JPS62149098A - Semiconductor memory - Google Patents

Semiconductor memory

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JPS62149098A
JPS62149098A JP60291130A JP29113085A JPS62149098A JP S62149098 A JPS62149098 A JP S62149098A JP 60291130 A JP60291130 A JP 60291130A JP 29113085 A JP29113085 A JP 29113085A JP S62149098 A JPS62149098 A JP S62149098A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock generator
signal
buffer
sense amplifier
row
Prior art date
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Pending
Application number
JP60291130A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshihiko Watanabe
利彦 渡辺
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS62149098A publication Critical patent/JPS62149098A/en
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Abstract

PURPOSE:To prevent reduction of allowance of operation caused by fluctuation of power source, grounding level and substrate potential by making a writing system, especially a data in buffer operatable state after termination of operation of a sense amplifier and generation of sufficient differential potential in a pair of bit lines. CONSTITUTION:In a memory provided with a clock generator for controlling a row system, a generator that receives synchronizing signals from a column system and synchronizing signals and row address strobe signals from the column system and generates controlling clock of write enable system, the write system clock generator 5 is activated on receiving a signal S2 generated after forming sufficient differential potential between bit lines after termination of amplification of signals by a sense amplifier 10 out of signals of the column system clock generator 1. Thereby, more stable writing operation can be made without narrowing operational allowance of a data in buffer 6 due to fluctuation of power source, grounding level and substrate potential caused by discharging of many bit lines at the time of operation of the sense amplifier.

Description

【発明の詳細な説明】 (1)発明の技術分野 本発明は、半導体記憶装置特に半導体メモリのライトイ
ネーブル系の制御装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (1) Technical Field of the Invention The present invention relates to a write enable system control device for semiconductor storage devices, particularly semiconductor memories.

(2)従来技術の背景 従来、半導体メモリは書き込みに際してローまたはワー
ド線を選択し、次いでコラムまたはビット線を選択し、
こうしてこれらの交点にあるメモリセルを選択して、該
セルに対し書込みを行なってきた。第1図は、か\るセ
ル選択と書き込みを行なうための回路の概要を示すもの
で、RASはローアドレスストローブ、1はRAS系の
各種制御例えはアドレス取り込み、デコーダのチャージ
アップ、ワード線選択、センスアンプの活性化などを行
なうクロックを発生するジェネレータ、2はR,A S
系のアドレスバッファで、ローアドレスAo−Aiを受
けこれら及びその反転信号をローデコーダROWDEC
ODERへ与える。CASはコラムアドレスストローブ
であシ、3はCAS系のクロックゼネレータ、4はCA
S系のアドレスバッファで、コラムアドレスAo = 
A iを受け、これをコラムデコーダCOLUMN  
DECODER,へ与える。
(2) Background of the Prior Art Conventionally, when writing to a semiconductor memory, a row or word line is selected, and then a column or bit line is selected.
In this way, a memory cell located at the intersection of these has been selected and writing has been performed to that cell. Figure 1 shows an overview of the circuit for cell selection and writing, where RAS is a row address strobe, and 1 is a RAS-related control such as address capture, decoder charge-up, and word line selection. , a generator that generates a clock for activating the sense amplifier, etc. 2 is R, A S
The system address buffer receives the row addresses Ao-Ai and sends these and their inverted signals to the row decoder ROWDEC.
Give to ODER. CAS is a column address strobe, 3 is a CAS clock generator, 4 is CA
In the S-based address buffer, column address Ao =
A i is received and sent to the column decoder COLUMN.
Give to DECODER.

RAS、CASの傍線は当該RAS、CAS の反転を
示すが、これらは外部から入力される信号である。
The side lines of RAS and CAS indicate inversions of the RAS and CAS, and these are signals input from the outside.

第2図に示すように最初に入力するのはRAS信号であ
シ、これがLOWレベルになるとローアドレスの取り込
みが可能となる。その後、即ち時間’RCD後にCAS
信号がLOWになシコラムアドレスが取シ込み可能とな
る。WEはライトイネーブル(傍線の意味は前と同じ)
で、この信号のLOWレベル即ち書き込みサイクル指定
はローアドレス取込み終了後、CAS洒号がLOWレベ
ルとなるとまもなく始まる。tW6□2,10、はRA
SがL OWになってから書き込みサイクルであること
の指定の終了までの期間であり、tWCll MINは
CASが1.OWになってから書込みサイクルであるこ
との指定の終了までの期間である。DINは書込みデー
タで%  tDHはDINの取シ込み期間である。
As shown in FIG. 2, the first input is the RAS signal, and when this goes to LOW level, it becomes possible to take in the row address. Then, i.e. after time 'RCD, CAS
The signal becomes LOW and the column address can be read. WE is write enable (the meaning of the side lines is the same as before)
The LOW level of this signal, that is, the write cycle designation starts soon after the CAS flag becomes LOW level after the row address capture is completed. tW6□2,10, is RA
tWCll MIN is the period from when S becomes LOW until the end of the write cycle designation, and tWCll MIN is the period when CAS is 1. This is the period from when it becomes OW until the end of the designation that it is a write cycle. DIN is the write data and %tDH is the DIN acquisition period.

