JPS63129602A - Laser trimmer - Google Patents

Laser trimmer

Info

Publication number
JPS63129602A
JPS63129602A JP61277464A JP27746486A JPS63129602A JP S63129602 A JPS63129602 A JP S63129602A JP 61277464 A JP61277464 A JP 61277464A JP 27746486 A JP27746486 A JP 27746486A JP S63129602 A JPS63129602 A JP S63129602A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
trimming
laser
laser beam
workpiece
probe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61277464A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
都島 宏一郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP61277464A priority Critical patent/JPS63129602A/en
Publication of JPS63129602A publication Critical patent/JPS63129602A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明はレーザトリミング装置に関し、特にハイブリッ
ドtCやチップ部品などの電子部品の抵抗値や周波数あ
るいは電圧などをレーザ光によって調整するレーザトリ
ミング装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Technical Field The present invention relates to a laser trimming device, and more particularly to a laser trimming device that uses laser light to adjust the resistance value, frequency, voltage, etc. of electronic components such as hybrid TCs and chip components.

従来技術 従来、レーザトリミング5Aeにおいては、被加工物が
移動テーブル上に吸着またはクランプされて所定のレー
ザビーム照射領域まで運ばれ、移動テーブルがその領域
で停止すると、プローブが被加工物の測定端子位置まで
下降して接触し、そののらにレーザトリミング加工が行
われる。
Prior Art Conventionally, in laser trimming 5Ae, a workpiece is attracted or clamped onto a moving table and transported to a predetermined laser beam irradiation area, and when the moving table stops in that area, a probe is attached to a measurement terminal of the workpiece. It descends to the position and makes contact, after which laser trimming is performed.

レーザトリミング加工の終了後は、プローブを上昇させ
、移動テーブルを原点まで戻したのちに、次の被加工物
と入替えている。
After the laser trimming process is completed, the probe is raised, the moving table is returned to its origin, and the workpiece is replaced with the next workpiece.

このような従来のレーザトリミング装置では、被加工物
を移動テーブル上に取付けてレーザビーム照射領域まで
移動し、レーザトリミング加工終了後に移動テーブルを
元の位置まで戻して被加工物の入替えを行っていたので
、この移動テーブルの移動中はレーザトリミング加工を
行えないため、生産性が低下するという欠点がある。
In such conventional laser trimming equipment, the workpiece is mounted on a moving table, moved to the laser beam irradiation area, and after the laser trimming process is completed, the moving table is returned to its original position and the workpiece is replaced. Therefore, the laser trimming process cannot be performed while the movable table is moving, which has the disadvantage of reducing productivity.

移動テーブルがターンテーブル方式の場合には、被加工
物の交換時間が05〜1秒程度かかり、この交換時間の
レーザトリミング加工時間に対する比率は小さくはない
。特に1枚の基板上においてトリミングされる素子数が
少ない場合には、レーザトリミング加工の動作時間に対
するレーザトリミング加工の休止時間(移動テーブルの
移動時間と被加工物の交換時間)の比率が大きくなって
しまう。
When the moving table is of a turntable type, it takes about 0.5 to 1 second to change the workpiece, and the ratio of this change time to the laser trimming processing time is not small. Particularly when the number of elements to be trimmed on one substrate is small, the ratio of down time of laser trimming processing (time of moving the moving table and time of changing workpieces) to the operating time of laser trimming becomes large. I end up.

また、移動テーブルがXYテーブルの場合には、XYテ
ーブルの原点でトリミング済の基板を取出し、次の基板
を装填するためにかなり長い時間を要する。ざらに、レ
ーザトリミング装置では基板をカートリッジに収納した
状態で取扱っており、生産ラインの中にバッジ処理(同
じ処理を施す基板をまとめて処理すること)の工程を組
込まなければならない。
Furthermore, if the moving table is an XY table, it takes a considerable amount of time to take out a trimmed substrate at the origin of the XY table and load the next substrate. Generally speaking, laser trimming equipment handles substrates stored in cartridges, which requires a badge processing (processing of substrates to be subjected to the same process all at once) to be incorporated into the production line.

発明の目的 本発明は上記のような従来のものの欠点を除去すべくな
されたもので、レーザトリミング加工の休止時間を短縮
し、生産性を高めることができるレーザトリミング装置
の提供を目的とする。
OBJECTS OF THE INVENTION The present invention has been made to eliminate the drawbacks of the conventional devices as described above, and an object of the present invention is to provide a laser trimming device that can shorten the downtime of laser trimming processing and increase productivity.

