JPS63163139A - Light pulse tester - Google Patents

Light pulse tester

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JPS63163139A
JPS63163139A JP30775886A JP30775886A JPS63163139A JP S63163139 A JPS63163139 A JP S63163139A JP 30775886 A JP30775886 A JP 30775886A JP 30775886 A JP30775886 A JP 30775886A JP S63163139 A JPS63163139 A JP S63163139A
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Japan
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averaging
ratio
signal
predetermined
marker
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Takashi Oshimi
孝志 押味
Toru Okunuki
奥貫 徹
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Anritsu Corp
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
    • G01M11/3145Details of the optoelectronics or data analysis

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Abstract

PURPOSE:To dispense with all-time monitoring of a screen while eliminating variations in the accuracy of the results of measurement, by calculating and displaying the frequency and the time length of averaging until a specified S/N ratio is reached to automatically stop the averaging upon the reaching of the ratio. CONSTITUTION:When operation is started, the waveform of a back scattered light is displayed on a CRT, and so a specific position is assigned on a screen by a marker specifying means 12. At this point, as the means 12 outputs a specification signal S1, a detection means 13 detects the current S/N ratio at the specific position according to the signal S1 to output a detection signal S2. A ocmparator 14B compares the signal S2 with a set signal S3 to determine a difference between S/N ratios given by both the signals and sends a comparison signal S4 to a calculating section 15B, which calculates the frequency or time length of averaging necessary until the current S/N ratio reaches a set value, referring an S/N improve characteristic storing section 15A and outputs a calculation signal S5 to a display means 16 and a stop means 17. The means 16 displays the contents the signal S5. On the other hand, when the set S/N ratio is reached, the means 17 stops the averaging automatically on the basis of the signal S5.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は発光源から所定の光パルスを送出し、被測定
物から反射してくる後方散乱光を促えて被測定物の特性
を検出する光パルス試験器に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention sends out a predetermined light pulse from a light emitting source, and detects the characteristics of the measured object by stimulating backscattered light reflected from the measured object. Regarding optical pulse tester.

[従来の技術] 光ファイバの普及に伴って、光ファイバの接続点におけ
る接続損失、光ファイバの伝送損失、あるいは光ファイ
バが途中で破断やひび割れを起こした時のその位置等を
正確に評価できる測定器が大変重要な役割を持つように
なってきている。
[Prior art] With the spread of optical fibers, it has become possible to accurately evaluate the splice loss at the connection point of the optical fiber, the transmission loss of the optical fiber, and the location when the optical fiber breaks or cracks midway. Measuring instruments have come to play a very important role.

光パルス試験器はこのような光ファイバの特性を評価す
る測定器の一種で、光ファイバに光パルスを入射し、光
ファイバのコアに本質的に存在する屈折率の不均一性に
より散乱して戻ってくるいわゆる後方散乱光を促えて伝
送損失量の測定を行うとともに、入射パルスと障害点で
発生するフレー告 ネル反射との時間差を求め障害点まで距離を測定するも
のである。
An optical pulse tester is a type of measuring instrument that evaluates the characteristics of such optical fibers. It injects a light pulse into the optical fiber and measures the amount of light that is scattered due to the non-uniformity of the refractive index that inherently exists in the core of the optical fiber. The amount of transmission loss is measured by using the so-called backscattered light that returns, and the distance to the fault point is measured by determining the time difference between the incident pulse and the Fresnel reflection that occurs at the fault point.

以下、従来の光パルス試験器の構成とその動作原理を説
明する。
The configuration of a conventional optical pulse tester and its operating principle will be explained below.

