JPS62240850A - 電位測定方法及びそれに使用される参照電極 - Google Patents
電位測定方法及びそれに使用される参照電極Info
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- JPS62240850A JPS62240850A JP8412286A JP8412286A JPS62240850A JP S62240850 A JPS62240850 A JP S62240850A JP 8412286 A JP8412286 A JP 8412286A JP 8412286 A JP8412286 A JP 8412286A JP S62240850 A JPS62240850 A JP S62240850A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は例えば試料水溶液中の被検試料電極の電位i1
+11定方法並びにそれに使用される参照電極に関する
ものである。
+11定方法並びにそれに使用される参照電極に関する
ものである。
従来の電位測定及び電極としては特開昭57−1258
42号公報に記載された方法及び電極がある。
42号公報に記載された方法及び電極がある。
これを第2図ないし第4図によって説明すると、電極槽
5の内部には電解液7が充填され、この中に電極棒1が
挿入されている。電極棒の先端には金m塩あるいは金属
酸化物6を付着させである。
5の内部には電解液7が充填され、この中に電極棒1が
挿入されている。電極棒の先端には金m塩あるいは金属
酸化物6を付着させである。
又、金属棒にはこれと同質の金属で製作された金属片1
9が取付けられ、この金属片表面にも前記と同じ金属塩
又は金属酸化物を付着させである。
9が取付けられ、この金属片表面にも前記と同じ金属塩
又は金属酸化物を付着させである。
この金属棒は支持蓋18Δで電極本体に固定され。
シール4.座金17及びM3で支持台16に固定されて
いる。この支持台は内部に試料水20を満たした試験槽
13に固定されている。そして、電極槽の下部には、内
部液11を封入した液絡室15が取り付けられ、これら
全体が試料水2oに浸される。この液絡室の上下端には
1例えば多孔質のセラミック等で作られた液絡プラグ8
A。
いる。この支持台は内部に試料水20を満たした試験槽
13に固定されている。そして、電極槽の下部には、内
部液11を封入した液絡室15が取り付けられ、これら
全体が試料水2oに浸される。この液絡室の上下端には
1例えば多孔質のセラミック等で作られた液絡プラグ8
A。
8Bが装置され、これは支持蓋18BでWl、棒本体に
固定される。
固定される。
金属棒としては例えばΔg棒、金属塩、金属酸化物とし
てはA g CQ、Δgzo 等が用いられ、これに対
応して、電wt液にはそれぞれ、KCQ。
てはA g CQ、Δgzo 等が用いられ、これに対
応して、電wt液にはそれぞれ、KCQ。
K OII水溶液が用いられる。この電解液の成分濃度
、及び温度が一定の時、電極棒は下記の反応により、電
解液に対し、熱力学的に定まる一定電位を示す。
、及び温度が一定の時、電極棒は下記の反応により、電
解液に対し、熱力学的に定まる一定電位を示す。
A g +CQ−SA g CO,+ e−−(1)2
Ag+LOH−SAgzO+HzO+Le=・12)電
極本体下部液絡中にはKCQ水溶液等の電導性の電解質
水溶液が内部液として封入されており。
Ag+LOH−SAgzO+HzO+Le=・12)電
極本体下部液絡中にはKCQ水溶液等の電導性の電解質
水溶液が内部液として封入されており。
液絡室8の液絡プラグ8Δ、8B、及びこの内部液中を
一イオンが通過することにより、電極棒と試料水との間
の導通が保たれる。
一イオンが通過することにより、電極棒と試料水との間
の導通が保たれる。
第2図で示した参照電極は、高温の試料水中で材料が示
す電位を測定するために使用される。第3図には、電位
測定の概要を模式的に示した。試料水溶液14中には導
線23に接続された被検試料24及び参照電極全体21
が浸漬される。電極棒、及び導線は、絶縁性チューブ2
及び絶縁性シール4で相互に絶縁されており、これらは
電位差計22を介してのみ導通している。温度が一定の
