JPS63110544A - 質量分析計の液体導入装置 - Google Patents
質量分析計の液体導入装置Info
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- JPS63110544A JPS63110544A JP61255700A JP25570086A JPS63110544A JP S63110544 A JPS63110544 A JP S63110544A JP 61255700 A JP61255700 A JP 61255700A JP 25570086 A JP25570086 A JP 25570086A JP S63110544 A JPS63110544 A JP S63110544A
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- Pending
Links
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Landscapes
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は高圧が印加されたイオン源へ電解質溶液を供給
する液体導入系に係り、特に高電圧リーク、放電、感電
等を防止するに好適な質量分析計の導入系に関する。
する液体導入系に係り、特に高電圧リーク、放電、感電
等を防止するに好適な質量分析計の導入系に関する。
液体ではなく気体の場合高電位に浮いた部署と接地電位
の部署を真空排気する場合、放電を防ぐため電位を段階
的に下げる方式がとられている。
の部署を真空排気する場合、放電を防ぐため電位を段階
的に下げる方式がとられている。
扇形磁場を有する質量分析計においてイオン源は一般に
１０ｋＶ〜１ｋＶ程度の高電圧が印加されている。質量
分析計への試料の導入は一般に気体又は固体であり、電
気的に充分絶縁が施されている。液体クロマトグラフ（
ＬＣ）やＩＣＰを質量分析計に接続するためには、液体
を連続的にイオン源に送り込む手段が必要となる。ＬＣ
の場合移動層としては水、有析溶媒の他、純水に塩や酸
を加えた緩衝液が多用される。その場合緩衝液を通して
イオン源印加電圧のリークが発生する。そのため、溶液
の電気分解による酸化還元反応も生じ取得データに悪影
響を与える恐れがある。又、カラム交換や試料導入など
操作の際に感電したり、装置内回路素子破壊の危険もあ
る６本発明の目的は溶液内の電位勾配を外部より制御す
ることで電圧リークの影響を除去するにある。
１０ｋＶ〜１ｋＶ程度の高電圧が印加されている。質量
分析計への試料の導入は一般に気体又は固体であり、電
気的に充分絶縁が施されている。液体クロマトグラフ（
ＬＣ）やＩＣＰを質量分析計に接続するためには、液体
を連続的にイオン源に送り込む手段が必要となる。ＬＣ
の場合移動層としては水、有析溶媒の他、純水に塩や酸
を加えた緩衝液が多用される。その場合緩衝液を通して
イオン源印加電圧のリークが発生する。そのため、溶液
の電気分解による酸化還元反応も生じ取得データに悪影
響を与える恐れがある。又、カラム交換や試料導入など
操作の際に感電したり、装置内回路素子破壊の危険もあ
る６本発明の目的は溶液内の電位勾配を外部より制御す
ることで電圧リークの影響を除去するにある。
移動層として緩衝液を用いる場合、水中に存在するイオ
ンにより溶液は電気伝導性を持つ、電気電導率σを有す
る液体を内径Ｓ、長さΩの絶縁性のパイプを通したとき
のパイプの両端の抵抗Ｒは次式で求まる。
ンにより溶液は電気伝導性を持つ、電気電導率σを有す
る液体を内径Ｓ、長さΩの絶縁性のパイプを通したとき
のパイプの両端の抵抗Ｒは次式で求まる。
Ｒ＝８／（ｓＸσ）
例えば塩化カリＫＣｌ Ｏ，０１モルの水溶液は０．０
０１４υ・１−１の電気電導率を有する。長さ１ｍ内径
０．２５ｍのテフロンチューブ中に、この塩化カリ水溶
液を満せば、溶液全体の抵抗Ｒは次のように求まる。
０１４υ・１−１の電気電導率を有する。長さ１ｍ内径
０．２５ｍのテフロンチューブ中に、この塩化カリ水溶
液を満せば、溶液全体の抵抗Ｒは次のように求まる。
Ｒ＝ １００／ （（０，１２５” Ｘ ３．１４ Ｘ
１Ｏ−２） Ｘ Ｏ，００１４）＝１．４６Ｘ１０’
Ω ３ｋＶの電圧がイオン源に上記の条件で塩化カリ水溶液
を送り込むと約２０μＡの電流が溶液中を流れることに
なる。そのため試料注入したり、カラム交換などの操作
を行うと感電が起る。これは液送パイプの途中に接地部
を挿入したり、電位勾配を強制的に作る方策を取れば防
ぐことができる。
１Ｏ−２） Ｘ Ｏ，００１４）＝１．４６Ｘ１０’
Ω ３ｋＶの電圧がイオン源に上記の条件で塩化カリ水溶液
を送り込むと約２０μＡの電流が溶液中を流れることに
なる。そのため試料注入したり、カラム交換などの操作
を行うと感電が起る。これは液送パイプの途中に接地部
を挿入したり、電位勾配を強制的に作る方策を取れば防
ぐことができる。
液体クロマトグラフを直結した質量分析計の場合、移動
層は溶液ビン１より液送ポンプ２により送り出される。
層は溶液ビン１より液送ポンプ２により送り出される。
試料は試料注入部３よりマイクロシリンジなどで注入さ
れる１分離カラム４により成分毎に分離されテフロンチ
ューブなどにより質量分析計のイオンソース７に直結さ
れる。このテフロンチューブを二つ以上に分割し、間に
ラインフィルタ５を挿入する。ラインフィルタは２〜５
μｍの孔径の穴を多数有し移動層中の異物を除去する。
れる１分離カラム４により成分毎に分離されテフロンチ
ューブなどにより質量分析計のイオンソース７に直結さ
れる。このテフロンチューブを二つ以上に分割し、間に
ラインフィルタ５を挿入する。ラインフィルタは２〜５
μｍの孔径の穴を多数有し移動層中の異物を除去する。
フィルタの材質はステンレススチール５ＵＳ３１６やテ
フロン製のものがあるが、この場合は５ＵＳ３１６を用
