JP2972973B2 - Optical pulse tester - Google Patents

Optical pulse tester

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JP2972973B2
JP2972973B2 JP4343415A JP34341592A JP2972973B2 JP 2972973 B2 JP2972973 B2 JP 2972973B2 JP 4343415 A JP4343415 A JP 4343415A JP 34341592 A JP34341592 A JP 34341592A JP 2972973 B2 JP2972973 B2 JP 2972973B2
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佳己 竹尾
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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、被測定光ファイバにレ
ーザパルス光を出射し、その光ファイバからの後方散乱
光やフレネル反射光の受光出力レベルの時間経過にとも
なう変化を測定して、被測定光ファイバの長さ、伝送損
失、接続点の接続損失等の伝送特性を測定する光パルス
試験器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of measuring a change in a received light output level of backscattered light or Fresnel reflected light from an optical fiber with time, by emitting a laser pulse light to an optical fiber to be measured. The present invention relates to an optical pulse tester that measures transmission characteristics such as the length of a measured optical fiber, transmission loss, and connection loss at a connection point.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ファイバの伝送特性を測定するため
に、従来より図10に示す構成の光パルス試験器10が
用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an optical pulse tester 10 having the configuration shown in FIG. 10 has been used to measure the transmission characteristics of an optical fiber.

【0003】光パルス試験器10のパルス光源部11
は、所定波長のレーザ光を出力するレーザ光源12と、
このレーザ光源12を所定周期でパルス駆動するパルス
発生器13によって構成され、波長λ0 で所定幅(例え
ば1μS)のレーザパルス光を方向性結合器14を介し
て光コネクタ15へ出力する。光コネクタ15には被測
定光ファイバ1の一端側の光コネクタ2が接続されてお
り、レーザパルス光は、光コネクタ15、2を介して被
測定光ファイバ1へ入射される。
The pulse light source unit 11 of the optical pulse tester 10
A laser light source 12 that outputs laser light of a predetermined wavelength,
The laser light source 12 is constituted by a pulse generator 13 for pulse driving at a predetermined cycle, and outputs a laser pulse light having a wavelength λ 0 and a predetermined width (for example, 1 μS) to the optical connector 15 via the directional coupler 14. The optical connector 15 is connected to the optical connector 2 at one end of the optical fiber 1 to be measured, and the laser pulse light is incident on the optical fiber 1 to be measured via the optical connectors 15 and 2.

【0004】光コネクタ15から出射されるレーザパル
スの一部は、光コネクタ間の僅かなエアギャップによっ
て方向性結合器14側へ反射(フレネル反射)され、受
光部17の受光器18で受光され、その受光信号が増幅
器19で増幅される。一方、被測定光ファイバ1に入射
されたレーザパルス光は、ファイバ内の散乱によって僅
かずつ減衰して進む。この散乱光のうち、光コネクタ2
側へ戻る後方散乱光は、方向結合器14を経て受光器1
8で受光されて、その受光信号は増幅出力される。
A part of the laser pulse emitted from the optical connector 15 is reflected (Fresnel reflected) toward the directional coupler 14 by a slight air gap between the optical connectors, and is received by the light receiver 18 of the light receiver 17. The received light signal is amplified by the amplifier 19. On the other hand, the laser pulse light incident on the optical fiber under measurement 1 attenuates little by little due to scattering in the fiber and proceeds. Of the scattered light, the optical connector 2
The backscattered light returning to the side passes through the directional coupler 14 and
The light is received at 8, and the received light signal is amplified and output.

【0005】後方散乱光は、レーザパルス光がファイバ
内を進むにつれて小さくなるため、受光部17からの出
力信号は、図11に示すように、レーザパルス光の出射
時t0 に光コネクタ部分のフレネル反射によってパルス
状に増減変化し、以後は主にファイバの損失によって決
まる一定の減衰率で減衰変化する。被測定光ファイバ1
の途中の接続部で接続損失がある場合には、その位置に
対応するt1 時に後方散乱光の受光出力レベルが急激に
少なくなる。
[0005] backscattered light to become smaller as the laser pulse light travels in the fiber, the output signal from the light receiving portion 17, as shown in FIG. 11, the optical connector portion to the emission time t 0 of the laser pulse light It fluctuates in a pulse-like manner due to Fresnel reflection, and thereafter, attenuates and changes at a constant attenuation rate determined mainly by fiber loss. Optical fiber under test 1
When there is a connection loss at the connection part in the middle of the above, the received light output level of the backscattered light sharply decreases at t 1 corresponding to the position.