時、被検試料は試料水に対して一定の電位を示す。
す電位を測定するために使用される。第3図には、電位
測定の概要を模式的に示した。試料水溶液14中には導
線23に接続された被検試料24及び参照電極全体21
が浸漬される。電極棒、及び導線は、絶縁性チューブ2
及び絶縁性シール4で相互に絶縁されており、これらは
電位差計22を介してのみ導通している。温度が一定の
時、被検試料は試料水に対して一定の電位を示す。
この電位が測定の対象である。一方、参照電極の電極棒
は電解液の組成1例えば濃度、温度等が一定の時、N、
解液に対して熱力学的に求めることのできる一定電位を
を示す、第3図の測定に於て、電位差計で測定される実
測電域、EZは電極棒と電解液との間の電位差、Eaは
試料水と被検試料との間の電位差である。Elは電位差
計により実測され、EZは熱力学的に評価しうるので被
検試料の試料水に対する電位Eaを評価しうる。
は電解液の組成1例えば濃度、温度等が一定の時、N、
解液に対して熱力学的に求めることのできる一定電位を
を示す、第3図の測定に於て、電位差計で測定される実
測電域、EZは電極棒と電解液との間の電位差、Eaは
試料水と被検試料との間の電位差である。Elは電位差
計により実測され、EZは熱力学的に評価しうるので被
検試料の試料水に対する電位Eaを評価しうる。
然しなから実際には、組成、濃度が異なる水溶液同士が
接する界面には液間電位と呼ばれる式(3)で表わされ
る電位が発生する。
接する界面には液間電位と呼ばれる式(3)で表わされ
る電位が発生する。
ここで、Eは液間電位、Rはガス定数、Tは温度、Fは
ファラデ一定数、TIは互いに接触している水溶液r、
ttに含まれる荷電成分iの輸率、ZIは荷電成分iの
電荷、そしてal は荷電成分iの活量であるeat及
びalは、水溶液1.Ifに於ける荷電成分iの活量で
ある。
ファラデ一定数、TIは互いに接触している水溶液r、
ttに含まれる荷電成分iの輸率、ZIは荷電成分iの
電荷、そしてal は荷電成分iの活量であるeat及
びalは、水溶液1.Ifに於ける荷電成分iの活量で
ある。
第3図では、電解液と内部液の界面である液絡プラグ8
A付近、及び内部液と試料水の接する界面である液絡プ
ラグ8B付近に、液間電位が発生し、電位測定結果に誤
差を生ずる。第5図に、この場合の、各部電位を示した
。同図で、Eaは電解液と内部液の界面に発生する液間
電位、Eδは内部液と試料水との間に発生する液間電位
である。
A付近、及び内部液と試料水の接する界面である液絡プ
ラグ8B付近に、液間電位が発生し、電位測定結果に誤
差を生ずる。第5図に、この場合の、各部電位を示した
。同図で、Eaは電解液と内部液の界面に発生する液間
電位、Eδは内部液と試料水との間に発生する液間電位
である。
これらの電位のために、電位差計で測定される電位El
は変化し、被検試料電位を正確に評価することは困難と
なる。
は変化し、被検試料電位を正確に評価することは困難と
なる。
第6図には、電位測定の際、液間電位により生ずる誤差
について実測した一例を示す。同図の実測値は、I]2
を含む中性の試料水中に白金を浸漬し、参照電極を用い
て電位を測定したものである。
について実測した一例を示す。同図の実測値は、I]2
を含む中性の試料水中に白金を浸漬し、参照電極を用い
て電位を測定したものである。
この白金の電位は、熱力学的に計算することができる。
これを図中に破線で示した。両者の差が液間電位に」λ
づく誤差に相当する。第6図及び式(3)から判るよう
に、液間電位は温度と共に増大するため、この誤差は、
試料水の温度上昇と共にに増大し、 fll’J定f1
’を度を減少させる。−に記は試料水中に参照電極が浸
漬される例で説明したが、参照電極が荷電成分を溶解す
る試料水溶液に浸漬される場合でも、内部液と試料水溶
液の組成、a度が異なる場合、同様に、この界面に液間
電位が発生し、測定誤差を生ずる。
づく誤差に相当する。第6図及び式(3)から判るよう
に、液間電位は温度と共に増大するため、この誤差は、
試料水の温度上昇と共にに増大し、 fll’J定f1
’を度を減少させる。−に記は試料水中に参照電極が浸
漬される例で説明したが、参照電極が荷電成分を溶解す
る試料水溶液に浸漬される場合でも、内部液と試料水溶
液の組成、a度が異なる場合、同様に、この界面に液間
