JPS62203068A - 試験プラグ及び試験装置 - Google Patents

試験プラグ及び試験装置

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JPS62203068A
JPS62203068A JP62035935A JP3593587A JPS62203068A JP S62203068 A JPS62203068 A JP S62203068A JP 62035935 A JP62035935 A JP 62035935A JP 3593587 A JP3593587 A JP 3593587A JP S62203068 A JPS62203068 A JP S62203068A
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    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/66Structural association with built-in electrical component
    • H01R13/70Structural association with built-in electrical component with built-in switch
    • H01R13/703Structural association with built-in electrical component with built-in switch operated by engagement or disengagement of coupling parts, e.g. dual-continuity coupling part
    • H01R13/7031Shorting, shunting or bussing of different terminals interrupted or effected on engagement of coupling part, e.g. for ESD protection, line continuity
    • H01R13/7034Shorting, shunting or bussing of different terminals interrupted or effected on engagement of coupling part, e.g. for ESD protection, line continuity the terminals being in direct electric contact separated by double sided connecting element
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R29/00Coupling parts for selective co-operation with a counterpart in different ways to establish different circuits, e.g. for voltage selection, for series-parallel selection, programmable connectors

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  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Structure Of Telephone Exchanges (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電気通信工業における試験設備に使用する試験
プラグに関し、より詳しくは電気通信用端子組立体の電
気的接続を試験する試験プラグ及び試験組立体に関する
〔従来の技術〕
従来から電気通信の端子部材によって送りこまれて来た
電気通信ラインを分電或は交差結線することは公知であ
る。この種の端子部材の1例は特願昭61−12596
1号(1986年6月2日出願)に示されている。上記
の出願明細書には向き合ったたれに設けた個々の端子を
有するU形の取付金具が開示されている。端子は平行に
向き合った2列のワイヤコネクタ組立体を有するブロッ
クで、該ワイヤコネクタはブロックに形成した溝孔及び
開口を介して接近することができる。第13図及び第1
4図から判るように、向き合ったワイヤコネクタ即ちワ
イヤ端子(46〉は弾性指形コネクタの形状をした雌形
コンタクト(50)によって電気的に接続されている。
第2の対の向き合った弾性指形コネクタ(68a ) 
、 (68d )を有する第2の雌形コンタクト(68
)が第1の雌形コンタクトの横であってワイヤ端子(4
6)に向き合って配設されている。第2の雌形コンタク
ト(68)は接地帯片(64)に電気的に接続される。
上記出願明m書の装置により、ワイヤ端子を分離円筒形
コネクタ(46)内に置くことによって電話設備ライン
及び交差結線ラインが設置される。上記出願明細書に述
べるように電気通信端子は、設備を破損しまた設備の付
近の電気通信端子の破損の怖れがあるサージ電圧或はサ
ージ電流を時折り受ける。このためこのような設備には