【0006】この受光出力は、A/D変換器20によっ
て高速にサンプリングされつつディジタル値に変換さ
れ、処理部21へ送られる。処理部21は、レーザパル
ス光が出射されたときから受光出力データを受けて、図
11のような減衰特性を表示装置22に表示するととも
に、例えば受光出力レベルが急激に変化しているt1
点を検出し、その変化点の位置(距離)や変化量を測定
している。
The received light output is converted into a digital value while being sampled at a high speed by an A / D converter 20 and sent to a processing section 21. The processing unit 21 receives the received light output data from the time when the laser pulse light is emitted, displays the attenuation characteristic as shown in FIG. 11 on the display device 22, and, for example, t 1 when the received light output level is rapidly changing. The time point is detected, and the position (distance) and the amount of change of the change point are measured.

【0007】測定者はこの特性から、被測定光ファイバ
1の伝送損失(全体の傾き)や接続部の位置やその損失
あるいは破断等の伝送特性を知ることができる。
From this characteristic, the measurer can know the transmission characteristics of the measured optical fiber 1, such as the transmission loss (total inclination), the position of the connection portion, and its loss or breakage.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ような構成の従来の光パルス試験器では、光コネクタ1
5、2のギャップによるフレネル反射光のレベルとその
フレネル反射に続く後方散乱光のレベル差が大きいた
め、受光部17がこの変化に応答しきれず、図11のA
のレーザパルス光の幅に比べて受光出力の応答時間Bが
非常に長くなり(距離換算で数100m)、伝送特性を
測定することができないデッドゾーンが広くなってしま
う。
However, in the conventional optical pulse tester having the above configuration, the optical connector 1
Since there is a large difference between the level of the Fresnel reflected light due to the gaps 5 and 2 and the level of the backscattered light following the Fresnel reflection, the light receiving unit 17 cannot fully respond to this change, and A in FIG.
The response time B of the received light output becomes very long (several hundred meters in terms of distance) as compared with the width of the laser pulse light, and the dead zone in which the transmission characteristics cannot be measured becomes wide.

【0009】即ち、例えばパルス幅1マイクロ秒のレー
ザパルスのエアギャップによるフレネル反射は、出射レ
ベルを基準として−14dBであるのに対し、それに続
く後方散乱光のレベルは一般の光ファイバの場合ほぼ−
50dBであり、その差は36dBにもなる。36dB
のパワー差は受光出力の電圧差で72dBとなる。実際
にはさらに低い後方散乱光を検出する必要があり、この
ような広いダナミックレンジと高速性をもつ受光部を構
成することは、現在の技術では極めて困難である。した
がって、入射側のフレネル反射のように高いレベルから
急峻に受光レベルが変化したとき、受光部の出力はこの
変化に対して大きく遅延してしまう。
That is, for example, the Fresnel reflection of a laser pulse having a pulse width of 1 microsecond due to an air gap is -14 dB with reference to the emission level, while the level of the backscattered light subsequent thereto is almost the same as in a general optical fiber. −
50 dB, the difference being as high as 36 dB. 36dB
Is 72 dB as the voltage difference of the received light output. In practice, it is necessary to detect even lower backscattered light, and it is extremely difficult with the current technology to configure a light receiving unit having such a wide dynamic range and high speed. Therefore, when the light receiving level changes steeply from a high level like Fresnel reflection on the incident side, the output of the light receiving section is greatly delayed with respect to this change.

【0010】このデッドゾーンの問題を解決するため
に、レーザパルス光の出射時のみ受光器18への光を遮
断する方法や、光コネクタ15、2の間にダミーファイ
バを接続してダミーファイバ以後の受光信号のみを測定
する方法もあったが、前者の方法では高価で高速な光ス
イッチが必要となり、後者の方法では数100m分のダ
ミーファイバの接続やその長さ補正が煩わしいという問
題があった。
In order to solve the problem of the dead zone, a method of shutting off the light to the photodetector 18 only when the laser pulse light is emitted, or a method of connecting a dummy fiber between the optical connectors 15 and 2 and Although there was a method of measuring only the received light signal of the above, the former method requires an expensive and high-speed optical switch, and the latter method has a problem that connection of a dummy fiber of several hundred meters and correction of its length are troublesome. Was.

