JPS62180833A - Negative automatic exchanger - Google Patents

Negative automatic exchanger

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JPS62180833A
JPS62180833A JP61021965A JP2196586A JPS62180833A JP S62180833 A JPS62180833 A JP S62180833A JP 61021965 A JP61021965 A JP 61021965A JP 2196586 A JP2196586 A JP 2196586A JP S62180833 A JPS62180833 A JP S62180833A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reticle
cassette
original
carrier
exchange device
Prior art date
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Pending
Application number
JP61021965A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Nakazato
博 中里
Kazuo Iizuka
和夫 飯塚
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP61021965A priority Critical patent/JPS62180833A/en
Publication of JPS62180833A publication Critical patent/JPS62180833A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/70733Handling masks and workpieces, e.g. exchange of workpiece or mask, transport of workpiece or mask
    • G03F7/70741Handling masks outside exposure position, e.g. reticle libraries

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Library & Information Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Controlling Sheets Or Webs (AREA)
  • Sheets, Magazines, And Separation Thereof (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Warehouses Or Storage Devices (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve workability, by providing a mark detecting means in the vicinity of a negative take-out port of a cassette so that a negative is promptly detected and discriminated, in case of the captioned device equipped with the mark detecting means which detects a discrimination mark on the negative taken out from the cassette. CONSTITUTION:A negative automatic exchanger for a reticle or the like used for a semiconductor manufacturing process has a reticle carrier 2 in which a reticle cassette 1 containing a reticle 9 sheet by sheet is laminated vertically in plural stages. The reticle 9, being loaded in a saucer 11, is housed in the cassette 1, and a bar code 12 is provided in each reticle 9. A fork 3 is provided on a lift mechanism 4 for taking out said reticle 9, and the taken out reticle 9 is delivered to a reticle hand 8 by a delivery mechanism 7. In the above constitution, a bar code reader head 6 for reading the bar code 12 is set to an end part adjacent to the reticle carrier 2 on the lift mechanism 4.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の分野〕 本発明は、半導体製造プロセスで用いる露光装置等のフ
ォトマスクまたはレチクル等の原版自動交換装置に関し
、特に原版の識別マーク検出手段の改良に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of the Invention] The present invention relates to an automatic original exchange device for a photomask or a reticle in an exposure apparatus used in a semiconductor manufacturing process, and particularly to an improvement in identification mark detection means for an original.

なお、本明・納置において「レチクル」は[マスり」を
含むものとし、またレチクルを例にした説明はマスクに
対しても同様に適用可能である。また、「原版」はマス
クまたはレチクルのように露光または印刷等により転写
すべき原画を形成した遮蔽体をいう。
Note that in the present invention and storage, "reticle" includes "mass", and the explanation using a reticle as an example can be similarly applied to a mask. Furthermore, the term "original plate" refers to a shielding body such as a mask or a reticle, on which an original image to be transferred is formed by exposure or printing.

(発明の背景) 半導体フォトリソグラフィプロセスにおいては、クエへ
の各チップにパターンを形成するために、実寸パターン
のマスクをウニへ面に密看させて露光焼付けを行なった
りまたは実寸の数倍〜10倍程度の1チップ分のパター
ンが形成されたレチクルを光学的手段を介して縮小して
ウェハ上に投jしパターン焼付けを行なっている。1つ
の半導体、デバイスを完成するには、1枚のウェハに対
しこのパターンの焼付けの工程を通常数回〜数10回行
なう。具体的には、まずあるマスク工程のレチクルを露
光装置本体にセットし、所定二(例えば100枚)のウ
ェハについてパターン焼付は工程を実施する。焼付は工
程を終えたウニへ群は必要に応じてエツチングや不純物
拡散、また導体層、絶縁層、半導体層の形成、さらには
フォトレジスト塗布等の処理をし、その後レチクルを次
のマスク工程のものに交換し、これらのウェハすべてに
ついてそのレチクルのパターン焼イ」け工程を実施する
。以下、同様に焼付は工程を繰返し、求めるパターンの
ウェハを得る。
(Background of the Invention) In the semiconductor photolithography process, in order to form a pattern on each chip, a mask with an actual size pattern is placed close to the surface of the urchin and exposed and baked, or a mask with an actual size pattern is exposed and printed on the surface of the substrate. A reticle on which a pattern for one chip, which is about twice as large as the original size, is formed is reduced through optical means and projected onto a wafer to print the pattern. To complete one semiconductor or device, this pattern baking process is usually performed several to several dozen times on one wafer. Specifically, first, a reticle for a certain mask process is set in the exposure apparatus main body, and the pattern baking process is performed on a predetermined number of wafers (for example, 100 wafers). After the baking process has been completed, the reticle is processed as necessary by etching, impurity diffusion, formation of conductor layers, insulating layers, semiconductor layers, and even photoresist coating.Then, the reticle is used for the next mask process. Then, the reticle pattern burning process is performed on all of these wafers. Thereafter, the baking process is repeated in the same manner to obtain a wafer with the desired pattern.

