JPS6225262B2 - - Google Patents

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JPS6225262B2
JPS6225262B2 JP54062558A JP6255879A JPS6225262B2 JP S6225262 B2 JPS6225262 B2 JP S6225262B2 JP 54062558 A JP54062558 A JP 54062558A JP 6255879 A JP6255879 A JP 6255879A JP S6225262 B2 JPS6225262 B2 JP S6225262B2
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JP
Japan
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contact
carrier
joined
leadless
ceramic carrier
Prior art date
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Application number
JP54062558A
Other languages
Japanese (ja)
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JPS54153570A (en
Inventor
Reroi Gurobendaa Suchiibun
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3M Co
Original Assignee
Minnesota Mining and Manufacturing Co
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Publication date
Application filed by Minnesota Mining and Manufacturing Co filed Critical Minnesota Mining and Manufacturing Co
Publication of JPS54153570A publication Critical patent/JPS54153570A/en
Publication of JPS6225262B2 publication Critical patent/JPS6225262B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/02Arrangements of circuit components or wiring on supporting structure
    • H05K7/10Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets
    • H05K7/1053Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads
    • H05K7/1061Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting
    • H05K7/1069Plug-in assemblages of components, e.g. IC sockets having interior leads co-operating by abutting with spring contact pieces
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/40Mountings or securing means for detachable cooling or heating arrangements ; fixed by friction, plugs or springs
    • H01L23/4093Snap-on arrangements, e.g. clips
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Power Engineering (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)
  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はリードレス大規模集積回路(LSI)装
置を印刷回路板または他の端子装置に接続するた
めのコネクタ装置に関するものである。このコネ
クタ装置はリードレスセラミツクキヤリア、リー
ド付ソケツトおよびカバー部品を有している。リ
ードレスLSIキヤリア上のパツドとリード付ソケ
ツトが有する接触部品を通して印刷回路板との間
に接触がえられる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to connector devices for connecting leadless large scale integrated circuit (LSI) devices to printed circuit boards or other terminal devices. The connector device includes a leadless ceramic carrier, a leaded socket, and a cover component. Contact is established between the pad on the leadless LSI carrier and the printed circuit board through the contact parts of the leaded socket.

半導体と印刷回路は電子産業に大きな影響をも
つている。それによりえられる電子装置の回路密
度が大きくなると、より高密度の端子および接触
体配置に対する要求が大きくなる。LSI技術の最
近の進歩により、1つのチツプが20000個ないし
50000個のトランジスタを有するという高密度電
子回路を製造することが可能となつた。
Semiconductors and printed circuits have a major impact on the electronics industry. As the circuit density of the resulting electronic devices increases, the demand for higher density terminal and contact arrangements increases. With recent advances in LSI technology, one chip can contain up to 20,000 or more
It became possible to produce high-density electronic circuits with up to 50,000 transistors.

何年もの間、デユアルインライン(DIP)パツ
ケージ構造体が電子産業におけるパツケージであ
つた。64リードまでを有する設計が用いられた
が、最もよく使われる大きさは40ピンまたはそれ
以下のものである。LSI技術の能力が増大しそし
て装置の複雑さがそれに伴つて大きくなると、40
ピン数以上のパツケージに対する要求が強まつて
きた。DIPは、集積回路の入つた本体と、その本
体の両側から出ている平行な2列のリードまたは
「脚」から成つている。
For many years, dual-in-line (DIP) packaging structures have been the packaging in the electronics industry. Designs with up to 64 leads have been used, but the most commonly used sizes are 40 pins or less. As the capabilities of LSI technology increase and the complexity of devices increases accordingly, 40
There has been an increasing demand for package cages with more pins. A DIP consists of a body containing an integrated circuit and two parallel rows of leads or "legs" extending from either side of the body.

DIPを印刷回路板に取付けることは、従来は脚
を回路板に直接ハンダ付けするか、または回路板
の所定の位置にハンダ付けされたソケツトに差込
むかしてえられた。ハンダ付けにより非常に信頼
性の高いガス気密電気接続がえられるが、それは
またパツケージの組立ておよび取はずしにさいし
て熱を加えなければならないという点から組立て
および取はずしを困難にした。ハンダ付けを行な
うための熱はリードを通して集積回路パツケージ
に直ちに伝えられ、集積回路を過度に加熱する。
この過度の加熱はガラスシールにひびを入れ、そ
して集積回路に損傷を与える。この熱はまた印刷
回路板を歪ませるおよびまたは変形させることが
ある。製造会社で回路板を最初に組立てる時に
は、熱を加えることは比較的簡単に制御すること
ができる。けれども、多くの高価な部品や配線板
組立体は設置場所で過度に熱を加えることにより
破壊される。
Attachment of the DIP to a printed circuit board has traditionally been accomplished by soldering the legs directly to the circuit board or by inserting the legs into sockets soldered in place on the circuit board. Although soldering provides a very reliable gas-tight electrical connection, it also makes assembly and disassembly difficult in that heat must be applied during assembly and disassembly of the package. Heat for soldering is immediately transferred through the leads to the integrated circuit package, causing excessive heating of the integrated circuit.
This excessive heating can crack the glass seal and damage the integrated circuit. This heat can also warp and/or deform printed circuit boards. When a circuit board is first assembled at a manufacturing company, the application of heat can be controlled relatively easily. However, many expensive components and board assemblies are destroyed by excessive heat at the installation site.

