JPS6216364B2 - - Google Patents

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JPS6216364B2
JPS6216364B2 JP12769978A JP12769978A JPS6216364B2 JP S6216364 B2 JPS6216364 B2 JP S6216364B2 JP 12769978 A JP12769978 A JP 12769978A JP 12769978 A JP12769978 A JP 12769978A JP S6216364 B2 JPS6216364 B2 JP S6216364B2
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circuit
noise
input
signal
output
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JP12769978A
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Fukuji Kawakami
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Nippon Gakki Co Ltd
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Nippon Gakki Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、伝送系の過渡特性例えば残響波形
を測定する方法、特に伝送系に生じる雑音の影響
を補正して精度の高い過渡特性をデイジタル技術
を用いて測定する方法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION This invention relates to a method for measuring transient characteristics of a transmission system, such as a reverberation waveform, and in particular a method for correcting the influence of noise occurring in a transmission system and measuring highly accurate transient characteristics using digital technology. It is related to.

一般に、音響的な見地から特定の室の種々の特
性を知るために目的に応じた特性測定を行なう必
要がしばしば生じていた。
In general, it has often been necessary to carry out targeted characteristic measurements in order to learn various characteristics of a particular room from an acoustic point of view.

例えば、1つのホールにて講演を行なう場合で
あるとか、楽団による音楽演奏を行う場合に、ス
ピーチあるいは音楽についての音響効果という点
が重要になつてくる。この場合に、1つの信号源
からの信号に対する減衰特性であるとか、あるい
は残響時間というような事項が明確に把握されて
いれば、催し物が行われる会場の構造であるとか
音響学的な特性から高い音響的効果を狙うことが
できる訳である。
For example, when a lecture is given in a single hall or a musical performance is performed by a band, the acoustic effects of the speech or music become important. In this case, if matters such as the attenuation characteristics for the signal from one signal source or the reverberation time are clearly understood, it is important to understand the structure and acoustic characteristics of the venue where the event will be held. This means that you can aim for high acoustic effects.

種々の音響的特性のうち、例えば残響時間特性
などを含む過渡特性または減衰特性を測定する方
法は従来いくつか考えられていた。
Among various acoustic characteristics, several methods have been considered in the past for measuring transient characteristics or attenuation characteristics, including, for example, reverberation time characteristics.

1つの方法として、例えばトーンバースト波を
利用して室を励振し、かかるトーンバースト波の
インパルスレスポンスを積分したりして測定する
ものであるが、残響時間が減衰曲線から決定され
うる精度は、減衰曲線(過渡曲線)のランダム変
化により制限されていた。測定された残響時間値
についての減衰曲線の変動の影響を最小化するの
には、測定を何回も繰返し、その平均をとる方法
がある。しかしながら、この方法は能率的でない
ばかりでなく、減衰の真の特性を明らかにできな
い。
One method is to measure the reverberation time by exciting the room using a tone burst wave and integrating the impulse response of the tone burst wave, but the accuracy with which the reverberation time can be determined from the decay curve is It was limited by random changes in the decay curve (transient curve). One way to minimize the effect of attenuation curve variations on measured reverberation time values is to repeat the measurements many times and average them. However, this method is not only inefficient, but also does not reveal the true characteristics of the attenuation.

ところで、過渡特性を測定する方法として、
M.R.Schroederのいわゆるインパルス二乗積分法
が知られている。その原理は、定常状態から音を
断とした場合の受音点の過渡特性の∞回の平均に
相当する本質的な過渡応答特性<S2(t)>を音
源・受音点間のインパルスレスポンスr(x)か
ら求めんとするもので、それによると過渡特性の
ある時点tにおける音圧レベルS(t)は下記の
ように表わされる。
By the way, as a method to measure transient characteristics,
MR Schroeder's so-called impulse square integration method is known. The principle is that when the sound is interrupted from a steady state, the essential transient response characteristic <S 2 (t)>, which corresponds to the average of ∞ times of the transient characteristics of the sound receiving point, is expressed as an impulse between the sound source and the sound receiving point. According to this, the sound pressure level S(t) at a certain point in time t of the transient characteristic is expressed as follows.

