable in the left-right direction (X-axis direction). An X-direction moving table 4 is provided. The X-direction moving table 4 is engaged with a ball screw drivingly connected to a drive shaft of an X-direction driving stepping motor MX attached to the left side surface of the base 3. By rotating the X-direction driving stepping motor Mx forward and backward, the X-direction moving table 4 is moved in the left-right direction, that is, in the X-axis direction.
前記X方向移動台4の上面には前後方向(Y軸方向)に
移動可能なY方向移動台5が配設されている。そのY方
向移動台5は前記X方向移動台4の前面に取着されたY
方向駆動用ステッピング七−タMYの駆動軸に駆動連結
されたボールねじ6が噛み合っている。そして、Y方向
駆動用ステッピングし一タMyが正逆回転づることによ
って、Y方向移動台5は前後方向、即ち、Y軸方向に駆
動されることになる。On the upper surface of the X-direction moving table 4, a Y-direction moving table 5 that is movable in the front-rear direction (Y-axis direction) is disposed. The Y-direction moving table 5 is a Y-direction moving table 5 attached to the front surface of the X-direction moving table 4.
A ball screw 6 drivingly connected to the drive shaft of the directional driving stepping heptad MY is engaged. Then, by stepping the Y-direction driving motor My and rotating forward and backward, the Y-direction movable table 5 is driven in the front-rear direction, that is, in the Y-axis direction.
前記Y方向移動台5の上面に形成された凹部7には第2
図に示すように同移動台5の、上面と面一となるように
アルミ製によりなる固定台8が嵌め込まれ、その固定台
8の上面にハイブリッドIC基板(以下、単に基板とい
う)9が載置固定されるようになっている。この基板9
には酸化アルミニウムよりなる基板が使用され、他にも
、窒化アルミニウム、窒化ケイ素又は炭化ケイ素、その
他に酸化ベリリウム、ガラス、ホーロー基板、酸化ジル
コニウム等よりなる基板が使用される。The recess 7 formed on the upper surface of the Y-direction moving table 5 has a second
As shown in the figure, a fixed base 8 made of aluminum is fitted flush with the top surface of the moving base 5, and a hybrid IC board (hereinafter simply referred to as a board) 9 is mounted on the top surface of the fixed base 8. It is designed to be fixed in place. This board 9
A substrate made of aluminum oxide is used, and substrates made of aluminum nitride, silicon nitride, silicon carbide, beryllium oxide, glass, hollow substrate, zirconium oxide, etc. are also used.
又、固定台8の裏面にはヒータ10が取着され同固定台
8を介して前記基板9を適当な温度に保つJ、うにして
いる。このヒータ10は基板9を暖めることにより後記
づるインク溶液13が基板9上に落ちたとき、インク溶
液13の溶媒を速やかに蒸発させ同インク溶液13の広
がりを防止するものである。Further, a heater 10 is attached to the back surface of the fixing table 8 to maintain the substrate 9 at an appropriate temperature via the fixing table 8. This heater 10 warms the substrate 9 so that when an ink solution 13 (described later) falls onto the substrate 9, the solvent of the ink solution 13 is quickly evaporated and the ink solution 13 is prevented from spreading.
テーブル2の後側にはL状に屈曲形成させて前方に伸ば
したアーム11が設けられ、その先端には液滴吐出器1
2が上方位置において前記固定台8と相対向するように
取着されている。この液滴吐出器12にはその上部に取
着され回路要素形成物を含むインク溶液13を貯留する
タンク14が(イ^えられ、同液滴用出器12は後記す
る制御装置からの制御信号に基づいて作動しタンク14
から送られてくるインク溶液13を固定台8に載置され
た前記基板9上に吐出させる。この吐出動作はインク溶
液13を液滴として1滴づつ吐出させるものである。An arm 11 is provided on the rear side of the table 2 and is bent into an L shape and extends forward.
2 is attached so as to face the fixed base 8 at an upper position. This droplet ejector 12 has a tank 14 attached to its upper part for storing an ink solution 13 containing a circuit element formed therein. The tank 14 operates based on the signal.
The ink solution 13 sent from the ink solution 13 is discharged onto the substrate 9 placed on the fixing table 8. This ejection operation is to eject the ink solution 13 one drop at a time.