別のパツケージ、リードレスキヤリア、は従来
のDIPにくらべて多くの利点をもつている。第1
に、脚がないことはコストが安いことを意味しそ
して製造歩止まりの高いことを意味する。第2
に、リードレスキヤリアは同じDIPよりもかなり
小さく、したがつて配置密度を高くでき、そして
リードの長さをより短くできる。
Another package, the leadless carrier, has many advantages over traditional DIP. 1st
In addition, the absence of legs means lower costs and higher manufacturing yields. Second
Additionally, leadless carriers are much smaller than the same DIP, thus allowing higher density placement and shorter lead lengths.

DIPと同じように、設置場所でリードレスキヤ
リアのハンダをはがすことは非常に望ましくな
い。ハンダ付けにより接続した場合の取替えに問
題があるので、電気的接続を行なうのに熱を加え
る必要のない多くの種類の取はずし可能コネクタ
が開発されている。これらのコネクタは電気的接
続のために圧着接触と呼ばれる接続を用いてい
る。
As with DIP, it is highly undesirable to unsolder leadless carriers at the installation site. Because of the problems of replacing soldered connections, many types of removable connectors have been developed that do not require the application of heat to make the electrical connection. These connectors use connections called crimp contacts for electrical connection.

一般に、所定の位置にハンダ付けされるコネク
タはそのコネクタのためにリードまたは脚をハン
ダ付けする必要があり、回路板上の隣接するパツ
ドの間をハンダで橋渡してしまわないように、約
2.54ミリメートル(0.10インチ)の最小接触体中
心間距離が必要である。キヤリア上の接続パツド
は縁、上面または底面のいずれかに沿つてつくる
ことができる。けれども、どの場合にも、キヤリ
ア上のパツドに対し個々の金属接触体を押付ける
ことにより、差込み可能接続がえられる。個々の
金属接触体が必要であることは、このコネクタは
個々の接触体のおのおのを収容しそして隔離する
のにどうしても大きくなければならないというこ
とを意味する。接触体それ自身は、良好は電気的
接続を確実に行なうために、適切であるばねの力
を加えるのに十分の大きさがなければらならな
い。この他に、正確にスタンピングしそして組立
てるという要請は非常に高価となる。
Generally, connectors that are soldered in place require leads or legs to be soldered for the connector, and approximately
A minimum contact center-to-center distance of 2.54 mm (0.10 inch) is required. Connection pads on the carrier can be made along either the edges, top or bottom. However, in each case a pluggable connection is obtained by pressing individual metal contacts against pads on the carrier. The need for individual metal contacts means that the connector must be large to accommodate and isolate each individual contact. The contact itself must be large enough to apply an adequate spring force to ensure a good electrical connection. Additionally, the requirements for accurate stamping and assembly are very expensive.

前記DIPで存在する他の問題は、大きなピン数
DIPの場合に特にそうであるが、リードの長さが
長くなることによる大きな熱抵抗、大きなピン間
キヤパシタンス、大きなリード抵抗である。
The other problem that exists with DIP is the large pin count
This is especially true for DIPs, which have large thermal resistance due to long lead lengths, large pin-to-pin capacitance, and large lead resistance.

本発明はリードレスLSI装置のためのコネクタ
装置に関するものである。このコネクタ装置はリ
ードレスセラミツクキヤリアと、リード付ソケツ
トと、カバー部品とを有している。リードレスセ
ラミツクキヤリアはLSI装置のためのおよびこの
LSI装置からキヤリアへの接続を行なうためのパ
ツケージを保護する役割を果たす。リード付ソケ
ツトはリード付ソケツト内の接触部品を通して回
路板へこのリードレスキヤリアのパツドを接続す
る。カバー部品はリードレスキヤリアを所定の位
置に保持し、そしてこのキヤリア内のLSIにより
発生する熱を放散する。
The present invention relates to a connector device for a leadless LSI device. The connector device includes a leadless ceramic carrier, a leaded socket, and a cover component. Leadless ceramic carrier is used for LSI devices and this
It plays the role of protecting the package that connects the LSI device to the carrier. A leaded socket connects the pads of this leadless carrier to the circuit board through contact parts within the leaded socket. The cover component holds the leadless carrier in place and dissipates heat generated by the LSI within the carrier.

図示された実施例において、リードレスセラミ
ツクキヤリア11は、(1)大きさ、キヤリア11は
従来のDIPにくらべて約40パーセントだけ回路板
面積を小さくすることができる、(2)接触パツド構
造、同じ面積に2倍の接触パツド13が備えられ
る、(3)チツプ容量、64ピンパツケージ内の凹み1
2は大きさ10.16×10.16ミリメートル(400×400
ミル)、深さ0.635ミリメートル(25ミル)であ
り、したがつて大きなLSIチツプを収容できる、
の点以外は一般に従来の物質および設計で製造で
きる。
In the illustrated embodiment, the leadless ceramic carrier 11 has (1) a size that allows the carrier 11 to reduce circuit board area by approximately 40 percent compared to conventional DIPs; (2) a contact pad structure; (3) Chip capacity, recess 1 in 64-pin package, with twice as many contact pads 13 in the same area;
2 has a size of 10.16 x 10.16 mm (400 x 400
mil), is 0.635 mm (25 mil) deep and can therefore accommodate large LSI chips,
Otherwise, they can be manufactured using generally conventional materials and designs.

