JPS62269376A - Semiconductor device - Google Patents

Semiconductor device

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JPS62269376A
JPS62269376A JP61114002A JP11400286A JPS62269376A JP S62269376 A JPS62269376 A JP S62269376A JP 61114002 A JP61114002 A JP 61114002A JP 11400286 A JP11400286 A JP 11400286A JP S62269376 A JPS62269376 A JP S62269376A
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JP
Japan
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laser
light emitting
face
array laser
semiconductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP61114002A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideaki Nojiri
英章 野尻
Toshitami Hara
利民 原
Yoshinobu Sekiguchi
芳信 関口
Mitsutoshi Hasegawa
光利 長谷川
Seiichi Miyazawa
宮沢 誠一
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPS62269376A publication Critical patent/JPS62269376A/en
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Abstract

PURPOSE:To easily form and compose an optical system of shorter optical path length in combination with lens and the like by making angles between resonance face and direction different and the angles between two resonance faces different respectively. CONSTITUTION:Luminous parts 11-13 corresponding to a single laser form an array laser 14 and with the increase of reflectance, a coating 15 for protecting one end face 16 of array laser 14 uses alpha (amorphous)-Si and SiO2 and permits reflectance to be maintained at 80%. An emitting end face 17 of array laser 14 is processed to have an inclination of angle theta at both sides and the inclined emitting face 17 is arranged so that a desired angle phi is mutually held among light emitting directions 11a, 12a, and 13a of the array laser 14. This approach makes laser beams coming from various points parallel and makes such an optical arrangement significantly effective as a luminous source of optical device, through which an image-formation and scanning are carried out on media by using scanning systems.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は複数個の半導体発光素子がモノリシックに形成
された半導体装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a semiconductor device in which a plurality of semiconductor light emitting elements are monolithically formed.

〔従来の技術および問題点) 従来、例えば特開昭59−126に開示されているよう
に、半導体レーザまたは発光ダイオード(LED)を複
数個用いて光走査装置を設計する場合、第12図に示す
ように発光体からの光の出射方向が一点POで交わるよ
うに光源を配置し、複数の走査スポットを良好な結像状
態を保ちながら被走査面(不図示)に対して走査できる
よう工夫されていた。
[Prior Art and Problems] Conventionally, when designing an optical scanning device using a plurality of semiconductor lasers or light emitting diodes (LEDs), as disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 59-126, the method shown in FIG. As shown, the light sources are arranged so that the directions of light emitted from the light emitters intersect at one point PO, and a device is devised so that multiple scanning spots can be scanned on the surface to be scanned (not shown) while maintaining good imaging conditions. It had been.

第12図はその典型的な従来例を示したものであり、光
源と偏向器の間の光学系を偏向走査面と垂直な方向から
見た図である。121a。
FIG. 12 shows a typical conventional example, and is a diagram of the optical system between the light source and the deflector viewed from a direction perpendicular to the deflection scanning plane. 121a.

121bは半導体レーザであり、各レーザはマウン)1
22の」二にその光束発生面がマウント122の端面と
平行になるように配されている。半導体レーザ121a
、121bが設けられているマウント122の端面12
2a。
121b is a semiconductor laser, and each laser is a mount) 1
22, the light beam generating surface thereof is arranged parallel to the end surface of the mount 122. Semiconductor laser 121a
, 121b of the mount 122.
2a.

122bは、各レーザ121a、121bからの発散光
束の中心光線ha、hbが同一の点POを通過して来た
かの如く設定される。換言すれば、半導体レーザ(12
1a、121b)カ設ケラレル位置で、端面122a、
!=122bに各々、法線をたてると、各々の法線がP
Oを通過するように、端面122aと122bは設定さ
れている。更に、偏向走査面と平行な方向から見れば、
各々の半導体レーザの中心光線ha、hbの20点を通
過する位置が、偏向走査面と直行する方向にわずかに変
位するように、マウント122上に設けられる半導体レ
ーザの位置は設定される。」−記PO点と偏向器の偏向
反射面123の所定の近傍の点Pとは、結像レンズ12
4により光学的共役な関係に保たれている。
122b is set as if the central rays ha and hb of the diverging light beams from the respective lasers 121a and 121b had passed through the same point PO. In other words, the semiconductor laser (12
1a, 121b) At the installed kerarel position, the end surface 122a,
! = 122b, each normal line is P
The end surfaces 122a and 122b are set so as to pass through O. Furthermore, when viewed from a direction parallel to the deflection scanning plane,
The positions of the semiconductor lasers provided on the mount 122 are set so that the positions where the center beams ha and hb of each semiconductor laser pass through 20 points are slightly displaced in a direction perpendicular to the deflection scanning plane. ” - PO point and a point P in a predetermined vicinity of the deflection reflection surface 123 of the deflector are
4, an optically conjugate relationship is maintained.

