JPH06167424A - Light pulse tester - Google Patents

Light pulse tester

Info

Publication number
JPH06167424A
JPH06167424A JP34341592A JP34341592A JPH06167424A JP H06167424 A JPH06167424 A JP H06167424A JP 34341592 A JP34341592 A JP 34341592A JP 34341592 A JP34341592 A JP 34341592A JP H06167424 A JPH06167424 A JP H06167424A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
laser
wavelength
pulse
optical fiber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP34341592A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2972973B2 (en
Inventor
Hideo Mori
秀夫 森
Yoshiki Takeo
佳己 竹尾
Takashi Sakamoto
貴司 坂本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Anritsu Corp filed Critical Anritsu Corp
Priority to JP4343415A priority Critical patent/JP2972973B2/en
Publication of JPH06167424A publication Critical patent/JPH06167424A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2972973B2 publication Critical patent/JP2972973B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To shorten the dead zone in the vicinity of an incident port in a light pulse tester emitting a laser pulse to an optical fiber to be measured and testing the transmission characteristics thereof. CONSTITUTION:The laser pulses with wavelengths lambda1, lambda2 outputted from first and second laser beam sources 32, 33 are emitted to an optical fiber 1 to be measured through optical connectors 37, 2. The beam with a wavelength lambda1 among the beams returned from the connection part of the connectors is detected by a first photodetector 42 and the beam with the wavelength lambda2 is detected by a second photodetector 43. The level of the Fresnel reflection at the connection part of the connectors is equal independent of a wavelength and the level of back scattering beam with the wavelength lambda2 continuous thereto is higher than the level of back scattering beam with the wavelength lambda1. A processing part 50 measures the characteristics in the vicinity of the incident port of the optical fiber l to be measured on the basis of the beam detection output on the side of the second photodetector 43 on which back scattering beam reduced in level difference is incident in succession to the Fresnel reflection and measures remoter characteristics on the basis of the beam detection output on the side of the first photodetector 42.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、被測定光ファイバにレ
ーザパルス光を出射し、その光ファイバからの後方散乱
光やフレネル反射光の受光出力レベルの時間経過にとも
なう変化を測定して、被測定光ファイバの長さ、伝送損
失、接続点の接続損失等の伝送特性を測定する光パルス
試験器に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention emits a laser pulse light to an optical fiber to be measured and measures the change in the received output level of backscattered light or Fresnel reflected light from the optical fiber over time, The present invention relates to an optical pulse tester that measures transmission characteristics such as the length of an optical fiber under test, transmission loss, and connection loss at a connection point.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ファイバの伝送特性を測定するため
に、従来より図10に示す構成の光パルス試験器10が
用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an optical pulse tester 10 having a configuration shown in FIG. 10 has been used to measure the transmission characteristics of an optical fiber.

【0003】光パルス試験器10のパルス光源部11
は、所定波長のレーザ光を出力するレーザ光源12と、
このレーザ光源12を所定周期でパルス駆動するパルス
発生器13によって構成され、波長λ0 で所定幅(例え
ば1μS)のレーザパルス光を方向性結合器14を介し
て光コネクタ15へ出力する。光コネクタ15には被測
定光ファイバ1の一端側の光コネクタ2が接続されてお
り、レーザパルス光は、光コネクタ15、2を介して被
測定光ファイバ1へ入射される。
The pulse light source section 11 of the optical pulse tester 10
Is a laser light source 12 that outputs laser light of a predetermined wavelength,
A pulse generator 13 that pulse-drives the laser light source 12 at a predetermined cycle, and outputs a laser pulse light having a predetermined width (for example, 1 μS) at a wavelength λ 0 to the optical connector 15 via the directional coupler 14. An optical connector 2 on one end side of the optical fiber 1 to be measured is connected to the optical connector 15, and the laser pulse light is incident on the optical fiber 1 to be measured via the optical connectors 15 and 2.

【0004】光コネクタ15から出射されるレーザパル
スの一部は、光コネクタ間の僅かなエアギャップによっ
て方向性結合器14側へ反射(フレネル反射)され、受
光部17の受光器18で受光され、その受光信号が増幅
器19で増幅される。一方、被測定光ファイバ1に入射
されたレーザパルス光は、ファイバ内の散乱によって僅
かずつ減衰して進む。この散乱光のうち、光コネクタ2
側へ戻る後方散乱光は、方向結合器14を経て受光器1
8で受光されて、その受光信号は増幅出力される。
A part of the laser pulse emitted from the optical connector 15 is reflected (Fresnel reflection) to the directional coupler 14 side by a slight air gap between the optical connectors, and is received by the light receiver 18 of the light receiver 17. The received light signal is amplified by the amplifier 19. On the other hand, the laser pulse light incident on the measured optical fiber 1 is gradually attenuated by the scattering in the fiber and advances. Of this scattered light, the optical connector 2
The backscattered light returning to the side passes through the directional coupler 14 and the light receiver 1
Light is received at 8, and the received light signal is amplified and output.

