JPS63165819A - Method for correcting shading of space light modulator - Google Patents

Method for correcting shading of space light modulator

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JPS63165819A
JPS63165819A JP31298686A JP31298686A JPS63165819A JP S63165819 A JPS63165819 A JP S63165819A JP 31298686 A JP31298686 A JP 31298686A JP 31298686 A JP31298686 A JP 31298686A JP S63165819 A JPS63165819 A JP S63165819A
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light
crystal
spatial light
shading
intensity distribution
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晴義 豊田
Naohisa Kosaka
直久 向坂
Tsutomu Hara
勉 原
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Hamamatsu Photonics KK
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Abstract

PURPOSE:To correct the shading of crystal thickness by previously accumulating electrostatic charge corresponding to the distribution of reading light intensity obtained when uniform charge is accumulated in an electro-optical substance in a space light modulator. CONSTITUTION:Uniform input light beam are radiated to an opto-electric cathode 31 in the space light modulator 3 to accumulate uniform charge on the surface of an electro-optical crystal plate 34. Then, coherent light is radiated from the rear face of the plate 34 to obtain light intensity distribution shown in Fig.(A). As shown in Fig.(B), the uneven thickness of the crystal which is the cause of shading is formed. The distribution is recorded on a photographing film 101 and erasing light beams corresponding to the light intensity distribution are made incident upon the cathode 31 through the film 101 to previously accumulated the charge corresponding to the light intensity distribution on the surface of the plate 34. Thus, the shading can be corrected by previously accumulating the charge corresponding to the light intensity distribution based upon the difference of thickness of the crystal on the crystal plate 34.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、空間光変調器のシェーディング補正方法に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a shading correction method for a spatial light modulator.

なお本発明においてシェーディングとは、空間光変調器
の電気光学結晶等の厚さの不均一性による自然複屈折の
差から生じる画像の明るさの不均一性をシェーディング
ということにする。
In the present invention, shading refers to non-uniformity in the brightness of an image resulting from a difference in natural birefringence due to non-uniformity in the thickness of the electro-optic crystal of the spatial light modulator.

(従来の技術) 空間光変調装置の基本的な構成を第3図を参照して説明
する。
(Prior Art) The basic configuration of a spatial light modulation device will be explained with reference to FIG.

空間光変調管の真空気密容器の入射面の内面には、光電
陰極31が形成されている。
A photocathode 31 is formed on the inner surface of the entrance surface of the vacuum-tight container of the spatial light modulation tube.

この光電陰極31に対向して電気光学結晶34が配置さ
れている。
An electro-optic crystal 34 is placed opposite the photocathode 31 .

この電気光学結晶34は自然複屈折を持ち、後面に透明
電極が設けられている。
This electro-optic crystal 34 has natural birefringence, and a transparent electrode is provided on the rear surface.

前記電気光学結晶34の光電陰極側には、2次電子捕集
電極33が設けられており、この2次電子捕集電極33
と前記光電陰極31の間にはマイクロチャンネルプレー
ト32が設けられている。
A secondary electron collecting electrode 33 is provided on the photocathode side of the electro-optic crystal 34.
A microchannel plate 32 is provided between the photocathode 31 and the photocathode 31 .

入力像1はインコヒーレント光源10で照射され、レン
ズ2で空間光変調管3の光電陰極31へ投影される。
An input image 1 is illuminated by an incoherent light source 10 and projected by a lens 2 onto a photocathode 31 of a spatial light modulation tube 3 .

光電陰極31で入力光像は光電子像に変換され、変換さ
れた電子像はマイクロチャンネルプレート32の入力面
に結像される。
The input optical image is converted into a photoelectron image at the photocathode 31, and the converted electron image is focused on the input surface of the microchannel plate 32.

その電子像はマイクロチャンネルプレート32によって
倍増され、55゛カツトLiNb○3単結晶板34の表
面に電子像を形成する。
The electron image is doubled by the microchannel plate 32 to form an electron image on the surface of the 55° cut LiNb○3 single crystal plate 34.

ここでレーザ光源4からの光を対物レンズ5で拡大し、
ピンホール6で余分な回折光を除去した後、偏光子7で
偏光方向を結晶のX軸(またはy。
Here, the light from the laser light source 4 is magnified by the objective lens 5,
After removing excess diffracted light through the pinhole 6, the polarizer 7 aligns the polarization direction with the X-axis (or y-axis) of the crystal.

軸)から45°の方向の直線偏光としてB面側から入射
させる。
It is input from the B-plane side as linearly polarized light in a direction of 45° from the axis).

