JPS62826A - 電子体温計 - Google Patents

電子体温計

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Publication number
JPS62826A
JPS62826A JP13794485A JP13794485A JPS62826A JP S62826 A JPS62826 A JP S62826A JP 13794485 A JP13794485 A JP 13794485A JP 13794485 A JP13794485 A JP 13794485A JP S62826 A JPS62826 A JP S62826A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
value
oscillator
lsi
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13794485A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisashi Kikuchi
尚志 菊池
Nobuyuki Iwama
信行 岩間
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP13794485A priority Critical patent/JPS62826A/ja
Publication of JPS62826A publication Critical patent/JPS62826A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 この発明は電子的に温度の測定をおこなう電子体温計に
関する。
〔発明の技術的背景とその問題〕
電子体温計は、サーミスタの抵抗値が温度によって変化
することを利用して、温度を測定している。このサーミ
スタの抵抗値はバラツキがあり1温度特性も非線形であ
るため、測定誤差の原因となっていた。この問題を解決
するため、体温計校正時にサーミスタ抵抗のm度特性を
体温針内I、8Iに組み込まれているメモリーに書き込
み、測定時メモリの内容と測定した抵抗値を比較し、温
度値を得る方法が提案されている。
前記の提案を実施するためには、LSIのメモリーにデ
ィジタル値に変換された温度を書き込む必要がある。こ
のディジタル値は複数ビットで構成されているため、メ
モリー書き込み用のLSIのパッドも複数必要となる。
このように大きな面積を必要とするパッドの数が増加す
るとLSI自体の面積が大きくなり、LSIのコストが
あがるという問題点がある0 〔発明の目的〕 この発明は上記の曲題点を解決するためLSIのパッド
数をへらし、低価格の電子体温計を提供することにある
〔発明の概要〕
体温す牛用LfSIは温度変化によって抵抗がかわるサ
ーミスタなどの感温抵抗をLSI外部に備え、CR発振
器と同一の構造をもつ測温発振器により、前記の感温抵
抗の変化を温度に応じた周波数に変え、測温カウンタに
よりこの周波数を一定時間カウントすることにより温度
に対応する値を得る。この測温カウンタの値と温度値と
の関係が書き込まれているLSI内のメモリにより測温
カウンタの値を温度値に変え表示している。
前述したメモリの書き込みをおこなうため、校正時に温
度値をメモリに書き込む必要がある。温度値をそのまま
書き込むと数ビットのデータを書き込む必要がありLS
Iのパッドも複数個必要となる。そこで温度値を直並列
変換してLSIに送り、LSI内でふたたび直並列変換
することによりLSI内のバットをへらしている。
〔発明の効果〕
この発明によればLSIのバット数をへらすことにより
、LSIの面積をへらすことができ、LSIのコストさ
げることができる。
〔発明の実施例〕
以下この発明を図面を参照して詳細に説明する。
第1図はこの発明の一実施例のブロック図を示す。
この体温計用LS11はOR,発振器と同一構成のmI
温発振器2を用いて温度を測定している。すなわち温度
によって抵抗値がかわるサーミスタ3とコンデンサ4に
よってCRを構成することにより、発振周波数が温度に
より変化し、温度測定を可能にしている。
この測温発振器2の出力パルスは測温カウンタ5に入力
され、一定時間カウントされる。その結果は温度に対応
した値となっている。この値に対応した値をアドレスと
してメモリ6から温度値を読みだし表示回路7を通して
LCA8に表示する。
なお11ノ記の一定時間を得るためタイマ9が発振器4
oの出力パルスをかぞえている。
前述した方法で測定を可能にするためには、校正時にメ
モリ6に温度値を書き込むことが必要である。この方法
を次に述べる。恒温槽などにサーミスタ3をつけ、同時
に校正装置11によ、・って温度を測定する。
測定された温度は十進3桁の値であり、ビット数になお
すと12ビツトであられされている。
この測定値は並直列変換され発振器10のクロックに同
期して校正装置11から出方され、体温計用LSI1内
の直並列変器に入力される。
校正装@11が温度値を体温計に送っている間に、測定
時と同様な方法により、側温カウンタ15に温度に対応
した値かたくわえられている。
この測温カウンタ15の内容はメモリ6のアドレス部に
入力される。メモリ6はこのアドレスに直並列変換器1
2の内容を記憶する。
このようにして12ビツトのデータを直並列変換するこ
とによって体温計用LSIIのパッドをへらし、LSI
を低価格にすることができた。
なおこのメ噌りはE−PROMなどの不揮発性メモリで
も電池でバックアップされた揮発性のメモリでもよい。
校正装置との[11]期はI、s11内の発振器によっ
て取っているが、校正装置から同期パルスをだしてもよ
い。また並直列変換されたデ二夕の前後にスタート・ビ
ットとストップビットをつけ非同期でデータを送っても
よい。
メモリに書き込む値は測温カウンタと測度値の関係を示
す値ならば、どのような値でもよい。
たとえば測温カウンタと温度値間の係数、規準温度値か
ら差でもよい。
【図面の簡単な説明】
棟部はこの発明のブロック図を示す。 l 電子体温計用LSI 2 測温発振器 3 サーミスタ 4 コンデンサ 5 側温カウンタ 6 メモリ 7 表示回路 8  L(、’D 9 タイマ 10  発振器 11  校正装置 12  直並列変換器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 温度の変化を抵抗値の変化に変換する感温抵抗を有する
    測温発振器と、前記測温発振器のパルスをカウントする
    測温カウンタと、測温カウンタの値と、温度値との関係
    が書き込まれているメモリと、このメモリの内容をもと
    に温度値を表示する電子体温計において、温度値を直並
    列変換しメモリに書き込む手段を有することを特徴とし
    た電子体温計。
JP13794485A 1985-06-26 1985-06-26 電子体温計 Pending JPS62826A (ja)

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JP13794485A JPS62826A (ja) 1985-06-26 1985-06-26 電子体温計

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ID=15210352

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001036917A1 (fr) * 1999-11-12 2001-05-25 Yamatake Corporation Dispositif de circuit integre et procede de correction de ce dispositif

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001036917A1 (fr) * 1999-11-12 2001-05-25 Yamatake Corporation Dispositif de circuit integre et procede de correction de ce dispositif
US6841401B1 (en) 1999-11-12 2005-01-11 Yamatake Corporation Integrated circuit device and correction method for integrated circuit device

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