JPS62179449A - 核磁気共鳴画像の歪補正装置 - Google Patents
核磁気共鳴画像の歪補正装置Info
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- JPS62179449A JPS62179449A JP61019855A JP1985586A JPS62179449A JP S62179449 A JPS62179449 A JP S62179449A JP 61019855 A JP61019855 A JP 61019855A JP 1985586 A JP1985586 A JP 1985586A JP S62179449 A JPS62179449 A JP S62179449A
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- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、静磁場不均一により生ずるフーリエ法ＮＭＲ
＜核磁気共鳴）画像の歪を補正する方法に関する。
＜核磁気共鳴）画像の歪を補正する方法に関する。
（従来の技術）
フーリエ法（スピンワーブ法（第５図）も適用範囲に含
む）で′ｔａ像されるＮＭＲｉｉ！ｉｉｍには、静磁場
不均一（関数Ｄ （Ｘ 、 Ｖ ）で表わす）のため、
読み出し方向ｙに位置・）農度歪が生じる。読み出し勾
配Ｉｌ場をＧＶとすると、元来座標（Ｘ、Ｖｏ）にあっ
た点はｌ／＝’１０＋Ｄ（Ｘ、Ｙｏ）／Ｇ’／の関係に
従って座標（ｘ 、 ｙ ）の点に移り、更にその点で
の濃度も元の値の 倍になる。
む）で′ｔａ像されるＮＭＲｉｉ！ｉｉｍには、静磁場
不均一（関数Ｄ （Ｘ 、 Ｖ ）で表わす）のため、
読み出し方向ｙに位置・）農度歪が生じる。読み出し勾
配Ｉｌ場をＧＶとすると、元来座標（Ｘ、Ｖｏ）にあっ
た点はｌ／＝’１０＋Ｄ（Ｘ、Ｙｏ）／Ｇ’／の関係に
従って座標（ｘ 、 ｙ ）の点に移り、更にその点で
の濃度も元の値の 倍になる。
（発明が解決しようとする問題点）
このような位置・濃度歪を補正する為、従来は第７図に
示ずように予め測定しておいた静磁場不均−Ｄ （ｘ
、 ｙ ）を用いて補正を行っていたが、任意断面の画
像を補正するためには静磁場強度を３次元のＦＯＶ全体
にわたって測定し、その不均一情報を記憶しておき、あ
る断面を撮像した場合にはその断面が示す位置での不均
一情報を３次元の情報から切り出してくるという手続が
必要であった。このため撮像前に搬像領域全体の静磁場
強度を測定する手間と、その情報、を記憶しておくため
の天吊の記憶領域が必要になり、又、画Ｏの補正に当っ
ては３次元静磁場強度情報から画像位置に対応する平面
での情報を取り出すための複雑で時間のかかる計算が必
要であるという問題があった。
示ずように予め測定しておいた静磁場不均−Ｄ （ｘ
、 ｙ ）を用いて補正を行っていたが、任意断面の画
像を補正するためには静磁場強度を３次元のＦＯＶ全体
にわたって測定し、その不均一情報を記憶しておき、あ
る断面を撮像した場合にはその断面が示す位置での不均
一情報を３次元の情報から切り出してくるという手続が
必要であった。このため撮像前に搬像領域全体の静磁場
強度を測定する手間と、その情報、を記憶しておくため
の天吊の記憶領域が必要になり、又、画Ｏの補正に当っ
ては３次元静磁場強度情報から画像位置に対応する平面
での情報を取り出すための複雑で時間のかかる計算が必
要であるという問題があった。
本発明はこのような点に鑑みてなされたもので、その目
的は、補正のために予め３次元の静磁場強度分布を測定
することなく、同一位置をディフェーズ分をかえて撮像
した複数枚の複素画像の位相差をちとにその画像の位置
・濃度歪を補正することのできるフーリエ法ＮＭＲ画像
の歪補正方法を提（共することにある。
的は、補正のために予め３次元の静磁場強度分布を測定
することなく、同一位置をディフェーズ分をかえて撮像
した複数枚の複素画像の位相差をちとにその画像の位置