従って、前記X方向及びY方向駆動用ステッピングモー
タMx 、Myを駆動制御するとともに、液滴吐出器1
2を作動させることによって、第3図に示すように基板
9の上面に前記インク溶液13による回路パターンの描
画が可能となる。Therefore, while driving and controlling the stepping motors Mx and My for driving in the X direction and the Y direction, the droplet ejector 1
2, it becomes possible to draw a circuit pattern on the upper surface of the substrate 9 using the ink solution 13, as shown in FIG.
尚、液滴吐出器12は本実施例ではピエゾ式インクジェ
ットヘッドが使用され、他にも熱インクジェットヘッド
等の各種のインクジェット方式のプリンタに使用される
インクジェットヘッドとその吐出方式と同様なものが適
宜選択されて使用される。又、インク溶液13には例え
ば溶質を回路要素形成物としての金(ALJ)有機物含
有のペースト(エングルハルト社製)とし、溶媒をα−
テルピネオールとしたインク溶液等の各種の回路要素形
成物としての金属を含んだインク溶液が使用される。In this embodiment, a piezo type inkjet head is used as the droplet ejector 12, but other inkjet heads and ejection methods similar to those used in various inkjet type printers such as thermal inkjet heads can also be used as appropriate. selected and used. In the ink solution 13, for example, the solute is gold (ALJ) as a circuit element forming material, a paste containing an organic substance (manufactured by Englehard), and the solvent is α-
Ink solutions containing various metals for forming circuit elements are used, such as ink solutions containing terpineol.
又、アーム11先端部にJ3 【jる前記液滴吐出器1
2の支持部の近接位置には液滴検出手段としてのカメラ
15が取着され、同カメラ15(まその撮像位置が液滴
吐出器12によるインク溶113の基板9上の到達位置
(付着位置)と一致するようにセットされている。そし
て、このカメラ15はその時々の基板9上のインク溶液
13の液滴の到;上位置を撮像するようになっている。In addition, the droplet ejector 1 is installed at the tip of the arm 11.
A camera 15 as a droplet detection means is attached to a position close to the support part 2, and the imaging position of the camera 15 is the position where the ink melt 113 reached by the droplet ejector 12 on the substrate 9 (adhesion position). ), and this camera 15 is configured to take an image of the top position of the ink solution 13 droplet on the substrate 9 at any given time.
形成装置1の前面には操作パネル16が設けられ、その
パネル16」−のキーボード17を操作することにより
、前記モータMx 、My及び液滴吐出器12を駆動さ
せて基板9の上面に回路パターンの描画を実行させるよ
うになっている。そして、回路パターンが描画された基
板9は焼成炉で焼成され、インク溶液13は分解してイ
ンク溶液中の回路要素形成物が残りそれが膜となってハ
イブリッドIC用の回路パターンが出来上がる。An operation panel 16 is provided on the front side of the forming apparatus 1, and by operating a keyboard 17 on the panel 16'', the motors Mx, My and the droplet ejector 12 are driven to form a circuit pattern on the upper surface of the substrate 9. The drawing is executed. Then, the substrate 9 on which the circuit pattern has been drawn is fired in a firing furnace, and the ink solution 13 is decomposed and the circuit elements formed in the ink solution remain and form a film to complete the circuit pattern for the hybrid IC.
次に、このように構成したインクジェット式ハイブリッ
ドICパターン形成装置1における配線不良検出装置の
電気的構成を説明する。Next, the electrical configuration of the wiring defect detection device in the inkjet hybrid IC pattern forming apparatus 1 configured as described above will be explained.
第4図において、前記操作パネル16に内蔵された配線
不良判断手段としてのマイクロコンピュータ18は中央
演算処理装置(以下、CPUという)19、制御プログ
ラムを記憶した読み出し専用のメモリ(ROM)よりな
るプログラムメモリ20、及び、CPU19の演算処理
動作及び回路パターンデータ等が記憶される読み出し及
び書き替え可能なメモリ(RAM)よりなる作業用メモ
リ21とから構成され、CPU19は前記制御プログラ
ムに従って演算処理動作を実行する。In FIG. 4, a microcomputer 18 built in the operation panel 16 and serving as wiring defect determination means includes a central processing unit (hereinafter referred to as CPU) 19 and a read-only memory (ROM) that stores a control program. It is composed of a memory 20 and a working memory 21 consisting of a readable and rewritable memory (RAM) in which the arithmetic processing operations of the CPU 19, circuit pattern data, etc. are stored, and the CPU 19 performs the arithmetic processing operations according to the control program. Execute.
