JPS6254172A - 静止誘導電器の損失測定装置 - Google Patents
静止誘導電器の損失測定装置Info
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- JPS6254172A JPS6254172A JP19310585A JP19310585A JPS6254172A JP S6254172 A JPS6254172 A JP S6254172A JP 19310585 A JP19310585 A JP 19310585A JP 19310585 A JP19310585 A JP 19310585A JP S6254172 A JPS6254172 A JP S6254172A
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- variable
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/34—Testing dynamo-electric machines
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は静止誘導電器の損失測定装置に関するものであ
る。
る。
静止誘導電器、甲でも特にリアクトルのような低力率の
ものに対する。１つの有効な損失測定法としてブリッジ
法がある。このブリッジ法による従来の損失測定装置の
偶成は、例として三相リアクトルの場合について示すと
、第７図のよ５に供試器１ｉ二流れるｔｌｉ流を変成す
る変流器２．変流器２の二次側に接続される相互インダ
クタンス３、供試器ｌにおいて変流器２を接続した相の
線路端子に接続される標準コンダンｆ４及びこれらとブ
リッジ回路を形成Ｔる可変抵抗５及び可変キャパシタン
ス６、さらにブリッジ回路の平衡を確認するための検流
計７とからなる。供試器１の力率によって可変抵抗５と
可変キャパシタンス６は直列と並列のいずれにも接続で
きる。また８は対称交流電源である。このブリッジ法で
は、ブリッジ回路の平衡をとること（二上って供試器の
力率を求め、それから損失を算出するものであるが、多
相静止訪４電器の損失を測定する場合各相毎に測定する
ため１例えば三相器の場合ならば変流器及び標準コンデ
ンサを各々３個必要とするかあるいは変流器２及び標準
コンダンｆ４をその都度測定しょうとする相に接続替え
する必要がある。供試器が大官は・高硫圧のものに７よ
ると、使用できる漂準コンデンサも限られ、高価なもの
となり、さら（＝は試験回路も著しく大がかりなものに
なることから。
ものに対する。１つの有効な損失測定法としてブリッジ
法がある。このブリッジ法による従来の損失測定装置の
偶成は、例として三相リアクトルの場合について示すと
、第７図のよ５に供試器１ｉ二流れるｔｌｉ流を変成す
る変流器２．変流器２の二次側に接続される相互インダ
クタンス３、供試器ｌにおいて変流器２を接続した相の
線路端子に接続される標準コンダンｆ４及びこれらとブ
リッジ回路を形成Ｔる可変抵抗５及び可変キャパシタン
ス６、さらにブリッジ回路の平衡を確認するための検流
計７とからなる。供試器１の力率によって可変抵抗５と
可変キャパシタンス６は直列と並列のいずれにも接続で
きる。また８は対称交流電源である。このブリッジ法で
は、ブリッジ回路の平衡をとること（二上って供試器の
力率を求め、それから損失を算出するものであるが、多
相静止訪４電器の損失を測定する場合各相毎に測定する
ため１例えば三相器の場合ならば変流器及び標準コンデ
ンサを各々３個必要とするかあるいは変流器２及び標準
コンダンｆ４をその都度測定しょうとする相に接続替え
する必要がある。供試器が大官は・高硫圧のものに７よ
ると、使用できる漂準コンデンサも限られ、高価なもの
となり、さら（＝は試験回路も著しく大がかりなものに
なることから。
ａ数個の標準コンデンサをそろえることは困難であり、
また接続替えｒるにしても多くの時間を要し、容易には
できないとい）問題点があった。
また接続替えｒるにしても多くの時間を要し、容易には