・濃度歪を補正することのできるフーリエ法ＮＭＲ画像
の歪補正方法を提（共することにある。
（問題点を解決するための手段）
上記問題点を解決する第１の発明は、核磁気共鳴撮像装
置において、フーリエ法を用いて、同一断面をディフェ
ーズ市をかえて撮像した複数枚の複素画像を１り、その
各画素毎の位相差から静Ｅ ”４強度の不均一に関する
情報を得、この情報をもとにここで用いた画像の静磁場
強度不均一により止した歪を補正することを特徴とする
ものであり、第２の発明は、核磁気共鳴搬像装置におい
て、フーリエ法を用いて、同一断面を１８０°エコー反
転法で撮像した複素画像と、読み出し勾配反転法でｌｆ
ｉ像した複素画像を得、その各画素毎の位相差から静磁
場握度の不均一に関する情報を得、この情報をもとにこ
こで用いた画像の静磁場強度不均一により生じた歪を補
正することを特徴とするものである。
置において、フーリエ法を用いて、同一断面をディフェ
ーズ市をかえて撮像した複数枚の複素画像を１り、その
各画素毎の位相差から静Ｅ ”４強度の不均一に関する
情報を得、この情報をもとにここで用いた画像の静磁場
強度不均一により止した歪を補正することを特徴とする
ものであり、第２の発明は、核磁気共鳴搬像装置におい
て、フーリエ法を用いて、同一断面を１８０°エコー反
転法で撮像した複素画像と、読み出し勾配反転法でｌｆ
ｉ像した複素画像を得、その各画素毎の位相差から静磁
場握度の不均一に関する情報を得、この情報をもとにこ
こで用いた画像の静磁場強度不均一により生じた歪を補
正することを特徴とするものである。
（実施例）
以下、図面を用いて本発明の方法を詳しく説明する。ま
ず、本発明の方法の原理について説明する。フーリエ法
撮像では、静磁場強度不拘−分をＤ（ｘ、ｙ）、ｌみ出
し勾配磁場をＧｙとすると、読み出し方向ｙに 、１ ＝、。＋Ｄ （ｘ 、 ｙ ｏ ）／
Ｇｙによる位置歪が生じ、元来座標（Ｘ、Ｖｏ）の位置
にあった点が座標（Ｘ、Ｖ＋＞の点に移り、又、ｉｇ度
も 倍となる。
ず、本発明の方法の原理について説明する。フーリエ法
撮像では、静磁場強度不拘−分をＤ（ｘ、ｙ）、ｌみ出
し勾配磁場をＧｙとすると、読み出し方向ｙに 、１ ＝、。＋Ｄ （ｘ 、 ｙ ｏ ）／
Ｇｙによる位置歪が生じ、元来座標（Ｘ、Ｖｏ）の位置
にあった点が座標（Ｘ、Ｖ＋＞の点に移り、又、ｉｇ度
も 倍となる。
フーリエ法躍像では、一般に第５図に示すように９０″
パルスから１８０’パルスまでの時間ＴＥｌと、１８０
°パルスからエコー信号の中心（ピーク）までの時間Ｔ
ε２を等しくすることにより静磁場強度の不均一による
位相歪を抑えているが、本発明では２回の撮像の中、少
なくとも一方はＴε１≠Ｔε２となるようにして撮像す
ることにより作為的に位相歪を生じさせ、逆にこれから
静Ｕ４１場強度分布を知るようにしている。
パルスから１８０’パルスまでの時間ＴＥｌと、１８０
°パルスからエコー信号の中心（ピーク）までの時間Ｔ
ε２を等しくすることにより静磁場強度の不均一による
位相歪を抑えているが、本発明では２回の撮像の中、少
なくとも一方はＴε１≠Ｔε２となるようにして撮像す
ることにより作為的に位相歪を生じさせ、逆にこれから
静Ｕ４１場強度分布を知るようにしている。
△Ｔｉ＝（Ｔε２−Ｔε１）ｉとすると、読み出し勾配
Ｑｙの大きさは変えないで２回撮（９すればΔＴ＋≠Δ
Ｔ２とすることができ、第２図に示すように歪の量は等
しいが位相の異なった２枚の複素画像（画像１１画像２
）を１りることができる。
Ｑｙの大きさは変えないで２回撮（９すればΔＴ＋≠Δ
Ｔ２とすることができ、第２図に示すように歪の量は等
しいが位相の異なった２枚の複素画像（画像１１画像２
）を１りることができる。
各画素の位相差Δθ（＝θｉ−〇２）と静磁場強度不拘
−分Ｄ （Ｘ 、 ｙ ）との間にはγＤ（×。
−分Ｄ （Ｘ 、 ｙ ）との間にはγＤ（×。
ｙ）（八Ｔ１−ΔＴ２）＝Δθの関係があるので（但し
、γは回転１１．ｔｉ比である）、これがら０ （ｘ
、 ｙ ）−△θ／（γ（ΔＴ！−ΔＴ２））と静磁場
強度の不均一を知ることができる。このときの読み出し