【0011】本発明は、従来の測定用レーザ光源と、こ
の測定用のレーザ光源の波長より短かく、入射口近傍で
の後方散乱光のレベルが測定用光源によるレベルより高
くなる短波長のレーザ光源を用いることで、前記問題を
一挙に解決した光パルス試験器を提供することを目的と
している。
According to the present invention, there is provided a conventional measuring laser light source, and a short-wavelength laser whose wavelength is shorter than the wavelength of the measuring laser light source and whose backscattered light level near the entrance is higher than that of the measuring light source. It is an object of the present invention to provide an optical pulse tester that solves the above problem at once by using a light source.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の光パルス試験器は、レーザパルス光を被測
定光ファイバ(1)へ出射するパルス光源部(31)
と、前記レーザパルス光を受けた前記被測定光ファイバ
からの後方散乱光およびフレネル反射光のレベルを検出
する受光部(40)とを有し、前記レーザパルス光出射
時からの前記受光部の出力レベルの時間経過にともなう
変化を測定することによって、前記被測定光ファイバの
伝送特性を測定する光パルス試験器において、前記パル
ス光源部(31)は、所定波長(λ1 )のレーザ光を出
力する第1のレーザ光源(32)と、前記第1のレーザ
光源の波長より短かく、前記被測定光ファイバの入射口
近傍で該第1のレーザ光源のレーザパルスによる後方散
乱光より高いレベルの後方散乱光が得られる波長
(λ2 )のレーザ光を出力する第2のレーザ光源(3
3)とを有し、前記第2のレーザ光源からのレーザパル
ス光に対する前記受光部の出力によって前記被測定光フ
ァイバの入射口近傍の伝送特性を測定し、前記第1のレ
ーザ光源からのレーザパルス光に対する前記受光部の出
力によって前記被測定光ファイバの入射口近傍以遠の伝
送特性を測定する処理部(50)を備えている。
In order to solve the above-mentioned problems, an optical pulse tester according to the present invention comprises a pulse light source section (31) for emitting laser pulse light to an optical fiber to be measured (1).
And a light receiving unit (40) for detecting the levels of backscattered light and Fresnel reflected light from the measured optical fiber that has received the laser pulse light, and In an optical pulse tester that measures a transmission characteristic of the measured optical fiber by measuring a change with time of an output level, the pulse light source unit (31) emits a laser beam having a predetermined wavelength (λ 1 ). A first laser light source (32) for output, and a level shorter than the wavelength of the first laser light source and higher than the backscattered light by the laser pulse of the first laser light source near the entrance of the optical fiber to be measured. A second laser light source (3) that outputs a laser beam having a wavelength (λ 2 ) at which backscattered light of
3) measuring the transmission characteristics near the entrance of the optical fiber to be measured by the output of the light receiving section with respect to the laser pulse light from the second laser light source, and using the laser from the first laser light source. A processing unit (50) for measuring transmission characteristics beyond the vicinity of the entrance of the optical fiber to be measured based on the output of the light receiving unit with respect to the pulsed light.

【0013】[0013]

【作用】このようにしたため、被測定光ファイバの入射
口近傍では、第2のレーザ光源のレーザパルスに対する
後方散乱光のレベルは、第1のレーザ光源による後方散
乱光のレベルより高くなり、波長に依存しないフレネル
反射光と第2のレーザ光源による後方散乱光とのレベル
差が少なくなって、受光部の応答時間が短縮される。
In this manner, in the vicinity of the entrance of the optical fiber to be measured, the level of the backscattered light with respect to the laser pulse of the second laser light source becomes higher than the level of the backscattered light by the first laser light source, and the wavelength , And the level difference between the Fresnel reflected light and the backscattered light by the second laser light source is reduced, and the response time of the light receiving unit is shortened.

【0014】[0014]

【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】図1は、一実施例の光パルス試験器30の
構成を示している。
FIG. 1 shows the configuration of an optical pulse tester 30 according to one embodiment.