電位が発生し、測定誤差を生ずる。
上記の様に、従来技術の参照電極は、試料水と液絡内部
液との界面、或いは、電解液と内部液との界面に液間電
位を生ずるその結果、電位測定結果はこの液間電位の寄
与分の誤差を含み、正しい被検試料の電位測定ができな
いという問題があった。
液との界面、或いは、電解液と内部液との界面に液間電
位を生ずるその結果、電位測定結果はこの液間電位の寄
与分の誤差を含み、正しい被検試料の電位測定ができな
いという問題があった。
本発明の目的は、液絡部の液間電位を除去、或いは低減
しこれにより生ずる誤差を低減することにより、被検試
料の電位を精度良く測定できる方法及びそれに使用され
る参照電極を提供するにある。
しこれにより生ずる誤差を低減することにより、被検試
料の電位を精度良く測定できる方法及びそれに使用され
る参照電極を提供するにある。
」二記[1的は、(a)電解液と、(b)この中に浸漬
され〃、かつその表面の一部ないし全面に金属塩又は金
属酸化物を有する電極棒、(c)前記(a)及び(b)
を封入してなる電極槽及び(d)内部に導電性の内部液
を封入し、一端が前記電極槽内の電解液、他端が4電性
の試料水と接し、これらの液体が連絡するように取付け
られ、前記電解液と前記試料水との間の導通を保つ液絡
室を主たる構成要素とする参照電極を用いて電位を測定
する方法において、前記内部液として、前記試料水と同
一ないし近似した組成の液を用いる方法により、又。
され〃、かつその表面の一部ないし全面に金属塩又は金
属酸化物を有する電極棒、(c)前記(a)及び(b)
を封入してなる電極槽及び(d)内部に導電性の内部液
を封入し、一端が前記電極槽内の電解液、他端が4電性
の試料水と接し、これらの液体が連絡するように取付け
られ、前記電解液と前記試料水との間の導通を保つ液絡
室を主たる構成要素とする参照電極を用いて電位を測定
する方法において、前記内部液として、前記試料水と同
一ないし近似した組成の液を用いる方法により、又。
効果的には、(a)電解液と、(b)この中に浸漬され
1.かつその表面の一部ないし全面に金属塩又は金属酸
化物を有する電極棒、(c)前記(a)及び(b)を封
入してなる電極槽及び(d)内部に導電性の内部液を封
入し、一端が前記電極槽内の電解液、他端が導電性の試
料水と接し、これらの液体が連絡するように取付けられ
、前記電解液と前記試料水との間の導通を保つ液絡室を
主たる構成要素とする参照??!極おいて、前記液絡室
又は電極槽の外周の一部に冷却手段を設けた参照電極を
用いることにより達成される。
1.かつその表面の一部ないし全面に金属塩又は金属酸
化物を有する電極棒、(c)前記(a)及び(b)を封
入してなる電極槽及び(d)内部に導電性の内部液を封
入し、一端が前記電極槽内の電解液、他端が導電性の試
料水と接し、これらの液体が連絡するように取付けられ
、前記電解液と前記試料水との間の導通を保つ液絡室を
主たる構成要素とする参照??!極おいて、前記液絡室
又は電極槽の外周の一部に冷却手段を設けた参照電極を
用いることにより達成される。
上記の液絡室の内部液として、試料水と同じ組成、a度
を有する液体が充填されているので、内部液と試料水の
間に1組成例えば成分構成或いは濃度の差異が無く、従
って、内部液と試料水との間には、両者の組成が異なる
ことに起因して生じる、液間電位が発生しないにのため
、液間電位に起因して生ずる電位測定上の誤差を除くこ
とができる。ここで、試料水とは、純水のみならず、電
解質等の荷電成分を含む水溶液、或いは、荷電成分を含
む有機、無機溶液、或いは、自身が解離して荷電成分を
生ずる無機、有機純物質の液体。
を有する液体が充填されているので、内部液と試料水の
間に1組成例えば成分構成或いは濃度の差異が無く、従
って、内部液と試料水との間には、両者の組成が異なる
ことに起因して生じる、液間電位が発生しないにのため
、液間電位に起因して生ずる電位測定上の誤差を除くこ
とができる。ここで、試料水とは、純水のみならず、電
解質等の荷電成分を含む水溶液、或いは、荷電成分を含
む有機、無機溶液、或いは、自身が解離して荷電成分を
生ずる無機、有機純物質の液体。
或いは左記に示した溶液、純物質液体の混合液でも良い
。以下、試料水とはこれらを含むものとするにの場合、
