JPS622153A - Defect inspection by laser irradiation - Google Patents
Defect inspection by laser irradiationInfo
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- JPS622153A JPS622153A JP60141837A JP14183785A JPS622153A JP S622153 A JPS622153 A JP S622153A JP 60141837 A JP60141837 A JP 60141837A JP 14183785 A JP14183785 A JP 14183785A JP S622153 A JPS622153 A JP S622153A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、蒸気タービン、ボイラ、船舶、原子カプラン
ト、航空機、ロケット及び自動車など各種機械、及び構
造物などの部品及び製品の欠陥検査に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to defect inspection of parts and products such as various machines and structures such as steam turbines, boilers, ships, nuclear couplants, aircraft, rockets, and automobiles.
従来一般に各種機械、構造物の欠陥検査は超音波探傷法
が用いられており、第3図につ(・て従来技術を説明す
る。Conventionally, ultrasonic flaw detection has been generally used to inspect defects in various machines and structures, and the conventional technique will be explained with reference to FIG.
01は被測定物、02はその欠陥でクラック、ボイド及
び不純物などである。03は水晶やチタン酸バリウムな
どを用いた探触子で、超音波を発生して被測定物01内
に送信し、かつ反射波を受信して電気信号に交換して増
幅器07に送信する。01 is the object to be measured, and 02 is its defects such as cracks, voids, and impurities. 03 is a probe using crystal, barium titanate, etc., which generates ultrasonic waves and transmits them into the object to be measured 01, receives reflected waves, exchanges them into electrical signals, and transmits them to the amplifier 07.
04は接触媒質で、通常油や水が使用される。05は同
期信号発生器で、パルス電圧を発生して探触子駆動装置
06及び信号記録装置08に同期信号を送信する。06
は探触子駆動装置で、探触子に高周波パルスを送信して
超音波を発生させる。04 is a couplant, and oil or water is usually used. A synchronization signal generator 05 generates a pulse voltage and transmits a synchronization signal to the probe driving device 06 and the signal recording device 08. 06
is a probe drive device that sends high-frequency pulses to the probe to generate ultrasonic waves.
07は増幅器で、上記探触子03の検出した超音波信号
を増幅して信号記録装置08に送信する。08は信号記
録装置で、同期信号発生器05より送信の同期信号によ
り作動して上記探触子03から送信の電気信号を記録表
示する。An amplifier 07 amplifies the ultrasonic signal detected by the probe 03 and transmits it to the signal recording device 08. Reference numeral 08 denotes a signal recording device which is activated by a synchronization signal transmitted from the synchronization signal generator 05 to record and display the electric signal transmitted from the probe 03.
この装置において、同期信号発生器05で発生した同期
信号を探触子駆動装置06及び信号記録装置08に送信
する。探触子駆動装置06は上記同期信号に同期した高
周波パルスを発生してその電圧を探触子03に印加する
。探触子03は高周波パルス電圧を印加されると超音波
パルスを発生し、接触媒質04を介して被測定物01に
送信する。In this device, a synchronization signal generated by a synchronization signal generator 05 is transmitted to a probe driving device 06 and a signal recording device 08. The probe driving device 06 generates a high frequency pulse synchronized with the synchronization signal and applies the voltage to the probe 03. When a high-frequency pulse voltage is applied to the probe 03, the probe 03 generates an ultrasonic pulse and transmits it to the object to be measured 01 via the couplant material 04.
なお接触媒質04の中に空気があると超音波の強度が著
しく減衰するので適度に接触媒質04を塗布する必要が
ある。また探触子は水晶やチタン酸バリウムなどの圧電
素子が用いられ、サイズは5φないし10鏝以上である
。Note that if there is air in the couplant 04, the intensity of the ultrasonic wave will be significantly attenuated, so it is necessary to apply the couplant 04 appropriately. A piezoelectric element such as crystal or barium titanate is used for the probe, and the size is 5φ to 10 or more.