CPU19は外部装置としてのCADシステム22から
転送されてくる座標データを入力し、前記作業用メ〔す
21の所定の記憶領域に記憶する。The CPU 19 inputs the coordinate data transferred from the CAD system 22 as an external device, and stores it in a predetermined storage area of the work tool 21.
この座標データを基に前記基板9に回路パターンを前記
液滴吐出器12にて描画させるためのデータ、即ち、前
記X方向駆動用ステッピングモータMX 、Y方向駆動
用ステッピングモータMyの回動方向とその回動量、及
び、液滴吐出器12の作動タイミング(液滴光用タイミ
ング)のデータである回路パターンデータが本装置内の
演算処理により作成される。Based on this coordinate data, data for drawing a circuit pattern on the substrate 9 by the droplet ejector 12, that is, the rotation direction of the stepping motor MX for driving in the X direction and the stepping motor My for driving in the Y direction. Circuit pattern data, which is data on the amount of rotation and the operation timing (timing for droplet light) of the droplet ejector 12, is created by arithmetic processing within the apparatus.
cpul 9はこのパターンデータに基づいてモータ駆
動回路23.24を介して前記X方向及びY方向駆動用
ステッピングモータMX 、M’/を駆動制御するとと
もに、吐出型駆動回路25を介して前記液滴吐出器12
を作動制御してインク溶液13を液滴として発射動作さ
せる。尚、CPU19への実行処理指令はキーボード1
7上のキー操作によりなされる。Based on this pattern data, the cpul 9 drives and controls the stepping motors MX and M'/ for driving in the X and Y directions via the motor drive circuits 23 and 24, and also controls the droplet through the ejection type drive circuit 25. Dispenser 12
The ink solution 13 is ejected as droplets by controlling the operation. Note that the execution processing command to the CPU 19 is sent from the keyboard 1.
This is done by operating the keys above.
又、CPU 19は前記カメラ15から画像データを入
力し、その時の基板9−ヒの液滴到達位置にお()る液
滴の付着状態(液層の付着の有無)を検出する。さらに
、CPU19は描画しようとする回路パターンデータと
カメラ15による画像データに基づいて各描画位置にお
ける各液滴の連続状態を判断し配線不良の有無を検出す
るようになっている。Further, the CPU 19 inputs image data from the camera 15, and detects the adhesion state of the droplet (presence or absence of adhesion of a liquid layer) at the droplet arrival position on the substrate 9-A at that time. Furthermore, the CPU 19 determines the continuous state of each droplet at each drawing position based on the circuit pattern data to be drawn and the image data obtained by the camera 15, and detects the presence or absence of wiring defects.
次に、上記のように構成されたインクジェット式ハイブ
リッドICパターン形成装冒1における配線不良検出装
置の作用を第5図に基づいて説明する。Next, the operation of the wiring defect detection device in the inkjet type hybrid IC pattern forming apparatus 1 configured as described above will be explained based on FIG. 5.
今、CA()システム22にて描画すべき回路パターン
を示す座標データが作成されているものとする。キーボ
ード17上のキー操作に基づいてCPU19は同CAD
システム22が作成した座標データを受け、作業用メモ
リ21に記憶すると同時に同データを基に演算処理を実
行し、モータの駆動最や液層吐出タイミング等の回路パ
ターンデータを作成し、作業用メモリ21の別のエリア
に記憶覆る。It is now assumed that the CA( ) system 22 has created coordinate data indicating a circuit pattern to be drawn. Based on key operations on the keyboard 17, the CPU 19
The coordinate data created by the system 22 is received, stored in the working memory 21, and at the same time, arithmetic processing is executed based on the same data to create circuit pattern data such as motor drive timing and liquid layer discharge timing, and the data is stored in the working memory 21. Memories cover 21 different areas.
