JPS62165948A - Semiconductor element assembling apparatus - Google Patents

Semiconductor element assembling apparatus

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JPS62165948A
JPS62165948A JP873886A JP873886A JPS62165948A JP S62165948 A JPS62165948 A JP S62165948A JP 873886 A JP873886 A JP 873886A JP 873886 A JP873886 A JP 873886A JP S62165948 A JPS62165948 A JP S62165948A
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JP
Japan
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chip
semiconductor chip
axis
laser
image
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Application number
JP873886A
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Japanese (ja)
Inventor
Haruo Tanaka
田中 治夫
Naotaro Nakada
直太郎 中田
Yukio Shakuda
幸男 尺田
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Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To assemble an element in high accuracy by providing a sub-light source having a light for emitting a semiconductor chip by moving on an optical axis for connecting the chip with a TV camera, and a filter for transmitting the reflected light from the chip only on a predetermined region on the periphery of the axis on the axis. CONSTITUTION:The luminous flux of a W bulb 11 is reflected on the front surface of a laser chip 3a, and introduced through an interference filter 4 and an objective lens 5 to a TV camera 12. The only luminous flux of an He-Ne laser 8 which transmits the window 4a of the filter is introduced through the lens 5 to the camera 12 to reduce the number of openings. An image is processed to decide X-Y coordinates of the chip 3, Z coordinate is determined by the contrast of the image, a chuck 2 is moved to accurately position the chip 3 on an optical axis A, to be inclined around the axis to form the cleaved surface of the chip perpendicularly to the axis A. The post 14 of a stem 13 is brazed as it is. Since the position of the chip is detected by a large number of openings and the attitude of the chip is detected by small number of openings with this construction, its sensitivity is made at high level to bond at accurate position and attitude.

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 この発明は、半導体レーザ素子等の半導体素子の組立を
行う半導体素子組立装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (a) Field of Industrial Application The present invention relates to a semiconductor device assembly apparatus for assembling semiconductor devices such as semiconductor laser devices.

(ロ)従来の技術 従来、半導体レーザ素子等の組立てにおいて、半導体レ
ーザ素子のパッケージを構成するステム上のポストに、
レーザダイオードチップ(以下LDチップという)をグ
イボンディングする半導体素子組立装置としては、第2
図に示すようなものが知られている。
(b) Conventional technology In the past, when assembling semiconductor laser devices, etc., the post on the stem that constitutes the package of the semiconductor laser device was
As a semiconductor device assembly device for bonding laser diode chips (hereinafter referred to as LD chips), the second
The one shown in the figure is known.

先ず、23は真空チャック22下端に吸着されたLDチ
ップである。LDチップ23は、シリコン等よりなるサ
ブマウント23b上面前部にレーザチップ23aを固着
したものであり、真空チャック22により対物レンズ2
5の光軸A、hに搬送される。対物レンズ25は、レー
ザチップ23aの像をTVカメラ32に結ばせる。また
、対物レンズ25とTVカメラ32を結ふ光軸A上には
、この光軸Aに対して45″の角度をなすようにノ\−
フミラー29が設けられ、このハーフミラ−29上方に
は、タングステン電球31が設けられている。このタン
グステン電球31よりの光はハーフミラ−29表面で反
射し、2軸負方向に進行し、対物レンズ25に入射し、
LDチップ23上のレーザチップ23a前端面に集光さ
れ、レーザチップ23aの前端面が照明される。この時
、タングステン電球31よりの光がレーザチップ23a
前端面に集光されるように、ハーフミラ−29とタング
ステン電球31を結ぶ光軸B上には、光束の拡がりを調
整する凸レンズ30が設けられている。
First, 23 is an LD chip that is attracted to the lower end of the vacuum chuck 22. The LD chip 23 has a laser chip 23a fixed to the front part of the top surface of a submount 23b made of silicon or the like.
It is transported to the optical axes A and h of No. 5. The objective lens 25 focuses an image of the laser chip 23a on the TV camera 32. Also, on the optical axis A connecting the objective lens 25 and the TV camera 32, there is a no.
A half mirror 29 is provided, and a tungsten light bulb 31 is provided above the half mirror 29. The light from this tungsten bulb 31 is reflected on the surface of the half mirror 29, travels in the negative direction of two axes, and enters the objective lens 25.
The light is focused on the front end surface of the laser chip 23a on the LD chip 23, and the front end surface of the laser chip 23a is illuminated. At this time, the light from the tungsten bulb 31 is transmitted to the laser chip 23a.
A convex lens 30 for adjusting the spread of the light beam is provided on the optical axis B connecting the half mirror 29 and the tungsten light bulb 31 so that the light is focused on the front end surface.

