JPS62254060A - Light measuring apparatus - Google Patents

Light measuring apparatus

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JPS62254060A
JPS62254060A JP61051680A JP5168086A JPS62254060A JP S62254060 A JPS62254060 A JP S62254060A JP 61051680 A JP61051680 A JP 61051680A JP 5168086 A JP5168086 A JP 5168086A JP S62254060 A JPS62254060 A JP S62254060A
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light
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light emitting
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Katsuhiko Yamanaka
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Abstract

PURPOSE:To simplify the construction of the apparatus, by picking up a drop in voltage of a resistance for detecting an output current of a semiconductor light receiving element through a capacitor. CONSTITUTION:Current ILD flows through a light emitting element LD by way of a resistance Rl according to an output of an amplifier A and an emission output P1 of the element LD corresponding to the current ILD is inputted into a light receiving element D via an optical connector CN1, a voltage sensor S, an optical connector CN2 and the like. The input light P2 is converted into a photocurrent Ia with the element D to cause a drop in the voltage of a resistance R2 for detection. This voltage drop is applied to an LPF to pick up a DC component and then, inputted into the amplifier A to be compared with a reference voltage ES1. A control is made by increasing or decreasing the current ILD flowing through the element LD so that the mean of voltage drops caused in the resistance 2 will be kept constant. The voltage drop is applied to an capacitor CC to cut DC components therefrom and taken out at an output terminal OUT as output VOUT via an amplifier A3. This eliminates the need for a photodiode at an APC circuit, an avalanche photodiode at an AGC circuit or the like, thereby simplifying the construction.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、被測定の電圧或いは13!i9等アナ[1グ
の被測定量に応じて変調された光の強麿を測定づること
により、被測定−を計測するようにした光51測装置に
関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention is applicable to the voltage to be measured or 13! This invention relates to an optical 51 measurement device that measures the amount of light to be measured by measuring the intensity of light modulated in accordance with the amount to be measured, such as i9.

(従来の技術) 第4図は従来のこの種の光51測装置の一例の接続図で
ある。図において、八PCはオート・パワー・コントロ
ール回路、AGCはオート・ゲイン・コンミ−ロール回
路、]:Iは光ファイバー、Sは電圧(又は磁界)セン
サで、このセンサは光ファイバー「Iの途中に設けぼら
れている。光ファイバーF1には光コネクタCN1.C
N2が設(′jられている。
(Prior Art) FIG. 4 is a connection diagram of an example of a conventional optical 51 measurement device of this type. In the figure, 8PC is an auto power control circuit, AGC is an auto gain commer roll circuit, ]: I is an optical fiber, and S is a voltage (or magnetic field) sensor. Optical fiber F1 has optical connector CN1.C
N2 is set ('j).

A−ト・パワー・コント[1−ル回路へPCにおいては
、レーザ・ダイオード或いは発光ダイオードのような半
導体発光素子り、 Dの発光量の一部を後方モニタ用の
)第1・・ダイオードPDに照射させて光電流ipを検
出抵抗R1に供給し、その電圧降下(R1・Ip)と基
準電圧ESIとを増幅器へ1において比較して発光素子
L Dに流れる電流lidを増減させ、Ipが一定にな
るようにυ1部している。この場合、発光素子り、 D
の光出力P1はモニタ用フォト・ダイオードP Dの光
電流Ipに比例するので、光出力[〕1は一定値に保た
れることになる。この光出力1)1Gよ光コネクタCN
1、光ファイバーF1.電圧センサS、光=1ネクタC
N2を経由してオート・ゲイン・コントロール回路へ〇
〇におけるアバランシJ・フ第1−・ダイオード△PD
に入力される。ブご光素子IDの光出力1〕1は電圧セ
ンサSにおいてアナ[)グの被測定ff1Vxによって
変調をうけ、イの結果し、Dからの光は第5図の実線の
ように変化づる。従って、APDの入力光P2を測定ず
ればVxの値を測定することができる。
A-to-power control [1-diode PD (in PC, a semiconductor light-emitting element such as a laser diode or a light-emitting diode, for rearward monitoring of part of the light emission amount of D) The photocurrent ip is supplied to the detection resistor R1, and the voltage drop (R1・Ip) and the reference voltage ESI are compared to the amplifier 1 to increase or decrease the current lid flowing through the light emitting element LD, so that Ip increases or decreases. υ1 part is set so that it is constant. In this case, the light emitting element D
Since the optical output P1 of is proportional to the photocurrent Ip of the monitoring photodiode PD, the optical output []1 is kept at a constant value. This optical output 1) 1G to optical connector CN
1. Optical fiber F1. Voltage sensor S, light = 1 connector C
Avalanche at 〇〇 to the auto gain control circuit via N2 1st diode △PD
is input. The optical output 1]1 of the optical element ID is modulated by the analog measured ff1Vx in the voltage sensor S, and as a result of A, the light from D changes as shown by the solid line in FIG. Therefore, the value of Vx can be measured by measuring the input light P2 of the APD.