このように、複数個の半導体発光素子(例えば半導体レ
ーザ)をそれぞれの光の出射方向が異なるように配置す
るためには、−■−記例に示したようにマウント」二に
位置合せなしてハイブリッドに構成する必要があった。
In this way, in order to arrange multiple semiconductor light emitting devices (for example, semiconductor lasers) so that their respective light emission directions are different, it is necessary to align them with the mounts as shown in the example. It had to be configured as a hybrid.

以下便宜上、複数個の半導体発光素子としてアレーレー
ザという言葉を使用するが、原理的にはLEDアレーの
ような発光体にも当てはまる。
For convenience, the term "array laser" will be used below to refer to a plurality of semiconductor light emitting elements, but in principle it also applies to light emitters such as LED arrays.

また、モノリシックに形成された゛7レーレーザを使用
する場合には、アレーレーザの前面に何らかの光学系を
設置する必要がある。
Furthermore, when using a monolithically formed 7-ray laser, it is necessary to install some kind of optical system in front of the array laser.

特開昭573−211735に開示されている例としは
、プリズムがアレーレーザの前面に配置Sれている。こ
れを第13図に示す。
In an example disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 573-211735, a prism is placed in front of an array laser. This is shown in FIG.

第13図は半導体アレーレーザが5つの発光部を有する
場合のプリズムの断面を示すものである。
FIG. 13 shows a cross section of a prism when a semiconductor array laser has five light emitting parts.

131は5つの発光部(431a、131b。131 is five light emitting parts (431a, 131b).

131c、131d、131e)を有する半導体アレー
レーザであり、132はプリズムである。発光部131
aからの光束の中心光線haは傾斜面132aにより屈
折されあたかもP。
131c, 131d, 131e), and 132 is a prism. Light emitting section 131
The central ray ha of the luminous flux from a is refracted by the inclined surface 132a, as if it were P.

を通過して来たかのように曲げられる。同じく131b
からの中心光線hbは傾斜面132bにより、131d
からの中心光線hdは傾斜面132dにより、131e
からの中心光線heは傾斜面132eにより、それぞれ
あたかもPOを通過して来たかのように曲げられる。な
お131cからの中心光線heは平面132cを垂直に
通過して行き、この中心光線heの延長VLJ−にPo
が存在する。このように各発光部に対応して傾斜角を定
めた傾斜平面が設けられ、プリズム132を出射後の各
光束の中心光線は、あたかもPoから出射したかのよう
にその方向を制御されている。このPaは前述したよう
に偏向反射面の近傍の所望の位置P(不図示)と光学系
を介して共役に保たれる。
It is bent as if it had passed through. Also 131b
The central ray hb from 131d is caused by the inclined surface 132b.
The central ray hd from 131e is caused by the inclined surface 132d.
The central rays he from are bent by the inclined surface 132e as if they had passed through the PO. Note that the central ray he from 131c passes through the plane 132c perpendicularly, and Po
exists. In this way, an inclined plane with a defined angle of inclination is provided corresponding to each light emitting part, and the direction of the central ray of each luminous flux after exiting the prism 132 is controlled as if it were exiting from Po. . As described above, this Pa is kept conjugate with a desired position P (not shown) near the deflection/reflection surface via the optical system.

