JPS63104776A - はんだ付用フラツクスの評価方法 - Google Patents
はんだ付用フラツクスの評価方法Info
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- JPS63104776A JPS63104776A JP24923686A JP24923686A JPS63104776A JP S63104776 A JPS63104776 A JP S63104776A JP 24923686 A JP24923686 A JP 24923686A JP 24923686 A JP24923686 A JP 24923686A JP S63104776 A JPS63104776 A JP S63104776A
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- soldering
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- Pending
Links
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Landscapes
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、はんだ付は工程に用いられるフラックスの能
力を定量的に評価するはんだ付用フランクスの評価方法
に関する。
力を定量的に評価するはんだ付用フランクスの評価方法
に関する。
（従来の技術およびその問題点）
半導体装近用電子部品などのはんだ付は工程において、
はんだ付けする部位の金属表面は空気や化学薬品等に触
れたり熱履歴を経るため酸化皮膜などの皮膜に覆われて
いる。はんだ付けする際には、はんだ付けする金属表面
の皮膜を除去し、金属表面を露出させ活性化させること
が必要となるが、この金属表面の活性化には一般にフラ
ックスを用いている。
はんだ付けする部位の金属表面は空気や化学薬品等に触
れたり熱履歴を経るため酸化皮膜などの皮膜に覆われて
いる。はんだ付けする際には、はんだ付けする金属表面
の皮膜を除去し、金属表面を露出させ活性化させること
が必要となるが、この金属表面の活性化には一般にフラ
ックスを用いている。
はんだ付けする部位の皮膜のフラックスによる除去作用
は、フラックスの能力により皮膜の除去の度合が異なり
、はんだ付は性に大きな影響を及ぼす。なお、ここでフ
ラックスの皮膜除去の能力をフラックスの活性力と呼ぶ
。
は、フラックスの能力により皮膜の除去の度合が異なり
、はんだ付は性に大きな影響を及ぼす。なお、ここでフ
ラックスの皮膜除去の能力をフラックスの活性力と呼ぶ
。
従来フラックスの活性力を評価する統一した指標はなく
、実際のはんだ付けした部分を目視して評価する方法、
あるいは後工程（はんだ付けした部分の加工）を通して
はんだ付は性を評価していた。しかし、目視的評価は、
経験を必要とするととともに、ばらつきが生ずる。例え
ば、半導体装置の外部接続用のアウターリード部にはん
だ付けする際に、フラックスが強い塩素系だと塩素が封
止領域内に侵入してＩＣチップを損傷するおそれがあり
、弱すぎるとはんだの濡れ性が悪（はんだ付は性が劣る
などの不具合を生ずる。
、実際のはんだ付けした部分を目視して評価する方法、
あるいは後工程（はんだ付けした部分の加工）を通して
はんだ付は性を評価していた。しかし、目視的評価は、
経験を必要とするととともに、ばらつきが生ずる。例え
ば、半導体装置の外部接続用のアウターリード部にはん
だ付けする際に、フラックスが強い塩素系だと塩素が封
止領域内に侵入してＩＣチップを損傷するおそれがあり
、弱すぎるとはんだの濡れ性が悪（はんだ付は性が劣る
などの不具合を生ずる。
したがって、フラックス自体の活性力を評価することに
より、はんだ付は性を予め予測できれば、フラックスの
活性力が強過ぎたり、はんだ付は後の工程で不適合を生
じるなどの不具合を防ぐことができる。
より、はんだ付は性を予め予測できれば、フラックスの
活性力が強過ぎたり、はんだ付は後の工程で不適合を生
じるなどの不具合を防ぐことができる。
そこで、この発明ははんだ付けに用いられるフラックス
の活性力を定量的に評価するはんだ付は用フラックスの
評価方法を提供することを目的とする。
の活性力を定量的に評価するはんだ付は用フラックスの
評価方法を提供することを目的とする。
（発明の概要）
この発明のはんだ付は用フラックスの評価方法は、上記
事情に鑑みてなされ、次の構成を備えて成る。
事情に鑑みてなされ、次の構成を備えて成る。
試料片を、はんだ付けのフラックス中に浸漬し、このフ
ラックス中に溶出した試料片の素材成分濃度を測定する
。
ラックス中に溶出した試料片の素材成分濃度を測定する
。
この測定方法としては、原子吸光分析法あるいはＩＣＰ
発光分析法などを用いる。
発光分析法などを用いる。
そして、フラックス中に溶出した試料片の素材金属の濃
度が高いほど活性力が大きく、低いものは活性力が小さ
いと結論づけられる。
度が高いほど活性力が大きく、低いものは活性力が小さ
いと結論づけられる。
このため、フラックスの選定や活性力の関節をはんだ付
けする前に行うことができる。
けする前に行うことができる。
（実施例）
フラックス；５種類（Ａ、Ｂ、、Ｃ，Ｄ、Ｅ）素材；鉄
−ニッケル合金（４２７０イ）（１） 上記素材を３
Ｘ ３ ｃｎｆの試料片に切断し、前処理洗浄を行う
。
−ニッケル合金（４２７０イ）（１） 上記素材を３
