JPS62198704A - Measuring instrument for bimetal gap of lighting tube - Google Patents
Measuring instrument for bimetal gap of lighting tubeInfo
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- JPS62198704A JPS62198704A JP4071186A JP4071186A JPS62198704A JP S62198704 A JPS62198704 A JP S62198704A JP 4071186 A JP4071186 A JP 4071186A JP 4071186 A JP4071186 A JP 4071186A JP S62198704 A JPS62198704 A JP S62198704A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は点灯管におけるバイメタル接片と固定極との
ギャップを測定し良否判別する点灯管バイメタルギャッ
プ測定装置に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a lighting tube bimetal gap measuring device that measures the gap between a bimetal contact piece and a fixed pole in a lighting tube and determines its quality.
(従来の技術)
点灯管はマウントの下部からウェルズと呼ばれる2本の
脚部が延出され、そのうちの一方のウェルズが固定極を
構成し、他のウェルズにはバイメタル接片の一端がその
面を固定極に対向させて例えば抵抗溶接によって接合さ
れている。この場合ウェルズとバイメタル接片との接合
は点灯管の製造ラインにおいて自動的に行われるが、マ
シンにずれがあったり、マシンの調整が不完全な場合に
はバイメタル接片の接合が正確に行なえず、このためバ
イメタル接片が固定極に接触していたり、逆に離れ過ぎ
たりする場合が発生する。(Prior art) A lighting tube has two legs called wells extending from the bottom of the mount, one of which constitutes a fixed pole, and one end of a bimetal contact piece is attached to the other well. It is joined by resistance welding, for example, with its surface facing the fixed pole. In this case, the well and the bimetal contact piece are automatically joined on the lighting tube manufacturing line, but if there is a misalignment in the machine or the machine is not properly adjusted, the bimetal contact piece may not be joined correctly. As a result, the bimetallic contact piece may come into contact with the fixed pole, or conversely may come too far apart.
このためバイメタル接片と固定極とのギャップの程度を
検査する必要があるが、従来は点灯管が製造された侵に
目視によってギャップを検査し良否判別を行なっていた
。For this reason, it is necessary to inspect the degree of the gap between the bimetal contact piece and the fixed pole, but in the past, the gap was visually inspected after the lighting tube was manufactured to determine whether it was good or bad.
(発明が解決しようとする問題点)
しかしこのようにギャップ検査を目視によって行なうも
のでは、熟練者を必要とするため検査が面倒であり、し
かも誤検査が多く不良品を大量に出す虞れがあった。こ
のため本発明者は、点灯管の固定極とバイメタル接片と
のギャップをイメージセンサ−でIl像して2値化処理
しギャップを画像ドツトデータのドツト数で検出して点
灯管の良否判別を自動的にできるものを開発し、先に出
願した。(特願昭60−244308号)しかしこの先
願のものは常に固定極とバイメタル接片が正しく検査範
囲に入っていなければならないという制約があり、点灯
管の位置に対するイメージセンサ−の位置決めが面倒と
なる問題がある。(Problem to be solved by the invention) However, when gap inspection is performed visually in this way, inspection is troublesome because it requires a skilled person, and there is a risk that there will be many erroneous inspections and a large number of defective products will be produced. there were. For this reason, the inventor of the present invention imaged the gap between the fixed pole of the lighting tube and the bimetallic contact piece using an image sensor, processed it into a binary image, detected the gap by the number of dots in the image dot data, and detected the gap between the fixed pole and the bimetal contact piece of the lighting tube. We developed something that can automatically determine pass/fail and filed an application first. (Japanese Patent Application No. 60-244308) However, in this earlier application, there is a restriction that the fixed pole and bimetal contact piece must always be within the correct inspection range, making it difficult to position the image sensor relative to the lighting tube position. There is a problem.
この発明はこのような点に鑑みて為されたもので、その
目的とするところは、点灯管におけるバイメタル接片と
固定極とのギャップを製造ラインにおいて自動的に検査
できて良否判別が正確にでき、しかも点灯管に対するイ
メージセンサ−の位置決めが比較的容易にでき実用性を
向上できる点灯管バイメタルギャップ測定装置を提供す
ることにある。This invention was made in view of the above points, and its purpose is to automatically inspect the gap between the bimetal contact piece and the fixed pole in the lighting tube on the production line, and to accurately determine whether it is good or bad. It is an object of the present invention to provide a bimetal gap measuring device for a lighting tube, which can improve practicality by allowing relatively easy positioning of an image sensor with respect to the lighting tube.
