JPS63163678A - Picture automatic collating device - Google Patents

Picture automatic collating device

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Publication number
JPS63163678A
JPS63163678A JP30887086A JP30887086A JPS63163678A JP S63163678 A JPS63163678 A JP S63163678A JP 30887086 A JP30887086 A JP 30887086A JP 30887086 A JP30887086 A JP 30887086A JP S63163678 A JPS63163678 A JP S63163678A
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JP
Japan
Prior art keywords
objects
matching
seal
verification
mask pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP30887086A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiromichi Iwase
岩瀬 洋道
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP30887086A priority Critical patent/JPS63163678A/en
Publication of JPS63163678A publication Critical patent/JPS63163678A/en
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Abstract

PURPOSE:To attain correct collation even with a notch or noise or the like to two objects to be collated by extracting each collating object of two objects based on a common part of a picture of the two objects after the picture of the two objects is aligned so as to attain the collation processing based on the objects of both collations. CONSTITUTION:Alignment is applied by the various known alignment system as to the two objects to be inputted in the alignment means 11. Even when either of the two objects has a notch or noise, the two objects are aligned. Moreover, a collation object extracting means 12 extracts the collation object from each object based on the common part of the picture of the two objects to be aligned. Thus, noise caused in the two objects is eliminated and the part common to two objects is extracted as the collated object. Then the collation means 13 applies collation processing to each collation object with the noise eliminated. Thus, even with the notch or noise in the two objects to be collated, the accuracy of collation is not lowered and correct collation is applied.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 2対象の画像自動照合装置において、2対象の画像上の
位置合わせを行った後、この2対象の画像の共通部分部
に基づいて2対象の各照合対象を抽出し、この両照合対
象に基づいて照合処理を行う。これにより、照合される
2対象に欠けやノイズ等があっても正しい照合を行うこ
とが出来る。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] In an automatic image matching device for two objects, after performing alignment on the images of the two objects, each of the two objects is compared based on the common portion of the images of the two objects. A target is extracted, and a matching process is performed based on these two matching targets. As a result, even if the two objects to be matched have defects, noise, etc., accurate matching can be performed.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

本発明は、照合すべき2対象にノイズや欠けが存在して
いても良好に照合することが出来る様に改良した画像の
自動照合装置、特に、印影照合や印刷文字認識等、もと
もと形状が一致しているべき対象の自動照合に好適な画
像自動照合装置に関する。
The present invention is an automatic image matching device that has been improved so as to be able to perform a good match even if there is noise or chipping in two objects to be matched. The present invention relates to an automatic image matching device suitable for automatically matching objects that should be matched.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

2つの画像を照合する場合は、通常、予め辞書等に登録
されている登録画像と照合の対象となる被a、U aW
I+画像とをパターンマツチング等の照合処理により比
較照合する手法が用いられている。
When comparing two images, usually the registered images registered in advance in a dictionary etc. and the target a, U aW
A method is used that compares and matches the I+ image using matching processing such as pattern matching.

その際、被認識画像と登録画像との相対位置にずれ特に
回転角度差があると照合が困難であるので、一般に、照
合に先立つ前処理において照合すべき2対象の位置合わ
せを行い、両画像間に回転角度差が無い状態にして照合
を行うことにより正しい照合結果が得られる様にしてい
る。
At that time, if there is a shift in the relative position of the recognized image and the registered image, especially if there is a difference in the rotation angle, matching is difficult. Therefore, in general, the two objects to be matched are aligned in pre-processing prior to matching, and both images are aligned. Correct verification results can be obtained by performing verification in a state where there is no difference in rotation angle between them.

第5図は、この様に照合に先立って前処理において照合
すべき2対象の位置合わせを行う様にした画像照合装置
の一例である印鑑照合装置を示したものである。
FIG. 5 shows a seal matching device which is an example of an image matching device in which two objects to be matched are aligned in pre-processing prior to matching.

第5図において、21はスキャナで、照合の対象となる
印影の読み取りを行う。22は第1画像メモリで、スキ
ャナ21の読み取った照合印影が格納される。
In FIG. 5, 21 is a scanner that reads the seal imprint to be verified. A first image memory 22 stores the verification seal imprint read by the scanner 21.

