JPS6235472A - High-density impedance control connector - Google Patents

High-density impedance control connector

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JPS6235472A
JPS6235472A JP61093185A JP9318586A JPS6235472A JP S6235472 A JPS6235472 A JP S6235472A JP 61093185 A JP61093185 A JP 61093185A JP 9318586 A JP9318586 A JP 9318586A JP S6235472 A JPS6235472 A JP S6235472A
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wafer
stack
printed circuit
electrical connector
circuit board
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JP61093185A
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Japanese (ja)
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アミアー−アクバーサデイーベザデイ
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KURITON TECHNOL
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KURITON TECHNOL
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    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R12/00Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
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    • H01R13/658High frequency shielding arrangements, e.g. against EMI [Electro-Magnetic Interference] or EMP [Electro-Magnetic Pulse]
    • H01R13/6581Shield structure
    • H01R13/6585Shielding material individually surrounding or interposed between mutually spaced contacts
    • H01R13/6586Shielding material individually surrounding or interposed between mutually spaced contacts for separating multiple connector modules
    • H01R13/6587Shielding material individually surrounding or interposed between mutually spaced contacts for separating multiple connector modules for mounting on PCBs

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、高密度インピーダンス制御コネクタに関する
ものであり、より具体的には。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to high density impedance control connectors, and more particularly to high density impedance control connectors.

複数のモジュール(ドーターボード)をバンクプレイン
(マザーボード)に結合するのに用いることができる高
密度コネクタで、その各電気接合部はインピーダンスが
制御されており且つ漏話量が最小であるものに関する。
A high-density connector that can be used to couple multiple modules (daughter boards) to a bank plane (motherboard), each electrical connection of which has controlled impedance and minimal crosstalk.

(従来の技術及び発明が解決しようとする問題点) 先行技術においては、高速デジタルパルス等の高速信号
を取り扱うための平形あるいは丸形線を含む平形ケーブ
ルシステムの利用に関する11論がかなりなされている
。平形ケーブルの利点は、ケーブルの一側面あるいは二
側面に導電層を設けることが可能なことであり、導電層
は接地する。−側面に単一導電層を使用する場合には、
マイクロストリップが形成される。両側面に導電層を使
用する場合は、ストリップ線路が形成される。前述の平
形ケーブルの数学的理論および特性を論じた論文につい
ては、 1970年12月にN e h J e r 
s e y 3+1のAt1antic C1tyで開
催された第19回国際電線ケーブルシンポジウムにおい
て発表されたBossi、 Dennis F、のr平
形ケーブル内の電気特性および伝送特性試験J (Te
sting Electri−cal And Tra
nsmission Properties In F
laむCable)を参照のこと。
(Prior Art and Problems to be Solved by the Invention) In the prior art, there has been considerable discussion regarding the use of flat cable systems containing flat or round wires for handling high speed signals such as high speed digital pulses. . The advantage of a flat cable is that it is possible to provide a conductive layer on one or both sides of the cable, the conductive layer being grounded. - When using a single conductive layer on the sides,
A microstrip is formed. If conductive layers are used on both sides, a strip line is formed. A paper discussing the mathematical theory and properties of the flat cable mentioned above was published in December 1970 in N.E.H.
Electrical and Transmission Characteristics Tests in Flat Cables by Bossi, Dennis F. Presented at the 19th International Wire and Cable Symposium held at Atlantic C1ty, s e y 3+1
sting Electric-cal And Tra
nsmission Properties In F
See Lam Cable).

複数の平形導体を用いて形成された平形ケーブルの上面
および下面に地板を用いてストリップ線路を形成したも
のは、 1971年10月12日に発行されたP、 J
、 Thomasの合衆国特許証番号3,612,74
4に見られる。マイクロストリップの形状の第2の平形
ケーブルが、 1984年4月3日に発行されたC6J
、Andersonの合衆国特許証番号4,441,0
88に記載されている。
P and J published on October 12, 1971, in which a strip line is formed using a ground plate on the top and bottom surfaces of a flat cable formed using multiple flat conductors.
, Thomas U.S. Patent No. 3,612,74.
Seen in 4. A second flat cable in the form of a microstrip is C6J, published on April 3, 1984.
, Anderson U.S. Patent No. 4,441,0
88.

Andersonの特許は、平形導体と地板とのあいだ
の誘電材の量を、平形導体に被さる誘電材の量に比例す
るように調節することによって漏話量を低減することを
示している。
The Anderson patent teaches reducing the amount of crosstalk by adjusting the amount of dielectric material between the flat conductor and the ground plane to be proportional to the amount of dielectric material overlying the flat conductor.

平形ケーブルを利用することの利点は、上に引用した参
照文献に記載された説明を考察すれば明らかになる。即
ち、インピーダンスを選択すなわち制御し且つ一漏話量
を低減させるために、ケーブルの寸法を変えることが出
来る。この考えは1弾性材製の誘電シートの一側面を地
板で取り巻き、もう一つの側面を導電ストリップで取り
巻いた初期のコネクタに取り入れられた。導電ストリッ
プと弾性地板との距離は、インピーダンス整合特性を達
成するものと言われた。1968年9月lO日発行のP
、 H,Palmateer等の合衆国特許証番号3゜
401.369を参照のこと。
The advantages of utilizing flat cables will become apparent upon consideration of the explanations provided in the references cited above. That is, the dimensions of the cable can be varied to select or control the impedance and reduce the amount of crosstalk. This idea was incorporated into early connectors in which a dielectric sheet of elastic material was surrounded on one side by a ground plate and on the other side by a conductive strip. The distance between the conductive strip and the elastic ground plane was said to achieve impedance matching characteristics. P issued September 10, 1968
See U.S. Pat.

もっと後のコネクタで、内部の電気接点部を遮蔽して高
周波数信号がコネクタを通過出来るようにし且つストリ
ップ線路構造を用いたものが、 IBM技術開示報(I
BM TechnicalDisclosure Bu
lletin)、第10巻、第3号、1967年8月1
頁203−204に示されている。このコネクタは1本
発明において意図したような高密度コネクタを意図して
いない。
Later connectors that shielded the internal electrical contacts to allow high-frequency signals to pass through the connector and used stripline construction were published in the IBM Technical Disclosure Bulletin (I
BM Technical Disclosure Bu
lletin), Volume 10, No. 3, August 1, 1967
As shown on pages 203-204. This connector is not intended to be a high density connector as contemplated in the present invention.