<S2(t)>=N∫ r2(x)dx ……(1) 但しN:ノイズパワー r(x):インパルスレスポンス したがつて、積分区間〔t、+∞〕でインパル
スレスポンスr(x)を二乗し積分すればt時点
における音圧レベルS(t)の二乗の無限回の集
合平均が求められるものである。
<S 2 (t)>=N∫ t r 2 (x) dx ...(1) where N: noise power r(x): impulse response Therefore, the impulse response in the integral interval [t, +∞] By squaring r(x) and integrating it, an infinite set average of the squares of the sound pressure level S(t) at time t can be obtained.

しかしながら、室(チヤンバー)などを含む伝
送系においては、音源からのインパルスレスポン
スr(x)の外に室内に暗騒音などのノイズn
(x)が存在するので、これが上記インパルスレ
スポンスr(x)に重畳されてしまい測定が不正
確になつてしまう。すなわち、音源からのインパ
ルスレスポンスの正確な過渡特性、残響特性が測
定できず、本来の特性と異なつた結果が生じてし
まうのである。特に時間と共に減衰してゆくイン
パルスレスポンスに対して、室内暗騒音等のノイ
ズが積分区間のとり方によつて減衰曲線形状に大
きく影響してくる。
However, in a transmission system that includes a chamber, etc., in addition to the impulse response r(x) from the sound source, there is noise such as background noise in the room.
(x) exists, this will be superimposed on the impulse response r(x), making the measurement inaccurate. In other words, accurate transient characteristics and reverberation characteristics of the impulse response from the sound source cannot be measured, resulting in results that differ from the original characteristics. In particular, for impulse responses that attenuate over time, noise such as indoor background noise greatly influences the shape of the attenuation curve depending on how the integration interval is taken.

例えば積分区間が長すぎると、インパルスレス
ポンスに重畳するノイズの影響を大きく受け過ぎ
るため、正確な過渡特性の測定を行い得ず、また
逆に積分区間が短かすぎるとインパルスレスポン
ス自体の積分区間が短かすぎて積分されない大な
る区間が生じるため、適正な過渡特性の測定を行
い得ない。したがつて、積分区間の設定は長すぎ
ても短かすぎても正確な測定は期待できなくなつ
てしまうので特にS/Nの十分でないデータの場
合等は適正な積分区間の設定が重要な意味を持つ
てくる。
For example, if the integral interval is too long, the impulse response will be affected too much by the noise superimposed on it, making it impossible to measure the transient characteristics accurately, and conversely, if the integral interval is too short, the integral interval of the impulse response itself will become too large. Since there is a large interval that is too short to be integrated, it is impossible to measure the transient characteristics properly. Therefore, if the integration interval is set too long or too short, accurate measurements cannot be expected, so it is important to set an appropriate integration interval, especially when the S/N ratio is insufficient. It has meaning.

かかる積分区間が適正でないと、上記のように
して得られた過渡特性例えば残響波形の傾斜自体
が変化してしまい、その特性曲線の信頼性は低下
し、利用できる範囲も僅かで限られたものとなつ
てしまう。
If such an integral interval is not appropriate, the transient characteristics obtained as described above, such as the slope of the reverberation waveform itself, will change, the reliability of the characteristic curve will decrease, and the usable range will be small and limited. I become confused.

この発明は上記の観点から、ノイズの影響を除
去することにより、残響波形の信頼区間を拡大す
るとともに積分区間特に∫ r2(x)dxにおける
積分終了時点Tを十分大きな値に設定することが
でき厳密に設定する必要がない伝送系の過渡特性
を測定する方法をデイジタル技術を用いて提供す
るものである。
From the above viewpoint, the present invention expands the confidence interval of the reverberation waveform by removing the influence of noise, and also sets the integration end point T in the integration interval, especially ∫ T t r 2 (x) dx, to a sufficiently large value. The purpose of the present invention is to provide a method of measuring the transient characteristics of a transmission system using digital technology, which does not require strict settings.

