JPS6221035A - 光フアイバの試験装置 - Google Patents
光フアイバの試験装置Info
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- JPS6221035A JPS6221035A JP15977585A JP15977585A JPS6221035A JP S6221035 A JPS6221035 A JP S6221035A JP 15977585 A JP15977585 A JP 15977585A JP 15977585 A JP15977585 A JP 15977585A JP S6221035 A JPS6221035 A JP S6221035A
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- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、光ファイバの損失特性の測定あるいは障害箇
所の検出を行うための光ファイバの試験装置に関する。
所の検出を行うための光ファイバの試験装置に関する。
特に、光通信用の光ファイバの一端から光パルスを入射
し、その光パルスにより光フアイバ内での反射または散
乱される逆方向の伝播光、すなわち後方散乱光を観測し
て、光ファイバの光損失特性または破断点の試験を行う
装置に関する。
し、その光パルスにより光フアイバ内での反射または散
乱される逆方向の伝播光、すなわち後方散乱光を観測し
て、光ファイバの光損失特性または破断点の試験を行う
装置に関する。
本発明は、後方散乱光を観測して光ファイバの光損失特
性または破断点の試験を行う光ファイバの試験装置にお
いて、 光源として五酸化リンを成分として含有するラマン光発
生光ファイバを備えたファイバラマンレーザを用いるこ
とにより、 異なる波長での試験を効率よく行うことのできる比較的
簡単を試験装置を提供するものである。
性または破断点の試験を行う光ファイバの試験装置にお
いて、 光源として五酸化リンを成分として含有するラマン光発
生光ファイバを備えたファイバラマンレーザを用いるこ
とにより、 異なる波長での試験を効率よく行うことのできる比較的
簡単を試験装置を提供するものである。
〔従来の技術〕
第５図に従来例光ファイバの試験装置の構成図を示す。
光源１から出射された光パルスは、光方向性結合器２お
よび光結合器３を通過した後に、被試験光ファイバ４に
入射する。被試験光ファイバ４で反射あるいは後方に散
乱された光は、光結合器３、方向性結合器２を経由して
光検出器５に入射する。
よび光結合器３を通過した後に、被試験光ファイバ４に
入射する。被試験光ファイバ４で反射あるいは後方に散
乱された光は、光結合器３、方向性結合器２を経由して
光検出器５に入射する。
光検出器５はこの光を電気信号に変換して演算処理装置
６に出力する。演算処理装置６は、この電気信号に平均
化処理を施し、電気信号のＳ／Ｎ比を改善する。この平
均化処理の後に、電気信号の波形を表示装置７に表示す
る。
６に出力する。演算処理装置６は、この電気信号に平均
化処理を施し、電気信号のＳ／Ｎ比を改善する。この平
均化処理の後に、電気信号の波形を表示装置７に表示す
る。
パルス光を出力する光源１としては、半導体レーザやＮ
ｄ： Ｙ Ａ Ｇレーザ等が用いられている。
ｄ： Ｙ Ａ Ｇレーザ等が用いられている。
光通信においては、双方向通信や伝送容量拡大のために
波長多重伝送を行う場合に、使用波長領域における光損
失特性を把握する必要がある。このような場合には、従
来の装置では光源１を交換する必要があり、測定を効率
化することが困難である欠点があった。
波長多重伝送を行う場合に、使用波長領域における光損
失特性を把握する必要がある。このような場合には、従
来の装置では光源１を交換する必要があり、測定を効率
化することが困難である欠点があった。
また、複数の波長の光を同時に発生する光源としてファ
イバラマンレーザが公知であり、波長分散特性を測定す
るための光源等に用いられている。
イバラマンレーザが公知であり、波長分散特性を測定す
るための光源等に用いられている。
ファイバラマンレーザはラマン光発生用の光ファイバを
備えている。このような光ファイバとして、コアに二酸
化ゲルマニウム（ＧｅＯ□）を高濃度に添加した石英系
光ファイバや、純粋な二酸化ゲルマニウムをコアとした