キヤリア11はDIPの製造に用いられる高品質
セラミツクならどのセラミツクを用いても製造す
ることができる。その全長を小さくすることによ
り優れた機械的強度特性が部分的にえられる。64
ピン構造体に対するキヤリア11は名目上41.9×
25.4×2.159ミリメートル(1.65×1.0×0.085イン
チ)厚さである、すなわち、比較しうる64ピン
DIPの大きさの約50パーセントである。機械的強
度が大きいために半導体製造工業における歩止ま
りが高く、したがつて、取扱いや検査により損傷
を受ける組立体の数は少なくなる。この他の利点
は取扱い工程や検査工程において、曲げたり傷め
たりする導線のないことである。
The carrier 11 can be manufactured using any high quality ceramic used in the manufacture of DIPs. Excellent mechanical strength properties can be obtained in part by reducing the overall length. 64
Carrier 11 for pin structure is nominally 41.9×
25.4 x 2.159 mm (1.65 x 1.0 x 0.085 inch) thick, i.e. a comparable 64 pin
It is about 50% of the size of DIP. The high mechanical strength results in high yields in the semiconductor manufacturing industry, and therefore fewer assemblies are damaged by handling and inspection. Another advantage is that there are no conductors to bend or damage during handling or inspection steps.

64ピン構造体では、キヤリア11は1つの面の
各辺の端に沿つて2つの互い違いの列に沿つて32
個の接触パツドを備えており、その中心間の距離
は1.27ミリメートル(50ミル)であり、各列内の
個々の接触パツド13の中心間の距離は2.54ミリ
メートル(100ミル)である。他の面の端に沿つ
て、32個の接触パツドはプローブ接触体14とな
る。各端の接触体14は1列に配列されていて、
その中心間距離は1.27ミリメートル(50ミル)で
ある。
In a 64-pin structure, the carriers 11 are 32
The contact pads 13 have a center-to-center distance of 1.27 millimeters (50 mils), and the center-to-center distance of the individual contact pads 13 within each row is 2.54 millimeters (100 mils). Along the edge of the other side, the 32 contact pads become probe contacts 14. The contact bodies 14 at each end are arranged in a row,
Its center-to-center distance is 1.27 millimeters (50 mils).

キヤリア11はまた1対の位置指定穴15,1
6を有している。これらの穴は形が違つていて、
キヤリア11が引込ソケツト20の中に挿入され
る時にはいつも正しく挿入されるようにする。キ
ヤリア11の端には切欠き17,18があり、第
1図にみられるように、それらの形は少し違つて
いる。
The carrier 11 also has a pair of position designation holes 15,1
6. These holes have different shapes,
When the carrier 11 is inserted into the draw-in socket 20, it is always inserted correctly. At the end of the carrier 11 there are cutouts 17, 18, which, as can be seen in FIG. 1, are slightly different in shape.

引込ソケツト20は下部部品21と上部部品3
0とで構成される。下部部品21は一般に形が長
方形であり、絶縁体物質でつくられ、そして縦方
向の各縁に沿つて2列の互い違いの穴22を有し
ており、その中心間の距離は1.27ミリメートル
(50ミル)であり、その各列内の個々の凹所22
の中心間の距離は2.54ミリメートル(100ミル)
である。下部部品21は1対の位置指定穴23を
有しており、その形と位置はキヤリア11に備え
られた位置指定穴15,16に対応している。下
部部品21の端は中央部が長方形に切取られてい
て、凹凸のある端25となつている。端25の底
は少し削り取られていて、端25は下部部品21
の他の部分より厚さが小さくなつている。このよ
うな端25の中央部分は長方形にさらに切取られ
ていて、切欠き26がつくられる。下部部品21
の底面の中央部分はほぼ長方形27に切取られ
る。しかし、位置指定穴23のまわりの底表面に
は切取られない部分を残しておく。4つの隅と位
置指定穴23との近くに小さな突出部28があつ
てコネクタ10を回路板から隔てる役を果たす。
The retractable socket 20 has a lower part 21 and an upper part 3.
0. The lower part 21 is generally rectangular in shape, made of an insulating material, and has two rows of staggered holes 22 along each longitudinal edge, with a center-to-center distance of 1.27 mm (50 mm). mill), with individual recesses 22 within each row thereof.
The distance between the centers of is 2.54 mm (100 mil)
It is. The lower part 21 has a pair of positioning holes 23 whose shape and position correspond to the positioning holes 15 and 16 provided in the carrier 11. The end of the lower part 21 has a rectangular cutout in the center, resulting in an uneven end 25. The bottom of the end 25 is slightly shaved, and the end 25 is attached to the lower part 21.
The thickness is smaller than that of other parts. The central part of such an end 25 is further cut into a rectangular shape, creating a notch 26. Lower part 21
A substantially rectangular shape 27 is cut out at the center of the bottom surface of the base. However, an uncut portion is left on the bottom surface around the position designation hole 23. Small protrusions 28 at the four corners and near the locating holes 23 serve to separate the connector 10 from the circuit board.