すなわち、この発明による方法は、インパルス
レスポンスr(x)と伝送系に存在するノイズn
(x)の和の二乗から、ノイズn(x)の実効値
の二乗n2 effを減算し、この減算結果を順次累算し
過渡特性を測定すること、および上記処理過程を
デイジタル技術にて実現したことを特徴としてい
る。
That is, the method according to the present invention is based on the impulse response r(x) and the noise n existing in the transmission system.
The square of the effective value of noise n(x), n 2 eff , is subtracted from the square of the sum of (x), and the results of this subtraction are sequentially accumulated to measure the transient characteristics. It is characterized by what has been achieved.

以下、この発明の実施例を図面を参照して説明
する。第1図はこの発明の実施例の測定装置の構
成を示すブロツク図であり、この図において短音
発生装置1の出力は、室2の過渡特性、特に残響
波形を測定する室2内に設置された音源3に入力
されるようになつている。この室2内には、マイ
クロフオン4が設置されており、このマイクロフ
オン4の出力は、増幅回路5、ローパスフイルタ
6、ホールド回路7を介しアナログ/デイジタル
変換回路(以下、A/D変換回路と称す)8に入
力され、ここでデイジタル信号に変換された後、
二乗回路9によつて二乗され、減算回路10の被
減算入力端に入力されるようになつている。この
減算回路10の出力は、アキユームレータ11の
一方の入力端に入力され、このアキユームレータ
11の出力は、このアキユームレータ11の他の
入力端に入力されるとともに、ランダム・アクセ
ス・メモリ(以下、RAMと称す)12、レジス
タ13、レジスタ14にそれぞれ入力され、レジ
スタ14の出力は、除算回路15を介しアンドゲ
ート16の一方の入力端に入力され、またこのア
ンドゲート16の他の入力端には、ゲート制御回
路17の出力が入力されるようになつている。な
お、前記除算回路15は、レジスタ14の出力を
1/τ(τについては後に説明する)にする演算を
行なう回路であり、またゲート制御回路17は、
アンドゲート16を開閉する制御信号を発生する
ものである。そして、前記アンドゲート16の出
力は、前記減算回路10の減算入力端に入力され
るようになつている。また、前記RAM12の出
力は、減算回路18の減算入力端に入力され、前
記レジスタ13の出力は、ラツチ回路19を介し
前記減算回路18の被減算入力端に入力され、ま
たこの減算回路18の出力は、対数演算
(10logX)の機能を持つリード・オンリー・メモ
リ(以下、ROMと称す)20および、インター
フエイス回路21を介し表示/記録装置22に入
力され、ここで残響波形として表示/記録される
ようになつている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a measuring device according to an embodiment of the present invention. In this figure, the output of a short sound generator 1 is installed in a room 2 in which the transient characteristics of a room 2, in particular the reverberant waveform, are measured. It is designed to be input to the sound source 3 that was created. A microphone 4 is installed in this chamber 2, and the output of this microphone 4 is passed through an amplifier circuit 5, a low-pass filter 6, and a hold circuit 7 to an analog/digital conversion circuit (hereinafter referred to as an A/D conversion circuit). 8), where it is converted into a digital signal, and then
The squared signal is squared by a squaring circuit 9 and inputted to a subtracted input terminal of a subtracting circuit 10. The output of this subtraction circuit 10 is input to one input terminal of an accumulator 11, and the output of this accumulator 11 is input to the other input terminal of this accumulator 11. The output of the register 14 is input to one input terminal of an AND gate 16 via a division circuit 15, and the output of the AND gate 16 is input to a memory (hereinafter referred to as RAM) 12, a register 13, and a register 14, respectively. The output of the gate control circuit 17 is input to the input terminal of the gate control circuit 17. Note that the division circuit 15 divides the output of the register 14 into
1/τ (τ will be explained later), and the gate control circuit 17 is
It generates a control signal to open and close the AND gate 16. The output of the AND gate 16 is input to the subtraction input terminal of the subtraction circuit 10. The output of the RAM 12 is input to the subtraction input terminal of the subtraction circuit 18, and the output of the register 13 is input to the subtracted input terminal of the subtraction circuit 18 via the latch circuit 19. The output is input to a display/recording device 22 via a read-only memory (hereinafter referred to as ROM) 20 with a function of logarithmic calculation (10logX) and an interface circuit 21, where it is displayed/recorded as a reverberation waveform. It is becoming more and more common.

