JPS63188268A

JPS63188268A - 設計支援装置

Info

Publication number: JPS63188268A
Application number: JP62021297A
Authority: JP
Inventors: Kunio Iwawaki; 岩脇　邦夫
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1987-01-31
Filing date: 1987-01-31
Publication date: 1988-08-03

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）本発明は、シミュレーションおよびデバッグの機能を備
え、ＬＳＩ等の設計を行なう際に用いられる設計支援装
置に関する。

（従来の技術）従来から、例えばＬＳＩの機能設計にはコンピュータシ
ステムにより構成された設計支援装置が用いられている
が、このような装置では、機能設計結果を検証するため
に機能シミュレーションを行ない、ざらにディスプレイ
に表示される機能記述に従って、デバッグを実行する場
合が多い。

ところで機能設計レベルのシミュレーションは、ゲート
レベルのシミュレーションのようにタイミングチャート
や論理回路図により理解し易く表示することは困難であ
る。

このため、例えば１６進数等を用いて機能シミュレーシ
ョン結果を印字出力し、ディスプレイに表示される機能
記述と照合するという処理を繰返しつつ、デバッグ作業
が行なわれているというのが実情であった。

（発明が解決しようとする問題点）ところでデバッグの作業を行なう場合には、まず不具合
の原因となる機能記述文（ステートメント）を見つけ出
さなければならないが、機能記述文は例えばＬＳＩの設
計においては数１０００ステツプにもなるため、デバッ
グすべき機能記述文を見つけ出すのに相当の時間がかか
るという問題があった。

本発明はこのような事情によりなされたもので、機能設
計レベルのデバッグ作業を極めて容易に行なうことがで
き７？設計支援装置の提供を目的としている。

［発明の構成］（問題点を解決するための手段）本発明の設計支援装置は、所定のエレメント（機能記述
文の構成部品として定義された情報単位）を含む複数の
機能記述文を記憶する機能記述文記憶手段と、前記機能
記述文を表示する表示手段と、あるクロックタイムにお
いてイベント（論理値または状態の変化）が発生する前
記エレメントを記憶する発生イベント記憶手段と、信号
値がセットされるエレメントおよびある時点で参照され
ているエレメントを記憶する使用イベント記憶手段と、
前記発生イベント記憶手段および前記使用エレメント記
憶手段に重複して記憶されているエレメントを含む機能
記述文を前記機能記述文記憶手段から抽出する機能記述
文抽出手段とを備えたものである。

（作　用）本発明の設計支援装置では、発生イベント記憶手段に、
あるクロックタイムにイベントが発生するエレメントが
記憶され、使用イベント記憶手段に信号値がセットされ
るエレメントおよびある時点で参照されているエレメン
トが記憶され、機能記述文抽出手段が前記発生イベント
記憶手段および前記使用エレメント記憶手段に重複して
記憶されているエレメントを含む機能記述文を機能記述
文記憶手段から抽出し、ここで抽出された機能記述文の
みをデバッグの対象として前記表示手段に表示させるの
で、デバッグの対象となる機能記述文の絶対数が大幅に
削減される。

本発明は、あるクロックタイムにおいてイベントが発生
するエレメントを含む機能記述文の数は、全体の２０〜
３０％程度であることに着目したものである。

（実施例）以下、本発明の実施例の詳細を図面に基づいて説明する
。

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。

同図において１はシステム全体の動作をコントロールす
るＣＰＵ、２は機能記述文や機能シミュレーション結果
を記憶するメモリ、３はキーボード４やマウス５等の入
力装置をコントロールする入力装置コントローラ、６は
ＣＲＴディスプレイ７における表示をコントロールする
ＣＲＴコントローラ、８はデバッグ中の機能記述文にお
いて、値がセットされているエレメントおよびある時点
で参照されているエレメントを記憶する使用エレメント
記１！！装置、９はデバッグしたいクロックタイムにお
いて、イベントの発生したエレメントを記憶する発生イ
ベント記憶装置、１０はイベントが発生したエレメント
を含む機能記述文を抽出する機能記述文抽出装置である
。

また第２図はＣＲＴ７の表示の一例を示す図であり、図
中７ａはデバッグを行なっている機能記述文とその中で
使われているエレメントの値を表示するデバッグ文表示
ウィーンドウ、７ｂは値を参照されているエレメントを
含む機能記述文を表示する前段機能記述表示ウィンドウ
、７Ｃは値がセットされているエレメントを含む機能記
述文を表示する次段機能記述表示ウィンドウである。

さらに第３図は発生イベント記憶装置９にセットされて
いる情報を説明する図である。

この図から分るように、発生イベント記憶装置９には、
デバッグしたいクロックタイムにおいてイベントの発生
したエレメントを示す情報が格納されている。

なお第４図はメモリ２に記憶されている機能記達文の一
例を示す図である。

この図から分るようにメモリ２には、主に［■Ｆ−ＴＨ
ＥＮＪ形式で表現された多数の機能記述文が格納されて
いる。

第５図は使用エレメント記憶装置８にセットされている
情報を説明する図である。

使用エレメント記憶装置８には、デバッグを行なってい
る機能記述文において、値がセットされるエレメント（
式の左辺＞８８と、デバッグを行なっている機能記述文
において値が参照されるエレメント（式の６辺および条
件式のエレメント）８ｂとが格納されている。