上部部品30は一般に形が長方形であり、絶縁
体物質でつくられ、そして縦方向の各縁に沿つて
2列の互い違いの空所31を有しており、それら
の中心間の距離は1.27ミリメートル(50ミル)で
ある。これらの凹所31は凹所22よりやや大き
い。端壁32があつてセラミツクキヤリア11の
入る凹所33がその間につくられる。上部部品3
0の各面に1対の位置指定ポスト34,35が備
えられていて、その形と位置はキヤリア11の位
置指定穴15,16および下部部品21の位置指
定穴23に対応する。端壁33を有する上部部品
30の端は、下部部品21の切欠きの大きさに対
応して、中央部が長方形に切取られ、凹凸のある
端36となつている。このような端36の中央部
分は、下部部品21の切欠きに対応して、また長
方形にさらに切取られて切欠き37がつくられ
る。上部部品30はキヤリア11上にカバーシー
ル19を収納するための中央穴38をさらに有し
ている。このカバーシールは凹所12内にLSI装
置を封入するためのものである。空所31の下の
縦溝39は、第2図にみられるように、接触部品
40を収納するために上部部品30の下表面に備
えられる。
The upper part 30 is generally rectangular in shape, made of an insulating material, and has two rows of staggered cavities 31 along each longitudinal edge, the distance between their centers being 1.27 mm. (50 mil). These recesses 31 are slightly larger than the recesses 22. The end walls 32 meet and a recess 33 is created therebetween in which the ceramic carrier 11 is placed. Upper part 3
A pair of locating posts 34, 35 are provided on each side of the carrier 11 and correspond in shape and position to the locating holes 15, 16 of the carrier 11 and the locating holes 23 of the lower part 21. The end of the upper part 30 having the end wall 33 has a rectangular cutout in the center corresponding to the size of the notch in the lower part 21, and has an uneven end 36. The central part of such an end 36 corresponds to the cutout of the lower part 21 and is further cut out in a rectangular shape to create a cutout 37 . The upper part 30 further has a central hole 38 for accommodating the cover seal 19 on the carrier 11. This cover seal is for enclosing the LSI device within the recess 12. A longitudinal groove 39 below the cavity 31 is provided in the lower surface of the upper part 30 for accommodating a contact part 40, as seen in FIG.

接触部品40はばね焼もどし銅ニツケル合金
725のような弾性金属板から打抜かれ、この弾性
金属板の公称厚さ0.127ミリメートル(5ミル)
であり、そしてこの弾性金属板は、キヤリア11
の接触子13と接触する前記接触部品40の接触
部41において、ニツケルインタライナの上に
24K金被覆のような導電性被覆を通常有してお
り、この金被覆の厚さは0.00076ミリメートル
(0.00003インチ)である。
Contact part 40 is spring tempered copper nickel alloy
725, the nominal thickness of this elastic metal sheet is 0.127 mm (5 mils)
and this elastic metal plate is carrier 11
At the contact part 41 of the contact part 40 that comes into contact with the contact 13 of the nickel inner liner,
They typically have a conductive coating, such as a 24K gold coating, which is 0.00076 millimeters (0.00003 inches) thick.

第3図をみるとわかるように、接触部品40は
平板をほぼ直角に曲げてつくられた一般にU字形
をした脚部42を有している。脚部42の端は鋭
角で切取られていてとがつた先端となつている。
脚42の上端には穴22の壁に取付けるための1
対のロツキングタブ43を備えている。脚42の
上端には1対のタブ44があつて、、脚42を丈
夫なものとする役割を果している。
As can be seen in FIG. 3, the contact piece 40 has a generally U-shaped leg 42 formed by bending a flat plate at a generally right angle. The ends of the legs 42 are truncated at an acute angle to provide a pointed tip.
At the upper end of the leg 42 there is a
A pair of locking tabs 43 are provided. A pair of tabs 44 are provided at the upper ends of the legs 42 and serve to make the legs 42 sturdy.

接触部品40の中央部分45はその一端が脚部
42と直角に接続される。この中央部分45の他
端はC字形をしていて、中央部分45と一般に平
行であるばねビーム部46に接合される。ばねビ
ーム部46は接触部41に直角に接合され、そし
てこの接合部41は一般にJ字形をしている。
The central part 45 of the contact part 40 is connected at one end to the leg 42 at right angles. The other end of this central section 45 is C-shaped and is joined to a spring beam section 46 that is generally parallel to the central section 45. Spring beam portion 46 is joined at right angles to contact portion 41, and this joint portion 41 is generally J-shaped.

前記金属板を用いた特定の例示的実施例におい
て、接触部品40の全体の長さは10.795ミリメー
トル(0.425インチ)であり、その全体の幅は
0.762ミリメートル(0.03インチ)である。脚部
42の長さは7.62ミリメートル(0.3インチ)で
あり、そのU字形部は0.381ミリメートル(0.015
インチ)である。中央部分45の長さは3.175ミ
リメートル(0.125インチ)であり、そしてC字
形部分の高さは1.27ミリメートル(0.05インチ)
である。ばねビーム部の長さは2.032ミリメート
ル(0.08インチ)であり、そのJ字形接触部の脚
は1.905ミリメートル(0.075インチ)である。金
で被覆された湾曲部は0.762×0.0889ミリメート
ル(0.03×0.035インチ)である。
In a particular exemplary embodiment using the metal plate, the overall length of contact piece 40 is 10.795 millimeters (0.425 inches) and its overall width is
It is 0.762 mm (0.03 inch). The length of leg 42 is 7.62 mm (0.3 inch) and its U-shaped portion is 0.381 mm (0.015 inch).
inch). The length of the central portion 45 is 3.175 mm (0.125 inch) and the height of the C-shaped portion is 1.27 mm (0.05 inch).
It is. The length of the spring beam section is 2.032 mm (0.08 inch) and its J-shaped contact leg is 1.905 mm (0.075 inch). The gold-coated curve is 0.762 x 0.0889 mm (0.03 x 0.035 inch).

第3図をみてわかるように、接触部品40は成
形工程において板材から完全には取去られない。
その代り、接触部品40が型抜きされた板材47
の一部分が中央部分45とばねビーム部46の接
続部に接合して残されており、したがつて、接触
部品40が細片の形で相互接続される。板47は
型抜き工程のさい接合線48に沿つて切り目をつ
けることが可能であり、それにより、接触部品4
0は必要な時には個々の部品に容易に分離するこ
とができる。
As can be seen in FIG. 3, the contact piece 40 is not completely removed from the plate during the forming process.
Instead, the contact part 40 is stamped out from a plate 47.
A portion is left joined to the connection of the central part 45 and the spring beam part 46, so that the contact part 40 is interconnected in the form of a strip. The plate 47 can be scored along the joining line 48 during the die-cutting process, so that the contact part 4
0 can be easily separated into individual parts when needed.