【0016】この光パルス試験器30のパルス光源部3
1は、レーザダイオードで構成され、波長λ1 のレーザ
光を出力する第1のレーザ光源32と、λ1 より短かい
波長λ2 のレーザ光を出力する第2のレーザ光源33と
を有し、両レーザ光源32、33を共通のパルス発生器
34でパルス駆動し、両レーザ光源32、33から出力
されるレーザパルスを合波器35で合波して方向性結合
器36へ送出する。
The pulse light source unit 3 of the optical pulse tester 30
Reference numeral 1 denotes a first laser light source 32 which is composed of a laser diode and outputs a laser light having a wavelength λ 1 and a second laser light source 33 which outputs a laser light having a wavelength λ 2 shorter than λ 1. The two laser light sources 32 and 33 are pulse-driven by a common pulse generator 34, and the laser pulses output from both laser light sources 32 and 33 are multiplexed by a multiplexer 35 and transmitted to a directional coupler 36.

【0017】図2は、この被測定光ファイバ1の波長に
対する損失量の変化を示すもので、このファイバに用い
る光の波長は、長い伝送距離を得るために、通常最も低
損失な波長領域C内の波長が用いられ、第1のレーザ光
源32は、この低損失な領域C内の波長λ1 (例えば1
300nm)のレーザ光を出力する。
FIG. 2 shows a change in the amount of loss with respect to the wavelength of the optical fiber 1 to be measured. In order to obtain a long transmission distance, the wavelength of the light used for this fiber is usually the lowest loss wavelength region C. The first laser light source 32 uses the wavelength λ 1 (for example, 1) in the low-loss area C.
(300 nm).

【0018】また、第2のレーザ光源33は、被測定光
ファイバ1に対して通常用いられることのない極めて短
い波長λ2 (例えば680nm)のレーザ光を出力す
る。なお、680nmの波長のレーザ光は安価なレーザ
ダイオードによって出力することができる。
The second laser light source 33 outputs a laser beam having a very short wavelength λ 2 (for example, 680 nm) which is not usually used for the optical fiber 1 to be measured. The laser light having a wavelength of 680 nm can be output by an inexpensive laser diode.

【0019】合波器35からのパルス光は、方向性結合
器36を介して光コネクタ37へ送出され、光コネクタ
37から光コネクタ2へ出射されるパルス光は、被測定
光ファイバ1へ入射される。
The pulse light from the multiplexer 35 is transmitted to the optical connector 37 via the directional coupler 36, and the pulse light emitted from the optical connector 37 to the optical connector 2 enters the optical fiber 1 to be measured. Is done.

【0020】光コネクタ間のギャップによるフレネル反
射光および被測定光ファイバ1からの後方散乱光は、方
向性結合器36を経て、受光部40の分波器41へ送ら
れる。
The Fresnel reflected light due to the gap between the optical connectors and the backscattered light from the measured optical fiber 1 are sent to the duplexer 41 of the light receiving unit 40 via the directional coupler 36.

【0021】分波器41は、入射光のうち、波長λ1
光と波長λ2 の光を分離して、第1の受光器42、第2
の受光器43へそれぞれ送る。第1、第2の受光器4
2、43の受光信号は増幅器44、45によって増幅さ
れ、スイッチ46を介して、A/D変換器47に入力さ
れる。スイッチ46の切換えは、後述する処理部50に
よって行なわれ、スイッチ46で選択された受光信号
は、A/D変換器47によって高速サンプリングされつ
つディジタル値に変換されて処理部50へ送出される。
The splitter 41 separates the light having the wavelength λ 1 and the light having the wavelength λ 2 from the incident light, and the first light receiver 42 and the second
To the photodetector 43 of each of FIGS. First and second light receivers 4
The light receiving signals 2 and 43 are amplified by amplifiers 44 and 45 and input to an A / D converter 47 via a switch 46. The switching of the switch 46 is performed by a processing unit 50 described later. The light receiving signal selected by the switch 46 is converted into a digital value while being sampled at a high speed by an A / D converter 47 and transmitted to the processing unit 50.

【0022】処理部50は、パルス発生器34による両
レーザ光源32、33のパルス駆動に同期して、第1、
第2の受光器42、43の受光出力を所定時間ずつ取り
込み、被測定光ファイバ1の入射口近傍から遠端までの
特性を測定して、その結果を表示装置51に表示する。
The processing unit 50 synchronizes with the pulse driving of the two laser light sources 32 and 33 by the pulse generator 34,
The light receiving outputs of the second light receivers 42 and 43 are taken in at predetermined time intervals, the characteristics from the vicinity of the entrance to the far end of the measured optical fiber 1 are measured, and the results are displayed on the display device 51.