光ファイバ等のゲルマニウム系光ファイバが用いられて
いる。特に、光通信において用いられる１、３−帯およ
び１．５ｆｍ帯の光を得るためには、励起光源として発
振波長が１．３２ｐｆｆｉのＮｄ： Ｙ Ａ Ｇレーザ
が用いられ、ラマン光発生用光ファイバとして二酸化ゲ
ルマニウム系光ファイバが用いられる。
備えている。このような光ファイバとして、コアに二酸
化ゲルマニウム（ＧｅＯ□）を高濃度に添加した石英系
光ファイバや、純粋な二酸化ゲルマニウムをコアとした
光ファイバ等のゲルマニウム系光ファイバが用いられて
いる。特に、光通信において用いられる１、３−帯およ
び１．５ｆｍ帯の光を得るためには、励起光源として発
振波長が１．３２ｐｆｆｉのＮｄ： Ｙ Ａ Ｇレーザ
が用いられ、ラマン光発生用光ファイバとして二酸化ゲ
ルマニウム系光ファイバが用いられる。
しかし、光ファイバの損失測定や破断点検索等を後方散
乱光により測定する場合に、ゲルマニウム系光ファイバ
を用いたファイバラマンレーザを光源１として用いるに
は、以下の問題点がある。
乱光により測定する場合に、ゲルマニウム系光ファイバ
を用いたファイバラマンレーザを光源１として用いるに
は、以下の問題点がある。
第６図は二酸化ゲルマニウム系光ファイバを用いたファ
イバラマンレーザの出力光のスペクトルの一例を示す。
イバラマンレーザの出力光のスペクトルの一例を示す。
このファイバラマンレーザに用いられた二酸化ゲルマニ
ウム系光ファイバは、コア部の二酸化ゲルマニウム濃度
が９モル％で、長さがｌｋｍの単一モード光ファイバで
ある。また、励起光は、その波長が１．３２μｍであり
ピーク電力が２００Ｗである。
ウム系光ファイバは、コア部の二酸化ゲルマニウム濃度
が９モル％で、長さがｌｋｍの単一モード光ファイバで
ある。また、励起光は、その波長が１．３２μｍであり
ピーク電力が２００Ｗである。
ラマン散乱光のうち、−次ストークス光の波長は１．４
１−となり、二次ストークス光の波長は１．５０μｍと
なる。
１−となり、二次ストークス光の波長は１．５０μｍと
なる。
二次ストークス光は、−次ストークス光が励起光となっ
て発生する。このため、二次ストークス光を発生するた
めの励起光入力のしきい値が、−次ストークス光を得る
ためのしきい値より高く、励起光からの変換効率も低下
する。例えばこのファイバラマンレーザの場合には、−
次および二次ストークス光の発生しきい値はそれぞれ５
ｏｗおよび１５０Ｗであった。さらに、二次ストークス
光の出力は、励起光電力を増加させることにより増やす
ごとができるが、三次以上のストークス光が発生する場
合には、二次ストークス光の光電力は飽和してしまう。
て発生する。このため、二次ストークス光を発生するた
めの励起光入力のしきい値が、−次ストークス光を得る
ためのしきい値より高く、励起光からの変換効率も低下
する。例えばこのファイバラマンレーザの場合には、−
次および二次ストークス光の発生しきい値はそれぞれ５
ｏｗおよび１５０Ｗであった。さらに、二次ストークス
光の出力は、励起光電力を増加させることにより増やす
ごとができるが、三次以上のストークス光が発生する場
合には、二次ストークス光の光電力は飽和してしまう。
このため、十分な強度の二次ストークス光を得ることが
できない欠点があった。
できない欠点があった。
また、二次ストークス光を得るためには、−次ストーク
ス光を得る場合に比べて長い光ファイバを必要とする。
ス光を得る場合に比べて長い光ファイバを必要とする。
したがって、二酸化ゲルマニウム系光ファイバを用いた
試験装置では、長尺のラマン光発生用光ファイバが必要
であり、励起光源としても高出力のＱスイッチ・モード
同期Ｎｄ： Ｙ Ａ Ｇレーザが必要となるなど、装置
が大型化され複雑になる欠点があった。
試験装置では、長尺のラマン光発生用光ファイバが必要
であり、励起光源としても高出力のＱスイッチ・モード
同期Ｎｄ： Ｙ Ａ Ｇレーザが必要となるなど、装置
が大型化され複雑になる欠点があった。
本発明は、以上の問題点を解決し、小型で簡単な装置に
より、１．３１ｎｎおよび１．５−帯の両波長で光ファ
イバの損失測定または障害点探索を行うことのできる光
ファイバの試験装置を提供することを目的とする。
より、１．３１ｎｎおよび１．５−帯の両波長で光ファ
イバの損失測定または障害点探索を行うことのできる光
ファイバの試験装置を提供することを目的とする。