できないとい）問題点があった。
本発明は上記の点を４１してなされたもので。
その目的と−ｒるところは多相供試器の場合でも標準コ
ンデンサを１個のみ便用し、測定の際各相に゛接続替え
する必要のない静止誘導電器の損失測定装置を提供ｒる
ことにある。
ンデンサを１個のみ便用し、測定の際各相に゛接続替え
する必要のない静止誘導電器の損失測定装置を提供ｒる
ことにある。
かかる目的を達成するために本発明によれば。
ｉＴ変低抵抗び可変キャパシタンスと直列に可変インダ
クタンスを付加し、測定値に対し適切な補正を加えるこ
とによって、測定の際標準コンデンサを任意の１相に接
続したまま各相に接続替えする必要のないようにしたこ
とを特徴とする。
クタンスを付加し、測定値に対し適切な補正を加えるこ
とによって、測定の際標準コンデンサを任意の１相に接
続したまま各相に接続替えする必要のないようにしたこ
とを特徴とする。
以下本発明の静止誘ｚ４ＪＬ電器の損失測定装置の一冥
施例を、三相リアクトルの場合を例に第１図から第６因
までを参照して説明する。
施例を、三相リアクトルの場合を例に第１図から第６因
までを参照して説明する。
！ａ１図は、ωなる角周波数をもつ対称三相交流γｉ源
９によっ°ζ％係が印加される供試器１０Ｃ：おいて、
任意の相の線路端子に標準コンデンサ１１を接続し、そ
の標準コンデンサ１１を接続した第１の損失を測定する
回路図、及び第２図はその時の各部の電圧・電流ベクト
ル図を示したものである６１２は標準コンデンサ１１を
接続した相に流れる電流を検出し変成する変流器、１３
は相互インダクタンス、’４ ＋ １５ ｅ及び１６は
各々直列に接続された可変抵抗。
９によっ°ζ％係が印加される供試器１０Ｃ：おいて、
任意の相の線路端子に標準コンデンサ１１を接続し、そ
の標準コンデンサ１１を接続した第１の損失を測定する
回路図、及び第２図はその時の各部の電圧・電流ベクト
ル図を示したものである６１２は標準コンデンサ１１を
接続した相に流れる電流を検出し変成する変流器、１３
は相互インダクタンス、’４ ＋ １５ ｅ及び１６は
各々直列に接続された可変抵抗。
可変キャパシタンス及び可変インダクタンスであり、ま
た１７は上記機器によって構成されるブリッジ回路の平
衡を確認するための検流計である。
た１７は上記機器によって構成されるブリッジ回路の平
衡を確認するための検流計である。
可変抵抗１４．可変キャパシタンス１５及び可変インダ
クタンス１６は各々独立に調整できるものテアリ、また
可変キャパシタンス１５及び可変インダクタンス１６は
各々その値を零（短、＊）にすることが可能なものとす
る。
クタンス１６は各々独立に調整できるものテアリ、また
可変キャパシタンス１５及び可変インダクタンス１６は
各々その値を零（短、＊）にすることが可能なものとす
る。
さらに標準コンデンサの容量は十分小さく、そのインダ
クタンスは可変抵抗１４．可変キャパシタンス１５及び
可変インダクタンス１６からなる直列回路ツインピーダ
ンスよりも十分大きいものとする。
クタンスは可変抵抗１４．可変キャパシタンス１５及び
可変インダクタンス１６からなる直列回路ツインピーダ
ンスよりも十分大きいものとする。
交流電源９により磁圧・環流が供試器１０に供給される
と、変流器１２及び相互インダクタンス１３により、相
互インダクタンス１３の二次側に印加電圧ｖ１に対しく
９０°−供試器のこの相４：おける力率角θ、）、すな
わち、供試器の漠失角δ１だけ位相の進んだ電圧ｖｘＩ
ｆＪ′−現われる。この電圧Ｖ□と。
と、変流器１２及び相互インダクタンス１３により、相
互インダクタンス１３の二次側に印加電圧ｖ１に対しく
９０°−供試器のこの相４：おける力率角θ、）、すな
わち、供試器の漠失角δ１だけ位相の進んだ電圧ｖｘＩ
ｆＪ′−現われる。この電圧Ｖ□と。
可変抵抗１４．βＬ＆キャパシタンス１５及び可変イン
ダクタンス■６によって構成される直列回路の両端の電
圧ｖ８１が平衡ｆるよ５に可変抵抗１４ 、可変キャパ
シタンス１５及び可変インダクタンス１６を調整する。
ダクタンス■６によって構成される直列回路の両端の電
圧ｖ８１が平衡ｆるよ５に可変抵抗１４ 、可変キャパ