さらに先行技術においては、複数の接点を直接にマザー
ボードに取り付けたコネクタを使用することは周知であ
る。これらの接点はマザーボード上で導電素子と結合し
、且つスプリングフィンガーを有し、これらスプリング
フィンガーはドーターボード上の導電素子に触れてドー
ターボードとマザーボードとを電気的に接続する。19
72年3月21日に発行されたH、 E、 Hen5c
hen等の合衆国特許証番号3゜65L432に示され
た前述のコネクタの一つにおいては、中間接点をマザー
ボード上の一つの信号搬送素子に接続する一方、いずれ
かの側の接点をマザーボードの反対側の地仮に接続する
ことによって、マイクロストリップ回路のインピーダン
ス整合を行う。この構成においては、信号搬送接点を接
地接続によって取り巻いてインピーダンスの制御と整合
を行う。しかしながら、この構成は非常に高張るモノで
あり、高密度コネクタシステムには適さないものである
Furthermore, it is well known in the prior art to use connectors with multiple contacts attached directly to the motherboard. These contacts couple with conductive elements on the motherboard and have spring fingers that touch conductive elements on the daughterboard to electrically connect the daughterboard and the motherboard. 19
H, E, Hen5c published on March 21, 1972
In one of the aforementioned connectors, shown in U.S. Pat. Impedance matching of the microstrip circuit is performed by connecting the terminal to the ground of the microstrip circuit. In this configuration, the signal carrying contacts are surrounded by ground connections to provide impedance control and matching. However, this configuration is very expensive and is not suitable for high density connector systems.

さらに、丸形線を90度曲げて接点を形成してマザーボ
ードに挿入する2つのコネクタシステムが、 1978
年1月24日に発行されたR8V、 Hutchiso
nの合衆国特許証番号4.070.084および198
0年11月11日に発行されたF、 Zobawaの合
衆国特許証番号4,232,929に示されている。第
1の特許は、マイクロストリップ構成を用いて導電素子
を誘電層に埋めこむことによってインピーダンスを制御
する手段を説明している。可撓性誘電材の一側面に地板
Furthermore, in 1978, two connector systems were developed in which round wires were bent 90 degrees to form contacts and inserted into the motherboard.
R8V issued on January 24, Hutchiso
U.S. Patent Nos. 4.070.084 and 198 for n.
No. 4,232,929 to F. Zobawa, issued Nov. 11, 2003. The first patent describes a means of controlling impedance by embedding conductive elements in a dielectric layer using a microstrip configuration. Ground plate on one side of the flexible dielectric material.

もう一つの側面に導電素子を設ける代替構成も示されて
いる。第2の特許は、接点の間に設けた中間地板によっ
て漏話量の低減を図ることを論じている。これらの構成
はいずれも嵩高いことおよび高密度コネクタを形成しえ
ないという欠点がある。
An alternative configuration with a conductive element on the other side is also shown. The second patent discusses reducing the amount of crosstalk by providing an intermediate ground plate between the contacts. Both of these configurations suffer from bulk and inability to form high density connectors.

(問題点を解決するための手段及び作用)従って5本発
明の目的は、一定して変化しないインピーダンスと低漏
話をもたらすことが出来る高密度コネクタを提供するこ
とにある。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, it is an object of the present invention to provide a high density connector capable of providing constant impedance and low crosstalk.

本発明のさらなる目的は、コネクタ内においてストリッ
プ線路構成を用いることによって、接点の長さにかかわ
らずインピーダンス・の制御を行うことが出来る高密度
コネクタを提供することにある。
A further object of the present invention is to provide a high density connector that provides impedance control regardless of the length of the contacts by using a stripline configuration within the connector.

別の目的は、サイズの異なる印刷回路基板および異なる
取り付け構成に合うように容易に構成を変えることが可
能な高密度コネクタを提供することにある。
Another object is to provide a high density connector that is easily reconfigurable to accommodate different sized printed circuit boards and different mounting configurations.

さらに別の目的は、容易に取り替えおよび補修を行うこ
とが可能な電気コネクタ用の構成を提供することにある
Yet another object is to provide an arrangement for an electrical connector that is easily replaceable and repairable.

本発明のこれまた別の目的は、経済的、柔軟、且つ拡張
可能な高密度インピーダンス制御コネクタを提供するこ
とにある。
Yet another object of the present invention is to provide a high density impedance control connector that is economical, flexible, and scalable.

これらおよびその他の目的を達成するにあたり、誘電材
製の分離ウェーハでその上に複数の導電素子を有するも
のが提供される。電気的接地と結合するために、ウェー
ハ上に単一の地板素子が装着される。分離ウェーハは。
In accomplishing these and other objectives, a separate wafer of dielectric material having a plurality of conductive elements thereon is provided. A single ground plane element is mounted on the wafer for coupling to electrical ground. Separated wafer.

並行に重ね、2つのウェーハによって取り付けた地板が
、単一の分離ウェーハによって取り付けた複数の導電素
子を取り囲む構成とする。この配置は複数の導電素子の
ためのストリップ線路構成を生みだし、この構成は導電
素子のインピーダンスを制御する。
A base plate, stacked in parallel and attached by two wafers, surrounds a plurality of conductive elements attached by a single separate wafer. This arrangement creates a stripline configuration for multiple conductive elements, which controls the impedance of the conductive elements.

(実施例) 本発明の独創的な考案を取り入れた幾つかの実施例があ
る。これらの実施例について、以下添付図面に基づいて
詳細に説明する。
Embodiments There are several embodiments that incorporate the original idea of the present invention. These embodiments will be described in detail below based on the accompanying drawings.

第1図は1本発明に基づく高密度コネクタの一代替実施
例の側面図である。
FIG. 1 is a side view of an alternative embodiment of a high density connector according to the present invention.

第2図は、第1図の端面図である。FIG. 2 is an end view of FIG. 1.

第3図は、第1図の底面図である。FIG. 3 is a bottom view of FIG. 1.

第4図は、第1図から第3図に図示されたコネクタの分
解斜視図である。
FIG. 4 is an exploded perspective view of the connector shown in FIGS. 1-3.

第5図は、1枚のマザーボードに4枚のドーターボード
を取り付ける高密度コネクタの断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view of a high-density connector that attaches four daughterboards to one motherboard.

第6図は、第1図から第5図に示したコネクタを取り付
けたマザーボードあるいはドーターボード上で用いるこ
とが可能な導電パッドのための典型的な配置を示す。
FIG. 6 shows a typical arrangement for conductive pads that may be used on a motherboard or daughterboard mounted with the connectors shown in FIGS. 1-5.

第7図は1本発明の1つの望ましい実施例において使用
された絶縁分離ウェーハの斜視図である。
FIG. 7 is a perspective view of an isolation wafer used in one preferred embodiment of the present invention.

第8図は、第7図の直線8−8に沿った断面図である。FIG. 8 is a cross-sectional view taken along line 8-8 in FIG. 7.

第9図は、第7図および第8図に示したウェーハを用い
た高密度コネクタの断面図である。
FIG. 9 is a cross-sectional view of a high-density connector using the wafers shown in FIGS. 7 and 8.

第10図は、第9図に示したウェーハの第2の側面の曲
面図である。
10 is a curved view of the second side of the wafer shown in FIG. 9. FIG.

第11図は、第1図と同様に側面図であり。FIG. 11 is a side view similar to FIG. 1.