探触子03より送信された超音波は被測定物の中を伝播
し、その端面で反射されて再び接触媒質04を介して探
触子03に戻ってくるが、もしもその途中すなわち被測
定物の内部にクラックやボイドあるいは不純物などの欠
陥02が存在すると、上記超音波の一部分はそこで反射
されて、上記接触媒質04を介して、探触子03に戻っ
てくる。探触子03は上記欠陥02及び端面からの反射
波を受信すると、その超音波の強度に比例した電圧を発
生して増幅器07に送信する。増幅器07は入力された
信号を増幅して信号記録装置08に送信する。信号記録
装置08は上記増幅器07経由の探触子03受信々号を
、上記同期信号発生器05から送信の同期信号を用いて
記録表示する。The ultrasonic waves transmitted from the probe 03 propagate through the object to be measured, are reflected at the end face, and return to the probe 03 via the couplant material 04. If a defect 02 such as a crack, void, or impurity exists inside the probe 02, a portion of the ultrasonic wave is reflected there and returns to the probe 03 via the couplant 04. When the probe 03 receives the reflected waves from the defect 02 and the end face, it generates a voltage proportional to the intensity of the ultrasonic wave and transmits it to the amplifier 07 . The amplifier 07 amplifies the input signal and transmits it to the signal recording device 08. The signal recording device 08 records and displays the signal received by the probe 03 via the amplifier 07 using the synchronization signal transmitted from the synchronization signal generator 05.
この方法による測定結果の一例を第4図(a)。An example of the measurement results obtained by this method is shown in FIG. 4(a).
fblに示す。同図(alは欠陥が無い場合で、送信超
音波信号Tと被測定物端面からの反射波Bだけの信号が
見られる。同図(blは欠陥がある場合で送信超音波T
と被測定物端面からの反射波Bの中間に欠陥からの反射
波Fが現われている。Shown in fbl. In the same figure (al is the case where there is no defect, and only the transmitted ultrasonic signal T and the reflected wave B from the end face of the object to be measured can be seen. In the same figure (bl is the case where there is a defect, and the transmitted ultrasonic signal T
A reflected wave F from the defect appears between the reflected wave B from the end face of the object to be measured.
しかしながら従来法には次のような問題点がある。 However, the conventional method has the following problems.
(イ)探触子を被測定物に接触させる必要があるため、
タービンロータなど回転中の物体への適用は非常に困難
である。(b) Since it is necessary to bring the probe into contact with the object to be measured,
Application to rotating objects such as turbine rotors is extremely difficult.
(ロ)またボイラ及び船舶など大型構造物を対象とする
場合には計測者用の足場の設営などの準備作業が必要で
検査時間がぼう大になる。(b) In addition, when large structures such as boilers and ships are targeted, preparatory work such as setting up scaffolding for the measurer is required, which increases the inspection time.
(ハ)歯車の歯元及びブレードの翼根など曲率の小さい
機械部品を対象とする場合には、探触子のサイズが約5
φないし10鏝と大きいために適用できない。(c) When targeting mechanical parts with small curvature, such as the roots of gears and the roots of blades, the size of the probe is approximately 5.
It cannot be applied because it is large, φ to 10 trowels.
本発明は上記事情に鑑み提案されたもので、レーザビー
ムを被測定物に照射してレーザ光を表面近傍で吸収させ
ることにより、熱衝撃波を発生させ、上記熱衝撃波を従
来法での超音波として用い、熱衝撃波の欠陥及び被測定
物端面からの反射波の受信には、反射波によって起こる
被測定物の微少隆起振動なレーザ速度計で検出する方法
を提供する。The present invention was proposed in view of the above circumstances, and by irradiating the object with a laser beam and absorbing the laser beam near the surface, a thermal shock wave is generated. In order to receive thermal shock wave defects and reflected waves from the end face of the measured object, we provide a method for detecting minute bump vibrations of the measured object caused by the reflected waves using a laser velocimeter.
