JPS6237825B2 - - Google Patents

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JPS6237825B2
JPS6237825B2 JP420780A JP420780A JPS6237825B2 JP S6237825 B2 JPS6237825 B2 JP S6237825B2 JP 420780 A JP420780 A JP 420780A JP 420780 A JP420780 A JP 420780A JP S6237825 B2 JPS6237825 B2 JP S6237825B2
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JP
Japan
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scanning
laser
semiconductor laser
light
output
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JP420780A
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Japanese (ja)
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JPS56101791A (en
Inventor
Michiharu Abe
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B26/00Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
    • G02B26/08Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
    • G02B26/10Scanning systems
    • G02B26/12Scanning systems using multifaceted mirrors
    • G02B26/127Adaptive control of the scanning light beam, e.g. using the feedback from one or more detectors

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Dot-Matrix Printers And Others (AREA)
  • Laser Beam Printer (AREA)
  • Exposure Or Original Feeding In Electrophotography (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、レーザプリンタなどに用いられる
光ビーム走査装置に係り、特に走査面上を走査さ
れる走査ビームの通過時刻を検出するようにした
光ビーム走査装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a light beam scanning device used in a laser printer or the like, and more particularly to a light beam scanning device configured to detect the passing time of a scanning beam scanned over a scanning surface.

一般にこの種の光ビーム走査装置は第1図に示
すように構成されており、半導体レーザ1はレー
ザ駆動回路2により駆動される。半導体レーザ1
から発振されたレーザ光はコリメータレンズ3、
回転多面鏡4および集光レンズ5を経て走査面7
上に集光され、走査ビーム8となつて矢印A方向
に繰り返し反復走査される。この繰り返しの周期
は、回転多面鏡4の製作誤差、回転むら等によつ
て一定にならないため、走査面7の走査開始点付
近に光検出器9を設置し、走査ビームの通過時刻
を検出し、その検出信号10により光ビーム走査
と画像信号13とを同期化している。
Generally, this type of light beam scanning device is constructed as shown in FIG. 1, and a semiconductor laser 1 is driven by a laser drive circuit 2. Semiconductor laser 1
The laser beam oscillated from the collimator lens 3,
Scanning surface 7 via rotating polygon mirror 4 and condensing lens 5
The light is focused upward and becomes a scanning beam 8, which is repeatedly scanned in the direction of arrow A. Since the cycle of this repetition is not constant due to manufacturing errors, rotational irregularities, etc. of the rotating polygon mirror 4, a photodetector 9 is installed near the scanning start point of the scanning surface 7 to detect the passing time of the scanning beam. , the light beam scanning and the image signal 13 are synchronized by the detection signal 10.

しかしながら、この方法では応答速度の速い高
価な光検出器9が必要となつたり、この光検出器
9を電子写真方式のプリンタに利用したりする
と、光検出器からの検出信号にノイズが多く発生
したりする等の問題があつた。
However, this method requires an expensive photodetector 9 with a fast response speed, and when this photodetector 9 is used in an electrophotographic printer, a lot of noise is generated in the detection signal from the photodetector. There were problems such as doing something.

なお、符号14は半導体レーザ1のレーザ出力
を検出する光検知器である。
Note that reference numeral 14 is a photodetector that detects the laser output of the semiconductor laser 1.

この発明は上述した点を考慮し、半導体レーザ
の自己結合効果を利用することにより、走査面上
を走査される走査ビームの通過時刻を安価な装置
で正確に検出し得るようにした光ビーム走査装置
を提供することを目的とする。
In consideration of the above points, the present invention utilizes the self-coupling effect of a semiconductor laser to accurately detect the passage time of a scanning beam scanned on a scanning surface using an inexpensive device. The purpose is to provide equipment.