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
この発明は、点灯管のバイメタル接片と固定極とをl1
lIIIシて得られるイメージセンサ−からの画像デー
タを各ドツト毎に2値化し、その2値化した画像ドツト
データのうち予め設定した抽出範囲のドツトデータにお
けるX方向のハイレベル、ローレベル変化を変数カウン
タでカウントするとともに、その変数カウンタのカウン
ト値が予め設定した値になっている状態でのドツト数を
ドツトカウンタでカウントしてギャップデータとし、こ
の処理をY方向の各行すべてについて終了したときその
最小値を求め、その最小値が許容値に入っているか否か
によって点灯管の良否判別を行なうものである。[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) This invention provides a bimetallic contact piece and a fixed pole of a lighting tube with l1
The image data obtained from the image sensor is binarized for each dot, and changes in the high level and low level in the X direction of the dot data in a preset extraction range of the binarized image dot data are calculated. A variable counter is used to count the number of dots, and when the count value of the variable counter is at a preset value, the number of dots is counted using the dot counter and used as gap data, and when this process is completed for all rows in the Y direction. The minimum value is determined, and the quality of the lighting tube is determined based on whether the minimum value is within the allowable value.
(作用)
このような構成の本発明においては、2値化された画像
ドツトデータのうちの抽出範囲に入るドツトデータにお
けるX方向のハイレベル、ローレベル変化を変数カウン
タでカウントし、その変数カウンタのカウント値が設定
値になっているときのドツト数をドツトカウンタでカウ
ントしているので、例えば固定極、バイメタル接片、バ
イメタル接片を固定したウェルズの順に並べて測定する
場合に、固定極、バイメタル接片に対応する画像データ
をハイレベルとし、空間部に対応する画像データをロー
レベルとし、変数カウンタで最初にハイレベル信号が入
力されたときからカウントを開始し、以降信号がレベル
変化する毎に力「クンドアツブするようにすれば変数カ
ウンタが「2」をカウントしたときには常に固定極とバ
イメタル接片との間の空間部、すなわちギャップ部を示
すことになり、このときの画像ドツトデータのドツト数
をドツトカウンタでカウントすれば1つの行のギャップ
を測定することができる。そしてこれを各行すべてにつ
いて測定し、その最小値を求めることによって固定極と
バイメタル接片との最小ギャップを求めることができ、
従ってこの最小ギャップが許容範囲に入っていれば良品
として判定でき、また許容範囲から外れていれば不良品
として判定できる。すなわち固定極が抽出範囲に完全に
入っていてもまた抽出範囲の端に重なっていてもギャッ
プ部が抽出範囲にあれば常にギャップを正確に測定する
ことができる。(Function) In the present invention having such a configuration, a variable counter counts changes in high level and low level in the X direction in dot data that falls within the extraction range of the binarized image dot data, and Since the dot counter counts the number of dots when the count value of is the set value, for example, when measuring by arranging the fixed pole, bimetal contact piece, and well with fixed bimetal contact piece in that order, the fixed pole, The image data corresponding to the bimetal contact piece is set to high level, the image data corresponding to the space part is set to low level, the variable counter starts counting from the first time a high level signal is input, and the signal level changes thereafter. If the force is increased every time the variable counter counts 2, it will always indicate the space between the fixed pole and the bimetal contact piece, that is, the gap, and the image dot data at this time will be By counting the number of dots with a dot counter, the gap in one row can be measured. By measuring this for all rows and finding the minimum value, the minimum gap between the fixed pole and the bimetal contact piece can be found.
Therefore, if this minimum gap is within the allowable range, it can be determined as a good product, and if it is outside the allowable range, it can be determined as a defective product. That is, even if the fixed pole is completely within the extraction range or overlaps the edge of the extraction range, the gap can always be accurately measured as long as the gap portion is within the extraction range.
(実施例)
第1図及び第2図に示すように、点灯管マウント1の下
部にウェルズから構成される固定慟2及び他のウェルズ
3を所定の間隔を開けて延出したものに対して、製造ラ
インの一工程で前記つ工ルズ3の前記固定極2と対向す
る而にバイメタル接片4の一端を例えば抵抗溶接によっ
て接合している。前記バイメタル接片4は固定極2に対
して逆V字形をしており、固定Ii2との間に所定のギ
ャップが設けられるようになっている。(Example) As shown in FIGS. 1 and 2, a fixing tube 2 consisting of wells and another well 3 are extended at a predetermined interval from the bottom of a lighting tube mount 1. In one step of the production line, one end of the bimetallic contact piece 4 facing the fixed pole 2 of the tool 3 is joined by, for example, resistance welding. The bimetal contact piece 4 has an inverted V shape with respect to the fixed pole 2, and a predetermined gap is provided between it and the fixed pole Ii2.