この場合の問題点はプリズム132の微細加工精度及び
方法、プリズム132とアレーレーザ131との位置合
せ及び接合方法などであり、アレーレーザのピッチが小
さくなる程難しくなる。実際、loOpLm以下ではほ
ぼ不可能である。
Problems in this case include the precision and method of microfabrication of the prism 132, the alignment and bonding method between the prism 132 and the array laser 131, and the smaller the pitch of the array laser, the more difficult it becomes. In fact, it is almost impossible below loOpLm.

一方、第14図は光学系即ちリレー光学系143で同様
の効果を持たせようとしたもので、アレーレーザ141
a、141bから出射した光を平行化して結像させるコ
リメータレンズ142とシリンドリカルレンズ145と
の間にリレー光学系143を介在させてポリゴン面14
4に結像した例であり、良好な結像状態で被走査面(不
図示)上に結像される。
On the other hand, FIG. 14 shows an attempt to have a similar effect with an optical system, that is, a relay optical system 143, and an array laser 141
A relay optical system 143 is interposed between a collimator lens 142 and a cylindrical lens 145 that collimate and image the light emitted from 141b and 141b.
4, and the image is formed on the scanned surface (not shown) in a good imaging state.

この場合の問題点は光路長であり、リレー系自体で約2
0cm長くなってしまう。
The problem in this case is the optical path length, and the relay system itself is approximately 2
It becomes 0cm longer.

一方、」−記の如き問題点を解決するため、本出願人は
特願昭59−240418号、特願昭60−424号等
で、複数個の半導体レーザがモノリシックに形成され、
かつ、各々の半導体レーザの出射方向が異なっている半
導体装置を既に提案している。
On the other hand, in order to solve the problems mentioned in "-", the present applicant has proposed, in Japanese Patent Application No. 59-240418, Japanese Patent Application No. 60-424, etc., that a plurality of semiconductor lasers are monolithically formed.
Moreover, a semiconductor device in which each semiconductor laser has a different emission direction has already been proposed.

〔発明の概要〕[Summary of the invention]

本発明は、簡単に製造でき、レンズ等と組み合せて光路
長の短い光学系を構成出来る半導体レーザ装置を提供す
ることを目的とし、更に実際の使用状態に対応して、上
記既提案の装置の性能をより向上させるものである。
The object of the present invention is to provide a semiconductor laser device that can be easily manufactured and that can be combined with a lens etc. to form an optical system with a short optical path length. This will further improve performance.

本発明による半導体装置は、−上記目的を達成するため
に、複数個の半導体発光素子がモノリシックに形成され
ている半導体装置において、上述の半導体発光素子の共
振面と共振方向のなす角が異なり、且つ共振面どうしの
なす角が異なる事とし、共振面がエツチングにより形成
されている半導体発光素子のそれぞれからの光がこの出
射端面から針山される時点でそれぞれの光出射方向が異
なっていることを特徴とする。
In order to achieve the above object, a semiconductor device according to the present invention includes a semiconductor device in which a plurality of semiconductor light emitting elements are monolithically formed, wherein the angles formed between the resonance plane of the semiconductor light emitting elements and the resonance direction are different; Furthermore, it is assumed that the angles formed by the resonant surfaces are different, and that the respective light emitting directions are different when the light from each of the semiconductor light emitting elements whose resonant surfaces are formed by etching is pointed from the emitting end face. Features.

なお、以下の記載においても用いられるそれぞれの発光
素子からの光の出射方向やお互いの角度が異なるという
表現は同一のものが1組もないという意味ではなく、広
義には異なるものが1組以上存在するという意味である
Note that the expression that the directions of light emitted from each light emitting element and the mutual angles are different, which is also used in the following description, does not mean that there are no sets of the same light emitting elements, but in a broad sense, it means that there are at least one set of different light emitting elements. It means to exist.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の実施例について図面を参照しながら説明
する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明による半導体装置の一実施例を概略的に
示した図である。11,12.13の部分はそれぞれ単
一レーザに相当する発光部で、これらによりアレーレー
ザ14が形成されている。15は反射率を増すとともに
アレーレーザ14の一方の端面16を保護するためのコ
ーティング45(以下、多層膜反射層と称する。)で、
本実施例ではα(アモルファス)−3iとS i O2
を使用し、反射率が80%になるようにした。
FIG. 1 is a diagram schematically showing an embodiment of a semiconductor device according to the present invention. Portions 11, 12, and 13 are light emitting portions corresponding to a single laser, and these form an array laser 14. 15 is a coating 45 (hereinafter referred to as a multilayer reflective layer) for increasing reflectance and protecting one end surface 16 of the array laser 14;
In this example, α (amorphous)-3i and S i O2
was used so that the reflectance was 80%.