この場合、各焼付は工程で用いられるパターンすなわち
マスク(またはレチクル)は異なるのが普通である。従
って、各段階の露光に際して露光装置本体に別々のレチ
クルをセットする必要がある。このため、従来はレチク
ル交換が必要な場合、人手で交換したり、またレチクル
ヂエンジャを装備して自動釣にレチクルの交換を行なっ
たりしていた。
In this case, the pattern or mask (or reticle) used in each printing process is usually different. Therefore, it is necessary to set separate reticles in the exposure apparatus main body for each stage of exposure. For this reason, in the past, when a reticle needed to be replaced, it was done manually, or a reticle changer was installed to automatically change the reticle.

このようなレチクル等の自動交換装置においては、交換
のために取出したレチクルが正しいレチクルであるかど
うかを露光する前に検出し判別する必要がある。このた
め、一般にレチクルにはバーコードによる識別マークが
設けられ、装置上にこのバーコードを読取るバーコード
リーダが備わつている。
In such an automatic reticle exchange device, it is necessary to detect and determine whether a reticle taken out for exchange is the correct reticle before exposure. For this reason, the reticle is generally provided with a barcode identification mark, and the device is equipped with a barcode reader for reading this barcode.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来この種の装置においてレチクルを検出する場合は、
レチクルをレチクルキャリアから抜き出した後、アライ
ナのレチクル露光位1置まで搬送してレチクルアライメ
ントしてからレチクルのバーコードをスキャンしてレチ
クルの情、報を解読するか、またはレチクルキャリアと
レチクル露光位置の間に、バーコード:読出しを目的と
する専用のスキャニングポジションを設けてここでレチ
クル判別を行なっていた。:しかしながら、このような
従来のレチクル自動交換装置ではレチクルキャリアから
レチクルを取出してからバーコードを読取るまでに多く
の工程が必要となりレチク、ルの搬送圧1fjlfも長
く時間も多く要するためレチクルギヤリアへのカセット
ケース収納場所間違い、カセットケースへのレチクル収
納間違い、あるいはレチクルローディング時の誤・動作
等により正しいレチクルが取出されなかった場合にレチ
クルの正誤の判定に時間がtiトかり、アライナのマシ
ンタイムを;マ〈才るという欠点があった。
Conventionally, when detecting a reticle with this type of device,
After removing the reticle from the reticle carrier, transport it to the reticle exposure position 1 of the aligner, perform reticle alignment, and then scan the reticle barcode to decode the reticle information, or move the reticle carrier and reticle exposure position. During this period, a dedicated scanning position was set up for the purpose of barcode reading, and reticle identification was performed here. However, in such a conventional automatic reticle exchange device, many steps are required from taking out the reticle from the reticle carrier to reading the barcode, and the reticle transfer pressure 1fjlf is also long and it takes a lot of time. If the correct reticle is not taken out due to the incorrect storage location of the cassette case, the incorrect storage of the reticle into the cassette case, or a malfunction/operation during reticle loading, it will take a long time to determine whether the reticle is correct or not, and the aligner machine may It had the disadvantage of slowing down in time.

(発明の目的) 本発明は、前記従来技術の欠点に鑑みなされたものであ
って、レチクルの自動交換に際し、取出したレチクルの
検出判別を直ちに行い、誤ったレチクルが取出された場
合のロスダイムを最小限に抑えることができる原版自動
交換装置の提供を目的とする。
(Object of the Invention) The present invention has been made in view of the drawbacks of the prior art described above, and when automatically exchanging reticles, the reticle taken out is immediately detected and determined, thereby reducing loss dimes when the wrong reticle is taken out. The purpose is to provide an automatic original plate exchange device that can minimize the number of original plates.