本発明方法の一実施例を第1図及び第2図について説明
する。第1図において、1は被測定物で、2は欠陥であ
る。3はパルスレーザ装置で、■パルス当り数IQmJ
〜数100mJのエネルギーのパルスレーザ光を数10
〜数1,000 Hzの周波数範囲で発生するもので、
例えばYAC)レーザである。この装置は後述の同期信
号発生装置8からの信号に同期してパルスレーザ光を発
生する。An embodiment of the method of the invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. In FIG. 1, 1 is an object to be measured and 2 is a defect. 3 is a pulse laser device, ■Number of IQmJ per pulse
~Several 10 pulsed laser beams with energy of several 100 mJ
It occurs in the frequency range of ~1,000 Hz,
For example, a YAC) laser. This device generates pulsed laser light in synchronization with a signal from a synchronization signal generator 8, which will be described later.
4は第1の集光レンズで、パルスレーザ光を被測定物表
面にスポット状に集光する。5はパルスレーザ光スポッ
トで、エネルギー密度が最大になる。6は熱衝撃波で、
上記パルスレーザ光スポットにより発生する。なおこの
衝撃波の周波数はパルスレーザ光のパルス幅の逆数に比
例する。7は微少隆起振動で、パルスレーザ光照射時及
び熱衝撃波の反射波到達時に発生する。4 is a first condensing lens that condenses the pulsed laser beam into a spot on the surface of the object to be measured. 5 is a pulsed laser beam spot with maximum energy density. 6 is a thermal shock wave,
It is generated by the above-mentioned pulsed laser beam spot. Note that the frequency of this shock wave is proportional to the reciprocal of the pulse width of the pulsed laser beam. Reference numeral 7 indicates a micro-bump vibration, which occurs during irradiation with a pulsed laser beam and when a reflected wave of a thermal shock wave arrives.
8は同期信号発生装置で、コンピュータ9によって制御
されて、同期信号をパルスレーザ装置3及びレーザ速度
計信号処理装置14に送信する。9はコンピュータで、
レーザ速度計信号処理装置14からの出力信号後述のデ
ィスプレイ装置10に表示させたり、後述のXYZステ
ージコントローラ11を制御したり、上記同期信号発生
装置8を制御する。10はディスプレイ装置で、コンピ
ュータ9の出力を表示する。11はXYZステージコン
トローラで、XYZステージをコンピュータ9の制御に
より駆動させる。12はXYZステージで、上記XYZ
ステージコントローラ11によって駆動され被測定物1
を移動させる。Reference numeral 8 denotes a synchronization signal generator, which is controlled by a computer 9 and transmits a synchronization signal to the pulse laser device 3 and the laser speedometer signal processing device 14. 9 is a computer,
The output signal from the laser velocimeter signal processing device 14 is displayed on a display device 10 (described later), controls an XYZ stage controller 11 (described later), and controls the synchronization signal generator 8. A display device 10 displays the output of the computer 9. Reference numeral 11 denotes an XYZ stage controller that drives the XYZ stage under the control of the computer 9. 12 is the XYZ stage, the above XYZ
The object to be measured 1 is driven by the stage controller 11.
move.
13は光電変換器で、入力されだレーザ光の強弱を電気
信号に変換する。14はレーザ速度計信号処理装置で、
上記光電変換器の出力信号を速度信号に変換する。15
は連続波レーザ装置で、レーザ速度計の光源である。な
おここではHa−Neレーザを用いている。16は連続
波レーザのビームである。17はビームスプリッタで、
レーザビームを2本に分ける。18 、19 、20は
それぞれ第1.第2及び第3のミラーでレーザ光を反射
する。21は第2の集光レンズで、レーザ光を上記パル
スレーザ光スポット5の位置に集光する。A photoelectric converter 13 converts the intensity of the input laser light into an electrical signal. 14 is a laser speed meter signal processing device,
The output signal of the photoelectric converter is converted into a speed signal. 15
is a continuous wave laser device, which is the light source of the laser velocimeter. Note that a Ha-Ne laser is used here. 16 is a continuous wave laser beam. 17 is a beam splitter,
Split the laser beam into two. 18, 19, and 20 are the 1st. The laser beam is reflected by the second and third mirrors. A second condenser lens 21 condenses the laser beam onto the pulsed laser beam spot 5.