前記TVカメラ32の画像信号は、画像処理回路によっ
て処理され、この処理結果に応答して作動する姿勢及び
位置決め機構により、前記LDチップ23の姿勢(X軸
、X軸及びz軸回りの傾き)及び位置(X軸、X軸及び
Z軸方向)が調整される。姿勢及び位置が調整されたL
Dチップ23ば、その姿勢及び位置関係を保ったまま、
ステム33のポスト34上に搬送され、インジウム等の
螺材によってポスト34上にポンディングされる。
The image signal of the TV camera 32 is processed by an image processing circuit, and the attitude and positioning mechanism that operates in response to the processing result determines the attitude of the LD chip 23 (tilt around the X axis, the X axis, and the z axis). and the position (X-axis, X-axis, and Z-axis directions) are adjusted. L with adjusted posture and position
The D chip 23 maintains its posture and positional relationship,
It is conveyed onto the post 34 of the stem 33 and pounded onto the post 34 with a screw material such as indium.

(ハ)発明が解決しようとする問題点 上記従来の半導体素子組立装置において、LDチップ2
3の姿勢を検出する姿勢検出感度を向上させるためには
、対物レンズ25の開口数N Aを小さくする必要があ
った。このことを、第3図tar及び第3図(blを参
照しながら説明する。
(c) Problems to be solved by the invention In the above conventional semiconductor device assembly apparatus, the LD chip 2
In order to improve the attitude detection sensitivity for detecting the attitude No. 3, it was necessary to reduce the numerical aperture NA of the objective lens 25. This will be explained with reference to FIG. 3 tar and FIG. 3 (bl).

今、LDチップ23が第2図におけるX軸回りの反時計
方向へ微小角Δα傾いている状態を考える。対物レンズ
25の開口数NAが大きい場合には、LDチップ23上
のレーザチップ23a@端面よりの反射光の光束〔第3
図tal中の実細線〕は、対物レンズ25に捉えられて
、その略全部がTVカメラ32に入射する。このため、
LDチップ23が傾いている場合であっても、TVカメ
ラ32で捉えられレーザチップ23a前端面の像の明暗
は、LDチップ23が傾いていない場合と顕著な差が生
ぜず、LDチ、プ23が傾いているか否かを識別するの
が困難であり、ボスト34にLDチップ23が傾いた姿
勢でポンディングされる不都合があった。
Now, consider a state in which the LD chip 23 is tilted by a small angle Δα counterclockwise around the X-axis in FIG. When the numerical aperture NA of the objective lens 25 is large, the luminous flux of the reflected light from the laser chip 23a@end surface on the LD chip 23 [third
The solid thin line in the figure is captured by the objective lens 25, and almost all of it is incident on the TV camera 32. For this reason,
Even when the LD chip 23 is tilted, the brightness of the image of the front end surface of the laser chip 23a captured by the TV camera 32 is not significantly different from when the LD chip 23 is not tilted, and the LD chip It is difficult to identify whether the LD chip 23 is tilted or not, and there is a problem in that the LD chip 23 is bonded to the boss 34 in a tilted position.