17はアレーレーザ14の出射端面を示しており(以下
斜出端という。)両側において角度θの傾斜をもつよう
に加工しである。なお、図では角度を誇張して描いであ
る。この斜出端17は、アレーレーザ14の光出射方向
11a。
Reference numeral 17 indicates an output end face of the array laser 14 (hereinafter referred to as an oblique output end), which is machined so as to have an inclination of an angle θ on both sides. Note that the angle is exaggerated in the figure. This oblique end 17 is in the light emission direction 11a of the array laser 14.

12a、13aの相互間に所望の角度φを持たせるため
の、本発明の中核となる部分である。
This is the core part of the present invention for creating a desired angle φ between 12a and 13a.

すなわち、発光部11および13からのそれぞれの光の
出射方向11a、13aは、図のように発光部12から
の光の出射方向12aに対してそれぞれφだけ外側に曲
がっている。ただし、φはスネルの法則よりsin (
θ十φ)=1やSiH6で与えられる。従って、逆にφ
だけ角度をもたせたいならば、この式からθを決定して
加工すればよい。φがθと共に極めて小さい場合には、
上式は近似的に(θ十φ)=nθとなるので、θ=φ/
(n−1)よりθを決定してもよい。本実施例ではφ−
5°。
That is, the respective light emission directions 11a and 13a from the light emission parts 11 and 13 are bent outward by φ with respect to the light emission direction 12a from the light emission part 12, as shown in the figure. However, according to Snell's law, φ is sin (
It is given by θ+φ)=1 or SiH6. Therefore, conversely, φ
If you want to have an angle of 1, you can determine θ from this formula and process it. If φ and θ are extremely small, then
The above equation approximately becomes (θ + φ) = nθ, so θ = φ/
θ may be determined from (n-1). In this example, φ−
5°.

n = 3.5として、θ−2°にとった。The angle was set to θ-2° with n=3.5.

なお、発光部11−13の相互間隔、すなわちアレー間
隔文については、本実施例では20gmとしたが、50
pm、1100pでも可能である。この場合θをlθ°
程度に保持するためには、発光部11 、13の先端部
近傍の数用mのみ傾斜をもたせ、残りの部分は端面16
に平行にすると良い。
Note that the mutual spacing between the light emitting parts 11-13, that is, the array spacing, was set to 20 gm in this embodiment, but it was set to 50 gm.
pm, 1100p is also possible. In this case θ is lθ°
In order to maintain the same level, only a few m near the tips of the light emitting parts 11 and 13 should be sloped, and the remaining parts should be sloped at the end surface 16.
It is best to make it parallel to.

次に、第2図(a)、(b)に基づき本実施例を更に詳
しく説明する。第2図(a)。
Next, this embodiment will be explained in more detail based on FIGS. 2(a) and 2(b). Figure 2(a).

(b)は、斜出端が2種類の角度θ1.θ2の傾斜を有
しして加工された例を示しているが、原理的には第1図
と全く同じである。以下。
(b) shows that the oblique end has two types of angles θ1. Although an example is shown in which processing is performed with an inclination of θ2, the principle is exactly the same as that in FIG. 1. below.

製造プロセスを説明する。Explain the manufacturing process.

まず、n型GaAs基板21上に、分子線エピタキシ法
によりn型GaAs層22を14 m 。
First, a 14 m thick n-type GaAs layer 22 is formed on an n-type GaAs substrate 21 by molecular beam epitaxy.

n型AlGaAs層23を2pm、/7ドープGaAs
層24を0.1gm、P型A lGaAs層25をIg
m、P+GaAs層26を0.15pm順次成長させた
The n-type AlGaAs layer 23 is made of 2 pm, /7 doped GaAs.
The layer 24 is 0.1 gm, and the P-type AlGaAs layer 25 is Igm.
m, P+GaAs layers 26 were sequentially grown to a thickness of 0.15 pm.