【0005】後方散乱光は、レーザパルス光がファイバ
内を進むにつれて小さくなるため、受光部17からの出
力信号は、図11に示すように、レーザパルス光の出射
時t0 に光コネクタ部分のフレネル反射によってパルス
状に増減変化し、以後は主にファイバの損失によって決
まる一定の減衰率で減衰変化する。被測定光ファイバ1
の途中の接続部で接続損失がある場合には、その位置に
対応するt1 時に後方散乱光の受光出力レベルが急激に
少なくなる。
Since the backscattered light becomes smaller as the laser pulse light travels in the fiber, the output signal from the light receiving portion 17 is, as shown in FIG. 11, at the optical connector portion at the time t 0 of emission of the laser pulse light. The Fresnel reflection causes a pulse-like increase / decrease, and thereafter, the attenuation changes with a constant attenuation rate mainly determined by the loss of the fiber. Optical fiber under test 1
If there is a connection loss in the connection part in the middle of, the received light output level of the backscattered light sharply decreases at t 1 corresponding to that position.

【0006】この受光出力は、A/D変換器20によっ
て高速にサンプリングされつつディジタル値に変換さ
れ、処理部21へ送られる。処理部21は、レーザパル
ス光が出射されたときから受光出力データを受けて、図
11のような減衰特性を表示装置22に表示するととも
に、例えば受光出力レベルが急激に変化しているt1
点を検出し、その変化点の位置(距離)や変化量を測定
している。
The received light output is converted into a digital value while being sampled at high speed by the A / D converter 20, and is sent to the processing unit 21. The processing unit 21 receives the light reception output data from the time when the laser pulse light is emitted, displays the attenuation characteristic as shown in FIG. 11 on the display device 22, and, for example, the light reception output level is rapidly changing t 1 The time point is detected, and the position (distance) of the change point and the change amount are measured.

【0007】測定者はこの特性から、被測定光ファイバ
1の伝送損失(全体の傾き)や接続部の位置やその損失
あるいは破断等の伝送特性を知ることができる。
From this characteristic, the measurer can know the transmission loss (overall inclination) of the optical fiber 1 to be measured, the position of the connecting portion, and the transmission characteristic such as loss or breakage.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ような構成の従来の光パルス試験器では、光コネクタ1
5、2のギャップによるフレネル反射光のレベルとその
フレネル反射に続く後方散乱光のレベル差が大きいた
め、受光部17がこの変化に応答しきれず、図11のA
のレーザパルス光の幅に比べて受光出力の応答時間Bが
非常に長くなり(距離換算で数100m)、伝送特性を
測定することができないデッドゾーンが広くなってしま
う。
However, in the conventional optical pulse tester having the above structure, the optical connector 1 is used.
Since the level difference between the Fresnel reflected light level due to the gaps 5 and 2 and the level of the backscattered light following the Fresnel reflection is large, the light receiving unit 17 cannot fully respond to this change, and A in FIG.
The response time B of the received light output becomes very long (several hundreds of meters in terms of distance) as compared with the width of the laser pulse light, and the dead zone where the transmission characteristics cannot be measured becomes wide.

【0009】即ち、例えばパルス幅1マイクロ秒のレー
ザパルスのエアギャップによるフレネル反射は、出射レ
ベルを基準として−14dBであるのに対し、それに続
く後方散乱光のレベルは一般の光ファイバの場合ほぼ−
50dBであり、その差は36dBにもなる。36dB
のパワー差は受光出力の電圧差で72dBとなる。実際
にはさらに低い後方散乱光を検出する必要があり、この
ような広いダナミックレンジと高速性をもつ受光部を構
成することは、現在の技術では極めて困難である。した
がって、入射側のフレネル反射のように高いレベルから
急峻に受光レベルが変化したとき、受光部の出力はこの
変化に対して大きく遅延してしまう。
That is, for example, the Fresnel reflection due to the air gap of a laser pulse having a pulse width of 1 microsecond is -14 dB with reference to the emission level, whereas the level of the backscattered light that follows is approximately in the case of a general optical fiber. −
It is 50 dB, and the difference is 36 dB. 36 dB
Power difference is 72 dB due to the voltage difference of the received light output. Actually, it is necessary to detect even lower backscattered light, and it is extremely difficult to construct a light receiving section having such a wide dynamic range and high speed with the current technology. Therefore, when the light-receiving level sharply changes from a high level like Fresnel reflection on the incident side, the output of the light-receiving unit is greatly delayed with respect to this change.