こうしてバイメタル接片4が接合された点灯管部材に対
してバイメタル接片4の側面に光源5から光を照射し、
その反射光をイメージセンサ−としてのテレビジョンカ
メラ6で受光している。このカメラ6は製造ラインを流
れる点灯管部材に対して少なくとも前記バイメタル接片
4の側面と固定極2とを含む領域をIli像するように
配置されている。Light is irradiated from the light source 5 to the side surface of the bimetal contact piece 4 to the lighting tube member to which the bimetal contact piece 4 is joined in this manner,
The reflected light is received by a television camera 6 serving as an image sensor. This camera 6 is arranged so as to image an area including at least the side surface of the bimetal contact piece 4 and the fixed pole 2 with respect to the lighting tube member flowing on the manufacturing line.
前記テレビジョンカメラ6から出力されるアナログな画
像データを21tl!化回路を構成するA/D変換器7
で2fII化し、デジタルな画像ドツトデータに変換し
ている。そしてこのA/D変換器7 hlらの画像ドツ
トデータをCPLJ、このCPtJが各部を問罪するた
めのプログラムデータが格納されたROM、データ処理
のための各種メモリやカウンタなどが形成されたRAM
、I10ボートなどを設けたマイクロコンピュータ8に
入力させている。このマイクロコンピュータ8のRAM
には第4図に示すようにHLフラグ81、X方向カウン
タ82、Y方向カウンタ83、変数カウンタ84、ドツ
トカウンタ8s、ギャップメモリ86などが設けられて
いる。21tl of analog image data output from the television camera 6! A/D converter 7 configuring the conversion circuit
The image is converted to 2fII and converted into digital image dot data. The image dot data from the A/D converter 7hl is transferred to the CPLJ, a ROM in which program data for interrogating each part is stored, and a RAM in which various memories and counters for data processing are formed.
, an I10 board, etc., are input to a microcomputer 8. RAM of this microcomputer 8
As shown in FIG. 4, an HL flag 81, an X direction counter 82, a Y direction counter 83, a variable counter 84, a dot counter 8s, a gap memory 86, etc. are provided.
前記マイクロコンピュータ8はCPUによる制wi能と
してmxnドツトデータの抽出手段や良否判別手段など
が設けられ、A/D変換器7からのiii*ドツトデー
タを取込むと、そのデータから固定極2とバイメタル接
片4とのギャップが検出できる方向をX方向、これと直
交する方向をY方向として、X方向にmドツト、Y方向
にnドツトの抽出範囲へのドツトデータを抽出するよう
にしている。すなわち抽出範囲はmドツトのn行となっ
ている。The microcomputer 8 is provided with means for extracting mxn dot data and means for determining quality as controlled by the CPU, and when it takes in the iii* dot data from the A/D converter 7, it determines the fixed pole 2 and the fixed pole 2 from that data. The direction in which the gap with the bimetal contact piece 4 can be detected is the X direction, and the direction perpendicular to this is the Y direction, and dot data is extracted in an extraction range of m dots in the X direction and n dots in the Y direction. . In other words, the extraction range is n rows of m dots.
前記マイクロコンピュータ8は第5図に示す処理を行な
う。先ず、ギャップメモリ86に例えばドラj・カウン
タ85が8ビツトとしてそのカウンタのカウント可能な
最大値であるr255Jを仮に設定するとともにY方向
カウンタ83をゼロに設定する。続いてX方向カウンタ
82、変数カウンタ84、ドツトカウンタ85をそれぞ
れゼロに設定するとともにHLフラグ8里をゼロに設定
する。The microcomputer 8 performs the processing shown in FIG. First, for example, the driver j counter 85 is set to 8 bits, and r255J, which is the maximum countable value of the counter, is temporarily set in the gap memory 86, and the Y direction counter 83 is set to zero. Subsequently, the X direction counter 82, variable counter 84, and dot counter 85 are each set to zero, and the HL flag 8 is set to zero.