23は登録印影データベース(登録印影DB)で、比較
すべき基準となる登録印影が格納されているっ24はデ
ータベース検索m (DB検索部)で、登録印影DB部
23から登録印影の一つを検索する。25は第2画像メ
モリで、DB検索部24の検索した登録印影が格納され
る。
Reference numeral 23 is a registered seal imprint database (registered seal imprint DB), which stores registered seal imprints that serve as standards for comparison. Reference numeral 24 is a database search m (DB search section), which searches one of the registered seal impressions from the registered seal imprint DB section 23. search for. A second image memory 25 stores the registered seal imprint searched by the DB search unit 24.

26は位置合わせ部で、照合印影を登録印影に位置合わ
せする処理を行う。27は第3画像メモリで、位置合わ
せされた照合印影が格納される。
Reference numeral 26 denotes a positioning unit that performs a process of positioning the verification seal imprint with the registered seal imprint. A third image memory 27 stores the aligned verification seal imprint.

28は線幅補正部で、位置合わせされた照合印影の線幅
を登録印影に合わせる処理を行う。29は第4画像メモ
リで、線幅を合わされた照合印影が格納される。30は
照合部で、照合印影と登録印影の照合処理を行う。
Reference numeral 28 denotes a line width correction unit that performs processing to match the line width of the aligned verification seal impression with the registered seal impression. Reference numeral 29 denotes a fourth image memory in which a verification seal impression with line widths matched is stored. Reference numeral 30 denotes a collation unit that performs a collation process between the verified seal imprint and the registered seal imprint.

この構成において、スキャナ21は照合の対象となる印
影を読み取って、第1画像メモリ22に格納する。一方
、DB検索部24は、登録印影DB23より登録印影の
一つを検索して第2画像メモリ25に格納する。
In this configuration, the scanner 21 reads the seal imprint to be verified and stores it in the first image memory 22. On the other hand, the DB search unit 24 searches for one of the registered seal imprints from the registered seal imprint DB 23 and stores it in the second image memory 25.

位置合わせ部26は、第1画像メモリ22より照合印影
を1.第2画像メモリ25より登録印影をそれぞれ読み
出し、両印影のずれ及び回転角度差が無くなる様に照合
印影を登録印影に位置合わせを行い、位置合わせされた
照合印影を第3画像メモリに格納する。
The positioning unit 26 searches the first image memory 22 for matching seal impressions. Each of the registered seal impressions is read out from the second image memory 25, the verification seal impression is aligned with the registered seal impression so that the deviation and rotation angle difference between both the seal impressions are eliminated, and the aligned verification seal impression is stored in the third image memory.

位置合わせを行う際に両印影の回転角度差を検出する方
式には、■いずれか一方の印影を微小角度ずつ回転させ
ながら、その都度、二つの印影の類似度を求め、類似度
が最大になる回転角度を両印影の回転角度差とする方式
、■両印影の各々に対して濃度変化方向の角度を求めて
該角度のヒストグラムを生成し、両印影の各ヒストグラ
ムを各々の角度軸方向に相対的にシフトしながら比較し
、二つのヒストグラムが最も類似するときのシフト量か
ら両印影間の回転角度差求める方式(例えば、特開昭6
0−22281号公報参照)等がある。
The method of detecting the rotation angle difference between both seal impressions when aligning is: ■ Rotating one of the seal impressions by a minute angle, calculating the degree of similarity between the two impressions each time, until the degree of similarity is maximized. A method in which the rotation angle of both seal impressions is the difference in rotation angle between the two seal impressions. ■ Find the angle in the direction of density change for each of the two seal impressions, generate a histogram of the angle, and calculate each histogram of both seal impressions in the direction of each angle axis. A method of comparing the two histograms while shifting them relatively and determining the rotation angle difference between the two seal impressions from the amount of shift when the two histograms are most similar (for example,
0-22281).

■の方式は、■の方式よりも処理効率が良く、照合印影
に欠けやノイズがあっても正確な位置合わせが可能であ
る。
The method (2) has better processing efficiency than the method (2), and allows accurate positioning even if there are chips or noise in the verification seal impression.