第1図において、破線は、タイミング制御回路
23および短音発生装置1からの制御信号を示す
ものであり、信号C−1は、ホールド回路7、
A/D変換回路8およびアキユームレータ11に
入力され、信号C−2はレジスタ14に入力さ
れ、信号C−3はRAM12、レジスタ13、ラ
ツチ回路19に入力され、信号C−4はRAM1
2に入力され、また信号C−5はゲート制御回路
17およびアキユームレータ11に入力されるよ
うになつている。
In FIG. 1, broken lines indicate control signals from the timing control circuit 23 and the short tone generator 1, and the signal C-1 indicates the control signals from the hold circuit 7,
The signal C-2 is input to the A/D conversion circuit 8 and the accumulator 11, the signal C-2 is input to the register 14, the signal C-3 is input to the RAM 12, the register 13, and the latch circuit 19, and the signal C-4 is input to the RAM 1.
The signal C-5 is also input to the gate control circuit 17 and the accumulator 11.

次に、上記装置の動作を、第2図に示すタイミ
ングチヤートを参照して説明する。
Next, the operation of the above device will be explained with reference to the timing chart shown in FIG.

先ず、短音発生装置1によるインパルスが発生
する前に、室2内に設置されているマイクロフオ
ン4は、この室2内のノイズn(x)を収音す
る。マイクロフオン4により収音されたノイズn
(x)は、増幅回路5により増幅された後、ロー
パスフイルタ6を介しホールド回路7に入力され
る。このホールド回路7には、タイミング制御回
路23からの制御信号C−1が入力されており、
この制御信号C−1は、第2図イに示すようにホ
ールド回路7に入力される信号をホールドし、
A/D変換回路8以下の回路にこのホールドされ
た信号を供給するためのものであり、後述する
A/D変換回路8、二乗回路9等におけるレジス
タのシフトあるいは、演算等に用いられるもので
ある。しかして、ホールド回路7によりホールド
されたノイズn(x)は、A/D変換回路8によ
りデイジタル信号に変換された後、二乗回路9に
より二乗され、減算回路10の被減算入力端に供
給される。一方、ゲート制御回路17の出力は、
短音発生装置1によるインパルスの発生前は、二
値論理レベルにおける信号“0”を出力してお
り、したがつてアンドゲート16の出力は、信号
“0”を保持し、この信号“0”を減算回路10
の減算入力端に供給している。これによつて、減
算回路10は、〔(二乗回路9の出力=n2(x))−
“0”〕の演算を行ない、この演算結果、すなわち
ノイズn(x)の二乗n2(x)をアキユームレー
タ11に順次累算していく。この累算されたノイ
ズn(x)の二乗(∫n2(x)dx)は、第2図
ロに示す信号C−2により、周期τにて順次レジ
スタ14に入力され、このレジスタ14の出力
は、除算回路15により、1/τにされアンドゲー
ト16の一方の入力端に供給される。なお、アキ
ユームレータ11は、その内容がレジスタ14に
入力される毎にクリヤされるようになつている。
上記の結果により、除算回路15の出力には、1/τ ∫〓n2(x)dxの演算結果、すなわちノイズn
(x)の実効値の二乗n2 effが得られる。したがつ
て、短音発生装置1からインパルスが発生する前
に、除算回路15の出力にノイズn(x)の実効
値の二乗n2 effが周期τで更新されつつ常に用意さ
れているわけである。
First, before an impulse is generated by the short sound generator 1, the microphone 4 installed in the room 2 picks up the noise n(x) in the room 2. Noise n picked up by microphone 4
(x) is amplified by the amplifier circuit 5 and then input to the hold circuit 7 via the low-pass filter 6. A control signal C-1 from the timing control circuit 23 is input to the hold circuit 7.
This control signal C-1 holds the signal input to the hold circuit 7 as shown in FIG.
This is for supplying this held signal to the circuits below the A/D conversion circuit 8, and is used for shifting registers or calculations in the A/D conversion circuit 8, squaring circuit 9, etc., which will be described later. be. The noise n(x) held by the hold circuit 7 is converted into a digital signal by the A/D conversion circuit 8, squared by the squaring circuit 9, and then supplied to the subtracted input terminal of the subtraction circuit 10. Ru. On the other hand, the output of the gate control circuit 17 is
Before the impulse is generated by the short tone generator 1, the signal "0" at the binary logic level is output, so the output of the AND gate 16 holds the signal "0", and this signal "0" is output. The subtraction circuit 10
is supplied to the subtraction input terminal of . As a result, the subtraction circuit 10 outputs [(output of squaring circuit 9=n 2 (x))−
"0"], and the result of this operation, that is, the square n 2 (x) of the noise n(x), is sequentially accumulated in the accumulator 11. The square of the accumulated noise n(x) (∫n 2 (x)dx) is sequentially input to the register 14 at a period τ by the signal C-2 shown in FIG. The output is converted to 1/τ by the division circuit 15 and supplied to one input terminal of the AND gate 16. Note that the accumulator 11 is cleared each time its contents are input to the register 14.
According to the above result, the output of the division circuit 15 contains the calculation result of 1/τ ∫〓 p n 2 (x) dx, that is, the noise n
The square n 2 eff of the effective value of (x) is obtained. Therefore, before an impulse is generated from the short tone generator 1, the square n 2 eff of the effective value of the noise n(x) is always prepared at the output of the divider circuit 15 while being updated at the period τ. be.