この状態で抽出されたドツトデータをRAMに格納し、
続いてn−1行目のmドツトについてHレベルかLレベ
ルかをチェックする。例えばmxnドツトの抽出範囲に
第3図に示すような画像ドツトデータが入っているもの
とすると、斜線で示す暗部イの領域ではすべてのドツト
がLレベルとなっている。しかもこの時点では)ILフ
ラグ81及び変数カウンタ84はrOJとなっているの
でX方向カウンタ82がドツト数をカウントするのみと
なる。そして固定極2に対応する明部Oの領域に入ると
ドツトデータ噂がLレベルからHレベルに変化し、しか
もHLフラグ81はrOJであるので変数カウンタ84
が+1され、かつHLフラグ81がrIJとなる。また
X方向カウンタ82は引き続きドツト数をカウントし続
ける。その後ギャップ部に対応する斜線で示す暗部ハの
領域に入るとドツトデータがHレベルからLレベルに変
化し、しかもHLフラグ81は「1」であるので変数カ
ウンタ84が+1され、かつHLフラグ81が「0」と
なる。ここで変数カウンタ84が「2」となるのでドツ
トカウンタ8sがドツト数をカウントするようになる。The dot data extracted in this state is stored in RAM,
Next, it is checked whether the m dot on the n-1th line is at H level or L level. For example, assuming that the mxn dot extraction range contains image dot data as shown in FIG. 3, all dots are at the L level in the shaded dark area A. Furthermore, at this point, the IL flag 81 and the variable counter 84 are at rOJ, so the X direction counter 82 only counts the number of dots. When entering the bright area O corresponding to the fixed pole 2, the dot data rumor changes from L level to H level, and since the HL flag 81 is rOJ, the variable counter 84
is incremented by +1, and the HL flag 81 becomes rIJ. Further, the X-direction counter 82 continues to count the number of dots. After that, when the dot data enters the shaded area C corresponding to the gap, the dot data changes from the H level to the L level, and since the HL flag 81 is "1", the variable counter 84 is incremented by 1, and the HL flag 81 becomes "0". At this point, the variable counter 84 becomes "2", so the dot counter 8s starts counting the number of dots.
またX方向カウンタ82は引き続いてドツト数をカウン
トする。Further, the X direction counter 82 continues to count the number of dots.
さらにバイメタル接片4に対応する明部二の領域に入る
とドツトデータがLレベルからHレベルに変化し、しか
もHLフラグ81は「0」であるので変数カウンタ84
が+1され、かつHLフラグ81が「1」となる。こう
してドツトカウンタ8sによるドツト数カウント動作は
停止される。Furthermore, when entering the bright area 2 corresponding to the bimetal contact piece 4, the dot data changes from the L level to the H level, and since the HL flag 81 is "0", the variable counter 84
is incremented by +1, and the HL flag 81 becomes "1". In this way, the operation of counting the number of dots by the dot counter 8s is stopped.
またX方向カウンタ82はこのときも引き続いてドツト
数をカウントする。さらに暗部ホの領域に入るとドツト
データがHレベルからLレベルに変化し、しかもHLフ
ラグ81は「1」であるので変数カウンタ84が+1さ
れ、かつHLフラグ81が「0」となる。そしてこのよ
うな処理を行なっているときにX方向カウンタ82のカ
ウント値が「96」になると続いて変数カウンタ84の
カウント数が「3」〜「6」の範囲に入っているか否か
をチェックし、その範囲に入っていればドツトカウンタ
85によるギャップのカウントが正しく行われたと判断
してそのドツトカウンタ8sのカウント値とギャップメ
モリ86の内容とを比較し、ドツトカウンタ85のカウ
ント値が小さければそのカウント値にギャップメモリ8
6の内容を書換える。そしてY方向カウンタ83の内容
を+1し、そのカウンタ83のカランI−filが「9
6」に達するまで前述した処理をくり返す。Also, the X-direction counter 82 continues to count the number of dots at this time as well. Further, when entering the dark area E, the dot data changes from the H level to the L level, and the HL flag 81 is "1", so the variable counter 84 is incremented by 1 and the HL flag 81 becomes "0". When the count value of the X-direction counter 82 reaches "96" while performing such processing, it is then checked whether the count value of the variable counter 84 is within the range of "3" to "6". If it is within this range, it is determined that the gap count by the dot counter 85 has been performed correctly, and the count value of the dot counter 8s is compared with the contents of the gap memory 86, and if the count value of the dot counter 85 is small, it is determined that the gap count is performed correctly. Gap memory 8 for the count value
Rewrite the contents of 6. Then, the content of the Y-direction counter 83 is incremented by 1, and the counter I-fil of the counter 83 is “9”.