印影を生成する場合、押す力が不均一であると照合印影
の太さが不均一になって照合精度が低下する。そこで、
線幅補正部28は、照合印影の不均一な線幅を均一な線
幅に補正し、この線幅を補正した照合印影を第4画像メ
モリに格納する処理を行う。
When generating a seal impression, if the pressing force is uneven, the thickness of the verification seal impression will be uneven and the verification accuracy will be reduced. Therefore,
The line width correction unit 28 performs a process of correcting the uneven line width of the verification seal impression into a uniform line width, and storing the verification seal impression whose line width has been corrected in the fourth image memory.

照合部30は、第4画像メモリ29より線幅が補正され
た照合印影を読みだして第2画像メモリ25の登録印影
と照合し、照合度を算出する。
The matching unit 30 reads out the matching seal impression whose line width has been corrected from the fourth image memory 29, matches it with the registered seal impression in the second image memory 25, and calculates the degree of matching.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来の画像照合装置は、照合印影と登録印影間に位置ず
れがあったり、線幅に不均一があったりした場合は、前
述の様にそれらを補正して照合を行っていた。そして、
照合印影に欠けが生じたり、簡単に除去できないノイズ
が付着したりした場合は、位置合わせまでの処理は可能
であった。
In conventional image matching devices, if there is a positional shift between the matching seal impression and the registered seal impression, or if there is non-uniformity in line width, these are corrected as described above to perform the matching. and,
If the verification seal imprint was chipped or had noise that could not be easily removed, it was possible to complete the process up to positioning.

然しなから、両印影のどちらかが欠けていたり、印影の
一部にノイズが付着している場合は、それが印影の形状
とみなされて照合が行われるため正しい照合度を求める
ことが出来ず、本来同じ印鑑から得られた印影間におい
ても類似度が低下して正しい照合が行われないという問
題があった。
However, if either of the seal impressions is missing or if there is noise attached to a part of the seal impression, it is assumed that it is the shape of the seal impression and the comparison is performed, so it is not possible to determine the correct degree of matching. First, there was a problem in that the degree of similarity between seal impressions originally obtained from the same seal was reduced, and correct comparison could not be performed.

このことは、印影照合の場合に限らず、一般に照合すべ
き二つの画像のどちらかに欠けやノイズがある場合に生
じる問題である。
This problem is not limited to seal imprint matching, but generally occurs when one of two images to be matched has a chip or noise.

本発明は、照合すべき二つの画像のどちらかに欠けやノ
イズ等が生じても正しく照合が行われる様に改良した画
像自動照合装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an improved automatic image matching device that can perform correct matching even if one of two images to be matched has a chip or noise.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明が請じた解決手段を、第1図を参照して説明する
。第1図は、本発明の基本構成をブロック図で示したも
のである。
The solution proposed by the present invention will be explained with reference to FIG. FIG. 1 is a block diagram showing the basic configuration of the present invention.

第1図において、11は位置合わせ手段で、照合すべき
2対象の画像上の位置合わせを行う。
In FIG. 1, reference numeral 11 denotes a positioning means that performs positioning of two objects to be compared on the images.

12は照合対象抽出手段で、位置合わせの行われた2対
象の画像の共通部分に基づいて前記2対象より照合対象
をそれぞれ抽出する。
Reference numeral 12 denotes a matching target extracting means, which extracts matching targets from the two objects based on the common parts of the images of the two objects that have been aligned.

13は照合手段で、抽出された各照合対象に基づいて照
合処理を行う。
Reference numeral 13 denotes a matching means that performs matching processing based on each extracted matching target.

〔作 用〕[For production]

位置合わせ手段11は、入力された2対象について、公
知の各種の位置合わせ方式により位置合わせを行う。こ
れにより、2対象のいずれか一方に欠けやノイズ等があ
っても、2対象の位置合わせが行われる。
The alignment means 11 aligns the two input objects using various known alignment methods. As a result, even if one of the two objects has a chip or noise, the two objects can be aligned.

照合対象抽出手段12は、この位置合わせの行われた2
対象の画像の共通部分に基づいて、各対象より照合対象
をそれぞれ抽出する。これにより、2対象に生じたノイ
ズが除去され、2対象に共通する部分が照合対象として
抽出される。
The matching target extracting means 12 extracts the 2
A matching target is extracted from each target based on the common parts of the target images. As a result, noise generated in the two objects is removed, and a portion common to the two objects is extracted as a matching object.