第3図は従来の光パルス試験器の構成図である。図にお
いて1は全体の一制御を司どる処理装置(CPUという
)、2はCPUIのf、II御に従って所定のタイミン
グ信号を発生するタイミング発生部、3はタイミング発
生部2から出力されたタイミング信号に従って一定の間
隔で光パルスを発生するレーザダイオード(LD)等で
構成される発光部、4は光の通過方向によって光の進路
方向を変化させる方向性光結合器、5は測定の対象とな
る被測定物としての光ファイバ、6は光ファイバ5から
反射して戻ってくる後方散乱光を捉える受光部、7は受
光部6で捉えた微少の後方散乱光を増幅する増幅器、8
は増幅器7によって増幅された後方散乱光をサンプリン
グしてデジタル信号に変換するA/D変喚部、9はA/
D変換部8によってデジタル信号に変換された後方散乱
光をcputで処理し、その結果を波形として表示する
表示装置(CRTという)である。
FIG. 3 is a configuration diagram of a conventional optical pulse tester. In the figure, 1 is a processing unit (called a CPU) that controls one part of the overall control, 2 is a timing generation unit that generates a predetermined timing signal according to the control of f and II of the CPUI, and 3 is a timing signal output from the timing generation unit 2. 4 is a directional optical coupler that changes the direction of the light depending on the direction in which the light passes; 5 is the object of measurement. An optical fiber as an object to be measured, 6 a light receiving section that captures the backscattered light reflected and returned from the optical fiber 5, 7 an amplifier that amplifies the small amount of backscattered light captured by the light receiving section 6, 8
9 is an A/D converter that samples the backscattered light amplified by the amplifier 7 and converts it into a digital signal;
This is a display device (referred to as a CRT) that processes the backscattered light converted into a digital signal by the D converter 8 using a cput and displays the result as a waveform.

ここにおいてCPUIは雑音に埋れた後方散乱光を検出
するためアベレージングによるS/N改善を行うアベレ
ージング部11を内部に有している。
Here, the CPUI has an averaging section 11 inside that performs S/N improvement by averaging in order to detect backscattered light buried in noise.

次に動作について説明する。Next, the operation will be explained.

タイミング発生部2からタイミング信号が出力されると
、レーザダイオード等からなる発光部3はそのタイミン
グ信号により光パルスを出力する。
When a timing signal is output from the timing generating section 2, a light emitting section 3 consisting of a laser diode or the like outputs a light pulse based on the timing signal.

出力された光パルスは方向性結合器4を介して被測定物
としての光ファイバ5に人力される。
The output optical pulses are input to an optical fiber 5 as an object to be measured via a directional coupler 4.

光ファイバ5から反射して戻ってくる後方散乱光は再び
方向性結合器4を介して受光部6に人力される。
The backscattered light reflected and returned from the optical fiber 5 is input to the light receiving section 6 via the directional coupler 4 again.

受光部6によって促えられた後方散乱光は増幅37によ
って増幅されてA/D変換部8に人力される。
The backscattered light generated by the light receiving section 6 is amplified by the amplification 37 and then inputted to the A/D conversion section 8 .

このA/D変換部8はタイミング発生部2で発生するサ
ンプリングタイミングで後方散乱光をサンプリングしA
/D変換を行なった後、CPUIにデジタル信号に変換
した後方散乱光の光信号を出力する。
This A/D converter 8 samples the backscattered light at the sampling timing generated by the timing generator 2.
After performing the /D conversion, the optical signal of the backscattered light converted into a digital signal is output to the CPUI.

CPUIはA/D変換部8から人力された後方散乱光を
内部にあるアベレージング部11等を用いて処理し、C
RT9にその処理した結果を波形として表示する。
The CPU processes the backscattered light manually input from the A/D converter 8 using an internal averaging unit 11, etc.
The processed results are displayed on the RT9 as a waveform.

第4図(a)、(b)はcRT9J:に表示された波形
の1例を示す図で、第4図(a)はアベレージングの回
数が少ない時の波形を示す図、第4図(b)はアベレー
ジングの回数が多い時の波形を示す図である。
Figures 4(a) and 4(b) are diagrams showing an example of the waveform displayed on the cRT9J:. Figure 4(a) is a diagram showing the waveform when the number of averaging is small; b) is a diagram showing a waveform when the number of times of averaging is large.