結晶34内におけるx 、  y 1方向の屈折率が異
なるから、入射した光のX方向、y′方向の成分に位相
差が生じ、一般には楕円偏光となって出力される。
Since the refractive index in the x and y directions within the crystal 34 is different, a phase difference occurs between the components in the x direction and y' direction of the incident light, and the light is generally output as elliptically polarized light.

この出力光は検光子11を通過させれば一つの偏波方向
だけがとり出され、スクリーン12には入力像1によっ
て変調されたコヒーレント光像が得られる。
When this output light passes through an analyzer 11, only one polarization direction is extracted, and a coherent optical image modulated by the input image 1 is obtained on the screen 12.

(発明が解決しようとする問題点) 前記空間光変調管3の書込みにおいて、電荷を一様にM
積した場合に、電気光学結晶の厚さの不均一性により、
画像の明るさも不均一となる。
(Problems to be Solved by the Invention) In writing to the spatial light modulation tube 3, the charge is uniformly set to M.
Due to the non-uniformity of the electro-optic crystal thickness,
The brightness of the image also becomes non-uniform.

前述したように本発明においてこれをシェーディングと
よぶ。
As mentioned above, this is called shading in the present invention.

この結晶34の厚さlと位相差1’oは次の式で表され
る。
The thickness l and the phase difference 1'o of this crystal 34 are expressed by the following equation.

ro=(2π/λ)  (ne’−no)x2J現在の
結晶の研磨技術では、厚さの均一性は、波長λ程度が限
界であるから、このシェーディングは必ず発生する。
ro=(2π/λ) (ne'-no)x2J In the current crystal polishing technology, the thickness uniformity is limited to about the wavelength λ, so this shading always occurs.

以下、図面等を参照してこのシェーディングについて、
さらに詳しく説明する。
Below, regarding this shading with reference to drawings, etc.
I will explain in more detail.

電荷を一様に蓄積した場合でも、第4図(A)のように
、結晶の厚さのちがいによりシェーディングが生じる。
Even when charges are accumulated uniformly, shading occurs due to differences in crystal thickness, as shown in FIG. 4(A).

第4図(B)に結晶を切断して厚さ方向を誇張して示し
である。
FIG. 4(B) shows the crystal cut and the thickness direction exaggerated.

結晶上の位置、a地点とb地点、の位相差は次の式で与
えられる。
The phase difference between points a and b on the crystal is given by the following equation.

△「o=(2π/λ)  (ne’−no)X2△lこ
れを補正するには、消去時に、厚さのちがいによって起
こる複屈折の差の分だけ、電荷を与えれば良いことにな
る。
△"o = (2π/λ) (ne'-no) .

第5図(A)と(B)に、地点aとbにおける電荷σと
明るさIの関係を示しである。
FIGS. 5A and 5B show the relationship between the charge σ and the brightness I at points a and b.

a点およびb点における表面電荷量σと出力光の明るさ
Iとの関係は、結晶の厚さによって左右にずれた形とな
る。
The relationship between the amount of surface charge σ at points a and b and the brightness I of the output light is shifted left and right depending on the thickness of the crystal.

つまり、全体を一様に最も暗くする場合、地点aにおい
てはσaだけ電荷が必要となり、地点すにおいては、σ
bだけ必要である。
In other words, to uniformly make the entire area the darkest, a charge of σa is required at point a, and a charge of σa is required at point A.
Only b is required.

これを第4図(B)の断面に対して必要な電荷を縦軸に
とったものが第6図(C)である。
FIG. 6(C) shows the cross section of FIG. 4(B) with the required charge plotted on the vertical axis.

本発明の目的は、前述した空間光変調器のシェーディン
グを簡単に補正することができる空間光変調器のシェー
ディング補正方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a shading correction method for a spatial light modulator that can easily correct the shading of the above-mentioned spatial light modulator.

(問題点を解決するための手段) 前記目的を達成するために、本発明による空間光変調器
のシェーディング補正方法は、電子源と、前記電子源か
ら放出された電子を蓄積し、光学的変化を生ずる自然複
屈折を有する電気光学物質から成り、その光学的変化を
外部光によって読み出す方式の空間光変調器において、
前記物質に一様な電荷をaIIIシた状態での読み出し
光強度分布に対応した電荷をあらかじめ前記物質に蓄積
させることによりシェーディング補正をするように構成
されている。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, a shading correction method for a spatial light modulator according to the present invention includes an electron source, an electron source emitted from the electron source, and an optical change. In a spatial light modulator that is made of an electro-optical material that has natural birefringence that causes , and whose optical changes are read out using external light,
Shading correction is performed by pre-accumulating charges in the material corresponding to the readout light intensity distribution in a state where the material is uniformly charged.

(実施例) 以下、実施例を参照して本発明方法をさらに詳しく説明
する。
(Examples) Hereinafter, the method of the present invention will be explained in more detail with reference to Examples.