以下、この発明の実施例について添付図面を参
照して説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

第2図において、符号20はレーザプリンタ等
に用いられる光ビーム走査装置を示す。この光ビ
ーム走査装置20は半導体レーザ21を有する。
この半導体レーザ21は半導体レーザ駆動回路2
2により駆動され、発散性のレーザ光23aが発
振される。発振レーザ光23aはコリメータレン
ズ24により平行光にされる。この平行レーザ光
は回転多面鏡25により偏向される。偏向された
レーザ光は集光レンズ26により走査面27上に
集光され、走査ビーム23bとなつて走査面27
上を矢印Aの方向に走査される。
In FIG. 2, reference numeral 20 indicates a light beam scanning device used in a laser printer or the like. This light beam scanning device 20 has a semiconductor laser 21 .
This semiconductor laser 21 is connected to a semiconductor laser drive circuit 2.
2, and a diverging laser beam 23a is oscillated. The oscillated laser beam 23a is made into parallel light by the collimator lens 24. This parallel laser beam is deflected by a rotating polygon mirror 25. The deflected laser beam is focused onto the scanning surface 27 by the condensing lens 26, and becomes a scanning beam 23b.
The top is scanned in the direction of arrow A.

走査ビーム23bは回転多面鏡25の回転によ
り走査面27上を繰り返し反復走査される。その
繰り返し周期は回転多面鏡25のミラー面数およ
び回転速度に応じて定められる。
The scanning beam 23b is repeatedly scanned on the scanning surface 27 by the rotation of the rotating polygon mirror 25. The repetition period is determined according to the number of mirror surfaces and rotation speed of the rotating polygon mirror 25.

一方、前記走査面27の走査開始点位置付近に
反射ミラー29が設置される。この反射ミラー2
9に入射したレーザ光(走査ビーム23b)は反
射され、集光レンズ26、回転多面鏡25、コリ
メータレンズ24を順次経て半導体レーザ21に
帰還される。半導体レーザ21は、この帰還光の
影響を受け、自己結合効果により半導体レーザの
出力変化あるいは半導体レーザ駆動電流(端子電
圧)の変化が生ずる。ここに、半導体レーザの自
己結合効果とは、半導体レーザの出力レーザ光を
光学的にフイードバツクするときに見られる現象
をいう。一般には、帰還レーザ光により、レーザ
光出力が一定のときには半導体レーザ21の駆動
電流は減少し、駆動電流が一定ならばレーザ光の
出力は増大するように作用する。
On the other hand, a reflection mirror 29 is installed near the scanning start point position of the scanning surface 27. This reflective mirror 2
The laser beam (scanning beam 23b) incident on the laser beam 9 is reflected and returned to the semiconductor laser 21 through the condenser lens 26, the rotating polygon mirror 25, and the collimator lens 24 in this order. The semiconductor laser 21 is affected by this feedback light, and the self-coupling effect causes a change in the output of the semiconductor laser or a change in the semiconductor laser drive current (terminal voltage). Here, the self-coupling effect of a semiconductor laser refers to a phenomenon observed when optically feedbacking the output laser light of a semiconductor laser. Generally, the feedback laser beam acts to decrease the driving current of the semiconductor laser 21 when the laser beam output is constant, and to increase the laser beam output when the driving current is constant.

また、半導体レーザ21の出力は光検出器30
で検出され、その検出信号31を得るようになつ
ており、この検出信号31により画像信号32と
走査面27上の光ビーム走査を同期化させてい
る。具体的には、半導体レーザ21の出力変化は
第3図に示すように表わされ、この出力変化を光
検出器30で検出することにより、反射ミラー2
9を通過する走査ビーム23bの通過時刻が検出
される。すなわち、時間T1におけるレーザ出力
の立上りのタイミングで走査ビーム23bの通過
時刻が検出される。なお、区域Rは反射ミラー2
9の部分を示す。
Further, the output of the semiconductor laser 21 is detected by a photodetector 30.
The detection signal 31 is used to synchronize the image signal 32 and the scanning of the light beam on the scanning surface 27. Specifically, the output change of the semiconductor laser 21 is expressed as shown in FIG. 3, and by detecting this output change with the photodetector 30, the reflection mirror 2
9 is detected. That is, the passing time of the scanning beam 23b is detected at the timing of the rise of the laser output at time T1 . Note that area R is the reflection mirror 2.
Part 9 is shown.