本発明の光ファイバの試験装置は、パルス光を発生する
光源と、この光源の出力パルス光を被試験光ファイバの
一端に入射させるとともに上記出力パルス光の反射光ま
たは後方散乱光を分離する光学的結合手段と、この光学
的結合手段により分離された反射光または後方散乱光を
検出する検出手段とを備えた光ファイバの試験装置にお
いて、上記光源と上記光学的結合手段との間の光路上に
ストークス光発生用の第二の光ファイバが挿入され、こ
の第二の光ファイバはその導波構造部に五酸化リン（Ｐ
ｚＯｓ）を成分として含有しその分子振動数に対応する
ストークス光を発生する性質であり、上記光学的結合手
段の光路の少なくとも一つの光路上に設けられ上記出力
パルス光と上記ストークス光４を選別する波長選択手段
を備えたことを特徴とする。
光源と、この光源の出力パルス光を被試験光ファイバの
一端に入射させるとともに上記出力パルス光の反射光ま
たは後方散乱光を分離する光学的結合手段と、この光学
的結合手段により分離された反射光または後方散乱光を
検出する検出手段とを備えた光ファイバの試験装置にお
いて、上記光源と上記光学的結合手段との間の光路上に
ストークス光発生用の第二の光ファイバが挿入され、こ
の第二の光ファイバはその導波構造部に五酸化リン（Ｐ
ｚＯｓ）を成分として含有しその分子振動数に対応する
ストークス光を発生する性質であり、上記光学的結合手
段の光路の少なくとも一つの光路上に設けられ上記出力
パルス光と上記ストークス光４を選別する波長選択手段
を備えたことを特徴とする。
本発明の光ファイバの試験装置は、ファイバラマンレー
ザのラマン光発生用光ファイバとして、五酸化リンが高
濃度に添加された光ファイバを用いる。このストークス
光発生用光ファイバに励起光として１．３ ｔｎｎ帯の
光パルスを入射することにより、１．５ ｎ帯の一次ス
トークス光が発生する。本発明は、被試験光ファイバの
後方散乱光を観測するために、上記励起光および上記−
次ストークス光を用いる。
ザのラマン光発生用光ファイバとして、五酸化リンが高
濃度に添加された光ファイバを用いる。このストークス
光発生用光ファイバに励起光として１．３ ｔｎｎ帯の
光パルスを入射することにより、１．５ ｎ帯の一次ス
トークス光が発生する。本発明は、被試験光ファイバの
後方散乱光を観測するために、上記励起光および上記−
次ストークス光を用いる。
第１図は本発明第一実施例光ファイバの試験装置の構成
図である。
図である。
励起用の光′ｒＡ１０の出射した励起光は、ラマン光発
生用光ファイバ１）に入射する。ラマン光発生用光ファ
イバ１）は、この励起光とこの励起光により励起された
ストークス光を、波長選択フィルタ１２に出射する。波
長選択フィルタ１２は励起光またはストークス光を選択
して透過させる。波長選択フィルタ１２を透過した光は
、従来例と同様に、光方向性結合器２および光結合器３
を通過した後に、被試験光ファイバ４に入射する。被試
験光ファイバ４で反射あるいは後方に散乱された光は、
光結合器３、方向性結合器２を経由して光検出器５に入
射する。光検出器５はこの光を電気信号に変換して演算
処理装置６に出力する。演算処理装置６は、この電気信
号に平均化処理を施し、電気信号のＳ／Ｎ比を改善する
。この平均化処理の後に、電気信号の波形を表示装置７
に表示する。
生用光ファイバ１）に入射する。ラマン光発生用光ファ
イバ１）は、この励起光とこの励起光により励起された
ストークス光を、波長選択フィルタ１２に出射する。波
長選択フィルタ１２は励起光またはストークス光を選択
して透過させる。波長選択フィルタ１２を透過した光は
、従来例と同様に、光方向性結合器２および光結合器３
を通過した後に、被試験光ファイバ４に入射する。被試
験光ファイバ４で反射あるいは後方に散乱された光は、
光結合器３、方向性結合器２を経由して光検出器５に入
射する。光検出器５はこの光を電気信号に変換して演算
処理装置６に出力する。演算処理装置６は、この電気信
号に平均化処理を施し、電気信号のＳ／Ｎ比を改善する
。この平均化処理の後に、電気信号の波形を表示装置７
に表示する。
光源１０は、ＱスイッチＮｄ： Ｙ Ａ Ｇレーザによ
り構成され、波長１．３２ＪＩｍの励起光を出力する。
り構成され、波長１．３２ＪＩｍの励起光を出力する。
ラマン光発生用光ファイバ１）は、その導波構造部に五
酸化リン（Ｐ２ｅｓ）を成分として含有し、光源１０か