22は散乱光で、被測定物1の表面の速度の情報をもっ
ている。23は第3の集光レンズで、散乱光22を光電
変換器13に入射させる。22 is scattered light, which has information on the velocity of the surface of the object 1 to be measured. A third condensing lens 23 causes the scattered light 22 to enter the photoelectric converter 13.
この装置の作用を説明すると、パルスレーザ装置3で発
生した周波数fのパルスレーザ光を第1の集光レンズ4
で集光して、パルスレーザ光スポット5として被測定物
1を照射する。そうするとパルスレーザ光のエネルギー
の一部分は被測定物1に吸収されて、熱衝撃波6を発生
する。なおパルスレーザ光のパルス幅は通常数10μ秒
ないし数100μ秒と非常に短かいので、その衝撃波の
周波数は数10 KHzないし数10 MHzである。To explain the operation of this device, the pulsed laser beam of frequency f generated by the pulsed laser device 3 is passed through the first condensing lens 4.
The pulsed laser beam is focused as a pulsed laser beam spot 5 and irradiated onto the object 1 to be measured. Then, a part of the energy of the pulsed laser beam is absorbed by the object to be measured 1, and a thermal shock wave 6 is generated. Note that since the pulse width of the pulsed laser beam is usually very short, from several tens of microseconds to several hundred microseconds, the frequency of the shock wave is from several tens of KHz to several tens of MHz.
上記熱衝撃波6は被測定物1の中をパルスレーザ光スポ
ット5の法線方向に向いて伝播していく。そしてその途
中に欠陥2があれば、衝撃波の一部分は反射波となって
逆方向すなわち、パルスレーザ光スポット5の位置の方
向へ戻って(る。その反射波が被測定物1の表面に到達
すると弾性振動として、微少隆起振動7が発生する。上
記微少隆起振動7は後述の如くレーザ速度計によって測
定されて、反射波の存在が把握される。The thermal shock wave 6 propagates through the object to be measured 1 in the normal direction of the pulsed laser beam spot 5. If there is a defect 2 on the way, a part of the shock wave becomes a reflected wave and returns in the opposite direction, that is, in the direction of the position of the pulsed laser beam spot 5.The reflected wave reaches the surface of the object to be measured 1. Then, a minute bump vibration 7 is generated as an elastic vibration.The minute bump vibration 7 is measured by a laser velocimeter as described later, and the presence of a reflected wave can be ascertained.
他方、上記熱衝撃波6の一部分は欠陥2をまわり込んだ
形あるいは直接的に通過して、被測定物1の裏面に到達
し反射される。その裏面による反射波は上記欠陥からの
反射波と同様に、被測定物1の表面に微少隆起振動を発
生させる。On the other hand, a portion of the thermal shock wave 6 goes around the defect 2 or passes through it directly, reaches the back surface of the object to be measured 1, and is reflected. The reflected wave from the back surface generates minute vibrations on the surface of the object to be measured 1, similar to the reflected waves from the defects described above.
その振動の有無は後述の如くレーザ速度計によって検出
される。The presence or absence of the vibration is detected by a laser velocimeter as described below.
次にレーザ速度計による被測定物1の表面隆起振動の検
出について述べる。連続波レーザ装置15で発生された
レーザビーム16はビームスプリッタ17により等しい
強さの2本のレーザビームに分けられて、一方は第1の
ミラー18、第2のミラー19及び第2の集光レンズ2
1を経由して、パルスレーザ光スポット5の位置に到達
する。Next, detection of surface bump vibrations of the object to be measured 1 using a laser velocimeter will be described. A laser beam 16 generated by a continuous wave laser device 15 is divided into two laser beams of equal intensity by a beam splitter 17, one of which is connected to a first mirror 18, a second mirror 19, and a second condensing beam. lens 2
1, and reaches the position of the pulsed laser beam spot 5.