いフィルタ一部を接地するにれにより液体クロマトグラ
フ側への電気リークは防ぐことができる。内径０．２５
ｍＸ長さ１ｍのテフロンチューブに０．０１モルの塩の
水溶液の場合１０”Ω程度の抵抗がある。中間の５０１
の所を接地してもイオンソール印加電圧の降下は考えな
くても良い、１ケの接地フィルタの挿入の他に複数のラ
インフィルタと抵抗の接続による電位勾配の制御もでき
る。これにより種々の電位を持った電極が多数存在する
ことで電気分解の悪影響も軽減できる。
フロン製のものがあるが、この場合は５ＵＳ３１６を用
いフィルタ一部を接地するにれにより液体クロマトグラ
フ側への電気リークは防ぐことができる。内径０．２５
ｍＸ長さ１ｍのテフロンチューブに０．０１モルの塩の
水溶液の場合１０”Ω程度の抵抗がある。中間の５０１
の所を接地してもイオンソール印加電圧の降下は考えな
くても良い、１ケの接地フィルタの挿入の他に複数のラ
インフィルタと抵抗の接続による電位勾配の制御もでき
る。これにより種々の電位を持った電極が多数存在する
ことで電気分解の悪影響も軽減できる。
本発明によれば、高電圧に印加されたイオン源に接地電
位から電解液を連続的に送り込むことが可能となる。そ
れにより、感電、半導体素子の破壊などを未然に防ぐこ
とができる。本発明の実施にあたり、ＬＣで使用されて
いるラインフィルタなどを流用することで実現でき安全
面の利点は極めて大である。
位から電解液を連続的に送り込むことが可能となる。そ
れにより、感電、半導体素子の破壊などを未然に防ぐこ
とができる。本発明の実施にあたり、ＬＣで使用されて
いるラインフィルタなどを流用することで実現でき安全
面の利点は極めて大である。
第１図は本発明の詳細な説明図である。
１・・・溶液ビン、２・・・液送ポンプ、３・・・試料
導入部、４・・・カラム、５・・・ラインフィルタ、６
・・・抵抗、７・・・イオン源、ＨＶ・・・高電圧電源
。
導入部、４・・・カラム、５・・・ラインフィルタ、６
・・・抵抗、７・・・イオン源、ＨＶ・・・高電圧電源
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、高電圧が印加されたイオン源と当該イオン源に接地
電位から液体を供給する手段を有する質量分析計におい
て、絶縁性の液体供給パイプの途中に接地電位を設ける
ことを特徴とする質量分析計の液体導入装置。 ２、特許請求の範囲第１項において、絶縁性液体供給パ
イプを複数に分割しその間に電気伝導部位を設け、これ
ら間を抵抗で接続し段階的に接地電位まで下げる手段を
有する質量分析計の液体導入装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61255700A JPS63110544A (ja) | 1986-10-29 | 1986-10-29 | 質量分析計の液体導入装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61255700A JPS63110544A (ja) | 1986-10-29 | 1986-10-29 | 質量分析計の液体導入装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63110544A true JPS63110544A (ja) | 1988-05-16 |
Family
ID=17282419
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61255700A Pending JPS63110544A (ja) | 1986-10-29 | 1986-10-29 | 質量分析計の液体導入装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63110544A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000008453A1 (fr) * | 1998-08-06 | 2000-02-17 | Hitachi, Ltd. | Chargeuse d'echantillons, source d'ions et analyseur de masse avec lesquels on utilise la chargeuse |
| WO2014054679A1 (ja) * | 2012-10-02 | 2014-04-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置、質量分析方法、及びイオン源 |
-
1986
- 1986-10-29 JP JP61255700A patent/JPS63110544A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000008453A1 (fr) * | 1998-08-06 | 2000-02-17 | Hitachi, Ltd. | Chargeuse d'echantillons, source d'ions et analyseur de masse avec lesquels on utilise la chargeuse |
| WO2014054679A1 (ja) * | 2012-10-02 | 2014-04-10 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置、質量分析方法、及びイオン源 |
| JP2014075182A (ja) * | 2012-10-02 | 2014-04-24 | Hitachi High-Technologies Corp | 質量分析装置、質量分析方法、及びイオン源 |
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