The above-mentioned process is repeated until reaching 6''.
そしてY方向カウンタ83のカウント値が「96」にな
ると、ギャップメモリ86の内容が予め設定されたaと
bの許容範囲に入っているか否かをチェックし、a、b
間に入って入ればギャップが正しい間隔になっていると
判断し良品判別を行ない、またa、b間から外れていれ
ばギャップが狭過ぎるか広過ぎると判断し不良品判別を
行なってリジェクト信号Reを出力する。製造ラインで
はこのリジェクト信号Reによってリジエクに機構が駆
動されて不良品の点灯管部材がリジェクトされる。When the count value of the Y-direction counter 83 reaches "96", it is checked whether the contents of the gap memory 86 are within the preset tolerance range of a and b.
If it is between a and b, it is determined that the gap is at the correct interval and a non-defective product is determined. If it is outside the gap between a and b, it is determined that the gap is too narrow or too wide, a defective product is determined, and a reject signal is sent. Outputs Re. In the manufacturing line, a mechanism is driven by the reject signal Re to reject defective lighting tube members.
このような構成の本実施例においては、第3図に示すよ
うに抽出範囲に固定極2とバイメタル接片4が正しく入
っていればY方向のn行についてギャップ部への幅がド
ツトカウンタ8sでカウントされ、その最小値が問題な
く求められる。In this embodiment with such a configuration, if the fixed pole 2 and the bimetal contact piece 4 are correctly included in the extraction range as shown in FIG. is counted, and its minimum value can be found without any problem.
また、第6図の(a)に示すように固定極2に対応した
明部口、ギャップに対応した暗部ハ、バイメタル接片4
に対応した明部口、暗部ホ及び他のウェルズ3に対応し
た明部へが抽出範囲に入っているときには、変数カウン
タ84のカウント1直は最初の明部口で「1」となり、
次の暗部ハで「2」となり、次の明部口で「3」となり
、次の暗部ホで「4」となり、さらに次の明部へて「5
」となる。そしてこのときも変数カウンタ84のカウン
ト値が「2」となったときドツトカウンタ85が暗部ハ
の幅をカウントし、しかもX方向カウンタ82が「96
」をカウントしたときの変数カウンタ84のカウント値
が「5」で「3」〜「6」の範囲に入っているので、ド
ツトカウンタ85によってギャップが測定され、最終的
にその最小値が求められる。従ってこの場合も点灯管部
材の良否判別が正しくできる。In addition, as shown in FIG. 6(a), there is a bright part opening corresponding to the fixed pole 2, a dark part C corresponding to the gap, and a bimetal contact piece 4.
When the bright area opening corresponding to the well 3, the dark area E, and the bright area corresponding to the other well 3 are included in the extraction range, the count 1 of the variable counter 84 becomes "1" at the first bright area opening,
In the next dark part C, it becomes "2", in the next light part it becomes "3", in the next dark part E, it becomes "4", and then in the next bright part it becomes "5".
”. At this time as well, when the count value of the variable counter 84 reaches "2", the dot counter 85 counts the width of the dark area C, and the X direction counter 82 counts "96".
'', the count value of the variable counter 84 is ``5'' and falls within the range of ``3'' to ``6'', so the dot counter 85 measures the gap and finally finds its minimum value. . Therefore, in this case as well, it is possible to accurately determine the quality of the lighting tube member.
また、第6図の(b)に示すように最初の暗部イ、固定
極2に対応した明部口、ギャップに対応した暗部ハ、バ
イメタル接片4の一部に対応した明部口及び暗部ホが抽
出範囲に入っているときには、変数カウンタ84のカウ
ント値は最初の暗部イのときには「0」のままとなり、
次の明部口で「1」となり、次の暗部ハで「2」となる
。そしてこの時点でドツトカウンタ85がギャップ部の
ドツト数をカウントするようになる。そしてこの例では
Y方向カウンタ83が「0」に近い小さい数をカウント
しているとぎ及び「96jに近い大きい数をカウントし
ているときには明部口に対応するドツトデータは検出さ
れない。しかしてドツトカウンタ85はX方向カウンタ
82が「96」をカウントするまでカウントし続けるこ
とになる。In addition, as shown in FIG. 6(b), the first dark area A, the bright area opening corresponding to the fixed pole 2, the dark area C corresponding to the gap, the bright area opening and the dark area corresponding to a part of the bimetal contact piece 4. When E is within the extraction range, the count value of the variable counter 84 remains "0" at the first dark part A,
It becomes "1" at the next bright part, and becomes "2" at the next dark part. At this point, the dot counter 85 starts counting the number of dots in the gap. In this example, when the Y direction counter 83 is counting a small number close to "0" and when counting a large number close to "96j," the dot data corresponding to the bright area opening is not detected. The counter 85 continues counting until the X direction counter 82 counts "96".