照合手段13は、ノイズ除去された各照合対象に対して
照合処理を行う。
The matching means 13 performs matching processing on each of the matching objects from which noise has been removed.

以上の随にすることにより、照合すべき2対象に欠けや
ノイズ等があっても照合精度が低下せず、正しい照合を
行うことが出来る。
By doing the above, even if there are defects or noises in the two objects to be matched, the matching accuracy will not be reduced and correct matching can be performed.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の実施例を、第2図〜第4図を参照して説明する
。第2図は本発明の一実施例の構成の説明図、第3図は
同実施例の照合対象抽出手段の詳細な構成の説明図、第
4図は同実施例の照合印影、登録印影及びマスクパター
ンの説明図である。
Embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. 2 to 4. FIG. 2 is an explanatory diagram of the configuration of one embodiment of the present invention, FIG. 3 is an explanatory diagram of the detailed configuration of the verification target extraction means of the same embodiment, and FIG. 4 is a diagram of the verification seal imprint, registered seal imprint, and FIG. 3 is an explanatory diagram of a mask pattern.

以下、照合印影及び登録印影を照合すべき2対象とする
場合を例にとって、本発明の一実施例について説明する
An embodiment of the present invention will be described below, taking as an example a case where a verification seal impression and a registered seal impression are two objects to be verified.

(A)実施例の構成 第2図において、位置合わせ手段11、照合対象抽出手
段12及び照合手段13については、第1図で説明した
通りである。
(A) Configuration of Embodiment In FIG. 2, the alignment means 11, matching target extraction means 12, and matching means 13 are as described in FIG. 1.

14はスキャン手段で、照合する印影を読み取るスキャ
ナ141及び読み取った照合印影C3゜が格納される第
1画像メモリ142を備えている。
Reference numeral 14 denotes a scanning means, which includes a scanner 141 for reading the seal impression to be verified and a first image memory 142 in which the read verification seal impression C3° is stored.

15はデータベース検索手段(DB検索手段)で、照合
印影と比較すべき登録印影が格納される登録印影データ
ベース(登録印影DB)151、登録印影DB151よ
り登録印影R3oを一つ検索するデータベース検索部(
DB検索部)152、検索された登録印影R3oが格納
される第2画像メモリ153を備えている。
15 is a database search means (DB search means), which includes a registered seal imprint database (registered seal imprint DB) 151 in which registered seal imprints to be compared with verification seal imprints are stored;
DB search unit) 152, and a second image memory 153 in which the searched registered seal imprint R3o is stored.

位置合わせ手段11において、111は位置合わせ処理
部で、公知の各種の方式で照合印影C8゜を登録印影R
3oに位置合わせする処理を行って照合印影C81を生
成する。112は第3画像メモリで、位置合わせされた
照合印影CS +が格納される。
In the positioning means 11, reference numeral 111 is a positioning processing unit which registers the verification seal impression C8° using various known methods.
3o to generate a verification seal imprint C81. A third image memory 112 stores the aligned verification seal imprint CS+.

照合対象抽出手段12において、120〜127は照合
対象抽出部で、第3図に詳細に示す構成を備え、位置合
わせの行われた照合印影C81と登録印影R3oの画像
の共通部分に基づいて両印影より照合対象となる各印影
C32及びR3,を抽出する。128は第4画像メモリ
で、抽出された照合印影C32が格納される。129は
第5画像メモリで、抽出された登録印影R8lが格納さ
れる。
In the verification target extraction means 12, reference numerals 120 to 127 are verification target extraction units, which have the configuration shown in detail in FIG. Seal impressions C32 and R3 to be checked are extracted from the seal impressions. A fourth image memory 128 stores the extracted verification seal impression C32. A fifth image memory 129 stores the extracted registered seal impression R8l.

照合手段13において、131は線幅補正回路で、公知
の各種の方式で照合印影C82の線幅を登録印影RS 
+の線幅に合わせる処理を行い、照合印影C83を生成
する。132は第6画像メモリで、線幅の合わされた照
合印影C33が格納される。
In the verification means 13, 131 is a line width correction circuit which registers the line width of the verification seal imprint C82 using various known methods.
Processing is performed to match the line width of +, and a verification seal impression C83 is generated. Reference numeral 132 denotes a sixth image memory in which a verification seal imprint C33 with matched line widths is stored.