さて次に、短音発生装置1からインパルスが発
生した場合の動作について説明する。先ず、短音
発生装置1がインパルスを発生すると同時に、こ
の短音発生装置1から第2図ホに示す信号C−5
がゲート制御回路17およびアキユームレータ1
1に供給され、ゲート制御回路17の出力が二値
論理レベル信号“1”となりアンドゲート16を
開にするとともに、アキユームレータ11がクリ
アされる。次いで、短音発生装置1によるインパ
ルスおよび室2内のノイズは、マイクロフオン4
により収音され、そのインパルスレスポンスr
(x)およびノイズn(x)の和〔r(x)+n
(x)=R(x)〕が、増幅装置5、ローパスフイ
ルタ6を介しホールド回路7に入力される。この
ホールド回路7にて第2図イに示す信号C−1に
よりホールドされた前記インパルスレスポンスr
(x)とノイズn(x)の和R(x)は、A/D
変換回路8によりデイジタル信号に変換された
後、二乗回路9により二乗され、減算回路10の
被減算入力端に入力される。この減算回路10の
減算入力端には、前述した除算回路15の出力、
すなわちノイズn(x)の実効値の二乗n2 effがア
ンドゲート16を介し入力されており、この減算
回路10において、〔R2(x)−n2 eff〕の演算がな
され、この演算結果がタイミング制御回路23の
信号C−1のタイミングで順次アキユームレータ
11にて累算される。すなわちアキユームレータ
11において∫{R2(x)−n2 eff}dxの演算がな
される。この演算結果は、第2図ハに示す信号C
−3により、RAM12にその1番地から順次書
込まれるとともに、レジスタ13に順次入力され
る。なお、RAM12は第3図に示すように番地
構成がなされているものとし、またRAM12の
アドレス(番地指定)は、タイミング制御回路2
3からの信号C−4(第2図に示す)によりなさ
れる。
Next, the operation when an impulse is generated from the short sound generator 1 will be explained. First, at the same time as the short sound generating device 1 generates an impulse, the short sound generating device 1 generates a signal C-5 shown in FIG.
is the gate control circuit 17 and the accumulator 1
1, and the output of the gate control circuit 17 becomes a binary logic level signal "1", opening the AND gate 16 and clearing the accumulator 11. Next, the impulse generated by the short sound generator 1 and the noise in the room 2 are transmitted to the microphone 4.
The sound is picked up by the impulse response r
(x) and noise n(x) [r(x)+n
(x)=R(x)] is input to the hold circuit 7 via the amplifier 5 and the low-pass filter 6. The impulse response r held in this hold circuit 7 by the signal C-1 shown in FIG.
The sum R(x) of (x) and noise n(x) is A/D
After being converted into a digital signal by the conversion circuit 8, it is squared by the squaring circuit 9 and input to the subtracted input terminal of the subtraction circuit 10. At the subtraction input terminal of this subtraction circuit 10, the output of the above-mentioned division circuit 15,
In other words, the square n 2 eff of the effective value of the noise n(x) is input through the AND gate 16, and the subtraction circuit 10 calculates [R 2 (x) − n 2 eff ], and the result of this calculation is are sequentially accumulated in the accumulator 11 at the timing of the signal C-1 of the timing control circuit 23. That is, in the accumulator 11, the calculation ∫{R 2 (x)-n 2 eff }dx is performed. The result of this calculation is the signal C shown in FIG.