しかしX方向カウンタ82が「96」をカウントした時
点では変数カウンタ84は「2」となっており、「3」
〜「6」の範囲に入っていないのでこのときのドツトカ
ウンタ85のカウント値はギャップメモリ8Bの内容と
は比較されず除去される。また、明部口に対応するドツ
トデータが検出される部分ではその明部口が検出される
と変数カウンタ84のカウント値は「3」となり、ドツ
トカウンタ8sによるドツト数カウンタも終了する。However, when the X-direction counter 82 counts "96", the variable counter 84 is "2" and "3".
Since it is not within the range of .about.6, the count value of the dot counter 85 at this time is not compared with the contents of the gap memory 8B and is removed. Further, in the portion where dot data corresponding to the bright area opening is detected, when the bright area opening is detected, the count value of the variable counter 84 becomes "3", and the dot number counter by the dot counter 8s also ends.
そしてその後明部口を検出した状態でX方向カウンタ8
2が「96」のカウントを終了しても、またその後さら
に暗部ホを検出してからX方向カウンタ82が「96」
のカウントを終了しても変数カウンタ84のカウント値
が「3」又は「4」(こなっているのでこのときのドツ
トカウンタ85のカウントは有効と判断されてギャップ
メモリ8Sの内容と比較されギャップメモリ86には常
にギャップの最小値が格納されるようになる。しかして
このような場合でも固定極2とバイメタル接片4とのギ
ャップの最小値は正しく求められることになる。従って
この場合も点灯管部材の良否判別が正しくできる。After that, when the bright area opening is detected, the X direction counter 8
Even if the counter 82 finishes counting "96", the X-direction counter 82 continues to count "96" after detecting the dark area H.
Since the count value of the variable counter 84 is still "3" or "4" even after counting is completed, the count of the dot counter 85 at this time is judged to be valid and is compared with the contents of the gap memory 8S. The minimum value of the gap is always stored in the memory 86. However, even in such a case, the minimum value of the gap between the fixed pole 2 and the bimetal contact piece 4 can be determined correctly. It is possible to accurately determine the quality of lighting tube members.
さらに、第6図の(C)に示すように固定極2の一部に
対応した明部口、ギャップに対応した暗部ハ、バイメタ
ル接片4に対応した明部口、暗部ホ、他のウェルズ4に
対応した明部へ及び暗部トが抽出範囲に入っているとき
には、変数カウンタ84のカウント値は明部口で「1」
となり、次の暗部ハで「2」となる。そしてこの時点で
ドツトカウンタ85がギャップ部のドツト数をカウント
するようになる。そして明部口に対応するドツトデータ
が検出されるとドツトカウンタ8sはカウント動作を終
了する。また明部口が検出されると変数カウンタ84の
カランl−IIは「3」となる。Furthermore, as shown in FIG. 6(C), a bright part corresponding to a part of the fixed pole 2, a dark part C corresponding to the gap, a bright part opening corresponding to the bimetal contact piece 4, a dark part E, and other wells are added. When the bright area and the dark area corresponding to 4 are within the extraction range, the count value of the variable counter 84 is "1" at the bright area.
Then, it becomes "2" in the next dark part C. At this point, the dot counter 85 starts counting the number of dots in the gap. When the dot data corresponding to the bright area opening is detected, the dot counter 8s ends its counting operation. Further, when the bright part opening is detected, the count l-II of the variable counter 84 becomes "3".
さらに変数カウンタ84は暗部ホが検出されると「4」
となり、明部へか検出されると「5」となり、さらに暗
部トが検出されると「6」となる。Furthermore, the variable counter 84 becomes "4" when the dark part H is detected.
When a bright area is detected, the value becomes "5", and when a dark area is detected, the value becomes "6".