らの励起光による誘導ラマン散乱効果によりストークス
光を発生する。波長選択フィルタエ２は、１．３２−の
励起光と１．５−帯のストークス光とを選択して透過さ
せる。
酸化リン（Ｐ２ｅｓ）を成分として含有し、光源１０か
らの励起光による誘導ラマン散乱効果によりストークス
光を発生する。波長選択フィルタエ２は、１．３２−の
励起光と１．５−帯のストークス光とを選択して透過さ
せる。
第２図はラマン光発生用光ファイバ１）から出射される
光パルスのスペクトルの一例を示す。
光パルスのスペクトルの一例を示す。
ここで用いたラマン光発生用光ファイバ１）は、コア部
に１２モル％の五酸化リンを含む長さ６０ｍの単一モー
ド光ファイバであり、励起用の光源１０からパルス幅３
００ｎｓ 、ピーク光電力２００Ｗの励起光を供給した
。
に１２モル％の五酸化リンを含む長さ６０ｍの単一モー
ド光ファイバであり、励起用の光源１０からパルス幅３
００ｎｓ 、ピーク光電力２００Ｗの励起光を供給した
。
このスペクトルのうち、波長１．５９Ｉ１ｍの成分が五
酸化リンの振動に起因する一次ストークス光成分であり
、波長１．４１）１ｍおよび１．５０μｍの成分が二酸
化ケイ素（ＳｉＯ□）の振動に起因する一次および二次
ストークス光成分である。二酸化ケイ素の振動に起因す
るストークス光強度に対する五酸化リンの振動に起因す
るストークス光強度の相対的な値は、五酸化リンの濃度
とともに増加する。
酸化リンの振動に起因する一次ストークス光成分であり
、波長１．４１）１ｍおよび１．５０μｍの成分が二酸
化ケイ素（ＳｉＯ□）の振動に起因する一次および二次
ストークス光成分である。二酸化ケイ素の振動に起因す
るストークス光強度に対する五酸化リンの振動に起因す
るストークス光強度の相対的な値は、五酸化リンの濃度
とともに増加する。
本実施例では、波長１．５９Ｊｎａのストークス光に対
して１．２Ｗの光出力が得られた。またこの波長のスト
ークス光の発生しきい値は５０Ｗであり、従来の二酸化
ゲルマニウムを添加したラマン光発生用光ファイバで二
次ストークス光を発生する場合に比べて、しきい値電力
が低い。
して１．２Ｗの光出力が得られた。またこの波長のスト
ークス光の発生しきい値は５０Ｗであり、従来の二酸化
ゲルマニウムを添加したラマン光発生用光ファイバで二
次ストークス光を発生する場合に比べて、しきい値電力
が低い。
また、五酸化リンの振動に起因する二次ストークス光の
波長は２．０２−であるが、この波長域では、ラマン光
発生用光ファイバ１）の光損失が２０ｄＢ／ｋｎ＋以上
と大きいので、励起光の光電力を増加させても、二次ス
トークス光はほとんど出力されない。
波長は２．０２−であるが、この波長域では、ラマン光
発生用光ファイバ１）の光損失が２０ｄＢ／ｋｎ＋以上
と大きいので、励起光の光電力を増加させても、二次ス
トークス光はほとんど出力されない。
したがって、二酸化ゲルマニウム系光ファイバを用いた
場合にみられるようなストークス光の飽和が起きず、大
きな光出力を得ることができる。
場合にみられるようなストークス光の飽和が起きず、大
きな光出力を得ることができる。
したがって、波長選択フィルタ１２を操作することによ
り、１．３ｐｍ帯および１．５μｍ帯における光フィル
タの光損失等の試験および測定を、同一の装置で行うこ
とができる。
り、１．３ｐｍ帯および１．５μｍ帯における光フィル
タの光損失等の試験および測定を、同一の装置で行うこ
とができる。
第３図は本発明第二実施例光フィルタの試験装置の構成
図である。
図である。
第一実施例では、単一の波長帯の光を波長選択フィルタ
１２で分離してから被試験光ファイバ４に供給している
。これに対して、本実施例では、すべての波長帯を被試
験光ファイバ４に供給し、これにより得られた後方散乱
光から、ダイクロイックミラー１３により単一の波長帯
を分離している。
１２で分離してから被試験光ファイバ４に供給している
。これに対して、本実施例では、すべての波長帯を被試
験光ファイバ４に供給し、これにより得られた後方散乱
光から、ダイクロイックミラー１３により単一の波長帯
を分離している。
光源１０から波長１．３−の光パルスをラマン光発生用
光フィルタ１）に入射し、波長１．５９ａ＋の一次スト
ークス光を発生させる。励起光および一次ストークス光
は、光方向性結合器２および光結合器３を透過して被試
験光ファイバ４に結合される。被試験光ファイバ４で反