〔実施例〕〔Example〕

以下図面に基いて本発明の実施例について説明する。第
1図は本発明に係るレチクル自動交換装置の斜視図、第
2図はその概略側面図である。内部に1枚づつレチクル
を収容したレチクルカセット1が上下に複数段に積層さ
れてレチクルキャリア2内に収納されている。レチク:
ル9は、第3図に示すように、受皿11内に載置されこ
の受皿11がレチクルカセット1内に収納される。レチ
クル9には品番等の情報をコード化したバーコード12
が設けられている。このレチクル9をレチクルカセット
1から取出すためのフォーク3が昇降機構4上に設けら
れている。昇降機構4は、ガイドホルダ10を介してガ
イド支柱5に沿って上下に移動可能である。この昇降機
構4上のレチクルキャリア1に近接した端部にバーコー
ドリーダーヘッド6が設置される。昇降機構4の最上昇
位置に対応した位置にレチクルの受渡し機構7が設けら
れている。8はレチクル9の受渡し動作を行なうための
ハンドである。バーコードリーダーヘッド6はデコーダ
13(第3図)に連結され読取った情報が解読される。
Embodiments of the present invention will be described below based on the drawings. FIG. 1 is a perspective view of an automatic reticle exchange device according to the present invention, and FIG. 2 is a schematic side view thereof. Reticle cassettes 1 each containing one reticle are stacked vertically in multiple stages and stored in a reticle carrier 2. Reticulation:
As shown in FIG. 3, the reticle 9 is placed in a tray 11, and this tray 11 is housed in the reticle cassette 1. The reticle 9 has a barcode 12 that encodes information such as the product number.
is provided. A fork 3 for taking out the reticle 9 from the reticle cassette 1 is provided on the lifting mechanism 4. The elevating mechanism 4 is movable up and down along the guide column 5 via the guide holder 10. A barcode reader head 6 is installed at an end of the elevating mechanism 4 close to the reticle carrier 1. A reticle delivery mechanism 7 is provided at a position corresponding to the highest position of the lifting mechanism 4. A hand 8 is used to transfer the reticle 9. The barcode reader head 6 is connected to a decoder 13 (FIG. 3) to decode the read information.

第3図に示すように、レチクルカセット1に設けたバー
コード14を読取るための第2のバーコードリーダーヘ
ッド15をレチクルキャリア2上の適当な位置に設けて
もよい。
As shown in FIG. 3, a second barcode reader head 15 for reading the barcode 14 provided on the reticle cassette 1 may be provided at an appropriate position on the reticle carrier 2.

次に上記溝成のレチクル自動交換装置の動作について説
明する。昇降機構4が移動して選択されたレチクルカセ
ット1の位置で停止する。フォーク3がレチクルカセッ
ト1から矢印Aのように水平にレチクル9を受皿11と
ともに取出す。続いて昇降機構4が矢印Bのように上昇
して受渡し機構7を介してハント8てレチクル9を把握
し、アライナ(図示しない)へ搬送する。
Next, the operation of the above-mentioned automatic reticle exchange device will be explained. The elevating mechanism 4 moves and stops at the selected position of the reticle cassette 1. The fork 3 takes out the reticle 9 along with the saucer 11 horizontally as shown by arrow A from the reticle cassette 1. Subsequently, the elevating mechanism 4 ascends as shown by arrow B, and the reticle 9 is grasped by the hunt 8 via the delivery mechanism 7, and conveyed to an aligner (not shown).