過負荷保護装置を設ける。上記出願明細書の符号(32
)の位置に保護装置はプリント回路板(33)を含む。
プリント回路板の両面には導体がメッキで形成されてい
る。プリント回路板(33)の導体パターンは雌形コン
タクトを形成する夫々の弾性指形コネクタに接触する導
体メッキ部を含む。プリント回路板(33)の向き合っ
た面はメッキを施した貫通孔を介して電気的に接続して
いるので、プリント回路板(33)はコンタクト(50
) 、 (68a ) 、 (68d )等の向き合っ
た弾性指形コネクタ間の電気的接続を中断することがな
い。保護装置は導体の回路に電気的に接続したガス・デ
ィスチャージ要素(140)を含む。過負荷保護装置の
ガス・チャージ要素及びその他の回路によって第1の雌
形コンタクトの弾性指形コネクタ(50)に接触する導
体に発生した過電圧状態を検知する。過電圧状態になる
と保護装置の回路によって導体を地面に向けて分路する
。上記の出願明細書においてプリント配線板(33)の
露出した端部の両面には電気的接触点が設けられていて
、該接触点は第1の雌形コンタクトの夫々の弾性指形コ
ネクタ(50)に接触する。
前述したように電気通信端子ブロックは個々の端子ブロ
ックの安全及び電気通信設備の保護のために過負荷保護
装置を備えている。このような設備の他の必要要素は端
子に接続した各種ワ不ヤ間の電気的接続を時折り試験す
ることが要求される。
この目的でワイヤ端子に電気的に接続した雌形コンタク
I・に挿入する接触要素を備えた試験プラグが開発され
ている。接触要素は試験リードに電気的に接触されてい
て、該試験リードによって雌形コンタクトからの信号を
作業員のスピーカーホーン或は他のコンタクト等の試験
源に送って交差結線を構成する。このような試験プラグ
は例えば西独ベルリン所在のクローネ社(Krone 
GmbH)製で同社発行の設備衣の注文番号第301,
833及び301,834番に示されている。クローネ
社の設備衣に述べるように従来の試験プラグはプラグの
ハウジングに固着した二つ以上のコンタクトを備え、該
コンタクトは端子組立体の雌形コンタクトに挿入するだ
けのものである。
〔発明が解決しようとする問題点〕
過負荷保護装置を備えた従来の端子組立体では試験プラ
グを挿入する前に保護装置を取外さねばならない。その
ためそのようなプラグを用いての試験中には電気通信端
子設備が保護されない。端子ブロック内のすべての接続
部に該端子ブロック全体をカバーするマガジン形式の過
負荷保護装置を備えた端子構造においては上記は極めて
厄介な問題である。そのような保護装置の1例は前述し
たクローネの設備衣に注文番号第301,811番で示
されている。上記はモジュール注文番号第301.22
1番に示すように10対のモジュール用のマガジンであ
る。従って特定の接続部を試験する際に特定の接続部が
、その保護装置の機能を失うだけでなく同一の端子ブロ
ック内にあるすべての接続部がその保護装置の機能を失
うことになる。
時折り電気的接続試験をすることができ該試験時にも過
負荷保護装置が使用できる端子組立体の提供が望ましい
。また過負荷保護装置の有無に拘らず十分汎用的に回路
を試験することのできる端子組立体の提供が望ましい。
さらに使用法が簡単でしかも製造費の安価な要素からで
きた端子組立体の提供が望ましい。しかし上述したよう
な組立体及び要素は従来技術では得られなかった。
本発明の目的は過負荷保護装置の有無に拘らず端子内の
回路を試験することのできる電気通信端子用試験プラグ
を提供することである。
本発明の別の目的は合理的な価格で容易に製造すること
ができかつ使用が容易な試験用プラグを提供することで
ある。
本発明の好ましい実施例によれば、本発明の試験プラグ
は試験リードと端子組立体内の雌形電気コンタクトと過
負荷保護装置の露出した雌形電気コンタクトとを選択的
に電気的に接続する。本発明の試験プラグは手で掴むこ
とができる形状を有しかつハウジングの端部を貫通して
形成した溝孔と内部を通じたハウジングを含む。ハウジ
ングの表面に区画形成された溝孔は該溝孔内に収容され
る過負荷保護装置の露出状の電気コンタク1〜のために
十分に間隔をあけている。プランジャはハウジング内に
摺動状に配設されていて、引出した位置と引込めた位π
間に亘って摺動可能である。プランジャは溝孔を通して
引出すことができ又該プランジャを引出した時に端子ブ
ロックの雌形コンタクト内に収まるような寸法を有する
接触部分を備える。上記のプランジャは該プランジャを
引込めた時にハウジング内に収まるような寸法を有する
。プランジャが引込み位置にある時にハウジングを貫通
する溝孔は妨げられない。電気コンタクI・が溝孔内に
配設されかつ溝孔内に収容された雌形コンタクトを有す
る電気コンタクトに弾発的に付勢される。プランジャが
引出し位置に移動すると付勢された電気コンタクトは溝
孔から押出され、該付勢されたコンタクトはプランジャ
の接触部分に配設された導体に係合する。プランジャ上
の接触部分は該接触部分が雌形コンタクトに収容される
と端子本体の雌形コンタクトに接触するような寸法に形
成されている。
〔実施例〕
図面について説明すると試験プラグ10は(第1図に示
す)試験リード12と端子ブロック16内に含まれた雌
形電気コンタクト14間の解除可能な電気接触を選択的
に行なう。また試験プラグ10は試験リード12と過負