【0010】このデッドゾーンの問題を解決するため
に、レーザパルス光の出射時のみ受光器18への光を遮
断する方法や、光コネクタ15、2の間にダミーファイ
バを接続してダミーファイバ以後の受光信号のみを測定
する方法もあったが、前者の方法では高価で高速な光ス
イッチが必要となり、後者の方法では数100m分のダ
ミーファイバの接続やその長さ補正が煩わしいという問
題があった。
In order to solve the problem of this dead zone, a method of cutting off the light to the photodetector 18 only when the laser pulse light is emitted, or a dummy fiber is connected between the optical connectors 15 and 2 and the dummy fiber However, the former method requires an expensive and high-speed optical switch, and the latter method has a problem in that it is troublesome to connect a dummy fiber for several 100 m and correct its length. It was

【0011】本発明は、従来の測定用レーザ光源と、こ
の測定用のレーザ光源の波長より短かく、入射口近傍で
の後方散乱光のレベルが測定用光源によるレベルより高
くなる短波長のレーザ光源を用いることで、前記問題を
一挙に解決した光パルス試験器を提供することを目的と
している。
The present invention relates to a conventional laser light source for measurement, and a short-wavelength laser light whose wavelength is shorter than that of the laser light source for measurement and the level of backscattered light near the entrance is higher than that of the light source for measurement. It is an object of the present invention to provide an optical pulse tester that solves the above problems all at once by using a light source.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の光パルス試験器は、レーザパルス光を被測
定光ファイバ(1)へ出射するパルス光源部(31)
と、前記レーザパルス光を受けた前記被測定光ファイバ
からの後方散乱光およびフレネル反射光のレベルを検出
する受光部(40)とを有し、前記レーザパルス光出射
時からの前記受光部の出力レベルの時間経過にともなう
変化を測定することによって、前記被測定光ファイバの
伝送特性を測定する光パルス試験器において、前記パル
ス光源部(31)は、所定波長(λ1 )のレーザ光を出
力する第1のレーザ光源(32)と、前記第1のレーザ
光源の波長より短かく、前記被測定光ファイバの入射口
近傍で該第1のレーザ光源のレーザパルスによる後方散
乱光より高いレベルの後方散乱光が得られる波長
(λ2 )のレーザ光を出力する第2のレーザ光源(3
3)とを有し、前記第2のレーザ光源からのレーザパル
ス光に対する前記受光部の出力によって前記被測定光フ
ァイバの入射口近傍の伝送特性を測定し、前記第1のレ
ーザ光源からのレーザパルス光に対する前記受光部の出
力によって前記被測定光ファイバの入射口近傍以遠の伝
送特性を測定する処理部(50)を備えている。
In order to solve the above-mentioned problems, an optical pulse tester of the present invention comprises a pulse light source section (31) for emitting laser pulse light to an optical fiber (1) to be measured.
And a light receiving section (40) for detecting the level of backscattered light and Fresnel reflected light from the optical fiber under measurement that has received the laser pulse light, and the light receiving section of the light receiving section after the laser pulse light is emitted. In an optical pulse tester that measures the transmission characteristics of the optical fiber under test by measuring the change in output level over time, the pulse light source unit (31) emits laser light of a predetermined wavelength (λ 1 ). A first laser light source (32) for outputting and a level shorter than the wavelength of the first laser light source and higher than the backscattered light by the laser pulse of the first laser light source near the entrance of the optical fiber to be measured. Second laser light source (3) that outputs laser light of a wavelength (λ 2 ) that can obtain backscattered light of
3) and the transmission characteristic near the entrance of the optical fiber to be measured is measured by the output of the light receiving unit with respect to the laser pulse light from the second laser light source, and the laser from the first laser light source is measured. A processing unit (50) for measuring the transmission characteristics of the measured optical fiber beyond the vicinity of the entrance is provided by the output of the light receiving unit with respect to the pulsed light.

【0013】[0013]

【作用】このようにしたため、被測定光ファイバの入射
口近傍では、第2のレーザ光源のレーザパルスに対する
後方散乱光のレベルは、第1のレーザ光源による後方散
乱光のレベルより高くなり、波長に依存しないフレネル
反射光と第2のレーザ光源による後方散乱光とのレベル
差が少なくなって、受光部の応答時間が短縮される。
As a result, in the vicinity of the entrance of the optical fiber to be measured, the level of backscattered light with respect to the laser pulse of the second laser light source becomes higher than the level of backscattered light from the first laser light source, and The level difference between the Fresnel reflected light not depending on and the backscattered light by the second laser light source is reduced, and the response time of the light receiving unit is shortened.

【0014】[0014]

【実施例】以下、図面に基づいて本発明の一実施例を説
明する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】図1は、一実施例の光パルス試験器30の
構成を示している。
FIG. 1 shows the configuration of an optical pulse tester 30 according to an embodiment.

【0016】この光パルス試験器30のパルス光源部3
1は、レーザダイオードで構成され、波長λ1 のレーザ
光を出力する第1のレーザ光源32と、λ1 より短かい
波長λ2 のレーザ光を出力する第2のレーザ光源33と
を有し、両レーザ光源32、33を共通のパルス発生器
34でパルス駆動し、両レーザ光源32、33から出力
されるレーザパルスを合波器35で合波して方向性結合
器36へ送出する。
The pulse light source unit 3 of the optical pulse tester 30
Reference numeral 1 denotes a laser diode, which has a first laser light source 32 which outputs a laser beam of wavelength λ 1 and a second laser light source 33 which outputs a laser beam of wavelength λ 2 shorter than λ 1. , Both laser light sources 32 and 33 are pulse-driven by a common pulse generator 34, and laser pulses output from both laser light sources 32 and 33 are combined by a combiner 35 and sent to a directional coupler 36.