図に示すようにアベレージング回数が多ければ多い程S
/N比は改冴され、雑音に埋れた後方散乱光の光信号を
検出することが可能となる。
As shown in the figure, the greater the number of averaging, the S
/N ratio is improved, and it becomes possible to detect optical signals of backscattered light buried in noise.

[発明が解決しようとする問題点] ところで従来の光パルス試験器におけるアベレージング
はオペレータが予めアベレージングの回数を定めておき
、この定めた回数だけアベレージングするとか、あるい
はCRTQ上に表示される波形の収束度を見ながら適当
なところでアベレージングを停正するとかの方法をとっ
ている。
[Problems to be Solved by the Invention] By the way, in averaging in conventional optical pulse testers, the operator predetermines the number of times of averaging, and the average is performed only by this predetermined number of times, or the average is displayed on the CRTQ. The method is to stop and correct the averaging at an appropriate point while checking the degree of convergence of the waveform.

それ故測定者によフてアベレージングの回数や時間が異
なると、波形のS/N比が異なり、その結果測定者によ
って411定結果の粒度か異なるという問題点があった
Therefore, if the number and time of averaging differ depending on the measurer, the S/N ratio of the waveform will differ, and as a result, there is a problem that the granularity of the 411 results will vary depending on the measurer.

またアヘレージングに要する時間が不明でアへレーシン
グを停止するまで測定者は常に光パルス試験器のCR7
画面を監視していなければならないという問題点かあフ
た。
Also, if the time required for aheraging is unknown, the measurer must always use CR7 on the optical pulse tester until the aheraging is stopped.
The problem of having to monitor the screen is a fuss.

この発明は上記問題点を解決するためになさねたもので
、予め定められたS/N比に到達するまでのアベレージ
ング回数や時間を測定者に知らせ、また自動的にアベレ
ージングを停止させることによって測定者が常にCR7
画面を監視しなくてもよい光パルス試験器を得ることを
目的としている。
This invention was made to solve the above problems, and it notifies the measurer of the number of times and time of averaging until a predetermined S/N ratio is reached, and also automatically stops averaging. This allows the measurer to always check CR7.
The aim is to obtain an optical pulse tester that does not require monitoring the screen.

また測定者が誰であっても常にS/N比が一定の、すな
わちMa1定の粒度が一定のパルス試験器を得ることを
目的としている。
Another object of the present invention is to obtain a pulse tester in which the S/N ratio is always constant, that is, the Ma1 constant particle size is constant, regardless of who is performing the measurement.

[問題点を解決するための手段] このため第1の発明によるパルス試験器は、表示画面上
の特定の位置をマーカの移動によって指定するマーカ指
定手段と、このマーカ指定手段によって指定された位置
のS/N比を検出する検出手段と、tめ設定された所定
のS/N比と上記検出手段によって検出されたS/N比
とを比較する比較1段と、この比較結果に基づいてS/
N改産曲線から所定のアヘレージング回数・時間を算出
する計算手段と、計算手段によって計算された結果に従
ってアベレージングを停止する停止L−L段とを備えた
ことを特徴とし、また、第2の発明による光パルス試験
器は、表示画面上の特定の位置をマーカの移動によって
指定するマーカ指定手段と、このマーカ指定手段によっ
て指定された位置のS/N比を検出する検出手段と、f
め設定された所定のS/N比と上記検出手段によって検
出されたS/N比とを比較する比較手段と、この比較結
果に基づいてS/N改斥曲線から所定のアベレージング
回数・時間を算出する計算手段と、該計算手段によって
計算された結果に従フてアベレージングを停止する停止
手段と、直配計算手段によって計算された結果に従って
その旨表示する表示手段とを備えたことを特徴としてい
る。
[Means for Solving the Problems] Therefore, the pulse tester according to the first invention includes a marker specifying means for specifying a specific position on the display screen by moving a marker, and a position specified by the marker specifying means. a first stage of comparison for comparing a predetermined S/N ratio set at the tth time with the S/N ratio detected by the detection means; S/
The present invention is characterized by comprising a calculation means for calculating a predetermined number of averaging times and time from the N conversion curve, and a stop L-L stage for stopping averaging according to the result calculated by the calculation means, and a second The optical pulse tester according to the invention includes a marker specifying means for specifying a specific position on a display screen by moving a marker, a detecting means for detecting the S/N ratio of the position specified by the marker specifying means, and f.
a comparison means for comparing a predetermined S/N ratio set for the above-mentioned purpose with the S/N ratio detected by the detection means, and a predetermined averaging number/time from the S/N correction curve based on the comparison result. , a stopping means for stopping the averaging according to the result calculated by the calculating means, and a display means for displaying the averaging according to the result calculated by the direct calculation means. It is a feature.