次に、基板9を固定台8の所定位置にHiF!固定した
状態でキーボード17上のスタートキーが操作されると
、CPLJ19はスタートキーのオン信号に応答して作
業用メモリ21から演算処理の結果作成された回路パタ
ーンデータを読み出し、同データに基づいてX及びY方
向駆動用ステッピングモータMX 、 Myを駆動制御
覆るとともに、液滴吐出器12を作動制御づる。よって
、固定台8上の基板9は液滴吐出器12に対して同吐出
器12にて前記回路パターンが描かれるようにX及びY
方向に相対移動され、その移動中において液滴吐出器1
2がインク溶液13を1滴づつ吐出することになり、C
A Dシステム22にて作成されたそのままのパターン
が同阜板9に描画されることになる。Next, place the board 9 at a predetermined position on the fixing base 8! When the start key on the keyboard 17 is operated in a fixed state, the CPLJ 19 reads circuit pattern data created as a result of arithmetic processing from the working memory 21 in response to the ON signal of the start key, and based on the data. It drives and controls the stepping motors MX and My for driving in the X and Y directions, and also controls the operation of the droplet ejector 12. Therefore, the substrate 9 on the fixed base 8 is arranged in X and Y directions with respect to the droplet ejector 12 so that the circuit pattern is drawn by the ejector 12.
During the movement, the droplet ejector 1
2 will eject the ink solution 13 one drop at a time, and C
The pattern created by the AD system 22 will be drawn on the same board 9 as it is.
この液滴吐出器12による液滴発射動作の際にCPU1
9はカメラ15からの画像信号を読取りその信号を2値
化する。そして、そのX−Y方向の座標位置(XY座標
位置)における基板9へのインク溶液13の液層の付着
状態、即ちその座標位置において液滴が付着しているか
否かを検出する。さらに、CPU19は前記演算された
描画すべきそのX−Y方向の座標位置(XY座標位置)
における回路パターンデータとカメラ15によるその液
滴の付着状態を示す画像データとを比較し、描画すべき
(付着すべき)位置にインク溶液13の付着がない場合
には配線不良が発生したと判断する。During the droplet ejection operation by the droplet ejector 12, the CPU 1
Reference numeral 9 reads the image signal from the camera 15 and binarizes the signal. Then, the state of adhesion of the liquid layer of the ink solution 13 to the substrate 9 at the coordinate position in the XY direction (XY coordinate position), that is, whether or not a droplet is attached at that coordinate position is detected. Furthermore, the CPU 19 determines the calculated coordinate position in the X-Y direction (XY coordinate position) to be drawn.
Compare the circuit pattern data obtained by the camera 15 with the image data showing the adhesion state of the droplet, and if the ink solution 13 is not attached to the position where it should be drawn (should be attached), it is determined that a wiring defect has occurred. do.
そして、CPIJ 19はこの不良検出が発生するとパ
ターン描画動作を停止させ、その配線不良位置に戻すべ
く七−タMx、Myが駆動りる。CP(J19は配線不
良位置において液滴吐出器12を駆動させその位置に液
滴の打増しを行なわせる。Then, when this defect detection occurs, the CPIJ 19 stops the pattern drawing operation, and the septa Mx and My are driven to return to the defective wiring position. CP (J19) drives the droplet ejector 12 at the location of the wiring defect to eject additional droplets at that location.
CPtJ 19はこの時のインク溶液13の液滴の付着
をカメラ15にて確認すると修正が終了したと判断しパ
ターン描画が中断したPト標位置に戻り、描画を再開さ
せる。そして、CPU19はこのようにして配線不良検
出及びその不良箇所における打増し動作を行ない、すべ
ての回路パターンの描画を遂行していく。When the CPtJ 19 confirms the adhesion of droplets of the ink solution 13 at this time using the camera 15, it determines that the correction has been completed, returns to the P mark position where pattern drawing was interrupted, and resumes drawing. In this manner, the CPU 19 detects wiring defects and performs additional printing operations at the defective locations, thereby completing drawing of all circuit patterns.
このように、本実施例における配線不良検出装置におい
ては、液滴用出器12による基板9への回路パターンの
描画中において、その描画しようとするパターンデータ
と液滴到達位置を囮像するカメラ15からの画像データ
とに基づいて各座標に43ける各液滴の連続状態を判断
し回路パターンの配線不良を容易に検出することができ
る。さらに、その配線不良を検出した場合には描画動作
を中断し再びその不良位置に戻りその不良箇所をへ正す
べく液層の吐出が行なわれる。As described above, in the wiring defect detection device of this embodiment, while the droplet dispenser 12 is drawing a circuit pattern on the substrate 9, a camera is used to take a decoy image of the pattern data to be drawn and the droplet arrival position. Based on the image data from 15 and 15, the continuous state of each droplet at each coordinate 43 can be determined, and wiring defects in the circuit pattern can be easily detected. Further, if a wiring defect is detected, the drawing operation is interrupted and the device returns to the defective position again to discharge a liquid layer to correct the defective portion.