そとで、対物レンズ25の開口数NAを小とすると、第
3図(blに示すように、レーザチップ23aよりの反
射光の光束の一部しか対物レンズ25に入射せず、TV
カメラ32で捉えられるレーザチップ23aの反射光の
光量が大きく減少し、LDチップ23が傾いている場合
と傾いていない場合の明暗の差は顕著である結果、LD
千ノブ23の傾きが容易に識別される。なお、第3図(
a)及び第3図tbl中の破線は、タングステン電球3
1よりの光束を示している。
If the numerical aperture NA of the objective lens 25 is made small, as shown in FIG.
The amount of reflected light from the laser chip 23a captured by the camera 32 is greatly reduced, and the difference in brightness between when the LD chip 23 is tilted and when it is not tilted is significant.
The tilt of the thousand knob 23 is easily identified. In addition, Figure 3 (
The broken lines in a) and FIG. 3 tbl indicate the tungsten bulb 3
The luminous flux from 1 is shown.

しかし、対物レンズ25の開口数NAを小とすると、T
Vカメラ32に入射する光量が減少し、jjt像度が低
下し、X軸、X軸及びz軸方向の位置ずれを検出する位
置検出感度が低下し、ステム33のポスト34上にLD
チップ23がある方向に位置ずれしてポンディングされ
る不都合があった。
However, if the numerical aperture NA of the objective lens 25 is made small, T
The amount of light incident on the V camera 32 decreases, the jjt image quality decreases, and the position detection sensitivity for detecting positional deviations in the X-axis, X-axis, and Z-axis directions decreases.
There was an inconvenience that the chip 23 was shifted in a certain direction and was pounded.

この発明は、上記不都合に鑑みなされたもので、姿勢及
び位置の誤差を共に低い水率に抑えたグイポンディング
を可能とする半導体素子組立装置に関する。
The present invention has been made in view of the above-mentioned disadvantages, and relates to a semiconductor device assembly apparatus that enables guiponding with both posture and position errors suppressed to a low water rate.

(ニ)問題点を解決するための手段 上記不都合を解決するための手段として、この発明の半
導体素子組立装置は、その出射光がLDチップ等の半導
体チップとTVカメラ等の撮像手段を結ぶ光軸上を進行
し、半導体千ノブに照射される副光源と、前記光軸上に
設けられ、この光軸周辺の所定領域のみ半導体チップよ
り反射する副光源の光を透過するフィルタを設けてなる
ものである。
(d) Means for Solving the Problems As a means for solving the above-mentioned disadvantages, the semiconductor element assembly apparatus of the present invention provides a semiconductor element assembly apparatus in which the emitted light connects a semiconductor chip such as an LD chip and an imaging means such as a TV camera. A sub-light source that travels on the axis and irradiates the semiconductor chip, and a filter that is provided on the optical axis and transmits the light of the sub-light source that is reflected from the semiconductor chip only in a predetermined area around the optical axis. It is something.

(ホ)作用 この発明の半導体素子組立装置において、半導体チップ
で反射した主光源の光の光束のうち、副光源の光の波長
と同一の波長成分を除き、対物光学系の有効径で捉えら
れたものは、すべて撮像手段に捉えられる。しかし、半
導体チップで反射した副光源の光の光束は、その光軸回
りの対物光学系の有効径より小さい所定領域内のものだ
けが、フィルタを通過して撮像手段に入射する。従って
、あたかも対物光学系の開口数NAが小さくなったのと
同じ結果が得られる。
(E) Function In the semiconductor device assembly apparatus of the present invention, the light flux of the main light source reflected by the semiconductor chip is excluded from the wavelength component that is the same as the wavelength of the light of the sub-light source, and is captured by the effective diameter of the objective optical system. Everything that is captured can be captured by the imaging means. However, of the light flux of the sub-light source reflected by the semiconductor chip, only that within a predetermined area smaller than the effective diameter of the objective optical system around the optical axis passes through the filter and enters the imaging means. Therefore, the same result can be obtained as if the numerical aperture NA of the objective optical system had become smaller.