[作用] マーカ指定手段によって表示画面上の特定の位置に指定
すると、検出手段はこの指定された位置におけるS/N
比を検出する。
[Operation] When a specific position on the display screen is designated by the marker designation means, the detection means detects the S/N at this designated position.
Detect the ratio.

ここで比較手段が予め設定されている所定のS/N比と
検出されたS/N比とを比較すると、計算手段はS/N
改N曲線からアベレージングの回数や時間を算出する。
Here, when the comparing means compares the predetermined S/N ratio set in advance and the detected S/N ratio, the calculating means calculates the S/N ratio.
Calculate the number and time of averaging from the revised N curve.

停止手段は上記算出された結果に従って所定のアベレー
ジング回数や時間かくると、自動的にアベレ〜ジングを
停止する。
The stopping means automatically stops averaging after a predetermined number of averaging times or a predetermined period of time according to the calculated result.

[実施例] 以下この発明の実施例を図面に基づいて説明する。[Example] Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings.

第1図はこの発明の一実施例を示す構成図で、図におい
て12は表示画面上の特定の位置をマーカの移動によっ
て指定するマーカ指定手段、13はこのマーカ指定手段
12によって指定ざわた位;δのS/N比を検出する検
出手段、14は−tめ設定された所定のS/N比と上記
検出手段13によって検出されたS/N比とを比較する
比較手段、15はこの比較手段14に基づいてS/N改
善曲線から所定のアベレージング回数・時間を算出する
計算手段、16は計算手段15によって計算された結果
に従ってその旨表示画面上に表示する表示手段、17は
計算手段15によって計算された結果に従ってアベレー
ジングを停止する停止F手段である。
FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention. In the figure, 12 is a marker specifying means for specifying a specific position on the display screen by moving a marker, and 13 is a position specified by the marker specifying means 12. ; Detection means for detecting the S/N ratio of δ; 14 is a comparison means for comparing a predetermined S/N ratio set at -t and the S/N ratio detected by the detection means 13; 15 is a comparison means for this; Calculation means for calculating a predetermined number of averaging times and time from the S/N improvement curve based on the comparison means 14; 16, display means for displaying the result on the display screen according to the result calculated by the calculation means 15; 17, calculation means A stop F means stops the averaging according to the result calculated by the means 15.

ここにおいて、比較手段14はrめ所定のS/N比が設
定されているメモリ等で構成される設定tW 14 A
と、この設定i14Aに設定さ4ている所定のS/N比
と検出手段13によって検出されたS/N比とを比較し
てその比較の結果を計算手段15に出力する比較器14
Bとで構成され、計算手段15はメモリテーブルや計算
サブルーチン等で構成されるS/N改R曲線収納部15
Aと、S/N改占曲線収納部15Aに保持されているS
/N改牌曲線を参照しつつ比較器14Bから出力される
比較結果に基ついてアベレージング回数や時間を計算す
る計算部15Bとで構成されている。
Here, the comparison means 14 is configured with a memory or the like in which a predetermined S/N ratio is set.
and a comparator 14 that compares the predetermined S/N ratio set in this setting i14A with the S/N ratio detected by the detection means 13 and outputs the result of the comparison to the calculation means 15.
The calculation means 15 includes an S/N modified R curve storage section 15 consisting of a memory table, a calculation subroutine, etc.
A and S held in the S/N reoccupation curve storage section 15A.
The calculation section 15B calculates the number of times of averaging and the time based on the comparison result output from the comparator 14B while referring to the /N rewriting curve.