ところで、この構成の装置にJ3いては光:コネクタC
N1.CN2の河川性の悪さ、光ファイバ・−Flが受
tプる機械的歪み、或い1.i電圧センサSの光学的不
安定さ等により、APDへの入力光P2は第5図の点線
で示プごとく一定の比率で変動Aる。この変動は次のよ
うにしてオート・ゲイン・コントロール回路AGCにJ
3いて補償される。即ち、APDへの入力光P2はこの
APDにより電流(aに変換されで検出抵抗R2に電Y
「降1・(R2・la>を1″じさせる。この化”J1
降4・は1−]−バス・フィルタ1.、、、、 F) 
1−’を通してその自流成分(R2・l El l’均
f6R2−Ja)と” 準’1EiF、 [1,、s 
2とが比較され、イの差の電圧は増幅器A2″C増幅さ
れる。
By the way, in the device with this configuration, J3 has optical connector C.
N1. Poor river properties of CN2, mechanical distortion that the optical fiber -Fl receives, or 1. Due to optical instability of the i-voltage sensor S, the input light P2 to the APD fluctuates at a constant rate A as shown by the dotted line in FIG. This fluctuation is transferred to the auto gain control circuit AGC as follows.
3 and will be compensated. That is, the input light P2 to the APD is converted into a current (a) by the APD, and a voltage Y is applied to the detection resistor R2.
"Decrease 1・(R2・la> by 1". This change"J1
4. is 1-] - bus filter 1. ,,,, F)
1-' through its self-flow component (R2・l El l'equal f6R2-Ja) and quasi'1EiF, [1,,s
2 is compared, and the voltage difference between A and A is amplified by amplifier A2''C.

イの増幅出力は八F3 Dのカソードに印加されて△ρ
1)の11りff5−t’ Mを変化させ、< R2”
 (a )がES2とほぼ等しくなるようにフ、イード
バックLll Zlが働く。このように、光コネクタC
NI、CN2等で光h1が変動しても△P Dの増倍率
Mを変化させることによって(1(2・Ia)は一定の
j直にυ制御される。  (Fり2・la)の直流成分
(ff< 2・Ia)はコンデン!J−CCによりカッ
トされ、1j幅器△3で増幅され−C出ノJ電圧out
としく取出される。電圧ヒンリSは第15図のグラフに
お4jるx=Qの付近では (ΔP2/P2)ccVx         ・−41
)(、’P2はR2の直流成分、ΔP2はR2の変化乏
)) となっている、API)の光電流1aiユこのAPDの
入力光P2に比例するので、 (ΔIa/Ia)−(ΔP 2 / P 2 )   
−(2)(Δlaはlaの変1ヒ分) である。vOutIctR2・Δiaを増幅器A3にお
いて増幅器したものであるから、 ■outocR2・ΔIa       −(3)(+
> 、 (2) 、 (3)式よりVoutocR2・
Ia・(ΔP2/P2>0CR2−1a−Vx    
 −<4)となる。上述のように(R2・Ia)は光m
が変化してら常に一定であるので、(4)式で示される
出力電圧V OLJ tは光ffl変動の影胃を受けず
、被測定電圧VXに比例したものとなる。
The amplified output of A is applied to the cathode of 8F3D and △ρ
1) by changing 11ff5-t'M, <R2''
The feedback Lll Zl works so that (a) becomes approximately equal to ES2. In this way, optical connector C
Even if the light h1 fluctuates due to NI, CN2, etc., by changing the multiplication factor M of △PD, (1(2・Ia) is controlled by υ directly at a constant j.(Fri2・la) The DC component (ff<2・Ia) is cut by the capacitor!J-CC, amplified by the 1j width amplifier △3, and then output from the −C output to the J voltage out.
It will be taken out as soon as possible. The voltage slope S is (ΔP2/P2)ccVx ・-41 near x=Q shown in the graph of Fig. 15.
)(, 'P2 is the DC component of R2, ΔP2 is the change in R2)), and since the photocurrent 1ai of API) is proportional to the input light P2 of this APD, (ΔIa/Ia) - (ΔP 2/P2)
-(2) (Δla is 1 minute change of la). Since vOutIctR2・Δia is amplified by amplifier A3, ■outocR2・ΔIa −(3)(+
> From formulas (2) and (3), VoutocR2・
Ia・(ΔP2/P2>0CR2-1a-Vx
−<4). As mentioned above, (R2・Ia) is the light m
Since the output voltage V OLJ t shown in equation (4) remains constant even when changing, the output voltage V OLJ t is not affected by the fluctuation of the light ffl and becomes proportional to the voltage to be measured VX.