ところで、光検出器30からの検出信号31は
半導体レーザ駆動回路22にもフイードバツクさ
れ、レーザ出力の安定化が図られる。半導体レー
ザ21は周囲温度やそれ自体の劣化により出力変
動を受け易いが、これによりレーザ出力の変化が
防止される。
Incidentally, the detection signal 31 from the photodetector 30 is also fed back to the semiconductor laser drive circuit 22, thereby stabilizing the laser output. Although the semiconductor laser 21 is susceptible to output fluctuations due to ambient temperature or deterioration of itself, this prevents the laser output from changing.

なお、前記走査面27の走査開始点付近に設け
られる反射ミラー29は、第4図および第5図に
示すように矩形の反射面33,34を有するよう
にしても、あるいは他の形状であつてもよい。こ
のうち、第4図に示す反射ミラー29は細長い反
射面33を有し、その長手方向が走査ビームの走
査方向(走査光路)Aに直交するように設けられ
ている。また、第5図に示す反射ミラーはビーム
の走査方向に垂直な方向に延びる境界区域35を
形成し、この境界区域35を除いた方面が走査面
34として形成される。
The reflecting mirror 29 provided near the scanning start point of the scanning surface 27 may have rectangular reflecting surfaces 33 and 34 as shown in FIGS. 4 and 5, or may have other shapes. It's okay. Of these, the reflecting mirror 29 shown in FIG. 4 has an elongated reflecting surface 33, and is provided so that its longitudinal direction is orthogonal to the scanning direction (scanning optical path) A of the scanning beam. Further, the reflecting mirror shown in FIG. 5 forms a boundary area 35 extending in a direction perpendicular to the scanning direction of the beam, and the area excluding this boundary area 35 is formed as a scanning surface 34.

また、第6図に示すように、反射ミラー29の
反射面36を保護するため、その前面に透明部材
37を設けてもよい。この場合にも走査ビーム2
3bが反射面36上に集光せしめられ、走査ビー
ム23bのデイフオーカス面が透明部材37の表
面になるようにしてもよい。これにより、ほこり
やゴミ等の塵芥による悪影響を防ぐことができ
る。
Furthermore, as shown in FIG. 6, a transparent member 37 may be provided on the front surface of the reflective mirror 29 in order to protect the reflective surface 36. In this case as well, the scanning beam 2
3b may be focused on the reflective surface 36, and the defocus surface of the scanning beam 23b may be the surface of the transparent member 37. This can prevent the negative effects of debris such as dust and dirt.

なお、この発明の一実施例の説明においては、
反射ミラーからの反射レザー光を半導体レーザ2
1に帰還させ、これによる半導体レーザ21の出
力変化を光検出器30で検出した例について説明
したが、この光検出器の代りに、半導体レーザの
駆動電流(端子電圧)の変化を検出する検出器を
設け、この検出器により、走査面上を走査される
走査ビームの通過時間を検出し、この検出信号に
より画像信号と光ビーム走査を同期させるように
してもよい。
In addition, in the description of one embodiment of this invention,
The reflected laser light from the reflecting mirror is converted into a semiconductor laser 2.
1, and the resulting change in the output of the semiconductor laser 21 is detected by the photodetector 30. However, instead of this photodetector, a detection method that detects a change in the drive current (terminal voltage) of the semiconductor laser may be used. A detector may be provided, and this detector may detect the transit time of the scanning beam scanned over the scanning surface, and the image signal and the light beam scanning may be synchronized using this detection signal.

また、走査面の走査光路上に設置される反射ミ
ラーは必ずしも走査開始位置に設ける必要はな
く、予め定められた設定位置であればよい。
Further, the reflection mirror installed on the scanning optical path of the scanning surface does not necessarily have to be installed at the scanning start position, but may be at a predetermined setting position.