レチクルカセット1からレチクル9をフォーク3により
水平に抜き出すときに、フォーク動作をガイドしている
昇降機溝4に取付けられたバーコードリーダーヘッド6
からビームをレチクル9のバーコード12に投光し、フ
ォークの抜き出し動作によりレチクル9のバーコードを
ビームでスキャンする。バーコード12の反射光を再び
バーコードリーダーヘッド6内のディテクタで受光し、
信号情報としてデコーダ13で解読し、正しいレチクル
であるか判定し、情報をアライナへ伝送する。誤ったレ
チクルであれは再びレチクルカセット1へ戻し、エラー
を表示する。正しいレチクルであれば昇降機構4が受渡
し位置までレチクルを上昇させ、レチクルハンド8に受
渡し、アライナのレチクル露光位置へ搬送し、レチクル
アライメントして露光プロセスに入る。
A barcode reader head 6 is attached to the elevator groove 4 that guides the fork movement when the reticle 9 is extracted horizontally from the reticle cassette 1 by the fork 3.
A beam is projected onto the barcode 12 of the reticle 9, and the barcode of the reticle 9 is scanned with the beam by the action of pulling out the fork. The reflected light of the barcode 12 is received again by the detector inside the barcode reader head 6,
The decoder 13 decodes the reticle as signal information, determines whether it is a correct reticle, and transmits the information to the aligner. If the reticle is incorrect, it is returned to reticle cassette 1 and an error message is displayed. If the reticle is correct, the lifting mechanism 4 raises the reticle to the delivery position, delivers it to the reticle hand 8, transports it to the reticle exposure position of the aligner, performs reticle alignment, and begins the exposure process.

(発明の効果〕 以上説明したように、本発明に係るレチクル自動交換装
面においては、レチクルカセットのレチクル取出口の近
傍にバーコードリーダーヘッドを配置しているため、レ
チクルの取出し動作中にバーコードを読取ることができ
非常に早い時点で取出したレチクルの情報が得られ正し
いレチクルかどうかの判別が可能となる。従って、誤っ
たレチクルを取出した場合に、無駄な搬送動作を最小限
に抑え直ちにこれをレチクルカセットに戻すことができ
、ロスタイムが減少し、装置の稼動効率が向上する。ま
た、不要な搬送動作時に発生する塵埃が最小限に抑えら
れる。
(Effects of the Invention) As explained above, in the automatic reticle exchange system according to the present invention, since the barcode reader head is disposed near the reticle ejection port of the reticle cassette, the barcode reader head is disposed near the reticle ejection port of the reticle cassette. The code can be read and information about the reticle taken out can be obtained at a very early stage, making it possible to determine whether it is the correct reticle.Thus, if the wrong reticle is taken out, unnecessary transport operations can be minimized. It can be immediately returned to the reticle cassette, reducing lost time and improving the operating efficiency of the device.Furthermore, dust generated during unnecessary transport operations is minimized.