内部液には、上記の水溶液、有機。
。以下、試料水とはこれらを含むものとするにの場合、
内部液には、上記の水溶液、有機。
無機溶液、有機無機純物質液体、或いはこれらの混合液
と、組成が同じである液体を充填する。また、上記は内
部液には試料水と同一の組成を有する液体を充填するも
のとしたが、内部液としては、発生する液間電位が、電
位11111定精度により許容される範囲内となる、試
料水と適度に組成が近い液体を充填しても良い。
と、組成が同じである液体を充填する。また、上記は内
部液には試料水と同一の組成を有する液体を充填するも
のとしたが、内部液としては、発生する液間電位が、電
位11111定精度により許容される範囲内となる、試
料水と適度に組成が近い液体を充填しても良い。
一方、内部液と電解液との界面にも液間電位が生ずるが
、この部分は、内部液を充填する液絡室の外周に、内部
液と電解液との界面を冷却することを目的とした。冷却
水を通水する冷却槽、或いは冷却フィン等の冷却手段を
設けることにより、低温に冷却し1式(3)或いは第6
図に示す如く。
、この部分は、内部液を充填する液絡室の外周に、内部
液と電解液との界面を冷却することを目的とした。冷却
水を通水する冷却槽、或いは冷却フィン等の冷却手段を
設けることにより、低温に冷却し1式(3)或いは第6
図に示す如く。
この液間電位を減少させることができる。
以上により、試料水と内部液との界面の液間電位を除去
するとともに、内部液と電解液との間の界面の、液間電
位を減少させることができるので、これらに起因する測
定誤差を減少させることができる。
するとともに、内部液と電解液との間の界面の、液間電
位を減少させることができるので、これらに起因する測
定誤差を減少させることができる。
以下、本発明の実施例を第1図ないし第7図を用いて説
明する。
明する。
第1図は、本発明の一実施例になる参照電極の代表的な
実施例を示す断面図である。金属塩又は金属酸化物6を
付着させた電極棒1は、絶縁チューブ2に挿入され、電
極槽5内に充填された電解用いられ、これに対する電極
棒としては、Ag棒、電解液としては、AgCQに対し
ては例えばK CD、 、 N a CQ 、 L i
CQ水溶液、AgzOに対しては、例えばKOH,N
aOH,Li○ト■水溶液が用いられる。?I!ti棒
は、式(1)式(2)の電気化学反応により、温度及び
電解液内成分濃度に応じて、熱力学的に定まる一定電位
を示す6電極槽5は、セラミック、ステンレス鋼等の金
属。
実施例を示す断面図である。金属塩又は金属酸化物6を
付着させた電極棒1は、絶縁チューブ2に挿入され、電
極槽5内に充填された電解用いられ、これに対する電極
棒としては、Ag棒、電解液としては、AgCQに対し
ては例えばK CD、 、 N a CQ 、 L i
CQ水溶液、AgzOに対しては、例えばKOH,N
aOH,Li○ト■水溶液が用いられる。?I!ti棒
は、式(1)式(2)の電気化学反応により、温度及び
電解液内成分濃度に応じて、熱力学的に定まる一定電位
を示す6電極槽5は、セラミック、ステンレス鋼等の金
属。
或いは、内部を四ふつ化エチレンMi4脂等の高分子で
被覆した金属等で製作される。また、シール材4は、四
ふつ化エチレン樹脂等の高分子、或いはセラミック等で
製作される。電極槽には、内部に。
被覆した金属等で製作される。また、シール材4は、四
ふつ化エチレン樹脂等の高分子、或いはセラミック等で
製作される。電極槽には、内部に。
内部液11を充填した液絡室15が取り付けられている
。この液絡室の上端には、多孔性の液絡プラグ8Aが取
り付けられている。電解液と内部液は直接混合はしない
がこの液絡プラグを通じて、電解液と内部液は連絡して
おり、電解液、及び内13内に満たされた試料水溶液1
4中に浸漬される。この液絡室の下端には、上端と同様
に多孔性の液絡プラグ8Bが取り付けられており、この
内部を内部液と試料水溶液内の荷電成分が移動すること
により、内部液と試料水溶液の間の導通が保たれる。内
部液としては、試料水溶液と組成即ぢ、成分構成又はそ
れらのa度が等しいか、或いはこれらが極めて近似した
水溶液を用いる6例えば。
。この液絡室の上端には、多孔性の液絡プラグ8Aが取
り付けられている。電解液と内部液は直接混合はしない
がこの液絡プラグを通じて、電解液と内部液は連絡して