133は照合部で、線幅の合わされた照合印影C33と
登録印影R3,とを照合し、照合度を算出する。
Reference numeral 133 is a collation unit that collates the collation seal imprint C33 whose line widths have been matched with the registered seal imprint R3, and calculates the degree of collation.

第3図に示した照合対象抽出手段12の詳細図において
、120はDEL論理積回路で、濃度値が1以上である
照合印影CS + と登録印影R3゜の画素の濃度値を
1とみなして両印影の論理積をとって初期マスクパター
ンである第1マスクパターンM P +を生成する。1
21は第1マスクメモリで、生成された第1マスクパタ
ーンM P Iが格納される。
In the detailed diagram of the verification target extraction means 12 shown in FIG. 3, 120 is a DEL AND circuit, which assumes that the density value of the pixel of the verification seal imprint CS + and the registered seal imprint R3° whose density value is 1 or more is 1. A first mask pattern M P +, which is an initial mask pattern, is generated by performing a logical product of both seal impressions. 1
21 is a first mask memory in which the generated first mask pattern M P I is stored.

122は膨脹回路で、第1マスク画像M P +を膨脹
する処理を行って第2マスクパターンMP2を生成する
。123は第2マスクメモリで、生成された第2マスク
パターンMP、が格納される。
122 is an expansion circuit that performs processing to expand the first mask image M P + to generate a second mask pattern MP2. A second mask memory 123 stores the generated second mask pattern MP.

124は比較回路で、第2マスクパターンM R2が照
合印影C81あるいは登録印影R3oを包含するかを判
断する。
A comparison circuit 124 determines whether the second mask pattern M R2 includes the verification seal impression C81 or the registered seal impression R3o.

125は転送回路で、第2マスクパターンMP2が照合
印影O8+ も登録印影R3o も包含しないと判断し
たときに比較回路124が発する制御信号CCにより第
2マスクパターンM P、2を第1マスクメモリ121
に転送して格納する。
Reference numeral 125 denotes a transfer circuit which transfers the second mask pattern MP,2 to the first mask memory 121 in response to a control signal CC issued by the comparison circuit 124 when it is determined that the second mask pattern MP2 does not include the verification seal impression O8+ or the registered seal impression R3o.
Transfer and store.

126は第1マスキング回路で、照合印影C51を最終
のマスクパターンである第2マスクパターンM P 2
をマスキングすることにより、照合印影C82を生成す
る。
126 is a first masking circuit which converts the verification seal impression C51 into a second mask pattern M P2 which is the final mask pattern.
By masking, a verification seal impression C82 is generated.

127は第2マスキング回路で、登録印影R5゜を最終
のマスクパターンで第2マスクパターンM P 2でマ
スキングすることにより、登録印影R81を生成する。
A second masking circuit 127 generates a registered seal impression R81 by masking the registered seal impression R5° with a second mask pattern M P 2 as a final mask pattern.

(B)実施例の動作 実施例の動作を、第4図の照合印影、登録印影及びマス
クパターンの説明図を参照して説明する。
(B) Operation of the Embodiment The operation of the embodiment will be explained with reference to FIG. 4, which is an explanatory diagram of the verification seal imprint, registered seal imprint, and mask pattern.

第4図において(A)は各照合印影C80〜C83の説
明図、同図(B)は各マスクパターンMP1及びMP2
の説明図、同図(c)は、各登録印影の説明図である。
In FIG. 4, (A) is an explanatory diagram of each verification stamp C80 to C83, and (B) is an explanatory diagram of each mask pattern MP1 and MP2.
FIG. 3(c) is an explanatory diagram of each registered seal imprint.

なお、各印影は周囲の円粋の濃度値が1以上の部分のみ
を示し、内部の文字の図示は省略されている。
Note that each seal imprint shows only the portion where the density value of the surrounding circles is 1 or more, and illustration of the characters inside is omitted.