方向への位置ずれはΔθ／（γＧｙ （△Ｔ＋−ΔＴ２
））である。
、γは回転１１．ｔｉ比である）、これがら０ （ｘ
、 ｙ ）−△θ／（γ（ΔＴ！−ΔＴ２））と静磁場
強度の不均一を知ることができる。このときの読み出し
方向への位置ずれはΔθ／（γＧｙ （△Ｔ＋−ΔＴ２
））である。
又、１８０’パルスによるエコー信号と第６図に示すよ
うな勾配反転によるエコー信号とを利用してもよく、そ
の場合にはΔＴ２を９０°パルスからエコー信号の中心
までの時間とすれば上記と同様に扱うことができる。
うな勾配反転によるエコー信号とを利用してもよく、そ
の場合にはΔＴ２を９０°パルスからエコー信号の中心
までの時間とすれば上記と同様に扱うことができる。
このようにして２枚の画像から位置ずれの吊を推定する
ことができれば各画像の点（Ｘ、Ｖ＋）。
ことができれば各画像の点（Ｘ、Ｖ＋）。
（Ｘ 、 Ｖ ２ ）をずれの無い状態（Ｘ 、 Ｖ
ｏ ）に戻すことができる。又この時、各画像の画素濃
度に変換（Ｄ、ｔ＝＋ビア：ｚｌ ＋ （ａＤ／ａＶ
）ｙ’ＧＶをかければ′ａ度の歪も補正された画像１′
２画像２′を１りることができる。
ｏ ）に戻すことができる。又この時、各画像の画素濃
度に変換（Ｄ、ｔ＝＋ビア：ｚｌ ＋ （ａＤ／ａＶ
）ｙ’ＧＶをかければ′ａ度の歪も補正された画像１′
２画像２′を１りることができる。
ここで述べた△θは、一般に２πを周期とするアンビギ
ュイテイを持つので、全画素に対してΔθが求まるとは
限らない。この場合には、ｌ△θｌ≦Ｔ≦πなるＴに位
相の全変化範囲を抑えるようディフェーズ市等を調整す
る必要がある。
ュイテイを持つので、全画素に対してΔθが求まるとは
限らない。この場合には、ｌ△θｌ≦Ｔ≦πなるＴに位
相の全変化範囲を抑えるようディフェーズ市等を調整す
る必要がある。
こうした場合には任意画素での値を中心に、±π以上に
離れた値はなくなるので、全体としては２πのアンビギ
ュイテイが残るものの、画像内での相対的なアンビギュ
イテイはなくなる。歪補正を行った時にも、全体像が余
計にシフトすることはあっても部分的に誤ったシフトを
することはない。
離れた値はなくなるので、全体としては２πのアンビギ
ュイテイが残るものの、画像内での相対的なアンビギュ
イテイはなくなる。歪補正を行った時にも、全体像が余
計にシフトすることはあっても部分的に誤ったシフトを
することはない。
このような原理に基づく本発明の方法を実施するための
ＮＭＲｍ＆装置の要部構成図を第１図に示す。図におい
て、１はスピンワーブ法で測定されたエコー信号を受け
、２次元フーリエ逆変換して被検体の断面画像を再構成
する画像再構成装置、２は画像再構成装置１で得た複数
枚の画像から位相差を計算する位相差計算装置、３は位
相差計算装置２で得られた位相差をもとに画像の位相歪
を補正すると共に濃度歪も補正する歪補正処理装置であ
る。この歪補正処理装置３で求められた画像は図示しな
い表示装置で表示することができる。
ＮＭＲｍ＆装置の要部構成図を第１図に示す。図におい
て、１はスピンワーブ法で測定されたエコー信号を受け
、２次元フーリエ逆変換して被検体の断面画像を再構成
する画像再構成装置、２は画像再構成装置１で得た複数
枚の画像から位相差を計算する位相差計算装置、３は位
相差計算装置２で得られた位相差をもとに画像の位相歪
を補正すると共に濃度歪も補正する歪補正処理装置であ
る。この歪補正処理装置３で求められた画像は図示しな
い表示装置で表示することができる。
このような構成における動作を次に詳しく説明づる。第
５図に示されるスピンワーブ法において、同一断面をＴ
ＥＩ、Ｔε２を変えてスキャン１ノ、歪の最は等しいが
位相の異なった２枚の複素画像を求める。或いは第５図
のスピンワーブ法と第６図に示す勾配反転によるスピン
ワーブ法とで同一断面に係る位相の異なった２枚の複素
画像を求める。画像再構成装置２で求められたこの２枚
の画像を用いて、位相差計算装置２では２枚の複累画均
を各画素毎に割算し、その結果の位相を計０する。式で