カバー部品50は一般に長方形の形をしてお
り、その長さはキヤリア11の長さにほぼ等し
く、その幅はキヤリア11の表面上で並んでいる
プローブ接触体14と電気的に接触しないように
小さい。プローブ接触体14はキヤリアの縦方向
端に沿つて1列に並んでおり、そして大きな熱伝
導率をもつた銅合金で製造される。カバー部品5
0は焼なましされたばねであることが望ましく、
そしてニツケル板のような熱伝導性仕上げ被覆を
備えることが望ましい。カバー部品50の上面は
ほぼ等しい3つの部分51,52および53に分
割される。中央部分52は事実上平らであり、そ
れにより、LSIチツプがその中に入つているキヤ
リア11の表面と密着する。中央部分52はその
外側端の近くにその端に沿つて縦リブ54を有し
ており、それによりカバー部品50に強度が与え
られしつかりしたものとなる。
The cover part 50 has a generally rectangular shape, its length is approximately equal to the length of the carrier 11, and its width is such that it does not come into electrical contact with the probe contacts 14 arranged on the surface of the carrier 11. small. The probe contacts 14 are aligned along the longitudinal edge of the carrier and are made of a copper alloy with high thermal conductivity. Cover parts 5
0 is preferably an annealed spring;
It is also desirable to have a thermally conductive finish coating such as nickel plate. The upper surface of the cover part 50 is divided into three approximately equal parts 51, 52 and 53. The central portion 52 is substantially flat so that the LSI chips are in close contact with the surface of the carrier 11 contained therein. The central portion 52 has longitudinal ribs 54 along its edges near its outer edges, which provide strength and stiffness to the cover part 50.

カバー部品50の外側端部分51および53の
おのおのは中央部分52との接合部でわずかに上
外側に曲げられる。各端部分51,53には複数
個の横溝55がある。
Each of the outer end portions 51 and 53 of the cover part 50 is bent slightly upwardly and outwardly at the junction with the central portion 52. Each end portion 51, 53 has a plurality of transverse grooves 55.

各端部分51,53の外側端から端壁56が延
びており、この端壁の長さはキヤリア11とリー
ド付ソケツト20を合計した厚さから端25の底
に沿つて切取られた厚さを引いたものに等しく、
そしてこの端壁の幅は凹んだ端25および36に
等しい。各端部分51,53と端壁56との接合
部に中央長方形開口部57が切取られその大きさ
と位置は端の切欠き25および36に対応する。
各端壁56の自由端には内側に曲げられたリツプ
58がある。
Extending from the outer edge of each end portion 51, 53 is an end wall 56 having a length measured along the bottom of end 25 from the combined thickness of carrier 11 and lead socket 20. is equal to minus
The width of this end wall is then equal to the recessed ends 25 and 36. A central rectangular opening 57 is cut out at the junction of each end portion 51, 53 and end wall 56, corresponding in size and location to the end notches 25 and 36.
At the free end of each end wall 56 is an inwardly bent lip 58.

本発明のコネクタ装置10はまずキヤリア11
の凹所12にチツプを従来の方法で取付けること
により組立てられる。そしてチツプから凹所12
の周辺に沿つて備えられた接触点までリードを接
合接続することが行なわれ、その後カバーシール
19が取付けられる。リードレスソケツト20は
接触部品40の相互接合された細片を下部部品2
1の穴22の中にまず挿入することにより組立て
られる。接触部品40が穴22内に固定された
後、板材料47の接合された細片が線48に沿つ
て切取られて、各穴22内に個々の接触部品40
が残される。それから、上部部品30が下部部品
21の上に組立てられる。その時、位置指定ポス
ト34および35、および補足的位置指定穴23
により上部部品30の下部部品21に対する正し
い配置が定められる。この組立て工程において、
接触部品40の中央部分45およびばねビーム部
分46は上部部品30の縦溝39内に入り、そし
て第2図をみるとわかるように、J字形接触部4
1は空所31はら突出する。もし必要ならば、リ
ード付ソケツト20のこの2つの部分は超音波接
合または熱接合により、または適当な接合剤によ
り、互いに接合される。
The connector device 10 of the present invention first includes a carrier 11.
The chip is assembled by mounting the chip in the recess 12 in a conventional manner. And from the tip to the recess 12
Bonding of the leads to contact points provided along the periphery of is performed, after which the cover seal 19 is installed. The leadless socket 20 connects the interconnected strips of the contact part 40 to the lower part 2.
It is assembled by first inserting it into the hole 22 of No. 1. After the contact pieces 40 are secured within the holes 22, the bonded strip of plate material 47 is cut along line 48 to create an individual contact piece 40 within each hole 22.
is left behind. Upper part 30 is then assembled onto lower part 21. Then, locating posts 34 and 35 and supplementary locating holes 23
determines the correct placement of the upper part 30 relative to the lower part 21. In this assembly process,
The central portion 45 and spring beam portion 46 of the contact piece 40 enter the longitudinal groove 39 of the top piece 30 and, as can be seen in FIG. 2, the J-shaped contact portion 4
1 protrudes from the empty space 31. If desired, the two parts of leaded socket 20 are joined together by ultrasonic or thermal bonding, or by a suitable bonding agent.