ここでS/N改善曲線について第2図を基にして説明す
る。
Here, the S/N improvement curve will be explained based on FIG. 2.

i回のアベレージングによる雑斤電力減少率NRは次に
示す式 N:任5位の整数 I:アベレージング回数 で表わせることがわかっている。
It is known that the power reduction rate NR due to i-times averaging can be expressed by the following formula: N: 5th-place integer I: number of averaging operations.

この式から指数形アベレージングでの改冴量(s / 
N ) Aは (S/N) A=  10  log(NR)で表わさ
れる。
From this formula, the amount of improvement in exponential averaging (s/
N ) A is expressed as (S/N) A=10 log(NR).

Nをパラメータとして(S/N)Aを大きくとるにはN
が大きい方が良いのでアベレージング回数に応じてNの
値を次のように変化させる。
To increase (S/N)A with N as a parameter, use N
Since it is better to have a larger value, the value of N is changed as follows depending on the number of times of averaging.

■の範囲  i=5〜64  N、=32■の範囲  
1=65〜4228 N2=1024 ■の範囲  1=4229〜cc+ N 3 =8192 この結果S/N改み曲線は第2図に示すようになる。
■Range i=5~64 N,=32■Range
1=65-4228 N2=1024 Range (1) 1=4229-cc+N3=8192 As a result, the S/N change curve becomes as shown in FIG.

この第2図に示すグラフから現在のS/N比がわかると
、所定のS/N比に達するまでにはどれだけのアベレー
ジ回数が必要かの解答が得られることになる。
If the current S/N ratio is known from the graph shown in FIG. 2, an answer can be obtained as to how many times the averaging is required to reach a predetermined S/N ratio.

次に動作について説明する。Next, the operation will be explained.

まず測定に先立フて設定器14Aに所定のS/N比を設
定し、S/N改善曲線をS/N改み曲線収納部15Aに
記憶させておく。
First, prior to the measurement, a predetermined S/N ratio is set in the setter 14A, and the S/N improvement curve is stored in the S/N correction curve storage section 15A.

ここで光パルス試験器を動作させるとCRT9には第4
図(a)に示すような後方散乱光の波形が表示されるの
で、マーカ指定手段12を用いて表示画面上の特定の位
置をマーカの移動によって指定する。
At this point, when the optical pulse tester is operated, the fourth
Since the waveform of the backscattered light as shown in Figure (a) is displayed, a specific position on the display screen is specified using the marker specifying means 12 by moving the marker.

この時マーカ指定手段12は検出手段13に特定の位置
が指定されたことを示す指定信号S1を出力するので、
検出手段13は指定信号S1に従フて特定の位置におけ
る現在のS/N比を検出して検出信号S2を比較器14
Bに出力する。
At this time, the marker designation means 12 outputs a designation signal S1 to the detection means 13 indicating that a specific position has been designated.
The detection means 13 detects the current S/N ratio at a specific position according to the designated signal S1, and sends the detected signal S2 to the comparator 14.
Output to B.

比較器14Bは設定器14Aに設定されている所定のS
/N比を表わす設定45号S3と検出信号S2とを比較
し、現在のS/N比と設定器に設定されているS/N比
との差をとって比較信号S4として計算部15Bに渡す
The comparator 14B selects the predetermined S set in the setter 14A.
The setting No. 45 S3 representing the /N ratio is compared with the detection signal S2, and the difference between the current S/N ratio and the S/N ratio set in the setting device is calculated and sent to the calculation unit 15B as a comparison signal S4. hand over.