【0023】図3は、処理部50の処理手順の一例を示
しており、以下、このフローチャートに従って光パルス
試験器30の動作を説明する。
FIG. 3 shows an example of the processing procedure of the processing section 50. Hereinafter, the operation of the optical pulse tester 30 will be described according to this flowchart.

【0024】スイッチ34が第2の受光器43側に接続
された状態で、パルス光源部31のパルス発生器34か
ら例えば1μSの駆動パルスが第1、第2のレーザ光源
32、33に出力されると、波長の異なる2つのレーザ
パルスが光コネクタ37から光コネクタ2側へ出射され
る。コネクタ接続部でのフレネル反射光は、方向性結合
器36を介して分波器41へ送られ、波長λ1 、λ2
フレネル反射光がそれぞれ第1、第2の受光器42、4
3へ入射される。
When the switch 34 is connected to the second light receiver 43, a drive pulse of, for example, 1 μS is output from the pulse generator 34 of the pulse light source unit 31 to the first and second laser light sources 32 and 33. Then, two laser pulses having different wavelengths are emitted from the optical connector 37 to the optical connector 2 side. The Fresnel reflected light at the connector connection portion is sent to the duplexer 41 via the directional coupler 36, and the Fresnel reflected lights of the wavelengths λ 1 and λ 2 are converted into the first and second light receivers 42 and 4 respectively.
3 is incident.

【0025】フレネル反射光のレベルは、各レーザパル
スの出力が等しければ波長に依存せず出射レベルの4パ
ーセント(−14dB)で一定であるため、第1、第2
の受光器42、43には、出射レベルを基準としてピー
クがほぼ−14dBのパルス光が入射される。
The level of the Fresnel reflected light is constant at 4% (-14 dB) of the emission level without depending on the wavelength if the output of each laser pulse is equal.
The light receivers 42 and 43 receive pulse light having a peak of approximately −14 dB based on the emission level.

【0026】波長λ1 の光は被測定光ファイバ1に対し
て低損失なため、前述したように、そのフレネル反射光
に続く後方散乱光のレベルはほぼ−50dBまで低下す
る。この急峻なレベル低下により、第1の受光器42側
の受光出力は、図4の(a)のように、t0 時から極め
て長い応答時間Ta(デッドゾーン)が経過した後にこ
の波長λ1 におけるファイバの損失に対応した一定の傾
きで減衰する。
Since the light having the wavelength λ 1 has low loss with respect to the optical fiber 1 to be measured, as described above, the level of the backscattered light following the Fresnel reflected light is reduced to approximately −50 dB. Due to this sharp decrease in the level, the received light output of the first photodetector 42 has a wavelength λ 1 after an extremely long response time Ta (dead zone) has elapsed since t 0 , as shown in FIG. At a constant slope corresponding to the fiber loss at

【0027】一方、波長λ2 は波長λ1 に比べて短く、
被測定光ファイバ1に対して高損失なため、第2の受光
器43へのフレネル反射光に続く後方散乱光のレベル
は、波長λ1 の後方散乱光のレベルに比べて大きくな
る。即ち、後方散乱光のレベルは、波長の4乗の逆数に
ほぼ比例することから、λ1 =1300nm、λ2 =6
80nmの場合には、λ2 の後方散乱光は、λ1 の光に
対して(λ1 /λ2 4 倍(ほぼ13倍、dB換算で1
1dB)レベルが高くなり、フレネル反射に対するレベ
ル差は25dBに縮小される。このため、第2の受光器
43側の受光出力は、図4の(b)に示すように、t0
時から極めて短かい応答時間Tb(デッドゾーン)が経
過した後に、その波長λ2 におけるファイバの損失に対
応した一定の傾きで減衰する。
On the other hand, the wavelength λ 2 is shorter than the wavelength λ 1 ,
For high loss for the measured optical fiber 1, a second level of the backscattered light that follows the Fresnel reflection light on the light receiver 43 is greater than the level of the backscattered light having a wavelength of lambda 1. That is, since the level of the backscattered light is almost proportional to the reciprocal of the fourth power of the wavelength, λ 1 = 1300 nm and λ 2 = 6.
In the case of 80nm, the backscattered light lambda 2 is (lambda 1 / lambda 2) to light of lambda 1 4 times (approximately 13 times, 1 dB in terms
1 dB) level is increased, and the level difference for Fresnel reflection is reduced to 25 dB. For this reason, as shown in FIG. 4B, the received light output of the second light receiver 43 is t 0.
After a very short response time Tb (dead zone) has elapsed from the time, decays with a constant slope corresponding to the loss of the fiber at that wavelength lambda 2.