またレチクルキャリアにレチクルカセットのバーコード
読取り用のバーコードリーダーヘッドを設けておけば、
カセットをキャリアに収納する時点でカセットの確認が
可能となり、誤ったレチクルの取出し動作を未然に防止
できる。
Also, if the reticle carrier is equipped with a barcode reader head for reading barcodes on the reticle cassette,
The cassette can be checked at the time the cassette is stored in the carrier, and erroneous reticle ejection operations can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明に係るレチクル自動交換装置11の斜視
図、第2図は第1図のレチクル自動交換装置の概略側面
図、第3図は本発明に係るレチクル自動交換装置の動作
説明図である。 1・・・・・・レチクルカセット、2・・・・・・レチ
クルキャリア、3・・・・・・フォーク、4・・・・・
・男、降機構、6・・・・・・バーコードリーダーヘッ
ド、9・・・・・・レチクル、12.14・・・・・・
バーコード、15・・・・・・第2のバーコードリーダ
ーヘッド。 特 許 出 願 人  キャノン株式会社代理人 弁理
士   伊 東 辰 雄 代理人 弁理士   伊 東 哲 也 第 1r!!J 第2図 第3図
FIG. 1 is a perspective view of an automatic reticle exchange device 11 according to the present invention, FIG. 2 is a schematic side view of the automatic reticle exchange device of FIG. 1, and FIG. 3 is an explanatory diagram of the operation of the automatic reticle exchange device according to the present invention. It is. 1... Reticle cassette, 2... Reticle carrier, 3... Fork, 4...
・Man, lowering mechanism, 6...barcode reader head, 9...reticle, 12.14...
Barcode, 15...Second barcode reader head. Patent Applicant Canon Co., Ltd. Agent Patent Attorney Tatsuo Ito Agent Patent Attorney Tetsuya Ito 1st R! ! J Figure 2 Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、原版を収納するカセットと、複数のカセットを収納
保持するキャリアと、該キャリアに保持されたカセット
を選択し、内部の原版を取出すための原版取出機構と、
カセットから取出された原版上の識別マークを検出する
マーク検出手段とを具備する原版自動交換装置において
、前記マーク検出手段をカセットの原版取出口の近傍に
設けたことを特徴とする原版自動交換装置。 2、前記キャリアは、前記カセットを上下に複数段に積
層して収納することを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の原版自動交換装置。 3、前記原版取出機構は、原版を保持して水平方向に移
動するフォークからなり、該フォークを前記キャリア内
のカセットに沿って上下移動可能な昇降機構上に取付け
たことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の原版自
動交換装置。 4、前記マーク検出手段は、前記昇降機構上に設けられ
たことを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の原版自
動交換装置。 5、前記キャリア内に収納されたカセット上の識別マー
クを検出するための第2のマーク検出手段を具備したこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項から第4項までの
いずれか1項に記載した原版自動交換装置。 6、前記識別マークはバーコードであり、前記マーク検
出手段は、バーコードリーダーヘッドであることを特徴
とする特許請求の範囲第1項から第5項までのいずれか
1項に記載した原版自動交換装置。
[Scope of Claims] 1. A cassette that stores an original, a carrier that stores and holds a plurality of cassettes, and an original take-out mechanism that selects a cassette held in the carrier and takes out the original inside;
An automatic original exchange device comprising mark detection means for detecting an identification mark on an original taken out from a cassette, characterized in that the mark detection means is provided near an original ejection opening of the cassette. . 2. The automatic original exchange device according to claim 1, wherein the carrier stores the cassettes in a plurality of vertically stacked layers. 3. A patent claim characterized in that the original take-out mechanism includes a fork that holds the original and moves in the horizontal direction, and the fork is mounted on a lifting mechanism that can move up and down along the cassette in the carrier. The automatic original plate exchange device according to item 2 of the scope. 4. The automatic original exchange device according to claim 3, wherein the mark detection means is provided on the lifting mechanism. 5. Any one of claims 1 to 4, comprising a second mark detection means for detecting an identification mark on a cassette housed in the carrier. Automatic original plate exchange device described in . 6. The automatic original plate according to any one of claims 1 to 5, wherein the identification mark is a barcode, and the mark detection means is a barcode reader head. Exchange device.
JP61021965A 1986-02-05 1986-02-05 Negative automatic exchanger Pending JPS62180833A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01167022A (en) * 1987-12-16 1989-06-30 Satake Eng Co Ltd Single bag supplying equipment for grain measuring packaging machine
JPH0445027A (en) * 1990-06-12 1992-02-14 Fuji Photo Film Co Ltd Sheet body stacking mechanism
WO2006046682A1 (en) * 2004-10-29 2006-05-04 Nikon Corporation Reticle protective member, reticle carrying apparatus, exposure device, and reticle carrying method

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01167022A (en) * 1987-12-16 1989-06-30 Satake Eng Co Ltd Single bag supplying equipment for grain measuring packaging machine
JPH0445027A (en) * 1990-06-12 1992-02-14 Fuji Photo Film Co Ltd Sheet body stacking mechanism
WO2006046682A1 (en) * 2004-10-29 2006-05-04 Nikon Corporation Reticle protective member, reticle carrying apparatus, exposure device, and reticle carrying method
JP2006153899A (en) * 2004-10-29 2006-06-15 Nikon Corp Reticle protective member, reticle carrying apparatus, exposure device and method for carrying reticle
US7453549B2 (en) 2004-10-29 2008-11-18 Nikon Corporation Reticle protection member, reticle carrying device, exposure device and method for carrying reticle
JP4710308B2 (en) * 2004-10-29 2011-06-29 株式会社ニコン Reticle conveying apparatus, exposure apparatus, and reticle conveying method
US8168959B2 (en) 2004-10-29 2012-05-01 Nikon Corporation Reticle protection member, reticle carrying device, exposure device and method for carrying reticle
US8921812B2 (en) 2004-10-29 2014-12-30 Nikon Corporation Reticle protection member, reticle carrying device, exposure device and method for carrying reticle

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