計算部15Bは比較信号S4を受取ると、S/N改善曲
線収納部15Aを参照しつつ検出信′+32の表わす現
在のS/N比が設定信号S3の表わす所定のS/N比に
達するまで、どのくらいアベレージング回数が必要かあ
るいはどのくらいアベレージングに時間がかかるかを口
出し2算出信号S5を表示手段16及び停止手段17に
出力する。
When the calculation unit 15B receives the comparison signal S4, the calculation unit 15B refers to the S/N improvement curve storage unit 15A until the current S/N ratio represented by the detection signal '+32 reaches the predetermined S/N ratio represented by the setting signal S3. , outputs a cue 2 calculation signal S5 to the display means 16 and the stop means 17, indicating how many times the averaging is required or how long the averaging takes.

ここに表示手段16は計算手段15から出力される口出
(3号S5に従ってその旨CRT(9)の表示画面上に
表示する。
Here, the display means 16 displays the input output from the calculation means 15 (No. 3 S5) on the display screen of the CRT (9).

ここでいうその旨とはアベレージング回数、アヘレージ
ングに必要な時間、アベレージングが終わる時il+、
アベレージングが終わるまでの残り時間等である。
The meanings here include the number of times of averaging, the time required for averaging, the time il+ when averaging ends,
This is the remaining time until averaging ends, etc.

一方計算手段15によりて計算されたアベレージング回
数までアベレージングを行うと、停止手段17は算出信
号S5に基づき自動的にアベレージングを停止する。
On the other hand, when averaging is performed up to the number of times of averaging calculated by calculation means 15, stopping means 17 automatically stops averaging based on calculation signal S5.

なおこの実施例ではS/N6!曲線収納部15Aに第2
図に示すS/N改善曲線のグラフをメモリデープルとし
て収納した例を示しであるが、計算式を収納し、計算サ
ブルーチンを用いてアベレージング回数や時間を計算す
る構成としても良い。
In this example, the S/N is 6! The second one is in the curved storage part 15A.
Although an example is shown in which the graph of the S/N improvement curve shown in the figure is stored as a memory table, a configuration may also be adopted in which calculation formulas are stored and the number of averaging times and time are calculated using a calculation subroutine.

またここでいうS/N改善曲線とはグラフ、計算式のみ
ならず、比較手段が出力する比較信号とアベレージング
回数や時間との対応関係を表わすものを総称している。
Furthermore, the S/N improvement curve herein refers not only to graphs and calculation formulas, but also to generically represents the correspondence between the comparison signal output by the comparison means and the number of times of averaging and time.

[発明の効果] 以F説明したようにこの発明によりば所定のS/N比に
達するまでのアベレージング回数や時間を計算し、表示
画面上に計算結果を表示し、また所定のS/N比に達す
ると停止Fするように構成したので、測定者は、常にC
RT画面を監視することなく、また測定者によって測定
結果の精度が異ならない効果を有する。
[Effects of the Invention] As explained below, according to the present invention, the number of times of averaging and the time required to reach a predetermined S/N ratio are calculated, the calculation results are displayed on the display screen, and the averaging times and time required to reach a predetermined S/N ratio are calculated. Since the configuration is configured to stop when the ratio is reached, the measurer can always
There is no need to monitor the RT screen, and the accuracy of measurement results does not vary depending on the measurer.

また測定者が常にCRT画面を監視する必要かなく、表
示画面に表示されたアベレージング回数や時間にアヘレ
ーシングが自動的に停止する効果かある。
Furthermore, there is no need for the measurer to constantly monitor the CRT screen, and there is an effect that the aheracing is automatically stopped at the averaging number and time displayed on the display screen.