以下、照合の対象となる照合印影が第4図(A)の(a
、)に示す照合印影C3oであり、その登録印影が第4
図(c)の(cよ)に示す登録印影R3oである場合を
例にとって、本発明の一実施例について説明する。
Below, the verification seal imprint to be verified is (a) in Figure 4 (A).
, ) is the verification seal impression C3o, and its registered seal impression is the fourth one.
An embodiment of the present invention will be described by taking as an example the case of the registered seal impression R3o shown in (c) of FIG.

スキャナ141は照合印影を読み取り、第4図(A)の
(al)に示す照合印影C3oを第1画素メモリ142
に格納する。図示の照合印影C8゜において、点線LC
で示す部分DFは欠けた部分を示し、N1及びN2は押
印する際に生じたノイズである。押す力が不均一のため
、印影の線幅は不均一であり、又、照合印影C3oは、
登録印影R3oに対し図示の様にθの回転角度差をもっ
ている。
The scanner 141 reads the verification seal impression, and stores the verification stamp C3o shown in (al) in FIG. 4(A) in the first pixel memory 142.
Store in. At the illustrated verification stamp C8°, the dotted line LC
The portion DF shown by is a missing portion, and N1 and N2 are noises generated when stamping. Because the pressing force is uneven, the line width of the seal impression is uneven, and the verification seal impression C3o is
As shown in the figure, there is a rotation angle difference of θ with respect to the registered seal impression R3o.

一方、DB検索部152は登録印影DB151より一つ
の登録印影R3,を読み取り、第2画素メモリ153に
格納する。登録印影R3oは、第4図(c)の(c1)
に示す様に、均一な線幅の円枠である。なお、点線LC
の右側のDF’は、照合印影C8,の欠は部分DFに対
応する部分である。
On the other hand, the DB search unit 152 reads one registered seal imprint R3 from the registered seal imprint DB 151 and stores it in the second pixel memory 153. The registered seal impression R3o is (c1) in Fig. 4(c).
As shown, it is a circular frame with uniform line width. In addition, the dotted line LC
DF' on the right side is the portion corresponding to the portion DF where the missing portion of the verification seal imprint C8.

位置合わせ処理部111は、第1画素メモリ142より
読み出した照合印影C8oを、第2画素メモリ153よ
り読み出した登録印影R3oに位置合わせをし、回転角
度差θを無くした登録印影C8,を生成して第3画素メ
モリ112に格納する(第4図(A)の(c2))。
The alignment processing unit 111 aligns the verification seal imprint C8o read from the first pixel memory 142 with the registered seal imprint R3o read from the second pixel memory 153, and generates a registered seal imprint C8, which eliminates the rotation angle difference θ. and stored in the third pixel memory 112 ((c2) in FIG. 4(A)).

照合対象抽出部の第1論理積回路120は、第3画素メ
モリ112より読み出した照合印影C3,及び第2画素
メモリ153より読み出した登録印影R3,の濃度筐が
1以上である各画素の濃度値を1とみなし、両印影の論
理積をとることにより初期マスクパターンである第1マ
スクパターンMP、を生成して、第1マスクメモリ12
1に格納する(第4図(B)の(b+))。これにより
、図示の様に、照合印影C81と登録印影R3,の共通
部分からなりノイズN、及びN2を含まない第1マスク
パターンM P l が生成される。
The first AND circuit 120 of the verification target extraction unit calculates the density of each pixel of the verification seal impression C3 read out from the third pixel memory 112 and the registered seal impression R3 read out from the second pixel memory 153 whose density range is 1 or more. The first mask pattern MP, which is an initial mask pattern, is generated by assuming that the value is 1 and taking the logical product of both seal impressions, and the first mask pattern MP is stored in the first mask memory 12.
1 ((b+) in FIG. 4(B)). As a result, as shown in the figure, a first mask pattern M P l is generated which is made up of a common portion of the verification seal impression C81 and the registered seal impression R3 and does not include the noises N and N2.

膨脹回路122は、第1マスクパターンM P lを1
回だけ所定幅(例えば1画素分)膨脹させて第2マスク
パターンMP2を生成し、第2マスクメモリ123に格
納する。
The expansion circuit 122 sets the first mask pattern M P l to 1
The second mask pattern MP2 is generated by expanding the second mask pattern MP2 by a predetermined width (for example, one pixel) and stored in the second mask memory 123.