荷保護装置18の雌形電気コンタクト17間の解除可能
な電気接触を選択的に行なうために使用される。本発明
の試験プラグは過負荷保護装置18と端子ブロック16
と共に使用するものなので、後述する試験プラグ10の
構造の理解を容易にするなめに過負荷保護装置18及び
端子ブロック16を筒単に説明する。
端子ブロック16については前述した1986年6月2
日出願の特願昭61−125961号に詳細に示されて
いる。端子ブロック16は第9〜12図に想像線で示し
た端子本体20を含む。端子本体20は絶縁材料で形成
され、かつ一対の互に向き合った分離円筒形コネクタの
列を収容している。−列に20個のコネクタが含まれ、
また一つの列のうちの横に並んだ2個のコネクタとそれ
に向き合った他の列のうちの2個のコネクタとによって
1群を形成している。図には4個のコネクタからなる1
群のみが示されている。各コネクタ22は夫々同一であ
って、ワイヤ収容端部26と電気的接続端部28とを有
する円筒形本体部分24を含む。本体部分24にはワイ
ヤ収容端部26から電気的接続端部28に亘って軸線方
向のスリット30が形成される。ワイヤ収容端部26の
スリット30と反対側にワイヤ成端ブレード32を設け
る。コネクタ22のような分離円筒形コネクタが、絶縁
物で囲んだ導電ワイヤからなる電気通信ワイヤのために
設けられることは当業界において公知である。
ワイヤ収容端部26上部にワイヤを置き、本体24の径
に整合させることによって分術円筒形コネクタ22にワ
イヤを接続する。スリット30内にワイヤを挿入した状
態でコネクタ22内にワイヤを押込む。ワイヤをスリッ
ト30に通す時にスリットを区画形成する本体部分24
の縁部がワイヤの絶縁物に突入してワイヤとコネクタ2
2とが電気的及び機械的に接続する。余ったワイヤをブ
レード32に止める。
また端子本体20内には第1の雌形コンタクト14が設
けられている。この雌形コンタクト14は第9図及び第
10図に示すような対向した分離円筒形コネクタ22を
電気的に接続するものである。図から判るように雌形コ
ンタクト14は弾性指形コネクタ34状をした1対の向
き合ったコネクタを備える。弾性指形コネクタ34は分
離円筒形コネクタ22の電気的接続端部28に固着した
第1の端部36を有する。第9図及び第10図に示すよ
うに弾性指形コネクタ34の断面形は略U字形をなし、
接触指部38で終っている。第11図及び第12図から
よく判るように、接触指部38はスリット40によって
第1の半部38aとそれと平行に間隔をあけた第2の半
部38bに分離される。各半部38a及び38bは対向
した分難円筒形コネクタに向って出つばっな外方突出部
42を備える。弾性指形コネクタの自由端部44は突外
部42から外方に拡がっている。第9図及び第10図に
示すように、対向した分離円筒形コネクタ22の弾性指
形コネクタは該コネクタ34の突出部42が互に向き合
うように配列されている。また弾性指形コネクタ34は
向き合った突出部42間に邪魔物が存在したい時に両突
出部42が互に接触して、向き合った分離円筒形コネク
タ22間が電気的に接続するように弾発性が付与されて
いる。
第9〜12図に示すように、端子ブロックは端子本体2
0の全長に亘って延びて図示せぬ適宜手段を介して地面
に接続した接地帯片44Aを含む。
夫々の第1の雌形コンタクト14に隣接して、1対の弾
性指形コネクタ48を含んだ第2の雌形コンタクト46
が設けられる。このコンタクト46は向き合った突出部
47を有する点でコネクタ34に類似である。第2の雌
形コンタクト46は第1の雌形コンタクト14に直線状
に整合している。
垂直方向平行方向に整列しかつ対向した平行列状した複
数の分離円筒形コネクタを有する端子ブロックは本発明
の部分を構成するものではない。
また第1の雌形コンタクト14及びそれに直線状に整合
した第2の雌形コンタクト46は本発明の部分を構成す
るものではない。しかし本発明の試験プラグ10がその
実施例において明瞭になるように簡単に説明しておく。
本発明に使用するために過負荷保護装置18が設けられ
る。過負荷保護装置18はプリント回路板(以下PC板
と略称する)50を含む。PC板は第1の面51とそれ
から平行に間隔をあけた第2の面51aとと有して薄肉
の幅が狭い長い部材で形成される。過負荷保護装置18
にPCCs2O使用することは新規性はないが、第1の
面51上に配設された導体52 、54 、56等のメ
ッキで形成した導体を含む(第11図、第12図)。夫
々の導体52゜56は第1の接触端部52a、56aか
ら夫々第2の接触端部52b、56bに延びている。P
CCs2O該PC板の第1の端部52aを向き合った弾
性指形コネクタ48間に配設されて端子本体20内に挿
入できるような長い寸法を有する。PCCs2O端部5
0aから端子本体20の長手方向縁部20aから離隔し
た自由端部50bに向って延びている。
PCCs2O端部50aの位置には、PC板を貫通しか
つ向き合った弾性指形コネクタ48の向きあった突出部
47に整合する切欠き58が形成される。突出部47が
切欠き58に受入れられることによってPCCs2O正
確に位置決めされる。
メッキで形成した導体54は端部50aの位置に、弾性
指形コネクタ48に電気的に接触する第1の接触端部5
4aを備える。第9図及び第11図に示す位置にPCC