そこで、主光源の光によっ半4体チップの位置検出を行
い、副光源の光によって半導体チップの姿勢を検出すれ
ば、同一の対物光学系であっても、位置検出に対しては
開口数NAを大、姿勢検出に対しては開口数NAを小と
することが可能となり、位置検出感度並びに姿勢検出感
度を共に高めることができ、ボンディング個所にダイボ
ンディングされた半導体チップの姿勢及び位置の誤差を
低減することが可能となる。
Therefore, if the position of the semi-quadruple chip is detected using the light from the main light source, and the attitude of the semiconductor chip is detected using the light from the sub-light source, even if the objective optical system is the same, the numerical aperture for position detection will be It is possible to have a large NA and a small numerical aperture NA for attitude detection, which increases both position detection sensitivity and attitude detection sensitivity, and improves the attitude and position of the semiconductor chip die-bonded to the bonding location. It becomes possible to reduce errors.

(へ)実施例 この発明の一実施例を、第1図に基づいて以下に説明す
る。
(f) Embodiment An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.

2は、下端にLDチップ3を吸着する真空チャックであ
る。LDチップ3は前述した通り、サブマウント3bと
レーザチップ3aより構成される。
2 is a vacuum chuck that attracts the LD chip 3 at its lower end. As described above, the LD chip 3 is composed of a submount 3b and a laser chip 3a.

4は、光軸A上に置かれる、中央に後述の対物レンズ5
の有効径よりも小さい径の窓孔4aを穿設した環状の干
渉フィルタである。この干渉フィルタ4は、窓孔4aを
除き、後述のヘリウム−ネオンレーザ(以下He−Ne
レーザという)装置のHe −N eレーザ光(波長0
.633 p m )を透過しない性質を有している。
4 is placed on the optical axis A and has an objective lens 5, which will be described later, in the center.
This is an annular interference filter having a window hole 4a with a diameter smaller than the effective diameter of the filter. This interference filter 4 has a helium-neon laser (hereinafter referred to as He-Ne laser), which will be described later, except for the window hole 4a.
The He-Ne laser beam (wavelength 0
.. 633 pm).

前記干渉フィルタ4の2軸正方向側には、その中心軸が
光軸Aと一致するように、凸レンズよりなる対物レンズ
5が設けられている。この対物レンズ5は、同じく光軸
A上に設けられたTVカメラ12にレーザチップ3aの
像を結像させる。
An objective lens 5 made of a convex lens is provided on the biaxial positive direction side of the interference filter 4 so that its central axis coincides with the optical axis A. This objective lens 5 forms an image of the laser chip 3a on a TV camera 12, which is also provided on the optical axis A.

対物レンズ5とTVカメラ12との間の光軸A上には、
2枚のハーフミラ−6,9が設けられている。ハーフミ
ラ−6は、X軸回りに反時計方向に45°傾いて設けら
れており、その下方(y軸負方向)には、このハーフミ
ラ−6に向けてHe−Neレーザ光を照射する副光源た
るHe−Neレーザ装置8が設けられている。ハーフミ
ラ−6中心と、このHe −N eレーザ装置8を結ぶ
光軸C上には、凹レンズ7が設けられ、He−Neレー
ザ装置8よりのHe−Neレーザ光の光束を一旦拡げ、
このHe−Neレーザ光の光束がハーフミラ−6で反射
し、2軸負方向に進行し、対物レンズ5及び干渉フィル
タ4の窓孔4aを透過し、LDチップ3に到達した時に
、レーザチップ3aの前端面に収束されるように構成さ
れている。
On the optical axis A between the objective lens 5 and the TV camera 12,
Two half mirrors 6 and 9 are provided. The half mirror 6 is provided at an angle of 45° counterclockwise around the X-axis, and below it (in the negative direction of the y-axis) is a sub-light source that irradiates He-Ne laser light toward the half mirror 6. A barrel He-Ne laser device 8 is provided. A concave lens 7 is provided on the optical axis C connecting the center of the half mirror 6 and this He-Ne laser device 8, and once expands the luminous flux of the He-Ne laser beam from the He-Ne laser device 8,
The beam of this He-Ne laser beam is reflected by the half mirror 6, travels in the negative direction of two axes, passes through the objective lens 5 and the window hole 4a of the interference filter 4, and when it reaches the LD chip 3, the laser chip 3a is configured to converge on the front end surface of the