以上に述べたように、この発明に係る光ビーム
走査装置においては、半導体レーザからの発振レ
ーザ光が走査される走査面上に反射ミラーを配置
し、その反射ミラーから半導体レーザに帰還され
るレーザ光の有無を検出する検出器を設けただけ
で、半導体レーザの自己結合効果を利用すること
により、走査面上を走査されるレーザ光の通過時
刻を確実かつ正確に検出することができる。
As described above, in the optical beam scanning device according to the present invention, a reflecting mirror is arranged on the scanning surface where the oscillated laser beam from the semiconductor laser is scanned, and the laser beam is returned from the reflecting mirror to the semiconductor laser. By simply providing a detector that detects the presence or absence of light, and by utilizing the self-coupling effect of the semiconductor laser, it is possible to reliably and accurately detect the passage time of the laser light scanned on the scanning surface.

その際、走査面上に従来のような高価な光検出
器を設置する必要がないから、安価に製造でき、
経済性の優れた光ビーム走査装置となる等の効果
を奏する。
At that time, there is no need to install an expensive photodetector on the scanning surface, so it can be manufactured at low cost.
This provides effects such as an economical optical beam scanning device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は従来の光ビーム走査装置を示す系統
図、第2図はこの発明に係る光ビーム走査装置の
一実施例を示す系統図、第3図はこの発明の光ビ
ーム走査装置に組み込まれた検出器で得られた半
導体レーザのレーザ出力と走査ビームの走査位置
との関係を示すグラフ、第4図、第5図および第
6図は走査面上に配置される反射ミラーの各例を
それぞれ示す図である。 21…半導体レーザ、22…駆動回路、24…
コリメータレンズ、25…回転多面鏡、26…集
光レンズ、23b…走査ビーム、A…走査方向、
27…走査面、29…反射ミラー、30…光検出
器、31…検出信号、32…画像信号、33,3
4,36…反射面。
FIG. 1 is a system diagram showing a conventional light beam scanning device, FIG. 2 is a system diagram showing an embodiment of the light beam scanning device according to the present invention, and FIG. 3 is a system diagram showing an embodiment of the light beam scanning device of the present invention. Graphs showing the relationship between the laser output of the semiconductor laser and the scanning position of the scanning beam obtained with the detector, Figures 4, 5, and 6 show examples of reflection mirrors placed on the scanning surface. FIG. 21... Semiconductor laser, 22... Drive circuit, 24...
Collimator lens, 25... Rotating polygon mirror, 26... Condensing lens, 23b... Scanning beam, A... Scanning direction,
27...Scanning surface, 29...Reflection mirror, 30...Photodetector, 31...Detection signal, 32...Image signal, 33,3
4, 36...reflective surface.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 半導体レーザからの発振レーザ光を走査面上
に照射し、この走査面上で走査するようにした光
ビーム走査装置において、前記走査面の走査光路
上の所定位置に反射ミラーを設置するとともに、
上記半導体レーザのレーザ光出力変化あるいは半
導体レーザ駆動電流等の変化を検出する検出器を
設けてなり、上記反射ミラーからの反射レーザ光
を半導体レーザに帰還させ、その帰還レーザ光の
有無を検出器で検出することにより、走査レーザ
光の通過時刻を検出するようにしたことを特徴と
する光ビーム走査装置。
1. In a light beam scanning device that irradiates an oscillated laser beam from a semiconductor laser onto a scanning surface and scans the scanning surface, a reflecting mirror is installed at a predetermined position on the scanning optical path of the scanning surface, and
A detector is provided to detect a change in the laser light output of the semiconductor laser or a change in the semiconductor laser drive current, and the detector returns the reflected laser light from the reflecting mirror to the semiconductor laser and detects the presence or absence of the returned laser light. 1. A light beam scanning device characterized in that the time of passage of a scanning laser beam is detected by detecting the passing time of the scanning laser beam.
JP420780A 1980-01-18 1980-01-18 Light beam scanning device Granted JPS56101791A (en)

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