シタンス１５及び可変インダクタンス１６を調整する。
平衡が得られた時の各々の値から供試器の力率を求め、
損失を算出する。。
損失を算出する。。
いま第１図の測定回路（二、結いて平衡が得られた時の
町゛変抵抗１４．可変キャパシタンス１５及び可変イン
ダクタンス１６の値を各々”１ ＃ Ｃ１＋ ＬＬとす
ると、供試器１０においてこの相の損失角δ１の正接Ｉ
δ、は −δ１＝ω自１１（ωは交流′：４諒の円周波数）とな
り（この場合り、 ＝０となる）、従って供試器１０に
おけるこの４ｒｃｌの力率帽θ１は。
町゛変抵抗１４．可変キャパシタンス１５及び可変イン
ダクタンス１６の値を各々”１ ＃ Ｃ１＋ ＬＬとす
ると、供試器１０においてこの相の損失角δ１の正接Ｉ
δ、は −δ１＝ω自１１（ωは交流′：４諒の円周波数）とな
り（この場合り、 ＝０となる）、従って供試器１０に
おけるこの４ｒｃｌの力率帽θ１は。
として求まる。
第３図は、１準コンデンサを接続した柑に対し。
１２０°位相の遅れた相の損失を測定する回路図、及び
第４図はその時の各部のＵＫ圧・電りルベクトル図を示
すものである。測定する相に接続された変流）急１２の
二次電ηｔは電性を反転され相互イ〉・ダクタンスｉ３
に至り、その二次ＩＪ’、ｌＩに、標準コンデンサ１１
を接続した相の１工圧Ｖ１に対しく６ゴ＋この（目の損
失角δ、）だけ位相の進んだ電圧ｖｘ、が現われる。前
記同様、この電圧ＶＸＩと、可変抵抗１・１．可変キャ
パシタンス１５及び可変インダクタンス１６によってＲ
１成される直列回路の両端の電圧Ｖｓ２が平衡するよう
に可変抵抗１４．可変キャパシタンス１５及び可変イン
ダクタンス１６を調整する。ここで平衡が得られた時の
個々の値を各々Ｂｔ ＊ Ｃ！ ＊ Ｌｔと了ると、供
試器のこの相におヴる損失角δ、の正接−δ、は となる。（この場合Ｌ！＝Ｏとなる。）従ってこの相の
力率蕉θ、は として求まる。
第４図はその時の各部のＵＫ圧・電りルベクトル図を示
すものである。測定する相に接続された変流）急１２の
二次電ηｔは電性を反転され相互イ〉・ダクタンスｉ３
に至り、その二次ＩＪ’、ｌＩに、標準コンデンサ１１
を接続した相の１工圧Ｖ１に対しく６ゴ＋この（目の損
失角δ、）だけ位相の進んだ電圧ｖｘ、が現われる。前
記同様、この電圧ＶＸＩと、可変抵抗１・１．可変キャ
パシタンス１５及び可変インダクタンス１６によってＲ
１成される直列回路の両端の電圧Ｖｓ２が平衡するよう
に可変抵抗１４．可変キャパシタンス１５及び可変イン
ダクタンス１６を調整する。ここで平衡が得られた時の
個々の値を各々Ｂｔ ＊ Ｃ！ ＊ Ｌｔと了ると、供
試器のこの相におヴる損失角δ、の正接−δ、は となる。（この場合Ｌ！＝Ｏとなる。）従ってこの相の
力率蕉θ、は として求まる。
さらに第５図は、標準コンデンサ１１を接続した相に対
し１２０°位相の進んだ相の損失を測定する回路図、及
びＷ１６図はその時の各部の電圧・電流のベクトル図を
示すものである。
し１２０°位相の進んだ相の損失を測定する回路図、及
びＷ１６図はその時の各部の電圧・電流のベクトル図を
示すものである。
損失を測定する相に接続された変流器１２の二次電流は
相互インダクタンス１３に至り、その二次側に、標準コ
ンダンｆｉｌを接続した相の電圧■、に対しく１２０°
＋この相の損失角δ、）だけ、あるいは標準コンデンサ
１１を流れる電流■８に対し、（３０゜＋この相の損失
角’ｓ ）だけ位相の進んだ電圧Ｖ工。
相互インダクタンス１３に至り、その二次側に、標準コ
ンダンｆｉｌを接続した相の電圧■、に対しく１２０°
＋この相の損失角δ、）だけ、あるいは標準コンデンサ
１１を流れる電流■８に対し、（３０゜＋この相の損失
角’ｓ ）だけ位相の進んだ電圧Ｖ工。
が現われる。
前記同様この電圧ｖｘ、と、可変抵抗１４．ＯＪ変キャ
ハシタンス１５及び可変インダクタンス１６によって構
成される直列回路の両端の電圧Ｖ８ｇが平衡゛ｆるよう
に各々を調整する。ここで平衡が得られた時の可変抵抗
１４．可変キャパシタンス１５及び可変インダクタンス
１６の各々の値を”ａ ｔ Ｃ３＊ ＬＳとすると、供