第1図は、写真のフィルムによるシェーディング補正方
法を説明するための略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram for explaining a shading correction method using photographic film.

前記空間光変調管3に一様な電荷を与えると、第4図を
参照して説明したように結晶の厚さの分布が明暗となっ
て現れる。
When a uniform charge is applied to the spatial light modulation tube 3, the distribution of the crystal thickness appears as bright and dark, as explained with reference to FIG.

なお、図において110は入力光用のシャンク。In the figure, 110 is a shank for input light.

111は消去光用のシャフタである。111 is a shutter for erasing light.

この像を写真にとって、そのフィルム101を通して消
去光を照射すれば、消去光による電荷分布は第6図のよ
うになり、出力像は一様な明るさとなる。
If this image is photographed and erasing light is irradiated through the film 101, the charge distribution due to the erasing light will be as shown in FIG. 6, and the output image will have uniform brightness.

第2図は、フィードバックを用いるシェーディング補正
方法を説明するための略図である。
FIG. 2 is a schematic diagram for explaining a shading correction method using feedback.

まず、シャフタ112を開けて一様な光により空間光変
調管3に一様な電荷を与える。次にシャッタ112を閉
じてシャッタ113を開けることによりその出力像をλ
/2板103検光子102を通して、空間光変調管3の
入力面にフィードバックを行う。
First, the shutter 112 is opened to uniformly charge the spatial light modulation tube 3 with uniform light. Next, by closing the shutter 112 and opening the shutter 113, the output image is
/2 plate 103 provides feedback to the input surface of the spatial light modulation tube 3 through the analyzer 102.

フィードバックされた光の強度は第6図に示すような分
布を持つことになり、フィードバックされた光により消
去を行えば、出力像は一様な明るさとなる。
The intensity of the feedback light will have a distribution as shown in FIG. 6, and if the feedback light is used for erasure, the output image will have uniform brightness.

同様な原理により、EBSLM (ライトバルブ)にお
いても、消去光のビームを変調して消去を行うことによ
って、結晶厚の不均一性によるシェーディングは補正さ
れる。
Based on a similar principle, in an EBSLM (light valve), shading due to non-uniformity of crystal thickness is corrected by modulating the beam of erasing light to perform erasing.

(発明の効果) 以上詳しく説明したように、本発明による空間光変調器
のシェーディング補正方法は、電子源と、前記電子源か
ら放出された電子を蓄積し、光学的変化を生ずる自然複
屈折を有する電気光学物質から成り、その光学的変化を
外部光によって読み出す方式の空間光変調器において、
前記物質に一様な電荷をM積した状態での読み出し光強
度分布に対応した電荷をあらかじめ前記物質に蓄積させ
ることによりシェーディング補正をするように構成され
ている。
(Effects of the Invention) As explained in detail above, the shading correction method for a spatial light modulator according to the present invention includes an electron source, and accumulates electrons emitted from the electron source to correct natural birefringence that causes optical changes. In a spatial light modulator of a type that is made of an electro-optic material and whose optical changes are read out using external light,
The device is configured to perform shading correction by accumulating in the material in advance charges corresponding to the readout light intensity distribution in a state where the material is multiplied by M uniform charges.

そして前記方法は前述したように簡単な装置により実現
できる。
The method can be realized using a simple device as described above.