(3)従来技術の問題点 かXるメモリ動作においてRAS信号とCAS信号の立
下υは、アドレスマルチプレクスを行うMOSメモリに
おいてはロー、コラム各アドレスの取シ込みを確実にす
るため、時間的にずれている必要がある。即ちローアド
レスの取シ込みにtRA、(時間を与え、その後アドレ
スバスの信号をローアドレス信号からコラムアドレス信
号に変え、この切シ換えに要する時間をδとすればCA
S信号はRAS信号よ一’ 1  tRCD 、Vll
N ”tRAII+δだけ遅らせる必要がある。そして
、書き込みサイクル指定をして書込み動作がスタートす
るのは、CAS信号がLOWレベルになるのを受けてW
RITE系がスタートするため、この遅れ時間をγとす
るなら、RAS信号よシ、tRCDmln+γ= tR
AH+δ+γだけ遅れてスタートする。これは第1図に
示すようにWRITE系のクロックジェネレータ5が、
RAS系のクロックジェネレータ1からの信号S1と、
コラムアドレスストローブCASを受け、SlとCAS
とWEのアンドによシクロツクジェネレータを動作させ
るようにしているからである。この際、田の発生はtR
CD IIIIAX(tARMINを保持出来るRAS
からCASの遅れの最大値)を満足できるように発生し
ている。
(3) Problems with the prior art In memory operation, the falling edge υ of the RAS signal and CAS signal is determined by the time required to ensure that each row and column address is captured in a MOS memory that performs address multiplexing. It needs to be off target. That is, if we give tRA (time) to fetch the row address, then change the address bus signal from the row address signal to the column address signal, and let δ be the time required for this switching, then CA
The S signal is similar to the RAS signal.'1 tRCD, Vll
It is necessary to delay by tRAII+δ.Then, the write cycle is specified and the write operation starts when the CAS signal becomes LOW level.
Since the RITE system starts, if this delay time is γ, then the RAS signal is tRCDmln+γ=tR
It starts with a delay of AH+δ+γ. As shown in FIG. 1, this means that the WRITE system clock generator 5
A signal S1 from a RAS-based clock generator 1,
Receive column address strobe CAS, Sl and CAS
This is because the cyclic clock generator is operated by the AND of and WE. At this time, the generation of rice fields is tR
CD IIIAX (RAS that can hold tARMIN)
(maximum value of CAS delay).

ところが最近、半導体メモリは大容量かつ高速化が進め
られた結果、内部のインダクタンス成分や、抵抗成分が
安定動作を妨げるようになってきた。
However, as semiconductor memories have recently become larger in capacity and faster, internal inductance and resistance components have become a hindrance to stable operation.

つまり、構造上付随するインダクタンス成分によシ大電
流が急激に流れる際に、電源や接地レベルや基板電位が
揺れて動作余裕度を狭め、ひいては誤動作を引き起こす
ことにもなシがねない。
In other words, when a large current suddenly flows due to the inductance component associated with the structure, the power supply, ground level, and substrate potential fluctuate, reducing the operating margin and potentially causing malfunction.

特に、ダイナミックメモリではセンス動作時に多数のビ
ット線の放電が起こり、このために生じる電源や接地レ
ベルや基板電位の揺れは、回路設計上無視しえないもの
です。外部からのTTLレベルの入力を判定するデーメ
インバッファにおいては、例えば接地レベルの揺れがそ
のまま入力判定余裕度を狭めることになる。従来のライ
トイネーブル系では、RAS信号より’RCD min
+γ時間の後でスタートするようになっているだけなの
で%  tRcDを移動させることで、センスアンプの
動作時にデータインバッファの活性化がぶつかるように
なってしまい、データインバッファの動作余裕度を狭く
シ、ひいては書き込み動作の安定をそこなうという問題
点があった。
In particular, in dynamic memory, a large number of bit lines discharge during sensing operation, and the resulting fluctuations in the power supply, ground level, and substrate potential cannot be ignored in circuit design. In a domain buffer that determines a TTL level input from the outside, for example, fluctuations in the ground level directly reduce the input determination margin. In the conventional write enable system, 'RCD min
Since it only starts after +γ time, by moving %tRcD, the activation of the data-in buffer will conflict with the operation of the sense amplifier, narrowing the operating margin of the data-in buffer. However, there was a problem in that the stability of the write operation was impaired.