【0017】図2は、この被測定光ファイバ1の波長に
対する損失量の変化を示すもので、このファイバに用い
る光の波長は、長い伝送距離を得るために、通常最も低
損失な波長領域C内の波長が用いられ、第1のレーザ光
源32は、この低損失な領域C内の波長λ1 (例えば1
300nm)のレーザ光を出力する。
FIG. 2 shows changes in the loss amount with respect to the wavelength of the optical fiber 1 to be measured. The wavelength of the light used in this fiber is usually the lowest loss wavelength region C in order to obtain a long transmission distance. wavelength of the inner is used, the first laser light source 32, the wavelength lambda 1 (e.g. 1 of the low loss region C
Laser light of 300 nm) is output.

【0018】また、第2のレーザ光源33は、被測定光
ファイバ1に対して通常用いられることのない極めて短
い波長λ2 (例えば680nm)のレーザ光を出力す
る。なお、680nmの波長のレーザ光は安価なレーザ
ダイオードによって出力することができる。
The second laser light source 33 outputs a laser beam having an extremely short wavelength λ 2 (for example, 680 nm) which is not usually used for the optical fiber 1 to be measured. Laser light with a wavelength of 680 nm can be output by an inexpensive laser diode.

【0019】合波器35からのパルス光は、方向性結合
器36を介して光コネクタ37へ送出され、光コネクタ
37から光コネクタ2へ出射されるパルス光は、被測定
光ファイバ1へ入射される。
The pulsed light from the multiplexer 35 is transmitted to the optical connector 37 via the directional coupler 36, and the pulsed light emitted from the optical connector 37 to the optical connector 2 is incident on the optical fiber 1 to be measured. To be done.

【0020】光コネクタ間のギャップによるフレネル反
射光および被測定光ファイバ1からの後方散乱光は、方
向性結合器36を経て、受光部40の分波器41へ送ら
れる。
The Fresnel reflected light due to the gap between the optical connectors and the backscattered light from the optical fiber 1 to be measured are sent to the demultiplexer 41 of the light receiving section 40 via the directional coupler 36.

【0021】分波器41は、入射光のうち、波長λ1
光と波長λ2 の光を分離して、第1の受光器42、第2
の受光器43へそれぞれ送る。第1、第2の受光器4
2、43の受光信号は増幅器44、45によって増幅さ
れ、スイッチ46を介して、A/D変換器47に入力さ
れる。スイッチ46の切換えは、後述する処理部50に
よって行なわれ、スイッチ46で選択された受光信号
は、A/D変換器47によって高速サンプリングされつ
つディジタル値に変換されて処理部50へ送出される。
The demultiplexer 41 separates the light of wavelength λ 1 and the light of wavelength λ 2 of the incident light into the first light receiver 42 and the second light receiver 42.
To the light receiver 43 of each. First and second light receiver 4
The light receiving signals of 2, 43 are amplified by the amplifiers 44, 45, and input to the A / D converter 47 via the switch 46. The switching of the switch 46 is performed by a processing unit 50, which will be described later, and the received light signal selected by the switch 46 is converted into a digital value while being high-speed sampled by the A / D converter 47 and is sent to the processing unit 50.

【0022】処理部50は、パルス発生器34による両
レーザ光源32、33のパルス駆動に同期して、第1、
第2の受光器42、43の受光出力を所定時間ずつ取り
込み、被測定光ファイバ1の入射口近傍から遠端までの
特性を測定して、その結果を表示装置51に表示する。
The processing unit 50 synchronizes with pulse driving of both laser light sources 32 and 33 by the pulse generator 34, and
The light reception outputs of the second light receivers 42 and 43 are fetched every predetermined time, the characteristics of the measured optical fiber 1 from the vicinity of the entrance to the far end are measured, and the result is displayed on the display device 51.

【0023】図3は、処理部50の処理手順の一例を示
しており、以下、このフローチャートに従って光パルス
試験器30の動作を説明する。
FIG. 3 shows an example of the processing procedure of the processing section 50, and the operation of the optical pulse tester 30 will be described below with reference to this flowchart.

【0024】スイッチ34が第2の受光器43側に接続
された状態で、パルス光源部31のパルス発生器34か
ら例えば1μSの駆動パルスが第1、第2のレーザ光源
32、33に出力されると、波長の異なる2つのレーザ
パルスが光コネクタ37から光コネクタ2側へ出射され
る。コネクタ接続部でのフレネル反射光は、方向性結合
器36を介して分波器41へ送られ、波長λ1 、λ2
フレネル反射光がそれぞれ第1、第2の受光器42、4
3へ入射される。
With the switch 34 connected to the second light receiver 43 side, a drive pulse of, for example, 1 μS is output from the pulse generator 34 of the pulse light source unit 31 to the first and second laser light sources 32 and 33. Then, two laser pulses having different wavelengths are emitted from the optical connector 37 to the optical connector 2 side. The Fresnel reflected light at the connector connecting portion is sent to the demultiplexer 41 via the directional coupler 36, and the Fresnel reflected light having the wavelengths λ 1 and λ 2 is respectively received by the first and second photodetectors 42 and 4.
3 is incident.