他方のレーザビームは第2のミラー19及び第2の集光
レンズ21を経由して、上記パルスレーザ光スポット5
の位置に到達する。この二元路を伝播してきた2本のレ
ーザビームはその交叉点に干渉縞を形成する。なお、干
渉縞の間隔りは、−ザ光の波長、θは2本のレーザビー
ムの交叉角である。The other laser beam passes through the second mirror 19 and the second condensing lens 21 and reaches the pulsed laser beam spot 5.
reach the position. The two laser beams propagating along this dual path form interference fringes at their intersection points. Note that the interval between the interference fringes is the wavelength of the laser beam, and θ is the intersection angle of the two laser beams.
この干渉縞を被測定物の表面が横切るように通過すると
、その散乱光の強度は強弱をくり返した形になる。した
がって光電変換器13及びレーザ速度計信号処理装置1
4によりその強弱信号の周期TOを測定して、次の計算
すなわちD/Toをすると、被測定物表面の速度が求め
られる。ただし、その速度は上記2本のレーザビームの
交叉角の二等分線に対し直角方向の速度成分を意味する
。When the surface of the object to be measured passes through these interference fringes, the intensity of the scattered light repeats its strength and weakness. Therefore, the photoelectric converter 13 and the laser velocimeter signal processing device 1
4, the period TO of the strength signal is measured and the following calculation, ie, D/To, is performed to obtain the velocity of the surface of the object to be measured. However, the velocity means a velocity component in a direction perpendicular to the bisector of the intersection angle of the two laser beams.
レーザ速度計による熱衝撃波の反射波の測定例すなわち
欠陥検査の適用の一例を第2図に示す。同図(alは欠
陥が無い場合で、熱衝撃波発生は時間1 (0)の波形
Tであり、裏面からの反射波は時間t (Blの波形B
である。同図(blは・欠陥からの反射波がある場合で
、時間t、 (Flのところに波形Fとして現われてい
る。なお、第2図の測定例は、従来法による測定例の第
4図とほぼ同様の結果を示しているが、超音波探傷法と
同様のことが、レーザ照射により可能であるということ
を示している。FIG. 2 shows an example of measuring reflected waves of thermal shock waves using a laser velocimeter, ie, an example of application for defect inspection. The same figure (al is the case where there is no defect, the thermal shock wave generation is the waveform T at time 1 (0), and the reflected wave from the back side is the waveform B at time t (Bl)
It is. In the same figure, (bl is the case where there is a reflected wave from the defect, which appears as waveform F at time t, (Fl. This shows almost the same results as the above, but it shows that laser irradiation can do the same thing as ultrasonic flaw detection.
ところで、測定点の移動は、上記パルスレーザ光照射及
びレーザ速度計に係る光学系全体を移動することによっ
て可能であるが、本実施例では被測定物1を移動させた
。すなわち、コンピュータ9によって制御されるXYZ
ステージコントローラ11とXYZステージ12によっ
て行なわれる。なおパルスレーザ光スポット5の径は0
.5φ以下の場合が良好であった。Incidentally, the measurement point can be moved by moving the entire optical system related to the pulsed laser beam irradiation and the laser velocimeter, but in this example, the object to be measured 1 was moved. That is, XYZ controlled by computer 9
This is performed by a stage controller 11 and an XYZ stage 12. Note that the diameter of the pulsed laser beam spot 5 is 0.
.. Good results were obtained when the diameter was 5φ or less.
本実施例ではパルスレーザ装置として、YAGレープを
使用しているが、ルビーレーザ、エキシマレーザ及びC
O2レーザなとでも同様なことができることは言うまで
もない。まだ被測定物の材質は光を吸収するものであれ
ば、金属、セラミックス及び複合材料でも適用できる。In this example, a YAG rape is used as the pulse laser device, but a ruby laser, an excimer laser, and a C
It goes without saying that the same thing can be done with an O2 laser. Metals, ceramics, and composite materials can also be used as long as the material of the object to be measured absorbs light.