-3, the data is sequentially written into the RAM 12 starting from address 1, and is sequentially input into the register 13. It is assumed that the RAM 12 has an address configuration as shown in FIG.
3 (shown in FIG. 2).

さて、第2図ハに示す時刻tkにおいてRAM1
2のk番地にアキユームレータ11の出力である
累算値 ∫tk {R2(x)−n2 eff}dx=Sk が入力された場合について説明すると、この累算
値Skは、同時にレジスタ13にも入力され、こ
のレジスタ13の出力は、ラツチ回路19を介し
減算回路18の被減算入力端に供給される(但
し、インパルスの発生時点すなわち、累算開始時
点をt=0とする)。一方、前記RAM12の1番
地〜k番地にはそれぞれ 1番地→S1=∫t1 {R2(x)−n2 eff}dx 2番地→S2=∫t2 {R2(x)−n2 eff}dx 〓 k番地→Sk=∫tk {R2(x)−n2 eff}dx の各累算値が記憶されており、この各累算値が、
次のRAM12の書込時刻tk+1が来るまでの間に
順次記出され、減算回路18の減算入力端に順次
供給される。(この間のRAM12のアドレスの変
化は第2図ニに示されている。)次いで、減算回
路18により順次演算〔Sk−S1〕、〔Sk−S2〕、
…………〔Sk−Sk〕がなされ、この演算結果
は、対数演算機能(10logX)を持つROM20に
より対数圧縮され、インターフエイス回路21を
介し時刻tk〜tk+1の間に表示/記録装置22に
より、経時的に表示/記録される。なお、この表
示装置は例えばCRT、液晶あるいは発光ダイオ
ード等からなるものであり、またこの記録装置は
例えば、電磁オシログラフ等である。
Now, at time t k shown in FIG.
To explain the case where the accumulated value ∫ tk p {R 2 (x) − n 2 eff }dx=S k , which is the output of the accumulator 11, is input to address k of 2, this accumulated value S k is , is also input to the register 13 at the same time, and the output of this register 13 is supplied to the subtracted input terminal of the subtraction circuit 18 via the latch circuit 19. ). On the other hand, at addresses 1 to k of the RAM 12, address 1→S 1 =∫ t1 p {R 2 (x)−n 2 eff }dx address 2 → S 2 =∫ t2 p {R 2 (x)− n 2 eff } dx 〓 address k → S k = ∫ tk p {R 2 (x) − n 2 eff } dx is stored, and each accumulated value is
The data are sequentially written until the next write time t k+1 of the RAM 12 arrives, and are sequentially supplied to the subtraction input terminal of the subtraction circuit 18 . ( Changes in the address of the RAM 12 during this period are shown in FIG .
......[S k −S k ] is performed, and the result of this calculation is logarithmically compressed by the ROM 20 having a logarithmic calculation function ( 10log The display/recording device 22 displays/records the information over time. Note that this display device is made of, for example, a CRT, liquid crystal, or light emitting diode, and this recording device is, for example, an electromagnetic oscilloscope.