Ｘ ３ ｃｎｆの試料片に切断し、前処理洗浄を行う
。
（２）１つのフラックスに対し２枚の試料片を用怠し、
一方を常温で、他方を４００℃で２分間加熱（ホットプ
レート加熱）する。
一方を常温で、他方を４００℃で２分間加熱（ホットプ
レート加熱）する。
（３）各フラックスに試料片を２０分浸漬する。
（４）各フラックス中に溶出した試料片の素材全屈成分
の濃度を原子吸光分析装置を用いて測定する。
の濃度を原子吸光分析装置を用いて測定する。
結果は第１図に示し、この第１図ではｌ ｃａ当たりの
鉄、ニッケルの熔は出し量を示しである。
鉄、ニッケルの熔は出し量を示しである。
そして、この各フラックスの活性力の大小関係はＡ＞Ｂ
＞Ｃ＞Ｄ＞Ｅと考えられる。
＞Ｃ＞Ｄ＞Ｅと考えられる。
（５）一方、各フラックスを用いた際の実際のはんだ付
は性の目視評価を行うため、試料片に各フラックスを塗
布し、はんだ中に浸漬し評価する。
は性の目視評価を行うため、試料片に各フラックスを塗
布し、はんだ中に浸漬し評価する。
この結果Ａ”＝Ｃ＞Ｂ＞Ｄ＞Ｅであった。
以上のように、本発明の評価方法と目視評価がほぼ一致
した。
した。
また、上記実施例と同様の実験を鋼材を試料片として行
った結果、実験結果と目視的な評価結果とが一致した。
った結果、実験結果と目視的な評価結果とが一致した。
（発明の効果）
以上のように本発明によれば、フラックス中に試料片を
浸漬し、このフラックス中に溶出した試料片の素材成分
濃度を測定し、この濃度をフラックスの活性力として数
値化が可能であり、フラックスの能力を定量的に評価す
ることができる。また、予めフラックスの能力を知るこ
とができるため、事前にフラックスの選定や能力の調節
が可能となるなどの著効を奏する。
浸漬し、このフラックス中に溶出した試料片の素材成分
濃度を測定し、この濃度をフラックスの活性力として数
値化が可能であり、フラックスの能力を定量的に評価す
ることができる。また、予めフラックスの能力を知るこ
とができるため、事前にフラックスの選定や能力の調節
が可能となるなどの著効を奏する。
以上本発明につき好適な実施例を挙げて種々説明したが
、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明
の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのは
もちろんのことである。
、本発明はこの実施例に限定されるものではなく、発明
の精神を逸脱しない範囲内で多くの改変を施し得るのは
もちろんのことである。
第１図は本発明の実施例の結果を示すグラフである。
Claims (1)
- １、試料片を、はんだ付けのフラックス中に浸漬し、こ
のフラックス中に溶出した試料片の素材成分濃度を測定
することを特徴とするはんだ付用フラックスの評価方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24923686A JPS63104776A (ja) | 1986-10-20 | 1986-10-20 | はんだ付用フラツクスの評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24923686A JPS63104776A (ja) | 1986-10-20 | 1986-10-20 | はんだ付用フラツクスの評価方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63104776A true JPS63104776A (ja) | 1988-05-10 |
Family
ID=17189949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24923686A Pending JPS63104776A (ja) | 1986-10-20 | 1986-10-20 | はんだ付用フラツクスの評価方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63104776A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010014513A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | はんだフラックス中の金属成分分析方法 |
| JP2011033377A (ja) * | 2009-07-30 | 2011-02-17 | Autonetworks Technologies Ltd | Ｓｎ酸化物の定量方法およびフラックスの評価方法 |
-
1986
- 1986-10-20 JP JP24923686A patent/JPS63104776A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010014513A (ja) * | 2008-07-03 | 2010-01-21 | Fuji Electric Holdings Co Ltd | はんだフラックス中の金属成分分析方法 |
| JP2011033377A (ja) * | 2009-07-30 | 2011-02-17 | Autonetworks Technologies Ltd | Ｓｎ酸化物の定量方法およびフラックスの評価方法 |
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