JPS6279181U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6279181U JPS6279181U JP17003185U JP17003185U JPS6279181U JP S6279181 U JPS6279181 U JP S6279181U JP 17003185 U JP17003185 U JP 17003185U JP 17003185 U JP17003185 U JP 17003185U JP S6279181 U JPS6279181 U JP S6279181U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electronic component
- inspection jig
- recess
- terminals
- fitted
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 7
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第1図は、本考案の電子部品検査治具の一実施
例の縦断面図であり、第2図は、第1図に示す電
子部品検査治具の底面図であり、第3図は、コン
タクトピンの一実施例の断面図であり、第4図は
、コンタクトピンの他の実施例の断面図であり、
第5図は、側方に端子が張り出したIC等の電子
部品の斜視図であり、第6図は、本考案の電子部
品検査治具の対象とする側面に沿つて端子が設け
られたIC等の電子部品の斜視図である。 1,3:電子部品、2,4:端子、11:検査
治具台、14:凹部、15:コンタクトピン、1
7:コイルばね、18:鋼球、19:突起部材。
例の縦断面図であり、第2図は、第1図に示す電
子部品検査治具の底面図であり、第3図は、コン
タクトピンの一実施例の断面図であり、第4図は
、コンタクトピンの他の実施例の断面図であり、
第5図は、側方に端子が張り出したIC等の電子
部品の斜視図であり、第6図は、本考案の電子部
品検査治具の対象とする側面に沿つて端子が設け
られたIC等の電子部品の斜視図である。 1,3:電子部品、2,4:端子、11:検査
治具台、14:凹部、15:コンタクトピン、1
7:コイルばね、18:鋼球、19:突起部材。
Claims (1)
- 側面に沿つて多数の端子が設けられた電子部品
が挿入嵌合できる凹部を検査治具台に形成し、前
記電子部品の側面に対向する前記凹部の内周に前
記電子部品の端子にそれぞれ対応させて突出方向
に弾性付勢される圧接突起を有するコンタクトピ
ンを内方を向けて配列し、前記電子部品と前記検
査治具台との相対移動により前記電子部品を前記
凹部に嵌合させて前記端子に横方向から前記圧接
突起をそれぞれ弾接させるように構成したことを
特徴とする電子部品検査治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985170031U JPH0442783Y2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985170031U JPH0442783Y2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6279181U true JPS6279181U (ja) | 1987-05-20 |
JPH0442783Y2 JPH0442783Y2 (ja) | 1992-10-09 |
Family
ID=31104387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1985170031U Expired JPH0442783Y2 (ja) | 1985-11-05 | 1985-11-05 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0442783Y2 (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5877051U (ja) * | 1981-11-16 | 1983-05-24 | 富士通株式会社 | Icアダプタ |
JPS60213872A (ja) * | 1984-03-19 | 1985-10-26 | アイ・テイー・インダストリーズ、インコーポレーテツド | チツプキヤリアテストアダプタ |
-
1985
- 1985-11-05 JP JP1985170031U patent/JPH0442783Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5877051U (ja) * | 1981-11-16 | 1983-05-24 | 富士通株式会社 | Icアダプタ |
JPS60213872A (ja) * | 1984-03-19 | 1985-10-26 | アイ・テイー・インダストリーズ、インコーポレーテツド | チツプキヤリアテストアダプタ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0442783Y2 (ja) | 1992-10-09 |
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