本発明の特徴を備えた高密度コネクタの望ましい実施例
である。
1 is a preferred embodiment of a high density connector incorporating features of the present invention.

第12図は、第11図の端面図である。FIG. 12 is an end view of FIG. 11.

第13図は、第11図に示したコネクタの底面図である
FIG. 13 is a bottom view of the connector shown in FIG. 11.

第14図は、第7図の分離ウェーハを受ける絶縁ハウジ
ングの斜視図である。
14 is a perspective view of the insulating housing receiving the separated wafers of FIG. 7; FIG.

第15図は、第7図から第14図に示したコネクタを取
り付けた印刷回路基板に使用することが可能な導電性パ
ッドの部分図である。
FIG. 15 is a partial view of a conductive pad that may be used on a printed circuit board with attached connectors as shown in FIGS. 7-14.

第16図は、第9図の直線16−16に沿った断面図で
ある。
FIG. 16 is a cross-sectional view taken along line 16-16 in FIG. 9.

第17図は、第9図の直線17−17に沿った断面図で
ある。
FIG. 17 is a cross-sectional view taken along line 17-17 in FIG. 9.

第18図は、百分率で示した最大漏話と、コネクタの高
さに対するピッチの比(P/H)との曲線を示す。
FIG. 18 shows a curve of maximum crosstalk in percentage versus pitch to height ratio (P/H) of the connector.

第19図は、第12図と同様な概略図であり。FIG. 19 is a schematic diagram similar to FIG. 12.

印刷回路基板を平行−列構成で取り付けることが出来る
コネクタの構成を示す。
Figure 3 illustrates a connector configuration that allows printed circuit boards to be attached in a parallel-column configuration.

第20図は、第19図と同様な概略図であり。FIG. 20 is a schematic diagram similar to FIG. 19.

印刷回路基板を平行に取り付けることが出来るコネクタ
取り付け構成を示す。
Figure 3 shows a connector mounting configuration that allows printed circuit boards to be mounted in parallel.

第21図は、第7図から第14図のコネクタに示した複
数の導電素子の概略的な構成を示す。
FIG. 21 shows a schematic configuration of the plurality of conductive elements shown in the connectors of FIGS. 7 to 14.

第22図は、第21図と同様な概略図であり。FIG. 22 is a schematic diagram similar to FIG. 21.

別の実施例を示す。Another example is shown.

第1図から第5図は高密度コネクタ10の一実施例を示
し、第1図は、コネクタの種々の部品を示す側面図であ
り、前述の部品には分離ウェーハ12が含まれ、このウ
ェーハはこの代替実施例においては、複数の信号搬送接
点素子14を有し、前述の素子の近くに、単一地板素子
16が取り付けられる。各分離ウェーハ12は、並行ス
タックに構成し、第4図に最も分かりやすく示したよう
に2分離ウェーハ12と他の分離ウェーハとの間には地
板素子16が置かれる。この構成においては1個々の接
点素子14は、ウェーハ12の絶縁誘電材の内部に納め
られており、且つ各側面は地板16によって取り囲まれ
て各接点素子14にストリップ線路配置を生みだしてい
る。
1-5 illustrate one embodiment of a high-density connector 10, with FIG. 1 being a side view showing various parts of the connector, including a separated wafer 12; In this alternative embodiment, it has a plurality of signal carrying contact elements 14, with a single ground plane element 16 mounted near the aforementioned elements. Each separated wafer 12 is arranged in a parallel stack, with a ground plate element 16 placed between the two separated wafers 12 and the other separated wafer, as best shown in FIG. In this configuration, one individual contact element 14 is contained within the insulating dielectric material of wafer 12 and is surrounded on each side by a ground plane 16 to create a stripline arrangement for each contact element 14.

第1図から第5図に示す実施例においては。In the embodiment shown in FIGS. 1 to 5.

個々の接点素子14は90度の向き変更(第5図)を成
すように製作され、前述の接点素子の両端は一対のスプ
リングワイピングフィンガー18で終わる。同様に、各
地板素子16は4つのスプリングワイピングフィンガー
19を備える(第4図)。スプリングフィンガー18お
よび19は第1図、第2図および第4図において一定角
度だけ右方向に曲げてあり、フィンガー18は各ウェー
ハ12の凹所をなす面2oから出て右手方向に撓むこと
が出来るようにする。
Each contact element 14 is fabricated with a 90 degree change in orientation (FIG. 5), and each end of said contact element terminates in a pair of spring wiping fingers 18. Similarly, each plate element 16 is provided with four spring wiping fingers 19 (FIG. 4). The spring fingers 18 and 19 are bent to the right by a certain angle in FIGS. 1, 2, and 4, and the fingers 18 come out from the concave surface 2o of each wafer 12 and bend to the right. Make it possible.

第1図および第3図に示すように、スプリング18およ
び19の右手方向の撓みは、隣接するスプリングフィン
ガーに干渉せずに割り込み。
As shown in FIGS. 1 and 3, the rightward deflection of springs 18 and 19 interrupts adjacent spring fingers without interfering with them.

これらのフィンガーが高密度でウェーハ12の並行スタ
ック内に納まることが出来るようにする。各スタックの
最右端にスペーサ22を設け、これに取り付け用ブラケ
ット24が続く。
These fingers can fit in parallel stacks of wafers 12 in high density. At the rightmost end of each stack is a spacer 22 followed by a mounting bracket 24.

地板素子16およびスペーサ22は、凹所23を含み、
ウェーハ12の形状に似た形状である。さて、スペーサ
22およびその凹所23の目的は。
The ground plate element 16 and the spacer 22 include a recess 23,
It has a shape similar to that of the wafer 12. Now, what is the purpose of the spacer 22 and its recess 23?

コネクタ10を印刷回路基板上で合わせた時にスプリン
グフィンガー18および19が撓んで入り込むことが出
来る区域を設けることにあることがお分かりであろう。
It will be appreciated that the purpose is to provide an area into which the spring fingers 18 and 19 can flex when the connector 10 is mated on the printed circuit board.

ウェーバスタックの対向面に取り付け用ブラケット24
を付け加えると組み立てが完了する。
Mounting bracket 24 on the opposite side of the weber stack
Once added, the assembly is complete.