このような構成の先側8111装置は前記のように公知
のものであるが、九ファイバによるアナログ情報の伝i
M+段として上述のように2重のLit御回路、つまり
APC回路とへ〇〇回路をその構成要素として持つてい
た。その必然性は発光素子L−oの事情によるものであ
る。即ら、発光素子LDとして最大電流及び最大発光出
力が規定されており、最大発光出力以内の出力で発光さ
けていてもX′を命を考慮して出力を極力小さくするこ
とが望まれる。
The end 8111 device with such a configuration is well known as described above, but it is known that analog information transmission through nine fibers is possible.
As mentioned above, the M+ stage had a double Lit control circuit, that is, an APC circuit and a 〇〇 circuit as its constituent elements. This necessity is due to the circumstances of the light emitting element L-o. That is, the maximum current and maximum light emission output are specified for the light emitting element LD, and even if light emission is avoided with an output within the maximum light emission output, it is desirable to reduce the output as much as possible, taking X' into consideration for life.

しかし、レーデ・ダイオード自身のノイズを含む系全体
のノイズに比べ、信号の大きさを極力大さな愉にづる為
には極力大きな光出力で発光させることが望まれる。そ
の為、レー1f・ダイオードLDの出力は最適な一定の
値に制御するのが自然であった。一方、半導体発光素子
1..Dが発光ダイオードの場合にはそもそも光出力の
11r1が小さく、又発光面積もレーザ・ダイオードに
比べて大きいので、光ファイバの細いコアの中には発光
出力のうらの圃くわずかな階しか入射しない。そのため
、発光ダイオード自身のノイズは小さいが、系全体のS
/N比を良くするために発光出力は極力大きな一定の埴
である必要があった。
However, compared to the noise of the entire system including the noise of the Rade diode itself, it is desirable to emit light with as large an optical output as possible in order to make the signal magnitude as enjoyable as possible. Therefore, it was natural to control the output of the ray 1f diode LD to an optimal constant value. On the other hand, semiconductor light emitting device 1. .. If D is a light-emitting diode, the light output 11r1 is small to begin with, and the light-emitting area is also larger than that of a laser diode, so only a small portion behind the light-emitting output enters the thin core of the optical fiber. do not. Therefore, although the noise of the light emitting diode itself is small, the S of the entire system is
In order to improve the /N ratio, the light emission output needed to be as large as possible and constant.