比較回路124は、生成された第2マスクパターンが第
3画像メモリ112の照合印影C3,あるいは第2画像
メモリ153の登録印影R3oを包含するかを判断し、
いずれも包含しないときは制御信号CCを発生して転送
回路125及び膨脹回路122に加える。
The comparison circuit 124 determines whether the generated second mask pattern includes the verification seal impression C3 of the third image memory 112 or the registered seal impression R3o of the second image memory 153,
If neither of them is included, a control signal CC is generated and applied to the transfer circuit 125 and the expansion circuit 122.

この制御信号CCを受けると、転送回路125は、第2
マスクメモリ123より第2マスクパターンM P 2
を読み出し、第1マスクメモリ121に転送して格納す
る。膨脹回路122は、この格納されたマスクパターン
M P 2 について所定幅だけ膨脹する処理を行って
新たな第2マスクパターン(同じ記号M P 2で示す
)を生成し、第2マスクメモリ123に格納する。
Upon receiving this control signal CC, the transfer circuit 125 transfers the second
Second mask pattern M P 2 from mask memory 123
is read out, transferred to the first mask memory 121, and stored. The expansion circuit 122 performs a process of expanding the stored mask pattern M P 2 by a predetermined width to generate a new second mask pattern (indicated by the same symbol M P 2 ), and stores it in the second mask memory 123. do.

以下、生成された第2マスクパターンが第2画像メモリ
153の照合印影C8lあるいは第2画像メモリ153
の登録印影R3oを包含する様になるまで前述の処理が
繰返され、最終の第2マスクパターン(同じMP2で示
す)が生成されて第2マスクメモリ123に格納される
(第4図(B)の(b2))。
Thereafter, the generated second mask pattern is used as the verification seal imprint C8l of the second image memory 153 or as the second image memory 153.
The above-described process is repeated until the registered seal imprint R3o is included, and a final second mask pattern (indicated by the same MP2) is generated and stored in the second mask memory 123 (FIG. 4(B) (b2)).

このとき、比較回路124は、第1及び第2マスキング
回路126及び127をイネーブルにする。
At this time, the comparison circuit 124 enables the first and second masking circuits 126 and 127.

イネーブルになった第1マスキング回路126は、照合
印影C8lを第2マスクパターンMP2でマスキングす
ることにより照合印影C32を生成し、第4画像メモリ
128に格納する(第4図(A)の(a3))。これに
より、照合印影C31にするノイズのN1及びN2が除
去された照合印影C82が生成される。
The enabled first masking circuit 126 generates a verification seal imprint C32 by masking the verification seal imprint C8l with the second mask pattern MP2, and stores it in the fourth image memory 128 ((a3 in FIG. 4(A)). )). As a result, a verification seal imprint C82 is generated from which noises N1 and N2 are removed from the verification seal imprint C31.

第2マスキング回路127は、登録印影R3゜を第2マ
スクパターンM P 2でマスキングすることにより登
録印影R3+を生成し、第5画像メモリ129に格納す
る(第4図(c)の(c2))。
The second masking circuit 127 generates a registered seal imprint R3+ by masking the registered seal imprint R3° with the second mask pattern M P 2, and stores it in the fifth image memory 129 ((c2 in FIG. 4(c)). ).

これにより、照合印影C82の欠は部分に対応する欠は
部分を有する登録印影R3,が生成される。
As a result, a registered seal imprint R3 having a missing part corresponding to the missing part of the verification seal imprint C82 is generated.

照合手段13の線幅補正回路131は、第4画像メモリ
128より読み出した照合印影C3,の線幅を第5画像
メモリ129より読み出した登録印影R3,の線幅に合
わせる処理を行って照合印影C33を生成し、第6画像
メモリ132に格納する(第4図(A)の(a、))。
The line width correction circuit 131 of the matching means 13 performs processing to match the line width of the matching seal imprint C3, read from the fourth image memory 128, to the line width of the registered seal imprint R3, read from the fifth image memory 129. C33 is generated and stored in the sixth image memory 132 ((a,) in FIG. 4(A)).

これにより、照合印影C3oが登録印影R3oの照合印
影である場合には、登録印影R3,と同様なパターンを
もった照合印影C83が生成される。
As a result, when the verification seal imprint C3o is a verification seal imprint of the registered seal imprint R3o, a verification seal imprint C83 having a pattern similar to that of the registered seal imprint R3 is generated.