このようにして、信号C−3によりアキユーム
レータ11の出力がRAM12に書込まれるたび
に、インパルスレスポンスr(x)の減衰特性の
途中経過が表示/記録装置22により、毎回更新
されながら表示/記録される。そして、累算終了
時点(t=toとする。)においてインパルスレス
ポンスr(x)の減衰特性が表示/記録装置22
により得られる。すなわち、この累算終了時点t
oにおいては、RAM12の各番地にはそれぞれ 1番地→S1=∫t1 {R2(x)−n2 eff}dx 2番地→S2=∫t2 {R2(x)−n2 eff}dx 〓 n番地→So=∫tn {R2(x)−n2 eff}dx の各累算値が記憶されており、この各累算値によ
り演算〔So−S1〕、〔So−S2〕、…………〔So
o〕を行なうことにより、インパルスレスポン
スr(x)の減衰特性を求めている。しかして、
第4図イ〜ホは、上記装置における各部の波形を
示すものであり、イは二乗回路9の出力を、ロは
アキユームレータ11の出力を、ハは減算回路1
8の出力を便宜上アナログ表示にて示したもので
あり、ニは表示装置22の表示例を示したもので
あり、ホはタイミング制御回路の信号C−3を再
び示したものである。また、第5図は、この発明
により累算終了時点toを厳密に定めなくても、
減衰特性が正しく得られることまた残響波形の信
頼区間(利用区間)が拡大されることを示す図で
あり、この図において、ルは累算終了時点を時刻
Aとした場合と、時刻Bとした場合における減衰
特性を示し、オは、この発明を用いない場合(ノ
イズn(x)が含まれたままの入力信号R(x)
を累算して減衰特性を求めた場合)の減衰特性を
示している。(この発明によりノイズn(x)の
影響を除去できる原理は、この発明の出願人の出
願になる「特願昭53−37165号」を参照された
い。) 以上説明したように、この発明によれば、入力
信号からノイズの影響を除去した後過渡特性を測
定しているので、曲線の信頼区間が拡大されると
同時に測定終了時点Tを十分大きくとつておけば
厳密に定めなくても高精度で測定が可能となり、
表示/記録装置における信頼区間の決定が容易と
なつて非常に測定がしやすい測定装置を得ること
ができる。また一方、デイジタル処理によるた
め、アナログ処理による場合と比較し装置全体を
簡単かつ安価に構成することができる利点があ
る。
In this way, each time the output of the accumulator 11 is written to the RAM 12 by the signal C-3, the display/recording device 22 displays the progress of the attenuation characteristic of the impulse response r(x) while being updated each time. / recorded. Then, at the end of the accumulation (t=t o ), the attenuation characteristic of the impulse response r(x) is displayed on the display/recording device 22.
It is obtained by In other words, this accumulation end time t
o , each address of the RAM 12 has 1st address→S 1 =∫ t1 p {R 2 (x)−n 2 eff }dx 2nd address→S 2 =∫ t2 p {R 2 (x)−n 2 eff }dx 〓 address n→S o =∫ tn 0 {R 2 (x) − n 2 eff } Each cumulative value of dx is stored, and the calculation [S o −S 1 ] is performed using each cumulative value. , [S o −S 2 ], ……… [S o
S o ], the attenuation characteristic of the impulse response r(x) is obtained. However,
4A to 4E show the waveforms of each part in the above device.
8 is shown in an analog display for convenience, d shows an example of the display on the display device 22, and e shows the signal C-3 of the timing control circuit again. Furthermore, FIG. 5 shows that according to the present invention, even if the accumulation end time t o is not strictly determined,
This is a diagram showing that the attenuation characteristics can be obtained correctly and that the confidence interval (utilization interval) of the reverberant waveform is expanded. O shows the attenuation characteristics in the case where the present invention is not used (input signal R(x) with noise n(x) still included).