次にプラズマCVDによりS i 3 N 4を120
0人形成した後、電流注入部2oを形成するため、P”
GaAs層26まテコ17) S i 3N4をエツチ
ングした。更にオーミック電極28としてCr−Auを
蒸着し、第2図(a)に示すように分離のためのエツチ
ングを行い、Si3N4の電流性 次に、裏面のn型用オーミック電極29を形成して熱処
理した後、Ql、Q2の角度をもつ共振面Rをリアクテ
ィブイオンエツチングにより垂直加工をする。エツチン
グ深さはn型GaAs層22の途中位まで掘り下げた。
Next, Si 3 N 4 was added at 120% by plasma CVD.
After forming 0 people, in order to form the current injection part 2o, P”
GaAs layer 26 (17) S i 3N4 was etched. Furthermore, Cr-Au is deposited as an ohmic electrode 28, and etched for separation as shown in FIG. 2(a). After that, the resonant surface R having the angles Ql and Q2 is vertically processed by reactive ion etching. The etching depth was set to the middle of the n-type GaAs layer 22.

リアクティブイオンエツチングの条件を表1に示す。Table 1 shows the conditions for reactive ion etching.

表    1 次にもう一方の共振面R′を通常のベキカイ法により作
成し、端面保護と反射率増加の為に、a−3i、S t
02(7)R電体多層反射コーティング45を施こし反
射率を80%にした。
Table 1 Next, the other resonant surface R' was created using the normal power chi method, and in order to protect the end face and increase the reflectance, a-3i, St
02(7)R electric multilayer reflective coating 45 was applied to give a reflectance of 80%.

尚各部の寸法としてはキャビティ長LCは300pm、
LCθ1:310pm、LCθ2:301.6gm、ピ
ッチl 50 g m 、傾斜角θ1=7°、θ2=3
.5°長さWは約20Ii、mである。そしてそれぞれ
の光出射方向は全て一点POから出射したかのように偏
光された。
As for the dimensions of each part, the cavity length LC is 300pm,
LCθ1: 310pm, LCθ2: 301.6gm, pitch l 50gm, inclination angle θ1=7°, θ2=3
.. The 5° length W is approximately 20Ii,m. The respective light emission directions were all polarized as if they were emitted from one point PO.

第3図は本発明の変形例で本例の特徴としては、電流注
入域30の面積は同じで、θ−〇以外のレーザにおいて
は出射端面と電極との間が非注入領域になっている事で
ある。
FIG. 3 shows a modification of the present invention, and the feature of this example is that the area of the current injection region 30 is the same, and for lasers other than θ-〇, the area between the emission end face and the electrode is a non-injection region. That's a thing.

次に、この様な構造の半導体装置(特に第1図に示した
装置)を作成する方法の一例について説明する。
Next, an example of a method for manufacturing a semiconductor device having such a structure (particularly the device shown in FIG. 1) will be described.

まず第4図の如く、ダブルへテロ構造をもつレーザウェ
ハー40−LにプラズマCVDによりSi3N4 44
の絶縁膜を蒸着する。次にフォトリソ技術によりこのS
 i 3 N 4膜44に幅数pLm程度の窓をあける
。その後Cr:Au電極蒸着後、素子分離する為に電極
のウェットエツチングを行なう。エツチング液を表2に
示す。
First, as shown in FIG. 4, a laser wafer 40-L having a double heterostructure is coated with Si3N4 44
Deposit an insulating film. Next, using photolithography technology, this S
A window with a width of about several pLm is opened in the i 3 N 4 film 44. Thereafter, after Cr:Au electrodes are deposited, wet etching of the electrodes is performed to separate the elements. Table 2 shows the etching solution.