半導体発光素子1.、 Dの発光出力を以上の理由で一
定にiul III してしようと、前記のように光コ
ネクタCNI、CNI光ファイバFiyAいは電圧セン
(J−S等による光量の変化分だけ光出力P2は変化し
てしまう。これを補償するために第4図8uにおいでは
アバランシr・フォト・ダイA−ド△S)0を含むAG
O回路を用いる必要があり、そのため全体構成が複雑に
なる問題点があった。な+tj、第4図の回路において
はAI)C回路が有るので、系の動作中に光=」ネクタ
CN1.CN2が外れてしまったようくにときにも半導
体発光素子IDは一定の光mを′fe元し続けるので破
10の心配がない待j殻がある。
Semiconductor light emitting device 1. , D for the reasons mentioned above, the optical output P2 will change by the amount of change in the light amount due to the optical connector CNI, CNI optical fiber FiyA or voltage sensor (J-S, etc.). In order to compensate for this, in FIG. 4 8u, an AG including an avalanche r photo diode
Since it is necessary to use an O circuit, there is a problem in that the overall configuration becomes complicated. Since there is an AI)C circuit in the circuit of FIG. Even if CN2 becomes disconnected, the semiconductor light emitting device ID continues to emit a constant amount of light, so there is no need to worry about damage.

(発明が解決1ツようとする問題点〕 本発明は上記のような問題点を解決する為になされたも
ので、八[)C回路における漬方モニタ用のフォト・ダ
イオードP l)或いは光の変動にJ、る感度変動を補
償するtこめのへOC回路におけるアバランシェ・フォ
ト・ダイオードAPD等を必要とEノない全体構成が簡
略化された光計l装置を提供することを目的としたもの
である。
(Problems to be Solved by the Invention) The present invention has been made to solve the above-mentioned problems. The purpose of the present invention is to provide an optical meter device with a simplified overall configuration that does not require an avalanche photo diode APD or the like in the OC circuit to compensate for sensitivity fluctuations due to fluctuations in It is something.

(問題点を解決する為の手段) 本発明は上記の目的を達成する為に、半導体発光素子の
発光出力を光ファイバを通してアナログのi!!!測定
間に応じて変調を受ける充交14素子に入力すると共に
この光変、1(1索子の被変調出力光を九))jイバを
介して半導体発光素子に入力し、この゛r導体受光系了
の出力電流を検出する検出抵抗による電メ「降下を1−
バス・フィルタを介して基ip7■几と比較してぞの差
の出力を航記半導体発光素子に′jえることにより前記
電圧vt”’Fが一定1直になるように制罪するように
し!ζオート・パワー・−コント[I−小回路を↓−1
備し、前記電H降下を直流成分カッ1′・川のコンデン
サを介して出力として取出lように偶成したものである
。以下、実施例について説明づる。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the present invention transmits the light emitting output of a semiconductor light emitting element through an optical fiber to an analog i! ! ! The light is input to the 14 full-circuit elements that undergo modulation depending on the measurement interval, and the light is input to the semiconductor light-emitting element via the 1 (9) conductor. The detection resistor detects the output current of the light receiving system.
By comparing the output voltage with the base IP7 through a bus filter and transmitting the difference output to the semiconductor light emitting device, the voltage Vt''F is controlled to be constant. !ζ Auto power - control [I-small circuit ↓-1
The above-mentioned electric current drop is combined in such a way that the DC component is taken out as an output via a capacitor. Examples will be explained below.

(実施例〕 第1図は本発明装置に係わる光ム1測菰ガの一実施例の
回路図である。図にJプいて、LDはレーザ・ダイオー
ド或いは発光ダイオードのような半導体発光素子、Aは
増幅器である。発光素子1− Dのカソードは抵抗R1
を介して増幅器△の出力端に接続され−Cいる。[〕は
フt l−・ダイオードのような受光素子で、そのカソ
ードにはバイアス用の電源V 13が接続され、アノー
ドはlit抗R2を介して共;a電位点に接続されると
共に、直流成分カット用のコンデンサQcと演算増幅器
A3の直列回路を介して出力端子OUTに接続され、史
にローパス・フィルタLPFを介して増幅器への(±)
入力端子に接続されている。増幅器Aのく−)入力端子
には基準電源ESIが接続されている。Dlはダ、イオ
ード11は電源で、ダイオードD1のカソードはjnn
幅器上抵抗索子R1との接続点に接続され、7ノードは
電源v1を介して共通電位点に接続されている。Flは
光ファイバー、Sは電圧(又は磁界)しンサで、このセ
ンサは第2図と同様に光ファイバーFlの途中に設けら
れている。
(Embodiment) Fig. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the optical system according to the present invention. A is an amplifier.The cathode of light emitting element 1-D is resistor R1.
-C is connected to the output terminal of amplifier Δ via -C. [] is a light receiving element such as a diode, its cathode is connected to a bias power supply V13, and its anode is connected to the potential point A through a resistor R2, and the DC It is connected to the output terminal OUT through a series circuit of a capacitor Qc for component cutting and an operational amplifier A3, and is connected to the amplifier (±) through a low-pass filter LPF.
connected to the input terminal. A reference power source ESI is connected to the input terminal of the amplifier A. Dl is da, diode 11 is the power supply, and the cathode of diode D1 is jnn
It is connected to the connection point with the resistor cable R1 on the width scale, and the seven nodes are connected to a common potential point via the power supply v1. Fl is an optical fiber, S is a voltage (or magnetic field) sensor, and this sensor is provided in the middle of the optical fiber Fl as in FIG.