従って、従来では回路パターンの描画終了後において顕
微鏡の目視にて行なっていた回路パターンの配線不良の
検出を自動的に、かつ正確に検知することができるとと
もに回路パターンの描画中においてそのβ正を行なうこ
とができ迅速にハイブリッドICパターンを形成するこ
とができる。Therefore, it is possible to automatically and accurately detect wiring defects in a circuit pattern, which was conventionally done by visual inspection with a microscope after drawing the circuit pattern, and also to detect the β positive during the drawing of the circuit pattern. A hybrid IC pattern can be quickly formed.
尚、この発明は前記実施例に限定されるものではなく、
以下に示すように実施してもよい。Note that this invention is not limited to the above embodiments,
It may also be implemented as shown below.
(イ)上記実施例では配線不良箇所を検出すると直ちに
修正を行なっていたが、配線不良箇所を検出すると先ず
その座標位置、即ちX及びY方向の座標Pn(X口、
Yn )を作業用メモリ21に記憶する。このように全
ての回路パターン描画中における不良座標位置Pnを記
憶する。そして、回路パターンの描画が終了した後、そ
の作業メモリ21に記憶した不良位置データを呼び出し
順に修正動作を行なうようにしてもよい。(B) In the above embodiment, when a defective wiring location is detected, it is immediately corrected. However, when a defective wiring location is detected, the first thing to do is to determine its coordinate position, that is, the coordinates Pn in the X and Y directions (X exit,
Yn) is stored in the working memory 21. In this way, all defective coordinate positions Pn during drawing of circuit patterns are stored. After the drawing of the circuit pattern is completed, the defective position data stored in the working memory 21 may be corrected in the order in which they are called.
あるいは、所定のパターンを描画した後、例えば、第6
図(a)に示す直線パターンを描画したい場合に、第6
図(b)に示すようにこの直線パターンにおける不良位
置P1〜P7を検出及び記憶しておき、直線パターンの
描画を終了した後改めて不良位置P1〜P7を順に修正
しこれを所定の区切りごとに行なってもよい。Alternatively, after drawing a predetermined pattern, for example, the sixth
If you want to draw the straight line pattern shown in figure (a),
As shown in Figure (b), the defective positions P1 to P7 in this straight line pattern are detected and stored, and after the drawing of the straight line pattern is finished, the defective positions P1 to P7 are corrected again in order, and this is done at each predetermined interval. You may do so.
さらに、配線不良箇所が所定数以上ある場合には液滴吐
出器12自体が吐出不良(ノズルの[1詰り等による不
良)状態にあると判断し、パージ(液滴の発射動作)を
行ないノズルの目詰りを修繕しその液滴吐出器12の信
頼性を向上させるようにしてもよい。Furthermore, if there are more than a predetermined number of defective wiring locations, it is determined that the droplet ejector 12 itself is in a state of ejection failure (defective due to nozzle clogging, etc.), and purges (droplet ejection operation) the nozzle. The reliability of the droplet ejector 12 may be improved by repairing the clogging.
(ロ)上記実施例ではカメラ15の向きが直接液滴到達
位置になるようにセットしたが、第7図に示すように液
滴吐出器12の液滴発射位置と基板9との間においてイ
ンク溶液13の液滴が通過できる穴26が設りられた鏡
27を配置するとともに同5J127の水平位置方向に
カメラ15を配z1する。そして、鏡27の反射により
インク溶液13の到達位置のR像を行うようにしてもよ
い。(b) In the above embodiment, the direction of the camera 15 was set so as to directly reach the droplet arrival position, but as shown in FIG. A mirror 27 provided with a hole 26 through which droplets of the solution 13 can pass is placed, and a camera 15 is placed in the horizontal direction of the same 5J127. Then, an R image of the arrival position of the ink solution 13 may be performed by reflection from the mirror 27.