おり、電解液、及び内13内に満たされた試料水溶液1
4中に浸漬される。この液絡室の下端には、上端と同様
に多孔性の液絡プラグ8Bが取り付けられており、この
内部を内部液と試料水溶液内の荷電成分が移動すること
により、内部液と試料水溶液の間の導通が保たれる。内
部液としては、試料水溶液と組成即ぢ、成分構成又はそ
れらのa度が等しいか、或いはこれらが極めて近似した
水溶液を用いる6例えば。
試料水溶液が1moQ/QKCQ水溶液の場合、内部液
にも1moQ、/(、Kc店氷水溶液用いる。また。
にも1moQ、/(、Kc店氷水溶液用いる。また。
試験槽に満たされている試料水溶液が、水溶液では無く
、純水である場合も1本発明は適用可能であり、この場
合内部液として純水が用いられる。
、純水である場合も1本発明は適用可能であり、この場
合内部液として純水が用いられる。
液絡室としては1例えば四ふつ化エチレン樹脂等の高分
子、セラミック、金属、或いは、四ふつ化エチレン樹脂
等の高分子で内面を被覆した金属等が用いられる6液絡
プラグは1例えば多孔性のセラミック等を用いて製作さ
れる。電極槽及び液絡室は支持台16により、試験槽に
取り付けられる。
子、セラミック、金属、或いは、四ふつ化エチレン樹脂
等の高分子で内面を被覆した金属等が用いられる6液絡
プラグは1例えば多孔性のセラミック等を用いて製作さ
れる。電極槽及び液絡室は支持台16により、試験槽に
取り付けられる。
この時、′+1!極槽、及び電解液と内部液との界面で
ある液絡プラグ8Aは、試験槽外部に位置するよう配置
される。上記の試験槽、及び液絡プラグ下部の支持台に
は、冷却槽10aが取り付けられる。
ある液絡プラグ8Aは、試験槽外部に位置するよう配置
される。上記の試験槽、及び液絡プラグ下部の支持台に
は、冷却槽10aが取り付けられる。
支持台はそして、冷却槽10aに設けられた冷却媒体を
通す孔例えば水などを通するための通水孔9Δ、9T3
を通して冷却水12などにより冷却され、電解液及び液
絡プラグは試料水溶液温度以下に保たれる6 内部液は試料水溶液と同一組成であるので、これらの界
面には液間電位が発生しない。また、電解液と内部液の
界面は、低温に冷却されているので、高温の試料水溶液
中で電位測定を実施する際にも、上記界面に生ずる液間
電位を極めて小さい値に減少させることができる6 本実施例では、金属塩、金属酸化物を付着させた電極棒
として、AgCQ或いはAgzOを付着させた銀棒を用
いて説明したが、これは例えばAgBr、AgI、Ag
zS○4.Ag5PO*を付着させた銀棒等でも良い。
通す孔例えば水などを通するための通水孔9Δ、9T3
を通して冷却水12などにより冷却され、電解液及び液
絡プラグは試料水溶液温度以下に保たれる6 内部液は試料水溶液と同一組成であるので、これらの界
面には液間電位が発生しない。また、電解液と内部液の
界面は、低温に冷却されているので、高温の試料水溶液
中で電位測定を実施する際にも、上記界面に生ずる液間
電位を極めて小さい値に減少させることができる6 本実施例では、金属塩、金属酸化物を付着させた電極棒
として、AgCQ或いはAgzOを付着させた銀棒を用
いて説明したが、これは例えばAgBr、AgI、Ag
zS○4.Ag5PO*を付着させた銀棒等でも良い。
この時、電解液はそれぞれ、Br−、I−、SO42−
、PO4’−等を含む水溶液となる。また、i!極捧と
して金、銀、白金等の棒を用い、この先端を、表面にI
−I g SO2゜Hg○等を付着させた水銀、或いは
、Pb5Oi 。
、PO4’−等を含む水溶液となる。また、i!極捧と
して金、銀、白金等の棒を用い、この先端を、表面にI
−I g SO2゜Hg○等を付着させた水銀、或いは
、Pb5Oi 。
PbO等を付着させた鉛に接触させても良い。この時、
電解液はそれぞれ、SOa”−、○H−イオンを含む水
溶液を用いる。また、液絡プラグとして多孔性セラミッ
クを使用したが、これは例えば、細孔を穿った。高分子
のプラグ等でも良い。
電解液はそれぞれ、SOa”−、○H−イオンを含む水
溶液を用いる。また、液絡プラグとして多孔性セラミッ
クを使用したが、これは例えば、細孔を穿った。高分子
のプラグ等でも良い。
以上、本実施例によれば、試料水溶液と液絡内部液の界