【図面の簡単な説明】 第1図はこの発明の一実施例を示す構成図、第2図はS
/N改廊曲線のグラフを示す図、第3し1は従来の光パ
ルス試験器の構成を示す図、第4図は光パルス試験器の
CRTに写し出される後方散乱光の波形を示す図である
。 !−CP U、2・−タイミング発生部、3・−発光部
、4・一方向性結合器、6・−受光部、7−・増幅器、
8−A / D変換部、12・−マーカ指定1段、13
−・・検出手段、14・−比較手段、15−・・計算f
一段、16・・・表示手段、17−・・停止手段。 第2図 アベレージング回数(回)
[BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS] Fig. 1 is a configuration diagram showing an embodiment of the present invention, and Fig. 2 is an S
Figure 3 shows a graph of the /N corridor curve, Figure 3 and 1 shows the configuration of a conventional optical pulse tester, and Figure 4 shows the waveform of backscattered light projected on the CRT of the optical pulse tester. be. ! -CPU, 2.-timing generation section, 3.-light emitting section, 4.unidirectional coupler, 6.-light receiving section, 7.-amplifier,
8-A/D converter, 12--Marker specification 1 stage, 13
-...Detection means, 14--Comparison means, 15-...Calculation f
1st stage, 16--display means, 17--stop means. Figure 2 Averaging number of times (times)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)発光源から所定の光パルスを送出し、被測定物か
ら反射してくる後方散乱光及びフレネル反射光をサンプ
リングしてデジタル信号に変換し、表示画面上に被測定
物の特性を表示する光パルス試験器において、 表示画面上の特定の位置をマーカの移動によって指定す
るマーカ指定手段と、このマーカ指定手段によって指定
された位置のS/N比を検出する検出手段と、予め設定
された所定のS/N比と上記検出手段によって検出され
たS/N比とを比較する比較手段と、この比較結果に基
づいてS/N改善曲線から所定のアベレージング回数・
時間を算出する計算手段と、該計算手段によって計算さ
れた結果に従ってアベレージングを停止する停止手段と
を備えたことを特徴とする光パルス試験器。
(1) A predetermined light pulse is sent out from the light source, the backscattered light and Fresnel reflected light reflected from the object to be measured are sampled and converted into digital signals, and the characteristics of the object to be measured are displayed on the display screen. The optical pulse tester includes a marker specifying means for specifying a specific position on the display screen by moving a marker, a detecting means for detecting the S/N ratio of the position specified by the marker specifying means, and a preset and a comparison means for comparing a predetermined S/N ratio detected by the detection means with the S/N ratio detected by the detection means, and a predetermined averaging number of times and
An optical pulse tester comprising: a calculation means for calculating time; and a stop means for stopping averaging according to the result calculated by the calculation means.
(2)発光源から所定の光パルスを送出し、被測定物か
ら反射してくる後方散乱光及びフレネル反射光をサンプ
リングしてデジタル信号に変換し、表示画面上に被測定
物の特性を表示する光パルス試験器において、 表示画面上の特定の位置をマーカの移動によって指定す
るマーカ指定手段と、このマーカ指定手段によって指定
された位置のS/N比を検出する検出手段と、予め設定
された所定のS/N比と上記検出手段によって検出され
たS/N比とを比較する比較手段と、この比較結果に基
づいてS/N改善曲線から所定のアベレージング回数・
時間を算出する計算手段と、該計算手段によって計算さ
れた結果に従ってアベレージングを停止する停止手段と
、前記計算手段によって計算された結果に従ってその旨
表示する表示手段とを備えたことを特徴とする光パルス
試験器。
(2) Sends a predetermined light pulse from the light source, samples the backscattered light and Fresnel reflected light reflected from the object to be measured, converts them into digital signals, and displays the characteristics of the object to be measured on the display screen. The optical pulse tester includes a marker specifying means for specifying a specific position on the display screen by moving a marker, a detecting means for detecting the S/N ratio of the position specified by the marker specifying means, and a preset and a comparison means for comparing a predetermined S/N ratio detected by the detection means with the S/N ratio detected by the detection means, and a predetermined averaging number of times and
The present invention is characterized by comprising a calculation means for calculating the time, a stop means for stopping averaging according to the result calculated by the calculation means, and a display means for displaying the fact according to the result calculated by the calculation means. Optical pulse tester.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008004443A1 (en) * 2006-07-03 2008-01-10 Anritsu Corporation Optical time domain reflectometer and method for testing optical fiber using optical pulse

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