(ハ)さらに、第8図及び第9図に示すように液滴吐出
器12の周辺部にVJ数(Fu1図においては8個)の
カメラ15を配tM ”lる。そして、これらのカメラ
15により基板9に到達した液滴の周辺部をVJ Fl
pするようにしてもよい。(c) Furthermore, as shown in FIGS. 8 and 9, the number of cameras 15 (eight in FIG. 1) are arranged around the droplet ejector 12. 15, the peripheral part of the droplet that has reached the substrate 9 is VJ Fl.
p.
(ニ)所定位置の液層の状態を示す画像をフ1イバース
コープにて前記カメラ15の据付が困M’L場所から離
れた位置まで転送し受光素子にてその転送画像から液滴
を認識するようにしてもよい。(d) An image showing the state of the liquid layer at a predetermined position is transferred using a fiberscope to a position far from the M'L location where it is difficult to install the camera 15, and a light receiving element recognizes the droplet from the transferred image. You may also do so.
(ホ)インク溶液の液滴の有無の検出場所は基板9上の
液層の到達位置やその周辺部に限定されるものではなく
、その液滴吐出器12と基板9との空間部に光学式通過
センサを設は同センサにより落下する液滴を検出するよ
うにしてもよい。即ち、光検出器にて飛翔中の液層を光
学的に検出するようにしてもよい。(E) The location for detecting the presence or absence of droplets of ink solution is not limited to the position where the liquid layer reaches on the substrate 9 or its surrounding area, but is located in the space between the droplet ejector 12 and the substrate 9. If a type passage sensor is provided, the falling droplet may be detected by the sensor. That is, the flying liquid layer may be optically detected using a photodetector.
発明の効果
以上詳述したように、この発明によれば回路パターンの
配線不良を正確に検出することができ種々の対応が可能
となりハイブリッドICの信頼性を向上させることがで
きる優れた効果を発揮する。Effects of the Invention As detailed above, according to the present invention, wiring defects in circuit patterns can be accurately detected, various countermeasures can be taken, and the reliability of hybrid ICs can be improved. do.
第1図はこの発明を具体化したインクジェット式ハイブ
リッドICパターン形成装置における配線不良検出装置
の斜視図、第2図は同じくY方向移動台の断面図、第3
図は液滴吐出器とカメラと基板を示づ図、第4図は配線
不良検出装置の電気ブ1]ツク回路図、第5図は配線不
良検出装置の作用を説明するだめのフローチV−ト図、
第6図(a)、(b)は別例の回路パターンの不良検出
を説明するだめの図、第7図は別例の液滴吐出器とカメ
ラと基板を示す図、第8図及び第9図は別例の液滴吐出
器とカメラと基板を示す図である。
図中、1はインクジェット式ハイブリッドICパターン
形成装置、4はX方向移動台、5はY方向移動台、8は
固定台、9は基板、12は液滴吐出器、13はインク溶
液、15は液滴検出手段としてのカメラ、18は配線不
良判断手段としてのマイクロコンピュータ、19は中央
演算処理装置(CPtJ)、20はプログラムメモリ、
21は作業用メ[す、22はCA Dシステム、M×は
X方向駆動用ステッピングモータ、MVはY方向駆動用
ステッピングモータである。
特許出願人 株式会ネ1 ψ田自動織機製作所代
理 人 弁理士 恩Ffl 博宣第8図
86図
1]
第7図
I!5図FIG. 1 is a perspective view of a wiring defect detection device in an inkjet hybrid IC pattern forming apparatus embodying the present invention, FIG. 2 is a sectional view of the Y-direction moving table, and FIG.
The figure shows the droplet ejector, camera, and board, Figure 4 is a circuit diagram of the electrical block of the wiring failure detection device, and Figure 5 is a flowchart for explaining the operation of the wiring failure detection device. Figure,
FIGS. 6(a) and 6(b) are diagrams for explaining another example of defect detection in a circuit pattern, FIG. 7 is a diagram showing another example of a droplet ejector, a camera, and a board, and FIGS. FIG. 9 is a diagram showing another example of a droplet ejector, a camera, and a substrate. In the figure, 1 is an inkjet type hybrid IC pattern forming apparatus, 4 is a moving table in the X direction, 5 is a moving table in the Y direction, 8 is a fixed table, 9 is a substrate, 12 is a droplet ejector, 13 is an ink solution, and 15 is a A camera as a droplet detection means, 18 a microcomputer as a wiring defect determination means, 19 a central processing unit (CPtJ), 20 a program memory,
21 is a work tool, 22 is a CAD system, Mx is a stepping motor for driving in the X direction, and MV is a stepping motor for driving in the Y direction. Patent applicant Ne1 Co., Ltd. ψta Automatic Loom Manufacturing Co., Ltd.
