JPS6284573A - 赤外線検出器 - Google Patents
赤外線検出器Info
- Publication number
- JPS6284573A JPS6284573A JP60225283A JP22528385A JPS6284573A JP S6284573 A JPS6284573 A JP S6284573A JP 60225283 A JP60225283 A JP 60225283A JP 22528385 A JP22528385 A JP 22528385A JP S6284573 A JPS6284573 A JP S6284573A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrodes
- receiving section
- light
- carriers
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明に低いインピーダンスの元伝24型赤外線検出器
にバイアス電流を流す際憂こ発生するIAノイズを減少
させるための方法に関するものである。
にバイアス電流を流す際憂こ発生するIAノイズを減少
させるための方法に関するものである。
(従来の技術)
従来の光伝導型赤外線検出器に第2図(こ示すようにバ
イアス電流を流すための1!極l及び2を有し、赤外線
輻射によって受光部5に発生する過剰少数キャリアの密
度に比例した電位差を同電極から取り出し増幅していた
(エム・エーキンチ(M・A IIKinch) 1等
インフラレッド フィツクス(Infrared Ph
ysics菖15巻、(1975)、111頁)。
イアス電流を流すための1!極l及び2を有し、赤外線
輻射によって受光部5に発生する過剰少数キャリアの密
度に比例した電位差を同電極から取り出し増幅していた
(エム・エーキンチ(M・A IIKinch) 1等
インフラレッド フィツクス(Infrared Ph
ysics菖15巻、(1975)、111頁)。
(発明が解決しようとする問題点)
従来の技術において電極でも発生すると言われている電
流性のl/fノイズのため、バイアス電流を大きくすれ
ばするほど低周波領域において検出器の感度が劣化して
くるという問題点がある。本発明の目的fl 1/fノ
イズを減らすことによって低周波領域において、検出器
の感度つまり信号・雑音比を改良することを提供するこ
とにある。
流性のl/fノイズのため、バイアス電流を大きくすれ
ばするほど低周波領域において検出器の感度が劣化して
くるという問題点がある。本発明の目的fl 1/fノ
イズを減らすことによって低周波領域において、検出器
の感度つまり信号・雑音比を改良することを提供するこ
とにある。
(問題を解決するための手段)
本発明は、光伝導型赤外線検出器において、バイアス電
流を流すために受光部の両端に位置する電極2個の他f
こ両電極から離れしかもその近傍の受光部の端に位置し
かつキャリアの再結合が無視できるほど幅の狭い電圧測
定用電極を2個有することを特徴とする。
流を流すために受光部の両端に位置する電極2個の他f
こ両電極から離れしかもその近傍の受光部の端に位置し
かつキャリアの再結合が無視できるほど幅の狭い電圧測
定用電極を2個有することを特徴とする。
(作 用)
第1図(al、(bl、(C1に本発明の光伝導型赤外
線検出器を示す。第1図(bl、 (C)に各々第1図
(alにおけるA−A’とB−B’の断面図である。本
発明の赤外線検出器にバイアス電流を流すための電極l
。
線検出器を示す。第1図(bl、 (C)に各々第1図
(alにおけるA−A’とB−B’の断面図である。本
発明の赤外線検出器にバイアス電流を流すための電極l
。
2の地番こ第1図(alに示すようζこ両電極から離れ
しかもその近傍の受光部5の端に位置しかつキャリアの
再結合が無視できるほど幅の狭い電圧測定用電極3,4
を有する。この際できるだけ大きな出力電圧を得るため
にも電極1.2のなるべく近傍に電極3.4を設ける。
しかもその近傍の受光部5の端に位置しかつキャリアの
再結合が無視できるほど幅の狭い電圧測定用電極3,4
を有する。この際できるだけ大きな出力電圧を得るため
にも電極1.2のなるべく近傍に電極3.4を設ける。
赤外線輻射によって受光gsに発生した過剰少数キャリ
アに、電極1,2に臼加された電場によっ1電極間をド
リフトするうちに結晶内、界面及び電極で再結合する。
アに、電極1,2に臼加された電場によっ1電極間をド