本発明により、蒸気タービン、ボイラ、船舶及び航空機
など各種機械及び構造物などの製品及び部品の欠陥検査
を非接触にて可能となった。The present invention has made it possible to inspect products and parts for defects in various machines and structures, such as steam turbines, boilers, ships, and aircraft, in a non-contact manner.
それ故タービンロータなど回転中の物体への適用が可能
であり、またボイラ及び船舶など大型構造物の欠陥検査
を従来法のように犬がかりな足場を必要とせず、いわゆ
るリモートセンシング方式で適用可能となりさらに歯車
の歯元及び蒸気タービンなどブレードの翼根など曲率の
小さい機械部品の場合でも適用可能となった。Therefore, it can be applied to rotating objects such as turbine rotors, and it can also be applied to defect inspections of large structures such as boilers and ships using the so-called remote sensing method, without requiring heavy scaffolding as in conventional methods. This makes it possible to apply it to mechanical parts with small curvature, such as the teeth of gears and the roots of blades such as steam turbines.
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法の一実施例の要領図、第2図はその
測定結果の説明図、第3図は従来方法の要領図、第4図
はその測定結果の説明図である。
1:被測定物、2:欠陥、3:パルスレーザ装置、4:
第1の集光レンズ、5:パルスレー° ザ光スポット、
6:熱衝撃波、7:微少隆起振動、8:同期信号発生装
置、9:コンピュータ、13:光電変換器、14:レー
ザ速度計信号処理装置、15:連続波レーザ装置、16
:レーザビーム、17:ビームスプリッタ、18:第1
のミラー、19:第2のミラー、20:第3のミラー、
21:第2の集光レンズ、22:散乱光、23:第3の
集光し律1回[BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS] Fig. 1 is a schematic diagram of an embodiment of the method of the present invention, Fig. 2 is an explanatory diagram of its measurement results, Fig. 3 is a schematic diagram of the conventional method, and Fig. 4 is its measurement results. FIG. 1: Object to be measured, 2: Defect, 3: Pulse laser device, 4:
First condensing lens, 5: Pulse laser beam spot,
6: Thermal shock wave, 7: Minute bump vibration, 8: Synchronous signal generator, 9: Computer, 13: Photoelectric converter, 14: Laser velocimeter signal processing device, 15: Continuous wave laser device, 16
: Laser beam, 17: Beam splitter, 18: First
mirror, 19: second mirror, 20: third mirror,
21: Second condensing lens, 22: Scattered light, 23: Third condensing lens once
Claims (1)
らのパルスレーザ光を被測定物の表面に照射してその照
射部近傍に熱衝撃による超音波を発生させ、その超音波
を上記被測定物の中を送信させ、内部に存在する欠陥に
照射して得られる反射波を上記パルスレーザ光照射部分
でレーザ速度計により検出して欠陥の有無を判定するこ
とを特徴とするレーザ照射による欠陥検査法。Pulsed laser light from a pulse laser device that repeatedly generates pulsed laser light is irradiated onto the surface of the object to be measured, generating ultrasonic waves due to thermal shock near the irradiated part, and the ultrasonic waves are transmitted into the object to be measured. A defect inspection method using laser irradiation, characterized in that the presence or absence of a defect is determined by detecting the reflected wave obtained by transmitting the pulsed laser beam and irradiating it to a defect existing inside using a laser velocimeter at the portion irradiated with the pulsed laser beam.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60141837A JPS622153A (en) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | Defect inspection by laser irradiation |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60141837A JPS622153A (en) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | Defect inspection by laser irradiation |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS622153A true JPS622153A (en) | 1987-01-08 |
Family
ID=15301294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60141837A Pending JPS622153A (en) | 1985-06-28 | 1985-06-28 | Defect inspection by laser irradiation |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS622153A (en) |
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- 1985-06-28 JP JP60141837A patent/JPS622153A/en active Pending
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