86 Figure 1] Figure 7 I! Figure 5
Claims (1)
ク溶液の液滴を発射する液滴吐出器とを相対移動させ、
その相対移動中に液滴吐出装置を発射動作させて前記基
板上に所望の回路パターンを描画するようにしたインク
ジエツト式ハイブリッドICパターン形成装置において
、 前記相対移動に追従して前記液滴吐出器にて発射したイ
ンク溶液の液滴を検出する液滴検出手段と、 前記液滴検出手段の検出データに基づいて各液滴の連続
状態を判断する配線不良判断手段とを備えたインクジェ
ット式ハイブリッドICパターン形成装置における配線
不良検出装置。 2、液滴検出手段は液滴吐出器の近接位置に設けられ、
その吐出器とともに移動しハイブリッドIC基板上にお
けるインク溶液の液滴の到達位置を撮像するカメラであ
る特許請求の範囲第1項に記載のインクジェット式ハイ
ブリッドICパターン形成装置における配線不良検出装
置。 3、液滴検出手段は液滴吐出器の周辺部に設けられ、そ
の吐出器とともに移動しハイブリッドIC基板上におけ
るインク溶液の液滴の到達位置の周辺部を撮像する複数
のカメラである特許請求の範囲第1項に記載のインクジ
ェット式ハイブリッドICパターン形成装置における配
線不良検出装置。 4、液滴検出手段は吐出器とともに移動し、飛翔中の液
滴を光学的に検出する光検出器である特許請求の範囲第
1項に記載のインクジェット式ハイブリッドICパター
ン形成装置における配線不良検出装置。 5、配線不良判断手段は描画しようとする回路パターン
データと液滴検出手段の検出データに基づいて各描画位
置における各液滴の連続状態を判断するものである特許
請求の範囲第1項に記載のインクジェット式ハイブリッ
ドICパターン形成装置における配線不良検出装置。[Claims] 1. Relatively moving a hybrid IC substrate and a droplet ejector that ejects droplets of an ink solution containing a circuit element formation,
In an inkjet type hybrid IC pattern forming apparatus in which a droplet discharge device is ejected during the relative movement to draw a desired circuit pattern on the substrate, the droplet discharge device follows the relative movement. an inkjet type hybrid IC pattern comprising: a droplet detecting means for detecting droplets of ink solution ejected by the droplet detecting means; and a wiring defect determining means for determining a continuous state of each droplet based on detection data of the droplet detecting means. Wiring defect detection device in forming equipment. 2. The droplet detection means is provided at a position close to the droplet ejector,
2. The wiring defect detection device in an inkjet hybrid IC pattern forming apparatus according to claim 1, which is a camera that moves together with the ejector and images the arrival position of the ink solution droplet on the hybrid IC substrate. 3. A patent claim in which the droplet detection means is a plurality of cameras that are provided around the droplet ejector and move together with the ejector to image the area around the position where the ink solution droplet reaches on the hybrid IC substrate. A wiring defect detection device in an inkjet hybrid IC pattern forming apparatus according to item 1. 4. Wiring defect detection in the inkjet hybrid IC pattern forming apparatus according to claim 1, wherein the droplet detection means is a photodetector that moves together with the ejector and optically detects the flying droplets. Device. 5. According to claim 1, the wiring defect determining means determines the continuous state of each droplet at each drawing position based on the circuit pattern data to be drawn and the detection data of the droplet detecting means. Wiring defect detection device for inkjet hybrid IC pattern forming equipment.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3188087A JPS63200041A (en) | 1987-02-14 | 1987-02-14 | Wiring defect detector in ink jet type hybrid ic pattern forming apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3188087A JPS63200041A (en) | 1987-02-14 | 1987-02-14 | Wiring defect detector in ink jet type hybrid ic pattern forming apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63200041A true JPS63200041A (en) | 1988-08-18 |
Family
ID=12343346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3188087A Pending JPS63200041A (en) | 1987-02-14 | 1987-02-14 | Wiring defect detector in ink jet type hybrid ic pattern forming apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63200041A (en) |
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-
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- 1987-02-14 JP JP3188087A patent/JPS63200041A/en active Pending
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