【0028】処理部50は、パルス発生器34からのト
リガパルスを受け、t0 時からTaより僅かに長い設定
時間T1 の間、第2の受光器43側の出力データN
(t)を取込む(S1〜4)。
The processing unit 50 receives the trigger pulse from the pulse generator 34, between time t 0 of slightly longer set time than Ta T 1, the output data of the second photodetector 43 side N
(T) is taken in (S1-4).

【0029】設定時間T1 が経過した後、スイッチ46
は、第1の受光器42側に切換えられ、決められた測定
期間T0 からT1 を減じたT2 時間、第1の受光器42
側の出力データF(t)を取込む(S5〜7)。
After the set time T 1 has elapsed, the switch 46
It is switched to the first light receiver 42 side, T 2 hours minus T 1 from the measurement period T 0 which is determined, a first light receiver 42
The output data F (t) on the side is fetched (S5-7).

【0030】次にT1 期間に取り込んだデータN(t)
に対して、波長に応じた補正処理を行って、T1 期間お
よびT2 期間連続した一連の特性を表示装置51に表示
させる(S8、9)。
Next, the data N (t) taken in the period T 1
Respect, performing a correction process corresponding to the wavelength to be displayed on the period T 1 and period T 2 consecutive displays a series of characteristics device 51 (S8,9).

【0031】この補正処理は、図4の(a)の後方散乱
光の直線式J=Pt−50に対する、図4の(b)の後
方散乱光の直線式K=Qt−39の差H(t)=K−J
をt0 時からT1 期間の間にわたって求め、このH
(t)をT1 期間内における各時間毎の補正データと
し、T1 期間に取り込んだデータN(t)からH(t)
を減算補正することによって行なわれる。この補正処理
の結果図5に示すように、T1 期間の特性とT2 期間の
特性とが同一の傾きで連続して表示され、あたかも波長
λ1 のパルス光だけを用いたように一定の傾きで減衰変
化する特性が表示される。この特性のデッドゾーンは、
補正前と変わらずに僅かな時間Tbで済み、入射口近傍
の測定可能な範囲がTa−Tbの分だけ拡がる。
The correction process is performed by calculating the difference H () between the linear expression K = Qt-39 of the backscattered light shown in FIG. 4B and the linear expression J = Pt-50 of the backscattered light shown in FIG. t) = KJ
From t 0 to T 1 , and this H
(T) was the correction data for each time within period T 1, taken in period T 1 data N (t) from H (t)
Is subtracted and corrected. As shown in the results Figure 5 this correction process, and the characteristics of the characteristics and period T 2 of the period T 1 is continuously displayed on the same slope, fixed as if it were using only pulsed light having a wavelength lambda 1 The characteristic that the attenuation changes with the slope is displayed. The dead zone of this characteristic is
Only a short time Tb is required as before, and the measurable range near the entrance is expanded by Ta-Tb.

【0032】なお、T1 期間内に例えば図4(b)のR
のように、接続点損失によるレベルのステップ変化が生
じた場合、波長λ1 の後方散乱光も図4の(a)のR′
のように同一量だけステップ変化しているので、補正後
の特性は、図5の R″のように、連続して表示され
る。
[0032] Incidentally, FIG. 4, for example in the period T 1 in (b) R
As shown in FIG. 4, when the level changes due to the connection point loss, the backscattered light having the wavelength λ 1 is also changed to R ′ in FIG.
As shown in FIG. 5, the corrected characteristics are continuously displayed as shown by R ″ in FIG.

【0033】[0033]

【他の実施例】前記実施例では、1回のレーザパルスの
出力によって被測定光ファイバの入射口近傍から遠端ま
での特性を測定していたが、図6のフローチャートに示
すように、レーザパルスを1回出力するごとに、取込み
データをそれぞれ加算し、M回後にその平均値を求め
て、この平均化されたデータによって被測定光ファイバ
の特性を測定すれば、平均化によって雑音成分が抑圧さ
れたデータで測定を行なうことができる。
[Other Embodiments] In the above embodiment, the characteristics from the vicinity of the entrance to the far end of the optical fiber to be measured are measured by the output of one laser pulse, but as shown in the flowchart of FIG. Each time a pulse is output, the acquired data is added, and the average value is obtained after M times, and the characteristics of the optical fiber to be measured are measured based on the averaged data. Measurements can be made with the suppressed data.