CNI、CN2は光ファイバーF1に設けた光コネクタ
である。光ファイバーFlの一端は崖青体介光素子LD
に対向し、他端は半導体受光素子りに対向している。こ
のような構成の装置の彷作について説明すると次の如く
なる。
CNI and CN2 are optical connectors provided on the optical fiber F1. One end of the optical fiber Fl is a cliff blue body optical element LD.
The other end faces the semiconductor light receiving element. The operation of the device having such a configuration will be explained as follows.

増幅IAの出力により半導体発光素子LDには抵抗R1
を介して電流ILDが流れ、その電流ILDに応じた発
光素子1− Dの発光出力P1は光コネクタCN1.光
ファイバーfl、電圧センサS。
Resistor R1 is applied to semiconductor light emitting device LD by the output of amplifier IA.
A current ILD flows through the optical connector CN1. The light emitting output P1 of the light emitting element 1-D corresponding to the current ILD is output from the optical connector CN1. Optical fiber fl, voltage sensor S.

光コネクタCN2を経由してフォト・ダイオードPDに
入力される。第2図で説明した如く発光素子LDの光出
力P1は電圧センサSにおいてアナログの被測定ωVx
によって変調をうけ、その結果LDからの光は第5図の
実線のように変化する。
The signal is input to the photo diode PD via the optical connector CN2. As explained in FIG. 2, the optical output P1 of the light emitting element LD is measured at the voltage sensor
As a result, the light from the LD changes as shown by the solid line in FIG.

従って、受光東予りの入力光P2を測定すればVXの値
を測定することができる。
Therefore, by measuring the input light P2 to be received, the value of VX can be measured.

受光東予りへの入力光P2はこの素子りにおいて光市流
(aに変換され、検出用11へ抗R2に電圧時下(R2
・I2)を生じさける。この1を圧降下はOウバス・フ
ィルタLPFに加えられ、その直流成分が取出される。
The input light P2 to the light receiving unit is converted into light (a) in this element, and is sent to the detection unit 11 as a resistor (R2) under voltage (R2).
・Avoid I2). This 1 pressure drop is applied to the O bus filter LPF, and its DC component is taken out.

この直流成分は増幅器へに加えられて基準電fEEs1
と比較され、発光素子LI′)に流れる電流ILDを増
、減させ、その結宋検■抵抗R2に生じる電圧降ト(R
2・la)の平均値が一定になるようにiJI 1il
IcXれる。この゛電圧時下(R2・la)はコンデン
サCcに加えられてその直流成分がカットされ、増幅器
A3で増幅されて出力端子OLJ丁よりV OLJ t
として取出される。
This DC component is added to the amplifier and is added to the reference voltage fEEs1
The voltage drop (R
iJI 1il so that the average value of 2.la) is constant.
IcX Reru. This voltage (R2・la) is added to the capacitor Cc to cut off its DC component, and is amplified by the amplifier A3 and output from the output terminal OLJ to VOLJ t.
is extracted as