試器１０においてこの相の損失角δ３の正接−δ、は として求まる。（この場合（：：、＝Ｑとなる。）従っ
て供試器１０におけるこの相の力率蕉θ、はとして求ま
る。
ハシタンス１５及び可変インダクタンス１６によって構
成される直列回路の両端の電圧Ｖ８ｇが平衡゛ｆるよう
に各々を調整する。ここで平衡が得られた時の可変抵抗
１４．可変キャパシタンス１５及び可変インダクタンス
１６の各々の値を”ａ ｔ Ｃ３＊ ＬＳとすると、供
試器１０においてこの相の損失角δ３の正接−δ、は として求まる。（この場合（：：、＝Ｑとなる。）従っ
て供試器１０におけるこの相の力率蕉θ、はとして求ま
る。
このよ５にして求めた各相における力率の値に、印加電
圧と電流を乗じたものが各相における損失となり、それ
らを加えれば供試器の全損失が得られる。
圧と電流を乗じたものが各相における損失となり、それ
らを加えれば供試器の全損失が得られる。
このよ５に本発明の損失測定装置によれば、ブリッジ法
による多相静止誘導電器の損失測定において、１つの標
準コンデンサ１１を任意の相に接続したままで、接続替
えの必要はなく、変流器１２の １み測定する相に接続
替えすることによって、各相の損失を測定することがで
きる。またこれによって試験回路の構成を容易にし、標
準コンデンサの接続替えに要する時間を削減することが
できる。
による多相静止誘導電器の損失測定において、１つの標
準コンデンサ１１を任意の相に接続したままで、接続替
えの必要はなく、変流器１２の １み測定する相に接続
替えすることによって、各相の損失を測定することがで
きる。またこれによって試験回路の構成を容易にし、標
準コンデンサの接続替えに要する時間を削減することが
できる。
同、可変抵抗１４．可変キャパシタンス１５及び可変イ
ンダクタンス１６の接続を並列にしても同様に測定が可
能である。この場合可変キャパシタンス１６及び可変イ
ンダクタンス１６は必要に応じて開放にすることができ
るものとする。また直列・並列のいずれにも切換えるこ
とが＝Ｊ能な切換えスイッチを用いることによって、測
定可能な供試器の力率の範囲をより広くすることができ
る。
ンダクタンス１６の接続を並列にしても同様に測定が可
能である。この場合可変キャパシタンス１６及び可変イ
ンダクタンス１６は必要に応じて開放にすることができ
るものとする。また直列・並列のいずれにも切換えるこ
とが＝Ｊ能な切換えスイッチを用いることによって、測
定可能な供試器の力率の範囲をより広くすることができ
る。
以上述べたよりに本発明の静止誘４電器の損失測定装置
によれば、多相静止誘導電器の場合でも標準コンデンサ
を１個のみ使用し、測定の際各相に接続替えする必要の
ない、比較的安価な、しかも回路構成の容易な損失測定
装置を提供することができる。
によれば、多相静止誘導電器の場合でも標準コンデンサ
を１個のみ使用し、測定の際各相に接続替えする必要の
ない、比較的安価な、しかも回路構成の容易な損失測定
装置を提供することができる。
第１図、第３図及び第５図は本発明の静止誘導電器の損
失測定装置による損失測定回路図、第２図、第４図、第
６図はその時の各部の電圧・電流ベクトル図、＠７図は
従来の損失測定装置による測定回路図である。 １・・・供試器 ２・・・変流器３・・・相互イ
ンダクタンス ４・・・標準コンデンサ５・・・可変抵
抗 ６・・・可変キャパシタンス７・・・検流計
８・・・交流？４源９・・・対称三相交流電源
１０・・・供試器１１・・・標準コンデンサ １２・・
・変流器１３・・・相互インダクタンス １４・・・可
変抵抗１５・・・可変キャパシタンス １６・・・可変
インダクタンス１７・・・検流計 第１図 第 ３ 図 第 ５ 図 第 ６ 図 第７図
失測定装置による損失測定回路図、第２図、第４図、第
６図はその時の各部の電圧・電流ベクトル図、＠７図は
従来の損失測定装置による測定回路図である。 １・・・供試器 ２・・・変流器３・・・相互イ
ンダクタンス ４・・・標準コンデンサ５・・・可変抵
抗 ６・・・可変キャパシタンス７・・・検流計
８・・・交流？４源９・・・対称三相交流電源