s2Oもたらすと、弾性指形コネクタ34の向き合った
突出部分42に第1及び第2の接触端部52a及び52
bが当接する。
図に示さないがPCCs2O第2の面51aも、弾性指
形コネクタ22の突出部42に向き合った第1の端部か
ら延びるように寸法法めした導体を含めてメッキで形成
したいくつかの導体を備えている。これらの導体もPC
Cs2O自由端5obにある第2の端部まで延びている
。PCCs2O両面において導体52 、56等のメッ
キで形成した導体の第1及び第2の端部は、導体端部5
2bと56bの間隔が導体端部52aと56aの間隔と
等しくなるように平行でかつ直線状に整合している。第
1の面5J上の導体と第2の面51a上の導体は孔6o
のように貫通孔に施されたメッキ層によって電気的に接
続されている。
過負荷保護装置18は過負荷保護要素、殊に通常型式の
ガス過電圧保護要素(PCCs2O連結したガス・ディ
スチャージ要素62であってもよい)を備える。ガス・
ディスチャージ要素62がその一部分であるPCCs2
O回路によって導体52 、56上に過電圧状信を検知
し、過電圧を生ずると導体を接地コネクタ54に分路す
る。上述した導体とガス・ディスチャージ要素62を有
するPCCs5O状過負荷保護装置18は本発明の要部
ではなく、またその作動方法は本発明の試験プラグの構
造及び作動を理解するのには不必要である。しかし面5
1及び51aの自由端部上の接触点が弾性指形コネクタ
34の突出部42間の間隔に等しい間隔をあけた端子本
体20の外側から、PCCs5Oメッキで形成した両側
の導体をその第1の接触点く例えば52a、56a)か
ら第2の接触点(例えば52b、56b)に電気的に接
続することは極めて重要である。
別々の試験リードを有する夫々の弾性指形コネクタ34
を電気的に接続して時折の所望の試験を行なうために本
発明の試験プラグが使用される。
またPCCs5O自由端部50bを囲んで新規のハウジ
ング64が設けられる。このハウジングは後述するよう
に過負荷保護装置18を有する試験プラグ10の使用を
容易にするものである。
第1〜8図に本発明の試験プラグ10を示す。
第1,2図は試験プラグ10を組立てた状態である。試
験プラグ10はプラグ内部空間72を区画形成するハウ
ジング70を含む。ハウジング70は同一の要素からな
る同一の二つの半割り体71から形成される。第6〜8
図は夫々ハウジング半割り体71の平面図、側面図及び
端面図を示す。
第6〜8図には完全なハウジングの外形をあられすため
に第2の半割り体の位置が想像線で示されている。
第6〜8図に示すように、ハウジング70は手で係合で
きるように形成されると共に本体部分76の周囲には作
業員が該本体部分76を掴み易いように平行に並んだ多
数の隆起74が形成されている。各半割り体71はハウ
ジング70の前端面80に対して略直角に延びた挿入板
78を備える。半割り体71の側壁82に1対の掛止ク
リップ84(第8図)を設ける。このクリップ84は完
全なハウジング70を区画形成するために連結する他方
の半割り#−71のクリップ受け切欠86(第6図)に
収容される寸法に形成されている。
二つの半割り体71を連結すると向き合った挿入板78
は互にある間隔をへだてて、夫々向き合った挿入板78
及び前端面80の間を通ってプラグ内部空間72内に向
って延びる溝孔88が形成される。挿入板78の表面に
形成された向き合った溝孔の間隔は面51と面51a間
で測ったPCCs5O厚さに略等しい。溝孔88の側縁
77から側縁79までの幅(第6図)は側縁53と第2
の側縁55間で測ったPC板の幅に略等しい。
ハウジングの内部空間72には摺動状にプランジャ90
が設けられる。第3〜5図に示すようにプランジャ90
は基端部93から自由端部95に向って延びた平坦な接
触部分92を含む。接触部分92の厚さと幅はPC板の
厚さと幅に略等しいので接触部分92は溝孔88内を摺
動可能である。
接触部分92の両側縁94 、96には自由端部付近に
逃し100が形成されている。基端部93から延びて持
揚げられた幅の狭いプランジャ端部106 、108で
終端するように形成された1対のフォーク部102.1
04が側縁94 、96に対して直線状に整合して配設
される。夫々のプランジャ端部106 、108には幅
の狭い隆起面no 、 ti2が形成されていて、隆起
面110と112間の距離は互に連結された半割り体7
]、の外面114間の距離よりも大きい。
第6図に示すように、各半割り体にはプランジャ端部1
06 、108の幅に略等しい幅を有する溝孔118が
形成されている。この溝孔118は後述するようにプラ
ンジャの側部の方向に略平行に長手方向に延びている。
第1図及び第2図に示すように、プランジャ90は隆起
面110 、112を溝孔118を通して突出させてハ
ウジング70の内部空間72に配設される。
接触部分92は自由端部95を溝孔88内に収めた状態
でハウジング70の内部空間72の内部中心を延びてい
る。各プランジャ端部106 、108は内側に突出し
かつハウジング壁114の内面114a付近に配設され
た内向き突出状のたれ120 、122を備える。各内
面114aにはたれ120 、122の外形に合わせて
形成された切欠き116と117とが互に間隔をあけて
設けられている。切欠116と117間の距離は第1図
に示す引込んだ位置から第2図に示す引出した位置間に