【0025】フレネル反射光のレベルは、各レーザパル
スの出力が等しければ波長に依存せず出射レベルの4パ
ーセント(−14dB)で一定であるため、第1、第2
の受光器42、43には、出射レベルを基準としてピー
クがほぼ−14dBのパルス光が入射される。
If the output of each laser pulse is equal, the level of the Fresnel reflected light is constant at 4% (-14 dB) of the emission level regardless of the wavelength.
The pulsed light having a peak of approximately -14 dB with respect to the emission level is incident on the photodetectors 42 and 43.

【0026】波長λ1 の光は被測定光ファイバ1に対し
て低損失なため、前述したように、そのフレネル反射光
に続く後方散乱光のレベルはほぼ−50dBまで低下す
る。この急峻なレベル低下により、第1の受光器42側
の受光出力は、図4の(a)のように、t0 時から極め
て長い応答時間Ta(デッドゾーン)が経過した後にこ
の波長λ1 におけるファイバの損失に対応した一定の傾
きで減衰する。
Since the light of the wavelength λ 1 has a low loss with respect to the optical fiber 1 to be measured, the level of the backscattered light following the Fresnel reflected light is lowered to approximately -50 dB as described above. Due to this steep drop in level, the received light output on the side of the first photodetector 42 has this wavelength λ 1 after a very long response time Ta (dead zone) has elapsed from t 0 , as shown in FIG. It attenuates with a constant slope corresponding to the fiber loss at.

【0027】一方、波長λ2 は波長λ1 に比べて短く、
被測定光ファイバ1に対して高損失なため、第2の受光
器43へのフレネル反射光に続く後方散乱光のレベル
は、波長λ1 の後方散乱光のレベルに比べて大きくな
る。即ち、後方散乱光のレベルは、波長の4乗の逆数に
ほぼ比例することから、λ1 =1300nm、λ2 =6
80nmの場合には、λ2 の後方散乱光は、λ1 の光に
対して(λ1 /λ2 4 倍(ほぼ13倍、dB換算で1
1dB)レベルが高くなり、フレネル反射に対するレベ
ル差は25dBに縮小される。このため、第2の受光器
43側の受光出力は、図4の(b)に示すように、t0
時から極めて短かい応答時間Tb(デッドゾーン)が経
過した後に、その波長λ2 におけるファイバの損失に対
応した一定の傾きで減衰する。
On the other hand, the wavelength λ 2 is shorter than the wavelength λ 1 ,
Since the optical fiber 1 to be measured has a high loss, the level of the backscattered light following the Fresnel reflected light to the second photodetector 43 becomes larger than the level of the backscattered light of the wavelength λ 1 . That is, since the level of the backscattered light is almost proportional to the reciprocal of the fourth power of the wavelength, λ 1 = 1300 nm and λ 2 = 6
In the case of 80nm, the backscattered light lambda 2 is (lambda 1 / lambda 2) to light of lambda 1 4 times (approximately 13 times, 1 dB in terms
1 dB) and the level difference for Fresnel reflection is reduced to 25 dB. Therefore, the light reception output on the second light receiver 43 side is t 0 as shown in FIG.
After a very short response time Tb (dead zone) has elapsed from time, the light is attenuated with a constant slope corresponding to the loss of the fiber at the wavelength λ 2 .

【0028】処理部50は、パルス発生器34からのト
リガパルスを受け、t0 時からTaより僅かに長い設定
時間T1 の間、第2の受光器43側の出力データN
(t)を取込む(S1〜4)。
The processing section 50 receives the trigger pulse from the pulse generator 34 and outputs the output data N on the second photodetector 43 side for a set time T 1 slightly longer than Ta from t 0.
Take in (t) (S1-4).

【0029】設定時間T1 が経過した後、スイッチ46
は、第1の受光器42側に切換えられ、決められた測定
期間T0 からT1 を減じたT2 時間、第1の受光器42
側の出力データF(t)を取込む(S5〜7)。
After the set time T 1 has passed, the switch 46
Is switched to the first optical receiver 42 side, and the first optical receiver 42 is operated for T 2 time obtained by subtracting T 1 from the determined measurement period T 0.
The output data F (t) on the side is fetched (S5-7).

【0030】次にT1 期間に取り込んだデータN(t)
に対して、波長に応じた補正処理を行って、T1 期間お
よびT2 期間連続した一連の特性を表示装置51に表示
させる(S8、9)。
Next, the data N (t) fetched in the T 1 period
On the other hand, a correction process according to the wavelength is performed to cause the display device 51 to display a series of characteristics continuous for the T 1 period and the T 2 period (S8, 9).