一方、ハーフミラ−9ば、光軸A上にX軸回りに時計方
向に45°傾けて設けられている。このハーフミラ−9
上方(y軸圧方向)には、ソケット11aに取付けられ
たタングステン電球11が位置する。このタングステン
電球11と前記ハーフミラ−9中心を結ぶ光軸B上には
、凸レンズ10が設けられ、タングステン電球11より
の光束がハーフミラ−9で反射し、z11iTo負方向
に進行し、ハーフミラ−9、対物レンズ5及び干渉フィ
ルタ4を透過し、LD千ツブ3に到達した時に、レーザ
チップ3aの前端面に収束されるように、光束の拡がり
を調整する役割を果たしている。
On the other hand, the half mirror 9 is provided on the optical axis A at an angle of 45° clockwise around the X-axis. This half mirror 9
A tungsten light bulb 11 attached to a socket 11a is located above (in the y-axis pressure direction). A convex lens 10 is provided on the optical axis B connecting the tungsten bulb 11 and the center of the half mirror 9, and the light beam from the tungsten bulb 11 is reflected by the half mirror 9 and travels in the negative direction. It plays the role of adjusting the spread of the luminous flux so that when it passes through the objective lens 5 and the interference filter 4 and reaches the LD tube 3, it is converged on the front end surface of the laser chip 3a.

TVカメラ12の画像信号は、図示しない画像処理回路
で処理される。この画像処理回路の出力に基づいて、真
空チャック2が微動し、LDチップ3の位置及び姿勢が
調整される。なお、LDチップ3の像は、ブラウン管(
図示せず)により、作業者にモニタされる。
The image signal of the TV camera 12 is processed by an image processing circuit (not shown). Based on the output of this image processing circuit, the vacuum chuck 2 moves slightly, and the position and orientation of the LD chip 3 are adjusted. Note that the image of the LD chip 3 is shown on a cathode ray tube (
(not shown) is monitored by the operator.

次に、この半導体素子組立装置1の動作を以下に説明す
る。
Next, the operation of this semiconductor element assembly apparatus 1 will be explained below.

先ず、LDチップ3は真空チャック2に吸着され、光軸
A上に搬送される。このLDチップ3のレーザチップ3
aの前端面には、タングステン電球11及びHe −N
 eレーザ装置8よりのそれぞれの光束が収束される。
First, the LD chip 3 is attracted to the vacuum chuck 2 and transported onto the optical axis A. Laser chip 3 of this LD chip 3
A tungsten light bulb 11 and a He-N
Each light beam from the e-laser device 8 is converged.

タングステン電球11よりの光束で、レーザチップ3a
前端面で反射した光束は干渉フィルタ4をi3過しく但
し波長0.633μm近傍の波長成分を除く)、対物レ
ンズ5の有効径全体で捉えられ、TVカメラ12に入射
する。
With the light beam from the tungsten bulb 11, the laser chip 3a
The light beam reflected from the front end surface passes through the interference filter 4 (excluding wavelength components around 0.633 μm), is captured by the entire effective diameter of the objective lens 5, and enters the TV camera 12.

一方、レーザチップ3a前端面で反射したH e−Ne
レーザ装置8の光束は、干渉フィルタ4の窓孔4aを透
過するもののみが対物レンズ5に捉えられ、TVカメラ
12に入射する。従って、He−Neレーザ光の光束に
対しての対物レンズ5の開口数NA2は、タングステン
電球11の光束に対する対物レンズ5の開口数N A 
1よりも小(NA 2 < N A 1 )となる。
On the other hand, H e-Ne reflected from the front end surface of the laser chip 3a
Of the light flux of the laser device 8, only that which passes through the window hole 4a of the interference filter 4 is captured by the objective lens 5 and is incident on the TV camera 12. Therefore, the numerical aperture NA2 of the objective lens 5 with respect to the luminous flux of the He-Ne laser beam is equal to the numerical aperture NA2 of the objective lens 5 with respect to the luminous flux of the tungsten bulb 11.
It is smaller than 1 (NA 2 < NA 1 ).