表ずと、位相差Δθは、 となる。ここで１ｍ ［・］は虚部を、Ｒｅ ［・
１は実部を取り出す演算子で、ｊは虚数単位＋８１＋
ｊｂｌは画像１の画素濃度、ａ２＋ｊｂ２は画像２の画
素濃度である。ここでａ １ ＋ｊｂｔ又はａ２＋ｊｌ
ｌｚが閾値下１以下の時にはΔθを計算できないので適
当なラベル付けをしておく。ここではすべての画素に対
して上の計算が行われる。各位相の値は最大下しか離れ
ないように予め設定しであるので、次のような推定を行
う。即ち、任意の点を１つ取り出して、ここでの八〇か
ら±Ｔ以内の差になるように２πの値を加減し、領域内
のΔθの値に連続性を持たせる。このあと、各画素点（
ｉ。
５図に示されるスピンワーブ法において、同一断面をＴ
ＥＩ、Ｔε２を変えてスキャン１ノ、歪の最は等しいが
位相の異なった２枚の複素画像を求める。或いは第５図
のスピンワーブ法と第６図に示す勾配反転によるスピン
ワーブ法とで同一断面に係る位相の異なった２枚の複素
画像を求める。画像再構成装置２で求められたこの２枚
の画像を用いて、位相差計算装置２では２枚の複累画均
を各画素毎に割算し、その結果の位相を計０する。式で
表ずと、位相差Δθは、 となる。ここで１ｍ ［・］は虚部を、Ｒｅ ［・
１は実部を取り出す演算子で、ｊは虚数単位＋８１＋
ｊｂｌは画像１の画素濃度、ａ２＋ｊｂ２は画像２の画
素濃度である。ここでａ １ ＋ｊｂｔ又はａ２＋ｊｌ
ｌｚが閾値下１以下の時にはΔθを計算できないので適
当なラベル付けをしておく。ここではすべての画素に対
して上の計算が行われる。各位相の値は最大下しか離れ
ないように予め設定しであるので、次のような推定を行
う。即ち、任意の点を１つ取り出して、ここでの八〇か
ら±Ｔ以内の差になるように２πの値を加減し、領域内
のΔθの値に連続性を持たせる。このあと、各画素点（
ｉ。
ｊ）を中心とするＭＸＭのウィンドウ（第３図（ハ））
でΔθの２次元分布を切り出し、この中で正しくΔθが
求まった点のみを使った加算平均を行う。この時の平均
値が推定処理結果の出力となる。この処理によって、推
定処理前では求まらなかった場所（第３図（イ）のＡ）
の画素でも△θの値が推定され、更に広い範囲での平滑
化が行われるので一般に緩やかな変化しかしない静磁場
強度に関する情報が正しく推定できる。
でΔθの２次元分布を切り出し、この中で正しくΔθが
求まった点のみを使った加算平均を行う。この時の平均
値が推定処理結果の出力となる。この処理によって、推
定処理前では求まらなかった場所（第３図（イ）のＡ）
の画素でも△θの値が推定され、更に広い範囲での平滑
化が行われるので一般に緩やかな変化しかしない静磁場
強度に関する情報が正しく推定できる。
歪補正処理装置３では位相差計算装置２で推定された圃
Δθをもとにシフト聞を Ｖ＋＝Ｖｏ＋（Δθ／γＧｙ （ΔＴ１−△Ｔ２））
と計算する。ここで、（Ｘ、Ｖｏ）が正しい点の位置、
（Ｘ 、 Ｖ ｓ ）が位置歪を受けた後の位置を示す
。位置歪を補正するには、第４図に示すように、補正後
の画像で必要とする位置（Ｘ、Ｖｏ）の画素濃度を画像
１の対応する位置（Ｘ、Ｖ＋）近傍の画素濃度から補間
で求める。濃度歪補正は、別に計算した変換のヤコビア
ンを画素濃度に１１Ｆ算することで行う。
Δθをもとにシフト聞を Ｖ＋＝Ｖｏ＋（Δθ／γＧｙ （ΔＴ１−△Ｔ２））
と計算する。ここで、（Ｘ、Ｖｏ）が正しい点の位置、
（Ｘ 、 Ｖ ｓ ）が位置歪を受けた後の位置を示す
。位置歪を補正するには、第４図に示すように、補正後
の画像で必要とする位置（Ｘ、Ｖｏ）の画素濃度を画像
１の対応する位置（Ｘ、Ｖ＋）近傍の画素濃度から補間
で求める。濃度歪補正は、別に計算した変換のヤコビア
ンを画素濃度に１１Ｆ算することで行う。
尚、本発明は上記実施例に限らず次のようにしてもよい
。
。
（１）３枚以上の画像を使う場合には、位相差をいくつ
かの画像の組み合せで計算し、加算平均するなど位相差
の推定制度を上げるのに使うことができる。
かの画像の組み合せで計算し、加算平均するなど位相差
の推定制度を上げるのに使うことができる。