(4)発明の目的 本発明はか\る点を改善し、一層安定な書き込み動作を
可能にしようとするものである。
(4) Purpose of the Invention The present invention aims to improve the above points and enable even more stable write operations.

(5)発明の構成 本発明の構成は、ローアビレ2ストローブ信1m受けて
ローアドレスバッフ了や、センスアンプなどのロー系の
制御用クロックを発生するクロックジェネレータおよび
該7ドレスパツフア、センスアンフ等トコラムアドレス
ストローブ信号とロー系からのタイミング信号を受けて
コラムアドレスバッファなどのコラム系の制御用クロッ
クを発生するクロックジェネレータおよび該コラムアド
レスなどと、ロー系からのタイミング信号とコラムアド
レスストローブ信号を受けて、データインバッファt:
どのライトイネーブル系の制御用クロックを発生するク
ロックジェネレータおよび該デーメインバッファとを備
える半導体メモリにおいて、該ライトイネーブル系のう
ちテータインバッンア以降のライトイネーブル系を活性
化させる信号として、ロー系からのタイミング信号を入
れて、センスアンプによる信号の増巾が終わってビット
線間に充分、差電位が生じてから発生1せるようにして
なることを特徴とするものであるが、次に実施例につき
これを説明する。
(5) Structure of the Invention The structure of the present invention consists of a clock generator that receives 1 m of low-level 2 strobe signals and generates clocks for controlling row systems such as the row address buffer and sense amplifier, and column addresses for the 7-column address buffer, sense amplifier, etc. A clock generator that receives a strobe signal and a timing signal from the row system and generates a clock for controlling a column system such as a column address buffer, and the column address, etc., and a clock generator that receives a timing signal from the row system and a column address strobe signal, Data in buffer t:
In a semiconductor memory equipped with a clock generator that generates a control clock for which write enable system and the data main buffer, a signal from the low system is used as a signal for activating the write enable system after the data-in-back among the write enable systems. A timing signal of 1 is input, and the signal is generated after the signal has been amplified by the sense amplifier and a sufficient potential difference is generated between the bit lines. Let me explain this.

(6)発明の実施例 第3図は、本発明の実施例を示す。第1図と同じ部分に
は同じ符号が付してあり、そして7はロウデコーダ8 
diミコラムデコーダがワード線昇圧回路、10がセン
スアンプ52iKロー系からのタイミング信号である。
(6) Embodiment of the invention FIG. 3 shows an embodiment of the invention. The same parts as in FIG. 1 are given the same reference numerals, and 7 is a row decoder 8.
The di micro-column decoder is a word line booster circuit, and 10 is a timing signal from a sense amplifier 52iK low system.

5のライト系クロックジェネレータは、1のロー系クロ
ックジェネレータの信号の中でもセンスアンプによる信
号の増巾が終わってビット線間に充分、差電位が生じて
から発生する信号S2をうけて活性化される点が本発明
の特徴である。なお、第4図と比較すると、ワード線昇
圧回路とセンスアンプが付加されているが、これらは従
来回路にもちったものである。
The write system clock generator 5 is activated in response to the signal S2, which is generated among the signals of the row system clock generator 1, after the signal has been amplified by the sense amplifier and a sufficient potential difference has been generated between the bit lines. This is a feature of the present invention. Note that, compared with FIG. 4, a word line booster circuit and a sense amplifier are added, but these are the same as in the conventional circuit.

第3図に示す本発明のブロック図の動作を説明すると、
RAS系クコクロックゼネレータ1のタイミング信号S
、をCA、 S系クロックジェネレータ3に入力して、
RAS系が作動後にCAS深が動作する様にする点は第
1図と同様であるが、ライト系のデータインバッファ6
の制御回路11へはロー系からのタイミング信号のなか
でも、センスアンプによる信号の増巾が終わってビット
線間に充分電位差が生じてから発生する信号81ヲ入れ
ている。このようにすればセンスアンプの動作時の多数
のビット線の放電による遡源や接地レベルや基板な位の
揺nによるデータインバッファの動作余裕度を狭めるこ
となく、書き込み動作が可能である。
To explain the operation of the block diagram of the present invention shown in FIG.
Timing signal S of RAS system Wolf clock generator 1
, is input to the CA, S system clock generator 3,
The point that the CAS depth operates after the RAS system is activated is the same as in Figure 1, but the data in buffer 6 of the write system
Among the timing signals from the low system, the control circuit 11 receives a signal 81 which is generated after the signal has been amplified by the sense amplifier and a sufficient potential difference is generated between the bit lines. In this way, a write operation can be performed without narrowing the operating margin of the data-in buffer due to traceback caused by discharge of a large number of bit lines during operation of the sense amplifier, or fluctuations in the ground level or the substrate.