第4図を見ると最も分かりやすいが、ウェーハ12.地
板素子16.スペーサ22および取り付け用ブラケット
24はスタックに組み立てるが、このスタックは一連の
部品を繰り返し用いてどのような長さにも望みどおりに
形成することが出来る。これらの部品は、複数個の開口
部を備え、それらには、−組の位置決め軸棒26を通す
小さな開口部25.および支持軸棒28を通す大きな開
口部27がある。コネクタ10はこのように、スタック
の左端に取り付け用ブラケット24を重ね、続いて、地
板素子16゜ウェーハ12.そして地板素子16と、軸
棒26および28に事前に定めた数のウェーハおよび地
板素子が通されるまで重ねる。ここで注意すべきことは
、地板素子16の数はウェーハ12の数よりも1つだけ
多いことである。次にスタックにスペーサ22を続け、
スペーサ22は、接点14用のスプリングフィンガー1
8および地板16用のスプリングフィンガー19が入り
込む凹所23を有する。次にスタックに加える素子は。
It is easiest to understand by looking at Figure 4, but wafer 12. Ground plate element 16. Spacers 22 and mounting brackets 24 are assembled into a stack that can be formed to any desired length using a repeated series of parts. These parts have a plurality of openings, including small openings 25 . and a large opening 27 through which the support axle rod 28 passes. Connector 10 is thus stacked with mounting bracket 24 on the left end of the stack, followed by base plate element 16° wafer 12. Then, the base plate element 16 and the shaft rods 26 and 28 are stacked until a predetermined number of wafers and base plate elements are passed through them. It should be noted here that the number of ground plate elements 16 is one more than the number of wafers 12. Then continue the stack with spacer 22,
The spacer 22 is the spring finger 1 for the contact 14.
8 and a recess 23 into which the spring finger 19 for the base plate 16 is inserted. Next element to add to the stack.

第2の取り付け用ブラケット24である。第1図から第
3図に示した実施例においては、スタックは典型的には
12インチ×172インチ×172インチのサイズであ
る。支持軸棒28は。
This is a second mounting bracket 24. In the embodiment shown in FIGS. 1-3, the stack is typically 12 inches by 172 inches by 172 inches in size. The support shaft rod 28 is.

両端にねじ30をねじこむが、ねじはブラケット24の
ばか穴を通り、内部にねじを切った軸棒28の端部に達
して、12インチのスタックを押さえてその望ましい構
成状態を保持する。
Screws 30 are threaded into each end, passing through the blind holes in bracket 24 and into the ends of internally threaded axles 28 to hold the 12-inch stack in place and maintain its desired configuration.

第1図から第5図に示した高密度コネクタ10において
は、4つの接点素子14があり、それらに対応するスプ
リングフィンガー18が、地板素子16に伴う2つのス
プリングフィンガー19の間に取り付けである。これに
よって、4つの接点14の電気的隔離は確実になる。
In the high-density connector 10 shown in FIGS. 1 to 5, there are four contact elements 14 and their corresponding spring fingers 18 are mounted between two spring fingers 19 associated with the base plate element 16. . This ensures electrical isolation of the four contacts 14.

さて第5図を参照する。図はコネクタ10を示し、各ブ
ラケット24は2つの隣接する面から延びる4つの位置
決めピン32を有する。第1の面にはバックプレインす
なわちマザーボ−ド34を取り付け、マザーボードにお
いては位置決めピン32はボード34の開口部36に嵌
る。
Now refer to FIG. The figure shows the connector 10, with each bracket 24 having four locating pins 32 extending from two adjacent sides. Attached to the first side is a backplane or motherboard 34 in which locating pins 32 fit into openings 36 in board 34.

マザーボード34に直角すなわち90度の角度でモジュ
ールすなわちドーターボード38を取り付け、ドーター
ボードにも位置決めピン32を受けるための開口部36
がある。マザーボード34およびドーターボード38は
コネクタ10に取り付け、ねじ40等の適切な固着手段
によって保持する。第5図の右側に示すように、ねじ4
0はボード34および38を通って取り付け用ブラケッ
ト34のねじを切った穴に入る。コネクタ10のスタッ
クをさらに下がると、第5図の左側に示すように、ウェ
ーハ12の内部には接点素子14が納められている。接
点素子14のスプリングフィンガー18は凹所20内に
おいてマザーボード34およびドーターボード38に押
しつけられ、それらとの間に電気接続を行う。
A module or daughterboard 38 is mounted at a right angle or 90 degree angle to the motherboard 34, and the daughterboard also has openings 36 for receiving locating pins 32.
There is. Motherboard 34 and daughterboard 38 are attached to connector 10 and retained by suitable fastening means, such as screws 40. As shown on the right side of Figure 5, screw 4
0 passes through boards 34 and 38 and into threaded holes in mounting bracket 34. Further down the stack of connectors 10, contact elements 14 are housed within the wafer 12, as shown on the left side of FIG. The spring fingers 18 of the contact element 14 are pressed against the motherboard 34 and the daughterboard 38 in the recess 20 and make an electrical connection therebetween.

電気接続を行うために、スプリングフィンガー18は、
ドーターボード38に取り付けた第6図に示すような適
切なパッド42に接触する。
To make the electrical connection, the spring fingers 18 are
Contact a suitable pad 42 as shown in FIG. 6 attached to daughter board 38.

各個別パッド42は開口部44を備え、ドーターボード
の反対側と電気接続を行い、そこで電気導体(図示して
いない)との接続を完了する。地板素子16上のスプリ
ングフィンガー19は、バッド42の何れかの側の一対
の導電性ストリップ46と接触する。
Each individual pad 42 has an opening 44 to make an electrical connection to the opposite side of the daughterboard where it completes the connection with an electrical conductor (not shown). Spring fingers 19 on ground plate element 16 contact a pair of conductive strips 46 on either side of pad 42 .

第1図から第5図に示した代替実施例において、コネク
タ10は、5つのブラケット24゜4つのスペーサ22
.204個のウェーハ12.および208個の地板14
のスタックから成る。読者は1図示した実施例において
は、ウェーハ12のサブスタックが4つあり、従って各
サブスタックに1個ずつ追加の地板16があること。
In the alternative embodiment shown in FIGS. 1-5, the connector 10 includes five brackets 24 and four spacers 22.
.. 204 wafers12. and 208 main plates 14
Consists of a stack of . The reader should note that in the illustrated embodiment, there are four sub-stacks of wafers 12, and therefore there is an additional ground plane 16 in each sub-stack.

スタック全体で4つの地板が追加になることを覚えてお
られるであろう。図示した構成は。
You'll remember that there are four additional baseplates across the stack. The configuration shown is.

スプリングフィンガー18が作る816個の信号接点お
よびフィンガー19が作る416個の接地接点を備える
There are 816 signal contacts made by spring fingers 18 and 416 ground contacts made by fingers 19.

本発明の望ましい実施例1つを第7図から第14図に示
す。第7図および第8図を見ると一番よく分かるが1分
離誘電ウェーハ52は。
One preferred embodiment of the invention is shown in FIGS. 7-14. As best seen in FIGS. 7 and 8, the 1-separation dielectric wafer 52.