亘るプランジャ90の所望のストロークに等しく選ばれ
ている。
隆起面110 、112を掴むことにより、作業員は隆
起面に力をかけてた1120 、122を切欠116か
ら外すことができる。この時点でプランジャ90を引出
した位置に向けて移動し、次いで作業員が隆起面110
 、112にかけていた力を弛め、片持ばり形のフォー
ク部102 、104の弾発性を利用してたれ120゜
122を別の切欠117に押込む。プランジャ90を完
全引込み位置(第1図)に引込むには上記と丁度反対の
やり方で行なう。
第1図及び第2図に示すように、接触部分92はプラン
ジャ90を第2図の位置に引出した時に自由端部95が
ハウジング70の外方に露出するような長さに形成され
ている。引込んだ位置において自由端部95は挿入板7
8の端部81から距離をあけ、従って溝孔88の中にか
くれる。接触部分92は前端壁80と逃し100間の距
離が、端子ブロック20の上縁部20aと第1の雌形コ
ネクタ14の突出部42間の距離に略等しくなるように
形成されている。
第′3〜5図からよく判るように、プランジャ90には
接触部分92の両側に1対の平行な導体帯片124が設
けられている。この導体帯片124は普通に利用されて
いる方法によって非導電性の接触部分92上に銅等の導
電性金属を配設することが好ましく、通常は接触部分9
2にマスクをかけて導体帯片124用に必要な部分だけ
を露出させ、接着工程中に該部分に銅を付着させる。導
体帯片124は第1の雌形コンタクト14の隣接した弾
性上形コネクタ34の間隔に等しい間隔で接触部分92
上に間隔をあけて平行に配設される。
次に第6.1.2図について述べると、夫々の半割り体
71は1対の円筒状柱部128を備える。
柱部128は内部空間72内に配設されて夫々導電金属
製クリップ132を支持する。クリップ132はねじ1
36等の適宜手段によって柱部128に固着される。
クリップ132は挿入板78で形成された溝孔88内に
延びている。挿入板78にはクリップに向き合った位置
にクリップ132を収容可能な寸法に形成された溝13
8及び開口139が設けられている。第1図に示すよう
にクリップ132は突出部140を備えていて、クリッ
プ132を向き合わせると向き合った突出部が互に押し
合うようになっている。第2図に示すように、プランジ
ャ90が移動して引出した位置に達するとプランジャ9
0の接触部分92はクリップ132の固有の弾発性に抗
してクリップを溝138内に押付ける。この時クリップ
132の自由端は開口139を通して延びている。プラ
ンジャ90が引出した位置にあるとクリップ132は接
触部分92の両側において互に平行になるので夫々のク
リップ132は接触部分92の導体帯片124の一つに
しっかりと係合して電気的に接触する。
4本ワイヤ用試験リード12がハウジング70の端壁8
1に形成した半円形切欠によって区画形成した開口15
0を通して延びている。4本ワイヤ152が試験リード
12から夫々のクリップ132に向って延びて、適宜手
段によってクリップ132にしっかりと固着される。ハ
ウジング70内に試験リード12を保持するために内部
空間72側にある試験リード12の周りに熱収縮性材1
53を配設する。該熱収縮性材が試験リード12の周り
で熱収縮して試験リード12がハウジング70から抜は
出すのを防止する。
試験プラグ70は挿入板78及び端壁80に対して略直
角に延びた1対の支持用隔板154 、155を含む。
隅板155には切欠156が形成されておるがその機能
については後述する。
以上、試験プラグ10の構造を説明したが、試験リード
12の各ワイヤ154と第1の雌形コンタクト14の弾
性指形コネクタ34との間のすぐれた電気的接続をする
ために試験プラグ10がどのように使用されるかは容易
に理解できるであろう。
第10図及び第12図に示すように、プランジャ90が
移動して十分に引出された位置にあって、第1の端壁8
0が端子本体20の縁部20aに当接した状態で端子本
体20内に挿入されている。このように配設するとプラ
ンジャ90の接触部分92が向き合った弾性指形コネク
タ34の間に突入し、逃げ100に向き合った突出部4
2が収まって試験プラグ10が所定の位置に固定される
。また突出部42がそれに向き合った導体帯片124に
接触する。引出した位置においてクリップ132が導体
帯片124に押付けられているので、弾性指形コネクタ
34と試験リード12のワイヤ152間の連続した電気
的接続が得られる。
もし、試験リード12のワイヤ152を弾性指形コネク
タとを接触状にし、しかも過負荷保護装置18を使用し
たい場合には、試験プラグ10の別の使い方としてプラ
ンジャ90を第1図に示す十分に引込んだ位置に引込め
る。このようにプランジャ90を引込めると該プランジ
ャはもはやクリップ132を溝138に向けて付勢した
くなる。従ってクリップ132は溝孔88内ではね返え
る。クリップ132が溝孔88内に配設されると第9図
及び第11図に示すように、試験プラグ10はPCCs
2O自由端部50bの位πにおいて雌形コンタクト17
上に付勢される。(第11図は比較のためにプラグ10
を有する保護装置18とプラグ10を有したい保護装置
18′を示す。保護装置18′の構成要素及び関連コネ
クタは保護装置18の構成要素及び関連コネクタにダッ
シュを付けて示した。)夫々の4個のクリップ132は