面、及び内部液と電解液の界面の液間電位により生ずる
測定誤差を、大幅に低減した参照電極を供しうる効果が
ある。
面、及び内部液と電解液の界面の液間電位により生ずる
測定誤差を、大幅に低減した参照電極を供しうる効果が
ある。
第1図の実施例1は、液絡プラグ8Aを通じ。
電解液中の荷電成分が内部液中に拡散する。このため、
長時間測定時には内部液の組成が変化し、試料水溶液と
内部液界面に液間電位が発生する様になる。同様に、電
解液中にも内部液の荷電成分が拡散し、その組成、濃度
を変化させ、電極棒電位を変化させ、 1llll定上
の誤差を生ずる。
長時間測定時には内部液の組成が変化し、試料水溶液と
内部液界面に液間電位が発生する様になる。同様に、電
解液中にも内部液の荷電成分が拡散し、その組成、濃度
を変化させ、電極棒電位を変化させ、 1llll定上
の誤差を生ずる。
第7図に、この点を改善した。長時間にわたる電位測定
に好適な、別の実施例を示す、第7図の実施例では、f
I!極槽5の内部に内部槽25A、及び25Bが設置さ
れる。この内部M25Aには電解液7Δが充填され、こ
の中に、金属塩及び金属酸化物6を付着させた電極棒1
が浸漬される。内部槽25Bには、電解液7Δと同じ組
成を有する電解液7Bが充填される。内部槽25Δ、及
び25Bと、電極槽5との間の空隙には、試料水溶液1
4.及び内部液11と同一の組成を有する内部液LIA
が充填される。電解液7Aと7Bの境界、及び電解液7
Bと内部液11Aとの境界には。
に好適な、別の実施例を示す、第7図の実施例では、f
I!極槽5の内部に内部槽25A、及び25Bが設置さ
れる。この内部M25Aには電解液7Δが充填され、こ
の中に、金属塩及び金属酸化物6を付着させた電極棒1
が浸漬される。内部槽25Bには、電解液7Δと同じ組
成を有する電解液7Bが充填される。内部槽25Δ、及
び25Bと、電極槽5との間の空隙には、試料水溶液1
4.及び内部液11と同一の組成を有する内部液LIA
が充填される。電解液7Aと7Bの境界、及び電解液7
Bと内部液11Aとの境界には。
多孔性の液絡プラグ8D、8Gが取り付けられる。
内部液11Aと電解液7A、7Bとはこの液絡プラグを
通して通路しており、内部液、電解液に含まれる荷電成
分はこれを通じて拡散するため、これらの液体の間に導
通が保たれるが、これらの液体が直接混合することはな
い。この他の構造は。
通して通路しており、内部液、電解液に含まれる荷電成
分はこれを通じて拡散するため、これらの液体の間に導
通が保たれるが、これらの液体が直接混合することはな
い。この他の構造は。
第1図に示した実施例と同じである。内部4vF25A
。
。
25Bは1例えば、セラミック、金属、高分子材料、或
いは内面を高分子材料で被覆した金属等を用いて製作さ
れる。また、液絡プラグ8C,8Dは1例えば多孔性セ
ラミック等で製作される。
いは内面を高分子材料で被覆した金属等を用いて製作さ
れる。また、液絡プラグ8C,8Dは1例えば多孔性セ
ラミック等で製作される。
電解液7Aと7Bは同一組成であるため、この電解液間
に液間電位は生じない、また、内部液11Δ、11及び
試料水溶液14の組成は同一であるため、これらの間の
液間電位も生じない、内部液11Aと電解液7B間には
液ff[1ffi位が発生するが、この部分は低温部に
配置されているため。
に液間電位は生じない、また、内部液11Δ、11及び
試料水溶液14の組成は同一であるため、これらの間の
液間電位も生じない、内部液11Aと電解液7B間には
液ff[1ffi位が発生するが、この部分は低温部に
配置されているため。
発生する液間電位は小さい。
長期間測定を実施すると電解液7B内の荷電成分は内部
液11A内に拡散していくが、これはこの内部液11Δ
内で希釈され、直接、液絡15内の内部液11内に拡散
はしない、このため、電解液中の荷電成分が、内部液1
1中に拡散し、内部液11の組成を変化させて、高温の
試料水溶液とこの内部液1−1の間に、液間電位を生ず
る効果を、緩和することができる。一方、内部液11A
は直接、Wi極捧を浸した電解液7A中には拡散せず、
最初に内部槽25B内の電解液7B中に拡散するため、
内部液の溶媒や、内部液内に含まれる成分が、電解液7
A中に侵入し、電極棒1の電位を変動させる効果を低減
することができる。