The figure shows the attenuation characteristics obtained by accumulating the attenuation characteristics. (For the principle by which the influence of noise n(x) can be removed by this invention, please refer to "Japanese Patent Application No. 1983-37165" filed by the applicant of this invention.) As explained above, this invention According to the above, since the transient characteristics are measured after removing the influence of noise from the input signal, the confidence interval of the curve is expanded, and at the same time, if the measurement end point T is set sufficiently large, the high Measurements can be made with precision,
It becomes easy to determine the confidence interval in the display/recording device, and it is possible to obtain a measuring device that is extremely easy to measure. On the other hand, since digital processing is used, there is an advantage that the entire device can be constructed more easily and at a lower cost than when analog processing is used.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、この発明の実施例の構成を示すブロ
ツク図、第2図は、第1図に示す実施例の動作を
説明するためのタイムチヤート、第3図は、
RAMの番地構成を示す図、第4図は第1図に示
す実施例の各部の波形を示す図、第5図は、この
発明の効果を示すためのグラフである。 8……アナログ/デイジタル変換回路、9……
二乗回路、10……減算回路、11……累算回
路、15……演算回路(除算回路)、22……表
示/記録装置。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a time chart for explaining the operation of the embodiment shown in FIG. 1, and FIG.
FIG. 4 is a diagram showing the address structure of the RAM, FIG. 4 is a diagram showing waveforms of various parts of the embodiment shown in FIG. 1, and FIG. 5 is a graph showing the effects of the present invention. 8...Analog/digital conversion circuit, 9...
Square circuit, 10...subtraction circuit, 11...accumulation circuit, 15...arithmetic circuit (divider circuit), 22...display/recording device.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 インパルスレスポンスr(x)を解析して伝
送系の過渡特性を測定する方法において、ノイズ
n(x)をデイジタル信号に変換した後二乗し、
この二乗値n2(x)を累算平均してノイズの実効
値の二乗n2effを算出する一方、前記インパルス
レスポンスr(x)とノイズn(x)の和〔r
(x)+n(x)〕を、デイジタル信号に変換した
後二乗し、この二乗値R2(x)=〔r(x)+n
(x)〕から前記ノイズn(x)の実効値の二乗
n2effを減算し、この減算結果を累算して∫
ti(i=1、…………n) {R2(x)−n2eff
}dxを算
出し、この算出された結果により前記過渡特性を
測定するようにしたことを特徴とする伝送系の過
渡特性の測定方法。
[Claims] 1. In a method of measuring the transient characteristics of a transmission system by analyzing the impulse response r(x), noise n(x) is converted into a digital signal and then squared,
This square value n 2 (x) is cumulatively averaged to calculate the square of the effective value of the noise n 2 eff, while the sum of the impulse response r(x) and the noise n(x) [r
(x)+n(x)] is converted into a digital signal, squared, and the squared value R 2 (x)=[r(x)+n
(x)] 2 to the square of the effective value of the noise n(x)
Subtract n 2 eff and accumulate the result of this subtraction to get ∫
ti(i=1 , 2 ,…… n) p {R 2 (x)−n 2 eff
}dx, and the transient characteristics are measured based on the calculated results.
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