PCCs2O両面51..51aにメッキで形成した導
体の第2の接触441152b 、 56bとしっかり
と電気的に接触する。
同様にPCCs2Oメッキで形成した導体の第1の接触
端部52a、58aは夫々4個の弾性指形コネクタ34
にしっかりと電気的に接触する。その結果、夫々の弾性
指形コネクタ34は試験リード12の4本のワイヤ15
2のうちの一つとしっかりと電気的に接触する。
過負荷保護装置18と共に使用中の試験プラグ10を所
定位置に保持するために過負荷保護装置18は端子本体
20の外方にハウジング64を備える。ハウジング64
はガス・ディスチャージ要素62とPCCs2O露出部
分とを包囲した本体部分162を含む。PCCs2O雌
形コンタクト17の自由端部50bはハウジング64を
貫通して延びている。雌形コンタクト17は保護遮蔽物
164によって囲まれている。この遮蔽物164は第9
図に示すように向き合った挿入板78間にはさまれたP
CCs2O挿入板78の部分が侵入するのに十分な距離
をあけている。保護遮蔽物164の一部分は隅板155
に形成された切欠156肉に嵌るような寸法の端部16
6を有する片持ばり状クリップ165に形成されている
。片持ばり状クリップ165が隅板155に固着される
ので試験プラグ10を電気的接触状態に保持させたよ)
で作業員は他の仕事に従事することができる。
上記から本発明の目的がうまく達成されることが判る。
本発明の試験プラグは試験リード12の4本のワイヤ1
52と端子本体20内の雌形コネクタ14との間の電気
的接触に使用できるので極めて有益である。また試験プ
ラグ10は試験リード12のワイヤ152とPCCs2
O雌形コンタクト17の自由端部50bとの間の電気的
接触に使用するように変更することができる。後者のよ
うに接続すると、PC板の構造に起因して試験リード1
2のワイヤ152は雌形コンタクト14の夫々の弾性指
形コネクタ34と依然として接触を保つことができる。
その結果、試験プラグ10は過負荷保護装置18の吏用
の有無に拘らず電気接触試験に使用することができ、従
って汎用性が増し又電気通信設備の安全性を増大する。
尚、゛上述の説明では4本の導体帯片124を有して4
個の弾性指形コネクタ34と試験リード150の4木の
ワイヤ151を電気的に接続する試験プラグについて述
べたが、本発明が例えば試験リードの2本のワイヤと端
子本体内の2個のコネクタとの間の電気的接続等の別の
型式に適用できることは容易に理解できるであろう。
当業者が容易に想起できる事項等の本発明の上記及び他
の変形及び均等物は本発明の請求の範囲に含まれるもの
である。従って本発明の範囲はその請求の範囲に限定さ
れるものではない。
【図面の簡単な説明】
第1図は組立てた本発明の試験プラグの部分破断側面図
でプランジャを引込んだ状態を示し、第2図は第1図の
プランジャを引出した状態を示す部分破断側面図、第3
図は本発明の試験プラグ用プランジャの平面図、第4図
は第3図のプランジャの側面図、第5図は第4図のプラ
ンジャの端面図、第6図は本発明の試験プラグのハウジ
ング部分の平面図、第7図は第6図のハウジング部分の
側面図、第8図は第6図及び第7図のハウジング部分の
端面図、第9図は本発明の試験プラグを有する端子ブロ
ックに取付けた過負荷保護装置の側面図で、試験プラグ
が過負荷保護装置に作動的に接続していることを示し、
第10図は端子ブロックに挿入された本発明の試験プラ
グを示す側面図、第11図は第9図の正面図、第12図
は第10図の正面図、第13図は従来装置の正面図、第
14図は従来装置の側面図である。 10・・・試験プラグ、  12・・・試験リード、1
4・・・雌形コンタクト、17・・・雌形コンタクト、
18・・・過負荷保護装置、34・・・電気コネクタ、
42・・・突出部、    52 、56・1.導体、
70・・・ハウジング、  72・・・内部空間、84
・・・掛止め部材、  86・・・切欠、88・・・溝
孔、     90・・・プランジャ、102 、10
4・・・フォーク部、118・・・溝孔、120 、1
22・・・たれ、   124・・・導電部材、132
・・・弾発性付勢手段、138・・・溝、140・・・
第1の電気的接触点、 152・・・導電手段。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、試験リードと定寸法の第1の雌形コンタクトと定寸
    法の第2の雄形コンタクト間に亘って解除可能な電気的
    接続を選択的に行なうための試験用プラグにおいて、 ハウジング(70)は内部空間(72)を有して手で掴
    み得る寸法に形成されかつ上記ハウジングの一端には上
    記内部空間(72)に連通した溝孔(88)が形成され
    、該溝孔(88)を区画形成する上記ハウジング(70
    )の両表面は上記雄形コンタクト(17)が上記両面間
    の上記溝孔(88)に収まるように互に間隔をあけ、 プランジャ(90)は上記ハウジング(70)の内部空
    間(72)に配設されて引出し位置と引込み位置間に亘
    って摺動移動可能に形成され、上記プランジャ(90)
    は該プランジャ(90)が上記引出し位置にある時に上
    記溝孔(88)を通して延びて上記雌形コンタクト(1
    4)内に収まるような寸法に形成され、また上記プラン