照合部133は、線幅の合わされた照合印影C33と登
録印影R3+ とを照合し、照合度を算出する。
The matching unit 133 matches the registered seal imprint R3+ with the matching seal imprint C33 whose line widths have been matched, and calculates the degree of matching.

以上の様にして、照合印影に欠けやノイズがあっても、
精度の良い照合を行うことが出来る。
As mentioned above, even if there are chips or noise in the verification seal impression,
Highly accurate matching can be performed.

以上本発明の一実施例について説明したが、本発明は印
影の照合の他、印刷文字認識や部品のパターン検査等に
も適用することが出来る。
Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention can be applied not only to verification of seal impressions but also to printed character recognition, component pattern inspection, etc.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明した様に、本発明によれば、照合すべき2対象
に欠けやノイズ等があっても照合精度が低下せず、正し
い照合を行うことが出来る。
As explained above, according to the present invention, even if there are defects or noises in the two objects to be matched, the matching accuracy is not reduced and correct matching can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図・・・本発明の基本構成の説明図、第2図・・・
本発明の一実施例の構成の説明図、第3図・・・同実施
例の照合対象抽出手段の構成の説明図、 第4図・・・同実施例の照合印影、登録印影及びマスク
パターンの説明図、 第5図・・・従来の画像照合装置の説明図。 第1図〜第3図において、 11・・・位置合わせ手段、12・・・照合対象抽出手
段、13・・・照合手段、14・・・スキャン手段、1
5・・・データベース(DB)検索手段、131・・・
線幅補正回路。
Fig. 1...Explanatory diagram of the basic configuration of the present invention, Fig. 2...
An explanatory diagram of the configuration of an embodiment of the present invention, FIG. 3: An explanatory diagram of the configuration of the verification target extraction means of the embodiment, FIG. 4: Verification seal imprint, registered seal imprint, and mask pattern of the embodiment FIG. 5: An explanatory diagram of a conventional image matching device. 1 to 3, 11... positioning means, 12... matching target extraction means, 13... matching means, 14... scanning means, 1
5... Database (DB) search means, 131...
Line width correction circuit.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)二つの対象の画像の自動照合を行う画像自動照合
装置において、 (a)照合すべき2対象の画像上の位置合わせを行う位
置合わせ手段(11)と、 (b)位置合わせの行われた2対象の画像の共通部分に
基づいて前記2対象上り照合対象をそれぞれ抽出する照
合対象抽出手段(12)と、(c)前記抽出された各照
合対象に基づいて照合処理を行う照合手段(13)、 を備えたことを特徴とする画像自動照合装置。
(1) In an automatic image matching device that automatically matches images of two objects, (a) a positioning means (11) that performs positioning on the images of two objects to be matched; and (b) a positioning line. (c) a matching means for performing a matching process based on each of the extracted matching objects; (13) An automatic image matching device comprising:
(2)照合対象抽出手段(12)が、位置合わせされた
2対象の0でない画素の画素を1とみなして論理積を取
って初期のマスクパターンを生成し、この初期のマスク
パターンを膨脹させて前記位置合わせされた2対象の少
くとも一方を包含する最終のマスクパターンを生成し、
この最終のマスクパターンにより前記位置合わせされた
2対象をマスキングすることにより照合対象をそれぞれ
抽出することを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
画像自動照合装置。
(2) The matching target extracting means (12) generates an initial mask pattern by regarding the non-zero pixels of the two aligned targets as 1, performs a logical product, and expands this initial mask pattern. generating a final mask pattern that includes at least one of the two aligned objects;
2. The automatic image matching apparatus according to claim 1, wherein the two aligned objects are masked using the final mask pattern to extract matching objects.
(3)照合手段(13)が、照合対象抽出手段(12)
の抽出した二つの照合対象の線幅を合わせる線幅補正回
路(131)を備えていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項又は第2項記載の画像自動照合装置。
(3) The verification means (13) is the verification target extraction means (12)
3. The automatic image matching device according to claim 1, further comprising a line width correction circuit (131) for matching the line widths of the two extracted matching objects.
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