発明の構成 本発明によるレーデトリミング装置は、゛被加工物の電
圧を測定するためのプローブと、前記被加工物にレーザ
光を照射する照射手段とを有するレーザトリミング装置
であって、複数の前記被加工物を順次一定速度で連続的
に搬送する搬送手段と4前記レーザ光による加工区間に
おいて、前記搬送手段の移動速度に応じて前記プローブ
と前記レーザ光とを往復移動させる移動制御手段とを設
け、前記加工区間において前記被加工物のレーザトリミ
ング加工を順次連続的に行うようにしたことを特徴とす
る。
Composition of the Invention A laser trimming device according to the present invention is a laser trimming device having a probe for measuring the voltage of a workpiece, and an irradiation means for irradiating the workpiece with a laser beam, the laser trimming device having a plurality of a transport means for continuously transporting the workpiece at a constant speed; and a movement control means for reciprocating the probe and the laser beam in accordance with the movement speed of the transport means in the four laser beam processing sections. is provided, and laser trimming of the workpiece is sequentially and continuously performed in the processing section.

実施例 次に、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
Embodiment Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例によるトリミング動作を示す
平面図、第2図は本発明の一実施例によるトリミング動
作を示す側面図である。これらの図において、被トリミ
ング素子1は図示せぬパーツハンドラ上に固定され、一
定速度v1で矢印の方向に移動している。
FIG. 1 is a plan view showing a trimming operation according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a side view showing a trimming operation according to an embodiment of the present invention. In these figures, the element to be trimmed 1 is fixed on a parts handler (not shown) and is moving in the direction of the arrow at a constant speed v1.

被トリミング素子1がトリミング開始位置aに到達した
とき、プローブ4は電極2に接触して被トリミング素子
1の測定を開始し、図示せぬレーザビームの照射を開始
する。このとき、プローブ4は電極2に接触したまま被
トリミング素子1と同じ移動速度v1で移動し、継続的
に被トリミング素子1の測定を行う。レーザビームのス
キャン速度は、被トリミング素子1が静止状態のときの
トリミング速度に移動速度v1を加算した速度とすれば
よい。
When the element to be trimmed 1 reaches the trimming start position a, the probe 4 contacts the electrode 2 and starts measuring the element to be trimmed 1, and starts irradiating the element with a laser beam (not shown). At this time, the probe 4 moves at the same moving speed v1 as the element to be trimmed 1 while being in contact with the electrode 2, and continuously measures the element to be trimmed 1. The scanning speed of the laser beam may be the speed obtained by adding the moving speed v1 to the trimming speed when the element to be trimmed 1 is in a stationary state.

レーザビームによるトリミング加工が終了すると、トリ
ミング終了位置dでプローブ4は上昇し、トリミング開
始位置aに戻る。このときの移動速度v2は被トリミン
グ素子1の移動速度■1よりも速くすることによって、
トリミング加工の生産性を向上させることができる。プ
ローブ4はトリミング開始位Maで次の被トリミング素
子1に接触して測定を開始する。
When the trimming process using the laser beam is completed, the probe 4 rises at the trimming end position d and returns to the trimming start position a. By making the moving speed v2 at this time faster than the moving speed ■1 of the element to be trimmed 1,
The productivity of trimming processing can be improved. The probe 4 contacts the next element to be trimmed 1 at the trimming start position Ma and starts measurement.

次に、たとえば、被トリミング素子1が静止状態ではレ
ーザビームのスキャン方向がトリミングの途中で90度
方向転換するしカットと呼ばれるトリミング加工を行う
場合には、第1図の如く、11線で示すレーザビームの
軌跡3が進行方向に対して斜めの方向となる(被トリミ
ング素子1がトリミング開始位置aからトリミング加工
位[b。
Next, for example, when the element 1 to be trimmed is in a stationary state, the scanning direction of the laser beam is changed by 90 degrees during trimming, and when performing a trimming process called cutting, as shown in FIG. The trajectory 3 of the laser beam is oblique to the direction of travel (the element 1 to be trimmed moves from the trimming start position a to the trimming processing position [b]).

Cを経てトリミング終了位fadに至るまでに、レーザ
ビームはレーザビーム照射点B、C,Dの間を移動する
)。レーザビームが斜めの方向に移動することによって
、被トリミング素子1のトリミング加工は途中から直角
に曲がった加工となる。
The laser beam moves between the laser beam irradiation points B, C, and D before reaching the trimming end position fad via C. By moving the laser beam in an oblique direction, the trimming process of the element 1 to be trimmed is a process that is bent at a right angle from the middle.

また、ブO−プ4を複数組用いることにより、一方の組
にはトリミング加工中の測定を行わせるとともに、他方
の組にはトリミング開始位置aに戻る動作やトリミング
前の被トリミング素子1の初期値の測定などのトリミン
グ加工の準備動作を行わせることも可能であり、この方
法によればトリミング加工の生産性をより向上させるこ
とができる。
Furthermore, by using a plurality of sets of bu-ops 4, one set can be used to perform measurements during the trimming process, and the other set can be used to perform operations such as returning to the trimming start position a and measuring the trimmed element 1 before trimming. It is also possible to perform preparatory operations for trimming such as measuring initial values, and this method can further improve the productivity of trimming.