    ジャ(90)が上記溝孔(88)による上記雄形コンタ
    クト(17)の挿入を邪魔されることなく上記ハウジン
    グ(70)内の上記引込み位置に収まるような寸法に形
    成された接触部分(92)を有し、上記雄形コンタクト
    (17)が上記溝孔(88)内に収まった時に第1の電
    気的接触点(140)は上記溝孔(88)内にあって弾
    発性付勢手段(132)によって該雄形コンタクトに電
    気的に接続し、また上記プランジャ(90)が上記引出
    し位置に向って移動した時に上記第1の電気的接触点(
    140)は上記溝孔(88)から外方に移動して上記弾
    発性付勢手段(132)によって上記第1の電気的接触
    点(140)を上記プランジャ(90)の上記接触部分
    (92)に対して接触状に付勢し、 導電手段(152)は上記第1の電気的接触点(140
    )と上記試験リード(12)を電気的に接続し、導電部
    材(124)は上記プランジャの接触部分(92)上に
    配設され、かつ該接触部分(92)が上記雌形コンタク
    ト(14)内に収められた時に該雌形コンタクト(14
    )に電気的に接続し、また上記プランジャ(90)が上
    記引出し位置にある時に上記導電部材(124)が上記
    第1の電気的接触点(140)と電気的に接続したこと
    を特徴とする試験プラグ。 2、上記プランジャ(90)は非電導性材料からなりか
    つ該非電導性材料の上に導電性材料が配設されたもので
    あり、また上記引出し位置から引込み位置に亘った上記
    プランジャ(90)の移動方向に平行に略直線状に延び
    た特許請求の範囲第1項記載の試験プラグ。 3、上記プランジャ(90)は上記ハウジング(70)
    に上記引込み位置に相当する位置に形成した第1の順応
    面及び上記引出し位置に形成した第2の順応面内に夫々
    収め得る寸法の掛止め部材(84)と、該掛止め部材(
    84)を上記順応面に弾発的に付勢する手段と、上記掛
    止め部材を係合させる手段とを備え、上記係合手段を上
    記付勢手段に付勢して掛止め部材を解除して第1及び第
    2の順応面間に亘って移動させ、それによって上記プラ
    ンジャを上記引込み位置と引出し位置間に亘って移動さ
    せた特許請求の範囲第1項記載の試験プランジャ。 4、導電性の弾発性部材(132)は上記ハウジング(
    70)内に固着されかつ上記試験リード(12)に電気
    的に接続された第1の端部を有すると共に上記雄形コン
    タクト17を上記溝孔(88)内に配設した時に上記溝
    孔(88)内に配設されて上記雄形コンタクト(17)
    と電気的に接続される第2の端部を有し、上記弾発性部
    材(132)と向き合った溝孔(88)の内面には上記
    弾発性部材(132)を収める溝(138)が形成され
    ていて、上記プランジャ(90)が上記引出し位置に向
    って移動するのにつれて上記弾発性部材(132)が上
    記溝(138)内に付勢され、上記弾発性部材(132
    )の弾性によって該弾発性部材を上記プランジャ上の導
    電性部材に対して電気的に接触させた特許請求の範囲第
    2項記載の試験プラグ。 5、上記プランジャ(90)は上記接触部分(92)か
    ら延びた1対の片持ばり状のフォーク部(102、10
    4)を備え、該フォーク部は上記接触部分の反対側の隆
    起部材で終端し、該隆起部材はそれに向き合った上記ハ
    ウジング(70)に形成されたたれ受け切欠(86)に
    係合するような寸法に形成したたれ(120、122)
    を含み、上記ハウジング(70)は上記隆起部材が係合
    する長い溝孔(118)を有し、該溝孔は上記プランジ
    ャ(90)の移動方向に略平行に延びた特許請求の範囲
    第1項記載の試験プラグ。 6、上記雌形コンタクト(14)は上記プランジャ(9
    0)の接触部分(92)に向けて付勢されるクリップ状
    コネクタ(34)を含み、また上記接触部分(92)に
    形成された逃し(100)に収まるような寸法に形成さ
    れた突出部(42)を有して上記接触部分を解除可能に
    保持した特許請求の範囲第1項記載の試験プラグ。 7、第1の雌形コンタクトによって電気的に接続された
    複数の対をなしたワイヤコネクタを有する配線端子の試
    験装置であって上記雌形コンタクトは互に電気的に接触
    するように弾発的に付勢された向き合った第1の対の電
    気コネクタを有するものにおいて、 過負荷保護装置(18)は上記の向き合った第1の対の
    電気コネクタ(34)間に着脱自在に収められる寸法に
    形成された露出終端部を有し、第1の対の導体(52、
    56)が上記の露出終端部に固着されていて、上記第1
    の対の導体の一方が上記第1の対の電気コネクタ(34
    )の一方に電気的に接続しまた第1の対の導体の他方が
    第1の対の電気コネクタ(34)の他方に接続するよう
    に形成され、又過負荷保護装置(18)は雄形コンタク
    ト(17)上に配設した第2の対の導体を備え、 試験プラグ(10)は試験リード(12)と上記第1の