このような偶成の木11明においては、光」ネクタCN
I、CN2、セン+jS或いは光ファイバ「Iのいり゛
れかが変化し、第5図の点線のJ、うに光の減衰があっ
たどしでも、受光素fl−)の入力光に比例する充電流
1aの検出抵抗R2の電LIE降1・(R2−1a>の
平均1直(R2” I a )が一定になる様に系は御
しているので、第4図の従来例の場合と全く同様に(+
)〜(4)式が成立する。その結果、光コネ’7タCN
1.CN2のIi:i合度、t :/ It S dい
は光ファイバ[Iの減Lffiの変化の影響を受+−j
ずにVxを正確に測定すイ)ことができる。
In such a conjunctural tree 11 light, the light'necta CN
Even if any one of I, CN2, sensor+jS, or optical fiber I changes, and there is attenuation of light due to the dotted line J in Figure 5, it will be proportional to the input light of the light receiving element fl-). Since the system is controlled so that the average 1-turn (R2'' I a ) of the charge current 1a detection resistor R2's current LIE drop 1·(R2-1a>) is constant, in the case of the conventional example shown in Fig. In exactly the same way as (+
) to (4) are established. As a result, optical connector '7ta CN
1. The Ii:i degree of CN2, t:/It S d or the optical fiber [I is affected by the change in Lffi +-j
It is possible to accurately measure Vx without

なお、第1図の回路に45いて系の動作中に光コネクタ
CN1.CN2が外れた場合には、受光素子りの入力元
はゼロにイ(るの−C発光系子L Dが入電流になるよ
うに動き、その結果この発光系子1)を破損する恐れが
ある。本発明ではこのような場合にも発光素子LDの寿
命を縮めないようにするために光出力P2に対応する1
流以上に(1−Dが大きくならないような電流制限回路
が段Gプられている。(1(抗累子]く1とグイオード
D l及び電木了1からなる回路がそれである。この回
路は発光系子1.− Dの出力J11)が人さくなると
、・での電j1降下(RL−ILD)によりグイΔ−ド
[〕1に゛電流が流れる襟に動作づる。ぞの結宝、電流
11−、 Dは所定ll/iLス」−には大きくならず
2光光木子11)が破壊したり、寿命を縮めることtよ
なくなる、5第2図及び第3図は大々木発明装置の他の
実施例である。第2図の回路は第1図回路にお1゛ノる
焚光索了(〕の光充電流aの検出用抵抗R2に増幅器Δ
4を組み合わせて充電流】aを増幅器の出力電圧としく
取出したしのであるa第ご3図の回路は1]−パス・フ
、イルタL[〕トど増幅器△とを一体に組み合わせたも
ので、この出力(、L増幅器Δ5にIt(lえられてそ
の出力電流が発光系子[1〕に給電される1JこのJ、
)イf第2図及び第3図1ユ装圓は、いずれムリ本的な
動作は第1図と仝< lff1lじ(゛ある。
It should be noted that while the circuit 45 in FIG. 1 is in operation, the optical connector CN1. If CN2 is disconnected, the input source of the light-receiving element becomes zero. be. In the present invention, in order to prevent the life of the light emitting element LD from being shortened even in such a case, 1 corresponding to the optical output P2 is
A current limiting circuit that prevents 1-D from becoming larger than the current is provided in stages. When the output J11) of the light-emitting element 1.-D becomes low, a current flows in the guide Δ-1 due to the voltage j1 drop (RL-ILD) at . , the current 11-, D does not increase to a predetermined value 11/iL, and the two-light beam 11) will not be destroyed or its life will be shortened. This is another embodiment of the inventive device.The circuit of FIG. 2 is the same as the circuit of FIG.
The circuit in Figure 3 is a combination of 1]-pass, filter L[], and amplifier △. Then, this output (1J) is applied to the L amplifier Δ5, and its output current is supplied to the light emitting element [1].
2 and 3. The basic operation of the unit in FIGS. 2 and 3 is the same as that in FIG. 1.