液11A内に拡散していくが、これはこの内部液11Δ
内で希釈され、直接、液絡15内の内部液11内に拡散
はしない、このため、電解液中の荷電成分が、内部液1
1中に拡散し、内部液11の組成を変化させて、高温の
試料水溶液とこの内部液1−1の間に、液間電位を生ず
る効果を、緩和することができる。一方、内部液11A
は直接、Wi極捧を浸した電解液7A中には拡散せず、
最初に内部槽25B内の電解液7B中に拡散するため、
内部液の溶媒や、内部液内に含まれる成分が、電解液7
A中に侵入し、電極棒1の電位を変動させる効果を低減
することができる。
以上5本実施例によれば、長期間測定実施時にも、液間
電位発生、電極棒電位変動等に基づく測定誤差を生じに
くい参照電極を供しうる効果がある。
電位発生、電極棒電位変動等に基づく測定誤差を生じに
くい参照電極を供しうる効果がある。
第8図には、本発明の別の実施例を示す。この実施例は
、第1図の実施例と電極の基本構成は同一であるが、内
部液11と電解液7との界面である液絡プラグ8Aを冷
却する手段として、支持台16周囲に、空冷用の冷却フ
ィン10bを設けた点が異なっている。冷却フィンの機
能は第1図の実施例の、冷却槽とほぼ同じであるが、冷
却を行うのに、冷却水供給設備等の付帯設備が不要とな
る。上記参照電極によれば、冷却水供給に必要な付帯設
備が不要となる。また、従って、冷却水の供給が困難な
場所でも使用することができる。
、第1図の実施例と電極の基本構成は同一であるが、内
部液11と電解液7との界面である液絡プラグ8Aを冷
却する手段として、支持台16周囲に、空冷用の冷却フ
ィン10bを設けた点が異なっている。冷却フィンの機
能は第1図の実施例の、冷却槽とほぼ同じであるが、冷
却を行うのに、冷却水供給設備等の付帯設備が不要とな
る。上記参照電極によれば、冷却水供給に必要な付帯設
備が不要となる。また、従って、冷却水の供給が困難な
場所でも使用することができる。
第1図、第7図の実施例では、液絡プラグ8Bを用いて
、試料水溶液と内部液の間の境界を画し、除き、試料液
が直接、液絡室内部に導入される構造としても良い。
、試料水溶液と内部液の間の境界を画し、除き、試料液
が直接、液絡室内部に導入される構造としても良い。
以上の様に、本発明によれば、液絡内部に充填される内
部液と、これに接する試料液との間に液間電位が発生す
ることを長期間にわたり防止し、また、」二記内部液と
電解液とが接する界面に生ずる液間電位を低減させるこ
とができるので、これらの液間電位に起因して生じてい
た。電位測定上の誤差を、大幅に低減し、長期間高精度
で電位測定をすることが可能である。
部液と、これに接する試料液との間に液間電位が発生す
ることを長期間にわたり防止し、また、」二記内部液と
電解液とが接する界面に生ずる液間電位を低減させるこ
とができるので、これらの液間電位に起因して生じてい
た。電位測定上の誤差を、大幅に低減し、長期間高精度
で電位測定をすることが可能である。
第1図は本発明の参照電極の1代表的な実施例を示す縦
断面図、第2図は参照電極の公知例を示す縦断面図、第
3図は参照電極を用いた電位測定の概要を示す図、第4
図及び第5図は参照電極を用い、被検試料の電位を測定
する際、各部に生ずる電位差を示す図、第6図は液間電
位の測定例を示す図、第7図及び第8図は本発明の参照
f!!極の別の実施例を示す縦断面図である。 1・・・電極棒、2・・・チューブ、3・・・蓋、4・
・・シール材、5・・・電極槽、6・・・金属塩または
金属酸化物。 7.7A、7B・・・電解液、8A、8B、8G。 8D・・・液絡プラグ、OA、9B・・・通水孔、10
a・・・冷却槽、10b・・・冷却フィン、11.II
A・・・内部液、12・・・冷却水、13・・・試験槽
、14・・・試料水溶液、15・・・液絡室、16・・
・支持台、17・・・座金、18A、18B・・・支持
蓋、19・・・金属片、20・・・試料水、21・・・
参照電極全体、22・・・電位差計、23・・・導線、
24・・・被検試料、25A。 第1m −l\−/4 □ − 猥2図 第3m 第4−口 め51 沿す圀 、4度 (’C) 第′7m
断面図、第2図は参照電極の公知例を示す縦断面図、第
3図は参照電極を用いた電位測定の概要を示す図、第4
図及び第5図は参照電極を用い、被検試料の電位を測定