Au KI+I2+H20=l:1=100Cr H3
PO4+H2O2+Zn この状態を第5図(b)に示す。図において(51a、
51b、51c)、(52a、52b、52c)、(5
3a、53b、53c)・・・は複数の発光部を含むア
レーレーザを作成する。続いて第6図(a)にマスクの
一部を示す。このマスク60でレーザとして必要以外の
部分の電極Φ絶縁膜をエツチングして除去する。更に第
6図(b)に示す様にドライエツチングプロセスにより
行われる。第6図(b)において、61はレーザウェハ
ー40上に第6図(a)をパターンニングした後で60
はマスクを示す。63はイオンの入射方向を示す。最後
に後方端面をヘキカイして完成する。
Au KI+I2+H20=l:1=100Cr H3
PO4+H2O2+Zn This state is shown in FIG. 5(b). In the figure (51a,
51b, 51c), (52a, 52b, 52c), (5
3a, 53b, 53c)... create an array laser including a plurality of light emitting parts. Next, a part of the mask is shown in FIG. 6(a). Using this mask 60, the portions of the electrode Φ insulating film that are not necessary for the laser are etched and removed. Further, a dry etching process is performed as shown in FIG. 6(b). In FIG. 6(b), 61 is 60 after patterning FIG. 6(a) on the laser wafer 40.
indicates a mask. 63 indicates the direction of ion incidence. Finally, cut out the rear end and complete.

次に本発明の変形例について説明する。Next, a modification of the present invention will be explained.

(1)前述した実施例では3つの方向に光を出用させる
装置を示したが、光出射方向の数は任意で、例えば第7
図のようにすれば5つ方向に光を出射させることができ
る。この例では、斜出端78は凹面状に加工されている
。なお、71〜75は発光部で、76はアレーレーザ、
77は多層膜反射層、71a〜75aはそれぞれ発光部
71〜75からの光の出射方向を示す。
(1) In the above-mentioned embodiment, a device that emits light in three directions was shown, but the number of light emitting directions is arbitrary. For example, the seventh
By doing as shown in the figure, light can be emitted in five directions. In this example, the slanted end 78 is processed into a concave shape. In addition, 71 to 75 are light emitting parts, 76 is an array laser,
Reference numeral 77 indicates a multilayer reflective layer, and 71a to 75a indicate directions in which light is emitted from the light emitting sections 71 to 75, respectively.

(2)前述した実施例では斜出端を凹面状に加工したが
、第8図(a)、(b)に示すように凸面状、あるいは
他の形状に加工しても同様の効果が得られる。なお、8
1〜83は発光部、84はアレーレーザ、85は多層膜
反射層、86a、86bは斜出端、81a 〜83a。
(2) In the above embodiment, the beveled end was machined into a concave shape, but the same effect can be obtained by machining it into a convex shape or other shapes as shown in FIGS. 8(a) and (b). It will be done. In addition, 8
1 to 83 are light emitting parts, 84 is an array laser, 85 is a multilayer reflective layer, 86a and 86b are oblique ends, and 81a to 83a.

81b〜83bは光出射方向を示す。81b to 83b indicate light emission directions.

(3)前述した実施例では複数の方向にビームが出射す
るものの、それぞれの方向については1本のビームだっ
た。しかし、次のようにして、それぞれの方向に複数本
のビームを出射させるレーザを作ることもできる。これ
により、■方向当りの出射ビームのパワーが増す。例え
ば第10図の様な斜出端110にする。
(3) In the embodiment described above, although beams are emitted in a plurality of directions, there is only one beam in each direction. However, it is also possible to create a laser that emits multiple beams in each direction as follows. This increases the power of the emitted beam per direction. For example, a slanted end 110 as shown in FIG. 10 is formed.

(4)アレーレーザは半導体レーザでなく、例えば固体
レーザ等でもよい。
(4) The array laser is not a semiconductor laser, but may be a solid-state laser, for example.

(5)斜出端の形状としては段差を持たせる必要はなく
、例えば第9図のように連続して徐々に変化させても同
様の効果が得られる。なお、91〜93は発光部、94
はアレーレーザ、95は多層膜反射層、96は斜出端、
91a〜93aは光出射方向を示す。
(5) There is no need for the shape of the slanted end to have a step; for example, the same effect can be obtained even if the shape is continuously and gradually changed as shown in FIG. In addition, 91 to 93 are light emitting parts, 94
is an array laser, 95 is a multilayer reflective layer, 96 is a slanted end,
91a to 93a indicate light emission directions.