【0034】また、前記実施例では、波長の異なるレー
ザパルスを同時に出力していたが、図7に示す光パルス
試験器60のように、パルス光源部61側にスイッチ6
2を設け、第1、第2のレーザ光源32、33を交互に
パルス駆動してもよい。この場合には、受光部64を1
つの受光器65で構成することも可能となり、処理部6
6において、1回目のトリガ時には、T1 期間のみのデ
ータを取込み、2回目のトリガ時には、T2 期間のみの
データを取り込んで前記同様の処理を行なったり、ある
いは、奇数回目と偶数回目とでそれぞれの期間のデータ
を交互に取り込んで平均化するようにしてもよい。
In the above-described embodiment, laser pulses having different wavelengths are simultaneously output. However, as in the optical pulse tester 60 shown in FIG.
2, the first and second laser light sources 32 and 33 may be alternately pulse-driven. In this case, the light receiving section 64 is set to 1
It is also possible to configure with one light receiver 65, and the processing unit 6
In the 6, the first when the trigger takes in the data of only period T 1, the second when the trigger, or performing the same processing takes in the data of only the period T 2, or the odd-numbered and even-numbered The data of each period may be alternately taken and averaged.

【0035】さらに図8に示す光パルス試験器70のパ
ルス光源部71のように、第1、第2のレーザ光源3
2、33に対してそれぞれ独立したパルス発生器72、
73を設け、スイッチ切り換えを行なわずに、入射口近
傍の測定と入射口近傍以遠の測定とを処理部73で非同
期に行なうようにしてもよい。
Further, like the pulse light source unit 71 of the optical pulse tester 70 shown in FIG.
2, 33 independent pulse generators 72,
The processor 73 may be provided so that the measurement near the entrance and the measurement beyond the vicinity of the entrance are asynchronously performed by the processing unit 73 without switching.

【0036】また、前記実施例では、第2のレーザ光源
による後方散乱光の受光出力の特性を第1のレーザ光源
による後方散乱光の特性に合わせるように補正していた
が、これは本発明を限定するものでなく、図9に示すよ
うに、2つのレーザ光源による測定結果を交差位置で接
続するように表示してもよい。
In the above-described embodiment, the characteristic of the output of the backscattered light from the second laser light source is corrected so as to match the characteristic of the backscattered light from the first laser light source. However, the measurement results obtained by the two laser light sources may be displayed so as to be connected at the intersection as shown in FIG.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光パルス
試験器は、従来から測定用に用いていた所定波長のレー
ザ光を出力する第1のレーザ光源と、被測定光ファイバ
の入射口近傍における後方散乱光のレベルが、第1のレ
ーザ光源による後方散乱光のレベルより高いレベルとな
る短波長のレーザ光を出力する第2のレーザ光源とを有
し、被測定光ファイバの入射口近傍の特性を第2のレー
ザ光源からのパルス光によって測定し、入射口近傍以遠
の特性を第1のレーザ光源からのパルス光によって測定
している。
As described above, the optical pulse tester of the present invention comprises a first laser light source for outputting a laser beam of a predetermined wavelength, which has been conventionally used for measurement, and an entrance of an optical fiber to be measured. A second laser light source that outputs short-wavelength laser light in which the level of the backscattered light in the vicinity is higher than the level of the backscattered light from the first laser light source; The near-field characteristics are measured by pulse light from the second laser light source, and the properties beyond the vicinity of the entrance are measured by pulse light from the first laser light source.

【0038】このため、入射口近傍の測定では、接続部
のフレネル反射光と後方散乱光とのレベル差が少なくな
って、この変化に対する受光部の応答時間が短縮され
る。したがって、高価な光スイッチや作業が煩雑になる
ダミーファイバを用いることなく、デッドゾーンの極め
て少ない測定が可能となる。
For this reason, in the measurement in the vicinity of the entrance, the level difference between the Fresnel reflected light and the backscattered light at the connection portion is reduced, and the response time of the light receiving portion to this change is shortened. Therefore, extremely small dead zones can be measured without using an expensive optical switch or a dummy fiber that complicates the operation.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】波長に対する光ファイバの損失特性図である。FIG. 2 is a graph showing loss characteristics of an optical fiber with respect to wavelength.