【0031】この補正処理は、図4の(a)の後方散乱
光の直線式J=Pt−50に対する、図4の(b)の後
方散乱光の直線式K=Qt−39の差H(t)=K−J
をt0 時からT1 期間の間にわたって求め、このH
(t)をT1 期間内における各時間毎の補正データと
し、T1 期間に取り込んだデータN(t)からH(t)
を減算補正することによって行なわれる。この補正処理
の結果図5に示すように、T1 期間の特性とT2 期間の
特性とが同一の傾きで連続して表示され、あたかも波長
λ1 のパルス光だけを用いたように一定の傾きで減衰変
化する特性が表示される。この特性のデッドゾーンは、
補正前と変わらずに僅かな時間Tbで済み、入射口近傍
の測定可能な範囲がTa−Tbの分だけ拡がる。
In this correction process, the difference H (of the linear equation K = Qt-39 of the backscattered light of FIG. 4B from the linear equation J = Pt-50 of the backscattered light of FIG. 4A is used. t) = K-J
From the time t 0 to the time T 1
(T) was the correction data for each time within period T 1, taken in period T 1 data N (t) from H (t)
Is performed by subtraction correction. As a result of this correction processing, as shown in FIG. 5, the characteristics in the T 1 period and the characteristics in the T 2 period are continuously displayed with the same slope, and it is constant as if only pulsed light of wavelength λ 1 was used. The characteristic that decays and changes with the slope is displayed. The dead zone of this characteristic is
The time Tb is the same as before the correction and only a short time is required, and the measurable range in the vicinity of the entrance is expanded by Ta-Tb.

【0032】なお、T1 期間内に例えば図4(b)のR
のように、接続点損失によるレベルのステップ変化が生
じた場合、波長λ1 の後方散乱光も図4の(a)のR′
のように同一量だけステップ変化しているので、補正後
の特性は、図5の R″のように、連続して表示され
る。
It should be noted that, within the period T 1 , for example, R in FIG.
As described above, when a level step change occurs due to the connection point loss, the backscattered light of wavelength λ 1 is also R ′ in FIG.
As shown in FIG. 5, the corrected characteristic is continuously displayed as indicated by R ″ in FIG.

【0033】[0033]

【他の実施例】前記実施例では、1回のレーザパルスの
出力によって被測定光ファイバの入射口近傍から遠端ま
での特性を測定していたが、図6のフローチャートに示
すように、レーザパルスを1回出力するごとに、取込み
データをそれぞれ加算し、M回後にその平均値を求め
て、この平均化されたデータによって被測定光ファイバ
の特性を測定すれば、平均化によって雑音成分が抑圧さ
れたデータで測定を行なうことができる。
Other Embodiments In the above embodiment, the characteristics from the vicinity of the entrance of the optical fiber to be measured to the far end were measured by the output of one laser pulse, but as shown in the flow chart of FIG. Each time the pulse is output once, the acquired data is added, the average value is calculated after M times, and the characteristic of the optical fiber to be measured is measured by this averaged data. Measurements can be made on the suppressed data.

【0034】また、前記実施例では、波長の異なるレー
ザパルスを同時に出力していたが、図7に示す光パルス
試験器60のように、パルス光源部61側にスイッチ6
2を設け、第1、第2のレーザ光源32、33を交互に
パルス駆動してもよい。この場合には、受光部64を1
つの受光器65で構成することも可能となり、処理部6
6において、1回目のトリガ時には、T1 期間のみのデ
ータを取込み、2回目のトリガ時には、T2 期間のみの
データを取り込んで前記同様の処理を行なったり、ある
いは、奇数回目と偶数回目とでそれぞれの期間のデータ
を交互に取り込んで平均化するようにしてもよい。
In the above embodiment, laser pulses having different wavelengths were simultaneously output. However, as in the optical pulse tester 60 shown in FIG. 7, the switch 6 is provided on the pulse light source 61 side.
2 may be provided, and the first and second laser light sources 32 and 33 may be pulse-driven alternately. In this case, set the light receiving unit 64 to 1
It is also possible to configure one light receiver 65, and the processing unit 6
6, the data of only the T 1 period is fetched at the first trigger, and the data of only the T 2 period is fetched at the second trigger to perform the same process as described above, or at the odd number and the even number of times. The data of each period may be alternately fetched and averaged.

【0035】さらに図8に示す光パルス試験器70のパ
ルス光源部71のように、第1、第2のレーザ光源3
2、33に対してそれぞれ独立したパルス発生器72、
73を設け、スイッチ切り換えを行なわずに、入射口近
傍の測定と入射口近傍以遠の測定とを処理部73で非同
期に行なうようにしてもよい。
Further, like the pulse light source unit 71 of the optical pulse tester 70 shown in FIG. 8, the first and second laser light sources 3 are used.
Independent pulse generators 72 and 33,
It is also possible to provide 73 and to perform the measurement in the vicinity of the entrance and the measurement beyond the entrance in the processing unit 73 asynchronously without switching the switch.