射もしくは後方に散乱された光は、光結合器３および光
方向性結合器２を経由して、ダイクロイックミラー１３
に入射する。ダイクロイックミラー１３は、波長１．５
９−の散乱光を光検出器５ａに導き、波長１．３２−の
散乱光を光検出器５ｂに導く。光検出器５ａ、５ｂは、
到来した散乱光を電気信号に変換する。測定波長の選択
は信号切替器１４により電気的に行われる。演算処理装
置６は、この電気信号に平均化処理を施してＳ／Ｎ比を
改善し、この後に表示装置７に表示する。
光フィルタ１）に入射し、波長１．５９ａ＋の一次スト
ークス光を発生させる。励起光および一次ストークス光
は、光方向性結合器２および光結合器３を透過して被試
験光ファイバ４に結合される。被試験光ファイバ４で反
射もしくは後方に散乱された光は、光結合器３および光
方向性結合器２を経由して、ダイクロイックミラー１３
に入射する。ダイクロイックミラー１３は、波長１．５
９−の散乱光を光検出器５ａに導き、波長１．３２−の
散乱光を光検出器５ｂに導く。光検出器５ａ、５ｂは、
到来した散乱光を電気信号に変換する。測定波長の選択
は信号切替器１４により電気的に行われる。演算処理装
置６は、この電気信号に平均化処理を施してＳ／Ｎ比を
改善し、この後に表示装置７に表示する。
したがって本実施例は、簡単なスイッチの切り替えによ
り、二つの波長を容易に選択できる。
り、二つの波長を容易に選択できる。
第３図は本発明第三実施例光フィルタの試験装置の構成
図である。
図である。
本実施例は、音響光学的な光スイッチ１５を用いて、励
起光とストークス光との分離および光路切り替えを行う
。
起光とストークス光との分離および光路切り替えを行う
。
超音波光偏向素子を用いた光スイッチ１５は、光パルス
を被試験光ファイバ４に入射するタイミングでは、ラマ
ン光発生用光ファイバ１）と光結合器３とを結合し、後
方散乱光を受光するタイミングでは、光結合器３と光検
出器５とを結合するように動作する。この光スイッチ１
５は、光スイツチドライバ１６により駆動される ここで、光スイッチ１５は、超音波による光の回折を用
いて光路切り替えを行うものであり、超音波光偏向素子
を備えている。
を被試験光ファイバ４に入射するタイミングでは、ラマ
ン光発生用光ファイバ１）と光結合器３とを結合し、後
方散乱光を受光するタイミングでは、光結合器３と光検
出器５とを結合するように動作する。この光スイッチ１
５は、光スイツチドライバ１６により駆動される ここで、光スイッチ１５は、超音波による光の回折を用
いて光路切り替えを行うものであり、超音波光偏向素子
を備えている。
光の回折角θは、超音波光偏向素子の変調周波数ｆ、光
の波長λ、超音波光偏向素子の屈折率ｎおよび音速■に
より、 として表される。この式から明らかなように、回折角θ
は波長λにより異なり、これを利用すると励起光の波長
λｐとストークス光の波長λＳとを分離できる。すなわ
ち、回折角θが一定となるように波長λｐ、λＳに対し
て変調周波数ｆを切り替えることにより、散乱光の波長
を選択できる。
の波長λ、超音波光偏向素子の屈折率ｎおよび音速■に
より、 として表される。この式から明らかなように、回折角θ
は波長λにより異なり、これを利用すると励起光の波長
λｐとストークス光の波長λＳとを分離できる。すなわ
ち、回折角θが一定となるように波長λｐ、λＳに対し
て変調周波数ｆを切り替えることにより、散乱光の波長
を選択できる。
光スイツチドライバ１６は、周波数可変手段を含む変調
信号発生器であり、光スイッチ１５に変調信号を供給す
る。
信号発生器であり、光スイッチ１５に変調信号を供給す
る。
また、変調周波数ｆを固定し、励起光の波長λρおよび
ストークス光の波長λＳに対応する回折角θの位置にそ
れぞれ光検出器５を設置し、第二実施例と同様の信号切
替器１４を用いても、同様に散乱光の波長を選択できる
。
ストークス光の波長λＳに対応する回折角θの位置にそ
れぞれ光検出器５を設置し、第二実施例と同様の信号切
替器１４を用いても、同様に散乱光の波長を選択できる
。
以上説明したように、本発明の光ファイバの試験装置は
、簡単な切り替え操作により複数の波長に対する光ファ
イバの光損失の測定および破断点の検索等を行う装置を
、比較的簡単な構成で提供できる。また、五酸化リンを
成分として含有する光ファイバを用いたことにより、周
波数シフトの大きなストークス光を効率よく得ることが