【図3】一実施例の処理部の処理手順を示すフローチャ
ートである。
FIG. 3 is a flowchart illustrating a processing procedure of a processing unit according to an embodiment;

【図4】2つの波長の光に対する受光出力図である。FIG. 4 is a light reception output diagram for light of two wavelengths.

【図5】補正後の特性表示図である。FIG. 5 is a characteristic display diagram after correction.

【図6】平均化処理を含むフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart including an averaging process.

【図7】本発明の他の実施例の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 7 is a block diagram showing a configuration of another embodiment of the present invention.

【図8】本発明の他の実施例の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of another embodiment of the present invention.

【図9】補正を行なわない場合の特性表示図である。FIG. 9 is a characteristic display diagram when no correction is performed.

【図10】従来装置の構成を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of a conventional device.

【図11】従来装置による特性表示図である。FIG. 11 is a characteristic display diagram of a conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 被測定光ファイバ 2 光コネクタ 30 光パルス試験器 31 パルス光源部 32 第1のレーザ光源 33 第2のレーザ光源 34 パルス発生器 35 合波器 36 方向性結合器 37 光コネクタ 40 受光部 41 分波器 42 第1の受光器 43 第2の受光器 44、45 増幅器 50 処理部 REFERENCE SIGNS LIST 1 optical fiber to be measured 2 optical connector 30 optical pulse tester 31 pulse light source unit 32 first laser light source 33 second laser light source 34 pulse generator 35 multiplexer 36 directional coupler 37 optical connector 40 light receiving unit 41 minutes Wave device 42 First light receiver 43 Second light receiver 44, 45 Amplifier 50 Processing unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01M 11/00 - 11/02 JICSTファイル(JOIS)──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) G01M 11/00-11/02 JICST file (JOIS)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】レーザパルス光を被測定光ファイバ(1)
へ出射するパルス光源部(31)と、前記レーザパルス
光を受けた前記被測定光ファイバからの後方散乱光およ
びフレネル反射光のレベルを検出する受光部(40)と
を有し、前記レーザパルス光出射時からの前記受光部の
出力レベルの時間経過にともなう変化を測定することに
よって、前記被測定光ファイバの伝送特性を測定する光
パルス試験器において、 前記パルス光源部(31)は、 所定波長(λ1 )のレーザ光を出力する第1のレーザ光
源(32)と、 前記第1のレーザ光源の波長より短かく、前記被測定光
ファイバの入射口近傍で該第1のレーザ光源のレーザパ
ルスによる後方散乱光より高いレベルの後方散乱光が得
られる波長(λ2 )のレーザ光を出力する第2のレーザ
光源(33)とを有し、 前記第2のレーザ光源からのレーザパルス光に対する前
記受光部の出力によって前記被測定光ファイバの入射口
近傍の伝送特性を測定し、前記第1のレーザ光源からの
レーザパルス光に対する前記受光部の出力によって前記
被測定光ファイバの入射口近傍以遠の伝送特性を測定す
る処理部(50)を備えたことを特徴とする光パルス試
験器。
An optical fiber to be measured is a laser pulse light.
A light source section (31) for emitting the laser pulse light, and a light receiving section (40) for detecting a level of backscattered light and Fresnel reflected light from the optical fiber to be measured that has received the laser pulse light. In an optical pulse tester for measuring a transmission characteristic of the optical fiber to be measured by measuring a change with time of an output level of the light receiving unit from the time of light emission, the pulse light source unit (31) A first laser light source (32) that outputs a laser beam having a wavelength (λ 1 ); and a first laser light source that is shorter than the wavelength of the first laser light source and near the entrance of the optical fiber to be measured. a second laser light source (33) a high level of the backscattered light from the backscattering light by the laser pulse outputs laser light having a wavelength (lambda 2) obtained, Les from the second laser light source A transmission characteristic near the entrance of the optical fiber to be measured is measured by an output of the light receiving unit with respect to the pulse light, and an incident light of the optical fiber to be measured is measured by an output of the light receiving unit with respect to the laser pulse light from the first laser light source. An optical pulse tester comprising a processing unit (50) for measuring transmission characteristics beyond the mouth.
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