そしてこの時点でX方向カウンタ82が「96」のカウ
ントを終了するとそのときの変数カウンタ84のカウン
ト値が「6」となっているので、このときのドツトカウ
ンタ85のカウントは有効と判断されてギャップメモリ
86の内容と比較されギャップメモリ86には常にギャ
ップの最小値が格納されるようになる。しかしてこのよ
うな場合でも固定極2とバイメタル接片4とのギャップ
の最小値は正しく求められることになる。従ってこの場
合も点灯管部材の良否判別が正しくできる。At this point, when the X direction counter 82 finishes counting "96", the count value of the variable counter 84 at that time becomes "6", so the count of the dot counter 85 at this time is judged to be valid. It is compared with the contents of the gap memory 86, and the minimum value of the gap is always stored in the gap memory 86. However, even in such a case, the minimum value of the gap between the fixed pole 2 and the bimetal contact piece 4 can be determined correctly. Therefore, in this case as well, it is possible to accurately determine the quality of the lighting tube member.
このように第3図に示すような抽出範囲内に固定極2及
びバイメタル接片4の画像のみが正しく入っていのみで
なく、第6図の(a)〜(C)に示すように、固定極2
やバイメタル接片4の一部が欠けていたり、あるいは他
のウェルズ3の画像が混入していてもギャップ部に対応
する暗部へが正しく入っていればすべてギャップの測定
が有効となるので、点灯管とカメラ5との位置関係に多
少のずれがあってもギャップ測定は問題無く行なえる。In this way, not only the images of the fixed pole 2 and the bimetal contact piece 4 are correctly included within the extraction range as shown in Fig. 3, but also the fixed pole 2
Even if a part of the bimetal contact piece 4 is missing or the image of another well 3 is mixed in, as long as the dark area corresponding to the gap is entered correctly, the gap measurement will be valid in all cases. Even if there is some deviation in the positional relationship between the light tube and the camera 5, gap measurement can be performed without any problem.
すなわち点灯管に対するカメラ5の位置決めが容易にで
きる。また、点灯管の固定V7A2とバイメタル接片4
とのギャップをカメラ5でl[lしてドツトデータに2
値化し、そのドラ1〜データをプログラムによって処理
してギャップ部に対応するドツトデータをカウントして
最小値を求め、それを許容値と比較することによって良
否判別しているので、良否判別が正確にできるとともに
ギャップ検査の自動化ができる。このような利点から本
装置は点灯管の製造ラインに容易に組込むことができ、
実用性を向上できる。That is, the camera 5 can be easily positioned with respect to the lighting tube. Also, fixing V7A2 of lighting tube and bimetal contact piece 4
The gap between the
The data is converted into a value, processed by a program, the dot data corresponding to the gap is counted, the minimum value is obtained, and the pass/fail judgment is made by comparing it with the tolerance value, so pass/fail judgment is accurate. It is possible to automate gap inspection. Due to these advantages, this device can be easily incorporated into the lighting tube manufacturing line.
Practicality can be improved.
[発明の効果〕
以上計速したようにこの発明によれば、点灯管における
バイメタル接片と固定極とのギャップを製造ラインにお
いて自動的に検査できて良否判別が正確にでき、しかも
点灯管に対するイメージセンサ−の位置決めが比較的容
易にでき実用性を向上できる点灯管バイメタルギャップ
測定装四を提供できるものである。[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, the gap between the bimetal contact piece and the fixed pole in the lighting tube can be automatically inspected on the production line, and pass/fail judgment can be accurately made. It is possible to provide a lighting tube bimetal gap measuring device that allows relatively easy positioning of an image sensor with respect to the tube and improves practicality.
図はこの発明の実施例を示すもので、第1図はブロック
図、第2図はバイメタル接片と固定極のギ1アップを示
す部分拡大図、第3図は第2図のA領域の2値化された
画像ドツトデータによるパターンの一例を示す図、第4
図はマイクロコンピュータ内のRAMの主な構成を示す
図、第5図はマイクロコンピュータによるギャップ測定
処理を示す流れ図、第6図は測定可能な画像ドツトデー
タによるパターンの他の例を示す図である。
1・・・点灯管マウント、2・・・固定極、4・・・バ
イメタル接片、6・・・テレビジョンカメラ(イメージ
センサ−)、7・・・A/D変換器(211化回路)、
8・・・マイクロコンピュータ、82・・・X方向カウ
ンタ、83・・・Y方向カウンタ、84・・・変数カウ
ンタ、8s・・・ドツトカウンタ、86・・・ギャップ
メモリ。
出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
嬉 1 図
第2図 13 vlJ
第 5 図The figures show an embodiment of the present invention. Fig. 1 is a block diagram, Fig. 2 is a partially enlarged view showing the gear up of the bimetal contact piece and the fixed pole, and Fig. 3 is an area A of Fig. 2. FIG. 4 shows an example of a pattern based on binarized image dot data.