【0036】また、前記実施例では、第2のレーザ光源
による後方散乱光の受光出力の特性を第1のレーザ光源
による後方散乱光の特性に合わせるように補正していた
が、これは本発明を限定するものでなく、図9に示すよ
うに、2つのレーザ光源による測定結果を交差位置で接
続するように表示してもよい。
In the above embodiment, the characteristic of the received output of the backscattered light from the second laser light source is corrected so as to match the characteristic of the backscattered light from the first laser light source. However, the measurement results of the two laser light sources may be displayed so as to be connected at the intersecting position, as shown in FIG.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光パルス
試験器は、従来から測定用に用いていた所定波長のレー
ザ光を出力する第1のレーザ光源と、被測定光ファイバ
の入射口近傍における後方散乱光のレベルが、第1のレ
ーザ光源による後方散乱光のレベルより高いレベルとな
る短波長のレーザ光を出力する第2のレーザ光源とを有
し、被測定光ファイバの入射口近傍の特性を第2のレー
ザ光源からのパルス光によって測定し、入射口近傍以遠
の特性を第1のレーザ光源からのパルス光によって測定
している。
As described above, the optical pulse tester of the present invention has the first laser light source for outputting the laser light of the predetermined wavelength, which has been conventionally used for measurement, and the entrance of the optical fiber to be measured. A second laser light source for outputting a laser light of a short wavelength, in which the level of the back scattered light in the vicinity is higher than the level of the back scattered light by the first laser light source, and the entrance of the optical fiber to be measured. The characteristic in the vicinity is measured by pulsed light from the second laser light source, and the characteristic in the vicinity of the vicinity of the entrance is measured by pulsed light from the first laser light source.

【0038】このため、入射口近傍の測定では、接続部
のフレネル反射光と後方散乱光とのレベル差が少なくな
って、この変化に対する受光部の応答時間が短縮され
る。したがって、高価な光スイッチや作業が煩雑になる
ダミーファイバを用いることなく、デッドゾーンの極め
て少ない測定が可能となる。
Therefore, in the measurement in the vicinity of the entrance, the level difference between the Fresnel reflected light and the backscattered light at the connection portion becomes small, and the response time of the light receiving portion to this change is shortened. Therefore, it is possible to perform measurement with a very small dead zone without using an expensive optical switch or a dummy fiber that complicates the work.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】波長に対する光ファイバの損失特性図である。FIG. 2 is a loss characteristic diagram of an optical fiber with respect to wavelength.

【図3】一実施例の処理部の処理手順を示すフローチャ
ートである。
FIG. 3 is a flowchart illustrating a processing procedure of a processing unit according to an embodiment.

【図4】2つの波長の光に対する受光出力図である。FIG. 4 is a light reception output diagram for light of two wavelengths.

【図5】補正後の特性表示図である。FIG. 5 is a characteristic display diagram after correction.

【図6】平均化処理を含むフローチャートである。FIG. 6 is a flowchart including an averaging process.

【図7】本発明の他の実施例の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 7 is a block diagram showing the configuration of another embodiment of the present invention.

【図8】本発明の他の実施例の構成を示すブロック図で
ある。
FIG. 8 is a block diagram showing the configuration of another embodiment of the present invention.

【図9】補正を行なわない場合の特性表示図である。FIG. 9 is a characteristic display diagram when no correction is performed.

【図10】従来装置の構成を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of a conventional device.

【図11】従来装置による特性表示図である。FIG. 11 is a characteristic display diagram of a conventional device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 被測定光ファイバ 2 光コネクタ 30 光パルス試験器 31 パルス光源部 32 第1のレーザ光源 33 第2のレーザ光源 34 パルス発生器 35 合波器 36 方向性結合器 37 光コネクタ 40 受光部 41 分波器 42 第1の受光器 43 第2の受光器 44、45 増幅器 50 処理部 1 optical fiber to be measured 2 optical connector 30 optical pulse tester 31 pulse light source section 32 first laser light source 33 second laser light source 34 pulse generator 35 multiplexer 36 directional coupler 37 optical connector 40 light receiving section 41 minutes Wave device 42 First light receiver 43 Second light receiver 44, 45 Amplifier 50 Processing unit

─────────────────────────────────────────────────────
─────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成5年2月9日[Submission date] February 9, 1993

【手続補正1】[Procedure Amendment 1]

【補正対象書類名】図面[Document name to be corrected] Drawing

【補正対象項目名】全図[Correction target item name] All drawings

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction content]

【図1】 [Figure 1]

【図2】 [Fig. 2]

【図3】 [Figure 3]

【図4】 [Figure 4]

【図5】 [Figure 5]

【図7】 [Figure 7]

【図8】 [Figure 8]

【図9】 [Figure 9]

【図10】 [Figure 10]

【図11】 FIG. 11

【図6】 [Figure 6]