(発明の効果) 第4図に承り従来装置においてLJ、、1ltl記した
ように後方七二タ用ダイA−ドPDを含むA−1−・パ
ワー・コント0−ル回路△PCにより発光系子LDの出
力P1を一定1nにM O1l’Jるようにしているた
め、感度変動を及ぼす。そのため、アバランシボ・フォ
ト・ダイオードの様な特種なダイオードを含むオート・
ゲイン・コントロール回路を用いてその感度変動を補償
するようにしていた。この為全体構成が複雑になる。こ
れに対して、本発明においては、光ファイバ、光変調素
子等を含む系全体を通った光量を検出し、その光間が一
定(直になるように制御117iるように構成したので
。従来装置に、1′3いて必須の構成要件としていた後
7′7E二り用ダイオードが不必要となり、又受光糸子
どじでゲイン・=1ントロールR能を持つアバランシJ
、・フォト・ダイオードも不必要とな−)で受光素子の
選択が自由になる笠、全体構成の簡略化された光計81
L1装置をうろことができる。
(Effect of the invention) As shown in FIG. 4, in the conventional device, the light emitting system is controlled by the A-1- power control circuit △PC, which includes the rear 72-taper die A-do PD. Since the output P1 of the child LD is kept constant 1n, sensitivity fluctuations occur. Therefore, auto
A gain control circuit was used to compensate for the sensitivity fluctuations. This makes the overall configuration complicated. In contrast, in the present invention, the amount of light passing through the entire system including the optical fiber, the light modulation element, etc. is detected, and the distance between the lights is controlled 117i to be constant (direct). After 1'3 was made an essential component of the device, the 7'7E dual diode was no longer necessary, and the avalanche J with gain = 1 control R capability was added to the light receiving line.
,・A photometer with a simplified overall configuration that allows you to freely select the light-receiving element by eliminating the need for a photodiode.
Can roam the L1 device.

4、図面のl!!i 11な説明 第1図ないし第3図は人々は木光明に係わる光計測装置
の実施例の接続図、第4図は従来装置の接続図、第5図
はこの種の肩側装置の出力特性を説明するための図であ
る。
4.L of the drawing! ! i 11 Explanation Figures 1 to 3 are connection diagrams of an embodiment of the optical measurement device related to Mokukomei, Figure 4 is a connection diagram of a conventional device, and Figure 5 is the output of this type of shoulder-side device. FIG. 3 is a diagram for explaining characteristics.

11)・・・半導体発光系子、D・・・半導体受光素j
′−1R2・・・検出抵抗、LPF・・・ローパス・フ
ィルタ、S・・・光変調素子、+= i・・・光ファイ
バ、ESI・・・基t$電1を索子、CC・・・直流成
分カット・用コンデンサ。
11)... Semiconductor light emitting element, D... Semiconductor light receiving element j
'-1R2...detection resistor, LPF...low-pass filter, S...light modulation element, += i...optical fiber, ESI...base t$electron 1, CC...・Capacitor for DC component cut.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 半導体発光素子の発光出力を光ファイバを通してアナロ
グの被測定量に応じて変調を受ける光変調素子に入力す
ると共に、この光変調素子の被変調出力光を光ファイバ
を介して半導体受光素子に入力し、この半導体受光素子
の出力電流を検出する検出抵抗による電圧降下をローパ
ス・フィルタを介して基準電圧と比較してその差の出力
を前記半導体発光素子に与えることにより、前記電圧降
下が一定値になるように制御するようにしたオート・パ
ワー・コントロール回路を具備し、前記電圧降下を直流
成分カット用のコンデンサを介して出力として取出すよ
うにした光計測装置。
The light emitting output of the semiconductor light emitting element is input through an optical fiber to an optical modulation element that is modulated according to an analog measured quantity, and the modulated output light of this optical modulation element is input to the semiconductor light receiving element through an optical fiber. , the voltage drop due to the detection resistor that detects the output current of this semiconductor light receiving element is compared with a reference voltage via a low-pass filter, and the output of the difference is given to the semiconductor light emitting element, so that the voltage drop is kept at a constant value. An optical measurement device comprising an auto power control circuit configured to control the voltage drop so as to output the voltage drop as an output via a capacitor for cutting a DC component.
JP61051680A 1986-03-10 1986-03-10 Light measuring apparatus Granted JPS62254060A (en)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5834367A (en) * 1981-08-25 1983-02-28 Yokogawa Hokushin Electric Corp Light applied measuring instrument

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5834367A (en) * 1981-08-25 1983-02-28 Yokogawa Hokushin Electric Corp Light applied measuring instrument

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