このように組立てられたソケツト20はプリン
ト回路板(図示されていない)の上に置かれて回
路板の穴を通して脚部42が突出し、それからこ
れらが従来の方法でハンダ付けされる。リード付
ソケツト20は、それが回路板に間違つて挿入で
きないように、穴22内の脚部42の互い違いの
配列によりおよび回路板の穴の形により、機械的
に位置指定されることに注意されたい。回路板が
きれいにされた後、リードレスセラミツクキヤリ
ア11が、第1図および第2図にみられるよう
に、凹所33の中に凹所12が下向きになるよう
に置く。再び位置指定ポスト34および35、お
よび位置指定穴15および16により、キヤリア
11をソケツト20の中へ正しい配置以外の他の
配置に挿入することができない。最後に、カバー
部品50がキヤリア11の上に置かれてソケツト
20にぱちんとはめられ、端壁56が上部部品3
0および下部部品21の長方形切欠きの中に入
り、リツプ58が内側に入つて端25の底に沿つ
ての切欠き部に取付けられる。カバー部品50の
上側に曲つた端部分51および53により、内側
に曲つたリツプ58と端25の間に張力がえられ
る。このように、キヤリア11は凹所33内で下
向きにしつかりと押付けられ、そして接触パツド
13は接触部品40の突出したJ字形接触部41
に押付けられる。接触部品40のJ字形接触部4
1がキヤリア11上の接触パツド13に対しこす
り合う時、電気的接続がえられる。このこすり接
触はばねビーム部46の作用により保持され、こ
のばねビーム部46はまた、接触パツド13との
接触のさいの曲げ作用により、隣接する接触部品
40の接触部41の電気的分離がえられる。第2
図の左下隅にみられるように、正面からみて最も
近い接触部品40の接触部41は右に曲がり、そ
して遠い接触部品は左に曲がる。前に記載したよ
うに、上部部品30の空所31はいくらか大きい
ので、J字形接触部41のこの曲がりを許容す
る。電気的接続は接触部41を金で被覆すること
によりより確実となる。診断、「手直し(デバギ
ング)」、メンテナンスまたは他の目的のために、
キヤリア11をソケツト20から取去る必要があ
る時、ドライバをカバー部品50の開口部57の
中へ垂直に挿入しそしてまた切欠き26および3
7の中に挿入し、端壁56をわずかに外側に圧力
を加えて内側に曲つたリツプ58を端25からは
ずせばよい。そうすれば、カバー部品58は上方
に取去ることができ、そしてキヤリア11を取去
ることができる。
The socket 20 thus assembled is placed on a printed circuit board (not shown) with the legs 42 projecting through the holes in the circuit board, and these are then soldered in a conventional manner. Note that the leaded socket 20 is mechanically positioned by the staggered arrangement of the legs 42 within the hole 22 and by the shape of the hole in the circuit board so that it cannot be accidentally inserted into the circuit board. I want to be After the circuit board has been cleaned, the leadless ceramic carrier 11 is placed in the recess 33 with the recess 12 facing downward, as seen in FIGS. 1 and 2. Again, locating posts 34 and 35 and locating holes 15 and 16 prevent carrier 11 from being inserted into socket 20 in any other configuration than the correct one. Finally, the cover part 50 is placed on the carrier 11 and snapped into the socket 20, and the end wall 56 is attached to the top part 3.
0 and into the rectangular notch in the lower part 21, and the lip 58 goes inside and attaches to the notch along the bottom of the end 25. The upwardly curved end portions 51 and 53 of the cover part 50 provide tension between the inwardly curved lip 58 and the end 25. In this way, the carrier 11 is pressed firmly downwards within the recess 33 and the contact pad 13 is pressed firmly against the protruding J-shaped contact portion 41 of the contact part 40.
pressed against. J-shaped contact portion 4 of contact component 40
1 rubs against the contact pad 13 on the carrier 11, an electrical connection is established. This rubbing contact is maintained by the action of the spring beam part 46, which also, by its bending action upon contact with the contact pad 13, maintains the electrical isolation of the contact part 41 of the adjacent contact part 40. It will be done. Second
As can be seen in the lower left corner of the figure, the contact section 41 of the contact part 40 that is closest when viewed from the front bends to the right, and the farthest contact part bends to the left. As previously mentioned, the cavity 31 in the top part 30 is somewhat larger to allow this bending of the J-shaped contact 41. The electrical connection is made more reliable by coating the contact portion 41 with gold. For diagnostic, "debugging", maintenance or other purposes,
When it is necessary to remove the carrier 11 from the socket 20, insert the screwdriver vertically into the opening 57 of the cover part 50 and also remove the notches 26 and 3.
7 and apply slight outward pressure on the end wall 56 to release the inwardly curved lip 58 from the end 25. The cover part 58 can then be lifted upwards and the carrier 11 removed.

本発明のコネクタ装置10により、パツケージ
を物理的に大きくすることなく、LSI技術の進歩
を取入れることが可能な大ピン数パツケージがえ
られる。本発明のコネクタ装置は匹敵するDIPよ
り約60パーセントも実際に小さい。
The connector device 10 of the present invention provides a large pin count package that can incorporate advances in LSI technology without physically increasing the size of the package. The connector device of the present invention is actually about 60 percent smaller than a comparable DIP.