    雌形コンタクト(14)及び第2の雄形コンタクト(1
    7)のいずれか一方間に亘って解除可能な電気的接続を
    選択的に行ない、上記試験プラグ(10)は手で掴み得
    る寸法に形成されたハウジング(70)を有し、上記ハ
    ウジングの一端には内部空間(72)に連通する溝孔(
    88)が形成され、上記ハウジング(70)の溝孔(8
    8)を区画形成する両表面には上記溝孔(88)内に上
    記雄形コンタクト(17)を収めるのに十分な間隔が設
    けられ、 プランジャ(90)は上記ハウジング(70)の内部空
    間(72)に配設されて引出し位置と引込み位置間に亘
    って摺動移動可能に形成され、上記プランジャ(90)
    は該プランジャが上記引出し位置にある時に上記溝孔(
    88)を通して延びて上記雌形コンタクト(14)内に
    収まるような寸法に形成され、また上記プランジャ(9
    0)が上記溝孔(88)による上記雄形コンタクト(1
    7)の挿入を邪魔されることなく上記引込み位置に収ま
    るような寸法に形成された接触部分(92)を有し、 第1の対の電気的試験接触点(140)は、上記雄形コ
    ンタクト(17)が上記溝孔(88)内に収まった時に
    上記溝孔(88)内にあって弾発的付勢手段によって上
    記夫々の試験接触点(140)は第2の導体を介して上
    記雄形コンタクト(17)に電気的に接続し、また上記
    プランジャ(90)が上記引出し位置に向って移動した
    時に上記弾発性付勢手段(132)によって上記試験接
    触点(140)を上記の接触部分に向って接触状に付勢
    し、 導電手段(152)は上記試験接触点(140)を上記
    試験リード(12)に電気的に接続し、 1対の導電部材(124)は上記プランジャの接触部分
    (92)上に配設され、上記接触部分(92)が上記雌
    形コンタクト(14)内に収められた時に上記雌形コン
    タクト(14)の第1の対のコネクタを夫々電気的に接
    続し、又上記導電部材(124)を上記第1の電気的接
    触点(140)に電気的に接続したことを特徴とする試
    験装置。 8、上記プランジャ(90)は非電導性材料からなりか
    つ該非電導性材料の上に導電性材料が配設されたもので
    あり、また上記引出し位置から引込み位置に亘った上記
    プランジャ(90)の移動方向に平行に略直線状に延び
    た特許請求の範囲第7項記載の試験装置。 9、上記プランジャ(90)は上記ハウジング(70)
    に上記引込み位置に相当する位置に形成した第1の順応
    面及び上記引出し位置に形成した第2の順応面内に夫々
    収め得る寸法の掛止め部材(84)と、該掛止め部材(
    84)を上記順応面に弾発的に付勢する手段と、上記掛
    止め部材を係合させる手段とを備え、上記係合手段を上
    記付勢手段に付勢して掛止め部材を解除して第1及び第
    2の順応面間に亘って移動させ、それによって上記プラ
    ンジャを上記引込み位置と引出し位置間に亘って移動さ
    せた特許請求の範囲第7項記載の試験装置。 10、導電性の弾発性部材(132)は上記ハウジング
    (70)内に固着されかつ上記試験リード(12)に電
    気的に接続された第1の端部を有すると共に上記雄形コ
    ンタクト17を上記溝孔(88)内に配設した時に上記
    溝孔(88)内に配設されて上記雄形コンタクト(17
    )と電気的に接続される第2の端部を有し、上記弾発性
    部材(132)と向き合った溝孔(88)の内面には上
    記弾発性部材(132)を収める溝(138)が形成さ
    れていて、上記プランジャ(90)が上記引出し位置に
    向って移動するのにつれて上記弾発性部材(132)が
    上記溝(138)内に付勢され、上記弾発性部材(13
    2)の弾性によって該弾発性部材を上記プランジャ上の
    導電性材料に対して電気的に接触させた特許請求の範囲
    第8項記載の試験装置。 11、上記プランジャ(90)は上記接触部分(92)
    から延びた1対の片持ばり状のフォーク部(102、1
    04)を備え、該フォーク部は上記接触部分の反対側の
    隆起部材で終端し、該隆起部材はそれに向き合った上記
    ハウジング(70)に形成されたたれ受け切欠(86)
    に係合するような寸法に形成したたれ(120、122
    )を含み、上記ハウジング(70)は上記隆起部材が係
    合する長い溝孔(118)を有し、該溝孔は上記プラン
    ジャ(90)の移動方向に略平行に延びた特許請求の範
    囲第7項記載の試験装置。 12、上記雌形コンタクト(14)は上記プランジャ(
    90)の接触部分(92)に向けて付勢されるクリップ
    状コネクタ(34)を含み、また上記接触部分(92)
    に形成された逃し(100)に収まるような寸法に形成
    された突出部(42)を有して上記接触部分を解除可能
    に保持した特許請求の範囲第7項記載の試験装置。
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