リフトするうちに結晶内、界面及び電極で再結合する。
電極1,2で再結合するキャリアに同電極を同時に電圧
測定用電極として用いる場合、i!!流性のl/fノイ
ズを発生する原因4こなる。そこで他に設けた幅の狭い
電圧測定用電極3.4の間の電位差を増幅器6を通して
取り出すことによって電極1.2でキャリアが再結合す
ることに起因するmr、流性の1/fノイズを回避する
ことができる。Ill極3.4の幅を狭くする理由はこ
こにおいてもキャリアが再結合してノイズの原因になる
からである。例えばHall係数を測定する時に使われ
る4端子法では4つの電極の幅は普通同じである。しか
しそれでに光電変換における1/fノイズを減少させる
ことはできない。
測定用電極として用いる場合、i!!流性のl/fノイ
ズを発生する原因4こなる。そこで他に設けた幅の狭い
電圧測定用電極3.4の間の電位差を増幅器6を通して
取り出すことによって電極1.2でキャリアが再結合す
ることに起因するmr、流性の1/fノイズを回避する
ことができる。Ill極3.4の幅を狭くする理由はこ
こにおいてもキャリアが再結合してノイズの原因になる
からである。例えばHall係数を測定する時に使われ
る4端子法では4つの電極の幅は普通同じである。しか
しそれでに光電変換における1/fノイズを減少させる
ことはできない。
(実施例)
第1図(d); (el、げ)に本発明の実施例を示す
。第1図(e)は(dJ図におけるA−A’の断面図、
第1図げ)はH−B’の断面図である。tdi図に示す
赤外線検出器5こおいて電極1−2間の長さに765μ
が電圧測定用電極3−4間の長さは645μm、@は6
5μIn、厚さは10μm である。電極3.4の幅は
15μrnである。検出器の材料は単結晶のI(go、
5cclo、sTe で電極は蒸着等により形成した。
。第1図(e)は(dJ図におけるA−A’の断面図、
第1図げ)はH−B’の断面図である。tdi図に示す
赤外線検出器5こおいて電極1−2間の長さに765μ
が電圧測定用電極3−4間の長さは645μm、@は6
5μIn、厚さは10μm である。電極3.4の幅は
15μrnである。検出器の材料は単結晶のI(go、
5cclo、sTe で電極は蒸着等により形成した。
この検出器は厚さo、s amのサファイア基板10の
上に接着されている。この検出器を開口部の立体角が2
.8XlO’sr のアパーチャーと狭帯域干渉フィル
ター(中心波長10.9μ曵波長幅0.75μm、透過
率75チ)とともに液体窒素温度に冷却し、7オトンパ
ツクグラウンド〜1Xlo14pbcnl−28”の条
注下ニオイて[1−100Hz の周波数領域で検出器
の感度をヤ11定した。バイアス電流として4−14m
Aの範囲で1mA 刻みでノイズ測定を行った。その結
果1/fノイズは約半分になり一方しスボンシヴイティ
(V/W )は約20%減少したに頑ぎない。これに信
号・雑音比が約1.6倍改善されたことを意味する。
上に接着されている。この検出器を開口部の立体角が2
.8XlO’sr のアパーチャーと狭帯域干渉フィル
ター(中心波長10.9μ曵波長幅0.75μm、透過
率75チ)とともに液体窒素温度に冷却し、7オトンパ
ツクグラウンド〜1Xlo14pbcnl−28”の条
注下ニオイて[1−100Hz の周波数領域で検出器
の感度をヤ11定した。バイアス電流として4−14m
Aの範囲で1mA 刻みでノイズ測定を行った。その結
果1/fノイズは約半分になり一方しスボンシヴイティ
(V/W )は約20%減少したに頑ぎない。これに信
号・雑音比が約1.6倍改善されたことを意味する。
このことにより所定の信号・雑音比を得る際に測定時間
を約2.5倍短縮することができる。S=すると所定時
間内でよりnflの高い測定を行うことができる。なお
本発明に上記の実施例に見られる結晶材料や波長帯に限
らず要するに低いインピーダンスの、又は大きいバイア
ス電流を要する几伝導型検出器において鉾遍的に成立つ
ことを付記しておく。例えば単結晶pbsn’l’eを
U’Mとした検出器にも本発明を適用することができる
。
を約2.5倍短縮することができる。S=すると所定時
間内でよりnflの高い測定を行うことができる。なお
本発明に上記の実施例に見られる結晶材料や波長帯に限
らず要するに低いインピーダンスの、又は大きいバイア
ス電流を要する几伝導型検出器において鉾遍的に成立つ
ことを付記しておく。例えば単結晶pbsn’l’eを
U’Mとした検出器にも本発明を適用することができる
。
(発明の効果)
以上で説明したように本発明によれば元伝導型赤外線橋