１０・・・供試器１１・・・標準コンデンサ １２・・
・変流器１３・・・相互インダクタンス １４・・・可
変抵抗１５・・・可変キャパシタンス １６・・・可変
インダクタンス１７・・・検流計 第１図 第 ３ 図 第 ５ 図 第 ６ 図 第７図
Claims (1)
- 供試器に流れる電流を変成する変流器、この変流器の二
次側に接続される相互インダクタンス、供試器の変流器
を接続した相の線路端子に接続される標準コンデンサ、
及びこれらとブリッジ回路を形成する可変抵抗及び可変
キャパシタンス、さらにブリッジ回路の平衡を確認する
ための検流計とからなる静止誘導電器の損失測定装置に
おいて、可変抵抗及び可変キャパシタンスと直列または
並列に可変インダクタンスを接続したことを特徴とする
静止誘導電器の損失測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19310585A JPS6254172A (ja) | 1985-09-03 | 1985-09-03 | 静止誘導電器の損失測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19310585A JPS6254172A (ja) | 1985-09-03 | 1985-09-03 | 静止誘導電器の損失測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6254172A true JPS6254172A (ja) | 1987-03-09 |
Family
ID=16302323
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19310585A Pending JPS6254172A (ja) | 1985-09-03 | 1985-09-03 | 静止誘導電器の損失測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6254172A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1320365C (zh) * | 2005-02-23 | 2007-06-06 | 西安瑞驰冶金设备有限责任公司 | 变压器损耗计量计算方法 |
| EP1906525A1 (en) | 2006-09-28 | 2008-04-02 | Applied Materials, Inc. | Matching network characterization using variable impedance analysis |
-
1985
- 1985-09-03 JP JP19310585A patent/JPS6254172A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1320365C (zh) * | 2005-02-23 | 2007-06-06 | 西安瑞驰冶金设备有限责任公司 | 变压器损耗计量计算方法 |
| EP1906525A1 (en) | 2006-09-28 | 2008-04-02 | Applied Materials, Inc. | Matching network characterization using variable impedance analysis |
| JP2008084865A (ja) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Applied Materials Inc | 可変のインピーダンス分析を用いたマッチングネットワークの特性化 |
| US7554334B2 (en) | 2006-09-28 | 2009-06-30 | Applied Marterials, Inc. | Matching network characterization using variable impedance analysis |
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