でき、励起用の光源の出力が比較的小さくても測定が可
能であるので、試験装置を小型化できる効果がある。
、簡単な切り替え操作により複数の波長に対する光ファ
イバの光損失の測定および破断点の検索等を行う装置を
、比較的簡単な構成で提供できる。また、五酸化リンを
成分として含有する光ファイバを用いたことにより、周
波数シフトの大きなストークス光を効率よく得ることが
でき、励起用の光源の出力が比較的小さくても測定が可
能であるので、試験装置を小型化できる効果がある。
第１図は本発明第一実施例光ファイバの試験装置の構成
図。 第２図はラマン光発生用光ファイバから出射される光パ
ルスのスペクトルの一例を示す図。 第３図は本発明第二実施例光ラアイバの試験装置の構成
図。 第４図は本発明第三実施例光ファイバの試験装置の構成
図。 第５図は従来例光ファイバの試験装置の構成図。 第６図は二酸化ゲルマニウム系光ファイバを用いたファ
イバラマンレーザの出力光のスペクトルの一例を示す図
。 ■・・・光源、２・・・光方向性結合器、３・・・光結
合器、４・・・被試験光ファイバ、５．５ａ、５ｂ・・
・光検出器、６・・・演算処理装置、７・・・表示装置
、１ｏ・・・光源、１）・・・ラマン光発生用光ファイ
バ、１２・・・波長選択フィルタ、１３・・・グイクロ
イックミラー、１４・・・信号切替器、１５・・・光ス
イッチ、１Ｇ・・・光スイツチドライバ。 第−実施例 第１図 第三実施例 第３図 第三実施例 第４図
図。 第２図はラマン光発生用光ファイバから出射される光パ
ルスのスペクトルの一例を示す図。 第３図は本発明第二実施例光ラアイバの試験装置の構成
図。 第４図は本発明第三実施例光ファイバの試験装置の構成
図。 第５図は従来例光ファイバの試験装置の構成図。 第６図は二酸化ゲルマニウム系光ファイバを用いたファ
イバラマンレーザの出力光のスペクトルの一例を示す図
。 ■・・・光源、２・・・光方向性結合器、３・・・光結
合器、４・・・被試験光ファイバ、５．５ａ、５ｂ・・
・光検出器、６・・・演算処理装置、７・・・表示装置
、１ｏ・・・光源、１）・・・ラマン光発生用光ファイ
バ、１２・・・波長選択フィルタ、１３・・・グイクロ
イックミラー、１４・・・信号切替器、１５・・・光ス
イッチ、１Ｇ・・・光スイツチドライバ。 第−実施例 第１図 第三実施例 第３図 第三実施例 第４図
Claims (5)
- （１）パルス光を発生する光源と、 この光源の出力パルス光を被試験光ファイバの一端に入
射させるとともに上記出力パルス光の反射光または後方
散乱光を分離する光学的結合手段と、 この光学的結合手段により分離された反射光または後方
散乱光を検出する検出手段と を備えた光ファイバの試験装置において、 上記光源と上記光学的結合手段との間の光路上にストー
クス光発生用の第二の光ファイバが挿入され、 この第二の光ファイバはその導波構造部に五酸化リン（
Ｐ＿２Ｏ＿５）を成分として含有しその分子振動数に対
応するストークス光を発生する性質であり、 上記光学的結合手段の光路の少なくとも一つの光路上に
設けられ上記出力パルス光と上記ストークス光とを選別
する波長選択手段を備えた ことを特徴とする光ファイバの試験装置。 - （２）光学的結合手段は、方向性結合器を含む特許請求
の範囲第（１）項に記載の光ファイバの試験装置。 - （３）光学的結合手段は、超音波偏向器を用いた光スイ
ッチを含む特許請求の範囲第（１）項に記載の光ファイ
バの試験装置。 - （４）波長選択手段は、第二の光ファイバと光結合手段
との間に異なる波長帯の通過フィルタを取り換えて挿入
する構造である特許請求の範囲第（１）項に記載の光フ
ァイバの試験装置。 - （５）検出手段は２個設けられ、 波長選択手段は、光学的結合手段とこの検出手段との間
に設けられ、この２個の検出手段に波長の異なる光を分
配する構造である特許請求の範囲第（１）項に記載の光
ファイバの試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15977585A JPH0616000B2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 光フアイバの試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15977585A JPH0616000B2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 光フアイバの試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6221035A true JPS6221035A (ja) | 1987-01-29 |