出器tこおいてバイアス電流を流すための電極2@の他
に両電極から離れしかもその近傍の受光部の媒に位亡す
る幅の狭い電圧測定用gl電極個を設けることζこよっ
て前者の両電極で発生する1/fノイズを回避して検出
器の感度を改菩することができる。
出器tこおいてバイアス電流を流すための電極2@の他
に両電極から離れしかもその近傍の受光部の媒に位亡す
る幅の狭い電圧測定用gl電極個を設けることζこよっ
て前者の両電極で発生する1/fノイズを回避して検出
器の感度を改菩することができる。
面図、(C)図はB−B’の断面図である。lと2にバ
イアス“社#i、を流すための電極、3.4に幅の狭い
電圧測定用電極、5は受光部、6&ユ瑣幅器、7&1電
極と増幅器を結ぶワイアー配線、8は例えばHgCdT
e jILM晶、9―接着剤、10は熱伝導車の鍋い基
板υ1jえばサフ)・イアである。第1区](d)、
(el。 (f)は本発明のり4 M例を説明する図である。(e
)λtユfd1図に呵けるA−A’の断面図、If)図
にB−B′の断面図である。番号−の意味するところは
上記と同じである。 第2図は従来の光伝導型赤外線検出器を示す図。 番号の意味するところは上記と同じである。 、2−さ、
イアス“社#i、を流すための電極、3.4に幅の狭い
電圧測定用電極、5は受光部、6&ユ瑣幅器、7&1電
極と増幅器を結ぶワイアー配線、8は例えばHgCdT
e jILM晶、9―接着剤、10は熱伝導車の鍋い基
板υ1jえばサフ)・イアである。第1区](d)、
(el。 (f)は本発明のり4 M例を説明する図である。(e
)λtユfd1図に呵けるA−A’の断面図、If)図
にB−B′の断面図である。番号−の意味するところは
上記と同じである。 第2図は従来の光伝導型赤外線検出器を示す図。 番号の意味するところは上記と同じである。 、2−さ、
Claims (1)
- バイアス電流を流すために受光部の両端に位置する電極
2個の他に両電極から離れしかもその近傍の受光部の端
に位置しかつキャリアの再結合が無視できるほど幅の狭
い電圧測定用電極を2個有することを特徴とする光伝導
型赤外線検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60225283A JPS6284573A (ja) | 1985-10-08 | 1985-10-08 | 赤外線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60225283A JPS6284573A (ja) | 1985-10-08 | 1985-10-08 | 赤外線検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6284573A true JPS6284573A (ja) | 1987-04-18 |
Family
ID=16826905
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60225283A Pending JPS6284573A (ja) | 1985-10-08 | 1985-10-08 | 赤外線検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6284573A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6426862U (ja) * | 1987-08-07 | 1989-02-15 | ||
US11699902B2 (en) | 2014-09-18 | 2023-07-11 | Ergotron, Inc. | Electrical load management system and method |
-
1985
- 1985-10-08 JP JP60225283A patent/JPS6284573A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6426862U (ja) * | 1987-08-07 | 1989-02-15 | ||
US11699902B2 (en) | 2014-09-18 | 2023-07-11 | Ergotron, Inc. | Electrical load management system and method |
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