〈２）位相差の割算は、各々の画像の位相を別個に計算
しておいて、減算によってｉｌつてらよい。
しておいて、減算によってｉｌつてらよい。
（３）推定処理は、全体に又は区分的に２次元の関数を
あてはめることで行ってもよい。
あてはめることで行ってもよい。
（４）隅用強度の不均一は、一般にかなり緩やかな変化
をしているので、２枚の画像を縮小した上で位相差を計
算したり、何点Ｊ５きかに位相差を計算してもよい。
をしているので、２枚の画像を縮小した上で位相差を計
算したり、何点Ｊ５きかに位相差を計算してもよい。
（５）歪補正は複素画像に対して行い、表示する時に実
数化しても、或いは予め実教化した画像に対して行って
もよい。
数化しても、或いは予め実教化した画像に対して行って
もよい。
（６）２枚の画像の位置・′ａ度歪の間は同じであるの
で、歪補正以前に実数化を行い、加算平均しておくと効
率良＜Ｓ／Ｎ比を上げることができる。もとより、別々
に歪補正をして加算平均しても同じ効果が１ｑられる。
で、歪補正以前に実数化を行い、加算平均しておくと効
率良＜Ｓ／Ｎ比を上げることができる。もとより、別々
に歪補正をして加算平均しても同じ効果が１ｑられる。
（７）ＴＥＩ＋Ｔε２を一定として、Ｔ１．Ｔ２の画像
への反映度をすべての画像で等しくし、尚且つ、読み出
し方向の歪をすべての画像で等しくするためには、ディ
フェーズ旦の大きさをかえると共に１８０°パルスを送
信するタイミングをずらしてＴＥＩも変えることが有効
である。
への反映度をすべての画像で等しくし、尚且つ、読み出
し方向の歪をすべての画像で等しくするためには、ディ
フェーズ旦の大きさをかえると共に１８０°パルスを送
信するタイミングをずらしてＴＥＩも変えることが有効
である。
（発明の効果）
以上述べたように、本発咀によれば、次の効果がある。
（１）歪を補正すべき′Ｆ１数枚の画像を元に補正を行
うので、 ■補正用の静磁場不均一分布を既め測定しておく必要が
ない。
うので、 ■補正用の静磁場不均一分布を既め測定しておく必要が
ない。
■補正用の静磁場不均一分布を記憶しておく必要がない
。
。
■■散的な３次元データから任意の２次元断面での値を
とり出す複雑な計算が不要である。
とり出す複雑な計算が不要である。
などのため、任意断面の補正を行うことが容易になった
。
。
（２）常に最新の不均一分布に従った補正ができるので
、時間変化、Ｉ４ｉ性体の接近、持ち込みによる影響も
除くことができる。
、時間変化、Ｉ４ｉ性体の接近、持ち込みによる影響も
除くことができる。
第１図は本発明の方法を実施するための装置の要部実施
例図、第２図は本発明の詳細な説明する図、第３図及び
第４図は動作を説明するための図、第５図は１８０”エ
コー反転法のパルスシーケンスを示す図、第６図は勾配
反転法のパルスシーケンスを示す図、第７図は従来の歪
補正を説明する図である。 １・・・画像再構成装置 ２・・・位相差計痺装置 ３・・・歪補正処理装置 特許出願人 横河メディカルシステム株式会社第１ 図 第２図 第３図 ウィンドウ 第４図 画像１ 、ｍ１ｔｔ第
５ ｌ３ 第６図
例図、第２図は本発明の詳細な説明する図、第３図及び
第４図は動作を説明するための図、第５図は１８０”エ
コー反転法のパルスシーケンスを示す図、第６図は勾配
反転法のパルスシーケンスを示す図、第７図は従来の歪
補正を説明する図である。 １・・・画像再構成装置 ２・・・位相差計痺装置 ３・・・歪補正処理装置 特許出願人 横河メディカルシステム株式会社第１ 図 第２図 第３図 ウィンドウ 第４図 画像１ 、ｍ１ｔｔ第
５ ｌ３ 第６図
Claims (2)
- （１）核磁気共鳴撮像装置において、フーリエ法を用い
て、同一断面をディフェーズ量をかえて撮像した複数枚
の複素画像を得、その各画素毎の位相差から静磁場強度
の不均一に関する情報を得、この情報をもとにここで用
いた画像の静磁場強度不均一により生じた歪を補正する
核磁気共鳴画像の歪補正方法。 - （２）核磁気共鳴撮像装置において、フーリエ法を用い
て、同一断面を１８０°エコー反転法で撮像した複素画