| JPH0616000B2 JPH0616000B2 (ja) | 1994-03-02 |
Family
ID=15700989
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15977585A Expired - Lifetime JPH0616000B2 (ja) | 1985-07-19 | 1985-07-19 | 光フアイバの試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0616000B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63202085A (ja) * | 1987-02-18 | 1988-08-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光フアイバラマンソリトンレ−ザ |
| FR2733593A1 (fr) * | 1995-04-28 | 1996-10-31 | Ando Electric | Dispositif et procede de test de ligne optique |
| JP2006112926A (ja) * | 2004-10-15 | 2006-04-27 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光ファイバの波長分散値及び非線形定数の測定方法、光ファイバの波長分散値及び非線形定数の測定装置、ファイバ製造方法、分散分布測定方法、測定誤差補償方法、測定条件特定方法 |
| JP2008028569A (ja) * | 2006-07-19 | 2008-02-07 | Toshiba Corp | 波長可変光出力装置 |
| CN103868673A (zh) * | 2014-03-14 | 2014-06-18 | 南开大学 | 基于光纤拉曼散射效应的光缆识别定位方法及设备 |
-
1985
- 1985-07-19 JP JP15977585A patent/JPH0616000B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63202085A (ja) * | 1987-02-18 | 1988-08-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光フアイバラマンソリトンレ−ザ |
| FR2733593A1 (fr) * | 1995-04-28 | 1996-10-31 | Ando Electric | Dispositif et procede de test de ligne optique |
| JP2006112926A (ja) * | 2004-10-15 | 2006-04-27 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 光ファイバの波長分散値及び非線形定数の測定方法、光ファイバの波長分散値及び非線形定数の測定装置、ファイバ製造方法、分散分布測定方法、測定誤差補償方法、測定条件特定方法 |
| JP2008028569A (ja) * | 2006-07-19 | 2008-02-07 | Toshiba Corp | 波長可変光出力装置 |
| JP4599330B2 (ja) * | 2006-07-19 | 2010-12-15 | 株式会社東芝 | 波長可変光出力装置 |
| CN103868673A (zh) * | 2014-03-14 | 2014-06-18 | 南开大学 | 基于光纤拉曼散射效应的光缆识别定位方法及设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0616000B2 (ja) | 1994-03-02 |
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