する際、各部に生ずる電位差を示す図、第6図は液間電
位の測定例を示す図、第7図及び第8図は本発明の参照
f!!極の別の実施例を示す縦断面図である。 1・・・電極棒、2・・・チューブ、3・・・蓋、4・
・・シール材、5・・・電極槽、6・・・金属塩または
金属酸化物。 7.7A、7B・・・電解液、8A、8B、8G。 8D・・・液絡プラグ、OA、9B・・・通水孔、10
a・・・冷却槽、10b・・・冷却フィン、11.II
A・・・内部液、12・・・冷却水、13・・・試験槽
、14・・・試料水溶液、15・・・液絡室、16・・
・支持台、17・・・座金、18A、18B・・・支持
蓋、19・・・金属片、20・・・試料水、21・・・
参照電極全体、22・・・電位差計、23・・・導線、
24・・・被検試料、25A。 第1m −l\−/4 □ − 猥2図 第3m 第4−口 め51 沿す圀 、4度 (’C) 第′7m
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、(a)電解液と、(b)この中に浸漬され、かつそ
の表面の一部ないし全面に金属塩又は金属酸化物を有す
る電極棒、(c)前記(a)及び(b)を封入してなる
電極槽及び(d)内部に導電性の内部液を封入し、一端
が前記電極槽内の電解液、他端が導電性の試料水と接し
、これらの液体が連絡するように取付けられ、前記電解
液と前記試料水との間の導通を保つ液絡室を主たる構成
要素とする参照電極を用いて電位を測定する方法におい
て、前記内部液として、前記試料水と同一ないし近似し
た組成の液を用いることを特徴とする電位測定方法。 2、内部液を試料水よりも低温に保って測定することを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電位測定方法。 3、(a)電解液と、(b)この中に浸漬され、かつそ
の表面の一部ないし全面に金属塩又は金属酸化物を有す
る電極棒、(c)前記(a)及び(b)を封入してなる
電極槽及び(d)内部に導電性の内部液を封入し、一端
が前記電極槽内の電解液、他端が導電性の試料水と接し
、これらの液体が連絡するように取付けられ、前記電解
液と前記試料水との間の導通を保つ液絡室を主たる構成
要素とする参照電極において、前記液絡室又は電極槽の
外周の一部に冷却手段を設けたことを特徴とする参照電
極。 4、前記冷却手段が冷却媒体を通すための冷却槽である
ことを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の参照電極
。 5、前記冷却手段が冷却フィンであることを特徴とする
特許請求の範囲第3項記載の参照電極。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8412286A JPS62240850A (ja) | 1986-04-14 | 1986-04-14 | 電位測定方法及びそれに使用される参照電極 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8412286A JPS62240850A (ja) | 1986-04-14 | 1986-04-14 | 電位測定方法及びそれに使用される参照電極 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62240850A true JPS62240850A (ja) | 1987-10-21 |
Family
ID=13821711
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8412286A Pending JPS62240850A (ja) | 1986-04-14 | 1986-04-14 | 電位測定方法及びそれに使用される参照電極 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62240850A (ja) |
-
1986
- 1986-04-14 JP JP8412286A patent/JPS62240850A/ja active Pending
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