適切な絶縁材1例えばポリスルフォンを成形したもので
あり、第9図のように一方の側に個々の導電接点素子5
4を複数個取り付け、さらに、第10図に示すようにも
う一方の側に単一の地板素子56を取り付ける。各個別
信号接点54は、90度の弧状の曲部を持つように製作
され9両端はスプリングワイピングフィンガー58に終
わる。第9図および第10図に、スプリングフィンガー
58があたかもボード34ないしは38等の印刷回路基
板に押しつけられたように圧縮きれた状態を示す。地板
素子56も複数個のスプリングフィンガー59を備え、
スプリングフィンガー59はその配置間隔が接点素子5
4からの各個別スプリングフィンガー58と一致する。
A suitable insulating material 1, for example molded from polysulfone, with individual conductive contact elements 5 on one side as shown in FIG.
4 are attached, and a single ground plate element 56 is attached to the other side as shown in FIG. Each individual signal contact 54 is fabricated with a 90 degree arc and terminates in a spring wiping finger 58 at each end. 9 and 10, spring fingers 58 are shown in a fully compressed state as if pressed against a printed circuit board, such as board 34 or 38. The ground plate element 56 also includes a plurality of spring fingers 59,
The spring fingers 59 have an arrangement interval that is equal to the contact element 5.
4. Coinciding with each individual spring finger 58 from 4.

望ましい実施例においては、接点素子54および地板素
子56は、ベリリウム銅あるいはその他の適切な合金で
製作することが出来る。
In a preferred embodiment, contact element 54 and ground plane element 56 may be fabricated from beryllium copper or other suitable alloy.

誘電ウェーハ52は、第1および第2の全般に平らな面
60および62を有する六辺形に成形する(第7図)。
Dielectric wafer 52 is formed into a hexagonal shape having first and second generally planar surfaces 60 and 62 (FIG. 7).

第1の面60は、複数個の溝64を備え、これらの溝に
は弧状の接点素子54がはまり、第8図の望ましい実施
例においては8つの溝が示しである。面60の互いに直
角をなすようにした2つのふちは、溝64の深さと同じ
深さまでこれらのふちに沿って除去して凹所66を形成
する。これらの凹所66は、スプリングフィンガー58
が印刷回路基板に押しつけられた際にスプリングフィン
ガー58が動くことが出来る空間をもたらす。ウェーハ
52の第2面62は単一の凹所68を備え、この凹所は
地板素子56を受ける。凹所68は、互いに90度の角
度を保つようにした6辺形のウェハー52の2つのふち
まで延び、地板素子56のスプリングフィンガー59が
、印刷回路基板の対向フィンガー58に対して露出する
ようにする。
First surface 60 includes a plurality of grooves 64 into which arcuate contact elements 54 fit, eight grooves being shown in the preferred embodiment of FIG. The two perpendicular edges of surface 60 are removed along these edges to a depth equal to the depth of groove 64 to form recess 66. These recesses 66 are connected to spring fingers 58
provides space for the spring fingers 58 to move when pressed against the printed circuit board. The second side 62 of wafer 52 includes a single recess 68 that receives ground plate element 56 . The recesses 68 extend to the two edges of the hexagonal wafer 52 at 90 degrees to each other so that the spring fingers 59 of the ground plate element 56 are exposed to the opposing fingers 58 of the printed circuit board. Make it.

第9図の接点58と第10図の接点59とを比較すると
、地板接点59はもう一方のもの58よりも広いことが
分かる。この形状によって、信号搬送接点54の幅の狭
いスプリングフィンガー58は1個々のスプリングフィ
ンガー59による遮蔽がより確かなものとなり、フィン
ガー58間の漏話が低減する。
A comparison of contact 58 in FIG. 9 and contact 59 in FIG. 10 shows that ground plate contact 58 is wider than the other contact 58. This shape allows the narrow spring fingers 58 of the signal carrying contacts 54 to be better shielded by an individual spring finger 59, reducing crosstalk between the fingers 58.

第11図から第13図を参照する。接点54および地板
56を所定位置に備えた分離ウェーハ52は、並行に重
ねて高密度コネクタ50を形成することができることが
分かる。溝64をウェーハ52の面60内で充分に深(
して、接点素子54を隣接する地板56に接触させるこ
となくつ工−ハ1枚をもう一方のウェーハに重ねること
ができる。しかしながら、望ましい実施例においては、
スロットを設けたハウジング72を用いて1分離ウェー
ハ52を納める。第14図のハウジング72は断面が6
辺形であり、ポリスルホン等の適切な絶縁材料を成形し
たもので。
Please refer to FIGS. 11 to 13. It can be seen that separated wafers 52 with contacts 54 and ground planes 56 in place can be stacked in parallel to form high density connectors 50. Groove 64 is formed sufficiently deep within surface 60 of wafer 52 (
Thus, one wafer can be stacked on top of the other without contacting the contact elements 54 with the adjacent base plate 56. However, in the preferred embodiment,
A slotted housing 72 is used to house the 1-separation wafer 52. The housing 72 in FIG. 14 has a cross section of 6
It is rectangular and molded from a suitable insulating material such as polysulfone.

互いに直角になった2つの端面にそって開いた複数個の
スロット74を有する。スロット74は、ウェーハ52
.接点素子54および地板56を納めるようにする。ハ
ウジング72はこのように複数個のウェーハ52を取り
付けるための第1のハウジングを形成する。ハウジング
72は次に第2のハウジング78の細長い開口部76に
挿入する。細長い開口部76への第1のハウジング72
の挿入は、ハウジング78の頂部を取り外して行うこと
ができる。しかしながら、望ましい実施例においては、
パイ状部品79を取り外す。スプリングフィンガー58
および59を損傷することがないように、ハウジング7
2を僅かにまわしで開口部76に挿入する。ハウジング
72をまわすことによって、スロット76の左手側開口
部に接点58および59のすきまがあるようにハウジン
グ72をスロット76内に充分に挿入することが出来る
。ハウジング72がハウジングスロット76内の所定位
置に確実に納まれば、楔部材79をもとの位置に戻して
2図示してはいないが、適切な固着手段1例えばねじを
用いて保持することができる。第2のハウジング78は
、第12図に示すように、コネクタ50を適切な印刷回
路基板82および84に合わせて、取り付けるための位
置決めピン80およびねじを切った開口部81を備え、
ねじ85で固定する。
It has a plurality of slots 74 that are open along two end faces that are perpendicular to each other. Slot 74 is for wafer 52
.. The contact element 54 and the ground plate 56 are housed therein. Housing 72 thus forms a first housing for mounting a plurality of wafers 52. Housing 72 is then inserted into elongated opening 76 in second housing 78 . first housing 72 to elongated opening 76
can be inserted by removing the top of the housing 78. However, in the preferred embodiment,
Remove the pie-shaped part 79. spring finger 58
and 59 to avoid damaging the housing 7.
2 into the opening 76 by turning it slightly. By rotating the housing 72, the housing 72 can be fully inserted into the slot 76 so that there is clearance between the contacts 58 and 59 at the left-hand opening of the slot 76. Once the housing 72 is securely in place within the housing slot 76, the wedge member 79 can be returned to its original position and held in place by suitable fastening means 1, such as screws (not shown). can. The second housing 78 includes locating pins 80 and threaded openings 81 for aligning and attaching the connector 50 to appropriate printed circuit boards 82 and 84, as shown in FIG.
Fix with screws 85.