前記画像処理回路は、’r vカメラ12の画像信号を
処理し、レーザチップ3aの像がTV左カメラ2の視野
内のどこに位置するかによって、LDチップ3のX座標
、y座標を決定すると共に、レーザチップ3aの像のコ
ントラストにより、2座標を決定し、この結果に基づき
、真空チャ・ツク2が微動し、LDチップ3の位置が光
軸A上に正確に位置するように調整する。
The image processing circuit processes the image signal of the 'rv camera 12 and determines the X and Y coordinates of the LD chip 3 depending on where the image of the laser chip 3a is located within the field of view of the TV left camera 2. At the same time, two coordinates are determined based on the contrast of the image of the laser chip 3a, and based on this result, the vacuum chuck 2 is slightly moved to adjust the position of the LD chip 3 so that it is accurately located on the optical axis A. .

さらに、真空チャック2は、LDチップ3をX軸回り、
X軸回りに傾けて、レーザチ・ノブ3aの像が最も明る
くなるLDチップ3の姿勢を決定する。この姿勢は、レ
ーザチップ3aの前端面、すなわちレーザチップ3aの
襞間面が光軸Aに垂直となる姿勢である。この時、He
−Neレーザ光に対する対物レンズ5の開口数NA2は
小であるため、レーザチップ3aの像の明暗の差が顕著
に現れ、LDチップ3の姿勢調整が容易に行える。
Furthermore, the vacuum chuck 2 rotates the LD chip 3 around the X axis.
Determine the attitude of the LD chip 3 by tilting it around the X-axis so that the image of the laser beam knob 3a becomes the brightest. In this attitude, the front end surface of the laser chip 3a, that is, the inter-fold surface of the laser chip 3a is perpendicular to the optical axis A. At this time, He
Since the numerical aperture NA2 of the objective lens 5 with respect to the -Ne laser beam is small, the difference in brightness of the image of the laser chip 3a appears markedly, and the attitude of the LD chip 3 can be easily adjusted.

姿勢及び位置の調整されたLDチップ3は、その姿勢及
び位置関係を保持したまま、図示しない冶具に固定され
たステム13のポスト14上に搬送され、ポスト14上
面にインジウム等の螺材によりグイボンディングされる
。第1図中、15a115b、15cは、端子棒である
The LD chip 3 whose posture and position have been adjusted is conveyed onto the post 14 of the stem 13 fixed to a jig (not shown) while maintaining its posture and positional relationship, and is screwed onto the top surface of the post 14 with a screw material such as indium. Bonded. In FIG. 1, 15a115b and 15c are terminal bars.

なお、上記実施例において、干渉フィルタ4はLDチッ
プ3と対物レンズ5との間に置かれているが、対物レン
ズ5とTV左カメラ2の間でもよく、適宜変更可能であ
り、対物光学系としては凸レンズのみでなく、複数のレ
ンズを組合わせた対物レンズや凹面鏡など、任意の光学
系を採用することができる。
In the above embodiment, the interference filter 4 is placed between the LD chip 3 and the objective lens 5, but it may also be placed between the objective lens 5 and the TV left camera 2, and can be changed as appropriate. Any optical system can be used, such as not only a convex lens but also an objective lens or a concave mirror that is a combination of multiple lenses.

また、上記実施例においては、副光源としてHe−Ne
レーザ装置を使用しているが、他のレーザ装置やナトリ
ウムランプ等、その波長領域が限定されている光源であ
れば適宜変更可能である。
In addition, in the above embodiment, He-Ne is used as the sub-light source.
Although a laser device is used, other light sources with a limited wavelength range, such as other laser devices or sodium lamps, can be used as appropriate.