この方法によって、結晶加工において避けられない結晶
厚の微少なバラツキによるシェーディングを補正するこ
とが可能になる。
This method makes it possible to correct shading caused by minute variations in crystal thickness that are unavoidable in crystal processing.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明方法を実施するための第1の構成(写
真フィルムを使用する構成)を示す略図である。 第2図は、本発明方法を実施するための第2の構成(帰
還式)を示す略図である。 第3図は、空間光変調装置の原理を説明するための略図
である。 第4図は、電気光学結晶板を利用した空間光変調装置に
おけるシェーディングの発生例を示す略図である。 第5図は、特定の厚さを持つ点に蓄積された電荷と明る
さの関係を示すグラフである。 第6図は、均一な明るさを得るために必要な電荷の分布
例を示すグラフである。 l・・・・・・入力像 2・・・・・・レンズ 3・・・・・・空間光変調管 4・・・・・・レーザ 5・・・・・・対物レンズ 6・・・・・・ピンホール板 7・・・・・・検光子 8・・・・・・コリメーティングレンズ9・・・・・・
ハーフミラ− 10・・・・・・白色光源 11・・・・・・偏光子 12・・・・・・スクリーン 31・・・・・・光電陰極 32・・・・・・マイクロチャンネルプレート33・・
・・・・2次電子捕集電極 34・・・・・・電気光学結晶板(55°カツトLiN
bo3ウエフア) 35・・・・・・出力窓 100.104・・・ハーフミラ− 101・・・写真フィルム 102・・・検光子 103・・・λ/2板 110.111,112,113・・・シャッタ105
・・・ミラー 特許出願人 浜松ホトニクス株式会社 代理人 弁理士  井 ノ ロ  壽 第5図 a地中とbjl!点の@荷量と明8さ b 第6図 手続補正書 昭和62年 3月 3日
FIG. 1 is a schematic diagram showing a first configuration (using photographic film) for carrying out the method of the invention. FIG. 2 is a schematic diagram showing a second configuration (feedback type) for implementing the method of the invention. FIG. 3 is a schematic diagram for explaining the principle of the spatial light modulation device. FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of occurrence of shading in a spatial light modulation device using an electro-optic crystal plate. FIG. 5 is a graph showing the relationship between brightness and charge accumulated at a point with a specific thickness. FIG. 6 is a graph showing an example of the distribution of charges necessary to obtain uniform brightness. l... Input image 2... Lens 3... Spatial light modulation tube 4... Laser 5... Objective lens 6... ... Pinhole plate 7 ... Analyzer 8 ... Collimating lens 9 ...
Half mirror 10... White light source 11... Polarizer 12... Screen 31... Photocathode 32... Micro channel plate 33...
...Secondary electron collecting electrode 34... Electro-optic crystal plate (55° cut LiN
bo3 wafer) 35... Output window 100.104... Half mirror 101... Photographic film 102... Analyzer 103... λ/2 plate 110, 111, 112, 113... shutter 105
...Mirror Patent Applicant Hamamatsu Photonics Co., Ltd. Agent Patent Attorney Hisashi Inoro Figure 5 A underground and bjl! Point @Cargo amount and light 8sb Figure 6 Procedural amendment document March 3, 1986

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)電子源と、前記電子源から放出された電子を蓄積
し、光学的変化を生ずる自然複屈折を有する電気光学物
質から成り、その光学的変化を外部光によって読み出す
方式の空間光変調器において、前記物質に一様な電荷を
蓄積した状態での読み出し光強度分布に対応した電荷を
あらかじめ前記物質に蓄積させることによりシェーディ
ング補正をするように構成した空間光変調器のシェーデ
ィング補正方法。
(1) A spatial light modulator consisting of an electron source and an electro-optic material having natural birefringence that accumulates electrons emitted from the electron source and causes optical changes, and reads out the optical changes using external light. A shading correction method for a spatial light modulator, wherein shading correction is performed by pre-accumulating in the substance a charge corresponding to a readout light intensity distribution in a state in which a uniform charge is accumulated in the substance.
(2)前記読み出し光強度分布に対応した電荷の蓄積は
、物質に一様な電荷を蓄積した状態での読み出し光に対
応したフィルムを通して空間光変調管の入射面に消去光
を照射することにより得られたものである特許請求の範
囲第1項記載の空間光変調器のシェーディング補正方法
(2) Accumulation of charges corresponding to the readout light intensity distribution is achieved by irradiating erasing light onto the incident surface of the spatial light modulation tube through a film corresponding to the readout light with uniform charges accumulated in the material. A shading correction method for a spatial light modulator according to claim 1, which is obtained.
(3)前記読み出し光強度分布に対応した電荷の蓄積は
、物質に一様な電荷を蓄積した状態での読み出し光をλ
/2板と検光子を通して、空間光変調管の入力面に帰還
して得たものである特許請求の範囲第1項記載の空間光
変調器のシェーディング補正方法。
(3) Accumulation of charge corresponding to the readout light intensity distribution means that the readout light is λ
2. The shading correction method for a spatial light modulator according to claim 1, wherein the shading correction method is obtained by feedback to the input surface of the spatial light modulation tube through a /2 plate and an analyzer.
JP31298686A 1986-12-27 1986-12-27 Method for correcting shading of space light modulator Granted JPS63165819A (en)

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JPH0570129B2 JPH0570129B2 (en) 1993-10-04

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03290615A (en) * 1990-04-09 1991-12-20 Hamamatsu Photonics Kk Space optical modulator

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5851676A (en) * 1981-09-24 1983-03-26 Ikegami Tsushinki Co Ltd Shading compensation circuit
JPS61249018A (en) * 1985-04-26 1986-11-06 Hamamatsu Photonics Kk Space optical modulator

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5851676A (en) * 1981-09-24 1983-03-26 Ikegami Tsushinki Co Ltd Shading compensation circuit
JPS61249018A (en) * 1985-04-26 1986-11-06 Hamamatsu Photonics Kk Space optical modulator

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03290615A (en) * 1990-04-09 1991-12-20 Hamamatsu Photonics Kk Space optical modulator

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