第11図および第13図に示すように、ウェーハ52の
スタックは、ハウジング72に隣接するスロット76の
最左端に地板56を有する。地板ハウェーハ52に取り
付け、このウェーハの次の面には接点素子54を取り付
ける。この交互のスタックはスロット76の最右端に至
るまで続き、そこで最後のウェーハ52は地板56のみ
を含む。このように、スロット76は、101枚のウェ
ーハ52を納めることが可能であり、その内部に100
組の接点素子54および101組の地板素子56を有す
ることになる。この構成は。
As shown in FIGS. 11 and 13, the stack of wafers 52 has a base plate 56 at the leftmost end of the slot 76 adjacent the housing 72. As shown in FIGS. The base plate is attached to a wafer 52, and a contact element 54 is attached to the next side of this wafer. This alternating stack continues until the rightmost end of slot 76, where the last wafer 52 contains only ground plate 56. In this way, the slot 76 can accommodate 101 wafers 52, and the slot 76 can accommodate 101 wafers 52 therein.
There are 101 sets of contact elements 54 and 101 sets of ground plate elements 56. This configuration is.

全部で1608個のスプリングフィンガー接点54およ
び56を取り付ける。第11図および第13図において
、スプリングフィンガー54および56は単なる点とし
て概略的に示しである。
A total of 1608 spring finger contacts 54 and 56 are installed. In FIGS. 11 and 13, spring fingers 54 and 56 are shown schematically as mere dots.

印刷回路基板すなわちマザーボード82をコネクタ50
のハウジング78に押しつけると、接点素子54のスプ
リングフィンガー58はパッド上を滑り (第15図)
、ボード82と電気的に接続する。同様に、地板素子5
6のスプリングフィンガー59は、導電ストリップ88
上を滑り、取り囲む接点素子54および地板素子56に
よって形成されるストリップ線路回路を完成する。
A printed circuit board or motherboard 82 is connected to the connector 50.
When pressed against the housing 78 of the contact element 54, the spring finger 58 of the contact element 54 slides over the pad (Fig. 15).
, are electrically connected to the board 82. Similarly, the ground plate element 5
The spring finger 59 of 6 is connected to the conductive strip 88
It completes the stripline circuit formed by the contact element 54 and the ground plane element 56 sliding over and surrounding it.

第16図に示すように、接点素子54の両側に地板素子
56によって形成されたストリップ線路接続部の断面は
、接点54から等距離の並行地板56によって形成され
る。地板56は距離rb」はど隔てられており9幅ry
、、厚さ「t」の接点素子54は底地板56からrH,
の距離がある。最後に、接点54は「Pjの間隔で配置
する。各接点54のインピーダンスZOは下記の等式に
よって表すことができる。
As shown in FIG. 16, the cross-section of the stripline connection formed by the ground plane elements 56 on both sides of the contact element 54 is formed by parallel ground planes 56 equidistant from the contact 54. The main plate 56 is separated by a distance rb and has a width ry.
,, the contact element 54 having a thickness "t" is connected to the base plate 56 by rH,
There is a distance of Finally, the contacts 54 are arranged at intervals of Pj. The impedance ZO of each contact 54 can be expressed by the following equation.

Z□=  60 1n    4b e、    0.67(0,8y + t)式中、  
 b=  高さ。
Z□=60 1n 4b e, 0.67(0,8y + t)In the formula,
b = height.

t = 導体の厚さ。t = Thickness of conductor.

W = 導体の幅。W = Width of conductor.

er=  絶縁材の比誘電率。er = Relative dielectric constant of insulating material.

In  =  自然対数。In = natural logarithm.

上記の等式から、コネクタのインピーダンスを調整制御
するために調節することが出来る4つの値があることが
分かる。それらは。
From the above equation, it can be seen that there are four values that can be adjusted to tune and control the impedance of the connector. They are.

ウェーハ52を形成する絶縁材の比誘電率、接点54の
幅および厚さ、および地Fi56と接点54間の高さで
ある。これらの値の一つあるいは全てを調整することに
よって、各接点素子54のインピーダンスを一定値9例
えば、その接点素子の長さにかかわらず60オームに設
定することができる。
These are the dielectric constant of the insulating material forming the wafer 52, the width and thickness of the contact 54, and the height between the ground Fi 56 and the contact 54. By adjusting one or all of these values, the impedance of each contact element 54 can be set to a constant value 9, for example 60 ohms, regardless of the length of the contact element.

コネクタ50内の漏話は、各接点54のためのスプリン
グフィンガー58よりも厚いスプリングフィンガー59
を各地板56に用いることによって低減することができ
る。この構成を第17図に示す。漏話は、2つの隣接す
る接点素子54の間の距離の比すなわちピッチ「Pjを
、地板56上の接点54の高さ’HJに比例して調整す
ることによって低減することができる。
Crosstalk within connector 50 is achieved through spring fingers 59 that are thicker than spring fingers 58 for each contact 54.
can be reduced by using for each plate 56. This configuration is shown in FIG. Crosstalk can be reduced by adjusting the ratio of the distances between two adjacent contact elements 54, or the pitch "Pj, in proportion to the height 'HJ of the contacts 54 above the ground plane 56.

百分率で示した漏話の低減と、高さに対するピッチの比
(P/)I)との関係を第18図に示す。
The relationship between the crosstalk reduction expressed as a percentage and the pitch to height ratio (P/)I) is shown in FIG.

接点素子54のピッチを調整するか、あるいはこれら接
点の地板56からの等距離の配置を調整することによっ
て、第18図の曲線に示すように漏話を大幅に低減する
ことが出来る。
By adjusting the pitch of the contact elements 54 or adjusting the equidistant placement of these contacts from the ground plane 56, crosstalk can be significantly reduced, as shown by the curves in FIG.

望ましい実施例は、第12図に示すように。A preferred embodiment is as shown in FIG.

ドーターボード84をマザーボード82に直角に取り付
けているが、第19図に示すように、コネクタ50およ
びそのハウジング78を変更して、接点54を180度
の円弧を成すように延ばして2つのボード82および8
4を平行−列構成とすることもできる。さらに、コネク
タ50とそのハウジング78を変更して、接点を直線構
成とし、第20図に示すように、2つのボード82およ
び84が平行に一つがもう一方の上に来るような構成と
することもできる。望ましい実施例は、接点素子54か
らのスプリングフィンガー58が、地板素子56からの
フィンガー59と交互の列をなすように取り付けること
も示している。このような構成を概略的に第21図に示
す。しかしながら、スプリングフィンガー58を隣接し
て並行に設は且つ一対の地板素子56によって分離する
ことが望ましい実施例もある。このような構成を第22
図に示す。この構成は本発明によって容易に達成するこ
とができる。
Although the daughter board 84 is mounted at right angles to the motherboard 82, the connector 50 and its housing 78 are modified so that the contacts 54 extend in a 180 degree arc to connect the two boards 82, as shown in FIG. and 8
4 can also be in a parallel-column configuration. Additionally, the connector 50 and its housing 78 may be modified to provide a linear configuration of the contacts, with the two boards 82 and 84 parallel, one on top of the other, as shown in FIG. You can also do it. The preferred embodiment also shows that spring fingers 58 from contact element 54 are mounted in alternating rows with fingers 59 from ground plate element 56. Such a configuration is schematically shown in FIG. However, in some embodiments, it may be desirable to have the spring fingers 58 adjacent and parallel and separated by a pair of ground plate elements 56. This configuration is used in the 22nd
As shown in the figure. This configuration can be easily achieved by the present invention.