(ト)発明の効果 この発明の半導体素子組立装置は、出射光が半導体チッ
プと盪像手段を結ぶ光軸上を進行し、この半導体チップ
に照射される副光源と、前記光軸上に設け、この光軸周
辺の所定領域のみ半導体チップより反射する副光源の光
を透過するフィルタを設けてなるものであるから、半導
体チップの位置検出に対しては、対物光学系の開口数N
AIを大きく取ると同時に、半導体チップの姿勢検出に
対しては、対物光学系の開口数NA2を小さく取れるの
で、位置検出感度及び姿勢検出感度を共に高い水準に維
持することが可能となり、半導体チップを正確な位置及
び姿勢でグイボンディングできる利点を有する。
(G) Effects of the Invention In the semiconductor device assembly apparatus of the present invention, emitted light travels on an optical axis connecting the semiconductor chip and the imaging means, and a sub-light source that irradiates the semiconductor chip and a sub-light source provided on the optical axis are provided. , is provided with a filter that transmits the light from the auxiliary light source reflected from the semiconductor chip only in a predetermined area around the optical axis, so for position detection of the semiconductor chip, the numerical aperture N of the objective optical system is
At the same time as increasing the AI, the numerical aperture NA2 of the objective optical system can be made small for detecting the attitude of the semiconductor chip, making it possible to maintain both position detection sensitivity and attitude detection sensitivity at a high level. It has the advantage that it can be bonded at an accurate position and posture.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、この発明の一実施例に係る半導体素素子組立
装置の問題点を説明するための図である。 2:真空チャック、 3:LD(レーザダイオード)チップ、4:干渉フィル
タ、    5:対物レンズ、8:He−Neレーザ装
置、11:夕7グステ7 電r12:TVカメラ、  
 A:光軸。 特許出願人      ローム株式会社代理人    
弁理士 中 村 茂 信第2区
FIG. 1 is a diagram for explaining problems in a semiconductor element assembly apparatus according to an embodiment of the present invention. 2: Vacuum chuck, 3: LD (laser diode) chip, 4: Interference filter, 5: Objective lens, 8: He-Ne laser device, 11: Evening7guste7 electric r12: TV camera,
A: Optical axis. Patent applicant ROHM Co., Ltd. agent
Patent Attorney Shigeru Nakamura 2nd Ward

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)半導体チップを照明する主光源と、この半導体チ
ップの像を捉える撮像手段と、前記半導体チップと撮像
手段を結ぶ光軸上に設けられ、前記半導体チップの像を
前記撮像手段に結像させる対物光学系と、前記撮像手段
よりの画像信号を処理する画像処理手段と、この画像処
理手段に応答して、前記半導体チップの姿勢及び位置を
調整しつつ、前記半導体チップを支持し、ボンディング
個所に搬送する半導体チップ支持搬送手段とよりなる半
導体素子組立装置において、 その出射光が前記光軸上を進行し、前記半導体チップに
照射される副光源と、前記光軸上に設けられ、この光軸
周辺の所定領域のみ半導体チップより反射する副光源の
光を透過するフィルタを設けたことを特徴とする半導体
素子組立装置。
(1) A main light source that illuminates a semiconductor chip, an imaging device that captures an image of the semiconductor chip, and an optical axis that connects the semiconductor chip and the imaging device, and forms an image of the semiconductor chip on the imaging device. an objective optical system for processing an image signal from the imaging means; and an objective optical system for processing an image signal from the image pickup means, and supporting the semiconductor chip while adjusting the posture and position of the semiconductor chip in response to the image processing means, In a semiconductor device assembly apparatus comprising a semiconductor chip supporting and transporting means for transporting a semiconductor chip to a location, a sub-light source whose emitted light travels on the optical axis and irradiates the semiconductor chip; 1. A semiconductor device assembly apparatus comprising a filter that transmits light from an auxiliary light source reflected from a semiconductor chip only in a predetermined area around an optical axis.
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