(6)斜出端の反対の面を形成する際、ベキカイ法を用
いていたが図6(b)に示す様にこの状態のままでも面
は形成される。(両側エツチングキャビティレーザ) (7)第11図は各レーザの共振器長が変らないように
斜出端の形状を変化させた例である。
(6) When forming the surface opposite to the slanted end, the Bekki method was used, but the surface can still be formed in this state as shown in FIG. 6(b). (Double-sided etching cavity laser) (7) FIG. 11 is an example in which the shape of the oblique end is changed so that the resonator length of each laser does not change.

(8)7−11図においても第3図と同様に電極面積を
一定にする事で注入電流のバラツキを抑制できる。
(8) Also in FIGS. 7-11, variations in the injection current can be suppressed by keeping the electrode area constant as in FIG. 3.

なお、各レーザ(発光素子)からの光出射方向の異なり
角φ(度)の値はアレーの間隔(1mmとする)と用い
る光学系の焦点距離とに依存するが1通常用いられる焦
点側111120 m m程度のものではl≦φ/見≦
50ぐらいが適当である。例えば第14図の試作例では
u=io。
Note that the value of the angle φ (degrees) of the different light emission directions from each laser (light emitting element) depends on the spacing between the arrays (1 mm) and the focal length of the optical system used. m In the case of m, l≦φ/Ki≦
Around 50 is appropriate. For example, in the prototype example shown in FIG. 14, u=io.

pm、Po=13mm、φ=1.2度で良好な結果を得
た。
Good results were obtained with pm, Po=13 mm, and φ=1.2 degrees.

また、光走査の方法を第12図に示されるような偏向反
射面123を用いた系に限定する必要がないのは言うま
でもない。例えば結像レンズ124の背後に回折格子の
ようなものを設置して偏向することも可能である。
Furthermore, it goes without saying that the optical scanning method need not be limited to a system using a deflection reflecting surface 123 as shown in FIG. For example, it is also possible to install something like a diffraction grating behind the imaging lens 124 to deflect the light.

さらに、予め設定された光出射方向の異なり角φは一定
値ずつシフトしているのが一般的であるが、例えばφl
、φ2.φ3.・・・というように必要に応じて異った
値をとってもよい。
Furthermore, the preset angle φ of the light emission direction is generally shifted by a constant value; for example, φl
, φ2. φ3. You may take different values as necessary, such as...

そして、このような光出射方向の異なるアレーレーザは
走査光学系を有する装置にのみ適用されるものでないこ
とは言うまでもない。
It goes without saying that such array lasers with different light emission directions are not only applicable to devices having a scanning optical system.

又材料もGaAs系に限られる訳でなく、他のm−v、
n−■系でもよい。又、成長法もMBHに限られる訳で
なく、LPE、MOCVD等でもよい。エツチングリア
クティブイオンエツチングに限られずウェットエツチン
グ、リアクティブイオンビームエツチングでもよい。
Moreover, the material is not limited to GaAs, but also other m-v,
It may be n-■ system. Furthermore, the growth method is not limited to MBH, but may also be LPE, MOCVD, or the like. Etching is not limited to reactive ion etching, but may also be wet etching or reactive ion beam etching.

すなわち、本発明による半導体装置におけるアレーレー
ザは単一レンズにより異った発光点からのレーザをほぼ
同じ方向へ平行化させるような操作に対して極めて有利
である。
That is, the array laser in the semiconductor device according to the present invention is extremely advantageous for operations in which lasers from different light emitting points are collimated in substantially the same direction using a single lens.

