JPS62148963U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS62148963U JPS62148963U JP3557186U JP3557186U JPS62148963U JP S62148963 U JPS62148963 U JP S62148963U JP 3557186 U JP3557186 U JP 3557186U JP 3557186 U JP3557186 U JP 3557186U JP S62148963 U JPS62148963 U JP S62148963U
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- JP
- Japan
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- flat plate
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- inspecting
- held
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims 1
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
第１図乃至第３図は本考案にかかる触針構造の
一実施例を示し、第１図ａは全体斜視図、同図ｂ
は断面斜視図、第２図ａは平衡状態における断面
図、同図ｂは一方に力が加えられた場合の動作図
、第３図は本考案の触針構造を用いた利用図、第
４図は従来の触針構造を示すものであり、第４図
ａは全体斜視図、同図ｂは利用図、第５図は本考
案の他の実施例を示す断面図である。 ７……ハウジング、８……接触針、９……平板
、１０……小球。
一実施例を示し、第１図ａは全体斜視図、同図ｂ
は断面斜視図、第２図ａは平衡状態における断面
図、同図ｂは一方に力が加えられた場合の動作図
、第３図は本考案の触針構造を用いた利用図、第
４図は従来の触針構造を示すものであり、第４図
ａは全体斜視図、同図ｂは利用図、第５図は本考
案の他の実施例を示す断面図である。 ７……ハウジング、８……接触針、９……平板
、１０……小球。
Claims (1)
- 基板に載置される電子部品の端子部分を検査す
るための触針構造であつて、ハウジング内に上下
動可能に貫挿・保持される複数の接触針と、前記
接触針の基部に常時当接する平板と、前記平板を
一点にて支持する小球を設け、前記平板を角度変
位可能に保持したことを特徴とする基板検査用触
針構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3557186U JPS62148963U (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3557186U JPS62148963U (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62148963U true JPS62148963U (ja) | 1987-09-21 |
Family
ID=30845184
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3557186U Pending JPS62148963U (ja) | 1986-03-12 | 1986-03-12 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62148963U (ja) |
-
1986
- 1986-03-12 JP JP3557186U patent/JPS62148963U/ja active Pending
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