上記の明細書および添付図面を検討すれば。Upon consideration of the above specification and accompanying drawings.

本発明のその他の変更は当業者には自明のことと思われ
る。従って9本発明は添付する請求の範囲によってのみ
限定される。
Other modifications of the invention will be apparent to those skilled in the art. Accordingly, the invention is limited only by the scope of the appended claims.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は2本発明に基づく高密度コネクタの一代替実施
例の側面図、第2図は、第1図の端面図、第3図は、第
1図の底面図、第4図は。 第1図から第3図に図示されたコネクタの分解斜視図、
第5図は、1枚のマザーボードに4枚のドーターボード
を取り付けた高密度コネクタの断面図、第6図は、第1
図から第5図に示したコネクタを取り付けたマザーボー
ドあるいはドーターボード上で用いることが可能な導電
パッドのための典型的な配置を示す図、第7図は。 本発明の1つの望ましい実施例において使用された絶縁
分離ウェーハの斜視図、第8図は、第7図の直線8−8
に沿った断面図、第9図は。 第7図および第8図に示したウェーハを用いた高密度コ
ネクタの断面図、第10図は、第9図に示したウェーハ
の第2の側面の断面図、第11図は1本発明の特徴を備
えた高密度コネクタの望ましい実施例を示す第1図と同
様の側面図、第12図は、第11図の端面図、第13図
は、第11図に示したコネクタの底面図、第14図は、
第7図の分離ウェーハを受ける絶縁ハウジングの斜視図
、第15図は、第7図から第14図に示したコネクタを
取り付けた印刷回路基板に使用することが可能な導電性
パッドの部分図、第16図は、第9図の直線16−16
に沿った断面図、第17図は、第9図の直線17−17
に沿った断面図、第18図は、百分率で示した最大漏話
と、コネクタの高さに対するピッチの比(P/H)との
曲線を示す図、第19図は、印刷回路基板を平行−列構
成で取り付けることが出来るコネクタの構成を示す第1
2図と同様な概略図、第20図は、印刷回路基板を平行
に取り付けることが出来るコネクタ取り付け構成を示す
第19図と同様な概略図、第21図は、第7図から第1
4図のコネクタに示した複数の導電素子の概略的な構成
を示す図、第22図は、別の実施例を示す第21図と同
様な概略図である。 10・・・高密度コネクタ、12・・・分離ウェーハ、
14・・・接点素子、16・・・地板素子、18.19
・・・スプリングフィンガー、22・・・スペーサ、2
4・・・取り付け用ブラケット、26・・・軸棒、28
・・・支持軸棒、52・・・分離誘電ウェーハ、54・
・・導電接点素子、56・・・地板素子、58.59・
・・スプリングフィンガー、72・・・ハウジング、7
4・・・スロット。 lftg、γ ゝノシーハ Φ    θ 釘、紹    3Itg、 Iff P/H smutllt13.21
1 is a side view of an alternative embodiment of a high density connector according to the present invention; FIG. 2 is an end view of FIG. 1; FIG. 3 is a bottom view of FIG. 1; and FIG. An exploded perspective view of the connector illustrated in FIGS. 1 to 3;
Figure 5 is a cross-sectional view of a high-density connector with four daughter boards attached to one motherboard, and Figure 6 is a cross-sectional view of a high-density connector with four daughter boards attached to one motherboard.
FIG. 7 shows a typical arrangement for conductive pads that may be used on a motherboard or daughterboard fitted with the connectors shown in FIGS. 5-5. A perspective view of a dielectric isolation wafer used in one preferred embodiment of the present invention, FIG.
A cross-sectional view along FIG. FIGS. 7 and 8 are cross-sectional views of high-density connectors using the wafers shown in FIGS. 7 and 8, FIG. 10 is a cross-sectional view of the second side of the wafer shown in FIG. 12 is an end view of FIG. 11, and FIG. 13 is a bottom view of the connector shown in FIG. 11, illustrating a preferred embodiment of the high density connector with features; Figure 14 shows
FIG. 15 is a partial view of a conductive pad that may be used on a printed circuit board with attached connectors as shown in FIGS. 7-14; Figure 16 is the straight line 16-16 in Figure 9.
17 is a cross-sectional view taken along line 17-17 in FIG.
18 shows the curve of the maximum crosstalk in percentage and the ratio of pitch to height (P/H) of the connector; FIG. 19 shows the curve of the printed circuit board parallel to - The first diagram shows the configuration of connectors that can be installed in a row configuration.
20 is a schematic diagram similar to FIG. 19 showing a connector mounting configuration in which printed circuit boards can be mounted in parallel; FIG. 21 is a schematic diagram similar to FIG.
FIG. 22, which is a diagram showing a schematic configuration of a plurality of conductive elements shown in the connector shown in FIG. 4, is a schematic diagram similar to FIG. 21 showing another embodiment. 10... High-density connector, 12... Separated wafer,
14... Contact element, 16... Ground plate element, 18.19
...Spring finger, 22...Spacer, 2
4...Mounting bracket, 26...Axle rod, 28
...Support shaft rod, 52...Separated dielectric wafer, 54.
...Conductive contact element, 56... Ground plate element, 58.59.
... Spring finger, 72 ... Housing, 7
4...Slot. lftg, γ ゝnoseehaΦ θ Nail, introduction 3Itg, If P/H smutllt13.21