以1−1各実施例あるいは変形例において主としてアレ
ーレーザを例にとって述べたが、LEDなどの他の半導
体発光素子についても同様の効果が期待される。
Although the above 1-1 embodiments and modifications have mainly been described using an array laser as an example, similar effects are expected for other semiconductor light emitting devices such as LEDs.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明は以」二述べた様に、複数個の半導体発光素子を
単基板上に形成する際、半導体発光素子のそれぞれから
の光の出射方向を異ならせる様に共振面と共振方向のな
す角が異なり且つ共振面どうしのなす角が異なるという
簡単な工夫で、多数の点からのレーザ光の平行化を容易
にし、走査光学系を用いて媒体」−に結像、走査する様
な光学装置(例えば、レーザビームプリンタ等)の光源
として極めて有効となる効果を有している。
As described in the following, the present invention provides an angle between a resonant surface and a resonant direction so that when a plurality of semiconductor light emitting devices are formed on a single substrate, the directions of light emitted from each of the semiconductor light emitting devices are different. An optical device that facilitates collimation of laser beams from multiple points by making it easy to collimate laser beams from multiple points, and images and scans the medium using a scanning optical system. This has the effect of being extremely effective as a light source for a laser beam printer (for example, a laser beam printer, etc.).

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による半導体装置の一実施例を概略的に
示した図、第2図(a)、(b)は更に詳細に示した図
で、それぞれ平面図、A−A′線からみた断面図、第3
図は第2図(a)に対応する変形例を示す図、第4図、
第5図(a)、(b)、第6図(a)、(b)は本発明
による半導体装置を作成する方法の一例を示した図、第
7図、第8図(a) 、 (b) 。 第9図、第10図、第11図は本発明の他の変形例を示
す図、第12図はレーザがハイブリッドに配置された従
来例を示す図、第13図は出射方向一定の7レーレーザ
とプリズムを合体して出射方向を異ならせた従来例を示
す図、第14図は出射方向一定のアレーレーザを光学系
で補正しようとした場合の従来例を示す図である。 14.44,76.84゜ 94.104・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・アレーレーザ17.47,78,86a。 86b、96,106・・・・・・・・・・・・・・・
・・・斜出端11a N15a。 71a〜75a。 81a N83a。 81b〜83b。 91a N93a。
FIG. 1 is a diagram schematically showing an embodiment of a semiconductor device according to the present invention, and FIGS. 2(a) and 2(b) are diagrams showing more details, respectively. Viewed cross-sectional view, 3rd
The figure shows a modification example corresponding to FIG. 2(a), FIG.
5(a), (b), FIG. 6(a), (b) are diagrams showing an example of a method for manufacturing a semiconductor device according to the present invention, FIG. 7, FIG. 8(a), ( b). 9, 10, and 11 are diagrams showing other modified examples of the present invention, FIG. 12 is a diagram showing a conventional example in which lasers are arranged in a hybrid manner, and FIG. 13 is a diagram showing a 7-ray laser with a constant emission direction. FIG. 14 is a diagram showing a conventional example in which a prism is combined with a prism to have different emission directions, and FIG. 14 is a diagram showing a conventional example in which an array laser whose emission direction is constant is corrected by an optical system. 14.44,76.84゜94.104・・・・・・・・・・・・・・・・・・
...Array laser 17.47, 78, 86a. 86b, 96, 106・・・・・・・・・・・・・・・
...Beveled end 11a N15a. 71a-75a. 81a N83a. 81b-83b. 91a N93a.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  複数個の半導体発光素子がモノリシックに形成されて
いる半導体装置において、前記半導体発光素子のそれぞ
れの共振面と共振方向のなす角が異なり、且つ共振面ど
うしのなす角が異なるように構成し、更に少くとも出射
側の共振面がエッチングにより形成され、該半導体発光
素子のそれぞれからの光が該出射端面から射出される時
点でそれぞれの光出射方向が異なっていることを特徴と
する半導体装置。
In a semiconductor device in which a plurality of semiconductor light emitting elements are monolithically formed, the semiconductor light emitting elements are configured such that the angles formed between the resonance plane and the resonance direction are different, and the angles formed between the resonance planes are different, and 1. A semiconductor device characterized in that at least a resonant surface on the emission side is formed by etching, and the respective light emission directions are different at the time when the light from each of the semiconductor light emitting elements is emitted from the emission end face.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9081167B2 (en) 2004-11-15 2015-07-14 Koninklijke Philips N.V. Lens compression molded over LED die

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US9081167B2 (en) 2004-11-15 2015-07-14 Koninklijke Philips N.V. Lens compression molded over LED die

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