電子パツケージの電気的特性はもちろんその大
きさと形に影響される。パツケージの形はトレー
ス長とトレース幅の一様性を反映する。リードの
抵抗およびリード間容量は直接に影響されるが、
また異つた経路長により変わりうる。例えば、典
型的64リードDIPの最長トレースは1つの形のリ
ードレスキヤリアの対応するトレースの6倍以上
の長さをもつ。64リードDIPの最長トレースと最
短トレースの比は7:1であるが、本発明のリー
ドレスキヤリアではこの比は5:1である。これ
らの等しくないトレース長とDIPの長い電気的経
路は高特性応用に対し厳しい制限となる。一般に
トレース長が短くなれば抵抗値とリード間キヤパ
シタンスが小さくなり、このためにより速いスイ
ツチング時間がえられて全体の特性が改良され
る。本発明のコネクタ装置のリードの最大リード
抵抗値は0.3オームであり、そして最大リード間
キヤパシタンスは3ピコフアラド以下である。こ
れらの値は匹敵するDIPの抵抗値1.1オームおよ
びキヤパシタンス6.6ピコフアラドと比べられる
べきである。
The electrical characteristics of an electronic package are of course influenced by its size and shape. The package shape reflects the uniformity of trace length and width. Lead resistance and lead-to-lead capacitance are directly affected by
It can also vary with different path lengths. For example, the longest trace of a typical 64-lead DIP is more than six times as long as the corresponding trace of one type of leadless carrier. The ratio of the longest trace to the shortest trace for a 64-lead DIP is 7:1, whereas for the leadless carrier of the present invention, this ratio is 5:1. These unequal trace lengths and long electrical paths in the DIP are severe limitations for high performance applications. Shorter trace lengths generally result in lower resistance and lead-to-lead capacitance, which provides faster switching times and improved overall performance. The maximum lead resistance of the leads of the connector device of the present invention is 0.3 ohms, and the maximum lead-to-lead capacitance is less than 3 picofarads. These values should be compared to a comparable DIP resistance of 1.1 ohms and capacitance of 6.6 picofurads.

従来、大ピン数パツケージは、特にDIPは、こ
のパツケージをソケツトに挿入する時または取去
る時にかなりの力が必要であつた。このことはリ
ードを曲げたりまたリードを傷つけたり、パツケ
ージをこわしたりおよびソケツトをこわす原因に
なつた。その結果、損傷を与えないでパツケージ
をソケツトに挿入できる数には限度があつた。本
発明による装置では「挿入する時の力はゼロ」で
あると共に「取去る時の力もゼロ」であり、した
がつて、多数の挿入および取去ることを安全に行
なうことができる。
Traditionally, high pin count packages, particularly DIPs, have required considerable force when inserting or removing the package from a socket. This caused bending and damage to the leads, damage to the package, and damage to the socket. As a result, there is a limit to the number of package cages that can be inserted into sockets without causing damage. The device according to the invention has both "zero insertion force" and "zero removal force", so that multiple insertions and removals can be carried out safely.

本発明によるリードレスチツプキヤリアは底面
側の接触部品と接触をし、そして一組のプローブ
接触体がキヤリアの反対表面または上表面にえら
れることに注意しよう。この構造体は任意の接触
点において直接電気測定を行なうことを可能にす
るが、チツプは本来の場所において動作し、非常
に有益な診断用具でありおよび保守用具である。
Note that the leadless chip carrier according to the present invention makes contact with a bottom side contact piece and a set of probe contacts is provided on the opposite or top surface of the carrier. Although this structure allows direct electrical measurements to be made at any point of contact, the chip operates in situ and is a very useful diagnostic and maintenance tool.