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)、複数個の分離絶縁ウェーハと、各ウェーハに保
護されるように取り付けた電気信号を搬送するための複
数個の第1の導電素子と、各ウェーハに取り付けた電気
的接地のための単一の第2の導電素子とを有し、前述の
複数個の分離ウェーハはスタック状に取り付け、スタッ
ク内においては、各ウェーハによって取り付けた各単一
の第2の導電素子を前述の複数の第1の導電素子の両側
に取り付けて、高密度スタック内にストリップ線路接続
を形成することを特徴とするインピーダンスを制御した
高密度電気コネクタ。 (2)、前述のウェーハが誘電性であり、前述の複数の
第1の導電素子を各ウェーハと共に取り付け、且つ前述
の単一の第2の導電素子を各ウェーハに隣接して取り付
けた特許請求の範囲第1項の高密度電気コネクタ。 (3)、前述のウェーハが誘電性であり、それぞれが第
1および第2の面を有し、前述の複数個の第1の導電素
子を前述のウェーハの前述の第1の面に取り付け、前述
の単一の第2の導電素子を前述のウェーハの前述の第2
の面に取り付けた特許請求の範囲第1項の高密度電気コ
ネクタ。 (4)、前述のウェーハには、前述の第1の側に複数の
溝があり、それらの中に前述の第1の導電素子を取り付
け、且つ前述のウェーハには、前述の第2の側に単一の
凹所があり、その中に前述の第2の導電素子を取り付け
た特許請求の範囲第3項の高密度電気コネクタ。 (5)、第1の絶縁ハウジングを有し、その内部に複数
個のスロットを備えて、各スロット内に前述のウェーハ
および前述の第1および第2の導電素子を納めて細長い
スタックを形成する特許請求の範囲第1項の高密度電気
コネクタ。 (6)、第2のハウジングを有し、その内部に1つの線
長い開口部を備えて、前述の第1の絶縁ハウジングを納
め、且つ前述の第2のハウジングが第1の印刷回路基板
を第2の印刷回路基板に取り付ける手段を備える特許請
求の範囲第1項の高密度電気コネクタ。 (7)、前述の第2のハウジングが、前述の第1の印刷
回路基板と第2の印刷回路基板を互いに90度の角度を
成すように取り付ける特許請求の範囲第6項の高密度電
気コネクタ。 (8)、前述の第2のハウジングが、前述の第1の印刷
回路基板と第2の印刷回路基板とを互いに平行に取り付
ける特許請求の範囲第6項の高密度電気コネクタ。 (9)、前述の第2のハウジングが、前述の第1の印刷
回路基板と第2の印刷回路基板とを互いに平行に且つ同
一平面内に取り付ける特許請求の範囲第6項の高密度電
気コネクタ。 (10)、前述のウェーハを通って、前述のウェーハお
よび第1および第2の導電素子を前述のスタック内に保
持する軸棒手段を有する特許請求の範囲第1項の高密度
電気コネクタ。 (11)、表面に導電性パッドを有する第1および第2
の印刷回路基板を備え、前述の第1および第2の導電素
子はそれぞれ前述の導電性パッドと接触するためのスプ
リング手段を有するものであり、取り付け用ブラケット
手段及びスペーサ手段を備え、前述のウェーハおよび第
1および第2の導電素子のスタックが、前述の取り付け
用ブラケット手段およびスペーサ手段を含む特許請求の
範囲第1項の高密度電気コネクタ。 (2)、前述のスタックが、順番に、取り付け用ブラケ
ット手段、スペーサ手段、前述の第1の導電素子を取り
付けた選択された個数のウェーハと1個ずつ交互に重ね
た選択した数の第2の導電素子、そして取り付け用ブラ
ケット手段を含み、前述のスタックにおいては前述のウ
ェーハよりも第2の導電素子の数が一つ多く、かつ前述
の順番に前述のスタックを保持する軸棒手段を含む特許
請求の範囲第11項の高密度電気コネクタ。 (13)、前述の取り付け用ブラケット手段が、前述の
第1および第2の印刷回路基板を互いに所望の角度に取
り付け、前述のスプリング手段が前述の導電パッドに接
触する特許請求の範囲第12項の高密度電気コネクタ。 (14)、導電性パッドを表面に備えた第1および第2
の印刷回路基板を有し、前述の第1および第2の導電素
子はそれぞれ前述の導電性パッドと接触するためのスプ
リング手段を有し、前述の第1の導電素子上の前述のス
プリング手段は、前述の第2の導電素子上の前述のスプ
リング手段よりも幅が狭く、前述の第1の素子の間の漏
話を低減する特許請求の範囲第1項の高密度電気コネク
タ。
[Claims] (1) A plurality of separate insulating wafers, a plurality of first conductive elements for transmitting electrical signals attached to each wafer so as to be protected, and a plurality of first conductive elements attached to each wafer so as to be protected; a single second conductive element for electrical grounding, the plurality of separated wafers being mounted in a stack, with each single second conductive element attached by each wafer within the stack; A controlled impedance high-density electrical connector characterized in that elements are attached to opposite sides of the first plurality of conductive elements to form a stripline connection in a high-density stack. (2), wherein said wafer is dielectric, said plurality of first electrically conductive elements are mounted with each wafer, and said single second electrically conductive element is mounted adjacent to each wafer; High-density electrical connectors in item 1 of the range. (3) said wafer is dielectric, each having a first and second side, said plurality of first conductive elements being attached to said first side of said wafer; said single second conductive element on said second conductive element of said wafer;
A high-density electrical connector according to claim 1 attached to the surface of the claim 1. (4) said wafer has a plurality of grooves on said first side, said first conductive elements being mounted therein; and said wafer has a plurality of grooves on said second side; 4. The high density electrical connector of claim 3 having a single recess within which said second conductive element is mounted. (5) having a first insulating housing with a plurality of slots therein, each slot housing said wafer and said first and second conductive elements to form an elongated stack; A high density electrical connector according to claim 1. (6) a second housing having a line-elongated opening therein to house the first insulating housing, and the second housing housing the first printed circuit board; 2. The high density electrical connector of claim 1, further comprising means for attaching to a second printed circuit board. (7) the high-density electrical connector of claim 6, wherein said second housing mounts said first printed circuit board and said second printed circuit board at a 90 degree angle to each other; . (8) The high density electrical connector of claim 6, wherein said second housing mounts said first printed circuit board and said second printed circuit board parallel to each other. (9) the high-density electrical connector of claim 6, wherein said second housing mounts said first printed circuit board and said second printed circuit board parallel to each other and in the same plane; . 10. The high-density electrical connector of claim 1 having axial rod means extending through said wafer and retaining said wafer and said first and second conductive elements in said stack. (11), first and second with conductive pads on the surface
a printed circuit board, said first and second electrically conductive elements each having spring means for contacting said electrically conductive pads, mounting bracket means and spacer means, said wafer mounted on said wafer; 2. The high density electrical connector of claim 1, wherein the stack of first and second conductive elements includes mounting bracket means and spacer means as described above. (2) said stack is in turn arranged with a selected number of second wafers, one on top of the other, with mounting bracket means, spacer means, and a selected number of wafers having said first conductive elements mounted thereon; electrically conductive elements, and mounting bracket means, in said stack having one more second electrically conductive element than said wafers, and including axle means for holding said stack in said stack in said stack; A high density electrical connector according to claim 11. (13) wherein said mounting bracket means mounts said first and second printed circuit boards to each other at a desired angle, said spring means contacting said conductive pads. High density electrical connector. (14), first and second with conductive pads on the surface
a printed circuit board, each of said first and second electrically conductive elements having spring means for contacting said electrically conductive pad, said spring means on said first electrically conductive element being , having a narrower width than said spring means on said second conductive element to reduce crosstalk between said first element.
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