(7)発明の効果 以上しl明したように本発明によれば、書き込み系、特
にデータインバッファはセンスアンプが動作がおわって
、ビット線対に充分差電位が生じてから動作可能状態に
されるため、電源や接地レベルや基板電位の揺れに伴う
動作余裕度の減少をふせげる利点がある。
(7) Effects of the Invention As explained above, according to the present invention, the write system, especially the data-in buffer, becomes operational after the sense amplifier has finished operating and a sufficient potential difference has been generated between the bit line pair. This has the advantage of suppressing the reduction in operating margin due to fluctuations in the power supply, ground level, and substrate potential.

4 図面のfffj J$な説明 第1図は従来例を示すブロック図、第2図は、動作説明
用タイムチャート、第3図は、本発明の実施例を示すフ
ロック図である。
4 fffj J$ Explanation of the Drawings FIG. 1 is a block diagram showing a conventional example, FIG. 2 is a time chart for explaining operation, and FIG. 3 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

図面でFtASはローアドレスストローブ、1はRAS
系クロックジェネレータ、2はローアドレスバッファC
ASidコラムアドレスストローブ、4はコラムアドレ
スバッファ、3はCAS系クコクロックジェネレータS
1イミング信号、WEはライトイネーブルA。−Aiは
アドレス久方、5はライトイネーブル系クロックジェネ
レータ、6はデータインバッファWIはライトイネーブ
ル系の最初の活性化信号S2はタイミング信号、11は
データインバッファ系の制御回路である。
In the drawing, FtAS is a row address strobe, and 1 is RAS.
System clock generator, 2 is row address buffer C
ASid column address strobe, 4 is column address buffer, 3 is CAS system Kuko clock generator S
1 timing signal, WE is write enable A. -Ai is an address distance, 5 is a write enable system clock generator, 6 is a data in buffer WI, the first activation signal S2 of the write enable system is a timing signal, and 11 is a data in buffer system control circuit.

パ) 代理人 弁理士  内 原   晋′  \月7 図 【−″−2 扇z図 六uRA□″□b−→Pa) Agent Patent Attorney Susumu Uchihara \Month 7 Figure [−″−2 fan z diagram 6uRA□″□b-→

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 本発明は、ローアドレスストローブ信号を受けてロード
アドレスバッファや、センスアンプなどのロー系の制御
用クロックを発生するクロックジェネレータおよび該ア
ドレスバッファ、センスアンプ等とコラムアドレススト
ローブ信号と、ロー系からのタイミング信号を受けてコ
ラムアドレスバッファなどのコラム系の制御用クロック
を発生するクロックジェネレータおよび該コラムアドレ
スバッファなどと、ロー系からのタイミング信号とコラ
ムアドレスストローブ信号を受けて、データインバッフ
ァなどのライトイネーブル系の制御用クロックを発生す
るクロックジェネレータおよび該データインバッファと
を備える半導体メモリにおいて、該ライトイネーブル系
のうち活性化させる信号として、ロー系からのタイミン
グデータインバッファ以降のライトイネーブル系を信号
をいれて、センスアンプによる信号の増巾が終わってビ
ット線対に充分差電位が生じてから発生させるようにし
てなることを特徴とする半導体メモリ。
The present invention provides a clock generator that receives a row address strobe signal and generates a clock for controlling a load address buffer, a sense amplifier, and other row systems, and a clock generator that receives a row address strobe signal and generates a clock for controlling a load address buffer, sense amplifier, etc. A clock generator that receives timing signals and generates control clocks for column systems such as column address buffers, and the column address buffers, etc., and a clock generator that receives timing signals and column address strobe signals from row systems and generates control clocks for data-in buffers, etc. In a semiconductor memory equipped with a clock generator that generates an enable system control clock and the data in buffer, the write enable system after the timing data in buffer from the row system is used as a signal to activate the write enable system. A semiconductor memory characterized in that the signal is generated after the amplification of the signal by the sense amplifier is completed and a sufficient difference in potential is generated between the bit line pair.
JP60291130A 1985-12-23 1985-12-23 Semiconductor memory Pending JPS62149098A (en)

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JP60291130A JPS62149098A (en) 1985-12-23 1985-12-23 Semiconductor memory

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JP60291130A Pending JPS62149098A (en) 1985-12-23 1985-12-23 Semiconductor memory

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