以下、これらの図および第６図に示した流れ図に従って
本実施例の動作について説明する。

まず機能シミュレーションを行ない、各クロックタイム
ごとにイベントが発生したエレメントと、すべてのエレ
メントの信号値とをメモリ２に記憶させる（ステップＡ
）。

機能シミュレーションの終了後、不具合な部分のデバッ
グを行なうため、デバッグしたいクロックタイムをセッ
トする（ステップＢ）。

するとそのクロックタイムでイベントの発生したエレメ
ントが発生イベント記憶装置９にセットされる（ステッ
プＣ１第３図参照）。

次にＣＲＴ７上のデパック文表示ウィンドウ（第２図、
７ａ）に示されている機能記述文において、セットおよ
び参照されているエレメントを使用エレメント記憶装置
８にセットする（ステップＤ）。

なお第２図においてセットエレメントはＢとＤ１参照エ
レメントはＡとＣとＥである（第５図）。

そして機能記述文抽出装置１０は、使用エレメント記憶
装置８と発生イベント記憶装置９との両方にセットされ
ているエレメントを含んでいる機能記述文を抽出し、そ
のエレメントがセットエレメント（第５図、Ｓａ＞なら
ばＣＲＴＴ上の次段機能記述表示ウィンドウ７Ｃに表示
しくステップＥ）、参照エレメント（第５図、８ｂ）な
らばＣＲＴＶ上の前段機能記述表示ウィンドウ７ｂに表
示する（ステップＦ）。

また別のクロックタイムにおけるデバッグを行なう場合
には、新たなりロックタイムをセットし直し、最初のプ
ロセスに戻る（ステップＧ）。

なお同じクロックタイムでデバッグを続行する場合には
、次にデバッグしたい機能記述を前段機能記述表示ウィ
ンドウ７ｂまたは次段機能記述表示ウィンドウ７Ｃ中か
らマウス等でカーソルを移動することによって選択する
（ステップト１）。

選択された機能記述文をデバッグ文表示ウィンドウ７ａ
に表示させ（ステップＩ）、ざらに選択された機能記述
文で使用しているエレメントの値を表示させる（ステッ
プＪ）。

そして発生イベント記憶装置９にセットされているエレ
メントには下線を引き、最初に戻る。

かくして本実施例によれば、イベントが発生したエレメ
ントを記憶装置に記憶させておき、そのエレメントを含
む機能記述文のみをデバッグの対象とするので、デバッ
グの対象となる機能記述文の絶対数が大幅に少なくなる
。

なお本発明の設計支援装置はＬＳＩの設計に限らず、他
の装置および回路の設計に幅広く用いることができる。

［発明の効果］以上説明したように本発明の設計支援装置は、イベント
が発生したエレメントを記憶装置に記憶させておき、そ
のエレメントを含む機能記述のみをデバッグの対象とす
るので、機能設計レベルのシミュレーションを行なった
後、デバッグすべきステートメントが発生した場合でも
、そのデバッグ作業を極めて容易に行なうことができる
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロック図、第
２図は同実施例におけるＣＲＴの表示の一例を示す図、
第３図は同実施例における発生イベント記憶装置にセッ
トされている情報を説明する図、第４図は同実施例にお
けるメモリに記憶されている機能記述文の一例を示す図
、第５図は同実施例における使用エレメント記ｆｆ！装
置にセットされている情報を説明する、第６図は同実施
例の動作を示す流れ図である。１・・・・・・・・・ＣＰＵ２・・・・・・・・・メモリ３・・・・・・・・・入力装置コントローラ４・・・・
・・・・・キーボード５・・・・・・・・・マウス６・・・・・・・・・ＣＲＴコントローラ７・・・・・
・・・・ＣＲＴ８・・・・・・・・・使用エレメント記憶装置９・・・
・・・・・・発生イベント記憶装置１０・・・・・・・
・・機能記述文抽出装置出願人　　　　　　株式会社　
東芝代理人　弁理士　　須　山　佐　− 第１　図第２　ｊ二゛。貝５薯第６図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）所定のエレメントを含む複数の機能記述文を記憶
する機能記述文記憶手段と、前記機能記述文を表示する
表示手段と、あるクロックタイムにおいてイベントが発
生する前記エレメントを記憶する発生イベント記憶手段
と、信号値がセットされるエレメントおよびある時点で
参照されているエレメントを記憶する使用イベント記憶
手段と、前記発生イベント記憶手段および前記使用エレ
メント記憶手段に重複して記憶されているエレメントを
含む機能記述文を前記機能記述文記憶手段から抽出する
機能記述文抽出手段とを備え、前記機能記述文抽出手段
により抽出された機能記述文のみをデバッグの対象とし
て前記表示手段に表示させるように構成したことを特徴
とする設計支援装置。