The figure shows the main configuration of the RAM in the microcomputer, FIG. 5 is a flowchart showing gap measurement processing by the microcomputer, and FIG. 6 is a diagram showing another example of a pattern based on measurable image dot data. . DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Lighting tube mount, 2... Fixed pole, 4... Bimetal contact piece, 6... Television camera (image sensor), 7... A/D converter (211 circuit) ),
8... Microcomputer, 82... X direction counter, 83... Y direction counter, 84... Variable counter, 8s... Dot counter, 86... Gap memory. Applicant's representative Patent attorney Takehiko Suzue 1 Figure 2 Figure 13 vlJ Figure 5
Claims (1)
む領域を撮像するイメージセンサーと、このイメージセ
ンサーからの画像データを各ドット毎に2値化する2値
化回路と、固定極とバイメタル接片とのギャップを検出
できる方向をX方向、このX方向に直交する方向をY方
向とし、前記2値化回路からの画像ドットデータのうち
X方向にmドット、Y方向にnドット行のmXnドット
を抽出範囲に設定する手段と、この手段による抽出範囲
の画像ドットデータにおけるX方向のハイレベル、ロー
レベル変化を各ドット行毎にカウントする変数カウンタ
と、この変数カウンタのカウント値が予め設定した値に
なつている状態での画像ドットデータのドット数をカウ
ントするドットカウンタと、前記変数カウンタのカウン
ト値が前記設定値を越えたとき前記ドットカウンタのカ
ウント値をギャップデータとして取出し、各ドット行毎
のギャップデータを比較して最小値を求める手段と、こ
の手段によって求められた最小値ギャップデータを予め
設定した許容値と比較し、良否判別を行なう手段とを設
けたことを特徴とする点灯管バイメタルギャップ測定装
置。An image sensor that images an area including at least the side surface of the bimetal contact piece of the lighting tube and the fixed pole, a binarization circuit that binarizes image data from the image sensor for each dot, and a contact between the fixed pole and the bimetal contact. The direction in which the gap can be detected is the X direction, and the direction orthogonal to this X direction is the Y direction.Among the image dot data from the binarization circuit, mXn of m dots in the X direction and n dots in the Y direction. means for setting dots in the extraction range; a variable counter for counting high level and low level changes in the X direction in the image dot data of the extraction range by this means for each dot row; and a count value of the variable counter is set in advance. a dot counter that counts the number of dots of the image dot data when the set value is reached, and when the count value of the variable counter exceeds the set value, the count value of the dot counter is taken out as gap data, and each dot is The present invention is characterized by comprising a means for comparing gap data for each row to obtain a minimum value, and a means for comparing the minimum value gap data obtained by this means with a preset tolerance value to determine quality. Light tube bimetal gap measurement device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4071186A JPS62198704A (en) | 1986-02-26 | 1986-02-26 | Measuring instrument for bimetal gap of lighting tube |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4071186A JPS62198704A (en) | 1986-02-26 | 1986-02-26 | Measuring instrument for bimetal gap of lighting tube |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62198704A true JPS62198704A (en) | 1987-09-02 |
Family
ID=12588165
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4071186A Pending JPS62198704A (en) | 1986-02-26 | 1986-02-26 | Measuring instrument for bimetal gap of lighting tube |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62198704A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111458333A (en) * | 2020-04-10 | 2020-07-28 | 江苏怡通控制系统有限公司 | Temperature controller bimetallic strip temperature characteristic screening system and method based on image processing |
-
1986
- 1986-02-26 JP JP4071186A patent/JPS62198704A/en active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111458333A (en) * | 2020-04-10 | 2020-07-28 | 江苏怡通控制系统有限公司 | Temperature controller bimetallic strip temperature characteristic screening system and method based on image processing |
WO2021203507A1 (en) * | 2020-04-10 | 2021-10-14 | 江苏怡通控制系统有限公司 | Image processing-based system and method for screening temperature characteristics of bimetal sheet of temperature controller |
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