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】レーザパルス光を被測定光ファイバ(1)
へ出射するパルス光源部(31)と、前記レーザパルス
光を受けた前記被測定光ファイバからの後方散乱光およ
びフレネル反射光のレベルを検出する受光部(40)と
を有し、前記レーザパルス光出射時からの前記受光部の
出力レベルの時間経過にともなう変化を測定することに
よって、前記被測定光ファイバの伝送特性を測定する光
パルス試験器において、 前記パルス光源部(31)は、 所定波長(λ1 )のレーザ光を出力する第1のレーザ光
源(32)と、 前記第1のレーザ光源の波長より短かく、前記被測定光
ファイバの入射口近傍で該第1のレーザ光源のレーザパ
ルスによる後方散乱光より高いレベルの後方散乱光が得
られる波長(λ2 )のレーザ光を出力する第2のレーザ
光源(33)とを有し、 前記第2のレーザ光源からのレーザパルス光に対する前
記受光部の出力によって前記被測定光ファイバの入射口
近傍の伝送特性を測定し、前記第1のレーザ光源からの
レーザパルス光に対する前記受光部の出力によって前記
被測定光ファイバの入射口近傍以遠の伝送特性を測定す
る処理部(50)を備えたことを特徴とする光パルス試
験器。
1. An optical fiber (1) for measuring laser pulse light
A pulse light source unit (31) for emitting to the laser pulse light, and a light receiving unit (40) for detecting the levels of backscattered light and Fresnel reflected light from the optical fiber under measurement that has received the laser pulse light, and the laser pulse In an optical pulse tester for measuring the transmission characteristic of the optical fiber under test by measuring the change in the output level of the light receiving unit from the time of light emission, the pulse light source unit (31) is A first laser light source (32) for outputting a laser light of a wavelength (λ 1 ), and a wavelength of the first laser light source (32) shorter than the wavelength of the first laser light source and near the entrance of the optical fiber to be measured. a second laser light source (33) a high level of the backscattered light from the backscattering light by the laser pulse outputs laser light having a wavelength (lambda 2) obtained, Les from the second laser light source The transmission characteristic of the measured optical fiber near the entrance is measured by the output of the light receiving unit for the pulsed light, and the incident optical fiber is made incident by the output of the light receiving unit for the laser pulse light from the first laser light source. An optical pulse tester comprising a processing unit (50) for measuring transmission characteristics beyond the vicinity of the mouth.
JP4343415A 1992-11-30 1992-11-30 Optical pulse tester Expired - Lifetime JP2972973B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4343415A JP2972973B2 (en) 1992-11-30 1992-11-30 Optical pulse tester

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4343415A JP2972973B2 (en) 1992-11-30 1992-11-30 Optical pulse tester

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH06167424A true JPH06167424A (en) 1994-06-14
JP2972973B2 JP2972973B2 (en) 1999-11-08

Family

ID=18361340

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4343415A Expired - Lifetime JP2972973B2 (en) 1992-11-30 1992-11-30 Optical pulse tester

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2972973B2 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012008076A (en) * 2010-06-28 2012-01-12 Anritsu Corp Optical pulse test method and optical pulse test device
CN102589848A (en) * 2011-12-14 2012-07-18 北京国科世纪激光技术有限公司 System for testing optical thin film damage threshold
WO2014049666A1 (en) * 2012-09-28 2014-04-03 ソフトバンクテレコム株式会社 Measuring device and measuring method

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7320022B2 (en) * 2021-04-22 2023-08-02 横河電機株式会社 optical pulse tester

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012008076A (en) * 2010-06-28 2012-01-12 Anritsu Corp Optical pulse test method and optical pulse test device
CN102589848A (en) * 2011-12-14 2012-07-18 北京国科世纪激光技术有限公司 System for testing optical thin film damage threshold
CN102589848B (en) * 2011-12-14 2015-03-18 北京国科世纪激光技术有限公司 System for testing optical thin film damage threshold
WO2014049666A1 (en) * 2012-09-28 2014-04-03 ソフトバンクテレコム株式会社 Measuring device and measuring method
JPWO2014049666A1 (en) * 2012-09-28 2016-08-18 ソフトバンク株式会社 Measuring apparatus and measuring method

Also Published As

Publication number Publication date
JP2972973B2 (en) 1999-11-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0153924B1 (en) Measuring apparatus and method
JPH04230825A (en) Optical time domain reflectometer
JPWO2004010098A1 (en) Method and apparatus for measuring polarization mode dispersion of optical fiber
EP0605301B1 (en) Optical time domain reflectometer
JPH021527A (en) Optical pulse tester
JP3094917B2 (en) Optical fiber strain measurement device
JP2972973B2 (en) Optical pulse tester
US7016023B2 (en) Chromatic dispersion measurement
JP3161198B2 (en) OTDR that automatically sets pulse width and gain
JP3002343B2 (en) Optical pulse tester
US6912046B2 (en) Instrument measuring chromatic dispersion in optical fibers
US11016036B2 (en) Reflected light measurement device
JP5515199B2 (en) Optical pulse test apparatus and adjustment method thereof
JP2001305017A (en) Optical pulse testing device
JP2003207413A (en) Ray path testing system and correction method for transmission loss characteristic
JP3133025B2 (en) Line with variable attenuation and optical pulse tester using it
US20040037494A1 (en) Optical pulse generator and optical pulse testing instrument and method
JPS58165031A (en) Method and device for measuring light transmission characteristic of optical fiber
CN110518970B (en) Single-axis optical fiber interferometer and positioning device for eliminating optical fiber vibration blind area
JP5325848B2 (en) Optical pulse test apparatus and optical transmission line test method
JP3599693B2 (en) Optical pulse test equipment
WO2002016901A2 (en) Instrument measuring chromatic dispersion in optical fibers
JP2885979B2 (en) Temperature distribution detector
SU887968A1 (en) Device for measuring back scattering in light-guides
RU44389U1 (en) OPTICAL INTEGRATING REFLECTOMETER