像と、読み出し勾配反転法で撮像した複素画像を得、そ
の各画素毎の位相差から静磁場強度の不均一に関する情
報を得、この情報をもとにここで用いた画像の静磁場強
度不均一により生じた歪を補正する核磁気共鳴画像の歪
補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61019855A JPS62179449A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 核磁気共鳴画像の歪補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61019855A JPS62179449A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 核磁気共鳴画像の歪補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62179449A true JPS62179449A (ja) | 1987-08-06 |
| JPH0324852B2 JPH0324852B2 (ja) | 1991-04-04 |
Family
ID=12010845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61019855A Granted JPS62179449A (ja) | 1986-01-31 | 1986-01-31 | 核磁気共鳴画像の歪補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62179449A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6319138A (ja) * | 1986-07-14 | 1988-01-26 | 株式会社日立製作所 | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
| WO1991001684A1 (en) * | 1989-08-04 | 1991-02-21 | Hitachi Medical Corporation | Image reconstruction method and device for magnetic resonance imaging apparatus |
| US5364315A (en) * | 1992-05-18 | 1994-11-15 | Mitsuboshi Belting Ltd. | V-ribbed belt |
| JP2009160409A (ja) * | 2007-12-29 | 2009-07-23 | Siemens Ag | 磁気共鳴イメージングにおける歪み補正方法及び装置 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59148854A (ja) * | 1983-02-14 | 1984-08-25 | Hitachi Ltd | 核磁気共鳴を用いた検査装置 |
| JPS60209154A (ja) * | 1983-12-23 | 1985-10-21 | ゼネラル・エレクトリツク・カンパニイ | Ｎｍｒ像の歪みを補正する方法 |
| JPS61272643A (ja) * | 1985-05-29 | 1986-12-02 | Hitachi Ltd | Ｎｍｒイメージング方法 |
-
1986
- 1986-01-31 JP JP61019855A patent/JPS62179449A/ja active Granted
Patent Citations (3)
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0324852B2 (ja) | 1991-04-04 |
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