カバー部品50は、リードレスチツプキヤリア
11をソケツト20の電気接触体に確実に接触さ
せる他に、またキヤリア11の表面と密着してい
るカバー部品物質を通して熱を放散する役割を果
たす。熱放散は、カバー部品50の中央部分52
に例えば放熱板などを取付けることにより、増強
される。本発明のコネクタ装置の熱抵抗値は35℃
毎ワツトであり、この値はこの装置により占めら
れる小さな回路板面積を考えれば極めて小さい。
In addition to ensuring that the leadless chip carrier 11 contacts the electrical contacts of the socket 20, the cover part 50 also serves to dissipate heat through the cover part material in intimate contact with the surface of the carrier 11. Heat dissipation is achieved through the central portion 52 of the cover part 50.
This can be strengthened by attaching a heat sink, for example. The thermal resistance value of the connector device of the present invention is 35℃
per watt, which is extremely small considering the small circuit board area occupied by this device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のコネクタ装置の分解立体図、
第2図は本発明のコネクタ装置の側面断面図、第
3図は本発明の接触部品の拡大立体図、第4図は
本発明のリードレスセラミツクキヤリアの一部分
の拡大平面図を示す。 11……リードレスセラミツクキヤリア、20
……リード付ソケツト、50……カバー部品。
FIG. 1 is an exploded three-dimensional view of the connector device of the present invention;
FIG. 2 is a side sectional view of the connector device of the invention, FIG. 3 is an enlarged three-dimensional view of the contact part of the invention, and FIG. 4 is an enlarged plan view of a portion of the leadless ceramic carrier of the invention. 11... Leadless ceramic carrier, 20
...Socket with lead, 50...Cover parts.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 大きさが小さい大ピン数リードレスセラミツ
クキヤリア11と、接触部品40を有するリード
付ソケツト20と、カバー部品50とを有し、 前記リードレスセラミツクキヤリア11は細長
く、そしてその縦方向の両縁の各々に沿つて1方
の表面上に互い違いに2列で密に配置された接触
パツド13を有し、前記2列の中心間の距離は
1.27ミリメートル(50ミル)であり、また各列に
おける接触パツド13の中心間距離は2.54ミリメ
ートル(100ミル)であり、前記接触パツド13
は前記セラミツクキヤリア11の他方の表面上に
縦方向の両縁の各々に沿つた1列のプローブ接触
体14として1.27ミリメートル(50ミル)の中心
間距離で終端し、 前記リード付ソケツト20は相互に装着される
細長い外周の等しい上部部品30および下部部品
21を有し、前記上部部品30および下部部品2
1はその中に接触部品40を収容し、前記上部部
品30は前記リードレスセラミツクキヤリア11
を受入れるためその上面に設けた凹所33をも
ち、また前記上部部品30は前記リードレスセラ
ミツクキヤリア11上の互い違いの接触パツド1
3とそれぞれ整合した空所31をもち、また前記
接触部品40の中央部分45を収容するため前記
上部部品30の下面には縦方向の溝39が設けら
れ、前記下部部品21は前記接触部品40を挿入
するために前記上部部品30の対応する空所31
と整合した穴22を有し、前記接触部品40は脚
部42と一端において前記脚部に接合されおよび
他端においてばねビーム部46に接合される中央
部分45と前記ばねビームに接合される接触部4
1とを有し、前記接触部41が前記キヤリア11
の前記接触パツド13とこすり合つて接触するよ
うに適合され、 前記カバー部品50は細長く、その長さは前記
キヤリア11の長さに本質的に等しく、またその
幅は前記キヤリア11よりも十分に狭く、これに
より前記キヤリア11の縦方向の各縁に沿つた前
記1列のプローブ接触体14を露出させ、また前
記カバー部品50は、前記リードレスセラミツク
キヤリア11の表面と密着する事実上平らな中央
部分52と少し上側に曲がりその自由端において
内側に曲つたリツプ58を備えた端壁56に接合
された端部分51,53とを有し、前記リツプ5
8が前記下部部品21の端に係合するの適合して
おりそれにより前記カバー部品50を前記リード
付ソケツトに掛止する、 リードレス大規模集積回路装置を印刷回路板に
接続し、また前記回路装置が動作中にどの接触点
においてもその場で電気測定をするためのコネク
タ装置。 2 特許請求の範囲第1項において、前記接触部
品40は脚部42と、平らで一般にC字形をした
中央部分45と、平らなばねビーム部46と、平
らで一般にJ字形をした接触部41とを有し、 前記脚部はその自由端に前記脚部を前記印刷回
路板の穴に案内するための案内用先端とその他端
に保持装置43とを有し、前記C字形中央部分は
前記脚部に接合され、前記ばねビーム部は前記中
央部分と一般に平行でありそして一端において前
記中央部分に接合され、前記J字形接触部は前記
ばねビーム部に直角に接合され、前記接触部品の
接触部の湾曲部が前記上部部品の表面の上に突出
し前記無導線セラミツクキヤリアが前記上部部品
の上に押付けられた時前記接触パツドとこすり合
いによる電気的接続がえられる、コネクタ装置。
[Claims] 1. A leadless ceramic carrier 11 with a small size and a large number of pins, a leaded socket 20 having a contact part 40, and a cover part 50, the leadless ceramic carrier 11 being elongated, and It has contact pads 13 closely spaced in two alternating rows on one surface along each of its longitudinal edges, the distance between the centers of said two rows being
1.27 mm (50 mils), and the center-to-center distance of the contact pads 13 in each row is 2.54 mm (100 mils);
terminates on the other surface of the ceramic carrier 11 as a row of probe contacts 14 along each of the longitudinal edges at a center-to-center spacing of 1.27 mm (50 mils), and the leaded sockets 20 are connected to each other. The upper part 30 and the lower part 21 have the same elongated outer circumference and are attached to the upper part 30 and the lower part 21.
1 houses a contact part 40 therein, said upper part 30 containing said leadless ceramic carrier 11
The upper part 30 has recesses 33 provided in its upper surface for receiving the leadless ceramic carrier 11.
3, and a longitudinal groove 39 is provided in the lower surface of the upper part 30 for accommodating the central part 45 of the contact part 40, the lower part 21 has a cavity 31 respectively aligned with the contact part 40. a corresponding cavity 31 in said upper part 30 for inserting a
The contact part 40 has a hole 22 aligned with the leg 42 and a contact part 45 joined to the spring beam with a central part 45 joined at one end to the leg and at the other end to the spring beam part 46. Part 4
1, and the contact portion 41 is connected to the carrier 11.
said cover part 50 is elongated, its length being essentially equal to the length of said carrier 11 and its width substantially greater than said carrier 11. narrow, thereby exposing the row of probe contacts 14 along each longitudinal edge of the carrier 11; It has a central portion 52 and end portions 51, 53 which are slightly upwardly curved and joined to an end wall 56 with an inwardly curved lip 58 at its free end.
8 are adapted to engage the ends of said lower part 21, thereby latching said cover part 50 to said leaded socket; connecting a leadless large scale integrated circuit device to a printed circuit board; Connector device for on-the-spot electrical measurements at any contact point while the circuit device is in operation. 2. In claim 1, the contact piece 40 comprises legs 42, a flat, generally C-shaped central portion 45, a flat spring beam portion 46, and a flat, generally J-shaped contact portion 41. the leg has at its free end a guiding tip for guiding the leg into the hole in the printed circuit board and at its other end a retaining device 43; joined to the legs, said spring beam portion being generally parallel to said central portion and joined to said central portion at one end, said J-shaped contact portion being joined at right angles to said spring beam portion, said contact portion of said contact part being joined to said central portion; A connector device in which a curved portion of the top part protrudes above the surface of the top part to provide an electrical connection by rubbing with the contact pad when the wireless ceramic carrier is pressed onto the top part.
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