このように、被トリミング素子1を順次一定速度で連続
的に搬送し、これにともなって被トリミング素子1の移
動速度に応じてプローブ4とレーザビームとを往復移動
させ、これにより被トリミング素子1のレーザトリミン
グ加工を順次連続的行うようにすることによって、レー
ザトリミング加工の工程を連続生産のラインに組込むこ
とが可能となるとともに、レーザトリミング加工の休止
時間を短縮することができ、レーザトリミング加工の生
産性を向上させることかできる。
In this way, the element to be trimmed 1 is conveyed continuously at a constant speed, and the probe 4 and the laser beam are reciprocated according to the moving speed of the element to be trimmed 1, thereby transferring the element to be trimmed 1. By performing the laser trimming process sequentially and continuously, it is possible to incorporate the laser trimming process into a continuous production line, and the downtime of the laser trimming process can be shortened. can improve productivity.

発明の詳細 な説明したように本発明によれば、被加工物を順次一定
速度で連続的に搬送し、レーザ光による加工区間におい
て被加工物の移動速度に応じてプローブとレーザ光とを
往復移動させながら被加工物のレーザトリミング加工を
順次連続的に行うようにすることによって、レーザトリ
ミング加工のの休止時間を短縮することができ、レーザ
トリミング加工の生産性を向上させることができるとい
う効果がある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION According to the present invention, the workpiece is conveyed sequentially at a constant speed, and the probe and the laser beam are moved back and forth according to the moving speed of the workpiece in the laser beam machining section. By sequentially and continuously performing laser trimming of the workpiece while moving it, the downtime of laser trimming can be shortened and the productivity of laser trimming can be improved. There is.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例による[−リミング動作を示
す平面図、第2図は本発明の一実施例によるトリミング
動作を示ず側面図である。 主要部分の符号の説明 1・・・・・・被トリミング素子 2・・・・・・電極 4・・・・・・プローブ
FIG. 1 is a plan view showing a trimming operation according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a side view without showing a trimming operation according to an embodiment of the present invention. Explanation of symbols of main parts 1... Element to be trimmed 2... Electrode 4... Probe

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  被加工物の電圧を測定するためのプローブと、前記被
加工物にレーザ光を照射する照射手段とを有するレーザ
トリミング装置であつて、複数の前記被加工物を順次一
定速度で連続的に搬送する搬送手段と、前記レーザ光に
よる加工区間において、前記搬送手段の移動速度に応じ
て前記プローブと前記レーザ光とを往復移動させる移動
制御手段とを設け、前記加工区間において前記被加工物
のレーザトリミング加工を順次連続的に行うようにした
ことを特徴とするレーザトリミング装置。
A laser trimming device having a probe for measuring the voltage of a workpiece and an irradiation means for irradiating the workpiece with laser light, the apparatus continuously conveying a plurality of workpieces one after another at a constant speed. and a movement control means for reciprocating the probe and the laser beam in accordance with the moving speed of the conveying means in the processing section using the laser beam, and moving the probe and the laser beam back and forth in the processing section using the laser beam. A laser trimming device characterized in that trimming processing is performed sequentially and continuously.
JP61277464A 1986-11-20 1986-11-20 Laser trimmer Pending JPS63129602A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61277464A JPS63129602A (en) 1986-11-20 1986-11-20 Laser trimmer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61277464A JPS63129602A (en) 1986-11-20 1986-11-20 Laser trimmer

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63129602A true JPS63129602A (en) 1988-06-02

Family

ID=17583957

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61277464A Pending JPS63129602A (en) 1986-11-20 1986-11-20 Laser trimmer

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63129602A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007060618A1 (en) 2007-02-13 2008-08-14 Fujitsu Limited, Kawasaki Assembly manufacturing method, laser processing method and laser processing apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007060618A1 (en) 2007-02-13 2008-08-14 Fujitsu Limited, Kawasaki Assembly manufacturing method, laser processing method and laser processing apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4760429A (en) High speed reticle change system
JP4645844B2 (en) Multi-type wire saw and processing method using wire saw
JPS63129602A (en) Laser trimmer
US20220176689A1 (en) Printing parameter acquisition device
US4633584A (en) Accurate positioning of solid components for a robotic pickup
JPS62136428A (en) Rectangular mask substrate transfer device
KR950014676B1 (en) Semiconductor manufacturing device
JP2001326112A (en) Laser trimming method and apparatus
EP0005727A1 (en) Sensing probe for determining location of conductive spots
JPS6139248B2 (en)
JP2664951B2 (en) Semiconductor manufacturing equipment
US20210146502A1 (en) In-situ spark erosion dressing system and method thereof
JPH0144186Y2 (en)
JPS58123702A (en) Laser trimming device
JP2687540B2 (en) Trimming device for multilayer capacitors
JP2961584B2 (en) Electronic part base holding device
JP2001319897A (en) Dividing method of semiconductor wafer
JPS60164301A (en) Laser trimming device
JP2669055B2 (en) Laser trimming device
JPH01234110A (en) Precise working machine
JPH06174792A (en) Robot for inspecting ic
WO2000003845A2 (en) Device for the automated machining of workpieces
JP2003168773A (en) Apparatus and method for cutting lead electrode of semiconductor device
JPH09298207A (en) Work processing equipment
JPH0314246A (en) Wire bonding positioning mechanism